DE2336593A1 - Magnetfeldfuehler-halbleitervorrichtung - Google Patents

Magnetfeldfuehler-halbleitervorrichtung

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DE2336593A1
DE2336593A1 DE19732336593 DE2336593A DE2336593A1 DE 2336593 A1 DE2336593 A1 DE 2336593A1 DE 19732336593 DE19732336593 DE 19732336593 DE 2336593 A DE2336593 A DE 2336593A DE 2336593 A1 DE2336593 A1 DE 2336593A1
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DE
Germany
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electron
electrodes
magnetic field
semiconductor device
electrons
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Pending
Application number
DE19732336593
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English (en)
Inventor
Jun Michael James Callahan
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Texas Instruments Inc
Original Assignee
Texas Instruments Inc
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof  ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/82Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by variation of the magnetic field applied to the device

Description

  • Magnetfeldfühle r-Halble it ervo rr i chtung Die Erfindung bezieht sich auf einen hochempfindlichen Magnetfeldfühlertransistor für integrierte Schaltungen und insbesondere auf eine sehr empfindliche Nagnetfeldfühler-Halbleitervorrichtung, bei der der Fühler auf einem kleinen integrierten Schaltungsplättchen zusammen mit den übrigen Teilen der Elektronik angebracht werden kann.
  • In der Technik ist das Problem, schwache Magnetfelder mit einem kompakten Fühler festzustellen, bekannt. Zur Lösung dieses Problems sind viele Versuche unternommen worden, bei denen ein Magnetfeldfühler mit einer zusätzlichen externen Elektronik zum Verstärken, Feststellen und Weiterverarbeiten des Signals verwendet wurde. Für diese Funktion sind bisher auch andere Arten yon Fühlern verwendet worden, wie Hall-Nagnetwiderstandsfühler oder für Magnetfelder empfindliche Dioden. Diese anderen Arten von Fühlern sind im allgemeinen nicht besonders empfindlich für vorhandene schwache Magnetfelder.
  • Nach der Erfindung sind auf einer kleinen integrierten Schaltung ein hochempfindlicher Magnetfeldfühler und die zugehörige Elektronik angebracht, so daß sich eine kleinere, wirtschaftlicheze und zuverlässigere Anordnung ergibt. Nach der Erfindung wird ein lateraler Transistor geschaffen, der in der bevorzugten Ausführung ein PNP-Transistor ist, doch kann natUrlich auch ein Transistor mit dem äquivalenten NPN-Aufbau verwendet werden. Der laterale Transistor enthält eine durch eine Basiszone von zwei Kollektorzonen getrennte Emitterzone, wobei der Transistor so ausgeführt ist, daß die von der Emitterzone zu Jeder der Kollektorzonen fliessenden Normalströme gleich groß sind. Die Ebene das Transistors ist vorzugsweise senkrecht zur Richtung des Magnetfeldes angebracht, so daß Jeder MagnetlZuR in dem Feld eine maximale Stromablenkung von einer der Kollektorzonen ziranderen bewirkt. Der zu den Kollektorzonen fliessende Strom wird gemessen, und die Abweichung dieses Stroms zwischen den Kollektorzonen gibt die Größe und die Richtung des Magnetfeldes an.
  • In einer zweiten Ausführungsform der Erfindung sind mehrere Emitterzonen und in entsprechender Weise mehrere Kollektorzonenpaare in einer vorbestimmten geometrischen Anordnung vorgesehen, wobei die einzelnen Kollektorzonen Jedes Paars miteinander verbunden sind. Diese Ausführungsform ergibt eine noch größere Empfindlichkeit für ein Magnetfeld, Mit Hilfe der Erfindung soll ein an eine integrierte Schaltung angepaßter Magnetfeldfühlertransistor geschaffen werden. Der mit Hilfe der Erfindung zu schaffende Magnetfeldfühlertransistor fUr integrierte Schaltungen soll eine hohe Empfindlichkeit aufweisen.Ferner soll er als Teil einer vollständigen integriertenEbhaltung hergestellt werden können. Er soll auch kleiner, wirtschaftlicher und zuverlässiger sein als es bisher bei bekannten Anordnungen dieser Art der Fall war. Der mit Hilfe der Erfindung zu schaffende #agnetfeldfühlertransistor soll bei einer ausgezeichneten Anpassung der thermischen und elektrischen Eigenschaften mit integrierten Schaltungen vollkommen kompatibel sein.
  • Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt. Darin zeigen: Fig. 1 ein Schaltbild eines PNP-Magnetfeldfühlertransistors nach der Erfindung, Fig.2 ein Schaltbild des Transistors von Fig.1 mit Strom lastwiderständen zum Bestimmen einer Spannungsdifferenz, Fig.3 ein Diagramm einer bevorzugten Ausführungsform eines Magnetfeldfithlertransistars nach der Erfindung mit vier Emitterzonen und acht Kollektorzonen, Fig.4 ein Diagramm eines als Feldeffekttransistor ausge# führten Magnetfeldfühlertransistors nach der Erfindung, Fig.5 ein Schaltbild der A#fUhrungsform von Fig.4 mit hinzugefügten Lastwiderständen und Fig.G ein Diagramm, das die Verwendung eines MOS-Feldeffekttransistors zur Bildung eines Magnetfeldfühler transistors nach der Erfindung zeigt.
  • In Fig.1 ist ein lateraler PNP-Transistor mit einer vollkommen eingebetteten Schicht mit mehreren Kollektoren 1 und 3, einem Emitter 5 und einer Basis -7 dargestellt.
  • Die vollkommen eingebettete Schicht 9 liegt zwischen einer N-leitenden epitaxialen Schicht 11 und einem P-leitenden Substrat 13. Ein isolierender Bereich aus P-leitendem Material 15 umgibt die N-leitende Schicht 11, und sie erstreckt sich zur P-leitenden Schicht 13. Der Transistor ist so ausgelegt,daß die vom Emitter 5 zu Jedem der Kollektoren 1 und 3 fliessenden Ströme unter normalen Umständen gleich sind. Der Transistor wird dann so angebracht, daß ein ihn durchdringendes Magnetfeld senkrecht zur Oberfläche 17 des Transistors und damit senkrecht zum Stromweg vom Emitter zu den Kollektoren verläuft. Es ist zu erkennen, daß die Magnetfelder dadurch festgestellt werden, daß ein Teil des Stroms von einem der Kollektoren zum anderen Kollektor umgelenkt wird, so daß seine Ungleichheit der von den zwei Kollektoren empfangenen Ströme entsteht. Diese Ungleichheit kann durch verschiedene Anordnungen beobachtet werden, von denenieine in der Schaltung von Fig.2 angegeben ist. Aus Fig.2 ist zu erkennen, daß der Strom in Jedem der Kollektoren 1 und 3 einen Lastwiderstand 19 bzw. 21 durchläuft, so daß an diesen Widerständen eine Spannung abfällt. Diese Spannung kann dann bei Vdiff in einem Differenzverstärker oder dergleichen so festgestellt werden, daß nicht nur die Richtung der Ungleichheit, sondern auch ihre Größe festgestellt werden kann.
  • Diesem Vorgang liegt folgende Theorie zugrunde: Wenn auf das Bauelement ein Magnetfeld in einer zu ihm senkrechten Richtung zur Erzielung einer maximalen Wirkung einwirkt, wobei zu bemerken ist, daß auohdie das Halbleiterplättchen durchdringenden Komponenten des Magnetfeldes eine in einem geringeren Ausmaß auftretende Wirkung haben, werden die Mjnoritätsträger.(Löcher) infolge der Lorentzkraft abgelenkt. Dies führt zu einer feststellbaren Spannung differenz infolge der Ungleichheit der Kollektorströme.
  • Die Lorentzkraft kann durch die bekannte Gleichung F=q(vwB) angegeben werden, in der v die Trägergeschwindigkeit ist, während B der Magnetfluß ist. Die Geschwindigkeit der Träger kann aus der Gleichung va P k µEK berechnet werden, in der# P die Minoritätsträgerbeweglichkeit im Halbleiterkörper,2 die elektrische Feldstärke und K eine von Null abweichende Konstante in der Größenordnung von 1 ist.
  • Diese Konstante wird zur Berücksichtigung von zwei Effekten verwendet nämlich daß die Beweglichkeit an der Oberfläche nicht gleich der Beweglichkeit im Halbleiterkörper ist und daß die Hall-Beweglichkeit nicht gleich der Leitfähigkeitsbeweglichkeit ist. Diese Oberflächenbeweglichkeit ist wichtig, da die wirksamste Sammlung in der Nähe der Oberfläche stattfinden soll ; bei der die Emitter-Kollektor-Abstände kleiner sind.
  • Die Lorentzkraft kann die Ladungsträger abhängig vom Ladungsträgertyp und von der Polarität des Magnetfeldes von einem Kollektor zum anderen ablenken . Diese Ungleichheit der Kollektorströme kann leicht in der oben angegebenen Weise als Kollektorspannungsdifferenz festgestellt werden.
