DE2155228B2 - Bipolare speicherzelle - Google Patents
Bipolare speicherzelleInfo
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Description
55
Di«.' Erfindung betnlfi cmc bipolare Speicher/eile,
bestehend aus zwei komplementären, nach Art einer Vierschielii-Zelle jeweils /wischen Basis und Kollektor
verbundenen 1 ra ns i stören.
Bei monolithisch integrierten Speicheranordniingen
ist man bestrebt, die Anzahl der cmc Speicherzelle
bildenden Komponenten möglichst klein zu halten. Auf diese Weise kann die für die Herstellung der
Speicher/eilen erforderliche Anzahl von Verfahrensschrilien
ebenso wie die von den Speicher/eilen auf dem Halbleiterschip eingenommene I"lache reduziert werden.
Eine strukturmäßig sehr einfache Anordnung mit bistabilen Eigenschaften ist eine Schaltung mit zwei
komplementären Transistoren, deren Basen und Kollektoren wechselseitig verbunden sind. Eine derartige
Anordnung wird gewöhnlich als Kippstufe verwendet und wird unter anderem als gesteuerter Gleichrichter
bezeichnet. Als Kippstufe bietet sie sich zunächst in idealer Weise zur Verwendung als Speicherzelle an, da
sie bistabil ist. Eine derartige Speicherzelle weist jedoch mehrere Nachteile auf. Einer dieser Nachteile besteht
darin, daß das Schreiben und Lesen außerordentlich schwierig ist, da die Gefahr besteht, daß die in den nicht
selektierten Speicherzellen gespeicherten Daten durch die halben Selektionsimpulse oder durch die Lesesignale
verändert werden. Dies ist auch eine der Ursachen dalür, daß diese Speicherzellen neben der Vierschichtanordnung
zusätzlicher Schaltelemente bedürfen. Ein weilerer wesentlicher Nachteil ist die geringe Arbeitsgeschwindigkeit,
insbesondere bei einer Schreiboperation. Dieser Nachteil ist auf die Ausnutzung des
Kippmechanismus zurückzuführen.
Eine im Hinblick auf ihr·: Iniegrierbarkeii günstige
Speicherzelle mit nur zwei aktiven Elementen ist aus der Ve'öffenilichung »International Solid-Slate Circuits
Conference«. 1964, Seiten 72-73 bekannt. Die Bismbilität
wird dabei durch Kopplung eines bipolaren Transistors und eines Eeldeffekt-Transisiors erreicht.
Nachteilig bei dieser Speicherzelle ist. daß das Gate des Fe.deffekt-Transistors besonderer Verfahrcnssehriite
be der Herstellung bedarf und daß die Schallgeschwindigkeit
oft nicht den heute gestellten Anforderungen genügt.
Die prioritätsgleiche Anmeldung DT-OS 21 5b 803
befaßt sich mit einer Speicherzelle, die ;n einem ihrer
Ausführungsbeispiele (E ig. 2 und 8b) hinsichtlich des Ersatzschaltbildes und der Betriebsweise im wesentlichen
mit der erfindungsgemäßen Speicherzelle übereinstimmt. Hinsichtlich der monolithischen Struktur sind
jedoch Unterschiede festzustellen.
Es ist die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe, eine platzunaufwendig integrierbare, nach Art einer
Vicrschicht-Zellc aufgebaute Speicherzelle anzugeben,
die aber eine wesentlich verkürzte Zugriffszeit und erhöhte Stabilität aufweist und neben den beiden
Transistoren keiner zusätzlichen Schaltelemente bedarf.
Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß der eine gemeinsame Basis- Kollektoranschluß
an eine erste Ansteuerleitung angeschlossen ist, über die ein Kippvorgang unterdrückt wird, und daß die
beiden Emitteranschlüsse mit zugeordneten Zweiten und dritten Anstcucrleitungen verbunden sind, über die
der Spe chervorgang als Auf- und Entladung der Basis-Kollektorkapazität
der Transistoren erfolgt.
Dabei ist es von besonderem Vorteil, den Kippvorgang
durch Anlegen eines festen Potentials an die erste Ansteuerleitung zu verhindern.
