DE2027450C - Sequentiell messendes Spektrometer - Google Patents
Sequentiell messendes SpektrometerInfo
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Description
5. Spektrometer nach den Ansprüchen 1, 2 30 hälLiisbildung der Meßwerte ist in der Spektral-
und 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Betäti- analyse zur Verbesserung der Genauigkeit erwünscht
gung der einschwenkbaren Blenden (Bj bis B4) und auch üblich. 3. Das kontinuierliche Abfahren des
programmgesteuert erfolgt. Spektrums zwingt dazu, die Sj. eMrallinien in der Reihenfolge
zu messen, in der sie im Spektrum verteilt
35 sind, also in einer Reihenfolge, die im wesentlichen
zufällig ist.
Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein
Spektrometer der eingangs genannten Art zu schaffen, das sich gegenüber herkömmlichen sequentiell
40 messenden Spektrometern durch eine wesentlich gesteigerte Genauigkeit des Ergebnisses der mit ihm
Die Erfindung betrifft ein sequentiell messendes, durchgeführten Analysen auszeichnet, wobei sich
optisches Spektrometer mit photoelektrhcher Ams- jedoch ein eventuell zusätzlicher konstruktiver Aufwertung,
wand in engen Grenzen halten soll.
Eines der Vorteile der Spektralanalyse ist die 45 Diese Aufgabe ist gemäß der Erfindung dadurch
Schnelligkeit des Meßverfahrens. Man benutzt dazu ■ gelöst, daß jeder auszuwertenden Spektrallinie ein
z. B. Spektrometer, die im optischen Spektralbereich eigener Austrittsspalt zugeordnet ist, daß die disperarbeiten,
das heißt in dem Bereich, in dem man gierten Strahlen über fest angeordnete Spiegel auf
optische Bauteile, wie Linsen, Spiegel, Prismen, einen einzigen fe&i angeordneten Photoempfänger
Gitter usw., benutzen kann und bei denen das Meß- 50 lenkbar sind und daß in die Strahlen einschwenkbare
prinzip auf der photoelektrischen Messung der Strah- Blenden vorgesehen sind, die die wahlweise Auslungsleistung
von SpektraUinien eines Emissions- Wendung vor, Spektrallinien ermöglichen,
spektrums liegt. Solche Geräte heißen photoelektri- Diese erfindungsgemäße Anordnung weist keinerlei
spektrums liegt. Solche Geräte heißen photoelektri- Diese erfindungsgemäße Anordnung weist keinerlei
sehe Emissions-Spektrometer. bewegte Teile auf, welche die Genauigkeit des Meß-
Die erwünschte schnelle Durchführung des Meß- 55 e gebnisses nachteilig beeinflussen könnten. Für jede
Vorgangs wird unter anderem dadurch erreicht, daß zu messende Spektrallinie wird ein fest justierter
die zur Messung benutzten SpektraUinien entweder Austrittsspalt vorgesehen. Die dem bisher bekannten
gleichzeitig (simultan) oder in schneller Folge nach- sequentiellen Verfahren anhaftende Ungenauigkeit
einander (sequentiell) gemessen werden. wegen der Justierung der Spalte auf die jeweilige
Beim simultanen Verfahren wird für jede zu 60 Spektrallinie wird dadurch gänzlich beseitigt. Desmessende
Spektrallinie ein eigenes Empfängersystem gleichen ist das Empfängersystem fest angeordnet, so
eingebaut, das aus einem auf diese Linie justierten daß auch von die-.er Seite keine Juslierungsarbeiten
Spalt und einem photoelektrischen Empfänger be- mehr anfallen. Die sequentielle Messung der einzelsteht;
häufig befindet sich zwischen Spalt und Emp- nen Spektrallinien wird durch eine sequentielle Ein/
fänger noch ein optisches Bauelement, wie Linse 65 Ausschaltung der dispergierten Strahlen durch die in
oder Spiegel. diese einschwenkbaren Blenden bewirkt. Da für die
Beim sequentiellen Verfahren wird für alle Linien Genauigkeit der Messung im wesentlichen nur die
nur ein einziges solches Empfängersystem benutzt, Genauigkeit der 5paltjustierung und der Justierunc
von Umlenkspiegeln maßgebend ist, ist die Bewe- optimieren. Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung
gung der einschwenkbaren Blenden vollkommen un- ist in der Zeichnung dargestellt,
schädüch. Die erfindungsgemäße Anordnung weist Gemäß der Zeichnung wird aus einer analytischen
darüber hinaus den kostenmäßigen Vorteil auf, daß Entladung mittels eines Spaltes B ein Licritstrani r
sie grundsätzlich mit nur einem einzigen Photoemp- 5 ausgeblendet und auf ein Gitter G gencntet, öei
Fänger auskommt. bestimmten Anwendungsfällen kann an Meile des
Nach einer Weiterbildung der Erfindung ist weiter- Gitters G auch ein Prisma vorgesehen sein,
