DE2541817A1 - Schutzeinrichtung fuer halbleiterschaltungen - Google Patents
Schutzeinrichtung fuer halbleiterschaltungenInfo
- Publication number
- DE2541817A1 DE2541817A1 DE19752541817 DE2541817A DE2541817A1 DE 2541817 A1 DE2541817 A1 DE 2541817A1 DE 19752541817 DE19752541817 DE 19752541817 DE 2541817 A DE2541817 A DE 2541817A DE 2541817 A1 DE2541817 A1 DE 2541817A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- transistors
- safety device
- transistor
- diodes
- series
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/081—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/0812—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
- H03K17/08126—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit in bipolar transitor switches
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Amplifiers (AREA)
- Protection Of Static Devices (AREA)
Description
DiPL-ING. KLAUS NEUBECKER
Patentanwalt
4 Düsseldorf 1 ■ Schadowplatz 9
4 Düsseldorf 1 ■ Schadowplatz 9
Dr.-Ing. Ernst Strcimann
Düsseldorf, 18. Sept. 1975 45,515
7559
7559
Westinghouse Electric Corporation
Pittsburgh, Pa., V. St. A.
Pittsburgh, Pa., V. St. A.
Die Erfindung betrifft eine Schutzeinrichtung für Halbleiterschaltungen,
insbesondere eine transistorisierte elektronische Schaltung, mittels der Hochleistungstransistoren bei hohen Frequenzen
geschützt werden sollen.
Bisher war es üblich, Transistoren mit gemeinsamem Eingang dadurch
zu schützen, daß zu jeder Basis eines jeden Transistors in Serie eine elektrische Sicherung angeordnet wurde. Infolge
der Eigenschaften der elektrischen Sicherung selbst betrug die Zeit zur Ermittlung eines Fehlers mehrere Millisekunden,
was nicht ausreichend schnell war, um eine Beschädigung der übrigen Transistoren zu verhindern. Schutzeinrichtungen gemäß
dem Stand der Technik dienten also im wesentlichen dazu, den Transistor zu schützen, mit dem die Sicherung verbunden war,
statt die übrigen Transistoren gegenüber dem Versagen dieses einen Transistors zu schützen.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Schutzeinrichtung für Halbleiterschaltungen
zu schaffen, mittels der (auch) die übrigen Transistoren z. B. eines Schaltkreises für hohe Leistung mit
einem gemeinsamen Eingang geschützt werden können.
609816/0293
Telefon ίΟ2Π) 32Ο8 58 Telegramme Cuatopat
I ö I I
Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß mehrere
signalübertragende Halbleitereinrichtungen mit einem gemeinsamen Eingangsanschluß vorgesehen werden, wobei in Serie zu dem Steueranschluß
einer jeden Halbleitereinrichtung langsam arbeitende Schutzdioden angeordnet sind, die eine Abschaltzeit aufweisen,
die größer ist als die Periode des Eingangssignals, die aber auch schneller abschalten als eine übliche elektrische Sicherung,
Durch diese Anordnung gelingt es, eine außerordentlich zuverlässige
Arbeitsweise zu erreichen.
Weitere Einzelheiten, Vorteile und Anwendungsmöglichkeiten der Erfindung ergeben sich aus der beiliegenden Darstellung eines
Ausführungsbeispiels sowie aus der folgenden Beschreibung.
Es zeigt:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer vorzugsweisen Ausführungsform der Erfindung; und
Fig. 2 eine Anzahl von zeitabhängigen Wellenformen zur
Erläuterung der Arbeitsweise der in Fig. 1 dargestellten Anordnung.
In Fig. 1 der Zeichnung sind mehrere signalübertragende Halbleitereinrichtungen
dargestellt, genauer gesagt npn-Transistoren Q-] / Q2/ Q3 ··· Qn/ die zueinander parallel geschaltet sind.
Jeder Transistor umfaßt einen Stromsteuerungsanschluß, der im allgemeinen als Basis bezeichnet wird, sowie zwei Leistungsanschlüsse,
die im allgemeinen als Kollektor bzw. Emitter bezeichnet werden. In der in Fig. 1 dargestellten Ausführungsform
sind alle Kollektoren parallel direkt mit einem Leistungsversorgung spot ent ial (B+) verbunden, das dem Anschluß 10 von einer
nicht dargestellten Quelle zugeführt wird. Andererseits ist jeder Emitter mit einem gemeinsamen Schaltkreispunkt 12 verbunden,
und zwar über entsprechende in Serie geschaltete Fusistoren 14.., 142, 14., ... 14 . Ein Fusistor (englisch: fusister = fuse +
6 09818/0293
resistor) ist dem Fachmann bekannt. Er arbeitet wie eine elektrische
Sicherung , zeigt aber auch einen für eine Sicherungseinrichtung erheblichen Widerstandswert, der in der Größenordnung
von 0,01 bis 0,1 Ohm liegt.
