DE2522547B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- DE2522547B2 DE2522547B2 DE2522547A DE2522547A DE2522547B2 DE 2522547 B2 DE2522547 B2 DE 2522547B2 DE 2522547 A DE2522547 A DE 2522547A DE 2522547 A DE2522547 A DE 2522547A DE 2522547 B2 DE2522547 B2 DE 2522547B2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- photoresist
- substrate
- relief
- exposed
- modulated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 claims description 51
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 38
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 24
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 5
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims description 2
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 claims description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 17
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 12
- 238000011161 development Methods 0.000 description 11
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N Iron oxide Chemical compound [Fe]=O UQSXHKLRYXJYBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 4
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000010076 replication Effects 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 2
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 description 2
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 2
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002679 ablation Methods 0.000 description 1
- 238000000889 atomisation Methods 0.000 description 1
- 238000007630 basic procedure Methods 0.000 description 1
- 239000003518 caustics Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000004049 embossing Methods 0.000 description 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 1
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- -1 is removed Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 230000003362 replicative effect Effects 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/04—Processes or apparatus for producing holograms
- G03H1/0402—Recording geometries or arrangements
- G03H1/0406—Image plane or focused image holograms, i.e. an image of the object or holobject is formed on, in or across the recording plane
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/0005—Production of optical devices or components in so far as characterised by the lithographic processes or materials used therefor
- G03F7/001—Phase modulating patterns, e.g. refractive index patterns
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/02—Details of features involved during the holographic process; Replication of holograms without interference recording
- G03H1/0276—Replicating a master hologram without interference recording
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/02—Details of features involved during the holographic process; Replication of holograms without interference recording
- G03H1/024—Hologram nature or properties
- G03H1/0244—Surface relief holograms
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/02—Details of features involved during the holographic process; Replication of holograms without interference recording
- G03H1/0276—Replicating a master hologram without interference recording
- G03H2001/0292—Replicating a master hologram without interference recording by masking
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/02—Details of features involved during the holographic process; Replication of holograms without interference recording
- G03H1/0276—Replicating a master hologram without interference recording
- G03H2001/0296—Formation of the master hologram
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H2240/00—Hologram nature or properties
- G03H2240/20—Details of physical variations exhibited in the hologram
- G03H2240/40—Dynamic of the variations
- G03H2240/41—Binary
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H2260/00—Recording materials or recording processes
- G03H2260/14—Photoresist
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H2260/00—Recording materials or recording processes
- G03H2260/50—Reactivity or recording processes
- G03H2260/63—Indirect etching, e.g. lithography
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H2270/00—Substrate bearing the hologram
- G03H2270/10—Composition
- G03H2270/11—Crystal or glass
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S359/00—Optical: systems and elements
- Y10S359/90—Methods
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Holo Graphy (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
Description
Tiefe d=5v "_ j. durchgeführt wird, wobei λ die
Wellenlänge des Lichtes und μ der Brechnungsindex
des Auf7Pichnungsmediums bedeutet, in das das Hologramm übertragen werden soll.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Photolack mit einem
konstanten, gleichförmigen schwachen Gittermuster belichtet wird, dem das lichtstärkere Hologrammuster
überlagert ist.
4. Verfahren nach eineiii der vorangehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Entwicklung nichtlinear bezüglich der Lichtintensität
der Belichtung durchgeführt wird.
5. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß beim
Belichten der Photo'ack m h der Beaufschlagung
mit dem Hologramm noch weiter mit dem zum Hologramm beitragenden Ol ektbündel belichtei
wird.
6. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß als Substrat
ein hartes, beständiges Material verwendet wird, das sich für eine Mutterform zur Vervielfältigung
des impulsbreitenmodulierten Reliefmusters eignet.
7. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine auii
einem amorphen Material bestehende Schicht im wesentlichen gleichmäßiger Dicke geätzt wird,
welche vom Substrat getragen wird und dessen ätzbare Oberfläche bildet.
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Die Qualität der bekannten Mikrofilme und Mikrofilmkarten wird mit der Zeit immer schlechter; für
Archivzwecke ist es daher erwünscht, Information auf einem beständigeren Medium in Form eines Reliefmusters
speichern zu können. Wenn z. B. Photolack ah; Aufzeichnungsmedium für ein Fokussierbildhologramm
verwendet wird, ist das resultierende aufgezeichnete Phasenhologramm ein amplitudenmoduliertes Reliefmuster
mit sinusartigem Verlauf auf der Oberfläche des Photolacks. Da die konventionellen Photolacke weich
sind, ist es häufig erforderlich, die aufgezeichneten Hologramme durch ein Verfahren der in der US-PS
65 978 beschriebenen Art auf ein hartes Material zu kopieren, das sich als Mutterform eignet. Bei einem
solchen Verfahren wird auf der Oberfläche des Photolacks durch ein Metallplattierungsverfahren eine
Metallschicht aufgebaut und diese dann zur Bildung einer Metallmutterform für die Vervielfältigung des
Hologramms vom Photolack getrennt. Eine verzerrungsfreie Übertragung des Reliefmusters auf die
Metallmutterform erfordert große Sorgfalt und Genauigkeit, da die Dimensionen des Reliefmusters in der
Größenordnung von 1 μπι liegen.
