DE2345848B2 - Elektromagnetischer Schichtdicken- - Google Patents
Elektromagnetischer Schichtdicken-Info
- Publication number
- DE2345848B2 DE2345848B2 DE2345848A DE2345848A DE2345848B2 DE 2345848 B2 DE2345848 B2 DE 2345848B2 DE 2345848 A DE2345848 A DE 2345848A DE 2345848 A DE2345848 A DE 2345848A DE 2345848 B2 DE2345848 B2 DE 2345848B2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- pole core
- layer thickness
- thickness meter
- measuring
- pole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
- G01B7/10—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
- G01B7/105—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
gnetisierung erfolgt durch Abgleich des Dauermagneten 7, indem dieser beispielsweise zunächst voll
magnetisiert und dann soweit geschwächt wird, bis der gewünschte Skalenverlauf erreicht ist. Das Magnetisieren
des Polkernes kann nach dem Zusammenbau der Meß-Sonde dadurch erfolgen, daß diese in ein starkes
axiales Magnetfeld gebracht wird; das Schwächen kann
mit einem axialen, einstellbaren magnetischen Wechselfeld von erst zunehmender, dann abnehmender Amplitude
erfolgen.
Die erfindungsgemäße Einstellung der Vormagnetisierung kann nach Fig.3 auch dadurch erfolgen, daß
der Abstand des Dauermagneten 8 vom Polkern 9 verändert wird, beispielsweise mit einer im "~ :häuse 10
der Meß-Sonde gelagerten Einstelischraube '. ·.
Nach der Erfindung kann die einetei^-re vormagnetisierung
auch durch das ma^netiscr... i-eld einer
elektrischen Stromspule 12 in F: r t erzeugt werden,
die auf des der Meßfläche 13 Lg-wandie Ende des
Polkernes 14 wirkt und aus ._<·■■ ctromquelle 15 über den
einstellbaren Widerstand 16 gespeist wird.
Bei einer anderen Ausführung der Erfindung nach Fig.5 werden zwei Kieß-Spulen 17 und 18 verwendet,
die auf beiden Seiten der Erregerspule 19 angeordnet und gegeneinander geschaltet sind, so daß ihre
Differenzspannung die Meß-Spannung ergibt Auch hier ■wird der Skalenverlauf durch Abgleich oder Magnetisierung
des Dauermagneten 20 beeinflußt oder durch Veränderung seines Abstandes zum Polkern 21.
Eine weitere erfindungsgemäße Anordnung der Stromspule zur Erzeugung einer einstellbaren Vormagnetisierung
zeigt F i g. 6.
Darin ist die Stromspule 22 konzentrisch um die
Erregerspule 23 und die Meß-Spulen 24 und 25 gelegt
Die erfindungsgemäße Beeinflussung des Skalenverlaufes eines elektromagnetischen Schichtdickenmessers
durch Vormagnetisierung seines Polkernes ist bedingt durch die Veränderung der magnetischen Permeabilität
des Polkernwerkstoffes. Diese Veränderung ist größer bei geringer Sättigungsmagnetisierung des Polkernwerkstoffes
als bei hoher Sättigungsmagnetisierung. Deshalb besteht erfindungsgemäß der Polkern aus
einem weichmagnetischen Werkstoff, dessen Sättigungsmagnetisierung
weniger als 1.4Tesla beträgt. Dabei ist es vorteilhaft daß seine Koerzitivfeidstarke
weniger als 3 A/cm, vorzugsweise weniger als 1 A/cm
beträgt um im Zusammenwirken mit der erfindungsgemäßen Vormagnetisierung einen stabilen Arbeitspunkt
des Schichtdickenmessers zu erhalten. Eine für den Polkern besonders geeignete Legierung besteht aus
Eisen mit 13 bis 18% Aluminium. Die Legierung aus
Eisen und 16% Aluminium weist beispielsweise eine eine Sättigungsmagnetisierung von 0.5 bis ! Tes... und
eine Koerzitivfeidstarke von weniger als I A/cm auf.
