DE2104265C2 - Vorrichtung zur Erzeugung eines einen Prüfkörper-Oberflächenprofil-Parameter representierenden elektrischen Signals - Google Patents
Vorrichtung zur Erzeugung eines einen Prüfkörper-Oberflächenprofil-Parameter representierenden elektrischen SignalsInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Bei der Durchführung von Oberflächenprofil-Messungen
an einem zu prüfenden Körper längs einer Linie in vorgegebener Richtung erhält man Ergebnisse in
Form einer Reihe von Werten einer abhängigen Variablen (Höhe gegenüber einer Bezugshöhe), weiche
vorgegebenen Werten einer unabhängigen Variablen (Meßort) zugeordnet sind. Die Ergebnisse können
grafisch oder in Form einer Tabelle dargestellt werden, wobei jeweils der Wert der abhängigen Variablen für
konstante Schritte der unabhängigen Variablen darge-
jo stellt sind. Die so erhaltenen Daten können zyklische
Änderungen oder regellose Schwankungen der abhängigen Variablen enthalten. Im allgemeinen treten beide
Änderungsarten gleichzeitig auf.
Um einen Vergleich zwischen unterschiedlichen Datengruppen durchführen zu können, werden sie
zweckmäßigerweise einer statistischen Analyse unterworfen. Zur vollständigen Kennzeichnung der Abhängigkeit
einer Variablen von e'tfier armieren Variablen
kann die Autokorrelationsfunktion dienen. Sie wird durch die folgende Beziehung bestimmt:
Φ (r)
lim —
r)dt
Die Autokorrelationsfunktionsbildung kann jedoch nicht mit einfachen Instrumenten durchgeführt werden,
so daß ein anderer Parameter gesucht werden muß. der die gewünschte Kennzeichnung des Oberflächenprofils
ermöglicht.
Häufig wird bei der Auswertung von Oberflächenprofil-Messungen ein Mittelwert ermittelt, der das arithmetische
Mittel der Profilhöhen gegenüber der Bezugshöhe angibt. Ein solcher Mittelwert kann mit einfachen
Instrumenten erhalten werden und wird allgemein zum Vergleich ähnlicher Flächenprofile verwendet.
Nach der DE-AS 12 84 097 beispielsweise ist es bekannt, einen mittleren Profilwert einer Oberfläche
durch Integration über eine Länge zu erhalten. Das erzeugte Signal hängt nur von Variationen in der
Profilhöhe ab. nicht aber von der Variation der Neigung der Flanken der einzelnen Spitzen des Profils über die
Abtastlänge. Die Variationen der Neigung sind an die Wellenlänge der Profilspitzen gekoppelt und an die
Häufigkeit, mit der solche Spitzen auftreten. Zur Erläuterung sei beispielsweise angenommen, daß das
Profil über die Abtastlänge nur eine schmale Spitze
aufweist, so daß die mittlere Profilhöhe, die durch Integration über die Abtastlänge gewonnen wird,
praktisch gleich der mittleren Profilhöhe eines Profils ist, welches eine Vielzahl von schmalen Spitzen, alle von
der gleichen Höhe, hat. Eine Unterscheidung unterschiedlicher Oberflächen durch einen Parameter,
welcher auch Aufschluß über die Rauhigkeit und Welligkeit der Oberfläche gibt, ist beispielsweise für die
Fertigungskontrolle von großer Bedeutung.
Die Aufgabe der Erfindung liegt darin, eine Vorrichtung der eingangs genannten Art bereitzustellen,
welche, bei einfachem Aufbau, ein elektrisches S Signal abgibt, weiches einen die Rauhigkeit, Welligkeit,
Formfehler oder dergl. der Oberfläche des zu prüfenden
Körpers charakterisierenden Parameter repräsentiert.
