DE2537281C3 - Leiterbahnaufbau für direktes Stecken von Dünnfilm-Hybridschaltungen in Federleisten - Google Patents

Leiterbahnaufbau für direktes Stecken von Dünnfilm-Hybridschaltungen in Federleisten

Info

Publication number
DE2537281C3
DE2537281C3 DE19752537281 DE2537281A DE2537281C3 DE 2537281 C3 DE2537281 C3 DE 2537281C3 DE 19752537281 DE19752537281 DE 19752537281 DE 2537281 A DE2537281 A DE 2537281A DE 2537281 C3 DE2537281 C3 DE 2537281C3
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layer
substrate
thin
conductor
gold
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE19752537281
Other languages
English (en)
Other versions
DE2537281B2 (de
DE2537281A1 (de
Inventor
Alexander Dipl.-Chem. 8000 Muenchen Fonth
Detlef Dipl.-Phys. Dr. 8031 Woerthsee Haberland
Jan 8000 Muenchen Smola
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19752537281 priority Critical patent/DE2537281C3/de
Publication of DE2537281A1 publication Critical patent/DE2537281A1/de
Publication of DE2537281B2 publication Critical patent/DE2537281B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE2537281C3 publication Critical patent/DE2537281C3/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
    • H01R12/70Coupling devices
    • H01R12/82Coupling devices connected with low or zero insertion force
    • H01R12/83Coupling devices connected with low or zero insertion force connected with pivoting of printed circuits or like after insertion
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/24Reinforcing the conductive pattern

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Contacts (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Description