Erfindungsgemäß kann in dieser Legierung für den Polkern bis zu 8% Aluminium duref. iilizium ersetzt
Ϊ-Ϊ1Π-
Der Dauermagnet zur Erzeugung der Vormagnetisierung soll erfindungsgemäß eine hohe Koerzitivfeidstarke
von mehr als 400 A/cm, vorzugsweise von mehr als 1000 AAm besitzen. Er kann beispielsweise aus einer
Legierung von Eisen mit Aluminium, Nickel und Kobalt mit an sich bekannten Zusätzen bestehen, aus einem
Ferritwerkstoff nach Art des BaO - 6 Fe2Oj oder aus
einem Werkstoff nach Art des SmCo5. Zur Kompensation
des Einflusses der Temperatur auf die Anzeige der Schichtdicke wird der Dauermagnet mit einem temperaturabhängigen
magnetischen Nebenschluß versehen.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (17)
1. Elektromagnetischer Schichtdickenmesser mit einer einpoligen Meß-Sonde, deren weichmagnetischer
Pclkem durch ein magnetisches Wechselfeld erregt wird, dadurch gekennzeichnet, daß
der Polkern einstellbar vormagnetisiert ist.
2. Schschtdickeninesser nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Vormagnetisierung durch einen Dauermagneten erfolgt
3. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Einstellung der
Vormagnetisierung durch Abgleich des aufmagnetisierten Dauermagneten erfolgt
4. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vormagnetisierung durch
das einstellbare Feld einer Stromspule erfolgt
5. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß bei einer MeB-Sonde
mit stabförmigem Polkern auf dem der Meßfläche abgewandtci Ende des Polkernes ein Dauermagnet
angeordnet »t
6. Schichtdickenmesser nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet daß der Dauermagnet in Richtung
der Achse des Polkernes magnetisiert ist
7. Schichtdickenmesser nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet daß der Dauermagnet den Polkern
berührt
8. Schichtdickenmesser nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet daß der Dauermagnet in gegebenenfalls
einstellbarem Abstand vom Polkern angeordnet IiC
9. Schichtdickenmesser nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet daß tie Str« nspule auf dem der
Meßfläche abgewandter En "e des Polkernes angeordnet
ist
10. Schichtdickenmesser nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Stromspule konzentrisch
um die auf dem Polkern angeordneten Meßwicklungen angeordnet ist
11. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1 bis 10,
dadurch gekennzeichnet daß der Polkern aus einem weichmagnetischen Werkstoff besieht dessen Sättigungsmagnetisierung
weniger als 1,4 Tesla beträgt
12. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1 bis II,
dadurch gekennzeichnet, daß der Werkstoff des Polkernes ei : Koerzitivfeldstärke von weniger als
3 A/cm, vorzugsweise von weniger als 1 A/cm aufweist
13. Schichtdickenmesser nach Anspruch 1 bis 12,
dadurch gekennzeichnet, daß der Polkern aus einer Legierung von Eisen mit 13 bis 18% Aluminium
besteht
14. Schichtdickenmesser nach Anspruch 13. dadurch
gekennzeichnet, daß die Legierung des Polkernes aus Eisen und ca. 16% Aluminium besteht
und eine Sättigungsmagnetisierung von 0,5 bis 1 Tesla sowie eine Koerzitivfeldstärke von weniger
als I A/cm aufweist.
15. Schichtdickenmesser nach Anspruch 13 und 14,
dadurch gekennzeichnet, daß bis zu 8% Aluminium durch Silizium ersetzt ist.
16. Schichtdickenmesser nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Dauermagnet eine
Koerzitivfeldstärke von mehr als 400 A/cm, vorzugsweise von mehr als 1000 A/cm besitzt.