Diese Aufgabe wird durch die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 in Verbindung mit den
Merkmalen des Oberbegriffs gelöst Das gemäß der Erfindung erzeugte Ausgangssignal hängt sowohl vom
Mittelwert der Profilhöhe ab, als auch vom mittleren Differentialquotienten der Profilhöhe. Mit diesem
Ausgangssignal sind Profilformen zu unterscheiden, die mit dem nach der DE-AS 12 84 097 erzeugten
Ausgangssignal nicht zu unterscheiden sind, insbesondere nach Rauhigkeit, Welligkeit und Formfehler des
Oberflächenprofils.
Aus der Zeitschrift »Werkstatt-Technik« 1965, Heft 7, Seite 329—331 ist es bekannt, eine Linie der
Mittelrauhwerte, die sog. Referenzlinie, aus der abgetasteten Profilkurve zu ermitteln oder während des
Abtastens mit zwischengeschalteten Wellenfiltern aufzuzeichnen. Um zwei Oberflächenprofile in einfacher
Weise durch Parameterwerte miteinander vergleichen zu können, bedarf es noch einer entsprechenden
Auswertung der ermittelten Referenzlinien beider Oberflächenprofile.
Aus der »Zeitschrift für Instrumentenkunde« 1967, Heft 9, Seite 280-290 ist ein Zählgerät für die
Ermi.tlung der Anzahl der Riefen eines Oberflächenprofils bekannt, welches, unter Verwendung von
Reinschaltungen von Tief- und Hochpaßfiltern, -die Riefenzählung in Abhängigkeit von der Riefenamplitude
sowie der Riefenabstände erlaubt. Man erhält eine Vielzahl von Meßwerten, welche einer Auswertung
bedürfen, um einen praktikablen Vergleich zwischen unterschiedlichen Oberflächenprofilen zu ermöglichen.
Erfindungsgemäß erhält man dagegen einen einzigen, vom elektrischen Signal repräsentierten Parameter,
welcher den unmittelbaren Vergleich zwischen verschiedenen Oberflächenprofilen erlaubt. Dieser Parameter
entspricht einem mittleren Wellenlängenindex der Oberflächenprofilform.
In den Unteransprüchen sind vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung angegeben.
Die Erfindung wird im folgenden an einem bevorzugten Ausführungsbeispiel an Hand der Zeichnung
erläutert. Es zeigt
Fig. 1 das Blockschaltbild einer Meßanordnung zur
Messung des mittleren Wellenlängenindex des Profils einer Oberfläche,
Fig.2 die Darstellung eines der Rauhigkeit einer Fläche entsprechenden Signals, das mit einem Teil der in
F i g. 1 gezeigten Anordnung erzeugt ist,
F i g. 3 eine Darstellung eines Signals, das durch einen
quadratischen Gleichrichter aus dem in F i g. 2 gezeigten Signal erhalten wird,
F i g. 4 eine Darstellung eines Signals, das durch eine Differenzierschaltung aus dem in F i g. 2 gezeigten
Signal erhalten wird,
F i g. 5 eine Darstellung eines Signals, das durch einen Doppelweggleichrichter aus dem in Fig.2 gezeigten
Signal erhalten wird,
j Fig.6 das Blockschaltbild einer anderen Ausführungsform
einer Anordnung zur Messung des mittleren Wellenlängenindex des Profils einer Oberfläche,
Fig.7 das Blockschaltbild einer weiteren Ausführungsform
zur Messung des mittleren Wellenlängenin-Hi dexund
Fig.8 eine Darstellung eines Signalverlaufs zur Erläuterung von Unterschieden der in Fig.6 und 7
gezeigten Anordnungen.
In F i g. 1 ist ein Meßstift an einem Arm 1 dargestellt, er steht in Kontakt mit einer zu prüfenden Fläche S. Ein
weiterer Arm dieser Anordruing trägt ein weichmagnetisches
Element, das so bewegbar ist, daß es die Induktivität zweier symmetrischer Spulen differenziell
ändert, die einen Wandler 2 bilden. Die Meßstiftanord-
2<> nung und der Wandler können gemeinsam parallel zur
zu prüfenden Fläche bewegt werden, dabei folgt der Meßstift dem Profil bzw. der Rauhigkeit der Oberfläche.