hin vorgesehen, daß die einschwenkbaren Blenden in Am Gitter G erfolgt eins Beugung und Reflexion
Einfällsrichtung der Strahlen gesehen hinter den des Lichtstrahles P unter Aufteilung in die dispergier-
Austrittsspalten angeordnet sind. Dadurch wird er- io ten Strahlen S1, S2, S3 und S4 bzw. in die einzelnen
reicht, daß für die Unterbringung dieser Blenden und Spektrallinien. Diese Strahlen S1 bis S4 treten durcn
ihrer Antriebsmechanismen genügend Raum zur Ver- Austrittsspalte F1 bis F4 hindurch. Letztere sind aut
fügung steht, da infolge des Schneidens der Strahlen die jeweiligen Spektrallinien justiert. In Richtung der
auf der Photokathode des Photoempfängers mit wach- einfallenden Strahlen gesehen hinter jedem ^P^i
sender Entfernung von dem Photoempfänger der i5 bis F4 befindet sich je ein .piegelsystem M1 bis M4,
für die einschwenkbaren Blenden zur Verfugung ste- die das Licht aus den zugehörigen Spalten F1 bis b4
hende Raum im Spektrometer größer wird. auf einen der beiden (durch die Justierung der Spie-
Nach einer anderen Weiterbildung der Erfindung gelsysteme M1 bis M4 vorher festgelegten) Pnoto-
sind zwei Photoempfänger vorgesehen. Auf diese empfänger abgebildet. Es werden Photoempfanger
Weise ist eine Parallelmessung zweier Spektrallinien ao mit Photokathoden verwendet, bei denen die Andf-
mit anschließend·: Verhältnisbildung möglich. Diese rung der Empfindlichkeit über die Photokathode
gleichzeitige Messung zweier Spektrallinien mit Ver- vernachlässigbar ist. Vor jedem Spiegelsystem M1
hältnisbildung der Meßwerte dient (wie erwähnt) der -bis M4 ist je eine in die dispergierten Strahlen Sx
Steigerung der Genauigkeit des Meßergebnisses. Auch bis S4 einschwenkbare Blende B1 bis B4 angeordnet,
in diesem Fall besteht noch ein eindeutiger Kosten- 35 die von je einem Elektromagneten (nicht dargestellt)
vorteil gegenüber vergleichbaren simultan arbeiten- zwischen zwei Stellungen so bewegt werden können,
den Spektrometern mit ihrer Vielzahl von Photo- daß sie den Strahlengang der dispergierten Strahlen
empfängern. entweder unterbrechen oder freigeben.
In weiterer Ausgestaltung der Erfindung ist vor- Obwohl das erfindungsgemäße Spektrometer mit
gesehen, daß die einschwenkbaren Blenden elektro- 30 besonderem Vorteil als Emissions-Spektrometer Ver-
magnetisch betätigbar sind. Ein solcher Antrieb is' wendung findet, kann es auch als Atomabsorptions-
konstruktiv gesehen vergleichsweise einfach und er- Spektrometer ausgeführt werden,
fordert praktisch keine Wartung. Die Abbildung des Gitters G auf den Photokatho-
Die Anordnung dieses elektromagnetischen An- den und die homogene Empfindlichkeit dieser Phototriebs
erbringt gleichzeitig die Voraussetzung für eine 35 kathoden erlauben eine bauliche Vereinfachung des
programmgesteuerte Betätigung der einschwenkbaren erfindungsgemäßen Spektrometers, die in der Mog-Blenden.
Hierdurch können auch räumlich weit lichkeit der Verwendung von Spiegeln gleicher Brenn-/oneinan-er
getrennte Spektrallinien ohne Zsitver- weite und gleicher Abmessungen besteht,
.ust durch Betätigen der entsprechenden einschwenk- Wie erwähnt, wurde vorstehend ein Ausfunrungsbaren Blenden angewähl, werden, und außerdem kann 40 beispiel erläutert. Selbstverständlich ist es möglich, man Spektrallinicii in jeder beliebigen Reihenfolge erfindungsgemäße Spektrometer mit Bauelementen auswählen. Dies ist besonders deshalb günstig, weil zur Messung sehr vieler Spektrallinien zu versehen, im zeitlichen Verl.-uf einer Analyse bekanntermaßen Ein weiterhin bevorzugtes Gerät ist z. B. zur Mesjede Spektraiiinie zu einem bestimmten Zeitpunkt sung von 72 Spektrallinien (64 Analysenhnien und am günstigsten meßbar ist und infolgedessen jede 45 acht Referenzlinien) ausgelegt. Für die Photoempfän-Linie zu ihrem günstigsten Zeitr unkt gemessen wer- ger gilt hierbei wieder folgendes: Bei einem Simultanden kann. Das Programm, nach dem die Spektral- gerät müßten im Falle der Vollbesetzung 72 Photolinien angewählt werden, kann gleichzeitig andere empfänger eingebaut werden, im erfindungsgemaßen Größen, z. B. Anregungsparameter, anwählen, die sequentiell messenden Spektrometer dagegen immer die Messung mit der betreffenden Spektrallinie jeweils 50 nur zwei Photoempfanger.