H) Bei einem anderen Verfahren zum Kopieren von Reliefmustern in Form von Phasenhologrammen wird
das im Photolack aufgezeichnete Reliefmuster durch Photoätzen (z. B. Kathodenzerstäubung oder chemisches Ätzen) in ein unter dem Photolack befindliches,
r. hartes und dauerhaftes Substratmaterial übertragen,
und das Substrat wird dann als Mutterform zur Vervielfältigung des Hologramms auf ein geeignetes
Material, z. B. einen Thermoplasten, verwendet. Ein solches Verfahren, das mit Abtragung durch Katho-
2i) denzerstäubung arbeitet, ist aus der US-PS 37 33 258
bekannt
Die oben erwähnten bekannten Verfahren zum Vervielfältigen von Fokussierbildhologrammen sind im
allgemeinen für kleinere Mengen von Kopien unwirt-
r> schaftlich, z. B. für nur einige Tausend Kopien eines Hologramms, da die Kosten für die Herstellung der
Mutterform hoch sind. Es besteht also ein erheblicher Bedarf an einem schnellen und wirtschaftlichen
Verfahren zum Herstellen von Mutterforrnen für
ίο Reliefhologramme.
Demgemäß liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum schnellen und wirtschaftlichen
Herstellen eines Reliefs von einem Hologramm anzugeben, das als Mutterform zur Übertragung des
π Hologramms auf ein geeignetes Aufzeichnungsmedium verwendet werden kann.
Diese Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß man
Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, daß man
4(i ausgehend von einem einfach herstellbaren amplitudenmoduierten
Relief Hologramme auch mit einem breitenmodulierten Relief einheitlicher Tiefe als Prägeform
vervielfältigen kann. Diese Umwandlung hat u. a. den Vorteil, daß eine für einen speziellen Verwendungs-
■Γ) zweck hinsichtlich des optischen Wirkungsgrades
optimale Tiefe gewählt werden kann. Ferner muß die Entwicklungsgeschwindigkeit des Photolacks nicht
genau mit der Ätzgeschwindigkeit des Substrates abgestimmt werden.
■Ίο Insbesondere läßt sich das hier beschriebene Verfahren
zur einfachen Herstellung eines Fokussierbildhologrammes verwenden, das ausgehend von dem im
Photolack aufgezeichneten amplitudenmodulierten Interferenzmuster als Relief mit zwei Höhenstufen in dem
ν-, Substrat gebildet wird, das als Mutterform zur
Vervielfältigung des Fokussierbildhologrammes oder als Medium zur permanenten Informationsspeicherung
für Archivzwecke verwendet werden kann.
Im folgenden werden bevoizugte Ausführungsbei-
hi) spiele der Erfindung unter Bezugnahme auf die
Zeichnung näher erläutert; es zeigt
F i g. 1 amplitudenmodulierte Reliefs entsprechend verschiedenen Grauwerten,
Fi g. 2 impulsbreitenmodulierte, zweipegelige Reliefs
h ι entsprechend den gleichen Grauwerten wie in F i g. 1,
F i g. 3 eins Darstellung einer Folge von Schritten bei einer Umwandlung eines Interferenzmusters in Form
eines Hologramms, das in Photolack als amplitudenmo-
duliertes Reliefmuster mit sinusartigem Verlauf aufgezeichnet wurde, in ein impulsbreitenmoduliertes, zweipegeliges
Relief.
In den F i g. 1 und 2 sind zum Vergleich amplitudenmodulierte Reliefs mit im Querschnitt rechteckwelligem
Verlauf und impulsbreitenmodulierte Reliefs mit rechteckwelligem Verlauf für entsprechende Grauwerte
dargestellt Die Reliefs gemäß F i g. 1 und 2 entsprechen dem Stand der Technik und dienen lediglich zur
Erläuterung. Hin »heller« Bereich, d.h. ein Bereich maximalen Wirkungsgrades, in dem das Verhältnis von
Linienbreite zu Zwischenraumbreite gleich 1 ist, ist in Fig. la für ein amplitudenmoduliertes Relief und in
F i g. 2a für ein impulsb'-eitenmoduliertes Relief dargestellt
Die Figuren Ib und 2b entsprechen einem »grauen« Bereich, d.h. einem Bereich mittleren
Wirkungsgrades für ein amplitudenmoduliertes bzw. ein impulsbreitenmoduliertes Relief.
