DE19932807A1 - Eintrittsspalt für ein Spektrometer - Google Patents
Eintrittsspalt für ein SpektrometerInfo
- Publication number
- DE19932807A1 DE19932807A1 DE1999132807 DE19932807A DE19932807A1 DE 19932807 A1 DE19932807 A1 DE 19932807A1 DE 1999132807 DE1999132807 DE 1999132807 DE 19932807 A DE19932807 A DE 19932807A DE 19932807 A1 DE19932807 A1 DE 19932807A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- entry
- entry gap
- movable
- diaphragm
- drive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 3
- 230000002146 bilateral effect Effects 0.000 claims 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 19
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 7
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N (2,5-dioxopyrrolidin-1-yl) 4-pyren-1-ylbutanoate Chemical compound C=1C=C(C2=C34)C=CC3=CC=CC4=CC=C2C=1CCCC(=O)ON1C(=O)CCC1=O YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000004868 gas analysis Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- GGYFMLJDMAMTAB-UHFFFAOYSA-N selanylidenelead Chemical compound [Pb]=[Se] GGYFMLJDMAMTAB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/04—Slit arrangements slit adjustment
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Die Erfindung betrifft einen Eintrittsspalt für ein Spektrometer, bestehend aus einer beweglichen Blende und einer feststehenden Blende. DOLLAR A Aufgabe der Erfindung ist es, einen Eintrittsspalt für ein Spektrometer zur Verfügung zu stellen, mit dem die Spaltbreite periodisch moduliert werden kann. DOLLAR A Gelöst wird diese Aufgabe durch einen Antrieb für die bewegliche Blende, mit dessen Hilfe die lichte Weite des Eintrittsspalts vorgebbar periodisch verändert werden kann.
Description
Die Erfindung betrifft einen Eintrittsspalt für ein Spektrometer
bestehend aus einer beweglichen Blende und einer feststehenden
Blende.
Zur Detektion von Strahlung im IR-Bereich ist es aufgrund der
Eigenschaften der zur Verfügung stehenden Detektoren (z. B. Blei
salzdetektoren, Pyrodetektoren) notwendig, die einfallende
Strahlung zu modulieren. Eine Modulation ermöglicht zusätzlich
den Einsatz von hochempfindlichen und weitgehend driftfreien
Verstärkern in der nachgeschalteten Signalaufbereitung, die
z. B. auf Lock-in Technik basieren. Während bis heute der Ein
satz von hochempfindlichen Mikrospektrometersystemen in Wellen
längenbereichen, in denen ohne Modulation gearbeitet werden kann
(bis 2 µm), demonstriert wurde, existieren für größere Wel
lenlängen nur Mikrospektrometerkomponenten, die auf eine direkte
Modulation der Strahlungsquelle angewiesen sind. Dies ist jedoch
nur eingeschränkt möglich. Die Modulation der Strahlungsquelle
hat den Nachteil, daß diese im System integriert sein muß. Die
elektrische Modulation der Strahlungsquelle kann im allgemeinen
nur niederfrequent erfolgen. Dies schränkt den Bau höchstemp
findlicher Systeme ein, da in diesem Frequenzbereich das Eigen
rauschen einer Reihe von Detektoren (PbS, PbSe, HgCdTe) erheb
lich größer ist als bei einigen 100 Hz. Bei der Verwendung ther
mischer Detektoren tritt bei niederfrequenter Modulation ein
verstärktes Übersprechen des Signals zu Nachbardetektoren auf,
was zu einer Reduzierung der Auflösung führt.
Aus der DE 44 34 814 ist ein infrarotspektrometrischer Sensor für
Gase bekannt. Es handelt sich dabei um ein Mikrospektrometer mit
integrierter Strahlungsquelle, wobei das Spektrometer selbst die
Durchflußküvette zur Gasanalyse bildet. Die Anbringung einer
thermischen Strahlungsquelle vor dem Spalt ohne jede Strahlungs
modulation schränkt die mit einem derartigen System erreichbare
Dynamik wesentlich ein, da nur eine sehr niederfrequente Modu
lation der Strahlungsquelle von einigen Hz möglich ist. Diese
Einschränkung ergibt sich aus deren großen thermischen Zeitkon
stanten. Es findet keine Verbesserung der Auflösung durch die
Modulation statt.
Ein ähnlicher Sensor ist aus der DE 195 28 919 bekannt. Hier wird
anstelle der thermischen Strahlungsquelle über einen externen
Spiegel die Strahlung einer Blitzlampe auf den Spalt des Spek
trometers gelenkt. Die maximale Pulsfrequenz beträgt 10 Hz. Die
se ist für den verwendeten Bleiselenid-Detektor nicht optimal.