In Serie mit der Basis eines jeden Transistors Q-, Q2, usw.
findet sich eine entsprechende Halbleiterdiode 16.., 16~>
I63 .., 16 . Die andere Seite der Dioden ist parallel mit einem gemeinsamen
Schaltungspunkt 18 verbunden, an den ein Eingangssteuersignal mit Hilfe einer Eingangsschaltung geliefert wird, die
einen Transformator 20 umfaßt, dessen Primärwicklung 22 an zwei Eingangssignalanschlüsse 24 und 26 angeschlossen ist. Die Sekundärwicklung
28 ist mit einem Ende mit dem Schaltkreispunkt 18 über eine Parallelschaltung eines Widerstandes 30 und eines
Kondensators 32 angeschlossen, wobei diese Parallelschaltung als ein Vorspannungsnetzwerk arbeitet. Das andere Ende der Sekundärwicklung
28 ist mit der gemeinsamen Verbindung der Fusis tor en 14.., 14„ ... 14 verbunden, d. h. mit dem gemeinsamen
Schaltungspunkt 12. Ein Ausgangsanschluß 13, der mit dem Schaltungspunkt 12 verbunden ist, ist mit einer externen Last 34
verbunden, die außerdem mit einem B- Leistungsversorgungspotential
über einen Anschluß 36 verbunden ist.
Alle Dioden 16- ... 16 sind in gleicher Weise hinsichtlich
ihres jeweiligen Transistorbasisanschlusses so gepolt, daß das B+ Versorgungspotential daran gehindert wird, an allen übrigen
Basisanschlüssen zu erscheinen, falls einer der Transistoren versagt und kurzgeschlossen wird, wodurch das B+ Versorgungspotential
an seinem Basisanschluß erscheint. Z. B. ist die Diode 16., mit ihrer Anodenelektrode mit dem Schaltkreispunkt 18 verbunden,
mit ihrer Kathodenelektrode direkt mit der Basis des Transistors Q-. Die Diode 16- wird in Rückwärtsrichtung vorgespannt,
d. h. nicht-leitend, wenn der Transistor Q- plötzlich vollständig versagt. Die B+ Versorgungsspannung wird somit daran
gehindert, dem Schaltungspunkt 18 und entsprechend auch den Basisanschlüssen der verbleibenden Transistoren Q2 ... Q über
deren entsprechende Dioden 162 ... 16 so lange zugeführt zu
f$09R16/Q?93
2541S17
werden,·, daß diese Transistoren zerstört »erden» Es sei
daJB JBalJfoleiibereinriciktamgera,, ζ» B. Biedern muraä
Mietet aaageaibiicklicai atoscäaalitoa» sondern eine IbesitiaMfce
scsbalit&eHfc. aufweisen,, die im direkter Bezietamig siteJat z>ui dem
umgekehrtem fitzte»,, der vor dem ÄSaseSaalibeaa drarela die Halfoleiifcer—
einrichtung hindurckflieBen m£. Entsprechend werfem die Diodena
16,.,, 162 speziell ausgewählt bezüglich der Eregtoeaaz des Eixigangs
s±-gjaals» sie muss ein aäaer .auf jeden Fall
arbeiten als die iabiiciheini telekticiscäiieini
die zus. JLaragsaat aaasioseia» teem eiaae BescäaadispajGBif desr
213. vsriii^idesnii» !Die SDeiGsoiitziteini. ©ioätein "kciiiiiiBin diese
jedoch
IFi<g- 2 simd ^ersciiiiedeuae üelleinifojnRföiEi dargesibelltb» iDer
das lEäJiagaaägssiginal,, IbesJL-fczt gemS£ dieser
eine Farespaeanz tfD im dear I^SißeaiiiOßrdinnaaaig "^©n 5OO
und -foestefefc aias eiiaer Meclhteckwelle., wie sie !beispielsweise
durch den Weliemzscig 38 wiedergegeben -wird. Die !Peariode $'"&/£)
dieses Sigmials Ibetxagit 2 ins^ Die Dioden 1.6-,, 16^ asw, sind
so ausgewalhlt,, daß Inxe Masciialitzeit gröBer ist als die Periode
des Antriebssignals, die-beispielsweise ±n der SrOBeniOrdming
I/on 5 ms (Wellenztig 4Ol liegt, so daß wataend des monmalen
Betriebes der Dioden diese nicht abschalten, sondem als zweiseitige
Einrichtungen arbeiten» die es den entsprechenden
Transistoren <Q|„ Q^ Λ«Λ 0 ermöglichen,, gemaB dem 2E.ingangsantriebssigsmal
ein- nand abzuschalten. Diese Wirtaing beruht auf
der Tatsache, daß der zum Abschalten der Transistoren erforderliche
umgekehrte Strom während jedes Zyklus ungehindert fließen kann.