Ein »schwarzer« Bereich, d. h. ein Bereich mit dem Wirkungsgrad 0, ist in Fi g. Ic für ein amplitudenmoduliertes
und in Fig.2c für ein impulebreitenmoduliertes
Relief dargestellt. Der Wirkungsgrad eines Bereiches ist definiert als das Verhältnis des in das rekonstruierte
Bündel gebeugten Strahlungsflusses zu dem auffallenden Fluß des rekonstruierenden Bündels.
Ein Relief kann auch zur Aufzeichnung von farbigen Bildern verwendet werden, indem man drei sich
überlappende Reliefmuster bildet, in denen jeweils das Interferenzmuster codiert ist, das aus dem Bild in einer
der drei Primärfarben erzeugt wurde.
F i g. 3 zeigt den Verlauf der Umwandlung eines Hologrammes, das in einer Photolackschicht als
amplitudenmoduliertes Reliefmuster mit sinusförmigem Querschnitt entwickelt wurde, in ein impi'.lsbreitenmoduliertes
Relief mit zwei Höhenstufen. Wie Fig.3a zeigt, wird eine dünne, gleichmäßige Schicht 10 aus
einem z. B. positiv arbeitenden Photolack auf die Oberfläche eines Substrates 12 aufgebracht. Das
Substrat 12 kann eine 1 μΐυ dicke Molybdänschicht sein,
die auf eine Glasplatte 14 aufgebracht worden war. Als Substratmaterialien können ferner auch Glas, Kunststoff
sowie Metall- und Metalloxid-Schichten verwendet werden. Die Dicke der Photolackschicht sollte etwa
5000 A betragen und innerhalb einer Toleranz von ± 100 Ä gleichförmig sein. Es ist eine große Anzahl von
positiv und negativ arbeitenden Photolacken sowie Photolackentwicklern bekannt, die bei dem Verfahren
gemäß der Erfindung verwendet werden können. Der Photolack der Schicht lü wird mit einem holographischen
Interferenzmustsr, z. B. einem Fokussierbildhologramm
belichtet, das als Interferenzfigur mit sinusförmigem Verlauf angesehen werden kann, deren Amplitude
beispielsweise von der Lichtdurchlässigkeit eines Original-Transparentbildes abhängt. Die belichtete
Photolackschicht 10 kann mit einem im wesentlichen linear arbeitenden Entwickler entwickelt werden. Je
nach dem Amplitudenbereich des Hologramms, mit dem die Belichtung durchgeführt wurde, kann der Photolack
unter Umständen auch vorzugsweise mit einem nicht linear arbeitenden Entwickler entwickelt werden.
Fig,3b zeigt den positiv arbeitenden Photolack
während der Entwicklung. Während der Entwicklung eines positiv arbeitenden Photolacks wird die Photolackschicht
10 mit einer Geschwindigkeit abgetragen, die von der örtlichen Belichtung abhängt. Ein unbelichteter
Bereich 16 der Schicht 10 aus dem Photolack wird erheblich langsamer abgetragen als belichtete Bereiche
18 und 20. Die Geschwindigkeit der Entwicklung des sinusförmigen Reliefmusters hängt von der Intensität
der Belichtung des Photolacks durch das Hologramm ab. Ein stärker belichteter Bereich, wie der Bereich Id
des Photolacks wird schneller entwickelt, d. h. abgetragen, als ein weniger stark belichteter Bereich, wie der
Bereich 20.
Bei der Darstellung in Fig. 3c ist die Photolackschicht
so weit entwickelt, d. h. abgetragen, daß die Vertiefungen der Bereiche 18 und 20 die Oberfläche 22
in des Substrats 12 freilegen. Diese Vertiefungen erreichen
die Oberfläche des Substrats 12 zuerst in dem am stärksten belichteten Bereich 18. Der Entwicklungsprozeß
kann einfach mittels eiiies Mikroskops überwacht werden, das mit einem Rotfilter ausgerüstet ist, wenn
ι> der verwendete Photolack für rotes Licht unempfindlich
ist Die Entwicklung wird solange fortgesetzt, bis die Linien- oder Strichbreite der freigelegten Substratbereiche
in den »hellen« Bereichen, d. h. dort, wo der maximale Beugungswirkungsgrad erforderlich ist, gleich
Jd der Linien- oder Strichbreite der maskierten oder
abgedeckten Substratbereiche ist. Als Ergebnis einer solchen Entwicklung ergibt der Bereic-, 20, der durch
das Interferenzmuster weniger stark belichtet worden war als der Bereich 18, auf der Oberfläche ?2 des
j-, Substrats 12 einen Bereich 24 mit einer wesentlich
propotional schmäleren Linienbreite als der Bereich 26, der infolge des stärker belichteten Bereiches 18
freigelegt wird. In den meisten Fällen wird die Linienbreite der freigelegten Bereiche 24 und 26 im
so wesentlichen direkt proportional zur Intensität des Interferenzmusters sein, mit dem die darüber gelegenen
Photolackbereiche 18 und 20 belichtet worden waren; es genügt jedoch, daß die Linienbreite der freigelegten
Bereiche 24 und 26 von der Intensität des Interferenz-
i) musters abhängt, um die räumliche holographische
Information vom Photolack auf das darunter liegende Substrat als impulsbreitenmoduliertes Relief zu übertragen.