Durch den Wechsel auf höhere Modulationsfrequenzen, < 300 Hz,
läßt sich die Dynamik des Systems mindestens um den Faktor 10
steigern. Eine Verbesserung der Auflösung wird ebenfalls nicht
erreicht.
Aufgabe der Erfindung ist es, einen Eintrittsspalt für ein Spek
trometer zur Verfügung zu stellen, mit dem die Spaltbreite pe
riodisch moduliert werden kann.
Gelöst wird diese Aufgabe durch die Merkmale des Patentanspruchs
1. Die Unteransprüche beschreiben vorteilhafte Ausgestaltungen
der Erfindung, sowie deren vorteilhafte Verwendung.
Der erfindungsgemäße Eintrittsspalt weist folgende besondere
Vorteile auf:
Er ermöglicht eine Steigerung der Empfindlichkeit von Mikrospek trometersystemen bei gleichzeitiger Verbesserung der Auflösung. Das Bauvolumen eines Mikrospektrometersystems wird durch die In tegration des als Chopper wirkenden Eintrittsspalts nicht we sentlicht vergrößert.
Er ermöglicht eine Steigerung der Empfindlichkeit von Mikrospek trometersystemen bei gleichzeitiger Verbesserung der Auflösung. Das Bauvolumen eines Mikrospektrometersystems wird durch die In tegration des als Chopper wirkenden Eintrittsspalts nicht we sentlicht vergrößert.
Die Verwendung beliebiger Strahlungsquellen wird ermöglicht.
Die Strahlungsquelle muß nicht im System integriert sein.
Die höherfrequente Modulation ermöglicht geringeres Rauschen der
Detektionselektronik inklusive Detektor.
Die Integration in planare Spektrometer durch Führungsstrukturen
im Spektrometer wird vereinfacht.
Die Erfindung wird im folgenden anhand eines Ausführungsbei
spiels mit Hilfe der Figuren näher erläutert. Dabei zeigen die
Fig. 1 und 2 die Auswirkungen des nahe der Blende integrier
ten Choppers gegenüber einer externen Intensitätsmodulation bei
spielhaft.
Die Fig. 3 bis 5 zeigen mögliche Blendenanordnungen eines
Eintrittsspalts und
die Fig. 6 und 7 dazugehörige Spektrometeranordnungen.
Die Fig. 8 und 9 zeigen einen Eintrittsspalt vor und nach dem
Zusammenbau.
Zum Aufbau von Mikrospektrometersystemen ist neben der Mikro
spektrometerkomponente und einem geeigneten Detektor auch ein
Chopper notwendig. Eine systemtechnisch sinnvolle Integration
kommerziell erhältlicher Chopper ist aufgrund deren Baugrößen
nicht möglich. Diese Integration ist nur mit einem miniaturi
sierten Chopper möglich. Die Integration im System erfolgt dabei
erfindungsgemäß direkt am Eintrittsspalt des Mikrospektrometers,
da dann nicht nur eine zeitliche Modulation erfolgt, sondern
durch eine örtliche Modulation über der Spaltbreite eine zusätz
liche Auflösungsverbesserung des Spektrometers resultiert.
Die Auswirkungen des nahe der Blende integrierten Choppers ge
genüber einer externen Intensitätsmodulation zeigen beispielhaft
die Fig. 1 und Fig. 2.
In Fig. 1 ist die durch einen Spalt mit fester Breite von 100 µm
durch die typischen Abbildungseigenschaften des Mikrospektrome
ters auf dem Detektor erzeugten Bestrahlungsstärkeverteilungen
dargestellt, wenn bei gleicher Spaltbreite die einfallende
Strahlungsleistung homogen über der Spaltfläche moduliert wird.
Die flacher verlaufenden Kurven weisen die selbe Form wie die
Maximalkurve auf. Lediglich die Amplitude ändert sich mit sich
ändernder Bestrahlungsstärke am Eintrittsspalt.
Fig. 2 zeigt den Verlauf der Bestrahlungsstärke, wenn die von
außen auf den Spalt mit variabler Breite auffallende Strah
lungsleistung konstant gehalten wird. Eine Verringerung der ge
samten durch den Spalt tretenden Strahlungsleistung erfolgt nun
durch das Verkleinern der Spaltbreite. Dadurch ergeben sich für
eine abnehmende Strahlungsleistung schmalere Verteilungen der
Bestrahlungsstärke auf dem Detektor und somit eine höhere Auflö
sung des gesamten Spektrometersystems.
Die möglichen Anordnungen von beweglicher und feststehender
Blende sind in den Fig. 3 bis Fig. 5 dargestellt. In Fig. 3 be
wegt sich die bewegliche Blende vor zwei feststehenden Blenden,
die die maximale Spaltweite definieren. In Fig. 4 bewegen sich
zwei Blenden gegenphasig symmetrisch zur Mitte zwischen zwei
feststehenden Blenden, die die maximale Spaltweite definieren.
Fig. 5 zeigt eine Anordnung von einer feststehenden und einer
beweglichen Blende. Diese Variante hat den Vorteil, daß die ma
ximale Spaltweite im Betrieb durch die Bewegungsamplitude der
bewegten Blende verändert werden kann.
Der Abstand der beweglichen Blende zur engsten Stelle der fest
stehenden Blende darf maximal dem 5-fachen der maximalen Spalt
breite geteilt durch die maximale numerische Apertur des gesam
ten optischen Aufbaus betragen, da mit zunehmenden Abstand der
Vorteil der Auflösungsverbesserung durch die Integration in den
Eintrittspalt verloren geht.
Die mögliche Anordnung im Spektrometer ist in Fig. 6 und Fig. 7
dargestellt. Bei beiden Darstellungen handelt es sich um klas
sische Spektrometeraufbauten bestehend aus einer Kombination von
abbildenen Spiegeln und Plangitter oder einem selbstfokusie
renden Konkavgitter. Beim vorgeschlagenen Chopper (Eintritts
spalt) handelt es sich um eine Struktur, die sich besonders für
eine Integration in Mikrospektrometer, die durch planare Struk
turierungstechniken wie das LIGA-Verfahren hergestellt werden.
In solchen Mikrospektrometern bestehen die in den Abbildungen
dargestellten optischen Elemente aus senkrechten Seitenwänden
eines Wellenleiters. Geändert wird im Vergleich zum Stand der
Technik nur der Einkoppelspalt 1.
In das Mikrospektrometer werden Haltestrukturen integriert, die
ein Einsetzten des miniaturisierten Choppers ermöglichen. Die
Führungsstrukturen werden parallel mit den optischen Elementen
des planaren Wellenleiters, der das Gehäuse des Spektrometers
bildet, strukturiert und sind damit auf dem Wellenleiter exakt
vorgegeben. Der Chopper besteht aus einem mikromechanischen Ak
tor mit elektromagnetischem, elektrostatischen, oder piezoelek
trischen Antrieb. Er kann auch auf dem Fomgedächtnisef
fekt basieren.
Die bewegliche Blende 8, bei den Fig. 3 bis 5, ist entweder
über ein Federsystem 21 schwingend aufgehängt und wird linear
bewegt. Es kann sich ebenfalls um eine rotierende oder um einen
Drehpunkt schwingende Anordnung handeln. Die Anordnung des Chop
pers ist dergestalt, daß sich eine oder zwei schwingende, ange
triebene Blenden vor oder hinter dem Eintrittspalt des Mikro
spektrometers befinden.
Bei dem Ausführungsbeispiel nach den Fig. 8 und 9 handelt es
sich um einen schwingenden Eintrittsspalt 1, der elektromagne
tisch angetriebenen wird.
Die Fig. 8 zeigt die zwei Hauptgruppen aus denen das Ausführungs
beispiel besteht, zum einen sind dies die Führungsstrukturen mit
den elektrischen Anschlüssen auf den Wellenleitern zum anderen
der Chopper mit dem Antrieb. Die Fig. 9 zeigt die ineinander ge
fügten Teile.
Die Justage der schwingenden Blende 8 und des Blendenantriebs in
das Mikrospektrometer gewährleistet ein Justierrahmen 9. In die
sem Rahmen ist ebenfalls die feststehende Spaltblende 7 struk
turiert. Sie befindet sich am Ende eines Faserführungsgrabens
20, in dem die Einkoppelfaser 19 liegt.
Der Antrieb der schwingenden Blende 8 besteht aus dem Aktorkör
per 10 und einer in diesen eingesetzten Spule 18. Diese besteht
aus einer Wicklung aus Kupferlackdraht 17 auf dem Spulenkörper
12 und wird durch Rastnasen 11 am Aktorkörper 10 gehalten. Die
Kontaktierung der Spule erfolgt über Klemmstellen 13, die den
Draht 17 fixieren. Die externen Anschlußdrähte 16 werden eben
falls über Klemmstellen 15 fixiert. Die elektrische Kontaktie
rung zwischen beiden erfolgt durch Verfüllen des verbleibenden
Raums 14 zwischen den Drahtenden mit Leitkleber.
