DE2104903A1 - Interferometer Dickenlehre - Google Patents
Interferometer DickenlehreInfo
- Publication number
- DE2104903A1 DE2104903A1 DE19712104903 DE2104903A DE2104903A1 DE 2104903 A1 DE2104903 A1 DE 2104903A1 DE 19712104903 DE19712104903 DE 19712104903 DE 2104903 A DE2104903 A DE 2104903A DE 2104903 A1 DE2104903 A1 DE 2104903A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- energy
- detector
- devices
- path
- moving
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21B—ROLLING OF METAL
- B21B38/00—Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product
- B21B38/04—Methods or devices for measuring, detecting or monitoring specially adapted for metal-rolling mills, e.g. position detection, inspection of the product for measuring thickness, width, diameter or other transverse dimensions of the product
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Patentanwalt
Grose
D-0023 ;αμΖ - PuHoch
Wl«*-*2.T.MdiB.793J57O7«i7j2
Wl«*-*2.T.MdiB.793J57O7«i7j2
57O.7«i7j2
DB/au München-Pullach, 2. Februar 1971
BRITISH STEEL CORPORATION, eine Gesellschaft nach den Bestimmungen
des "Iron & Steel Act 1967", 33, Grosvenor Place, London, S.W. 1, England
Interferometer-Dickenlehre
Die Erfindung betrifft das Messen von Werkstückabmessungen und insbesondere eine Vorrichtung zum Messen einer Abmessung
eines sich bewegenden Werkstückes, das in Berührung mit einer sich bewegenden Bezugsfläche angeordnet ist.
Ein Gegenstand der Erfindung ist eine Vorrichtung zum Messen einer Abmessung eines sich bewegenden Werkstückes, das
in Berührung mit einer sich bewegenden Bezugsfläche angeordnet ist, welche eine Quelle einer Breitband-Strahlungsenergie
aulweist, Vorrichtungen, um einerseits die Energie längs eines Pfades zu leiten, welcher die Bezugsfläche einschließt,
von der die auftreffende Strahlung in Richtung eines Detektors
reflektiert wird, und um andererseits die Energie getrennt längs eines zweiten Pfades zu leiten, welcher die
Oberfläche eines Werkstückes einschließt, von der die auftreffende Strahlung gleichfalls in Richtung des Detektors
reflektiert wird, und einstellbare Steuervorrichtungen aufweist, um die Pfadlängen auszugleichen, wodurch die Gesamtenergie
der beiden Pfade am Detektor in Phase ist und die Einstellung der Steuervorrichtung ein Maß für die Werkstücksdicke
darstellt.
109834/1126
Da das Werkstück in Berührung mit der Bezugsfläche steht, wird jegliche Bewegung der Bezugsfläche, welche die Länge
des einen Pfades ändert, gleichfalls auch die Länge des zweiten Pfades ändern. Derartige Fehler aufgrund der Unregelmässigkeiten
oder Lageveränderungen der sich bewegenden Bezugsfläche können verkleinert werden.
Vorzugsweise liegt die Wellenlänge der Energie im Größen-
-■55 -4
bereich von 10 und 10 m, um eine spiegelnde Reflektion zu erzeugen und um die Streuung zu vermindern.
bereich von 10 und 10 m, um eine spiegelnde Reflektion zu erzeugen und um die Streuung zu vermindern.
Die beiden getrennten Pfade können von einem Strahlteiler divergieren, auf den in Betrieb die Strahlung von der Quelle
auftrifft. Der Strahlteiler kann zum Teilen der Energie
derart ausgebildet sein, daß ein Teil der aultreffenden Energie reflektiert und ein ^eil durch den Teiler hindurchgelassen
wird. Gleichfalls kann der Strahlteiler derart ausgebildet
sein, daß er die von der Bezugsfläche und der Werkstücksoberfläche reflektierten Energien wieder zu einem gemeinsamen
Pfad in Richtung des Detektors zusammenfasst.
Die einstellbaren Steuervorrichtungen sind vorzugsweise derart ausgebildet, daß zum Ausgleich nur eine der Pfadlängen
eingestellt wird.
Die einstellbaren Steuervorrichtungen weisen vorzugsweise eine Reflektorfläche und Vorrichtungen zum Hin- und Herbewegen
dieser Reflektorfläche auf. Somit kann ein Pfad,in dem die Reflektorfläche liegt, folgeabhängig verlängert und
verkürzt werden, wodurch die gesamte Energie wiederholt vorübergehend am Detektor in Phase ist.