Beispielsweise kann das impulsbreitenmodulierte Relief umgekehrt proportional zur Intensity des
4Ii holographischen Interferenzmusters oder entsprechend
einer logarithmischen Funktion der Intensität des ho.ographischen Interferenzmusters entwickelt werden.
Die freigelegten Substratbereiche 24 und 26 werden
nun in einem bestimmten Ausmaß geätz·, um im
4·, Substrat 12 ein Rechteckwellengitter zu bilden. Diese
Abtragung kann durch ein chemisches Ätzverfahren oder durch Kathodenzerstäuben erfolgen. F i g. 3d zeigt
das geätzte Substrat 12 mit Tälern oder Vertiefungen 28 und 30. Die optimale Tiefe der Vertiefungen 28 und 30
,η beträgt etwa 5000 Ä.
Der auf die erste Ordnung bezogene Wirkungsgrad N eines rechteckigen Phasengitters kann wie fol»t
definiert werden:
N =
wobei a die Linienbreite des Gitters, D die Periode des
Gitters und Φ,, die Phasentiefe, d. h. die optische Tiefe des Gitters im Aufzeichnungsmaterial ist. Der maximale
Wirkungsgrad (etwa 40%) ergibt sich etwa wenn
(Rcchteckwcllengilter)
und
'/'(i ~ η (optimale Pruiscnticfc).
Die optimale Tiefe des Gitters d kann auf den
Die optimale Tiefe des Gitters d kann auf den
Brechnungsindex μ des endgültigen Aufzeichnungsträgers bezogen werden, z. B. eines thermoplastischen
Trägers wie eines Vinylkunststoffbandes, sowie die
Wellenlänge λ des bei der Rekonstruktion verwendeten Lichtes, gemäß der folgenden Formel:
d =
(für m;mm;ilen Wirkimpsprai
Für μ = 1,5 würde also d von 4600 A (blaues Licht) bis
6500 A (rotes Licht) reichen. Die Periodizität D des Gitters wird im allgemeinen im Hinblick auf die
Gemometrie der Wiedergabeeinrichtung bestimmt, d. h.
den Abfragewinke!, die Gitterorienticrung und die Codierung. In der Praxis wird sie im allgemeinen im
Bereich zwischen 1 und 10 μπι liegen.
Der restliche Photolack der Schicht 10 wird schließlich durch ein Photolackentfernungsmittel, wie
Aceton, entfernt, und es verbleibt ein im Substrat 12 aufgezeichnetes Phasenhologramm in Form eines
impulsbreitenmodulierten, im wesentlichen zwei Höhenstufen enthaltenden Reliefs, wie es in F i g. 3e
dargestellt ist. Wenn ein genügend hartes Substrat verwendet wurde, z. B. Glas oder eine Metallschicht,
kann die Reliefstruktur als Mutterform zur Vervielfältigung des Hologramms verwendet werden.
Es ist oft schwierig, mit linearer Entwicklung den vollen Intensitätsbereich des einem Objekt entsprechenden
Interferenzmusters aufzuzeichnen, wenn die Intensitäten sich stark voneinander unterscheiden. Die
Schwierigkeit, die volle Grauskala des Objekts einwandfrei wiedergeben zu können, läßt sich durch eine
nichtlineare Entwicklung des Photolacks überwinden, d. h. durch Entwicklung des Photolacks mit einem
nichtlinear arbeitenden Entwickler. Die erforderliche Intensitätsverteilung für das Interferenzmuster kann
auch dadurch erhalten werden, daß man den Photolack mit einem konstanten, gleichförmigen, schwachen
Gitter belichtet, dem eine intensivere, inkohärente Objektbelichtung überlagert ist. und dann mit einer
nichtlinearen Entwicklung arbeitet. Ein solches Verfahren ergibt impulsbreitenmodulierte Hologramme mit
vollem Tonbereich oder voller Grauskala und kann zur Bildung eines Negativs des ursprünglichen Interferenzmusters
verwendet werden, d. h. eines Reliefs, in dem die Bereiche maximalen Wirkungsgrades, d. h. die Bereiche,
in denen das Verhältnis von Strichbreite zu Strichabstand gleich 1 is;, in dem am schwächsten exponierten
Bereichen entstehen. Ein ähnliches Resultat erhält man, wenn man die übliche Fokussiertbildhologramm-Belichtung
vornimmt und zusätzlich nur mit dem Objektbündel allein belichtet.
Ein solches Verfahren ist besonders nützlich für die Herstellung von Fokussiertbildhologramrnen; es kann
jedoch auch bei jedem anderen System Anwendung finden, wo in Photolack als amplitudenmoduliertes,
sinusförmiges Reliefmuster aufgezeichnete Information in eine impulsbreitenmodulierte Reliefstruktur mit im
wesentlichen zwei Höhenstufen umgewandek werden soll.
Das oben beschriebene Verfahren kann dazu verwendet werden, ein impulsbreitenmoduliertes Fokussiertbildhologramm
in einer Vielzahl von Substraten zu erzeugen. Da es oft schwierig ist, eine ausreichende
Haftung von Photolack auf einem Glassubstrat sicherzustellen, muß dieses oft zuerst mit einer dünner
Metallschicht, z. B. aus Chrom, überzogen werden bevor der Photolack aufgebracht wird. Das Glassubstral
·-. wird also mit einer dünnen Schicht aus Metall, z. B. einer 800 A dicken Chromschicht, überzogen; auf die
Metallschicht wird Photolack aufgetragen, dieser wird in der oben beschriebenen Weise belichtet und
entwickelt; dann werden die freigelegten Bereiche der
in Metallschicht unter Freilegung des Glassubstrats
weggeätzt, die freigelegten Bereiche des Glassubstrats unter Verwendung verdünnter Flußsäurc bis /u einer
optimalen Tiefe ausgeätzt und der verbliebene Rest des Photolacks und der Metallschicht schließlich entfernt, sn
ι ί daß man ein impulsbreitenmoduliertes Relief als
Phasenhologramm mit im wesentlichen zwei llöhenniveaus im Glassubstrat erhält.
Eine weitere Abwandlung des Grundvcrfahrcns
besteht darin, ein geeignetes Substrat mit einer dünnen
:n Schicht eines amorphen Materials, wie eines Metall
oxids, zu überziehen. Die Schichtdicke wird gleich der
optimalen Modulationstiefe für das endgültige Fokus siertbildhologramm gewähl*,, d.h. gewöhnlich etwa
5000 Ä. Die Schicht wird mit einem Photolack
_·"> überzogen, und der Photolack wird in der oben
beschriebenen Weise belichtet und entwickelt. Die dem Licht ausgesetzten Bereiche der dünnen Schicht werden
unter Verwendung eines Ätzmittels, das das Substrat nicht augreift, vollständig weggeätzt. Anschließend wird
in der verbliebene Photolack entfernt, und es verbleibt ein
in der dünnen Metallschicht aufgezeichnetes impulsbreitenmoduliertes Fckussiertbild-Pliasenhologramm mit
im wesentlichen zwei Höhenniveaus. Der Vorteil dieser Abwandlung des Verfahrens besteht darin, daß es nicht
i. mehr auf eine besonders genaue Steuerung des
Ätzvorganges ankommt, um die richtige Modulationstiefe zu erreichen, und daß man hinsichtlich der zu
ätzenden Materialien größere Freiheit hat.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von
■ι speziellen, jedoch nicht einschränkend auszulegenden
Beispielen näher erläutert.
Eine 5000 A dicke Schicht aus Chrom wurde auf ein 4-, sauberes Glassubstrat aufgedampft. Auf die Chromschicht
wurde ein 1 μηπ dicker Überzug aus Molybdän aufgebracht. Das mit Molybdän beschichtete Glassubstrat
wurde dann mit einer 5000 A ± 100 A dicken Schicht aus Photolack überzogen, wobei das Glassub-")0
strat 30 Sekunden mit einer Drehzahl von 3000 U/min gedreht wurde. Die Anordnung wurde dann eine Stunde
auf 75°C erhitzt. Der Photolack wurde nun unter Verwendung von Laserstrahlung mit einer Wellenlänge
von 4416 A holographisch belichtet. Die optimale Belichtung betrug etwa 0,1 Joule/cm2. Der Photolack
wurde dann entwickelt, indem er mehrere Minuten in mit Wasser im Verhältnis 1 :8 verdünnten Photolackentwickler
eingetaucht wurde. Die Entwicklung wurde mit einem Mikroskop unter rotem Licht überwacht
Nachdem die Linienbreite der freigelegten Substratbereiche in Flächengebieten, wo der Beugungswirkungsgrad
maximal sein sollte, gleich der Linienbreite der maskierten Substratbereiche geworden war, wurde die
Entwicklung unterbrochen, und die Platte wurde mit Wasser gespült und getrocknet Die Molybdänschicht
wurde etwa 15 Sekunden lang bis zur richtigen Tiefe etwa 5000 Ä, in einem Ätzmittel aus einer Mischung von
einem Volumenteil Salpetersäure, einem Volumenteil
Schwefelsäure und 5 Volumenteilen Wasser geätzt.