Die Bewegungen der Schreibstiftspitze senkrecht zur
zu prüfenden Fläche ändern die Induktivität der
2j \Vandlerspulen. Diese sind in einer Differentialschaltung
angeordnet und werden von einem Oszillator 3 mit einer sinusförmigen Signalspannung gespeist. Die an
den Spulen erscheinenden Aus^angssignale hängen von der sich ändernden Induktivität ab und werden zur
jo Erzeugung eines Trägersignals mit ausgeglichener
Modulation oder Doppelmodulation kombiniert.
Die Signale werden mit einem Verstärker 4 verstärkt und mit einem Phasendetektor 5 demoduliert. Das sich
ergebende Profilsignal enthält zu diesem Zeitpunkt Komponenten entsprechend einer Verlagerung (eine
mittlere Versetzung, bestimmt durch die absolute Lage der Meßstiftspitze), einem Formfehler (Abweichung von
einer vorgegebenen Oberfläche) und einer Weliigkeit (periodische Schwankungen) sowie einer Rauhigkeit
to (die auszuwertende Mikrotextur). Die unerwünschten Komponenten werden ausgesondert, indem das Signal
durch ein Hochpaßfilter 6 geleitet wird, dessen Übergangsfrequenz entsprechend gewählt ist.
Das aus dem Hochpaßfilter erhaltene Signal ist in F i g. 2 dargestellt. Es stellt einen dem Profil der
Oberflächenrauhigkeit analogen Verlauf dar und besteht nur aus Wechselkcmponenten, die als Fourierkomponenten
abgeleitet werden können, indem eine Transformation des Rauhigkeitssignals durchgeführt
wird.
Aus noch zu beschreibenden Gründen wird das Profilsignal durch ein Tiefpaßfilter 7 geleitet, dessen
Übergangsfrequenz ungefähr sechs Oktaven über derjenigen des Hochpaßfilters 6 Iiigt. Dann wird das
Signal in einem quadratischen Gleichrichter 8 g.'eichgerichtet, innerhalb einer vollständigen Bewegung des
Meßstiftes integriert und in einen Speicher 9 eingespeichert. Die Amplitude des gespeicherten und integrierten
Signals kann an einem Anzeiger 10 dargestellt werden, der bei quadratischen Anzeigeeigenschaften den quadratischen
Mittelwert der Profilamplitude anzeigt (F ig. 3).
Das aus dem Tiefpaßfilter 7 erhaltene Rauhigkeitssignal wird ferinir einem Differenzierer 11 zugeführt und
gelangt dann zu einem quadratischen Gleichrichter 12. Das differenzierte Profilsignal ist in F i g. 4 dargestellt.
Das gleichgerichtete Signal wird einer Integrator- und Speicherschaltung 13 zugeführt, der sich ergebende
Integralwert kann als mittlerer Quadratwert oder
quadratischer Mittelwert mit einem Anzeiger 14 angezeigt werden.
Die integrierten Signale der Speicher 9 und 13 werden jeweils einer Teilerschaltung 15 zugeführt,
deren Ausgangssignal auf einen Anzeiger 16 gelangt, der eine quadratische Anzeige liefert und den aus der
Teilung erhaltenen Wert als den Abstandsindex des Oberflächenprofils angibt.
Wird als Teilerschaltung ein logarithmischer Generator mit zwei Eingangsgeneratoren, einer Subtraktionsschaltung und einem antilogarithmischen Ausgangsgenerator verwendet, so wird vorteilhaft eine Wurzelziehung durchgeführt. Diese kann in einfacher Weise
durch Einfügung des Verstärkungsfaktors 1/2 in oder hinter der Subtraktionsschaltung entsprechend der
folgenden Beziehung erfolgen:
Die Einfügung der Wurzelziehung ermöglicht die Anwendung einer Anzeigevorrichtung mit linearen
Eigenschaften.