17. Schichtdickenmesser nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Dauermagnet mit
Die Erfindung betrifft elektromagnetische Schichtciikfcenmesser
mit einpoliger Meß-Sonde, deren weichmagnetischer Polkern durch ein magnetisches Wechselfeld
ίο erregt wird.
Diese bekannten Schichtdickenmesser besitzen einen weichmagnetischen, stabförmigen Polkern, dessen eines
Ende abgerundet ist und den Meß-Pol bildet Auf dem Stab ist eine Erreger.-pule angebracht, die von einem
is elektrischen Wechselstrom durchflossen wird, so daß
ein magnetisches Wechselfeld entsteht Zwischen der Erregerspule und dem Meß-Pol oder zu beiden Seiten
der Erregerspule sind Meß-Spulen angebracht in denen είπε elektrische Spannung induziert wird. Diese wird
durch Annäherung des Meß-Poles an eine magnetisch oder elektrisch leitende Fläche verändert indem bei
magnetisch leitender Fläche der magnetische Fluß durch den Meß-Pol infolge des magnetischen Leitwertes
der Unterlage vergrößert, bei elektrisch leitender Fläche der magnetische Fluß durch den Meß-Pol infolge
der in der Unterlage entstehenden Wirbelströme verringert wird. Bei Verwendung von zwei Meß-Spulen
sind diese im allgeme:nen einander entgegengeschaltet,
so daß die Differenz der in ihnen induzierten Spannung
in zur Messung benutzt wird. Diese in der oder den
Meß-Spulen induzierte elektrische Spannung ist ein Maß für die Annäherung an die magnetisch oder
elektrisch leitende Unterlage und damit für die Dicke einer auf dieser befindlichen Schicht wenn der Meß-Pol
diese berührt
Ein Nachteil dieser bekannten Schichtdickenmesser ist daß die Empfindlichkeit der Anzeige bei kleinen
Schichtdicken sehr groß und bei großen Schichtdicken nur sehr klein ist Der Verlauf der Empfindüchkeitskurve
in Abhängigkeit von der Schichtdicke ist durch a in F i g. 1 dargestellt
Die Erfindung vermeidet diesen Nachteil der bekannten Schichtdickenmesser dadurch, daß der
Polkern einstellbar vormagnetisiert ist Durch die
45- Vormagnetisierung des Polkernes ergibt sich ein
Verlauf der Empfindlichkeit in Abhängigkeit von der Schichtdicke, der durch die Kurve b in F i g. 1 dargestellt
ist. Die Meßempfindlichkeit wird bei kleinen Schichtdikken geringer, bei großen Schichtdicken größer als ohne
Vormagnetisierung des Polkernes. Durch die erfindungsgemäße Einstellbarkeit der Vormagnetisierung
kann der Verlauf der Empfindlichkeitskurve beeinflußt werden, so daß ein gewünschter Skalenveriauf erreicht
wird oder die Empfindlichkeit an eine vorgegebene Skala angepaßt werden kann. Damit wird die Verwendung
gedruckter Skalen ermöglicht.
Ein Ausführungsbeispiel aer Erfindung ist in Fig. 2
dargestellt. Auf einem stabförmigen Polkern I befinden sich eine Erregerspule 2 und eine Meß-Spule 3. Der
bo Polkern ist an einem Ende zjm Meßpol 4 abgerundet.