Als vorteilhaft erweist es sich weiterhin, daß das Einschreiben über die /weite Ansteuerleitung erfolgt,
die an den Emitter des ersten Transistors geführt ist, an dessen Basis die erste Ansteuerleitung lieg!, und daß das
λιι*^εη über die dritte Ansteuerleitung erfolgt. Dabei
erweist es sich als vorteilhaft, wenn das Auslesen über die dritte Ansteuerleitung durch Anheben des Potentials
an der ersten Ansteuerleitung erfolgt, wobei der erste Transistor in Abhängigkeit vom Ladezustand der
Basis-Kollektorkapazität leitend oder gesperrt ist.
Die angestrebten Vorteile werden demnach mit einer Schaltung entsprechend einer Vierschicht-Zclle er-
reicht, bei der aber nicht deren bistabile Eigenschaften
zur Speicherung herangezogen werden, sondern der Ladezustand der Basis-Kollektorkapizität.
Hinsichtlich der Integrierbarkeit und der erreichbaren
Packungsdichte ist es von besonderem Vorteil, daß Kollektor. Basis und Emitter des ersten Transistors
entsprechend aus einer Epitaxieschicht, einer ersten Diffusionszone in dieser Epitaxieschicht und einer
zweitem Diffusionszone innerhalb der-ersten Diffusionszone und daß Kollektor, Basis und Emitter des zweiten
Transistors entsprechend aus der ersten Diffusionszone. der Epitaxieschicht und aus einer dritten Diffusionszonc
außerhalb der ersten Diffusionszone bestehen. Schließlich
ist es in dieser Hinsicht vorteilhaft, daß die erste Ansteucrleitung aus einer Subkollektorzone unterhalb
der Epitaxieschicht, die zweite Ansteuerleitung aus einer die dritte Diffusionszone kontyktiercndcn Leitung
und die dritte Ansteuerleitung aus einer die zweite Diffusions/one kontakiicrenden Leitung besteht.
Die Erfindung und ihre Vorteile werden in der nachstehenden Beschreibung eines in der Zeichnung
dargestellten Ausführungsbeispiels naher erläutert. Hs
jeigt
Fig. 1 Schaltung und Aufbau einer crfindungsgemä-(V1Ii
Speicheranordnung, z,
Fig. 2 eine Draufsicht der monolithischen Struktur
einer eriiiidungsgemäßen Speicherzelle und
FiL\ 3 eine Schnittansicht entlang der Linien 3-i in
ΙΊ g. 2.
In Fig. 1 ist eine erfindungsgemäße Speicheranord
innig dargestellt, bei der der Zugriff zu den Speicherzellen
10 über Wortleitungen XO bis Xn und über Bitleitungen VO bis Yn erfolgt. Sämtliche Speicherzellen
sind identisch aufgebaut und werden in gleicher Weise adressiert. Wie für die Speicherzelle 10a
dargestellt, wird jede Speicherzelle über zwei Wortleitungen
ΛΌ und X 1 und eine Bitleitung VO adressiert. Die Worileitung XO ist mit dem Emitter eines
I'NP-Transistors Tl verbunden, während die Wortleitung
Vl an der Basis dieses PNP-Transisiors 7"2 und
am Kollektor eines NPN-Transistors Π liegt. Die füllleitung VO steht mit dem Emitter des NPN-Transistors
7" I in Verbindung.
Die Basis jedes Transistors ist mit dem Kollektor des jeweils anderen Transistors verbunden. Eine derartige
Verkopplung zweier Transistoren ergibt bei üblicher. bekannter Anwendung eine bistabile Vicrschicht-Anordnung.
Aus der folgenden Beschreibung der Wirkungsweise wird jedoch klar, daß bei der erfindungsgcmäßcn
Verwendung dieser Schaltung ein Kippvorgang in einen der beiden stabilen Zustände unterdrückt wird.
Als Speichcrmittel werden nicht die inhärenten bistabilen Zustände verwendet, sondern eine Ladungsspeicherung
in der Basis-Kollektorkapaziiät C/ beider
Transistoren. Eine entladene Baiis-Kollektorkapazität C) entspricht der Speicherung einer binären Null und
eine geladene Kapazität C\ entspricht der Speicherung einer binären Hins in der Speicherzelle.