Ein weiterer Vorteil kann bei einem logarithmischen Teuer erhalten werden, der die Maßstäbe für die
Anzeige des quadratischen Mittelwerts der Amplitude und des quadratischen Mittelwerts der Steigung in
lineare Form umsetzen kann. Mit Schaltern 17 können die in den Speichern 9 und 13 gespeicherten und
integrierten Signale je nach Wunsch als Teilersignale der logarithmischen Teilerschaltung zugeführt werden.
Wenn die Schaltung die Ableitung der Quadratwurzeln ermöglicht, wird der Teilereingang gleichzeitig auf
einen Einheitswert zur Anzeige des quadratischen Mittelwerts der Amplitude oder des quadratischen
Mittelwerts der Steigung geschaltet.
F i g. 6 zeigi das Blockschaltbild einer Anordnung zur
Messung der mittleren Wellenlänge eines Rauhigkeitsprofils. Diese Anordnung stimmt fast mit der in Fig. 1
gezeigten überein, jedoch sind anstelle von Schaltungen zur Bildung des quadratischen Mittelwertes Schaltungen zur Bildung des mittleren Moduls verwendet. Die in
F i g. 6 gezeigte Schaltung erzeugt einen Wert für die mittlere Wellenlänge, der dem mit der in F i g. 1
gezeigten Schaltung erzeugten Wert nahekommt gemäß der Beziehung:
gegenüber einem Nullwert sind. Der in F i g. 1 gezeigte quadratische Gleichrichter 8 ist in der in Fig.6
gezeigten Anordnung durch einen Doppelweggleichrichter 18 ersetzt. Das Ausgangssignal des Doppeiweg-
gleichrichters, der mit dem in Fig.2 gezeigten Profilsignal gespeist wird, ist in Fig.5 dargestellt.
Dieser Signalverlauf enthält die negativen Teile in invertierter Form als positive Teile, während das übrif e
Signal unverändert ist. Es kann auch eine umgekehrte
ίο Inversion durchgeführt werden. Ein Vergleich mit dem
in F i g. 3 gezeigten Signal des quadratischen Gleichrichters zeigt eine ähnliche Inversion der negativen Teile,
jedoch beeinflußt die quadratische Charakteristik den Signalverlauf, große Amplitudenteile werden »spitz«,
kleine Amplitudenteile werden »komprimiert«.
In ähnlicher Weise kann der mittlere Modul der Steigung
wobei mit χ der Abstand des momentanen Meßpunktes von einem Ausgangspunkt bezeichnet ist und mit f(x)d\e
Höhe des Oberflächenprofils gegenüber der Bezugshöhe. Es handelt sich dabei um eine Annäherung, die
jedoch ausreichend genau ist.
Man erhält auf diese Weise einen mittleren Wellenlängenindex, der zusammen mit der mittleren
Höhe bei der Messung der Oberflächendextur eine beständige Kennzeichnung der Rauhigkeit, der Welligkeit und des Formfehlers (Eigenschaften der Oberflächen-Topographie bei unterschiedlichen charakteristischer. Abständen) ermöglicht.
Die mittlere Höhe f(x) ergibt sich aus Integration von f[x) über den angenäherten Polygonzug und durch
Addieren der Ordmatenwerte von f(x) unabhängig davon, ob diese Ordinatenwerte positiv oder negativ
anstelle des quadratischen Mittelwerts verwendet werden, indem der quadratische Gleichrichter 12 der in
F i g. 1 gezeigten Anordnung in der in F i g. 6 gezeigten Weise durch den Doppelweggleichrichter 19 ersetzt
wird. Bei dt,- in F i g. 6 gezeigten Anordnung sind keine
quadratischen Maßstäbe oder Wurzelziehungen für die Anzeigen mit den Anzeigevorrichtungen 10, 14 und 16
erforderlich. Es sind nu.· lineare Skalen und ein einfacher
Divisionsvorgang für die Einheiten 10, 14, 16 und 15 nötig.