Sollte ein Transistor, z. B. der Transistor Q-, einen Kurzschluß erleiden, steigt die Spannung an der Basis, die mit
dem Punkt B in Fig. 1 bezeichnet wurde, plötzlich auf die Amplitude des B+ Versorgungspotentials an, was durch den Wellenzug
42 wiedergegeben wird. Da die Basisdiode 16- nicht augenblicklich abschaltet, steigt die Spannung an dem Schaltkreispunkt
18, mit Punkt A bezeichnet, ebenfalls auf den B+ Pegel an, siehe
609816/029 3 ome,NAL inspEctEd
Wellenzug 44. Der Wellenzug 40 zeigt ferner, daß die Abschaltzeit
für die Diode 16.., das ist die Zeit, während der der
umgekehrte Strom durch die Diode auftritt, bis zum Nichtleiten in der Größenordnung von 5 ms liegt. Die B+ Spannung am Punkt
A wird somit am Anschlußpunkt 18 erhalten bleiben, bis die
Diode 16- sich wieder erholt und nicht-leitend wird, was,
wie oben schon erwähnt, eine Zeit ist, die von dem umgekehrten Strom abhängt. Falls der Transistor Q1 versagt, wird somit
B+ den Basisanschlüssen der übrigen Transistoren Q2, Qo ...
Q für eine Zeitperiode zugeführt, die die Diode 16- benötigt,
abzuschalten, wobei diese Zeit in der Größenordnung von 4 bis 5 ms liegt. Diese Zeit reicht jedoch nicht aus, um bei
den anderen parallelgeschalteten Transistoren Beschädigungen hervorzurufen. Es sei bemerkt, daß bei der Anwesenheit von
elektrischen Sicherungen statt der in Serie geschalteten Basisdioden 16- usw. die Sicherung etwa 5 bis 10 ms benötigt, um
auszulösen, und daß dadurch zusätzliche Transistorbeschädigungen möglich sind.
Es wurde schon bemerkt, daß nach dem Versagen eines Transistors, z. B. des Transistors Q- und nach dem Schutzvorgang, der den
übrigen Transistoren Q2 ... Q durch das Abschalten der Diode
16- gegeben wird, zusätzlich der Fusistor 14- 5 bis 10 ms
später auslöst, um den Transistor Q- vollständig von der Parallelschaltung
abzutrennen. Somit wirken sowohl die entsprechende Diode 16.J als auch der Fusistor 14^ als Schutz des Restes
der Schaltung in dem Fall, daß der Transistor Q- versagt. Es sollte auch darauf hingewiesen werden, daß für das Element,
das mit den Emittern in Serie geschaltet ist, ein Fusistor vorzuziehen ist, weil die von diesem Element gezeigte Widerstandsimpedanz,
wenn sie gemeinsam an der Last 34 gemäß Fig. 1 angeschlossen ist, geeignet ist, den zwischen den parallelen
Transistoren bei normalem Betrieb fließenden Strom auszugleichen.
Die oben gezeigte Schaltung stellt eine verbesserte Einrichtung zum Schutz der verbleibenden parallelgeschalteten Hoch-
6098 16/02 9 3 cmiNAL inspected
ί. O H IU I /
lexstungstransxstoren dar, wenn einer der Transistoren ein plötzliches Versagen zeigt.
Patentansprüche;
609816/0293
Claims (8)
- -T-P ateatanspr üche sSchutzeinrichtung für Halbleiterschaltungen, gekenaazeiictaiet: durch mehrere Signa Ί über tragende(Q) mit einem gemeinsamen Eingangsschaltungspunkt (18J, mit: mehreren langsam arbeitenden Schutzdioden (16) Mit eimer Absctaaltzeit, die großer ist als die Periode dessignals, aber schneller als eine elektrische Sicheraarngselimrictoitmng, wobei die Dioden in Serie zwischen einem Stsnaear— einer jeden Halbleitereinrxchtung (Q) und cienn■eiosasten Eingangsschaltungsponkt (18) angeschlossem sianffl.