Schließlich wurde der Rest des Photolacks durch Waschen der Platte in Aceton entfernt. Die Platte war
nun fertig fiir die Verwendung als Mutterform zur Vervielfältigung des Hologramms in einem geeigneten
Material.
Auf eine saubere Glasplatte wurde eine 7000 Λ dicke porenfreie Schicht aus Chrom aufgedampft. Wie beim
Beispiel 1 wurde dann Photolack aufgetragen, erhitzt, belichtet und entwickelt. Die freigelegten Bereiche der
Chromschicht wurden unter Verwendung eines Chromätzmittels weggeätzt, das 200 ml Ferrichloridlösung
(42° Baum6) und 100 ml konzentrierte Salzsäure enthielt. Die Temperatur des Chromätzbades betrug
80°C. Das Glas wurde bis zu einer optimalen Tiefe von etwa 5000 A, geätzt, indem es etwa 1,5 Minuten in eine
4%ige wäßrige Flußsäurelösunx eingetaucht wurde. Nachdem das Glas bis zur optimalen Tiefe ausgeätzt
worden war, wurde der verbliebene Phototack mit Aceton entfernt. Die verbliebene Chromschicht wurde
unter Verwendung des oben beschriebenen Chromätzmittels entfernt Die Glasplatte wurde schließlich mit
> Wasser gewaschen und getrocknet Sie kann nun als Mutterform verwendet werden.
Auf eine Glasplatte wurde eine 5000 A dicke Schicht
in aus Eisenoxid niedergeschlagen. Wie beim Beispiel 1
wurde dann Photolack aufgebracht und entwickelt, so daß die Eisenoxidschicht teilweise freigelegt wurde. Die
Eisenoxidschicht wurde dann in einer Lösung von 775 cm3 konzentrierter Salzsäure, 223 cm3 Wasser und
π 166 g Ferrochlorid bis zum Glassubstrat durchgeätzt.
Nun wurde der Rest des Photolacks durch Abwaschen mit Aceton von der Eisenoxidschicht entfernt, und man
erhielt ein Impulsbreitenmoduliertes Relief mit zwei Höhenstufen, das die Aufzeichnung des Interferenzmu-
-'Ii stersim Eisenoxidsubstrat darstellt.
Hier/u 2 Bhitt Zcichiumizcn
Claims (2)
1. Verfahren zum Herstellen eines Reliefs von einem Hologramm in einem Substrat, wobei ein
Photolack auf einem Substrat mit einem Muster belichtet und ein amplitudenmoduliertes, latentes
Relief erzeugt wird, dadurch gekennzeichnet,
daß der belichtete Photolack (10) mit dem latenten Relief bis auf das Substrat (12) durchentwikkelt
wird, daß das Substrat (12) an den freigelegten Stellen fotogeätzt wird, und daß der restliche
Photolack (10) auf dem Substrat (12) mit einem Mittel entfernt wird, wodurch ein breitenmoduliertes
Relief erhalten wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Photoätzen bis zu einer optimalen
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/472,436 US3945825A (en) | 1974-05-22 | 1974-05-22 | Method for producing width-modulated surface relief patterns |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2522547A1 DE2522547A1 (de) | 1975-12-04 |
DE2522547B2 true DE2522547B2 (de) | 1980-01-17 |
Family
ID=23875502
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752522547 Withdrawn DE2522547A1 (de) | 1974-05-22 | 1975-05-21 | Verfahren zum herstellen eines oberflaechenreliefmusters |
Country Status (12)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3945825A (de) |
JP (1) | JPS556914B2 (de) |
AU (1) | AU496732B2 (de) |
BE (1) | BE829258A (de) |
CA (1) | CA1034411A (de) |
CH (1) | CH600383A5 (de) |
DE (1) | DE2522547A1 (de) |
FR (1) | FR2272405A1 (de) |
GB (1) | GB1508178A (de) |
IT (1) | IT1037346B (de) |
NL (1) | NL7505957A (de) |
SE (1) | SE7505783L (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3521891A1 (de) * | 1984-08-20 | 1986-02-20 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Halbleiterspeichereinrichtung und verfahren zur herstellung derselben |
DE4024748C1 (en) * | 1990-08-03 | 1992-03-12 | Carlo Dr. 8031 Eichenau De Schmelzer | Hologram die prodn. for interference pattern - by exposing holographic recording material to laser beam, developing enzyme treating forming plastic impression and electroplating |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1545048A (en) * | 1976-05-27 | 1979-05-02 | Rca Corp | Simplified diffractive colour filtering technique |