Die Modulation der aus der feststehenden Blende 7 vor dem Fase
rende austretenden Strahlung erfolgt durch die schwingende Blen
de 8, den diese je nach Stellung die Spaltfläche entsprechend
verkleinert. Die schwingende Blende 8 ist mit Hilfe der Blattfe
dern 21 an einer Haltestruktur auf dem nicht dargestellten
Substrat befestigt und bewegt sich im Luftspalt des Eisenkrei
ses. Sie wird vom Aktorkörper 10 angezogen, wenn die Spule 18
von Strom durchflossen wird. Die Stromrichtung spielt hierbei
keine Rolle. Bei periodischem Wechsel der Stromrichtung erfolgt
somit das Anziehen der Blende mit der doppelten Frequenz des er
regenden Stromes. Dies hat bei einer Bandpaßfilterung des opti
schen Signals in der späteren Signalaufbereitung den Vorteil,
daß eventuelle Störeinstreuungen durch den Antrieb nur bei des
sen Harmonischen erfolgen können und somit geringer sind als bei
einer Detektion auf oder in der Nähe der Fundamentalfrequenz.
Eine Änderung der Form der Strahlungsmodulation in Richtung ei
ner Rechteckschwingung wird erreicht durch eine große Schwin
gungsamplitude im Vergleich zur halben Breite der Spaltblende.
1
Spalt
2
Hohlspiegel
3
Beugungsgitter
4
Hohlspiegel
5
Detektor
6
gekrümmtes Beugungsgitter
7
feststehende Blende
8
bewegliche Blende
9
Justierrahmen
10
Aktorkörper
11
Rastnase zur Spulenhalterung
12
Spulenkörper
13
Klemmstelle für Spulendraht
14
Kontaktierung
15
Klemmstelle für den Anschlußdraht
16
Anschlußdraht
17
Spulendraht
18
Spule
19
Einkoppelfaser
20
Faserführung
21
Blattfedern
Claims (13)
1. Eintrittsspalt für ein Spektrometer bestehend aus einer be
weglichen Blende (8) und einer feststehenden Blende (7), wo
bei die bewegliche Blende (8) mit Hilfe eines Antriebs die
lichte Weite des Eintrittspalts vorgebbar periodisch verän
dern kann.
2. Eintrittsspalt nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die feststehende Blende (7) eine einseitige Begrenzung des
Eintrittsspalts ist und die bewegliche Blende (8) die Be
grenzung des Eintrittsspalts auf der anderen Seite ist, wobei
die beiden Blenden (7, 8) nahezu in der gleichen Ebene lie
gen.
3. Eintrittsspalt nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die feststehende Blende (7) eine beidseitige Begrenzung des
Eintrittsspalts ist und die bewegliche Blende (8) einteilig
ausgebildet ist.
4. Eintrittsspalt nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die bewegliche Blende (8) zweiteilig ausgebildet ist.
5. Eintrittsspalt nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch ge
kennzeichnet, daß die bewegliche Blende (8) derart an Blatt
federn (20) befestigt ist, daß nur Bewegungen parallel zum
Eintrittsspalt möglich sind.
6. Eintrittsspalt nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
die Blattfedern (20) als Rechteck-Parallelfedern angeordnet
sind.
7. Eintrittsspalt nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die Blattfedern (20) symmetrisch zur beweglichen Blende
angeordnet sind.
8. Eintrittsspalt nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Antrieb einen Elektromagneten enthält.
9. Eintrittsspalt nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Antrieb aus ineinander greifenden Kamm
strukturen besteht, die elektrostatisch gegeneinander bewegt
werden.
10. Eintrittsspalt nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Antrieb ein piezoelektrischer Aktor
ist.
11. Eintrittsspalt nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Antrieb und die bewegliche Blende (8)
mit den Blattfedern (20) so ausgebildet sind, daß die beweg
liche Blende (8) mit einer Frequenz bis zu 10 kHz betrieben
werden kann.
12. Eintrittsspalt nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Antrieb und die bewegliche Blende mit
den Blattfedern auf einem gemeinsamen Substrat strukturiert
sind, wobei dieses gemeinsame Substrat in einem Justierrahmen
(9), der die feststehende Blende (7) enthält, fixiert ist.