Bei einer Leseoperation wird das Potential an der Wortleitung Λ' 1 von etwa 0 V auf einen positiven Weri
angehoben. Das bedeutet, daß der Transistor TX leitend wird, wenn die Kapazität C\geladen ist und der Punkt A
in bezug auf den Pur,kt B ein leicht positives oder etwa
gleich großes Potential aufweist. Sobald der Transistor 7 1 leitet, wird die Ladung der Kapazität Cj über den
Transistor Π abgeleitet und erscheint als Impuls auf
der Bitleitung VO. Die ursprünglich gespeicherte Information geht also während einer Leseoperation
verloren. Ist die Kapazität C/ negativ geladen, so daß
Punkt A negativer ist als Punkt B (etwa 2 bis 3 Volt), dann bleibt Transistor Π gesperrt. Auf der Bitleitung
VO wird demnach kein Signal erzeugt, wenn das Potential auf der Wortleitung X 1 angehoben wird. Ein
angeschlossener Leseverstärker deutet selbstverständlich das Auftreten eines Signals cuf der Bitleitung VO als
eine binäre Eins und das Fehlen eines entsprechenden Signals als eine binäre Null.
Bei einer Sehreiboperation wird das Potential auf der Worileilung X 1 von Null auf einen positiven Wen
angehoben. Gleichzeitig wird die Wortleitung Λ0 über eine Stromquelle mit Strom gespeist, so daß sämtlichen
an dieser Wortleitung liegenden Speicherzellen über den Transistor 72 Strom zugeführt wird. Soll in eine
dieser Speicherzellen eine binäre Null eingeschrieben werden, so bleibt deren Bitleitung VO aiii Nullpotential.
Der Transistor Π leitet den \on der Wortleitung Λ 0
kommenden Strom weiter . ir Biileiiung VO. so daß der
Funkt A in bezug auf der, Punkt B ein negati\es Potential erhält (etwa 2 bis i VOIi). Soll in eine dieser
Speicherzellen eine binäre Hins eingeschrieben werden. so wird das Potential an der Biilcitung VO \on Null aiii
einen bestimmten positiven Wen angehoben. Der
Transistor 7~1 wird dadurch gesperrt und das Potential
an Punkt A wird positiver als das an Punkt Ii.
Wie bereits erwähnt, wird bei dieser Speicherzelle
nicht das an sich \orhandene Kippverhalten zur Speicherung ausgenutzt, sondern die Ladungsspeicherung
in der Basis-Kollektorkapazität C). Da die Ladung dieser Kapazität aufgrund von Leckströmen langsam
abfließt, muß die Information periodisch rückgespeichert werden, um erhallen zu bleiben. Diese Rückspeicherung
kann dadurch erreicht weiden, daß die Information periodisch aus den Zellen ausgelesen und
wieder eingeschrieben wird. Die Regenerierung des Speicherinhalts wird also mit Hilfe eines l.ese/\klus mit
nachfolgendem Schreibzyklus erreicht. Da diese Operationen hinreichend bekannt sind, w eitlen sie hier nicht
näher erläutert.
Im vorstehenden wurde eine Schreib/Lese- und Regencricrmclhode beschrieben. Eine andere An.
Daten in die Zelle einzuschreiben, besteht darm, daß
zunächst über die ausgewählte Worileitung eine Leseoperation durchgeführt wird. Nach dieser Leseoperation
enthalten sämtliche Zellen eine binäre Null. Dies entspricht wiederum der bereits beschriebenen Schreiboperation
für eine binäre Null, so daß darauf nicht weiter eingegangen zu werden braucht. Eine binare Hins
wird nach der Durchführung dieser .Schreiboperation für eine binäre Null durchgeführt. Dabei wird an die
Wortleitung A' 1 ein leicht negatives Potential angelegt. Gleichzeitig wird den Emittern der Transistoren 72
sämtliche Speicherzellen, in denen eine binäre Hins gespeichert werden soll, von der Stromquelle Strom
zugeführt.
Die Bittreiber. Worttreiber und Leseverstärker der
erfindungsgenäßcn Speicheranordnung sind als Blöcke 10 und 12 dargestellt. Hs ist eine Vielzahl derartiger
Einrichtungen bekannt, die in Verbindung mn der erfindungsgemäßen Speicheranordnung verwendbar
sind, so daß sieh eine nähere Beschreibung erübrigt.
Aus den Ei g. 2 und 3 ergibt sich der strukturmaliige
Aufbau der erfindungsgemäßen Speicherzelle, deren Schaltung in Ki g. 1 mit dem Bezugs/eichen ΙΟ;/
versehen ist. Aus den F i g. 2 und J ergibt sieh, daß auf
einem P-Substrat 16 eine N Epitaxieschicht 14 aufgewachsen ist. Isolierende Sperrschicht-Diffusionen
18 unterteilen das Substrat in einzelne Kanäle. Entlang
jedes Kanals verlauft unterhalb der Epitaxieschicht 14 eine durchgehende N+ Subkollektorzonc 20. Diese
Subkollektorzone bildet die Wortleitung XX, über die die Speicherzelle adressiert wird. In die Kanäle sind für
jede Speicherzelle der Wortlcilung zwei P-Diffusionszonen
22 und 24 eingebracht. Die P-Diffusionszone 24 übernimmt dabei die Funktion für zwei benachbarte
Speicherzellen. Die P-Diffusionszone 22 enthält eine N-Diffusionszone 26. Die N-Diffusionszone 26 bildet
den Emitter des Transistors TI. Die P-Diffusionszom
22 dient als Basis des Transistors 7"1 und als Kollekto des Transistors 72. Die Epitaxieschicht 14 selbst dien
als Kollektor des Transistors TX und als Basis de:
Transistors 7"2. Die verbleibende P-Diffusionszone 2-ist
mit der Wortleitung Λ0 verbunden und stellt dei
limitier des Transistors Γ2 dar. Die beschricbcni
Struktur gilt für die beschriebene Lcse/.Schreibopera
tion erster Art. Für die zweite angegebene Methode isi keine spezielle Struktur dargestellt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (6)
1. Bipolare Speicherzelle, bestehend aus zwei komplementären, nach Art einer Vierschicht-Zelte
jeweils zwischen Basis und Kollektor verbundenen Transistoren, dadurch gekennzeichnet,
daß der eine gemeinsame Basis-Koilektoranschluß
an eine erste Ansteuerleitung (X 1} angeschlossen ist, über die ein Kippvorgang unterdrückt wird, und '.o
daß die beiden Emitteranschlüsse mit zugeordneten zweiten und dritten Ansteuerleitungen (XO. VO)
verbunden sind, über die der Speichervorgang als Auf- und Entladung der Basis-Kollektorkapazität
(Ci)der Transistoren (T 1. T2) erfolgt.
2. Speicherzelle nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kippvorgang durch Anlegen
eines festen Potentials an die erste Ansteuerleitung (X 1) verhindert wird.
3. Speicherzelle nach Anspruch 2. dadurch gekennzeichnet, daß das Einschreiben über die
zweite Ansteuerleitung (XO) erfolgt, die an den
Emitter des ersten Transistors (T 2) geführt ist. an dessen Basis die erste Ansteuerleitung (X 1) liegt,
und daß das Auslesen über die dritte Ansteuerleitung (VO) erfolgt.
4. Speicherzelle nach Anspruch J. dadurch gekennzeichnet, daß das Auslesen über die dritte
Ansieuerleiuing O'O) durch Anheben des Poientials
an der ersten Ansteuerleitung (XO) erfolgt, wobei der erste Transistor (T2) in Abhängigkeit vom
Ladezustand der Basis-Kollcktorkapazität (C)) leitend
oder gesperrt ist.
5. .Speicherzelle nach den Ansprüchen I bis 4.
dadurch gekennzeichnet. d;iß Kollektor. Basis und Emitter des zweiten Transistors (Ti) entsprechend
aus einer Epitaxieschicht (14), einer ersten Diffusions/one (22) in dieser Epitaxieschicht (14) und
einer /weiten Diffusions/one (26) innerhalb der eisten Diffusions/one (22) und daß Kollektor. Basis
und Emitter des ersten Transistors (T2) entsprechend
aus der ersten Diffusionszone (22). der Epitaxieschicht (14) und aus einer dritten Diffusionszone
(24) außerhalb der ersten Diffusions/one (22) bestehen.
6. Speicherzelle nach Anspruch 5. dadurch gekennzeichnet, daß die erste Ansteuerelektrode
(Λ 1) aus einer Subkollcktorzonc (20) unterhalb der
Epitaxieschicht (14). die zweite Ansteuerleitung (AO) aus einer die dritte Diffusionszone (24)
kontaktierenden Leitung und die dritte Ansteuerleitung (YO) aus einer die /weite Diffusions/one (26)
kontaktierenden Leitung besteht.
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Legal Events
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E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
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