25
Die Erfindung betrifft einen Leiterbahnaufbau für direktes Stecken einer auf einem Substrat angeordneten Dünnfilm-Hybridschaltung, bei der die Leiterbahnen an einen Randbereich des Substrates herangeführt und mit einer Federleiste kontaktierbar sind.
Ein derartiger Leiteraufbau wird als bekannt vorausgesetzt (JEEE spectrum April 1964, S. 72-80).
Es ist bekanntlich äußerst schwierig, einen Kompromiß zwischen guter elektrischer Leitfähigkeit sowie hoher Antriebsfestigkeit im steckbaren Bereich der Leiterbahnen zu finden. Verwendet man beispielsweise reines Gold als Kontaktschicht, so ist die Abriebfestigkeit wegen der Weichheit des Goldes gering. Hartgold hingegen weist eine niedrigere elektrische Leitfähigkeit auf. Außerdem verliert es seine Härte, wenn man dieses längere Zeit erhöhten Temperaturen aussetzt, z. B. beim Tempern. Außerdem besteht durch die Oxid-Bildung Korrosionsgefahr.
Es ist beispielsweise durch die DE-OS 16 90 338 bekannt, im Randbereich einer Leiterplatte befindliche Leiterbahnen zu vergolden, um einen möglichst geringen Übergangswiderstand zu haben, wobei auf eine Kupfergrundschicht als harte, diffusionshemmende Unterlage zunächst eine Nickelzwischenschicht aufgebracht ist. Die Nickelzwischenschicht übernimmt demnach die notwendige Festigkeit, die Goldschicht dagegen die Gleitfähigkeit und damit die Reduzierung des elektrischen Übergangswiderstandes sowie einen Korrosionsschutz. Eine derartige Schichtzusammensetzung eignet sich jedoch nicht für Dünnfilm-Hybridschaltungen, da die Grundschichten aus gänzlich anderen Materialien bestehen.
Durch das Buch von A. K e i I »Werkstoffe für elektrische Kontakte« 1960, Springer-Verlag, S. 268,269 bo ist es weiterhin bekannt, daß sich reines Gold nur zum Schalten schwacher Leistungen eignet. Da es sehr weich ist, kann seine Härte durch Einlegieren von Nickel oder Kobalt wesentlich verbessert werden. Der spezifische elektrische Widerstand beträgt je nach Dotierung das Fünffache gegenüber reinem Gold, so daß sich dieses Material nur bedingt bei schwachen Leistungen, wie sie in der Dünnfilm-Hybridtechnik vorkommen, Anwendung finden kann.
An anderer Stelle (S. 160) ist diesem Buch zu entnehmen, reines Gold in Form von Hauchvergoldung lediglich als Deckschicht für eine verschleißfestere Silberschicht zu verwenden. Die Verschleißfestigkeit von Silber reicht jedoch nicht für Zwecke der Dünnfilm-Hybridtechnik mit ihren äußerst feinen Leiterbahnstrukturen aus.
Ein weiterer bekannter Dünnfilm-Leiterbahnaufbau besteht aus einer Nickel-Chrom-Haftschicht, die aufgedampft wird, einer Palladium-Diffusionssperre und aus Leiterbahnen aus Gold.
Es ist Aufgabe der Erfindung, die Leiterbahnenden von Dünnfilm-Hybridschaltungen der eingangs genannten Art so auszugestalten, daß ein direktes Stecken dieser Schaltungen in Federleisten möglichst oft wiederholbar ist.
Diese Aufgabe wird bei Leiterbahnen der eingangs erwähnten Art durch die Kombination der im Kennzeichen des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst
Durch diesen Aufbau schützt die weiche Schicht die harte Schicht beim Stecken. Die mit Kobalt oder Nickel dotierte Hartgoldschicht hat den Vorteil, daß das fertige Substrat einer Temperung ausgesetzt werden kann, was zur künstlichen Alterung und damit zur Stabilisierung der auf dem Substrat angeordneten Widerstände erforderlich ist. Mit organischen Zusätzen erzeugte Hartgoldschichten verlieren beim Tempern ihre Härte. Ohne die Weichgoldschicht wäre jedoch mit erheblichen Schwierigkeiten zu rechnen. Durch das Tempern bildet sich auf den Leiterbahnoberflächen beispielsweise Kobalt-Oxid, was neben einer Verringerung der Leitfähigkeit auch zur Verschlechterung der Bondbarkeit führen würde. Die Weichgoldschicht, die beim Tempern nicht korrodiert, hat also nicht nur für bessere Gleiteigenschaften beim Stecken zu sorgen, sondern sie bildet auch einen wirksamen Korrosionsschutz für die Hartgoldschicht.
Günstige Werte für die Schichtdicken sind dem kennzeichnenden Teil des Anspruchs 2 zu entnehmen.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden anhand von 3 Figuren näher erläutert Es zeigt
F i g. 1 ein Substrat, auf das eine Teststruktur für die direkte Steckung in einer Federleiste aufgebracht ist,
F i g. 2 eine Federleiste mit einem eingelegten Substrat und
F i g. 3 eine graphische Darstellung des Durchgangswiderstandes bei der direkten Steckung als Funktion der Steckzahlen.
Für das direkte Stecken von Dünnfilm-Hybridschaltungen in Federleisten wird eine Teststruktur gemäß F i g. 1 verwendet. Position 1 zeigt das Substrat, auf das die Leiterbahnen 2 aufgedampft sind. Die Teststruktur besteht aus einem AhOj-Keraniiksubstrat, auf das 30 nm Nickel-Chrom, 50 nm Titan und 300 nm Palladium aufgedampft sind. Weiterhin sind die Leiterbahnen mit einer 4 μιη starken Hartgoldschicht überzogen, auf denen eine I μηι starke Weichgoldschicht aufgebracht ist. Dabei wird die Härte der Hartgoldschicht durch bekannte Dotierungen mit Übergangsmetallen wie Kobalt, Nickel oder dgl. eingestellt, so daß eine hohe Abriebfestigkeit gewährleistet ist.
Die so hergestellte Teststruktur ist gemäß F i g. 2 in eine Federleiste 3 steckbar. Das mit Leiterbahnen 2 versehene Substrat 1 wird oberhalb der Kontaktstelle 4 eingesteckt und dann eingeschwenkt.
In Fig.3 sind die Meßergebnisse des Durchgangswiderstandes R bei direktem Stecken als Funktion der Steckzahl π aufgetragen. Die Messung erfolgte im Normalklima nach der Vier-Punkt-Methode. Die Sickkungen erfolgten von Hand. Aus dieser Figur erkennt man, daß der Durchgangswiderstand selbti nach 2000 Steckungen noch unter 10 ηιΩ liegt
Ähnliche Werte werden auch bei anderen als in F i g. 2 dargestellten Federleisten erzielt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (2)