- 2. Scbat^einrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet jeweils eine Sicherungseinrichtung (14) in Serie zra. LeisitaiagsanschluS einer jeden Halbleitereinrichtuisg
- 3. Sctaatzeinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzexcäbimstt:, daß die Sicherungseinrichtung (14) einen Fusistor (Siciaerumg xsit Widerstand) darstellt.
- 4. Sctaatzeiitrichtung nach einen der vorhergehenden AmsprScSae 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die signaluberfcrawjesa— dem. Balbleitereinrichtungen (14) Transistoren darstellean, daß der Steueranschluß der Basisanschluß des Transistoars ist, und daß der XieistungsanschluB der EnitteransdalmS äesist.
- 5. Sclmatzexiirichtung nach einem der vorhergehendengekennzeichnet, daß der Eingangsschaltuiigspcijunict(18} 3DlI: einem Transformator (2O) verbunden ist, der eiaae BrJanarwlcklung (22) und eine Sekundärwicklung (28) asuf— weist, wobei die Primärwicklung (22) mit: el mm Eimgaimgssigiaal verbunden ist, wahrend das eine Ende der SekmmaäSirwicklung {28) mit dem gesseinsaiaeii Schaltkreispumkt und das andere Ende der Wicklung mit einer (34) verbunden ist.80981S/G2932 b 4 Ί 8 Ί
- 6. Schutzeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jede Diode (16) in der gleichen Polaritätsbeziehung angeschlossen ist und bewirkt,' daß das Versorgungspotential daran gehindert wird, an den gemeinsamen Eingangsschaltungspunkt (18) zu gelangen, wenn die entsprechende Halbleitereinrichtung (16) versagt, an der sie angeschlossen ist.
- 7. Schutzeinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die entsprechende Sicherungseinrichtung (14) einen elektrischen Widerstand von vorbestimmtem ohmschem Wert aufweist, um einen Stromausgleich zwischen den Transistoren (Q) während normalen Betrie s zu bewirken.
- 8. Schutzeinrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Fusistoren (14) einen ohmschen Wert aufweisen, der geringer ist als 1,0 Ohm.ES/hs 3609816/0293
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/509,175 US4020397A (en) | 1974-09-25 | 1974-09-25 | Parallel transistor protection circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2541817A1 true DE2541817A1 (de) | 1976-04-15 |
Family
ID=24025619
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752541817 Withdrawn DE2541817A1 (de) | 1974-09-25 | 1975-09-19 | Schutzeinrichtung fuer halbleiterschaltungen |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4020397A (de) |
JP (1) | JPS5444586B2 (de) |
BE (1) | BE833749A (de) |
CA (1) | CA1033004A (de) |
DE (1) | DE2541817A1 (de) |
FR (1) | FR2286555A1 (de) |
GB (1) | GB1476611A (de) |
NL (1) | NL7510324A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10155100A1 (de) * | 2001-11-09 | 2003-05-28 | Infineon Technologies Ag | Schaltung zum Schutz eines Bipolar-Transistors vor thermischer Zerstörung |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS53140344U (de) * | 1977-04-13 | 1978-11-06 | ||
US4675770A (en) * | 1985-01-30 | 1987-06-23 | Telefonaktiebolaget L. M. Ericsson | Multiple voltage regulator integrated circuit having control circuits for selectively disabling a voltage regulator in an over-current condition |
EP1727203A1 (de) * | 2005-05-24 | 2006-11-29 | STMicroelectronics S.r.l. | Monolithisch integrierte Leistungs-IGBT Vorrichtung (Bipolartransistor mit isolierter Gate-Elektrode) |
JP5894020B2 (ja) * | 2012-06-25 | 2016-03-23 | 日本無線株式会社 | バイアス保護回路及び増幅装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2972096A (en) * | 1957-11-26 | 1961-02-14 | Smith Corp A O | Protection of a temperature sensitive device |
US3017558A (en) * | 1958-10-27 | 1962-01-16 | Chase Shawmut Co | Semiconductor rectifiers |
GB1114928A (en) * | 1964-10-14 | 1968-05-22 | Lucas Industries Ltd | Transistor circuits |
US3588538A (en) * | 1968-01-26 | 1971-06-28 | Us Army | Electronic switch |
US3604885A (en) * | 1968-07-05 | 1971-09-14 | Inoue K | Edm power supply for generating self-adaptive discharge pulses |