109834/1126
Tn oiner besonders bevorzugten Ausführungsform der Erfindung
ist ein linearer Umformer zur Erzeugung eines die Bewegung
der Rpf1ektorflache repräsentierenden Ausgabesignales für
eine* Koordinateneingabe eines X-Y Auinahmegerätes oder Anzeigegeräte s ausgebildet, wobei der Detektor zur Erzeugung
pines die von dem Detektor.empfangene Energie repräsentierenden Ausgabesignales für die andere Koordinateneingabe
nusrohildet 1st.
nie erfindungsgpmässe Vorrichtung ist vorzugsweise derart
ausgebildet und angeordnet, daß die Abmessung eines sich
kontinuierlich bewegenden Werkstückes gemessen wird und ist
in dieser .-usführungsform von besonderem Nutzen beim Erfassen
der Blechstärke oder Dicke eines Metalibandes (z.B. Bandstahl in einem Walzwerk). Die Bezugsfiäche kann die gewölbte
Oberfläche einer Walze sein, über welche beim Betrieb das Metallband läuft, ,'!weckdienlicherwei se ist diese Walze eine
Teitv/rOze ("bill}1" roll") an der Wickelstation. Ein Vorzug
der Erfindung besteht darin, daß jegliche Exzentrizität der Drehbewegung der Walze keine Wirkung auf die Meßgenauigkeit
hnt, da die Längen der beiden Pfade - Bezugsfläche und Werkstück
- sich um die gleiche Größe ändern.
Es ist nun möglich, daß die Wölbung der Walze und des Metall bandes
die Meßgenauipkeit ungünstig beeinflussen und es können,um
diese Wirkung auszugleichen, Vorrichtungen vorgesehen
sein, \im die auf jede der Flächen geleitete Energie in den
,jeweiligen Wölbtuigsachson der entsprechenden Flächen zu bündeln.
Diese Vorrichtungen zum Bündeln weisen vorzugsweise gewölbte Reflektorflächen aui.
Im folgenden werden zwei Ausführungsformen der Erfindung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen, in denen diese beispielhaft
veranschaulicht sind, näher erläutert. Rs zeigt:
Figur 1 die schematische Seitenansicht der Wickelstation
einer Dressierwalzstrasse;
Figur ? die schematische Ansicht- der erfindung.sgemässpn
Meßvorrichtung und
Figur 3 eine schemati sehe Ansicht einer anderen Ausführungsform
der in Fj gur 2 veranschaulichten Vorrichtung.
In Figur 1 tritt ein Stahlband 1 aus einem Paar von Arbeitswalzen 2 aus und läuft fiber die Oberfläche einer Leitwal zn
3. ehe» es aui einer frule U aufgewickelt wird. Oberhalb der
LeHwalze 3 ist die erfindungßgemässe Ileiivor richtung 5 angeordnet.
In Figur 2 weist die Meßvorrichtung eine Quelle 7 einer
Breitband-Strahlungsenerfrio, z.B. eine Oueckpilberdampflampe
auf, die im Brennpunkt einer, Linsensystemen 8 derart
angeordnet ist, daß aus diesem ein Strahl paralleler Strahlen austritt. Dieser Strahl trifft auf einen Strahlteiler
9» z.B. einem gedehnten Film aus Plastikmateria], wie z.B. Polyäthylen - Terephthalat, auf und ein Teil der
Energie tritt direkt durch, während der Rest davon reflektiert wird. Der reflektierte Strahl trifft auf einen Spiegel
10 auf, von welchem er reflektiert wird, um in der Normalen auf die Oberfläche der Leitrolle 3 aufzutreffen, so
daß diese Energie anschließend längs des gleichen Pfades
109834/11?Π
zurück zu dem Strahlteiler zurückgeleitet wird. Auf gleiche
Weise trifft der direkte Strahl auf einen Spiegel 11 auf, von welchem er reflektiert wird und in der· Normalen auf die
Oberfläche des Stahlbandes 1 auftrifft, so daß diese Energie gleichfalls längs des gleichen Pfades zu dem Strahlteiler
zurückgeleitet wird.
Am Stehlteiler wird die von den beiden Pfaden zurückkehren- '
de Energie wieder zusammengefaßt und durch ein Linsensystem 12 zu einem im Brennpunkt dieses Systemes liegenden Golay-Detektor
13 geleitet.