Dieser berührt die zu messende Schicht 5, die auf der Unterlage 6 aufgetragen ist Die erfindungsgemäße
Vormagnetisierung des Polkernes wird durch den auf seinem der Meßfläche abgewendeten Ende angeordneten
Dauermagneten 7 erzeugt, der in Richtung N-Sder
Achse d«s Polkernes magnetisiert ist. Er kann den
Polkern 1 berühren oder mit einem Luftspalt zum Polkern angeordnet sein. Die Einstellung der Vornna-
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2345848A DE2345848C3 (de) | 1973-09-12 | 1973-09-12 | Elektromagnetischer Schichtdickenmesser |
GB5001173A GB1410301A (en) | 1973-09-12 | 1973-10-26 | Electro-magnetic thickness gauge |
FR7342796A FR2243414B1 (de) | 1973-09-12 | 1973-11-30 | |
JP48137608A JPS5057260A (de) | 1973-09-12 | 1973-12-06 | |
US501354A US3922599A (en) | 1973-09-12 | 1974-08-28 | A.C. electromagnetic thickness gauge utilizing premagnetization of the gauge core to render sensitivity independent of thickness |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2345848A DE2345848C3 (de) | 1973-09-12 | 1973-09-12 | Elektromagnetischer Schichtdickenmesser |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2345848A1 DE2345848A1 (de) | 1975-03-20 |
DE2345848B2 true DE2345848B2 (de) | 1980-02-21 |
DE2345848C3 DE2345848C3 (de) | 1986-06-19 |
Family
ID=5892278
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2345848A Expired DE2345848C3 (de) | 1973-09-12 | 1973-09-12 | Elektromagnetischer Schichtdickenmesser |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3922599A (de) |
JP (1) | JPS5057260A (de) |
DE (1) | DE2345848C3 (de) |
FR (1) | FR2243414B1 (de) |
GB (1) | GB1410301A (de) |
Families Citing this family (31)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU947631A1 (ru) * | 1978-04-04 | 1982-07-30 | Отдел Физики Неразрушающего Контроля Ан Бсср | Толщиномер |
HU184050B (en) * | 1979-11-29 | 1984-06-28 | Gyoergy Balogh | Method for detecting and checking the decreasing of activity and watchfulness level of driver on vehicles on non-limited way having independent source of power as well as safety device for vehicles of non-limited way |
US4567436A (en) * | 1982-01-21 | 1986-01-28 | Linda Koch | Magnetic thickness gauge with adjustable probe |
US4553095A (en) * | 1982-06-10 | 1985-11-12 | Westinghouse Electric Corp. | Eddy current thickness gauge with constant magnetic bias |
JPS5928601A (ja) * | 1982-08-10 | 1984-02-15 | Amada Co Ltd | 磁性体板の検出方法および装置 |
DE3236224C2 (de) * | 1982-09-30 | 1985-03-28 | Werner Turck Gmbh & Co Kg, 5884 Halver | Induktiver Annäherungsschalter |
US4661774A (en) * | 1983-12-12 | 1987-04-28 | Harris Graphics Corporation | Method and apparatus for monitoring film thickness between rotatable rolls |
US4767987A (en) * | 1983-12-12 | 1988-08-30 | Harris Graphics Corporation | Method and apparatus for monitoring film thicknesses by sensing magnetic interaction between members movable to a film thickness distance |
DE3408554C2 (de) * | 1984-03-08 | 1994-02-17 | Helmut Fischer Gmbh & Co | Vorrichtung zum Messen des Eindringverhaltens eines Prüfkörpers in einen zerstörungsfrei zu prüfenden Stoff |
JPS6138503A (ja) * | 1984-07-31 | 1986-02-24 | Ketsuto Kagaku Kenkyusho:Kk | 膜厚計 |
JPS62298701A (ja) * | 1986-06-18 | 1987-12-25 | Ngk Insulators Ltd | 非金属材料成形体の寸法測定法 |
US4804912A (en) * | 1987-05-14 | 1989-02-14 | Kamyr Ab | Apparatus for electromagnetically measuring the distance between two opposing grinding surfaces |