Eine der Digitaltechnik besser angepaßte Anordnung
kann zur Ableitung der mittleren Wellenlänge aus dem
Verhältnis der mittleren Amplitude des Profils und des
milderen Moduls der Steigung verwendet werden.
Die Steigung einer Kurve wird durch das Differential ihrer Amplitude angegeben und ist in erster Annäherung proportional der Anzahl vorbestimmter Schritte
Δί(χ) der Amplitude pro schrittweiser Zunahme des
Abstandes Δχ.
Die i η F i g. 7 gezeigte Anordnung leitet wie die in F i g. 1 und 6 gezeigten Anordnungen ein Profilsignal
durch einen Phasendetektor und durch ein Tiefpaß
sowie ein Hochpaßfilter.
Die mittlere Höhe wird wie bei der in Fig.6 gezeigten Anordnung mit einem Doppelweggleichrichter und einer Integrator- und Speicherschaltung 13
abgeleitet. Bei der in F i g. 7 gezeigten Anordnung
so werden jedoch Schritte der Funktion f(x) in Form gleichartiger Spannungsschritte in einem Bezugsspannungsgenerator 20 erzeugt, wobei jeder Span nungswert
einem Durchgangsdetektor 22 zugeordnet ist Die Durchgangsdetektoren geben Triggerimpulse ab. wenn
Durchgänge der einzelnen Spannungswerte festgestellt werden, und infolge der Proportionalität zwischen Zeit
und Abstand wird die Steigung in Form von Triggerimpulsen pro Zeiteinheit dargestellt-Bei der in
F i g. 8 gezeigten Anordnung werden die Bezugspegel
dem Signalverlauf über der Zeit überlagert. Ist die
treten sie mit geringer Folgegeschwindigkeit auf.
Impulsgeschwindigkeit integriert und gespeichert werden. Dies erfolgt vorteilhaft durch Zählung der
Triggerimpulse in dem Zähler 23.
die Bezugsspannungspegel nicht willkürlich gewählt. Die Anzeigevorrichtung mißt den Parameter \t(xj\, und
zur Bestimmung des Anzeigebereiches wird eine entsprechende Gruppe von Bezugsspannungswerten bis
zu ca. 3\f(xÄ mit dem Bereichsschalter 21 ausgewählt.
Der Teiler 15 ist eine Hybridschaltung mit Analog-Digital-Eigenschaften und enthält einen Verstärker mit
einem Eingangswiderstand R. der ein Ausgangssignal proportional MRC liefert, wobei G der Leitwert der
Schaltung 24 ist. Diese enthält besondere Meßwiderstände, die durch digitales Schalten mit dem Zähler 23
wirksam geschaltet werden. Das Ausgangssignal der Teiler- und Verstärkerschaltung ist ein Maß für die
mittlere Wellenlänge und wird mit einer Anzeigevorrichtung 16 mit linearer Skala dargestellt.
Der mittlere Modul der Höhe kann in üblicher Weise mit einem Anzeigegerät 10 mit linearer Skala
dargestellt werden. Die mittlere Steigung kann mit einem Anzeigegerät 14 angezeigt werden, das an die
Verstärker- und Widerstandsschaltung angeschaltet wird, welche in diesem Fall durch besondere Schaltmaßnahmen als Digital-Analog-Wandler geschaltet wird.
Der Zähler kann ferner eine numerische Anzeige der mittleren Steigung liefern.
