DE2618738B2 - Elektrodenanordnung zur potentiometrischen Analyse - Google Patents
Elektrodenanordnung zur potentiometrischen AnalyseInfo
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- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
- G01N27/4035—Combination of a single ion-sensing electrode and a single reference electrode
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Description
Die Erfindung betrifft eine Elektrodenanordnung zur potentiometrischen Analyse von Flüssigkeiten mit einer
ionenselektiven Meßelektrode und einer Bezugselektrode, welche in eine Meßlösung eintauchbar sind, und
aus einem Hohlkörper mit einem darin enthaltenen Bezugshalbelement bestehen, und einem mit den beiden
Meßelektroden zu einem kompakten Bauteil vereinigten Impedanzwandler.
Bei einer Elektrodenanordnung der eingangs beschriebenen
Art zur pH-Bestimmung (DE-OS 16 73 178) ist es bereits bekannt, in die Meßelektrode einen
Feldeffekttransistor einzubauen, dessen Gate-Elektrode mit dem Halbelement verbunden ist und dessen
drain-Elektrode und Source-Elektrode über Drähte nach außen geführt sind. Diese Source-Elektrode ist mit
dem nicht-invertierenden Eingang eines Operationsverstärkers verbunden. Die drain-Elektrode ist mit dem
einen festen Anschluß eines Potentiometers verbunden, dessen anderer fester Anschluß an Masse liegt. Das
Halbelement der Bezugselektrode liegt am Abgriff des Potentiometers. Der invertierende Eingang des Operationsverstärkers
liegt ebenfalls über ein Potentiometer an Masse. Da die Spannungsdifferenz zwischen den
beiden Halbelementen auftritt, wird durch den allein mit dem Halbclement der Meßelektrode verbundenen
Feldeffekttransistor noch nicht die gewünschte Umwandlung der zwischen den beiden Halbelementen
vorhandenen hohen Impedanz erreicht. Es ist deshalb noch ein Nachgleich über mehrere Potentiometer
erforderlich.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Elektrodenanordnung der eingangs beschriebenen Art
zwecks der Vermeidung des schädlichen Einflusses von Schaltkapazitäten und zur Schaffung definierter und
nicht nachkorrigierbarer Verhältnisse noch kleiner um kompakter zu gestalten.
Die Erfindung ist dadurch gelöst, daß der Impedanzwandler in integrierter p.'anarer Schaltungstechnik ι
derart ausgeführt ist, daß die beiden Halbelemente direkt auf die den Eingangselektroden entsprechenden
Inseln aufgesetzt sind, und daß die Inseln mit einer Metallschicht bedeckt sind, welche aus demselben
Material besteht, wie die Halbelemente.
Die Ausführung des Impedanz-Wandlers in integrierter
planarer Schaltungstechnik hat den Vorteil, daß die Anschlußkontakte für den invertierenden und den
nicht-invertierenden Eingang in einer Ebene eng beieinander liegen. Der Abstand der Eingangskontakte
kann beim Entwurf des Planarmodells entsprechend
dem notwendigen oder gewünschten Abstand der Halbelemente gewählt werden. Die Halbelemente
können dementsprechend unter äußerst kurzer Leitungsfühning mit den erwähnten Eingangskonfakten
verbunden werden.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnungen beschrieben. Es zeigt
F i g. 1 einen Schnitt durch die Elektrodenanordnung; Fig.2 eine vergrößerte Darstellung von Fig. ί,
welche die Ausführung des Impedanz-Wandlers in integrierter planarer Technik erkennen läßt.
Die in F i g. 1 dargestellte Elektrodenanordnung zur potentiometrischen Analyse besteht aus einem eine
Meßlösung 2 enthaltenden Behälter 1. In die Meßlösung 2 sind eine Bezugselektrode und eine Meßelektrode
eingetaucht
Die Bezugselektrode besteht aus einem Glashohlkörper 3, der im eingetauchten Bereich eine trichterartige
Öffnung 4 und einen eingepaßten konischen Glasstopfen 5 aufweist Der mit dem Stopfen 5 verschlossene
Trichter 4 bildet einen sog. Stromschlüssel, durch den Ionen hindurchwandern können.
In dem Hohlkörper 3 befindet sich eine Innenlösung 6, in die ein Halbelement 7 eintaucht. Dieses besteht aus
Silber und ist mit einer Schicht Silberchlorid bedeckt. Das Ha'belcment 7 bildet mit der Innenlösung 6 eine
sog. unpolarisierbare Einheit.
Die Meßelektrode besteht aus einem Glashohlkörper 11, der im eingetauchten Bereich eine Öffnung aufweist,
die mit einer ionensensitiven Membran 12 verschlossen ist. Diese Membran 12 spricht nur auf bestimmte Arten
von Ionen an. In dem Hohlkörper 11 befindet sich wiederum eine Innenlösung 13, welche mit einem
Halbelement 14 eine unpolarisierbare Einheit bildet.
Die beiden Glashohlkörper 3, 11 sind zu einem einzigen Glashohlkörper 20 mit gemeinsamer Trennwand
18 vereinigt.
Das an dem Halbelement 14 auftretende Potential ist eine Funktion der Konzentration der in der Meßlösung
2 befindlichen Ionen, auf die die ionensensitive Membran 12 anspricht. Auch an dem Halbelement 7 der
Bezugselektrode steht ein Potential. Gemessen werden soll die Differenz der Potentiale, die an den Halbelementen
7 und 14 entstehen.