DK0444226T3 (da) * | 1990-02-28 | 1994-05-16 | Schenck Ag Carl | fremgangsmåde og apparat til justering af en forskydningsmålekæde efter hvirvelstrømsmålefremgangs- måden |
DE4119903C5 (de) * | 1991-06-17 | 2005-06-30 | Immobiliengesellschaft Helmut Fischer Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Messung dünner Schichten |
FR2678061A1 (fr) * | 1991-06-25 | 1992-12-24 | Fischer Gmbh Co Inst Elektro | Procede et dispositif pour la mesure de couches minces. |
US5343146A (en) * | 1992-10-05 | 1994-08-30 | De Felsko Corporation | Combination coating thickness gauge using a magnetic flux density sensor and an eddy current search coil |
WO1996036887A1 (de) * | 1995-05-19 | 1996-11-21 | International Business Machines Corporation | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der magnetischen kenngrössen dünner magnetischer schichten |
GB9520515D0 (en) * | 1995-10-05 | 1995-12-13 | Elcometer Instr Ltd | A thickness coating measuring instrument |
FR2743148B1 (fr) * | 1995-12-29 | 1998-02-27 | Framatome Sa | Dispositif et procede de controle de tubes par courants de foucault |
DE19820546C1 (de) * | 1998-05-08 | 1999-11-04 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Eliminierung von Meßfehlern bei der Bestimmung einer Dicke einer Schicht aus elektrisch leitendem Material |
KR100381095B1 (ko) * | 1998-10-10 | 2003-07-16 | 주식회사 포스코 | 자기 유도방식에 의한 아연도금량 두께 측정방법 |
GB0016591D0 (en) * | 2000-07-06 | 2000-08-23 | Elcometer Instr Ltd | Dual mode coating thickness measuring instrument |
US6593737B2 (en) * | 2000-08-24 | 2003-07-15 | Shell Oil Company | Method for measuring the wall thickness of an electrically conductive object |
US6975108B2 (en) * | 2003-11-13 | 2005-12-13 | Yuli Bilik | Methods and devices for eddy current PCB inspection |
NL1027373C2 (nl) * | 2004-10-29 | 2006-05-03 | Sonimex B V | Werkwijze en inrichting voor het niet-destructief onderzoeken van een voorwerp. |
US7403001B1 (en) * | 2005-03-29 | 2008-07-22 | Lam Research Corporation | Methods and apparatus for measuring morphology of a conductive film on a substrate |
US9194687B1 (en) * | 2010-02-04 | 2015-11-24 | Textron Innovations Inc. | System and method for measuring non-conductive coating thickness using eddy currents |
US9091664B2 (en) * | 2012-06-07 | 2015-07-28 | Thomas Krause | Pulsed eddy current sensor for precision measurement at-large lift-offs on metallic surfaces |
FR3009076B1 (fr) * | 2013-07-26 | 2017-03-31 | Michelin & Cie | Systeme de mesure de l'epaisseur d'une couche de gomme d'un pneumatique |
CN106940168A (zh) * | 2017-05-08 | 2017-07-11 | 成都锦江电子系统工程有限公司 | 一种电磁波吸收涂层厚度无损测厚仪探头及测厚方法 |
DE102018211025A1 (de) * | 2017-12-20 | 2019-06-27 | Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik | Elektronisches Gerät mit induktivem Sensor |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2221516A (en) * | 1937-04-01 | 1940-11-12 | Gen Electric | Continuous thickness gauge |
DE1303674C2 (de) * | 1965-07-19 | 1973-04-12 | Nix H | Magnetischer schichtdickenmesser |
GB1097179A (en) * | 1965-07-21 | 1967-12-29 | Teledictor Ltd | Apparatus for measuring the thickness of sheets of ferromagnetic materials |
DE1623263A1 (de) * | 1967-09-06 | 1970-12-23 | Nix Hans | Magnetischer Dickenmesser fuer Teile aus ferromagnetischen Werkstoffen |
DE2063805A1 (de) * | 1970-12-24 | 1972-07-06 | Brockhaus S | Anordnung zur induktiven Messung insbesondere der Dicke oder des Querschnittes von Blechen aus ferromagnetischen Werkstoffen |