1 Patentansprüche:
1. Leiterbahnaufbau für direktes Stecken einer auf einem Substrat angeordneten einem Tempervorgang unterworfenen DQnnfiim-Hybridschaltung mit Widerständen, bei der die Leiterbahnen an einen Randbereich des Substrates herangeführt und mit einer Federleiste kontaktierbar sind, gekennzeichnet durch die Kombination der Merkmale, daß die Leiterbahnen aus einer auf dem Substrat to (1) aufgebrachten Nickelchromschicht bestehen, auf die eine Titanschicht, hierauf eine Palladiumschicht und eine Kontaktschicht aufgebracht sind, wobei die Kontaktschicht aus einer ersten, der Palladiumschicht zugewandten mit Kobalt oder Nickel dotierten Hartgoldschicht und aus einer den Kontaktfedem (4) zugewandten zweiten Schicht aus Weichgold besteht
2. Leiterbahnaufbau für direktes Stecken nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die erste Schicht eine Schichtdicke von 4 μιη und die zweite Schicht eine Schichtdicke von 1 μιη aufweist
DE19752537281 1975-08-21 1975-08-21 Leiterbahnaufbau für direktes Stecken von Dünnfilm-Hybridschaltungen in Federleisten Expired DE2537281C3 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19752537281 DE2537281C3 (de) 1975-08-21 1975-08-21 Leiterbahnaufbau für direktes Stecken von Dünnfilm-Hybridschaltungen in Federleisten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19752537281 DE2537281C3 (de) 1975-08-21 1975-08-21 Leiterbahnaufbau für direktes Stecken von Dünnfilm-Hybridschaltungen in Federleisten

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE2537281A1 DE2537281A1 (de) 1977-02-24
DE2537281B2 DE2537281B2 (de) 1978-11-02
DE2537281C3 true DE2537281C3 (de) 1979-08-02

Family

ID=5954531

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19752537281 Expired DE2537281C3 (de) 1975-08-21 1975-08-21 Leiterbahnaufbau für direktes Stecken von Dünnfilm-Hybridschaltungen in Federleisten

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2537281C3 (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3575819D1 (de) * 1984-04-06 1990-03-08 Molex Inc Elektrischer stecker mit geringer notwendiger einsteckkraft und mit beanspruchungsueberwachten kontakten.

Also Published As

Publication number Publication date
DE2537281B2 (de) 1978-11-02
DE2537281A1 (de) 1977-02-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60035667T2 (de) Kontaktor mit Kontaktelement auf der LSI-Schaltungsseite, Kontaktelement auf der Testplattinenseite zum Testen von Halbleitergeräten und Herstellungsverfahren dafür
DE3705279C2 (de) Verfahren zur Herstellung von Widerständen in Chip-Form
DE2326043A1 (de) Abgreifbare festimpedanzen
DE102005005926A1 (de) Kontaktstecker
DE102007047007A1 (de) Elektrisches Kontaktelement und ein Verfahren zum Herstellen desselben
EP0996932B1 (de) Kontaktlos betreibbarer datenträger
EP2038624A2 (de) Elektrisches bauelement mit einem sensorelement, verfahren zur verkapselung eines sensorelements und verfahren zur herstellung einer plattenanordnung
EP3189527A1 (de) Elektrisches bauelement, bauelementanordnung und verfahren zur herstellung eines elektrischen bauelements sowie einer bauelementanordnung
DE2537281C3 (de) Leiterbahnaufbau für direktes Stecken von Dünnfilm-Hybridschaltungen in Federleisten
DE4101120A1 (de) Veraenderbarer widerstand mit einem schaltmechanismus
DE2513859C2 (de) Verfahren zum Herstellen eines Kondensator-Widerstands-Netzwerks
EP0076292A1 (de) Elektrische kontaktvorrichtung, insbesondere für mit leiterplatten ausgestattete elektrische kleingeräte.
DE1648724C3 (de) Meßbrückenanordnung zur Messung mechanischer Spannungen
DE4030479C2 (de) Elektrischer Widerstand in Chip-Bauform
DE102012213804A1 (de) Belastungsminimierende elektrische Durchkontaktierung
EP1247107B1 (de) Testvorrichtung für ein halbleiterbauelement
DE3434627A1 (de) Elektrischer gleitkontakt, insbesondere fuer kommutierungssysteme
DE102004037588A1 (de) Elektrisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Bauelements
DE69026148T2 (de) Methode und Konstruktion einer elektrischen Verbindung zu einem oxydischen Supraleiter
DE10328285A1 (de) Leiterplatte
DE102021101644A1 (de) Steckverbinder und Steckverbinderpaar
DE102007044453A1 (de) Elektrisches Vielschichtbauelement
EP1897427A1 (de) Elektrisch leitfähige, mechanisch flexible verbindung zwischen elektrischen bzw. elektronischen bauteilen
DE1671998C (de) Galvanische Batterie mit in einer Ebene angeordneten Kontaktbahnen, die die einzelnen Elemente in Serie schalten und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE102004012777B3 (de) Kontaktkörper, insbesondere für Schaltkontakte sowie Kontaktanordnung mit einem derartigen Kontaktkörper sowie seine Verwendung

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee