DE2329181A1 - Einrichtung zum messen einer eigenschaft eines bandmaterials - Google Patents
Einrichtung zum messen einer eigenschaft eines bandmaterialsInfo
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Description
Patentanwälte Dipl. -Ing. F. We: CxI>a α ν ν,
Dipl.-Ing. H. Weickmann, Dipl.-Phys. Dr. K. Fincke
Dipl.-Ing. F. A.Weickmann, Dipl.-Chem. B. "Huber
. . - 8 MUNCHtN 86, DEN
SCHA POSTFACH 86OS2O
MÖHI.STRASSE 22, RUFNUMMER 48 3921/22
(983921/22/
INPRA SYSTEMS, INC., 650 Ackerman Road, Columbus, Ohio, V. St.A,
Einrichtung.zum Messen einer Eigenschaft eines Bandmaterials
Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zum Messen
einer chemischen oder physikalischen Eigenschaft; eines bev3gten
Bandmaterials mit einer Ultrarot-Strahlungsqufcile, einem
Ultrarot-Detektor, der einen von dea Bandmaterial nicht absorbierten
Strahlungsanteil erfaßt, und einer dem Detektor nachgeschalteten Auswerteschaltung.
Zusammenfassung der Erfindung»
Bei der Einrichtung gemäß der Erfindung, bei der eine chemische oder physikalische Eigenschaft, beispielsweise die Dicke
eines bewegten Bandmaterials gemessen vira? sine eine Strahlungsquelle,
die Strahlungen im ultraroten Wellenlängenbereich aussendet, ein Strahlteiler, der den Wel3.^nlängenb"ereich in Strahlen
von unterschiedlicher Wellenlänge unterteilt, und Mittel vorgesehen, die die Strahlen auf das sich bewegende, im allgemeinen
in Längsrichtung transportierte Bandmaterial lenken« Ein Detektor ist gegenüber dem Bandmaterial derart angeordnet,
daß er denjenigen Strahlungsanteil der verschiedenen Strahlen erfaßt, der nicht von dem Bandmaterial absorbiert wurde. Einer
der Strahlen weist eine Wellenlänge auf, die aufgrund der gemessenen Eigenschaft des Bandmaterials absorbiert wird, während
ein anderer Strahl eine Wellenlänge aufweist, die in einem nachgeschalteten Quotientenrechner als Referenzsignal verwendbar
ist.
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Bei der Einrichtung gemäß der Erfindung v/erden temperaturbedin/
te Änderungen der gemessenen Eigenschaft des Bandmaterials automatisch kompensiert. Die Referenzwellenlänge ist hierzu
so gewählt, daß sie wesentlich kurzer als die für die Messung der Eigenschaft des Bandmaterials verwendete Absorptionswellenlänge
ist und daß der Referenzstrahl praktisch nicht von Teraperaturänderungen
beeinflußt wirde
Stand der Technik.
Das Absorptionsspektrum eines Materials ist die Kurve der Werte, die den Prozentsatz der von dem Material absorbierten
Strahlung angebeno Die Wellenlänge der absorbierten Strahlung bildet eine unverwechselbare, charakteristische Eigenschaft
eines Materials. Die Absorption ergibt sich aus dem Logarixhrnui
des Kehrwerts der Transparenz (Durchlässigkeit, Transmissionsgrad) des Materials, während das Spektrograinm der Transparenz
oft als Absorptionsspektrum bezeichnet wird. Absorptionsspektren können bei der Analyse von unbekannten Mischungen verwendet
werden, indem das gesamte Spektrum oder ein Ausschnitt hiei von verwendet und über dieses Spektrum Messungen durchgeführt
werden. Üblicher· ist es, zur Bestimmung des Absorptionsspektrums die Transparenz direkt bei bestimmten Wellenlängen zu
messen, an welchen eine charakteristische Absorption auftritt,»
Es sind auch Einrichtungen bekannt, bei denen eine einzige Eigenschaft eines Materials gemessen wird» Hierbei wird ein
Strahlungssignal verwendet, das aufgrund der gemessenen Eigenschaft
absorbiert wird« Die Wellenlänge, bei der diese Absorption am stärksten ist, wird als Absorptionswellenlänge bezeichnete
Es ist allerdings auch bekannt, daß die gewählten Wellenlängen nicht vollständig selektiv sind und daß sich daher Überlappungen
und Störsignale ergeben, die von anderen Eigenschaften des Materials herrühren. Um diese Störungen des erhaltenen
Meßsignals zu beseitigen, ist es bekannt, ein Referenzsignal
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zu verwenden, das allein aufgrund der störenden Eigenschaften veränderlich ist« Das Referenzsignal wird dann bei einer mathematischen
Berechnung verwendet, beispielsweise nach Lambert-Beer, mittels einer Wheatstoneschen Brücke, mittels eines Quotientenrechners
oder in anderer Weise, wodurch ein von Störeinflüssen freies Meßsignal erhalten wird, das der gemessenen
Eigenschaft entsprichte
Die bekannten Einrichtungen, die selektiv im Ultrarotbereich arbeiten, Ultrarot-Spektrometer u.a. ergeben eine Information
bezüglich des Verlaufs der Absorption in Abhängigkeit von der Wellenlänge, wobei in vielen Fällen die erhaltene Genauigkeit
ausreicht, um geeignete Referenz-Wellenlängen auszuwählen,, Bei
vielen Messungen im Ultrarotbereich, insbesondere bei Dickenmessungen, v/eichen die erhaltenen Meßergebnisse jedoch von dem
tatsächlichen Wert der gemessenen Eigenschaft ab. Es wurde gefunden,
daß solche Meßfehler in vielen Fällen von der Temperatur des Bandmaterials abhängen, dessen interessierende Eigenschaft
gemessen wird.
Erfindung.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Einrichtung der eingangs genannten Art aο zu verbessern, daß Messungen der interessierenden
Eigenschaften in ausgewählten Abschnitten des Absorptionsspektrums möglich sind, daß durch Messung bei verschiedenen
Wellenlängen im gemessenen Absorptionsspektrum auftretende Meßfehler kompensiert v/erden können und daß insbesondere
das erhaltene Meßergebnis temperaturunabhängig ist.
Die Aufgabe wird gemäß der Erfindung bei einer Einrichtung der
eingangs genannten Art dadurch gelöst, daß zwischen der Strahlungsquelle und dem Bandmaterial eine Vorrichtung angeordnet
ist, die aus der aufgenommenen Strahlung mehrere Strahlen erzeugt, daß mindestens einer dieser Strahlen eine Wellenlänge
aufweist, die aufgrund der Eigenschaft des Bandmaterials ab-
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sorbiert wird, daß ein anderer dieser Strahlen als Referent-Strahl
dient und eine Wellenlänge aufweist, bei der praktisch keine Absorption aufgrund der Eigenschaft auftritt und die wesentlich
geringer als die Absorptionswellenlänge ist, sowie daß die Auswerteschaltung ein der Eigenschaft entsprechendes Ausgangssignal
aufgrund der Quotientenbildung erzeugt.
Bei der Einrichtung gemäß der Erfindung werden Signale verschiedener
ultraroter Wellenlängen erzeugt, die jeweils bestimmten Eigenschaften des der Messung unterliegenden Bandmaterials entsprechen.
Zur Erzeugung der.Signale kann in einfacher Weise ein Filter mit mehreren Durchlaß-Wellenlängenbereichen dienen,
der zwischen der Strahlungsquelle und dem Bandmaterial angeordnet isto Der Detektor ist gegenüber dem Bandmaterial so angeordnet,
daß er mit einem Strahlungsanteil beaufschlagt ist, der von dem Bandmaterial verändert ist. Die von dem Bandmaterial
absorbierte Absorptionswellenlänge führt nicht zu einem genauen Maß der interessierenden Eigenschaft des Bandmaterials. Insbesondere
bei der Messung der Dicke von Kunststoffilmen wurde gefunden,
daß die Temperatur des Materials das Meßergebnis verfälscht. Es ist zu vermuten, daß die Streuzentren, die innerhalb
des Bandmaterials auftreten, das Meßergebnis beeinflussen. Bei der Einrichtung gemäß der Erfindung wird jedoch eine Referenzwellenlänge
so gewählt, daß sie beträchtlich kürzer als die Absorptionswellenlänge ist. Hierdurch gleichen die Wirkungen
von Temperaturänderungen bei der Absorptions- und bei der Referenzwellenlänge
die Wirkung der Temperatur auf das Meßergebnis aus.
Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen beschrieben»
Die Erfindung sowie weitere Ausgestaltungen werden im folgenden anhand der Zeichnungen näher erläutert, in denen Ausführungsbeispiele
dargestellt sind.
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Kurzbeschreibung der Zeichnungen.
Es zeigen:
Es zeigen:
Figd in schemata scher Darstellung eine Einrichtung gemäß der
Erfindung;
Figo 1A die Anordnung von Filter, Strahlungsquelle und Detektor
bei einer Einrichtung gemäß der Erfindung;
Fig« 1B eine Vorrichtung mit mehreren Filtern bei einer Einrichtung
gemäß der Erfindung;
Figo2 als Schaubild den Verlauf der reflektierten Energie
in Abhängigkeit von der Wellenlänge, gewonnen aus Absorptionssignalen bei heißem und kaltem Material.
i
Beschreibung der Ausführungsbeispiele ο
Bei der in Figo1 dargestellten Einrichtung worden Messungen
an einem Bandmaterial 10 vorgenommen, das beispielsweise ein Kunststoffilm ist. Das Bandmaterial 10 wird an einem Meßort
in der Nähe der Walzen 13, 14 gemessen.
Eine Lichtquelle 15 dient als Strahlungsquelle, die alle erforderlichen
Frequenzen gleichzeitig abstrahlt. Die Lichtquelle 15 wird so betrieben, daß sie Strahlung im gesamten Ultrarotbereich
erzeugte Wie bekannt ist, werden bestimmte Frequenzen der Strahlung innerhalb des Spektrums aufgrund einer bestimmten
Eigenschaft absorbiert» Bei dem Ausführungebeispiel ist die interessierende Eigenschaft des Bandmaterials dessen Gewicht je
Flächeneinheit. Die entsprechende Absorptionswellenlänge für Kunststoffmaterial ist bekannt. In entsprechender Weise können
die Ultrarot-Wellenlängen, die zur Messung bestimmter Bestandteile oder Eigenschaften eines Kunststoff-Bandmaterials dienen,
in bekannter Weise ausgewählt werden»
Gemäß Fig«1 und insbesondere 1A sind in Strahlungsrichtung
unmittelbar hinter der Lichtquelle 15 zwischen dieser und dem
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Bandmaterial 10 mehrere Ultrarotfilter 27 vorgesehen. Jeder Filter
27 v/eist einen Durchlässigkeits-V/ellenbereich auf, der
Strahlung mit einer entsprechenden Wellenlänge zum Bandmaterial 10 hin durchläßt. Die auf das Bandmaterial 10 auftreffende
Strahlung wird von dem Bandmaterial 10 reflektiert und trifft auf den Detektor 19.
Die Filter 27 sind bei dem Ausführungsbeispiel gemäß Figo 1B
auf einem umlaufenden Filterrad 28 angeordnet. Der Filter 27 weist Bestandteile oder Eigenschaften auf, die mit denjenigen
des zu messenden Kunststoffmaterials übereinstimmen. Das Filterrad 28 wird von einem Motor 29 angetrieben, wodurch eine standige
Bestrahlung im gesamten Wellenlängenbereich erfolgt, der vom Filter 27 durchgelassen wird. Ein einziger Detektor 19 genügt
zur Erfassung aller Wellenlängen. Der Detektor 19 oder ein nachgeschalteter Verteiler wird zeitlich mittels eines Zeitgebers
16 so gesteuert, daß die erzeugten Ausgangssignale mit
dem Wirksamwerden des rotierenden Filters 27 synchronisiert sind. Abweichend von dem dargestellten Ausführungsbeispiel können
auch mehrere getrennte Detektoren vorgesehen sein, von denen jeder eine der interessierenden Wellenlängen erfaßt.
Zur Erzeugung mehrerer Wellenlängen innerhalb des ultraroten Wellenlängenbereichs sind auch andere Vorrichtungen bekanntο
Eine derartige Vorrichtung ist in der US-PS 3 405 268 beschrieben, wo zusätzlich zur Strahlungsquelle eine Kollimatorlinse,
ein Zerhacker und ein Strahlteiler vorgesehen sind, wobei der Strahlteiler den vom Kollimator kommenden Strahl in drei einzelne
Strahlen zerlegt·
Gemäß Fig»1 weist eine dem Detektor 19 (FigoiA,1B) nachgeschaltete
Auswertevorrichtung einen Vorverstärker 16, eine als Synchronisierschalter und Demodulator wirkende Schaltung 18,
einen Quotientenrechner 22 und einen einstellbaren Verstärker 32 auf, mittels dessen die Größe des Meßbereichs für einen
nachgeschalteten Streifenschreiber 26 eingestellt werden kann.
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Der Synchroni3ierschalter in der Schaltung 18 verteilt synchronisiert
mit dem Auftreten des Absorptionsstrahles und des Referenzstrahles
die entsprechenden Ausgangssignale auf je eine Glättungsschaltung 20 für den Referenzstrahl und eine Glättung
sschaltung 24 für den Absorptionsstrahl, die an ihren Ausgängen entsprechende Gleichspannungssignale erzeugen. Anstelle
des Streifenschreibers 26 können auch eine andere Registriervorrichtung
und/oder eine Anzeigevorrichtung vorgesehen sein0
Bei der Messung der Dicke eines Kunststoffilms mittels der
beschriebenen Einrichtung kann die Temperatur des Films das erhaltene Meßergebnis beeinflussen» Insbesondere wird dann,
wenn die Temperatur des Films über 43 C ansteigt, das erhaltene Meßergebnis verringert, und der Meßfehler nimmt in unzulässiger
Weise zue Dies dürfte daher rühren, daß innerhalb des
Kunststoffilms bei dessen Abkühlung erscheinende Streuzentren
das Meßergebnis gegenüber dem vorausgesetzten Idealfall eines reinen dielektrischen Films verfälschen. Dies ist beispielsweise
bei Polyäthylen zu beobachten. Die Streuzentren haben eine Weglänge durch den Film zur Folge, die größer ist als bei einem
idealen nichtstreuenden Film» Hieraus ergibt sich eine scheinbare
Vergrößerung des gemessenen Wertes. Beim Erhitzen verschwinden diese Streuzentren, so daß sich gegenüber der Messung
bei kaltem Film ein verringertes Meßergebnis ergibt. Obwohl ein Teil der Verringerung des Meßergebnisses auf die thermische
Ausdehnung des Films selbst zurückzuführen sein kann, zeigen doch Berechnungen, daß der thermische Ausdehnungskoeffizient
etwa -0,02$/°C beträgt, während der gesamte beobachtete
anomale Temperatureffekt bei einem bestimmten Film annähernd -0,18^/ C betrug. Um diese starken Auswirkungen der Temperatur
zu kompensieren, wird die Referenz-Wellenlänge beträchtlich kürzer als die Absorptionswellenlänge gewählte Hierbei wird
von dem Prinzip der Rayleigh-Streuung durch Streuzentren auf dem Film und innerhalb des Films Gebrauch gemacht. Hierbei
wird erreicht, daß die Zu- bzwo Abnahme der Rayleigh-Streuung
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bei einem sachgerecht gewählten Absorptions- und Referenzstrah
lenpaar die Auswirkung der vergrößerten Länge des Absorptionsstrahlenganges ausgleichto Hierdurch wiederum wird ein vernachlässigbar
kleiner anormaler Temperatureffekt erreichte
In Fig.2 ist der Verlauf der an einem heißen und an einem kalten
PiIm reflektierten Energie, die von einem Detektor erfaßt
wird, als Punktion der Wellenlänge aufgetragen. Das von dem Streifenschreiber 26 aufgezeichnete Meßergebnis hat einen Wert
a eine Eichkonstante,
k eine Nullpunktverschiebungskonstante, 8ig1 den Spannungswert des der Absorptionswellenlänge entsprechenden
Signals und
sig2 den Spannungswert des der Referenzwellenlänge entsprechenden Signals bedeutene
Der Signalwert sig1 ist bei der ausgewählten Absorptionswellenlänge
λ * gemessen, wie in Pig.2 dargestellt. Würde die Referenzwellenlänge
bei einer Wellenlänge Λ2 gewählt, bei der
wenig oder keine Absorption auftritt, so würde ein starker Meßfehler mit zunehmender Temperatur des Films auftreten. Bei der
Einrichtung gemäß der Erfindung wird jedoch als Referenz-Wellenlänge eine Wellenlänge λ-j gewählt, die wesentlich kürzer
ist als die Absorptionswellenlänge λ, und bei der die Änderung
des Anteils der reflektierten Energie mit der Temperatur gering oder Null ist. Ein typisches Paar von geeigneten Wellenlängen
ist Λ3 = 2,38 ^un und Xj = 1,50 um «,
Gemäß einer weiteren Ausgestaltung kann der Quotientenrechner 22 der in Fig.1 gezeigten Auswerteschaltung anstelle des einfachen
Quotienten aus dem Wert des dem Absorptionsstrahl entsprechenden Signals und dem Wert des dem Referenzstrahl ent-
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sprechenden Signals auch einen Quotienten bilden, der der Summe der von dem Detektor 19 erfaßten Strahlungsanteile des Absorp—
tionsstrahles und des Referenzstrahles dividiert durch den
Strahlungsanteil des ReferenzBtrahles entspricht«
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Claims (1)
- Patentanwälte Dipl.-Inc. F. Weickmann, 2329181Dipl.-Ing. H.Weickmann, Dipl.-Phys. Dr. K. Fincke Dipl.-Ing. F. A.Weickmann, Dipl.-Chem. B. HuberJO8 MÜNCHEN 86, DEN POSTFACH 860 820MÖHLSTRASSE 22, RUFNUMMER 48 3921/22<983921/22>INPRA SYSTEMS, INC.ANSPRÜCHE.Ii 1. ^Einrichtung zum Messen einer chemischen oder physikalischen Eigenschaft eines bewegten Bandaiate rials mit einer Ultrarot-Strahlungsquelle, einem Ultrarot-Detektor, der einen von dem Bandmaterial nicht absorbierten Strahlungsanteil erfaßt, und einer dem Detektor nachgeschalteten Auswert eschaltung, dadurch gekennzeichnet, daß zv/ischen der Strahlungsquelle (15) und dem Bandmaterial (10) eine Vorrichtung (27, 28) angeordnet ist, die aus der aufgenommenen Strahlung mehrere Strahlen erzeugt, daß mindestens einer dieser Strahlen eine Y/ellenlängeCX-j) aufweist, die aufgrund der Eigenschaft des Bandmaterials (10) absorbiert wird, daß ein anderer dieser Strahlen als Referenzstrahl dient und eine Wellenlänge (λ-j) aufweist, die wesentlich geringer als die Absorptionswellenlänge (Xj) ist, sowie daß die Auswerteschaltung (16, 18, 20, 22, 24, 32) ein der Eigenschaft entsprechendes Ausgangssignal aufgrund einer Quotientenbildung erzeugt.2e Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswerteschaltung einen Quotientenrechner (22) aufweist, der den Quotienten aus der Summe der vom Detektor (19) erfaßten Strahlungsanteile des Absorptionsstrahles und des Referenzstrahles und dem Strahlungsanteil des ReferenzStrahles bildet·30985 1/10963„ Einrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein Bandmaterial (10) verwendet-wird, bei dem der durchgelassene Strahlungsanteil des Absorptionsstrahles sich mit der Temperatur aufgrund von im Bandmaterial auftretenden Streuzentren ändert.4e Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlängen ( λ-,, Λ*) des Absorptionsstrahles und des Referenzstrahles so gewählt sind, daß die bei diesen Wellenlängen bei Temperaturänderungen auftretenden Änderungen der Rayleigh-Streuung beider Strahlen die sich bei den Temperaturänderungen ergebenden verlängerten Absorptionsweglängen kompensierend5. Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Bandmaterial (10) ein Kunststoffilm ist·6· Einrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlänge ( λ.,) des Absorptionsstrahles in der Größenordnung von 2,38 Mm liegt«Einrichtung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlänge ( λ...) des Referenzstrahles in der Größenordnung von 1,50 μα. liegt»8· Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß die gemessene Eigenschaft die Dicke istβ9β Einrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlänge ( λ-) des ReferenzStrahles so gewählt ist, daß bei ihr praktisch eine Änderung der Absorption aufgrund einer Änderung der gemessenen Eigenschaft auftritt»30985 1/1096
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0169664A1 (de) * | 1984-06-21 | 1986-01-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Vorrichtung zum Bestimmen des Oxydationsgrades einer Oxydbeschichtung |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS52149148A (en) * | 1976-06-03 | 1977-12-12 | Aakon Inc | Method of and apparatus for measuring thickness of film on sheet |
US9052294B2 (en) | 2006-05-31 | 2015-06-09 | The Boeing Company | Method and system for two-dimensional and three-dimensional inspection of a workpiece |
US8050486B2 (en) | 2006-05-16 | 2011-11-01 | The Boeing Company | System and method for identifying a feature of a workpiece |
-
1973
- 1973-06-04 IT IT2501173A patent/IT988911B/it active
- 1973-06-07 JP JP6430773A patent/JPS4957859A/ja active Pending
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0169664A1 (de) * | 1984-06-21 | 1986-01-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Vorrichtung zum Bestimmen des Oxydationsgrades einer Oxydbeschichtung |
Also Published As
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