GB1537703A (en) * | 1976-01-27 | 1979-01-04 | Rca Corp | Fabrication of rectangular relief profiles in photoresist |
JPS5315152A (en) * | 1976-07-27 | 1978-02-10 | Canon Inc | Hologram |
US4372649A (en) * | 1978-05-22 | 1983-02-08 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Extended area diffractive subtractive color filters |
US4255514A (en) * | 1979-04-27 | 1981-03-10 | Rca Corporation | Method for fabricating a diffractive subtractive filter embossing master |
JPS6141079Y2 (de) * | 1979-06-15 | 1986-11-22 | ||
US4315665A (en) * | 1979-09-07 | 1982-02-16 | Eidetic Images, Inc. | Composite optical element having controllable light transmission and reflection characteristics |
US4514479A (en) * | 1980-07-01 | 1985-04-30 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Method of making near infrared polarizers |
US4440839A (en) * | 1981-03-18 | 1984-04-03 | United Technologies Corporation | Method of forming laser diffraction grating for beam sampling device |
DE3123162A1 (de) * | 1981-06-11 | 1983-01-05 | Viktor Voskanovič Afian | Fokussiereinrichtung der lichtstrahlung und verfahren zu deren herstellung |
JPS6025783B2 (ja) * | 1981-10-26 | 1985-06-20 | 株式会社リコー | 電子写真用転写紙 |
US4496425A (en) * | 1984-01-30 | 1985-01-29 | At&T Technologies, Inc. | Technique for determining the end point of an etching process |
FR2587504B1 (fr) * | 1985-09-19 | 1989-11-03 | Mutzel Francis | Montre-hologramme |
US4933205A (en) * | 1987-10-09 | 1990-06-12 | Duley Walter W | Laser etching of foam substrate |
US4769257A (en) * | 1987-10-09 | 1988-09-06 | Duley Walter W | Laser etching of foam substrate |
US4972061A (en) * | 1987-12-17 | 1990-11-20 | Duley Walter W | Laser surface treatment |
US4828356A (en) * | 1987-12-22 | 1989-05-09 | Hughes Aircraft Company | Method for fabrication of low efficiency diffraction gratings and product obtained thereby |
US5059499A (en) * | 1988-06-03 | 1991-10-22 | Michael Teitel | Master hologram and micropattern replication method |
US6709790B1 (en) * | 1992-08-26 | 2004-03-23 | Goodrich Corporation | Method and apparatus for generating periodic structures in substrates by synthetic wavelength holograph exposure |
DE10025694C2 (de) | 2000-05-24 | 2003-06-05 | Zeiss Carl | Verwendung eines Beugungsgitters |
US7190387B2 (en) | 2003-09-11 | 2007-03-13 | Bright View Technologies, Inc. | Systems for fabricating optical microstructures using a cylindrical platform and a rastered radiation beam |
US7867695B2 (en) * | 2003-09-11 | 2011-01-11 | Bright View Technologies Corporation | Methods for mastering microstructures through a substrate using negative photoresist |
US7192692B2 (en) * | 2003-09-11 | 2007-03-20 | Bright View Technologies, Inc. | Methods for fabricating microstructures by imaging a radiation sensitive layer sandwiched between outer layers |
CN111769370A (zh) * | 2019-04-02 | 2020-10-13 | 富泰华工业(深圳)有限公司 | 全息天线及其制作方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1080364A (en) * | 1963-03-28 | 1967-08-23 | Nat Res Dev | Preparation of diffraction gratings |
US3580657A (en) * | 1968-05-14 | 1971-05-25 | Xerox Corp | Blazed surface hologram |
US3623798A (en) * | 1970-01-21 | 1971-11-30 | Xerox Corp | Blazed hologram fabrication |
US3669673A (en) * | 1970-10-23 | 1972-06-13 | Rca Corp | Recording of a continuous tone focused image on a diffraction grating |
US3743507A (en) * | 1970-10-23 | 1973-07-03 | Rca Corp | Recording of a continuous tone focused image on a diffraction grating |
US3733258A (en) * | 1971-02-03 | 1973-05-15 | Rca Corp | Sputter-etching technique for recording holograms or other fine-detail relief patterns in hard durable materials |
-
1974
- 1974-05-22 US US05/472,436 patent/US3945825A/en not_active Expired - Lifetime
-
1975
- 1975-04-17 IT IT22461/75A patent/IT1037346B/it active
- 1975-04-22 CA CA225,137A patent/CA1034411A/en not_active Expired
- 1975-05-02 GB GB18554/75A patent/GB1508178A/en not_active Expired