In dem gemeinsamen Glashohlkörper 2Ό befindet sich oberhalb der Bezugselektrode und der Meßelektrode
ein Impedanz-Wandler 123. Dieser ist durch seine Anordnung in dem Glashohlkörper 20 mit den beiden
Elektroden zu einem kompakten Bauteil vereinigt worden. Die Halbelemente 7 und 14 sind mit den
Eingangsanschlüssen des als Operations-Verstärkers ausgebildeten Impedanz-Wandlers 123 in noch zu
beschreibender Weise auf kürzestmöglichen Wege verbunden. Er weist bekanntlich einen invertierenden
und einen nicht-invertierenden Eingang auf. Beide Eingänge sind sehr hochohmig. Der Ausgang ist
niederohmig, der Verstärkungsgrad ist hoch. Der Impedanz-Wandler 123 erhält zwei symmetrische
Versorgungsgleichspannungen + t/sund — Ub.
In Fig.2 ist nur der vordere Teil des Impedanz-Wandlers
123 gezeigt. Er ist in integrierter Planartechnik ausgeführt. Die beiden Eingänge sind von zwei
MOS-FET 126, 127 gebildet. Es soll hier nur der Transistor 126 beschrieben werden.
In ein n-Substrat 128 sind zwei />Inseln 129, 130
eindotiert, zwischen denen sich ein p-Kanal 131
erstreckt. Diep-Inseln 129,130 und der p-Kanal 131 sind
von einer Siliciumdioxydschicht 132 bedeckt Über dem p-Kanal 131 ist auf die Siliciumdioxydschicht 132 eine
Silberschicht aufgedampft, die den gate-Kontakt bildet Auf diesen ist direkt das Halbelement 14 aufgesetzt,
welches ebenfalls aus Silber besteht und außen mit einer Silberchloridschicht bedeckt ist Das Halbelement 14
kann auch weggelassen werden, so daß die aufgedampfte Silberschicht nach Bedeckung mit Silberchlorid und
bei Kontaki mit der Innenlösung selbst als Halbelement
wirkt Von der p-lnsel 130 ist ein source-Anschlußkontakt
durch die Siliciumdioxydschicht 132 hindurchgeführt Von der p-lnsel 129 ist ein drain-Anschiußkontakt
durch die Siliciumdioxydschicht 132 hindurchgeführr. Die weiteren Verbindungen des source-Anschlußkontaktes
und des drain-Anschlußkontaktes sind der Übersichtlichkeit halber nicht dargestellt Wesentlich ist
hier, daß das Halbelement 14 direkt auf die den gate-Kontakt bildende Metallschicht 132, d. h. also ohne
Zwischenleitung aufgesetzt ist. Die Verhältnisse bei dem Feldeffekttransistor 127 sind analog.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Elektrodenanordnung zur potentiometrischen Analyse von Flüssigkeiten mit einer ionenselektiven Meßelektrode und einer Bezugselektrode, welche in eine Meßlösung eintauchbar sind und aus einem Hohlkörper mit einem darin enthaltenen Bezugshalbeiement bestehen, und einem mit den beiden Meßelektroden zu einem kompakten Bauteil vereinigten Impedanzwandler, dadurch gekennzeichnet, daß der Impedanzwandler in integrierter planarer Schaltungstechnik derart ausgeführt ist, daß die beiden Halbelemente (7, 14) direkt auf die den Eingangselektroden entsprechenden Inseln aufgesetzt sind, und daß die Inseln mit einer Metallschicht (132) bedeckt sind, welche aus demselben Material besteht, wie die Halbelemente (7,14).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19762618738 DE2618738C3 (de) | 1976-04-28 | 1976-04-28 | Elektrodenanordnung zur potentiometrischen Analyse |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19762618738 DE2618738C3 (de) | 1976-04-28 | 1976-04-28 | Elektrodenanordnung zur potentiometrischen Analyse |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2618738A1 DE2618738A1 (de) | 1977-11-10 |
DE2618738B2 true DE2618738B2 (de) | 1979-01-25 |
DE2618738C3 DE2618738C3 (de) | 1979-10-04 |
Family
ID=5976559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19762618738 Expired DE2618738C3 (de) | 1976-04-28 | 1976-04-28 | Elektrodenanordnung zur potentiometrischen Analyse |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2618738C3 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0080753A1 (de) * | 1981-11-10 | 1983-06-08 | FISONS plc | Messvorrichtung und Methode |
DE4417665A1 (de) * | 1994-05-20 | 1995-11-30 | Testo Gmbh & Co | Meßanordnung zur Untersuchung gasförmiger Medien |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0065202B1 (de) * | 1981-05-15 | 1986-03-12 | Licentia Patent-Verwaltungs-GmbH | Verfahren zur Messung von Ionenkonzentrationen |
DE3513759A1 (de) * | 1985-04-17 | 1986-10-23 | Bayer Diagnostic & Electronic | Sensorvorrichtung |
-
1976
- 1976-04-28 DE DE19762618738 patent/DE2618738C3/de not_active Expired
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EP0080753A1 (de) * | 1981-11-10 | 1983-06-08 | FISONS plc | Messvorrichtung und Methode |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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DE2618738A1 (de) | 1977-11-10 |
DE2618738C3 (de) | 1979-10-04 |
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