DE2146947A1 - Vorrichtung zur kontinuierlichen Überprüfung eines photographischen Filmes auf Rißstellen - Google Patents
Vorrichtung zur kontinuierlichen Überprüfung eines photographischen Filmes auf RißstellenInfo
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03D—APPARATUS FOR PROCESSING EXPOSED PHOTOGRAPHIC MATERIALS; ACCESSORIES THEREFOR
- G03D15/00—Apparatus for treating processed material
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Description
- Vorrichtung zur kontinuierlichen Ueberprüfung eines photographischen Filmes auf Rissstellen.
- Bei der Verarbeitung von Filmen in voll- oder halbautomatischen Anlagen, insbesondere Entwicklungsmaschinen, ist es äusserst wichtig, Rissstellen feststellen zu können, um zu verhindern, dass der Film bei stärkerer mechanischer Beanspruchung, beispielsweise infolge der oftmaligen Umlenkung in der Entwicklungsmaschine, reisst, was zu einem unerwünschten Unterbruch führen würde.
- Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur kontinuierlichen Ueberprüfung eines photographischen Filmes auf Rissstellen, mit einer Filmtransportvorrichtung und mit einem an einer durch eine Umlenkwalze gekrümmten Stelle an der Filmtransportbahn angeordneten Rissstellenabtaster.
- Durch die Umlenkung des Films bzw. die dadurch erzeugte Krümmung soll erreicht werden, dass einerseits durch die vergrösserte mechanische Belastung schwache Stellen des Films einreissen und dass anderseits eingerissene Filmstellen im Bereich der Umlenkwalze radial vom Rollenumfang abstehen und dadurch detektierbar sind.
- Diese Aufgabe konnte indessen von den bisher bekanntgewordenen Vorrichtungen, welche eine einzige Lichtschranke mit einem senkrecht zur Filmtransportrichtung verlaufenden Lichtstrahlenbündel aufweisen, nicht vollständig gelöst werden. In der Praxis hat sich gezeigt, dass bei Verwendung dieser bekannten Vorrichtung nicht alle Schwachstellen aufgerissen bzw. Einrisse detektiert werden. Untersuchungen haben gezeigt, dass genau senkrecht zur Filmtransportrichtung verlaufende und/oder in der Filmdicke bezügliche der Filmlaufrichtung und dem Umfang der Umlenkwalze schräg nach vorne geneigte Risse bzw. Schwachstellen, welche zu solchen Rissen führen, zumeist nicht detektiert werden.
- Im folgenden wird die Erfindung anhand der Figuren beispielsweise näher erläutert; es zeigen: Fig. 1 ein erstes Ausführungsbeispiel der Erfindung in schematischer Seitenansicht, Fig. 2 ein zweites Ausführungsbeispiel-in der Aufsicht und Fig. 3 eine vergrösserte Seitenansicht eines eingerissenen Films.
- Gemäss Fig. 1 wird ein Film 1 in Richtung des Pfeiles A transportiert und von zwei freilaufenden Walzen 2 und 3 um 3600 (+1800 und -180°) umgelenkt. Ueber dem Umfang der Walzen 2 und 3 sind parallel zur Filmlängsrichtung je zwei Lichtschranken angeordnet. Diese bestehen jede aus einer Lichtquelle 4, zwei Linsen 5 und 6 sowie aus einer Photozelle 7 zur Anzeige von teilweisen oder vollständigen Unterbrechungen des Strahlenbündels, hervorgerufen durch von der Rollenoberfläche abstehende Filmteile, Die Lichtschranken sind so angeordnet, dass ihre Lichtstrahlenbündel L tangential zur Film-bzw. Walzenoberfläche an beiden Filmrändern ausserhalb der Filmperforation verlaufen. Jedes Strahlenbündel L weist knapp über dem Film seinen Brennpunkt F auf, sodass auch geringfügig abstehende Filmteile das Strahlenbündel ausreichend stark beeinflussen und von der Photozelle 7 sicher registriert werden.
- Bei den zu untersuchenden Filmen handelt es sich zumeist um belichtetes, unentwickeltes Material. Für die Lichtschranken-Strahlenbündel muss daher Licht von solcher Wellenlänge verwendet werden, für welche der zu untersuchende Film unempfindlich ist, beispielsweise Infrarotlicht. Die Durchmesser der Walzen 2 und 3 sowie die auf den Film ausgeübte Transportzugkraft werden so abgestimmt, dass die mechanischen Beanspruchungen an diesen beiden Rollen zumindest etwa denjenigen in einer Entwicklungsmaschine entsprechen.
- Das in Fig. 2 gezeigte Ausführungsbeispiel ist mit nur einer Infrarot-Lichtschranke ausgerüstet. Diese Lichtschranke besteht aus einer Infrarotlichtquelle 4, zwei Linsen 5 und 6, zwei zur Strahlbegrenzung dienenden Blenden 8 und 9 sowie aus einer Photozelle 7. Das Strahlenbündel L' ist ein Parallelstrahlenbündel, welches in einer Ebene parallel zu einer Tangentialebene der Walze und in einem kleinen Winkel zur Walzenachse stehend knapp über der Walzen- bzw. Filmoberfläche verläuft. Der Winkel zwischen Walzenachse und Lichtstrahlenbündel L' beträgt in der Praxis etwa 30 bis 150.
- Die kleinste senkrechte Entfernung zwischen Filmoberfläche und Strahlenbündel beträgt einige Zehntelmillimiter. Durch die Schrägstellung des Lichtstrahlenbündels L' werden auch genau in der Filmquerrichtung verlaufende Risse detektierbar.
- Anstelle von Infrarot-Lichtschranken können auch andere, beispielsweise mechanische Abtaster verwendet werden.