Nur wenn beide Pfadlängen gleich sind, wird die Maximalausgabe von dem Detektor erreicht, da nur unter diesen Umständen
alle verschiedenen Wellenlängenbestandteile der Quelle am Strahlteiler in Phase wieder zusammengefaßt werden.
Um die Pfadlänge ver-ändern zu können, ist der Spiegel 11 in Richtung der Normalen zu seiner ebenen Fläche hin- und
herbeweglich. Dies wird durch eine Übertrager/Umformereinheit
14 durchgeführt, wobei die Fortschreitungsbewegung durch eine Motor-getriebene Nocke und der Grad der Bewegung
durch einen linearen induktiven Umformer überwacht wird. Die Anordnung ist derart, daß der sich hin- und herbewegeüde
Spiegel während jedes Hubes die Nullage der Pfadlängendifferenzen durchläuft. Somit wird um den Maximalenergiezustand
gleicher Pfadlängen eine Abtastbewegung erzeugt. Eine erfaßbare Änderung der empfangenen Signalstärke tritt
nur in Nähe des Zustandes in Phase auf, d.h. wo die Pfadlängendifferenz gleich Null ist. Dies stellt tatsächlich eine
Form der Phasenmodulationabtastblendung dar.
109834/1126
Am "feststehenden" Spiegel 10 kann eine Mikrometereinstellung vorgesehen sein, um Bänder von im weiten Bereich verschiedenen
Blechstärken zu berücksichtigen, so da8 dieser in der Normalen zu seiner ebenen Fläche bewegt werden kann und somit
voreingestellt werden kann für Jede gewählte Pfadlänge.
Die tatsächliche Banddicke wird durch die Abtastbewegung bestimmt und um diese aufzunehmen, wird das Ausgabesignal des
Umformers an ein X-Y Aufnahmegerät oder Aufzeichnungsvorrichtung 15 (z.B. eine Kathodenstrahlröhre) angeschlossen. Diese
Ausgabe erzeugt eine Abtastung längs der X-Ordinate , während die Ausgabe der Golay-Zelle 13 an den Y-Eingang des Aufnahmegerätes
angeschlossen wird. Auf dem Bildschirm 16 dieses Aufnahmegerätes ist eine typische Spur veranschaulicht.
Die X-Ordinate ist in Dickenabmessungen geeicht, z.B. von
Null bis 0,050 ", so daß eine kontinuierliche Anzeige dieses Parameters während des gesamten Walzvorganges gewährleistet
ist. Alternativ dazu kann anstelle dieser direkten Dickenanzeige die Abweichung einer Standarddicke angezeigt
werden. Jegliche Veränderung der Banddicke kann dann durch Einstellung der Arbeitswalzen 2 korrigiert werden.
Bei der beschriebenen Vorrichtung können die verwendeten Strahlen eine Dicke von z.B. 2,5 oder mehr cm im Durchmesser
haben und da die Flächen der Leitrolle und des Stahlbandes gewölbt sind, können dadurch gewisse Ungenauigkeiten
in den erfolgten Ablesungen auftreten. Um dies auszugleichen, werden vorzugsweise zusätzliche Spiegel in die beiden Pfade
eingefügt.
109834/1126
Diese zweite Ausführungsform der Erfindung ist in Figur 3
veranschaulicht, in der zwei zusätzliche Spiegel 17, 18 angeordnet
sind, wobei die anderen Bestandteile der Vorrichtung mit den gleichen Bezugszeichen, wie in Figur 1 und 2,
bezeichnet sind. Die Spiegel 17, 18 sind im entgegengesetzten Sinn, wie die Leitrolle und das Band, gewölbt und bündeln
somit "optisch" die Energie auf der Achse der Leitrolle, um die sonst auftretenden Ungenauigkeiten auszugleichen. Bei
dieser Anordnung sind weiterhin im Vergleich mit Figur 2 die Einfallwinkel verkleinert, so daß folglich dadurch auch die
Neigung des Strahles aus der Parallelität zu streuen verringert
wird.
Wie bereits zuvor erwähnt, wird jegliche Exzentrizität der Leitrolle bei der erfindungsgemassen Vorrichtung selbst
kompensiert, da die Beziehung zwischen den beiden Pfadlängen unverändert bleibt. Weiterhin werden die Messungen aus
den gleichen Grund nicht durch Vibrationen der Walzstrasse beeinflußt.