13. Verwendung des Eintrittsspalts gemäß einem der Ansprüche 1
bis 12 in einem miniaturisierten Spektrometersystem.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999132807 DE19932807A1 (de) | 1999-07-14 | 1999-07-14 | Eintrittsspalt für ein Spektrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999132807 DE19932807A1 (de) | 1999-07-14 | 1999-07-14 | Eintrittsspalt für ein Spektrometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19932807A1 true DE19932807A1 (de) | 2001-01-25 |
Family
ID=7914685
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1999132807 Ceased DE19932807A1 (de) | 1999-07-14 | 1999-07-14 | Eintrittsspalt für ein Spektrometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19932807A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008019600A1 (de) | 2008-04-18 | 2009-10-22 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Optische Vorrichtung in gestapelter Bauweise und Verfahren zur Herstellung derselben |
US11366014B2 (en) | 2018-10-02 | 2022-06-21 | Krohne Messtechnik Gmbh | Spectrometer and method for analyzing a light sample using a spectrometer |
-
1999
- 1999-07-14 DE DE1999132807 patent/DE19932807A1/de not_active Ceased
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
RFC James, R.S. Sternberg: The Design of Optical Spectrometers, Kap. 11.6 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008019600A1 (de) | 2008-04-18 | 2009-10-22 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Optische Vorrichtung in gestapelter Bauweise und Verfahren zur Herstellung derselben |
US8045159B2 (en) | 2008-04-18 | 2011-10-25 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung E.V. | Optical apparatus of a stacked design, and method of producing same |
US11366014B2 (en) | 2018-10-02 | 2022-06-21 | Krohne Messtechnik Gmbh | Spectrometer and method for analyzing a light sample using a spectrometer |
DE102018124345B4 (de) | 2018-10-02 | 2023-02-23 | Krohne Messtechnik Gmbh | Spektrometer und Verfahren zum Analysieren einer Lichtprobe mittels eines Spektrometers |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0238977B1 (de) | Sende- und Empfangsmodul für ein bidirektionales Kommunikationsnetz, insbesondere ein Breitband-ISDN | |
DE19713928C1 (de) | Meßvorrichtung zur Infrarotabsorption | |
WO2004070329A2 (de) | Kompakt-spektrometer | |
EP2520924A1 (de) | Verfahren und Messanordnung zur Verbesserung der Signalauflösung bei der Gasabsorptionsspektroskopie | |
DE102005018379A1 (de) | Optoelektronische Sensoreinrichtung | |
DE102014014983A1 (de) | Optisches Filterelement für spektroskopische Einrichtungen zur Umwandlung von spektralen Informationen in Ortsinformationen | |
DE2719191A1 (de) | Infrarotstrahlungs-einbruchdetektor | |
EP1139863A1 (de) | Detektionssonde für die tiefenauflösende licht-spektroskopie und spektrometrie | |
DE3685859T2 (de) | Vibrationsempfindlicher transduktor. | |
DE102007013693A1 (de) | Ionennachweissystem mit Unterdrückung neutralen Rauschens | |
DE2804442A1 (de) | Laservorrichtung fuer einschliessende wellen im fernen infrarotbereich | |
DE3525518A1 (de) | Laserwarnsensor mit richtungserkennung | |
DE19932807A1 (de) | Eintrittsspalt für ein Spektrometer | |
WO2006092444A1 (de) | Optischer multiplexer/demultiplexer | |
DE3001053C2 (de) | Dissoziations- und Küvettenanordnung für die Messung der Atomfluoreszenz | |
DE3702696A1 (de) | Verfahren zur elektronenstrahl-fuehrung mit energieselektion und elektronenspektrometer | |
DE3500860A1 (de) | Optische anordnung an passiv-infrarot-bewegungsmeldern | |
DE60037071T2 (de) | Magentischer Energiefilter | |
DE19900308B4 (de) | Echelle-Spektrometer geringer Baugröße mit zweidimensionalem Detektor | |
DE10031636A1 (de) | Spektrometer | |
DE2749229C2 (de) | Nichtdispersives Infrarot-Gasanalysengerät | |
DE102018104669A1 (de) | Verwendung einer akustischen Welle in einem Chromatographiesystem | |
DE19523869A1 (de) | Hohlleiterfilter | |
EP0387556A2 (de) | Infrarotdetektor | |
EP0695932A1 (de) | Thermoelektrisches Bauelement |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8131 | Rejection |