- Ein solcher Abtaster könnte z.B. nach Art eines elektromagnetischen Tonabnehmers ausgebildet sein. In der Regel sind jedoch Lichtschranken, deren Strahlenbündel die Filmoberfläche fast streifen, vorzuziehen, da dadurch jede Beschädigung des Films durch den Abtaster ausgeschlossen wird Mechanische Abtaster bilden bei den heute üblichen hohen Filmgeschwindigkeiten, welche in der Grössenordnung von mehreren Metern pro Sekunde liegen, eine Gefahrenquelle für den Film.
- Durch die beiden dargestellten und beschriebenen Apparate werden sowohl genau senkrecht zur Filmtransportals auch schräg durch die die Filmdicke , richtung A/verlaufende Risse sicher erfasst; die senkrechten Risse infolge des Lichtschrankenwinkels (3 - 15° ) zur Walzenachse und die Schrägrisse infolge der zweifachen Umlenkung.
- In Fig. 3 ist ein mit einem Rand-Schrägeinriss R behafteter Film 1 in der Seitenansicht vergrössert dargestellt. Es hat sich nun gezeigt, dass beim eingezeichneten Verlauf des Schrägrisses und bei der durch den Pfeil A markierten Filmlaufrichtung, dieser Schrägriss bei einer Umlenkung im Uhrzeigersinn nicht oder weniger aufspringt als bei der entgegengesetzten Umlenkung. Auf das Ausführungsbeispiel der Fig. 1 übertragen bedeutet dies, dass der Riss R sicher an der Umlenkwalze 3 detektiert wird.
Claims (5)
- AnsprücheVorrichtung zur kontinuierlichen Ueberprüfung eines photographischen Filmes auf Rissstellen, mit einer Filmtransportvorrichtung und mit einem an einer durch eine Umlenkwalze gekrümmten Stelle der Filmtransportbahn angeordneten Rissstellenabtaster, dadurch gekennzeichnet, dass die Filmtransportbahn durch eine zweite Umlenkwalze gegensinnig gekrümmt ist und das an dieser zweiten Krümmung ein zweiter Rissstellenabtaster angeordnet ist, wobei als Kriterium für das Auftreten einer Rissstelle das Ausprechen des ersten und/oder zweiten Abtasters gewertet wird, und/oder dass die Abtaster durch Lichtschranken gebildet sind, deren Lichtstrahlenbündel mit der Filmtransportrichtung je einen von 90° abweichenden Winkel einnehmen.
- 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass jeder Abtaster durch zwei Lichtschranken gebildet ist, deren Lichtstrahlenbündel parallel zur Filmtransportbahn gerichtet sind und je einen der beiden Filmränder ausserhalb der Perforation abtasten.
- 3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass jedes Lichtschranken-Strahlenbündel die Achse der zugeordneten Umlenkwalze in. einem spitzen Winkel von mindestens 30 kreuzt.
- 4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Kreuzungswinkel zwischen dem Licht schranken-Strahlenbündel und der Walzenachse etwa 3 bis 150 beträgt und vorzugsweise einstellbar ist.
- 5. Vorrichtung nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Abstände zwischen der Filmoberfläche und den Brennpunkten der Lichtschranken-Strahlenbündel in der Grössenordnung von Zehntelmillimetern liegen und vorzugsweise einstellbar sind.L e e r s e i t e
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH1406270A CH543088A (de) | 1970-09-23 | 1970-09-23 | Vorrichtung zur kontinuierlichen Überprüfung eines photographischen Filmes auf Rissstellen |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2146947A1 true DE2146947A1 (de) | 1972-03-30 |
DE2146947B2 DE2146947B2 (de) | 1979-08-16 |
DE2146947C3 DE2146947C3 (de) | 1980-10-23 |
Family
ID=4397625
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19712146947 Expired DE2146947C3 (de) | 1970-09-23 | 1971-09-20 | Vorrichtung zur kontinuierlichen Überprüfung eines photographischen Filmes auf Rißstellen |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH543088A (de) |
DE (1) | DE2146947C3 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2445544A1 (de) * | 1974-09-24 | 1976-04-01 | Agfa Gevaert Ag | Verfahren und vorrichtung zur ueberpruefung eines fotografischen filmes auf risstellen |
EP0004330A1 (de) * | 1978-03-22 | 1979-10-03 | Agfa-Gevaert AG | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen kontinuierlichen Messung und Überwachung von Magnetspuren auf bewegten Filmbändern |
DE3739436C1 (de) * | 1987-11-20 | 1989-03-30 | Sick Optik Elektronik Erwin | Optisches Lochsuchgeraet |
DE4024258A1 (de) * | 1989-08-02 | 1991-02-14 | Asmo Co Ltd | Verfahren und vorrichtung zum beseitigen der dynamischen unwucht an rotationskoerpern |
-
1970
- 1970-09-23 CH CH1406270A patent/CH543088A/de not_active IP Right Cessation
-
1971
- 1971-09-20 DE DE19712146947 patent/DE2146947C3/de not_active Expired
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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EP0004330A1 (de) * | 1978-03-22 | 1979-10-03 | Agfa-Gevaert AG | Verfahren und Vorrichtung zur berührungslosen kontinuierlichen Messung und Überwachung von Magnetspuren auf bewegten Filmbändern |
DE3739436C1 (de) * | 1987-11-20 | 1989-03-30 | Sick Optik Elektronik Erwin | Optisches Lochsuchgeraet |
DE4024258A1 (de) * | 1989-08-02 | 1991-02-14 | Asmo Co Ltd | Verfahren und vorrichtung zum beseitigen der dynamischen unwucht an rotationskoerpern |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2146947B2 (de) | 1979-08-16 |
DE2146947C3 (de) | 1980-10-23 |
CH543088A (de) | 1973-10-15 |
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