AU466670B2 (en) * | 1970-07-30 | 1975-11-06 | Australian Telecommunications Commission | Control of operation of a system |
US3705968A (en) * | 1971-06-25 | 1972-12-12 | Elox Inc | Multiple gap electrical discharge machining circuit |
US3735318A (en) * | 1971-11-04 | 1973-05-22 | Mallory & Co Inc P R | Fusing resistor |
US3751622A (en) * | 1972-01-17 | 1973-08-07 | Colt Ind Operating Corp | Protection circuit for electrical discharge machining power supply apparatus |
US3766508A (en) * | 1972-07-03 | 1973-10-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Flame-proof coated resistors |
US3832606A (en) * | 1973-02-15 | 1974-08-27 | Gen Motors Corp | Semiconductor diode package with protection fuse |
US3878437A (en) * | 1973-03-28 | 1975-04-15 | Seymour Cuker | Power output circuit for electrical discharge machining apparatus |
-
1974
- 1974-09-25 US US05/509,175 patent/US4020397A/en not_active Expired - Lifetime
-
1975
- 1975-09-02 NL NL7510324A patent/NL7510324A/xx not_active Application Discontinuation
- 1975-09-11 CA CA235,211A patent/CA1033004A/en not_active Expired
- 1975-09-15 GB GB3780375A patent/GB1476611A/en not_active Expired
- 1975-09-19 DE DE19752541817 patent/DE2541817A1/de not_active Withdrawn
- 1975-09-24 BE BE160313A patent/BE833749A/xx not_active IP Right Cessation
- 1975-09-25 JP JP11493975A patent/JPS5444586B2/ja not_active Expired
- 1975-09-25 FR FR7529417A patent/FR2286555A1/fr active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10155100A1 (de) * | 2001-11-09 | 2003-05-28 | Infineon Technologies Ag | Schaltung zum Schutz eines Bipolar-Transistors vor thermischer Zerstörung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
BE833749A (fr) | 1976-03-24 |
FR2286555B1 (de) | 1980-04-04 |
JPS5160141A (de) | 1976-05-25 |
US4020397A (en) | 1977-04-26 |
FR2286555A1 (fr) | 1976-04-23 |
GB1476611A (en) | 1977-06-16 |
NL7510324A (nl) | 1976-03-29 |
JPS5444586B2 (de) | 1979-12-26 |
CA1033004A (en) | 1978-06-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3215147C2 (de) | ||
DE2434279B2 (de) | Einrichtung zum ueberspannungsschutz fuer thyristoren eines gesteuerten hochspannungsumrichters | |
DE102016117003A1 (de) | Schutzschaltgerät | |
DE102016123955A1 (de) | Niederspannungs-Schutzschaltgerät | |
DE2653453C3 (de) | Schaltungsanordnung für eine aus der Netzspannung über Gleichrichterelemente abgeleitete Hilfsspannung für mehrpolige Fehlerstrom-Schutzschalter | |
DE1164550B (de) | Sicherungsanordnung | |
DE2541817A1 (de) | Schutzeinrichtung fuer halbleiterschaltungen | |
DE2555786A1 (de) | Anzeigelampen-schaltkreis | |
DE2621071A1 (de) | Pendelschutzrelais | |
DE3421828C2 (de) | ||
DE2413399C2 (de) | ||
DE2151947C3 (de) | Anordnung zur netzgetreuen Prüfung des Ausschaltvermögens von Lastschaltern und Lasttrennschaltern für hohe Spannungen | |
EP0220215A1 (de) | Fehlerstromschutzschalter für fehlerwechsel- und fehlergleichströme ohne energiespeicherung | |
DE2164572A1 (de) | Vorrichtung zum schutz einer steuerbaren halbleiteranordnung | |
DE2613972A1 (de) | Fehlerstromschutzschalter | |
DE1173538B (de) | Schaltungsanordnung fuer Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen mit Belegungsstromkreisen | |
DE1289171B (de) | Mit Halbleiterelementen bestueckte Schaltungsanordnung zur Begrenzung einer Gleich- oder Wechselspannung | |
DE2213243B2 (de) | Schaltungsanordnung zur Spannungsbegrenzung | |
DE869101C (de) | Schutzeinrichtung fuer Hochleistungs-Elektronenroehren | |
DE649354C (de) | Schutzeinrichtung gegen UEberlastungen fuer Wechselrichter | |
DE3528645C2 (de) | ||
DE525005C (de) | Einrichtung zur UEberwachung des Isolationszustandes elektrischer Leitungen | |
DE1952828C3 (de) | Schaltungsanordnung zum Schutz von in Reihe geschalteten Thyristoren gegen Überspannungen | |
EP4010982A1 (de) | Elektronischer schutzschalter | |
DE102011109111A1 (de) | Energiespeichervorrichtung und Blitzgerät |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8141 | Disposal/no request for examination |