Hinzu kommt, daß die erfindungsgemässe Vorrichtung prinziniell
unempfindlich fegen unerwünschte sichtbare und Infrarotstrahlung ist, da das Linsensystem vorzugsweise aus Polyäthylen
oder anderem Plastikmaterial geformt ist. Weiterhin ist in einem Plastikfilmfilter vor dem Golay-Zellendetektor
Russ einimprägniert und ein Quarzfenster vor diesem Detektor tewirkt eine weitere Filterung.
Mit der erfindungsgemassen Vorrichtung können Genauigkeiten
in der Größenordnung von 0,0025 mm oder besser leicht er*
Eicht werden, vorausgesetzt, daß das Band während des Walzvorganges dicht gegen die Oberfläche der Leitrolle gehalten
bleibt.
109 8-3 4/1126
Die Erfindung ist nicht beschränkt aui die spezielle veranschaulichte
Ausführungsform und es können verschiedene Veränderungen leicht durchgeführt werden, ohne vom Grundgedanken
der Erfindung abzuweichen. Z.B. können neben dem Messen von Stahlband,auf das in der vorangegangenen Beschreibung
bezug genommen wurde, andere Materialien im Bewegungszustand gemessen werden, z.B. Glas, Eisenglas, plastische
Schichtstoffe, usw. Weiterhin können stufenartige Veränderungen
der Werkstückabmessungen von sich bewegenden Werkstückströmen
usw. gleichfalls leicht ermittelt werden.
Weiterhin können andere Strahlungsouellen, als die veranschaulichte
Quecksilberdamp:rhoohdr*uoklampe Verwendung
finden, z.B. eine Quarz,] odnrn,-u?ktorlampe. Gleichfalls können
andere Detektoren angewendet verden, z.B. ein pyroelektrischer
Raumtemperaturdetoktor, der A't, bei den1 ein
dünnes Kristall -ms Triglycinsulfat oder anderem ferroelektrischem
Material els Fühlelement verwendet wird. Ausserdem
können abweichende Formen der T'eßwertaufnahme ,z.B.
ein Meßwertschreiber oder ein Direktanzeiger mit digitaler
Leuchtanzeige verwendet werden.
Die beschriebene und veranschaulichte Ausführungπform der
Vorrichtung stellt eine wesentliche Verbesserung im Vergleich mit anderen Banddickenmeßvorrichtungen, die geeignet
sind, bei bewegtem Gut Verwendung zu finden, dar, z.B. ein Wandermikrometer oder Vorrichtungen zum tJbertragen radioaktiver
Strahlung durch das Band und dem Messen der \'eränderungen
der Absorption. Die erfindungsgemässe Vorrichtung ist sowohl billiger als auch wesentlich bequemer anzuwenden,
als die bekannten Vorrichtungen und hat darüber hinaus kein Strahlenrisiko, wie die zuletzt beschriebene Vorrichtung.
1098 3
BAD ORfGfNAL
BAD ORfGfNAL
Sämtliche in der Beschreibung erkennbaren und in den Zeichnungen dargestellten technischen Einzelheiten sind für die
Erfindung von Bedeutung.
1 0 9 3 3 Λ / 1 l ι f>
Claims (11)
1.) Vorrichtung zum Messen einer Abmessung eines sich bewegenden
Werkstückes,das in Berührung mit einer sich bewegenden Bezugsfläche angeordnet ist, gekennzeichnet
durch eine Quelle (7) einer Breitband-Strahlungsenergie; Vorrichtungen (8, 9, 10, 11), um einerseits die Energie längs
eines Pfades zu leiten, welcher die Bezugsfläche (3) einschließt, von der die auftreffende Strahlung in Richtung
eines Detektors (13) reflektiert wird, und um andererseits
die Energie getrennt längs eines zweiten Pfades zu leiten, welcher die Oberfläche eines Werkstückes (1) einschließt,
von der die auftreffende Strahlung gleichfalls in Richtung
des Detektors (13) relektiert wird; und durch einstellbare
Steuervorrichtungen (14), um die Pfadlängen auszugleichen, wodurch die Gesamtenergie der beiden Pfade am Detektor (13)
in Phase ist und die Einstellung der Steuervorrichtung (14) ein Maß für die Werkstücksabmessung darstellt.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Quelle (7) derart ausgebildet ist, daß sie eine Breitband-Strahlungsenergie
mit einer Wellenlänge in dem Größen-
-3 -4
bereich von 10 J bis 10 m erzeugt.
bereich von 10 J bis 10 m erzeugt.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Leitvorrichtungen (8, 9, 10, 11) einen Strahl
lungsteiler (9) aufweist, auf den in Betrieb die Energie auftrifft und von dem die beiden Pfade divergieren.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlungsteiler zum Teilen der Energie derart ausgebildet
ist, daß ein Teil der Energie reflektiert und ein Teil durch den Teiler (9) hindurchgeiassen wird.
109834/11?ß
5. Vorrichtung nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlteiler (9) derart ausgebildet ist, daß er
die von der Bezugsfläche (3) und der Werkstücksoberfläche (1) reflektierten Energien wieder zu einem gemeinsamen Pfad
in Richtung des Detektors (13) zusammenfasst.
6. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorangegangenen
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die einstellbaren Steiiervorrichtungen (14) zur Einstellung nur einer der Pfadlängen
zum Ausgleich ausgebildet sind.
7. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die einstellbaren
Steuervorrichtungen (14) eine Reflektorfläche (11) und Vorrichturjcpn
zum Hin- und Herbewegen dieser Reflektorfläche (11) aufweisen.
8. Vorrichtung nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die einstellbaren Steuervorrichtungen
(14) eine Reflektorfläche (11) und Vorrichtungen (14) zum Hin- und Herbewegen der Fläche (11) aufweisen, um
den Pfad,in dem die Reflektorfläche (11) liegt, folgeabhängig zu verlängern und zu verkürzen, wodurch die gesamte Energie
am Detektor wiederholt vorübergehend in Phase ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß ein linearer Umformer (14) zur Erzeugung eines die Biegung
der Reflektorfläche (11) repräsentierenden Ausgabesignales für eine Koordinateneingabe eines X-Y-Aufnahmegerätes oder
Aufzeichnungsvorrichtung (15) ausgebildet ist, wobei der Detektor (13) zur Erzeugung eines die von dem Detektor (13)
empfangene Energie repräsentierenden Ausgabesignales für die
10983W1126
-IP -
andere Koordinateneingabe ausgebildet ist.
10. Vorrichtung nach einen odor mehreren der verarmei
Ansprüche zum Hessen der 'jer«nnten Abmessung, vprn die npzup"·
fläche und die Wer!:stüokr;ehr>"f ] i'ohe gewölbt sind, duuren gewölbt
sind, dadurch geH-'τzvi chnet, d°ß Vorrichtungen (17.
T^) zum Bündein der auf Ac*p der Flächen (1, *) /re] oii.ete?"1
Energie in den ,jeweiligen "("TVun^pachr-en der entpprecrenden
Flächen (1, 3) vorpepehen ."ind,
11. Vorrichtung nach /-nspruch "1^, dndurch rek
daii die Vorrichtxingeri (17, ι«]1 ?_\νη ^'"ndelr o-r-wölbter T'e
flektorflächen (17, 1«) ^n^'M'pen.
\?, Vorrichtung nach ^irr-in 'Xie" n^l-reren der voranT^
Ansprüche, dadurch «reJ'ennr'**'-hnet, daß Fi e de^a^t .au
det und angeordnet 1r.t, *p(: ('in Ab^e'-«-unp· o^^py rirl·
h bewegenden "oHirvMfi'pp fi^
^. Vorrichtung nach /i?iorrur!· '", dadtircb
^ß da.s T'.rerkstücic M) eir "(i+r.i iV.?ri ^) urd ^i
Dicke ist.