DE2107076C3 (de) * | 1971-02-15 | 1975-01-30 | Elektro-Physik Hans Nix & Dr.-Ing. E. Steingroever Kg, 5000 Koeln | Magnetischer Schicht-Dickenmesser |
-
1973
- 1973-09-12 DE DE2345848A patent/DE2345848C3/de not_active Expired
- 1973-10-26 GB GB5001173A patent/GB1410301A/en not_active Expired
- 1973-11-30 FR FR7342796A patent/FR2243414B1/fr not_active Expired
- 1973-12-06 JP JP48137608A patent/JPS5057260A/ja active Pending
-
1974
- 1974-08-28 US US501354A patent/US3922599A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2345848A1 (de) | 1975-03-20 |
US3922599A (en) | 1975-11-25 |
FR2243414A1 (de) | 1975-04-04 |
GB1410301A (en) | 1975-10-15 |
FR2243414B1 (de) | 1980-10-03 |
DE2345848C3 (de) | 1986-06-19 |
JPS5057260A (de) | 1975-05-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2345848B2 (de) | Elektromagnetischer Schichtdicken- | |
DE3031997C2 (de) | Anordnung zur berührungslosen Messung statischer und dynamischer Drehmomente | |
DE3855048T2 (de) | Digitaler kompass und magnetometer, mit frequenzdifferenz | |
DE2107076C3 (de) | Magnetischer Schicht-Dickenmesser | |
DE3019808C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Messen des Spaltes zwischen zwei einander gegenüberstehenden Oberflächen | |
DE2410047A1 (de) | Elektromagnetischer schichtdickenmesser mit umschaltbarer mess-frequenz | |
DE3305888A1 (de) | Geraet mit sonde fuer die messung von magnetischen potentialen | |
DE102015122812B4 (de) | Verfahren zur Aufmagnetisierung eines eingebauten Werkstücks aus hartmagnetischem Material und Aufmagnetisieranordnung | |
DE2749681A1 (de) | Magnetische moment - messpule | |
DE4021358A1 (de) | Verfahren und einrichtung zum messen eines elektrischen stromes | |
DE730973C (de) | Einrichtung zur Dickenmessung nicht- oder schwachmagnetischer Schichten auf magnetisch leitfaehigen Unterlagen mit Hilfe von wechselstromerregten Magneten mit Mehrschenkel-Polen | |
DE4210689C2 (de) | Meßsonde zur Schichtdickenmessung | |
DE4325767A1 (de) | Schichtdickenmeßvorrichtung | |
DE3417893A1 (de) | Anordnung zum beruehrungslosen nachweis bzw. zur beruehrungslosen messung mechanischer spannungszustaende von maschinenteilen | |
DE950390C (de) | Verfahren und Einrichtungen zur Bestimmung der magnetischen Eigenschaften von magnetischem Material | |
DE102015119519B4 (de) | Magnetisch-induktives Durchflussmessgerät zur Messung der Durchflussgeschwindigkeit oder des Volumendurchflusses von Medien in einer Rohrleitung | |
EP2430418B1 (de) | Messverfahren für sensorik | |
DE700048C (de) | Einrichtung zum Messen magnetischer Groessen, insbesondere der Koerzitivkraft | |
DE871185C (de) | Geraet zum Messen von Magnetisierungskurven | |
DE303621C (de) | ||
DE2558897A1 (de) | Verfahren zum kalibrieren von schichtdickenmessgeraeten | |
DE2328690C3 (de) | Potential-Polspule zur Messung von magnetischen Werkstoffen | |
DE1046344B (de) | Magnetischer Dickenmesser und Verfahren zu seiner Verwendung | |
DE19543362C2 (de) | Kombinierte Meßsonde zur Schichtdickenmessung | |
DE883623C (de) | Magnetstahlpruefer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OD | Request for examination | ||
8227 | New person/name/address of the applicant |
Free format text: ELEKTRO-PHYSIK HANS NIX & DR.-ING. E. STEINGROEVER GMBH & CO KG, 5000 KOELN, DE |
|
8281 | Inventor (new situation) |
Free format text: STEINGROEVER, ERICH, DR.-ING., 5300 BONN, DE NIX, HANS, 5000 KOELN, DE |
|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |