DE2620046B2 - Abgleichverfahren und -vorrichtung zur Fehlerfeststellung bei einem Hohlkörper aus transparentem Material - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie eine Vorrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruchs 2 bzw. 3.

Die untersuchten Hohlkörper bestehen insbesondere aus Glas und Kunststoff. Unter die festzustellenden Fehler fallen z. B. Risse, Verunreinigungen, Blasen, Löcher, nicht ausgepreßte Mündungen und Abweichungen vom Sollmaß wie Mündungsneigung, Ovalität, Sattelbildung und fehlerhafte Länge des Hohlkörpers.

Zum Beispiel können Risse in Hohlglasgegenständen in fast beliebig vielen räumlichen Orientierungen auftreten. In der Praxis bilden sich aber Vorzugsbereiche aus, in denen Risse, bedingt durch das jeweilige Fertigungsverfahren, besonders häufig sind. Bei jedem neuen Hohlglasgegenstandstyp zeigen sich andere, aber typische Rißorientierungen. Es gibt kein zuverlässige:;, handliches und automatisierungsfähiges Verfahren, um in allen Hohlglasgegenständen einer Produktion Risse allgemein mit einem integralen Verfahren, wie etwa durch Abklopfen und Abhorchen, aufzufinden.

Ein bekanntes optisches Verfahren zur Feststellung von Fehlern in Hohlglasgegenständen ist in der DT-AS 1960326 offenbart. Mehrere Lichtstrahlen werden auf zu prüfende Zonen des Hohlglasgegenstands gelenkt. Fotoclektrische Wandler sind auf diese Zonen eingestellt und nehmen, wenn sie im Dunklen liegen, von einem Fehler herrührende Lichtsignale auf. Ein idealisierter Riß ζ. Β. bildet eine reflektierende Ebene. Ein räumlich fester Lichtsender legt bezüglich dieser Ebene die Stellung des fotoelektrischen Wandlers fest. Ändert sich die Orientierung des Risses, muß bei weiterhin festliegendem Lichtsender der Wandler verstellt werden. Dies gilt für jede zu prüfende Zone des Hohlglasgegenstands. Da Fehler vorzugsweise im Inneren der Glasmasse liegen, findet beim Übergang von Luft zu Glas und umgekehrt zusätzlich zu der Reflexion noch eine Brechung des Prüflichtstrahls statt, wenn er nicht rechtwinklig auf die Oberfläche des Hohlglasgegenstands auftrifft. Durch diese Brechung ergeben sich für die Justierung der Prüfanordnungen zusätzliche Komplikationen. Wegen der zahllosen Erscheinungsformen der Fehler und ihrer Orientierung muß man sich in der Praxis auf bestimmte kritische Zonen an den Hohlkörpern beschränken. Dennoch wird durch die stets steigenden Anforderungen an die Fehlererkennung eine wachsende Anzahl von Lichtsendern und fotoelektrischen Wandlern erforderlich. Jede dieser Prüfstrecken muß bei einem bekannten Abgleichverfahren von einem Einrichter mit ausgeprägtem geometrisch-optischen Vorstellungsvermögen und erheblichen elektronischen Kenntnissen in räumlicher Lage und Empfindlichkeit optimiert werden. Dabei ist besonders erschwerend, daß ein bestimmter Fehler meist nicht typisch von nur einer Prüfstrecke nachgewiesen wird, sondern gleichzeitig

mehrere Prüfstrecken beeinflussen kann. Darüber hinaus wächst der Wunsch, immer kleinere Fehler nachweisen zu können. Dazu muß die Nachweisempfindlichkeit immer höher getrieben werden.

Aus der DT-OS 2431010 ist eine Prüfmaschine "> bekannt, die Fehler an oder in einem durchscheinenden Hohlkörper mit überall gleicher Empfindlichkeit auch dann zu erkennen gestattet, wenn die Farbdichte und/oder die Wandstärke von Hohlkörper zu Hohlkörper erheblich schwankt. Vermutlich handelt es sich '<) um eine Prüfmaschine für Brauereien oder ähnliche Anwender, bei denen Flaschen unterschiedlicher Hersteller gemischt geprüft werden und auch verhältnismäßig geringe Empfindlichkeit ausreicht, um Strohhalme, grobe Risse und derben Bruch zu erken- ι > nen. Es werden Hals, Schulter, Körper und Boden jeder Flasche in einem einzigen Prüfzyklus in vertikaler Richtung abgetastet. Daraus wird bei in Abhängigkeit von der vertikalen Stellung des Abtastlichtstrahls schwankendem Pegel ein sogenanntes Inspektionssi- :< > gnal (Fig. 9 (a)) gewonnen, dem eine konstante Annahmespannung (Fig. 9 (b)) oder ein veränderliches Annahmesignal (Fig. 9 (U)) überlagert wird. Dadurch werden in dem Inspektionssignal Impulse unzulässiger Fehler festgestellt und zur Betätigung einer Auswerf- :?> steuerschaltung (72) herangezogen. Bei den erwähnten erheblichen Schwankungen in Farbdichte und/ oder Wandstärke wird vor der eigentlichen Inspektion einer Flasche mit einer Hilfssteuerschaltung (Fig. 7) ein Probeinspektionssignal (Fig. 8 (g)) oder ein Annahmesignal von derart geändertem Signalwert erzeugt, daß ein gewünschtes Verhältnis zwischen dem Inspektionssignal und dem Annahmesignal aufrechterhalten wird. Das Probeinspektionssignal wird durch eine Schwellwertschaltung gemäß Fig. 7 gebildet, die r> einen Operationsverstärker (/46) und einen Komparator (CPl) aufweist. Die Schaltschwelle des Komparators wird jedoch während des Abgleichs nicht verändert. Ferner ist gemäß Fig. 7 ein mehrstufiger Binärzähler (CGI, FF5, FF6, FFT) vorgesehen, des- w sen Ausgänge mit einem mehrstufigen Widerstandsnetzwerk (514, 515) verbunden sind. Das Widerstandsnetzwerk ist derart mit der Schwellwertschaltung verbunden, daß der Zählerinhalt die Schaltschwelle der Schwellwertschaltung beeinflußt. Nach v> dem Abgleich wird der Operationsverstärker (/46) über Schalter (511, 512) wieder in die Hauptsteuerschaltung gemäß Fig. 6 eingeschaltet. Diese bekannte Steuerschaltung ist verhältnismäßig aufwendig und dennoch im praktischen Einsatz nicht genügend ge- >o nau, weil sich erfahrungsgemäß nicht alle Fehler an einem Hohlkörper mit nur einem Prüfkanal sicher erkennen lassen.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, den Abgleich der Auswerteelektronik auch bei einer Viel- y, zahl von Prüfkanälen zu vereinfachen, abzukürzen und sicherer zu gestalten. Es soll eine Teilautomatisierung dieses Abgleichs erreicht werden. Darüber hinaus soll der Forderung nach höherer Empfindlichkeit der Fehlererkennung Rechnung getragen werden, bo

Diese Aufgabe wird nach der Erfindung jeweils durch die im Kennzeichen der Ansprüche 1, 2 oder 3 angegebenen Maßnahmen gelöst.

Der Musterhohlkörper kann aus der laufenden Produktionsserie entnommen und für den Abgleich herangezogen werden. Es können auch zur Verfeinerung des Abgleichs mehrere Musterhohlkörper nacheinander in der Vorrichtung geprüft und zum Abgleich der Auswerteelektronik verwendet werden. Ohne einen solchen Abgleich würde die Auswerteelektronik mit höchster Empfindlichkeit arbeiten, d. h. auch kleinste Fehler- und Störsignale würden voll verstärkt und zum Auswerfen des zugehörigen Hohlkörpeis mitteis eines entsprechenden Ausgangssignals der Auswerteelektronik führen. Durch den erfindungsgemäßen Abgleich, der z. B. nach Handbetätigung eines Setzschalters der Auswerteelektronik selbsttätig abläuft, wird die Empfindlichkeit der Auswerteelektronik, ausgehend von der höchsten Empfindlichkeit, schrittweise verringert, bis die Fehlersignale der als zulässig bezeichneten Fehler des Musterhohlkörpers nicht mehr zu einem Ausgangssignal der Auswerteelektronik zur Betätigung eines Auswerfers führen. Nach Beendigung dieses Abgleichs läßt die Vorrichtung alle Hohlkörper passieren, deren Fehlersignale unterhalb der Schaltschwelle der Schwellenwertschaltungbleiben. In der Regel werden zu dem vorerwähnten Abgleich der Auswerteelektronik mehrere aufeinanderfolgende Prüfzyklen für den Musterhohlkörper erforderlich sein, insbesondere dann, wenn die Abgleichschritte verhältnismäßig klein vorgegeben sind. Fehlersignale können grundsätzlich aus jeder wiederholbaren Messung an einem Hohlkörper gewonnen werden, z. B. aus der optischen Rißprüfung oder der Dichtheitsprüfung. Bei dem erfindungsgemäßen Abgleich können grundsätzlich die Schaltschwelle und/oder die Fehlersignale in ihrer relativen Lage schrittweise verändert werden.

Eine Weiterbildung der Erfindung ist durch Anspruch 4 gekennzeichnet. Dabei bestimmt die Betätigung des Setzschalters die Zeitdauer des Abgleichvorgangs, und zwar für alle Prüfkanäle gemeinsam.

Eine weitere Ausgestaltung der Erfindung ist durch Anspruch 5 gekennzeichnet. Als Anzeigeelemente können z. B. Leuchtdioden mit einer durch ein RC-Glied bestimmbaren Leuchtdauer von etwa 0,2 bis 0,3 s verwendet werden. Die Dauer der Fehlersignale beträgt demgegenüber nur wenige ms. Diese Fehlersignale wären also ohne die vorerwähnten Anzeigeelemente für das menschliche Auge nicht wahrnehmbar. Die Anzeigeelemente bieten darüber hinaus eine sehr einfache und sichere Kontrolle darüber, ob der Abgleich schon abgeschlossen ist oder noch nicht. Wenn nämlich alle Anzeigeelemente der verwendeten Prüfkanäle nicht mehr anzeigen, ist der Abgleich beendet, so daß dann der Setzschalter losgelassen und auf den normalen Pri>^fhetrieb übergegangen werden kann.

An Hand der Zeichnungen werden mehrere Ausführungsbeispiele der Erfindung näher erläutert. Es zeigt

Fig. I einen teilweisen Längsschnitt durch eine Prüfeinheit,

Fig. 2 die Fortsetzung des Längsschnitts gemäß Fig. 1 nach unten hin mit einem Teil eines zu prüfenden Hohlglasgegenstands,

Fig. 3 eine teilweise perspektivische Darstellung eines Wechselspannungsgenerators in gegenüber Fig. 2 vergrößerter Darstellung,

Fig. 4 ein elektrisches Schaltbild eines Teils einer Auswerteelektronik,

Fig. 5 ein elektrisches Schaltbild eines sich an Fig. ι nach unten hin anschließenden Teils der Aus-Werteelektronik,

Fig. 6 ein zu Fig. 5 gehöriges Spannungs-Zeit-Diagramm,

Fig. 7 das elektrische Schaltbild eines anderen sich

in Fig. 4 nach unten hin anschließenden Teils der Auswerteelektronik,

Fig. 8 ein zu Fig. 7 gehörendes Spannungs-Zeit-Diagramm,

Fig. 9 ein elektrisches Schaltbild eines weiteren, sich in Fig. 4 nach unten hin anschließenden Teils der Auswerteelektronik, und

Fig. 10 ein zu Fig. 9 gehörendes Spannungs-Zeit-Diagramm.

IndenFig. 1 und 2 ist eine Prüfeinheit 20 mit einem nicht umlaufenden Gehäuse 21 dargestellt. Das Gehäuse 21 ist oben mit einem Deckel 23 verschlossen, der ein zentrales Fenster 25 aufweist. Das Fenster 25 läßt Licht von einer stationär angeordneten Lichtquelle 27 auf ein benachbartes Ende 29 eines massiven Lichtleitstabes 30 fallen.

Das Gehäuse 21 ist mit einer Anzahl axial aufeinanderfolgender Durchbrechungen versehen, von denen in Fig. 1 und 2 zur Vereinfachung der zeichnerischen Darstellung nur die Durchbrechungen 35 bis 39 angedeutet sind. In jede Durchbrechung ist ein Bürstenhalter, z. B. 40 und 41, für eine elektrische Bürste 43 und 44 befestigt. Jeder Bürstenhalter 40 und 41 ist mit einer Anschlußklemme 46 und 47 versehen.

Mit dem Gehäuse 21 ist unten durch Muttern 50 eine Hülse 51 befestigt.

