DE2460077C3 - Vorrichtung zum Prüfen von ebenen, stark reflektierenden Flächen - Google Patents
Vorrichtung zum Prüfen von ebenen, stark reflektierenden FlächenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen von ebenen, stark reflektierenden Flächen, insbesondere
blankem und spiegelbelegten Flachglas mit einer Lichtquelle, einer Optik zur Herstellung eines gebündelten
Lichtstrahles, einer Einrichtung zum Abtasten tier fläche mit einem fliegenden Lichtpunkt, einem Fotodetektor
für das reflektierte Licht und einer nachgeordneien Auswerteeinrichtung, bei der im Wege des
Lichtstrahles zwischen den Flächen und dem Fotodetektor eine das Licht streuende Scheibe angeordnet ist,
nach Patent 24 Il 407.
Dweh die Stammanmeldung wurde eine Vorrichtung
aufgezeigt, mit der es möglich ist, mehr oder weniger stark reflektierende Flächen auf ihre Oberflächenbeschaffenheit,
d. h. auf das Vorhandensein von Fehlern vollautomatisch zu prüfen.
Zu diesem Zweck wurde ein Lichtpunkt, der eine Grolle bis zu 2 mm Durchmesser aufwies und
vorzugsweise zwischen 0,2 und 0,5 mm Durchmesser besaß, von einem Laserstrahl erzeugt und mittels eines
Spiegelrades über die zu prüfende Fläche geführt. Um feinste Fehler zu erfassen, durfte dieser Lichtpunkt nur
geringste Abmessungen haben, um dadurch das Verhältnis von Fehlerfläche zu fehlerfreier Fläche
möglichst groll ausfallen zu lassen, d. h. starke Lichtschwankungen zu erreichen, die sich gut auswerten
lassen. Die dadurch mögliche Fcinstauswertung erfaßte auch haarfeine Punkte, ließ sich jedoch nicht dahingehend
vergröbern, dall diese haarfeinen Punkte nicht erfaßt werden sollten, hingegen haarfeine Kratzer usw.,
die in Längsrichtung des Materiales verlaufen und dadurch auffälliger sind — vom Abtastlichtfleck jedoch,
da diese Kratzer parallel zur Bahn laufen, nur minktweise erfaßt werden.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aulgabe zugrunde, sich im wesentlichen längs zur Bahnlaulrichliing
des Prüfgutes und damit im rechten Winkel zur Abiaslrichtung erstreckende Fehler feinster Art /.ti
erkennen, ohne dal! gleichzeitig Fehler, die zwar die gleiche Breite, jedoch nur Bruchteile der Länge der zu
ermittelnden Fehler aufweisen, bei der Ermittlung mit berücksichtigt werden.
Diese Aufgabe wird bei der eingangs angegebenen
ίο Vorrichtung dadurch gelöst, daß zwischen Lichtquelle
und umlaufendem Spiegelrad eine Zylinderlinse eingebaut ist, die den Fliegenden Lichtpunkt in MaschinenlauFrichtung
zu einem schmalen Lichtstrich längsverstreckt.
Durch die Verzerrung des Lichtpunktes zu einem Lichtstrich ergibt sich eine Vergrößerung der abtastenden
Lichtfläche und damit eine Vergröberung des Prüfergebnisses. Diese Vergröberung, die generell
erzielbar wäre durch Vergrößerung eines runden Lichtpunktes, ist aber durch die Längsverstreckung
nicht allgemein vergröbert, so daß ieinstc Fehler überhaupt nicht mehr gefunden werden, sondern
dahingehend justiert, daß sich parallel zum Lichtstrich erstreckende Fehler — auch wenn sie mehr oder
weniger von dieser parallelen Lage abweisen — voll erfallt werden, d. h. zu einer stärkeren Lichtschwankung
bzw. genauer ausgedrückt, Verdunkelung führen als ein Fehler, der praktisch nur als Punkt vorhanden ist. Durch
diese Vorrichtung ist es möglich, die feinen l.ängsstreifen, Striche und Riefen auf spiegelbelegtem Glas zu
ermitteln, ohne daß die dabei auch auftretenden feinen nadelstichartigen Punkte, die in den meisten Fällen die
Verwertung des Spiegels nicht beeinträchtigen, dazu führen, daß das Produkt verworfen wird.