- 1975-05-15 JP JP5848175A patent/JPS556914B2/ja not_active Expired
- 1975-05-16 AU AU81247/75A patent/AU496732B2/en not_active Expired
- 1975-05-20 BE BE156506A patent/BE829258A/xx unknown
- 1975-05-21 DE DE19752522547 patent/DE2522547A1/de not_active Withdrawn
- 1975-05-21 NL NL7505957A patent/NL7505957A/xx not_active Application Discontinuation
- 1975-05-21 SE SE7505783A patent/SE7505783L/xx unknown
- 1975-05-22 FR FR7515999A patent/FR2272405A1/fr not_active Withdrawn
- 1975-05-22 CH CH655575A patent/CH600383A5/xx not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3521891A1 (de) * | 1984-08-20 | 1986-02-20 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Halbleiterspeichereinrichtung und verfahren zur herstellung derselben |
DE4024748C1 (en) * | 1990-08-03 | 1992-03-12 | Carlo Dr. 8031 Eichenau De Schmelzer | Hologram die prodn. for interference pattern - by exposing holographic recording material to laser beam, developing enzyme treating forming plastic impression and electroplating |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS556914B2 (de) | 1980-02-20 |
CA1034411A (en) | 1978-07-11 |
FR2272405A1 (de) | 1975-12-19 |
AU8124775A (en) | 1976-11-18 |
BE829258A (fr) | 1975-09-15 |
JPS5116060A (de) | 1976-02-09 |
US3945825A (en) | 1976-03-23 |
AU496732B2 (en) | 1978-10-26 |
SE7505783L (sv) | 1975-11-24 |
NL7505957A (nl) | 1975-11-25 |
IT1037346B (it) | 1979-11-10 |
DE2522547A1 (de) | 1975-12-04 |
GB1508178A (en) | 1978-04-19 |
CH600383A5 (de) | 1978-06-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2522547B2 (de) | ||
DE2522549C3 (de) | Verfahren zum Übertragen eines in Photolack aufgezeichneten Halbton-Belichtungsmusters in ein Oberflächenreliefmuster einer Substratfläche | |
DE1924695A1 (de) | Holografisches Abbildungsverfahren | |
DE1621783A1 (de) | Verfahren zur Nachbildung,insbesondere eines Deformationsbildes | |
DE2522548C3 (de) | Verfahren zum Erzeugen eines Oberflächen-Reliefmusters | |
DE10308328A1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines belichteten Substrats | |
DE19830293A1 (de) | Stempel für optische Disks und Verfahren/Systeme zur Herstellung der Stempel | |
DE2431252A1 (de) | Verfahren zum herstellen einer matrize | |
DE2603888C3 (de) | ||
DE2715089A1 (de) | Verfahren zum herstellen einer mater zum praegen eines beugungsfilters | |
DE2401413A1 (de) | Matrize zum ausbilden eines geflechts | |
DE2701218B1 (de) | Verfahren zur Erzeugung eines Oberflächenreliefbildes und Bildträger | |
EP0886185A2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Prägezylinders | |
DE3333969C2 (de) | Verfahren zum Herstellen eines optische Daten aufweisenden Datenträgers | |
EP0002043B1 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Informationsträgers | |
DE2431311C3 (de) | Verfahren zur Strukturierung einer Photolackschicht | |
DE2721608A1 (de) | Verfahren zur herstellung einer nachbildungsmatrize | |
DE2132328C (de) | Oberflachen Rehefhologramm fur Reflexionsholografie mit einem hohem Wirkungsgrad bei der Rekonstruktion | |
DE1955018C3 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Mutterhologramms | |
DE4024748C1 (en) | Hologram die prodn. for interference pattern - by exposing holographic recording material to laser beam, developing enzyme treating forming plastic impression and electroplating | |
DE3200515A1 (de) | "herstellungsverfahren fuer hologramme" | |
DE2132328B1 (de) | Oberflaechen-reliefhologramm fuer reflexionsholografie mit einem hohem wirkungsgrad bei der rekonstruktion | |
DE226614C (de) | Verfahren zur herstellung von gekoernten oder sonst in einzelelemente zerlegten photographischen bildern | |
DE2531562C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Videofrequenzsignalaufzeichnungsplatten | |
DE2531562A1 (de) | Verfahren zur herstellung von videofrequenzsignalaufzeichnungsplatten |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8239 | Disposal/non-payment of the annual fee |