In eine Ausdrehung 53 der Hülse 51 sind zwei Permanentmagnetringe 57 und 58 fixiert eingesetzt, die durch einen Ring 60 aus einem magnetisch isolieren- jo den Stoff im Abstand voneinander gehalten werden. Die Permanentmagnetringe 57 und 58 bilden den Stator eines Wechselstromgenerators 65, dessen Rotor im Wechsel gerade 67 und eine Kröpfung 69 aufweisende weichmagnetische Stäbe 70 aufweist. Die Stäbe r> 67 und 70 liegen jeweils unterschiedlichen magnetischen Polen der Permanentmagnetringe 57 und 58 gegenüber und sind in einen umlaufenden Ring 75 von im wesentlichen U-förmiger Querschnittsfläche aus einem magnetisch isolierenden Stoff, z. B. Hartgummi, eingebettet. Zwischen den Kröpfungen 69 und im mittleren Teil der geraden Stäbe 67 ist eine bifilare Wicklung 77 angeordnet.

Das Gehäuse 21 und die Hülse 51 tragen jeweils oben ein Rillenkugellager 79 und 80 für ein umlaufendes Innenrohr 83. An dem Innenrohr 83 ist eine Hülse 85 aus elektrisch isolierendem Stoff befestigt, auf der außen wiederum eine Anzahl mit den Bürsten, z. B. 43 und 44, in Berührung stehende Schleifringe, z. B. 87, 88 und 89, befestigt sind. -„·,

Der Lichtleitstab 30 ist oben und unten jeweils durch eine Klemmvorrichtung 93 und 94 gegenüber dem Innenrohr 83 festgelegt. Jede Klemmvorrichtung 93 und 94 weist einen in das Innenrohr 83 eingeschraubten Anschlagring 97, einen sich daran abstüt- γ, zenden Gummiring 98 und einen gegen den Gummiring 98 schraubbaren Klemmring 99 auf.

Der Ring 75 ist an einer Hülse 100 befestigt, die durch einen umlaufenden Topf 103 in axialer Richtung gegen einen Innenring 105 des Rillenkugellagcrs _b(> 80 gepreßt ist. Der Topf 103 ist durch eine Nut- und Federverbindung 107 vor Relativdrehung gegenüber dem Innenrohr 83 gesichert und erhält seine axiale Anpressung über eine konzentrische Tragplatte 109 und eine von unten auf das Innenrohr 83 geschraubte _M Mutter 110.

Als Beispiel weist eine der beiden Wicklungen der bifiliircn Wicklung 77 eine Anschlußklemme 115 auf.

von der eine Leitung 117 durch eine Durchbrechung in der Tragplatte 109 hindurch zu einem auf der Tragplatte 109 befestigten gleichrichtenden Bauelement 119 führt. Die gewonnene Gleichspannung gelangt über eine Leitung 120 in einen ebenfalls auf der Tragplatte 109 befestigten Gleichspannungsstabilisator 121. Die stabilisierte Gleichspannung wird über eine Leitung 123 einerseits durch eine weitere Durchbrechung in der Tragplatte 109 sowie durch weitere Durchbrechungen in dem Topf 103, der Hülse 100 und dem Innenrohr 83 hindurch zu dem Schleifring 89 geleitet und steht an der Anschlußklemme 47 an. Andererseits werden mit der stabilisierten Gleichspannung über die 1 citung 123 Verstärker 125 versorgt. Jedem Prüfkanal der Vorrichtung ist eine am Umfang der Tragplatte 109 befestigte Schlatungsplatte 127 zugeordnet, von denen jede einen der Verstärker 125 trägt.

Mit der Unterseite des Topfes 103 ist durch Schrauben 130 eine Bodenplatte 131 verschraubt. Die Bodenplatte 131 trägt mehrere Lichtaustrittsfenster, z. B. 135, von Teilfaserbündeln, z. B. 137, die von einem entfernten Ende 139 des Lichtleitstabes 30 Licht aufnehmen und weiterleiten. Das Lichtaustrittsfenster 135 sendet Licht auf eine zu prüfende Zone eines Hohlglasgcgcnstands 140. Wenn in dieser Zone sich ein Fehler befindet, wird Licht von einem fotoelektrischen Wandler 141 aufgenommen und in ein elektrisches Fehlersignal umgewandelt. Dieses Fehlersignal gelangt über eine Leitung 143 zum Eingang des Verstärkers 125, dessen Ausgang über eine Leitung 145 durch die vorerwähnten Durchbrechunger hindurch mit dem Schleifring 88 verbunden ist. Das Fchlersignal gelangt auf diesem Wege an die Anschlußklemme 46 eines der Prüfkanäle. In Fig. 2 isl mit Langlöchern 147 und 148 angedeutet, daß Lichtaustrittsfenster 135 und fotoelektrischer Wandler 141 beliebig relativ zu dem Hohlglasgegenstand 140 und relativ zueinander eingestellt werden können.

Die Hülse 51 weist oben einen Flansch 155 auf mit dem die Prüfeinheit 20 in einer Halterung 1ST aufgehängt ist, die im*Sinne eines Doppelpfeils 154 in axialer Richtung auf den Hohlglasgegenstand 14C zu und von ihm weg bewegbar ist. Diese axiale Bewegbarkeit ist jedoch nicht erforderlich, wenn die Lichtaustrittsfenster 135 und die fotoelektrischcn Wandlei 141 während des Prüfzyklus oberhalb der Mündung des Hohlglasgegenstands 140 bleiben können.

Der Topf 103 ist an seinem oberen Ende mit einei Schnurhülse 160 versehen, auf der ein Antriebsriemer 161 läuft und für den Drehantrieb des Topfes 102 sowie der damit verbundenen Teile sorgt.

Der Hohlglasgcgcnstand 140 wird auf einem konti nuierlich laufenden Förderband 165 transportiert unc in einer zu der Prüfeinheit 20 koaxialen Prüfstcllunj angehalten. Dies geschieht durch einen Klemmer 167 der durch einen Kolben 169 einer doppeltwirkendei Kolben-Zylinder-Einheit mit Druckmittclanschlüssci 171 und 172 betätigt wird. An dem Hohlglasgegen stand 140 liegt in der Prüfstellung dem Klemmer 16" diametral gegenüber ein in Fig. 2 nicht dargestelltes den Hohlglasgegenstand 140 in der Prüfstellung zcn tricrendcs raumfestes Gegenlagcr.

In Fig. 3 ist vergrößert und besonders deutlich de Wechselstromgenerator 65 mit wichtigen Einzelteile! dargestellt. Die an den Permanentringen 57 und Sl innen angeordneten Nord- und Südpolc sind jcwcil: mit N und .S' bezeichnet. Der magnetische FluLtvcrlau

ist bei 175 gestrichelt angedeutet.

Wenn der Hohlglasgcgcnstand 140 gemäß Fig. 2 auf dem Transportband 165 in seine Prüfstellung einläuft, wird eine nicht gezeichnete Verriegelungslichtschranke dunkelgctastet. Das Ausgangssignal dieser Vicrricgelungslichtsehranke gelangt in Fig. 4 über eine Leitung 180 zu einer Schmitt-Triggerschaltung 181, deren einer Ausgang über eine Leitung 183 mil dem R-Eingang eines als Hilfsspcichcr eingesetzten RS-Flipflops 185 (Rcset-Sct-Flitpflop) verbunden ist. Der andere Ausgang der Schmitt-Triggerschaltung 181 ist über eine Leitung 187 mit dem Takteingang CL eines als Hauptspeicher verwendeten D-Flipflops 190 (Data-Flipflop) verbunden. Der S-Eiingang des RS-Flipflops 185 wird über eine Anschlußklemme 193 beaufschlagt. Der Ausgang des RS-Flipflops 185 ist über eine Leitung 195 mit dem D-Hingang des D-Flipflops 190 verbunden.

Der Ausgang des D-Flipflops 190 ist über eine Leitung 197 mit einem nicht dargestellten Auslöser eines Auswerfers für Hohlglasgcgenständc mit unzulässigen Fehlern verbunden. Dieser Auswerfer bildet keinen Teil der Erfindung und ist an sich bekannt.

Die Leitung 187 ist über eine Zweigleitung 199 mit einer Leuchtdiode 200 verbunden, die leuchtet, solange die Verriegeliingslichtschrankc dunkelgctastet ist. Eine weitere Zweigleitung 201 der Leitung 187 ist mit einer Anschlußklemme 203 verbunden.

Eine Zweigleitung 205 der Leitung 183 ist mit einem Eingang eines NAND-Vcrknüpfungsgliedcs 207 verbunden, dessen anderer Eingang über eine Leitung

209 mit einem von Hand betätigbaren Sctzschaltcr

210 verbunden ist. Der Ausgang des NAND-Verknüpfungsgliedes 207 ist über eine Leitung 213 mit einem nicht dargestellten Auslöser für den Klemmer 167 und einem ebenfalls nicht dargestellten Auslöser für die Vcrtikalbcwegung der Prüfeinheit 20 gemäß dem Doppelpfeil 159 in Fig. 2 verbunden. Prüfeinheit 20 und Klemmer 167 bleiben also in ihrer Arbeitsstellung, solange der Sctzschaltcr 210 von Hand geschlossen ist, wenn sich ein Hohlglasgcgenstand 140 in der Prüistellung befindet. Eine Zweigleitung 215 der Leitung 209 führt zu einer Anschlußklemme 217. Parallel zu dem Sctzschalter 210 liegt ein Löschschalter 219, der über eine Leitung 220 mit einer Anschlußklemme 221 verbunden ist.

In Fig. 4 und den nachfolgenden Figuren ist mit U₁, die Betriebsspannung bezeichnet.

In Fig. S ist die Anschlußklemme 46 über eine Leitung 223 und die Anschlußklemme 47 über eine Leitung 224 mit einem Optokoppler 225 verbunden. In dem dadurch definierten Arbeitsstromkreis fließt ständig ein Ruhestrom, der eine ebenso ständige Lichtemission zur Folge hat. Wenn auf der Leitung 223 ein von einem Fchlerrcflcx herrührendes Fchlcrsignal diesem Ruhestrom überlagert wird, tritt eine entsprechende Modulation der Lichtemission des Optokopplers 225 ein. Der Optokoppler 225 dient zur galvanischen Trennung des umlaufendes Systems von dem festen System der gesamten Prüfvorrichtung. Eine Zweigleitung 227 der Leitung 224 versorgt die nicht dargestellten Optokoppler eventueller weiterer Prüfkanäle in der gleichen Weise.

Der Ausgang des Optokopplers 225 ist über eine Fehlcrsignallcitung 230 mit einer Schwellenwertschaltung 235 verbunden, die einen mit einem Fchlcrsignaleingang 236 versehenen Operationsverstärker 237 mit (legenkopplung 238 und eine nacligescliiiltele Schmitt-Triggerschaltung 240 aufweist. Der Ausgang der Schmitt-Triggerschaltung 240 ist mit einem Hingang eines NOR-Verknüpfungsgliedcs 243 verbunden, dessen andeer Hingang in Verbindung mit der Anschlußklemme 203 (F" ig. 4) steht. Der Ausgang des NOR-Verknüpfungsgliedes 243 ist über eine Leitung 245 mit einem Hingang eines N AN D-Verknüpf ungsgliedcs 247 verbunden, dessen anderer Hingang in Verbindung mit der Anschlußklemme 217 (Fig. 4) steht. Von der Leitung 245 führt eine Zweigleitung 249 über eine Diode 250 zu der Anschlußklemme 193 (Fig. 4). Hinc weitere Zweigleitung 253 der Leitung 245 ist mit dem Hingang eines monostabilen Vibrators 255 verbunden, dessen Ausgang über eine Leitung 257 mit einem Anzeigeelement 259 in Gestalt einer Leuehtiode verbunden ist. Die Anzeigedauer des An-/cigeclcincnts 259 wird durch ein Zeitglicd in Form eines RC-Gliedcs 260 beeinflußt.

Der Ausgang des NAND-Verknüpfungsgliedcs 247 ist über eine Leitung 263 mit einem Takteingang (7. eines Binärzählers 265 verbunden. Der R-Eingang des Binärzählcrs 265 steht in Verbindung mit der Anschlußklemme 221 (Fig. 4).

Der Binärzähler 265 ist mehrstufig und weist in dem hier dargestellten Fall Ausgänge Q₁₁ bis Q₀ auf, die mit einem Widerstandsnetzwerk 267 verbunden sind. Der Ausgang des Widerstandsnetzwerks 267 ist über eine Leitung 269 mit der Fehlersignalleitung 230 verbunden.

In dem Diagramm gemäß Fig. d ist über der Zeit / die l'chlcrspannung U₁ aufgetragen. Dargestellt ist der Abglciehvorgang für die in Fig. 5 dargestellte Auswerteelcklronik 270. In der Priifstellung befindet sieh ein Mustcrhohlkörper. z. B. eine aus der Produktion entnommene Glasih'sche, mit als zulässig eingestuften Fehlern. Der in F"ig. 5 gezeigte Prüfkanal ist auf einen dieser zulässigen Fehler, z. B. einen bestimmten Riß, eingestellt. Bei jedem Umlauf 271 der Prüfcinheit 20 um den Musterhohlkörpcr herum wird in die Fchlcrsignalleitung 230 ein Fchlcrsignal 273 gegeben. Gemäß Fig. (> weist die Schwellenwertschaltung 235 eine gestrichelt eingetragene feste Schaltschwelle 275 auf. Zu Beginn des Abglciehvorgangs ragt das erste Fchlcrsignal 273 hoch über die Schaltschwclle 275 hinaus und verursacht ein Ausgangssignal an der Schwellenwertschaltung 235, das den Binärzählcr 265 um eine Stufe weitcrschaltct. Dadurch wird über die Leitung 269 und die Fehlcrsignalleitung 230 das Spannungsniveau an dem Operationsverstärker 237 um einen Betrag 277 abgesenkt. Hinc solche Absenkung um eine Stufe geschieht bei jedem Umlauf 271 der Prüfcinheit 20 so lange, bis das Fchlersignal 273, wie rechts in Fig. (i angedeutet, unterhalb der Schaltsehwelle 275 bleibt. Dann ist der Abgleich beendet, und kein Ausgangssignal verläßt mehr die Schwellenwertschaltung. Das hat zur Folge, daß in Fig. 5 die Leuchtdiode 259 nicht mehr aufleuchtet, dem Bedienungsmann also eine optische Kontrolle darüber ermöglicht, wie weit der Abgleichvorgang fortgeschritten ist. Da jeder an einem bestimmten Hohlglasgcgenstand eingesetzte Prüf kanal ein solches Anzeigeelement 259 aufweist, braucht der Bcdicnutigsmann nur zu warten, bis sämtliche Anzcigcclementc 259 schließlich nicht mehr aufleuchten. Dann ist der gesamte Abgleich der Auswcrtcclektronik 270 abgeschlossen, und der Se/.tschalter 210 kann wieder losgelassen und damit geöffnet werden. Das hat auch /in Folge, daß die Priifeinheit 20 sich von dem Mu-

sterhohlkörper weg nach oben hin in ihre Ruhestellung bewegt und daß der Klemmer 167 den Musterhohlkörper zum Abtransport durch das Transporthand 165 freigibt. Wenn jetzt der ·.!!..!■.-■.·., u _t<i üiuiuii; llohlglasgegenstand in die Prüfst .-llung nachrückt und geprüft wird, erzeugen nur di ■;:..!„... '.'_!.!_. J.^.. Hohlglasgegenstandes, deren Fehlersignale über die in Fig. ft gezeigte Schaltschwelle 275 hinausragen, ein Ausgangssignal an der Schwellenwertschaltung 235. das aber wegen der jetzt bestehenden Sperrung des NAND-Verknüpfungsgliedes 247 den liinarzühler 265 nicht mehr weiterschalten kann. Vielmehr veranlaßt es über die Zweigleitung 249, Anschlußklemme 193, RS-Flipflop 185, D-Flipflop 190 und Leitung 197 eine Betätigung des Auswerfers.

luden nachfolgenden Figuren sind gleiche Teile wie in den Fig. 5 und U mit gleichen Bezugszeichen versehen.

In Fig. 7 ist eine Schwellenwertschaltung 290 verwendet, in der dem Schmitt-Trigger 240 ein Linearverstärker 291 vorgeschaltet ist. Der Ausgang des Widerstandsnetzwerks 267 ist hier über eine Leitung 293 mit einem zur Veränderung der Verstärkung dienenden Eingang des Linearverstärkers verbunden. An der Leitung 293 liegt also eine Spannung i<_s<. Am Ausgang des Linearverstärkers tritt während des Abgleichvorgangs eine sich in Abhängigkeit von u stufenweise verringernde Spannung H₁₁ auf, die in Fig. 8 über der Zeit / aufgetragen und ins Verhältnis zu der festen Schaltschwelle 275 der Schmitt-Triggerschaltung 240

gesetzt ist. Jeder Umlauf 271 der Prüfeinheit 20 sorgt in diesem Fall dafür, daß sich die Amplitude des Fehlersignals um einen Betrag 295 verringert, bis die .'iiiiuiisciiweiic 27S, wie reents in IMg. H angedeutet, unterschritten ist.

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einen Komparator 301 auf, an dessen einem Eingang über die Fehlersignalleitung 230 eine Fehlersignalspannung H₁, anliegt, die in Fig. 10 über der Zeit ι aufgetragen ist.