Aus der Berechnung des Leistungsspektrums und der Korrelationsfunktionen einer großen Anzahl praktisch
bearbeiteter Flächen können viele Flächen in zwei Kategorien unterteilt werden, und zwar in eine
Verteilung erster Ordnung und eine Verteilung zweiter Ordnung. Abgenutzte und geschliffene Flächen haben
beispielsweise das Spektrum eines weißen Rauschens, das durch einen Abfall von ca. 6 dB pro Oktave auf hohe
Frequenzen begrenzt ist, während solche Flächen, die beispielsweise spanabhebend bearbeitet sind, eine
scharfe Spitze in einem Spektrum weitgehend regelloser Grundverteilung haben, die bei hohen Frequenzen
abreißt. Dies ist typisch für eine Verteilung zweiter Ordnung. Der Unterschied dieser Flächenart gegenüber
der periodischen Verteilung besteht in der Form der Amplitudenverteilung. Diese ist für einen Signalverlauf
zweiter Ordnung eine Gaußsche Verteilung, für den
ίο periodischen Verlauf jedoch nicht. Spanabhebend
bearbeitete Flächen können normalerweise in eine
und der periodischen Verteilung eingeordnet werden.
bestimmter Profile treten Schwierigkeiten auf, die z. B. durch scharfe Kanten erzeugt werden, welche einen
Signalverlauf mit vielen Harmonischen hervorrufen. In der Praxis hat sich gezeigt, daß man keinen aussagekräftigen Wert erhält, wenn die hochfrequenten Kompo-
nenten nicht mit einer Geschwindigkeit über 6 dB pro Oktave abfallen. Um dies zu gewährleisten, ist das
Tiefpaßfilter 7 in den beschriebenen Anordnungen vorgesehen.
Eine Filterung ist auch in praktischer Hinsicht nützlich, um Vibrationen und äußere Geräusche
fernzuhalten. Aus theoretischen Überlegungen ergibt sich, daß die optimale Übergangsfrequenz des Tiefpaßfilters ca. 50- bis lOOmal so groß ist wie diejenige des
Hochpaßfilters. Da der mittlere Wellenlängenindex nicht kritisch vom Wert der hohen Übergangsfrequenz
abhängt, wird vorteilhaft eine Bandbreite von 100 gewählt.
Claims (7)
1. Vorrichtung zur Erzeugung eines elektrischen Signals, das einen das Profil der Oberfläche eines zu
prüfenden Körpers charakterisierenden Parameter repräsentiert, mit einem Wandler, der die zu
prüfende Oberfläche berührt und ein Signal liefert, das die Höhe der zu prüfenden Oberfläche
gegenüber einer Bezugshöhe repräsentiert und mit einer Reihenschaltung eines Hochpaßfilters und
eines Tiefpaßfilters zwischen dem Ausgang des Wandlers und einer Signalverarbeitungsschaltung, in
der eine Signalverarbeitung mittels einer Reihenschaltung eines Gleichrichters und eines Integrators
erfolgt, dadurch gekennzeichnet, daß in der Signalverarbeitungsschaltung auf einem ersten
Signalweg durch eine Reihenschaltung eines Gleichrichters (8; Va, und eines Integrators (9) ein erstes
verarbeitetes Signa! erzeugt wird und auf einem zweiten Signaiweg durch eine Reihenschaltung eines
Differenzierers (11), eines Gleichrichters (12; 19) und
eines Integrators (13) ein zweites verarbeitetes Signal erzeugt wird und daß eine Teilerschaltung
(15) zum Teilen des ersten verarbeiteten Signals durch das zweite verarbeitete Signal zur Erzeugung
eines Ausgangssignals vorgesehen ist, das den Wert des Parameters repräsentiert
2. Vorrichtung nach Anspruch I1 dadurch gekennzeichnet,
daß in Abwandlung des zweiten Signalwegs dieser zweite Signalweg einen Bezugsspannungsgenerator
(20) enthält, der eine Mehrzahl von Bezugsspannungen erzeugt, die die von dem
Profilsignal erreichbaren Werte repräsentieren, daß Durchgangsdetektoren (22) vorgesehen sind, die