  • Verschiedene wichtige Faktoren vergrößern die magnetische Empfindlichkeit des Transistors.Böispielsweise soll die Basiszone schwach dotiert sein, damit eine lange Lebensdauer der Minoritätsträger und somit lange Diffusionslängen erzielt werden. Diese Bedingung wird mit einer epitaxialen Schicht mit einem spezifischen Widerstand von 4 bis 7 Ohm.cm erfüllt. Eine zweite Bedingung besteht darin, den größtmöglichen Anteil des Kollektorstroms für das Magnetfeld empfindlich zu machen,Dies kann auf Kosten der Strom-Verstärkung erreicht werden, doch ergibt sich eine Erhöhung der magnetischen SmpSindlichkeit. Ferner ist es erwünscht, daß. das Magnetfeld senkrecht zu der(nicht dargestellten) Grenzfläche zwischen Silizium und Siiiziumdioxid verläuft.Außerdem sind mehrere Emitter mit Jeweils zwei Kollektoren für Jeden Emitter ~erwünscht. Die Kollektoren entsprechender Stellen sind miteinander verbunden, wie im Zusammenhang mit Fig.3 erläutert wird, Fig.3 ist ein Magnetfühlertransistor mit vier Emittern E und mit zwei , Jedem des Emitter zugeordneten Kollektoren cl und C2 dargestellt. Die: Emitter sind jeweils um 900 voneinander entfernt angebracht, und die Jedem Emitter zugeordneten Kollektoren sind Jeweils mit gleich bezeichneten, den anderen Emittern zugeordneten Kollektoren verbunden. Die Basiszonen B und die Kollektorzonen sind so geformt, daß Strom von einem Emitter zu seinen zugeordneten Kollektoren direkt gelenkt wir#d un#d daß ein Abfließen von einem Emitter zu anderen Kollektorpaaren verhindert wird.
  • Ein Vorteil des beschriebenen Magnetfeldfühlers ist seine hohe Empfindlichkeit. Ferner ist er mit der Technologie der bipolaren' integrierten Schaltungen ohne Abänderung des erforderlichen Verfahrens kompatibel. Außerdem kann das Magnetfeld senkrecht zur Diffusionsebene des Bauelements ausgerichtet werden, so daß ein schmalerer Luftspalt mit dem Magnet ermöglicht wird. Auch besteht die Möglichkeit, zugehörige Verstärker und Steuerschaltungen auf dem gleichen Halbleiterplättchen mit gleichzeitig stattfindenden Herstellungsschritten zu integrieren, so daß eine gegenseitige Abstimmung der Parameter, Temperaturstabilität und die Ausführung mehrerer elektrischer Funktionen ohne zusätzliche Verarbeitungsschritte ermöglicht werden. Schließlich können der geometrische Aufbau der Anordnungen und ihre Empfindlichkeiten flexibel gestaltet werden, ohne daß die Diffusions- oder Herstellungsabläufe beeinflußt werden.
  • Fig.4 zeigt eine MOS-Feldeffekttra-nsistorausSUhrung der Anordnung von Fig.1 .IEr Strom fließt in diesem Fall von der Source-Rektrode 31 zu zwei Drain-Elektroden 33 und 35; der Transistor enthält auch eine Gate-Elektrode 37. Der Strom fließt normalerweise in gleichen Größen von der Source-Elektrode 31 zu Jeder der Drain-Elektroden 33 und 35.
  • Wenn ein Magnetfeld senkrecht zur Oberfläche 39 des Transistors vorhanden ist, dann wird der Strom von einer der Drain-Elektroden zur anderen abgelenkt, und diese Stromänderung kann in der gleichen Weise festgestellt werden, wie oben in Zusammenhang mit den Ausführungen von Fig.1 und 2 beschrieben worden ist. Nach Fig.5, wo das Schaltbild des Transistors von Fig.4 mit Lastwiderständen 41 und 43 dargestellt ist, wird die Spannung an den Widerständen 41 und 43 gemessen und die Differenz wird mit Hilfe eines Differenzverstärkers oder dergleichen bestimmt, wie oben bereits erläutert wurde. Eine größere Empfindlichkeit kann dadurch erzielt werden, daß mehrere Drain-Elektrodenpaare parallel schaltet werden, wie im Zusammenhang mit Fig.3 oben beschrieben worden ist.
  • Eine solche Anordnung ist in Fig.6 dargestellt.
  • Fig.6 zeigt einen Transistor mit einer einzigen Source-Elektrode s in der Mitte und mit mehreren Paaren von Drain-Elektroden d1 und d2. Es ist zu erkennen, daß eine Drain-Elektrode jedes Paares mit den entsprechenden anderen Drain-Blektroden verbunden ist, damit eine einzige Ausgangs-Drain-#lektrode D1 und D2 entsteht.
  • Es ist zu erkennen, daß mehrere Ausführungsformen von Magnetfeldfühlertransistoren fUr integrierte Schaltungen beschrieben worden sind, die eine hohe Magnetempfindlichkeit aufweisen und doch in integrierten Schaltungen verwendet werden können, ohne daß die Herstdlungsschritte oder Herstellungsverfahren wesentlich verändert werden müssen. Der hier beschriebene Magnetfeldfühlertransistor ist daher zuverlässiger als bisher bekannte Fühler, und er ist auch billiger herzustellen.
  • patentansprüche