Der Ausgang des Widerstandsnetzwerks 267 ist in diesem Fall über eine Leitung 303 mit einem weiteren Eingang des !Comparators 301 verbunden. An der Leitung 303 liegt eine Spannung U_c, die die Schaltschwelle des !Comparators 301 definiert. Jedes- Weiterschaltendes Binärzählers 265 bringt gemäß Fig. 10 ein Hinaufschalten der Schaltschwelle um einen Betrag 305, also beim ersten Umlauf 271 von U_rl nach U₁.-, und beim zweiten Umlauf 271 von U₁., nach U_rY Sobald in Fig. 10 i7₍,, eingestellt ist, ist der Abgleich beendet, weil die Fehlersignale des Musterhohlkörpers nicht mehr an diese Schaltschwelle heranreichen.

In den Fig. 6, 8 und 10 ist jeweils nur das Fehlersignal eines einzigen zulässigen Fehlers des Musterhohlkörper in seiner zeitlichen Entwicklung dargestellt. Selbstverständlich können an dem Musterhohlkörpers im Prüfbereich eines Prüf kanals auch mehrere unterschiedliche Fehler vorhanden sein. Der Abgleich richtet sich dann nach demjenigen Fehler, der das größte Fehlersignal erzeugt.

Hierzu ft Blati Zeichnungen

Claims (5)

Patentansprüche:

1. Verfahren zum Abgleichen einer Auswerteelektronik einer Vorrichtung zur Feststellung un- > zulässiger Fehler in und/oder an einem zu prüfenden Hohlkörper aus transparentem Material, dadurch gekennzeichnet, daß von einem tolerierbare Fehler aufweisenden Musterhohlkörper wiederholt Fehlersignale abgeleitet werden, n> diese Fehlersignale jeweils mit einem Schwellwert verglichen werden, jeweils ein Korrektursignal erzeugt wird, wenn die Fehlersignale den Schwellwert übersteigen, und der Schwellwert und/oder die Spitzen der Fehlersignale relativ zueinander i> sooft jeweils bei Auftreten eines Korrektursignals um einen vorgegebenen Betrag verändert werden, bis das größte Fehlersignal gen.de unterhalb des Schwellwerts liegt.

2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, mit wenigstens einer in der Auswerteelektronik enthaltenen und eingangsseitig einen Operationsverstärker aufweisenden Schwellwertschaltung und einem vom Ausgang der Schwellwertschaltung ausgelösten und die relative Lage der Schaltschwelle der Schwellwertschaltung und der Spitzen der Fehlersignale in Abhängigkeit von seinem Inhalt beeinflussenden mehrstufigen Binärzähler, dem ein mehrstufiges Widerstandsnetzwerk nachgeschaltet ist, dadurch jo gekennzeichnet, daß

a) die Verstärkung des Operationsverstärkers (237) konstant gehalten ist,

b) die Schwellwertschaltung (235) einen dem Operationsverstärker (237) nachgeschalte- r> ten Schmitt-Trigger (240) mit fester Schaltschwelle aufweist, und

c) der Ausgang des Widerstandsnetzwerks (267) mit dem Fehlersignaleingang (236) des Operationsverstärkers (2ItI) zur schrittweisen Absenkung des Gleichspannungspegels dieses Eingangs verbunden ist.

3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, mit wenigstens einer in der Auswerteelektronik enthaltenen und einen Kornparator aufweisenden Schwellwertschaltung und einem vom Ausgang der Schwellwertschaltung ausgelösten und eine relative Lage der Schaltschwelle der Schwellwertschaltung und der Spitzen der Fehlersignale in Abhängigkeit von seinem -,o Inhalt beeinflussenden mehrstufigen Binärzähler, dem ein mehrstufiges Widerstandsnetzwerk nachgeschaltet ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Ausgang des Widerstandsnetzwerks (267) mit dem Referenzeingang des Komparator (301) zur schrittweisen Anhebung der Schaltschwelle des Komparators (301) verbunden ist.

4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen jede Schwellwertschaltung (235; 290; 300) und den _bo zugehörigen Binärzähler (265) ein NAND-Verknüpfungsglied (247) geschaltet ist, und daß ein Eingang jedes NAND-Verknüpfungsgliedes mit einem gemeinsamen, während des Abgleichvorgangs von Hand betätigbaren Setzschalter (210) ^ verbunden ist.

5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Ausgang jeder Schwellwertschaltung (235; 290; 300) mit dem Eingang eines monostabilen Vibrators (255) verbunden ist, dessen Ausgang mit einem Anzeigeelement (259) zur kurzzeitigen Anzeige eines am Ausgang der Schwellwertschaltung auftretenden Fehlersignals (273) verbunden ist.