.ust durch Betätigen der entsprechenden einschwenk- Wie erwähnt, wurde vorstehend ein Ausfunrungsbaren Blenden angewähl, werden, und außerdem kann 40 beispiel erläutert. Selbstverständlich ist es möglich, man Spektrallinicii in jeder beliebigen Reihenfolge erfindungsgemäße Spektrometer mit Bauelementen auswählen. Dies ist besonders deshalb günstig, weil zur Messung sehr vieler Spektrallinien zu versehen, im zeitlichen Verl.-uf einer Analyse bekanntermaßen Ein weiterhin bevorzugtes Gerät ist z. B. zur Mesjede Spektraiiinie zu einem bestimmten Zeitpunkt sung von 72 Spektrallinien (64 Analysenhnien und am günstigsten meßbar ist und infolgedessen jede 45 acht Referenzlinien) ausgelegt. Für die Photoempfän-Linie zu ihrem günstigsten Zeitr unkt gemessen wer- ger gilt hierbei wieder folgendes: Bei einem Simultanden kann. Das Programm, nach dem die Spektral- gerät müßten im Falle der Vollbesetzung 72 Photolinien angewählt werden, kann gleichzeitig andere empfänger eingebaut werden, im erfindungsgemaßen Größen, z. B. Anregungsparameter, anwählen, die sequentiell messenden Spektrometer dagegen immer die Messung mit der betreffenden Spektrallinie jeweils 50 nur zwei Photoempfanger.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Sequentiell messendes optisches Spektra-' Der Vorteil des simultanen Verfaarens besteht
meter, dessen dispergierte Strahlen durch einen 5 unter anderem darin, daß die Austrittsspalte bei der
Austrittsspalt hindurch auf einen Photoempfänger Herstellung des Spektrometers fest justiert werden;
fallen, dadurch gekennzeichnet, daß jeder eine solche Justierung kann sich bei normalem Geauszuwertenden
Spektrallinie (S1 bis S4) ein eige- brauch nicht verschlechtern. Sein wesentlicher Nachner
Austrittsspalt (F1 bis F4) zugeordnet ist, daß teil ist der, daß so viele photoelektrische Empfänger
die dispergierten Strahlen (S1 bis S4) über fest io wie zu messende SpektraUinien nötig sind. Dies erangeordnete
Spiegel (Af1 bis M4) auf einen einzi- bringt einen zusätzlichen Kostenaufwand.
gen fest angeordneten Photoempfänger (A1) lenk- So ist aus der USA.-Patentschrift 3 080 788 ein
bar sind und daß in die Strahlen (S1 bis S4) ein- solches Spektrometer bekannt, bei dem hinter jedem
schwenkbare Blenden (B1 bis B4) vorgesehen Austrittsspalt je ein Spiegel angeordnet ist, der die
sind, d.i. die wahlweise Ausblendung von Spek- 15 Strahlen auf je einen Empfänger lenkt,
trallinien ermöglichen. Der Hauptvorteil des sequentiellen Verfahrens bc-
2. Spektrometer nach Anspruch 1, dadurch steht darin, daß nur ein einziges Empfängersysierri
gekennzeichnet, daß die einschwenkbaren Blen- erforderlich ist. Seine Nachteile sind unter anderem:
den (B1 bis B4) in Einfallsrichtung der Strahlen 1. Die das Empfängersystem von Spektrallinie zu
(S1 bis S4) gesehen hinter den Austrittsspalten ao Spektrallinie fahrende Vorrichtung muß dafür sor-(F1
bis F4) angeordnet si;>d. gen, daß für jode Einzelanalyse die Justierung auf
3. Spektrometer nach Anspruch 1 und 2, da- jede Spektrallinie von neuem vollzogen wird. Wegen
durch gekennzeichnet, daß ein zweiter Photo- der Bewegung und durch den konstruktionsbedingten
empfänger vorgesehen ist, der eine Verhältnis- Verschleiß ist eine solche Justierung an sich weniger
bildung der Intensitäten ermöglicht. 35 genau als beim simultanen Verfahren und verschlech-
4. Spek.rometer nich den Ansprüchen 1 bis 3, tert sich rudern im Lauf des Betriebes. 2. Bei einem
dadurch gekennzeichnet daß die einschwenk- fahrbaren Empfängersystem ist es nicht möglich,
baren Blenden (B1 bis B4) elektromagnetisch zwei SpektraUinien gleichzeitig zu messen. Eine solche
betätigbar sind. gleichzeitige Messung zweier Spektrallinien mit Ver
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19702027450 DE2027450C (de) | 1970-06-04 | Sequentiell messendes Spektrometer | |
JP3857171A JPS552568B1 (de) | 1970-06-04 | 1971-06-02 | |
FR7120352A FR2094053B3 (de) | 1970-06-04 | 1971-06-04 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19702027450 DE2027450C (de) | 1970-06-04 | Sequentiell messendes Spektrometer |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2027450A1 DE2027450A1 (de) | 1971-12-09 |
DE2027450B2 DE2027450B2 (de) | 1972-08-17 |
DE2027450C true DE2027450C (de) | 1973-03-08 |
Family
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