Claims (8)

  1. Patent an s# rüche Magnetfel#fühler-Halbleitervorrichtung, gekennzeichnet durch eine Steuerelektrode, eine Elektronenabgabeelektrode und zwei Elektronenwammelelektroden, wobei die zwei Elektronensammelelektroden gleiche Anteile der von der Elektronenabgabeelektrode abgegebenen Elektronen empfangen, so daß sich eine Empfindlichkeit für ein Magnetfeld mit einer zur Bewegungsbahn der Elektronen von der Elektronenabgabeelektrode zu den Elektronensammelelektroden senkrechten Komponente dadurch ergibt, daß einige der Elektronen von einer der Elektronensammelelektroden zur anderen abgelenkt werden.
  2. 2. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1, gekennlichnet durch eine Anordnung, die zur Anzeige der Magnetfeldintensität auf die Differenz der in den zwei Elektronensammelelektroden fliessenden Ströme anspricht.
  3. 3. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß sie als bipolares Bauelement ausgeführt ist.
  4. 4. Halbleitervorrichtung nach Anspruch loder 2, dadurch gekennzeichnet, daß sie als MOS-Bauelement ausgeführt ist.
  5. 5. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch mehrere Steuerelektroden, mehrere Elektronenaussendeelektroden und zwei Elektronensammelelektroden für Jede der Elektronenaussendeelektroden, wobei Jedes Elektronensammelelektrodenpaar einen im wesentlichen gleichen Anteil der von jeder der Elektronenaussendeelektroden abgegebenen Elektronen empfängt, so daß sich eine Empfindlichkeit für ein Magnetfeld mit einer zur Bewegungsbahn der Elektronen von der Elektronenabgabeelektrode zu den Elektronensammelelektroden senkrechten Komponente dadurch ergibt, daß einige der Elektronen von einer der Elektronensammelelektroden zur anderen abgelenkt werden.
  6. 6. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß eine der zwei Jeweils den Elektronenaus sendeelektroden zugeordneten Elektronensammelelektroden mit der anderen der zwei Elektronensammelelektroden gel*oppelt ist, und daß alle anderen Elektroden der Elektronensammelelektrodenpaare miteinander gekoppelt sind.
  7. 7. Halbleiterbauelement nach Anspruch 5 oder 6, gekennzeichnet durch eine Anordnung, die zur Anzeige der Magnetfeldintensität auf die Differenz der in den zwei Elektronensammelelektroden fliessenden Ströme anspricht.
  8. 8. Halbleitervorrichtung nach Anspruch 1 #dadurch gekennzeichnet, daß sie ein Sperrschicht-Feldeffekttransistor ist.
DE19732336593 1972-07-27 1973-07-18 Magnetfeldfuehler-halbleitervorrichtung Pending DE2336593A1 (de)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP0735600A2 (de) * 1995-03-30 1996-10-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Laterales Hallelement

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0735600A2 (de) * 1995-03-30 1996-10-02 Kabushiki Kaisha Toshiba Laterales Hallelement
EP0735600A3 (de) * 1995-03-30 1999-09-29 Kabushiki Kaisha Toshiba Laterales Hallelement

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JPS4980982A (de) 1974-08-05
ES417258A1 (es) 1976-02-16
IT991979B (de) 1975-08-30

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