Gemäß der Erfindung wird der Lichtstrich dadurch erzeugt, dall eine Zylinderlinse zwischen der Lichtquelle
für gebündeltes Licht und dem umlaufenden Spiegelrad angeordnet ist. Der Lichtstrahl, der üblicherweise ein
Laserstrahl ist, wird durch die Zylinderlinse sofort am Austritt in einer Richtung ausgeweitet, wobei je nach
gewünschter Lichtsirichlänge mit einer Zylinderlinse mehr oder weniger großer Brennweite gearbeitet wird.
Dabei ist kleine Brennweite gleichbedeutend mit langem Lichtstrich und lange Brennweite mit kurzem
Lichtstrich.
Der Lichtstrich weist bevorzugt eine Breite zwischen 0,1 und 1 mm auf, wobei seine Länge zwischen 1 und
100 mm beträgt. Die Wahl der Lichtstrichdimension ist dabei einmal davon abhängig, welches Medium als
solches geprüft wird, d. h. also, ob es sich beispielsweise um ein poliertes Blech handelt oder um ein belegtes
Flachglas oder ein glanzbeschichtetes Papier, zum anderen von der geforderten Oberflächengüte. So hat
sich beispielsweise beim Prüfen von Aluminiumfeinstblechen, die eine sehr hohe Reflexion aufweisen, als
besonders bevorzugter Bereich eine Lichtstrichabmessung von 1 χ 30 mm ergeben.
Um den Lichtstrich möglichst scharf abzubilden, wird gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung
vorgeschlagen, eine Lochblende einzusetzen. Durch den Einsatz der Lochblende ergibt sich der Lichtstrich als
scharfes Rechteck, das eine genaue Auswertung des Fehlers gestattet.
Claims (3)
1. Vorrichtung zum Prüfen von ebenen, stark
reflektierenden Flüchen, insbesondere von blankem und spiegelbelegtem Flachglas mit einer Lichtquelle
einer Optik zur Herstellung eines gebündelten Lichtstrahles, einer Einrichtung /um Abtasten der
Fläche mit einem fliegenden Lichtpunkt, einem Fotodetektor für this reflektierte Licht und eiiur
nachgeordneien Auswerteeinnchtung, bei tier im
Wege des Lichtstrahles zwischen den Flächen und dem Fotodetektor eine das Licht streuende Scheibe
ungeordnet ist nach Patent 24 11407, dadurch
gekennzeichnet, daß /wischen Lichtquelle
und umlaufendem Spiegelrad eine Zylinderlinse eingebaut ist, die den fliegenden Lichtpunkt in
Maschinenlaufrichiung /ti einem schmalen Lichtstrich
längsverstreckt.
2. Vorrichtung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß tier I.ich (st rieh eine Breite /wischen 0,1
und 1 mm aufweist und seine Lange 1 bis 100 mm beträgt.
3. Vorrichtung nach einem tier Ansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dall tier Zylinderlinse eine
Lochblende zugeordnet ist.
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742460077 DE2460077C3 (de) | 1974-12-19 | Vorrichtung zum Prüfen von ebenen, stark reflektierenden Flächen | |
FR7506910A FR2263509B1 (de) | 1974-03-09 | 1975-03-05 | |
SE7502440A SE7502440L (de) | 1974-03-09 | 1975-03-05 | |
CA221,612A CA1076679A (en) | 1974-03-09 | 1975-03-07 | Method and apparatus for testing a flat, reflecting surface for imperfections |
JP50028915A JPS50141390A (de) | 1974-03-09 | 1975-03-10 | |
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JP1985089036U JPS6117656U (ja) | 1974-03-09 | 1985-06-14 | 反射面を試験するための装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19742460077 DE2460077C3 (de) | 1974-12-19 | Vorrichtung zum Prüfen von ebenen, stark reflektierenden Flächen |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2460077A1 DE2460077A1 (de) | 1976-06-24 |
DE2460077B2 DE2460077B2 (de) | 1977-01-13 |
DE2460077C3 true DE2460077C3 (de) | 1977-09-01 |
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