1^. Vorrichtung nach /nsprucl· ^", dadvrch gekennzeichnet,
daß die Bezugsfläche (3) die rewölbte Fläche einer WaJze
(?) ist, über welche bein Betrieb das f'etaxlbar.u (1) I^
ORIGINAL
Leersei te
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB618170 | 1970-02-09 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2104903A1 true DE2104903A1 (de) | 1971-08-19 |
Family
ID=9809886
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19712104903 Pending DE2104903A1 (de) | 1970-02-09 | 1971-02-03 | Interferometer Dickenlehre |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2104903A1 (de) |
FR (1) | FR2078325A5 (de) |
GB (1) | GB1337273A (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2946122A1 (de) * | 1978-11-16 | 1980-06-04 | Rockwell International Corp | Vorrichtung zum messen der dicke eines farbfilms |
DE3701558A1 (de) * | 1987-01-21 | 1988-08-04 | Buehler Ag Geb | Vorrichtung zum bestimmen der schichtdicke |
DE3843300A1 (de) * | 1987-12-23 | 1989-07-13 | Karl Veit Holger Dr Ing | Messvorrichtung zur bestimmung der dicke von folien |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2842670A1 (de) * | 1978-09-29 | 1980-04-10 | Siemens Ag | Verfahren zum ermitteln der dicke von baendern, welche ueber walzen bewegt werden |
GB201000775D0 (en) | 2010-01-18 | 2010-03-03 | Stfc Science & Technology | Interferometer spectrometer |
CN102641962A (zh) * | 2012-05-09 | 2012-08-22 | 尹中平 | 组合式加固板打孔位置放样定位支架组件 |
-
1971
- 1971-02-03 DE DE19712104903 patent/DE2104903A1/de active Pending
- 1971-02-08 FR FR7104105A patent/FR2078325A5/fr not_active Expired
- 1971-04-19 GB GB1337273D patent/GB1337273A/en not_active Expired
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2946122A1 (de) * | 1978-11-16 | 1980-06-04 | Rockwell International Corp | Vorrichtung zum messen der dicke eines farbfilms |
DE3701558A1 (de) * | 1987-01-21 | 1988-08-04 | Buehler Ag Geb | Vorrichtung zum bestimmen der schichtdicke |
DE3843300A1 (de) * | 1987-12-23 | 1989-07-13 | Karl Veit Holger Dr Ing | Messvorrichtung zur bestimmung der dicke von folien |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1337273A (en) | 1973-11-14 |
FR2078325A5 (de) | 1971-11-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2819395C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Breite von Walzerzeugnissen | |
DE3642377A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur abmessung der dicke einer folien- oder blattartigen materialbahn | |
DE3045319A1 (de) | Vorrichtung zum messen bestimmter ausgewaehlter eigenschaften einer bewegten bahn | |
DE2340028A1 (de) | Einrichtung zur roentgenstrukturuntersuchung | |
DE2151709A1 (de) | Vorrichtung zum Messen der Stellung eines Tisches unter Verwendung von Interferenzstreifen | |
DE2316083C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Steuern des Auftragens einer bestimmten ölmenge auf eine sich fortlaufend bewegende Materialbahn | |
DE2935716A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum messen der dicke eines films durch ausnutzung von infrarot-interferenzerscheinungen | |
DE2421299A1 (de) | Verfahren und anordnung zur messung der optischen opazitaet | |
DE2618906A1 (de) | Durchstrahlungsdickenmessvorrichtung | |
DE2602158C3 (de) | ||
DE2104903A1 (de) | Interferometer Dickenlehre | |
DE2401113A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur kontaktlosen messung einer laengenabmessung eines eine hohe temperatur aufweisenden materials | |
DE2620330C2 (de) | Verfahren zur Bestimmung der geometrischen Form eines Körpers | |
DE102013017288A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Justieren eines Paars mittels elektromagnetischer Strahlung messender Messköpfe | |
DE102009015627B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zu Bestimmung von Innendurchmesser, Außendurchmesser und der Wandstärke von Körpern | |
DE3012811C2 (de) | Meßwandler, insbesondere zur digitalen Kraftmessung | |
CH298170A (de) | Vorrichtung zum berührungslosen Messen der Dicke von bandförmigem Gut, insbesondere zur laufenden Messung der Banddicke von sich bewegendem Walzgut. | |
DE1648748C3 (de) | Verfahren zum Prüfen eines Stuckes aus gleichmäßig vorgespanntem Glas | |
DE1229739B (de) | Vorrichtung zur kontinuierlichen Bestimmung des Durchmessers eines duennen Drahtes | |
DE2546164A1 (de) | Detektor fuer infrarotanalysator | |
DE1698084A1 (de) | Temperaturabfuehlung bei Infrarotstrahlung mittels Reflektor zur Messung von Materialien duenner Schichten | |
EP0600048A1 (de) | Verfahren zur messung von relativen winkeln | |
DE3327267A1 (de) | Vorrichtung zur messung der wandstaerke eines rohrfoermigen teils | |
DE2453424B2 (de) | Geraet zur analyse der polarisationseigenschaften einer probe | |
DE3600199A1 (de) | Verfahren zum ermitteln optischer fehler in scheiben aus transparentem material |