einen Ausgangsimpuls jedesmal dann abgeben, wenn das dem zweiten Signalweg zugeführte Signal einen
Wert erreicht, der durch eine der Bezugsspannungen repräsentiert ist, daß ein Zähler (23) vorgesehen ist,
der die von den Durchgangsdetektoren (22) abgegebenen Impulse zählt und ein Digitalsignal
liefert, das die mittlere Größe der Änderungsrate des Signals über denjenigen Bereich repräsentiert,
der durch die Bezugsspannungen definiert ist, und daß ein Hybrid-Digital/Analog-Teiler (15) vorgesehen
ist, der zur Erzeugung des Ausgangssignals das erste verarbeitete Signal durch das. Digitalsignal
teilt.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Sonde (1) mit einem
Wandler (2) gekoppelt ist, der durch einen Oszillator (3) mit einer Modulationsfrequenz gespeist wird, und
daß eine Demodulationsvorrichtung (5) vorgesehen ist, die das Signal des Wandlers (2) demoduliert und
einen Hochpaß (6) zur Aussonderung seiner niederfrequenten Komponente zuführt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein Tiefpaß (7) zur Aussonderung
solcher Komponenten des demodulierten Signals vorgesehen ist, deren Frequenz höher ist als ca. 6
Oktaven über der niedrigsten vom Hochpaß (6) durchgelassenen Frequenz.
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Gleichrichter
(8, 12) beider Signalwege als quadratische Gleichrichter ausgebildet sind.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche I —4, dadurch gekennzeichnet, daß die Gleichrichter (18,
19) beider Signalwege als Doppelweg-Gleichrichter ausgebildet sind.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Anspräche, gekennzeichnet durch eine an den ersten
Signalweg angeschlossene Anzeigevorrichtung (10) für ein die mittlere Größe der Höhe der Oberfläche
(S) gegenüber der Bezugshöhe angebendes Signal, eine an den zweiten Signalweg angeschlossene
Anzeigevorrichtung (14) für ein die mittlere Größe des Differentialquotienten der Höhe angebendes
Signal und eine an den Teiler (15) angeschlossene Anzeigevorrichtung (16) für den Quotienten beider
Signale.
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Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3903735A (en) * | 1974-01-25 | 1975-09-09 | Gould Inc | Slope error compensating apparatus for use with profile measuring equipment |
US3965339A (en) * | 1975-04-03 | 1976-06-22 | City Of Hope-A National Medical Center | Apparatus and method for measuring heart condition |
DE2617707C2 (de) * | 1975-04-23 | 1986-02-20 | The Rank Organisation Ltd., London | Vorrichtung zum Vermessen einer Oberfläche |
US4103542A (en) * | 1977-09-09 | 1978-08-01 | Tencor Instruments | Metrology instrument for measuring vertical profiles of integrated circuits |
JPS55104705A (en) * | 1979-01-29 | 1980-08-11 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Measuring method for shape of metal strip |
CA1143869A (en) * | 1980-10-01 | 1983-03-29 | Northern Telecom Limited | Surface relief measuring equipment |
US4485451A (en) * | 1982-01-28 | 1984-11-27 | Obedineni Zavodi Za Zapametyavashti Ustroystva | System for monitoring dynamic parameters of magnetic heads |
EP0116633A1 (de) * | 1982-08-19 | 1984-08-29 | Ait Corp. | Eine sonde zum anschauen von oberflächenabweichungen |
US4573131A (en) * | 1983-08-31 | 1986-02-25 | John Corbin | Method and apparatus for measuring surface roughness |
DE3590145C2 (de) * | 1984-04-10 | 1990-02-22 | Mitutoyo Mfg. Co., Ltd., Tokio/Tokyo, Jp | |
