DE2032322A1 - Gleichstrom Prüfer fur miniaturi sierte Schaltkreise - Google Patents

Gleichstrom Prüfer fur miniaturi sierte Schaltkreise

Info

Publication number
DE2032322A1
DE2032322A1 DE19702032322 DE2032322A DE2032322A1 DE 2032322 A1 DE2032322 A1 DE 2032322A1 DE 19702032322 DE19702032322 DE 19702032322 DE 2032322 A DE2032322 A DE 2032322A DE 2032322 A1 DE2032322 A1 DE 2032322A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
voltage
test
negative feedback
resistor
input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19702032322
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
John Francis Wappinger Falls NY Merrill (V St A )
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of DE2032322A1 publication Critical patent/DE2032322A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/316—Testing of analog circuits

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
DE19702032322 1969-06-30 1970-06-30 Gleichstrom Prüfer fur miniaturi sierte Schaltkreise Pending DE2032322A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US83756969A 1969-06-30 1969-06-30

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2032322A1 true DE2032322A1 (de) 1971-01-14

Family

ID=25274828

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19702032322 Pending DE2032322A1 (de) 1969-06-30 1970-06-30 Gleichstrom Prüfer fur miniaturi sierte Schaltkreise

Country Status (5)

Country Link
US (1) US3599101A (enExample)
JP (1) JPS5129429B1 (enExample)
DE (1) DE2032322A1 (enExample)
FR (1) FR2052383A5 (enExample)
GB (1) GB1300436A (enExample)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2162287B1 (enExample) * 1971-12-09 1974-06-07 Sescosem
DE3364171D1 (en) * 1982-06-01 1986-07-24 Thorn Emi Instr An instrument for measuring electrical resistance, inductance or capacitance
CN114355021B (zh) * 2022-03-17 2022-06-10 广东希荻微电子股份有限公司 电流检测电路及其控制方法、装置、放大器和存储介质

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3516002A (en) * 1967-05-02 1970-06-02 Hughes Aircraft Co Gain and drift compensated amplifier

Also Published As

Publication number Publication date
FR2052383A5 (enExample) 1971-04-09
GB1300436A (en) 1972-12-20
US3599101A (en) 1971-08-10
JPS5129429B1 (enExample) 1976-08-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2917237C2 (enExample)
DE3634051C2 (enExample)
DE1762972B2 (de) Steuerbare spannungsquelle
DE3139975C2 (de) Vorrichtung zum Eichen von Nachweiskanälen eines Massenspektrometers
DE2000499A1 (de) Pruefeinrichtung fuer elektrische Vorrichtungen
DE3101994C2 (de) Verfahren zur Messung eines elektrischen Widerstands und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE1913116A1 (de) Messanordnung fuer Gleichstroeme oder Gleichspannungen
DE2449016C2 (de) Schaltungsanordnung zur Messung des Innenwiderstandes eines Wechselstromnetzes
DE1945125C3 (de) Analogmultiplikator
DE2032322A1 (de) Gleichstrom Prüfer fur miniaturi sierte Schaltkreise
DE1648873A1 (de) Feuchtigkeitsmessvorrichtung
DE1240989B (de) Anordnung zum Eichen der Pegelanzeige eines selektiven Pegelmessers
DE3725348C2 (enExample)
DE2927209C2 (enExample)
DE1058149B (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung des an einer Stelle eines elektrischen Netzes zu erwartenden Kurzschlussstromes
DE2918611C2 (de) Gerät zur Messung einer ionisierenden Strahlung mit einer daran anschließbaren Meßsonde und Verfahren zur Einstellung eines Widerstandes der Meßsonde
DE2203306C2 (de) Schaltungsanordnung zur Nullpunktsverschiebung von Meßspannungen
DE2704289A1 (de) Schaltungsanordnung zum selbstaendigen regeln einer an eine zu pruefende relaiswicklung anzulegenden pruefspannung
DE3412843C2 (enExample)
DE1913116C (de) Meßanordnung fur Gleichströme oder Gleichspannungen
DE1194908B (de) Verfahren zur Driftkompensation von Gleich-spannungsverstaerkern
DE1591869C (de) Anordnung zum gleichzeitigen Messen von Gleichströmen in linearem und loga nthmischem Maßstab
DE2427785A1 (de) Schaltungsanordnung fuer einen messverstaerker
DE1200438B (de) Schaltungsanordnung zur Konstanthaltung der Verlustleistung eines Transistors bei der Messung seiner Parameter
DE2163749B2 (de) Verfahren zur Eliminierung der Temperatureinflüsse einer Schaltungsanordnung mit nicht linearer Kennliniencharakteristik