US4541278A (en) * | 1984-04-23 | 1985-09-17 | Union Oil Company Of California | Pipeline corrosion sensing device and method |
US4736329A (en) * | 1984-10-25 | 1988-04-05 | Air Products And Chemicals, Inc. | Method and system for measurement of liquid level in a tank |
US4602344A (en) * | 1984-10-25 | 1986-07-22 | Air Products And Chemicals, Inc. | Method and system for measurement of liquid level in a tank |
DE8810670U1 (de) * | 1988-08-24 | 1989-01-26 | Moba-Electronic Gesellschaft für Mobil-Automation mbH, 6254 Elz | Höhensteuerungsvorrichtung |
US5168412A (en) * | 1989-06-28 | 1992-12-01 | Toan Doan | Surface interference detector |
GB8918306D0 (en) * | 1989-08-10 | 1989-09-20 | Lucas Ind Plc | Road surface sensing system for a vehicle |
DE4035076A1 (de) * | 1990-11-05 | 1992-05-07 | Jenoptik Jena Gmbh | Anordnung zum messen linearer abmessungen auf einer strukturierten oberflaeche eines messobjektes |
US5460034A (en) * | 1992-07-21 | 1995-10-24 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Method for measuring and analyzing surface roughness on semiconductor laser etched facets |
CA2112792A1 (en) * | 1993-01-29 | 1994-07-30 | Donald F. Rogowski | Paper surface roughness analyzer |
US5406832A (en) * | 1993-07-02 | 1995-04-18 | Topometrix Corporation | Synchronous sampling scanning force microscope |
DE19532547A1 (de) * | 1995-09-04 | 1997-03-06 | Innovatherm Prof Dr Leisenberg Gmbh & Co Kg | Verfahren und Einrichtung zur Materialanalyse |
DE19622429A1 (de) * | 1996-06-04 | 1997-12-11 | Wagner Int | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Beschaffenheit einer Werkstückoberfläche |
US5847569A (en) * | 1996-08-08 | 1998-12-08 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Electrical contact probe for sampling high frequency electrical signals |
US20060042363A1 (en) * | 2004-08-27 | 2006-03-02 | Honeywell International, Inc. | Method for detecting corrosion in industrial process equipment |
DE102004054802A1 (de) * | 2004-11-12 | 2006-05-18 | Voith Paper Patent Gmbh | Verfahren zur Messung von Eigenschaften eines Rotationskörpers |
JP5342378B2 (ja) * | 2009-08-31 | 2013-11-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | ディスクの突起検出・平坦度測定回路およびディスクのグライドテスター |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3123999A (en) * | 1964-03-10 | Amplifier- | ||
US2857465A (en) * | 1955-11-21 | 1958-10-21 | Bell Telephone Labor Inc | Vocoder transmission system |
US3124745A (en) * | 1960-03-02 | 1964-03-10 | System | |
US3112642A (en) * | 1960-05-06 | 1963-12-03 | Republic Steel Corp | Apparatus for measuring surface roughness |
GB1097302A (en) * | 1963-06-25 | 1968-01-03 | Rank Precision Ind Ltd | Improvements in or relating to apparatus for investigating surface texture |
DE1284097B (de) * | 1965-03-20 | 1968-11-28 | Johannes Dipl Ing Dr Ing | Oberflaechenmessgeraet |
US3544744A (en) * | 1968-06-14 | 1970-12-01 | Robertshaw Controls Co | Double diaphragm pressure responsive switch construction |
-
1970
- 1970-01-30 GB GB458170A patent/GB1318701A/en not_active Expired
-
1971
- 1971-01-28 CH CH126071A patent/CH548587A/de not_active IP Right Cessation
- 1971-01-29 FR FR7103086A patent/FR2077421B1/fr not_active Expired
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FR2077421A1 (de) | 1971-10-22 |
CH548587A (de) | 1974-04-30 |
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