DE19908745A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Temperierung von Analysengut in Multiwellanalysenplatten - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Temperierung von Analysengut in Multiwellanalysenplatten

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Temperierung von Analysengut in Multiwellanalyseplatten, die nahezu in allen Bereichen der Biochemie, Biotechnologie und Pharmazieforschung sowie in der medizinischen, chemischen und Umweltanalytik eingesetzt werden. DOLLAR A Aufgabe war es, das in der Multiwellanalysenplatte befindliche Analysengut unabhängig von Größe, Form und Beschaffenheit der Multiwellanalysenplatte ohne zusätzlichen konstruktiven Aufwand hinsichtlich thermischer Übergangszonen möglichst schnell, mit geringem Aufwand und vor allem homogen über die Multiwellanalysenplatte verteilt auf eine Solltemperatur zu erwärmen. Dabei kann als Ausgangsmaterial Analysengut im festen Aggregatzustand Verwendung finden, das im Prozeß der Temperierung aufgetaut wird. DOLLAR A Erfindungsgemäß wird das Analysengut direkt über die Absorption von Infrarotstrahlung, vorzugsweise eines Strahlers mit einer Oberflächentemperatur im Bereich von 100 DEG C bis 1000 DEG C erwärmt. Vorteilhafterweise wird die Multiwellanalysenplatte (1) durch ein Transportsystem, beispielsweise mit einem Schlitten (5), in den Bereich (3) der Infrarotstrahlung (7), ggf. in diesem sowie zur Weiterbehandlung wieder aus diesem heraus bewegt. Zur Erhöhung der Temperaturhomogenität und zum Abbau von Temperaturgradienten können zusätzlich wärmeleitende Mittel (12) und Rüttler (15) zum intermittierenden Mischen des Analysengutes während der Erwärmung eingesetzt werden.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Temperierung von Analysengut in Multiwellanalysenplatten.
Multiwellanalysenplatten, beispielsweise Mikrotitrationsplatten, mit ihren Vorteilen der Miniaturisierung und damit Einsparung von Reagenzien, Automatisierung etc. werden nahezu in allen Bereichen der Biochemie, Biotechnologie und Pharmazieforschung sowie in der medizinischen, chemischen und Umweltanalytik eingesetzt.
Nahezu ausgespart von dieser Anwendung sind temperierte und insbesondere temperierte kinetische Untersuchungen. Die bisher verwendeten technischen Lösungen zum Temperieren von Multiwellanalysenplatten nutzen die Übertragung von Wärmeenergie, die in Heizelementen erzeugt wird, durch Leitung oder Konvektion auf das Analysengut. Zwar werden von nahezu allen Herstellern von Readerphotometern Geräte mit entweder inkorporierten oder optional erwärmbaren Temperiereinheiten angeboten, jedoch finden diese in der Praxis kaum Einsatz. Da die Temperierung häufig über erwärmte Luft erfolgt, sind für viele Anwendungen inakzeptabel lange Anheizperioden bis zum Erreichen der Solltemperatur erforderlich. Außerdem werden erhebliche Inhomogenitäten über die Fläche der Multiwellanalysenplatte beim Erwärmen des darin befindlichen Analysengutes beobachtet.
Zur Verringerung von Inhomogenitäten der Temperaturverteilung, insbeson­ dere in den Randzonen der Multiwellanalysenplatte, wird mit der DE 32 14 317 eine Lösung vorgeschlagen, welche die umlaufenden gespritzten Ränder der Multiwellanalysenplatte unterbricht und so die bekannten "Randeffekte" (edge effect) vermeidet. Die inakzeptabel lange Zeit bis zum Erreichen der Solltemperatur bleibt davon unbetroffen.
In der DE 34 41 179 wird ein Wärmeübertragungskörper vorgeschlagen, der auf einer Temperatureinstellplatte gleitend angeordnet ist und so die Temperatur in das Innere des flüssigen Analysengutes der Kunststoffplatte transportiert. Die relativ langen Wege des Wärmeflusses und die mehreren Wärmeübergangszonen von der Temperatureinstellplatte mit flächigem Wärmekontakt, über den Temperaturübertragungskörper, über die Kunststoff­ wandung des Einzelgefäßes bis zur Temperierung des Analysengutes im Innern der Einzelgefäßen von der Multiwellanalysenplatte lassen das Verfahren als wenig praktikabel erscheinen.
In der DE 39 41 168 werden blechförmige Wärmeübertragungskörper mit Vorsprüngen, die ihrerseits temperiert werden, vorgeschlagen. Dadurch ist eine Lösung entstanden, die zwar prinzipiell für viele Anwendungen von Multiwellanalysenplatte einsatzfähig ist, jedoch grundsätzlich die gleichen Temperierungsprobleme mit den bereits beschriebenen langen Wegen des Wärmeflusses und mit den Wärmeübergangszonen bis hin zum Analysengut in den Einzelgefäßen aufweist.
Darüber hinaus sind Lösungen bekannt (DE 42 17 868), welche die Geschwindigkeit des Wärmeüberganges und die Temperaturhomogenität in der Multiwellanalysenplatte verbessern, indem ein an sich kontrolliert temperierbarer Körper zur Aufnahme der Einzelgefäße der Multiwellanalysenplatte mit definiert gestalteten Heizstrukturen Verwendung findet. In der DE 195 01 298 ist eine Vorrichtung zum formschlüssigen Einpressen der Einzelgefäße in diesen Körper vorgesehen, wodurch eine gute Wärmeübertragung garantiert wird.
Von Nachteil bei diesen Lösungen ist allerdings das Erfordernis eines relativ kompliziert herzustellenden und damit kostenaufwendigen Temperierkörpers, wobei die Anwendung jeweils auf eine spezielle Ausführung von Multiwell­ analysenplatten in Kombination mit dem dazugehörigen Temperierkörper dieser definierten Heizstruktur beschränkt ist. Außerdem sind nach wie vor die besagten langen Wege des Wärmeflusses von Metall über Kunststoff bis zum Analysengut gegeben.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, das in der Multiwellanalysenplatte befindliche Analysengut unabhängig von Größe, Form und Beschaffenheit der Multiwellanalysenplatte möglichst schnell, mit geringem Aufwand und vor allem homogen über die Multiwellanalysenplatte verteilt auf eine Solltemperatur zu erwärmen.
Erfindungsgemäß wird das Analysengut direkt über die Absorption von Infrarotstrahlung erwärmt, ohne daß Wärmeleitbarrieren zu überwinden sind. Die Infrarotstrahlung, die vorzugsweise von einer Infrarotquelle mit einer Temperatur im Bereich von 100-1000°C stammt, wird vom Analysengut, das in der Praxis aus wäßrigen Lösungen mit Schichtdicken im Bereich von 0,5 bis 10 mm besteht, nahezu vollständig absorbiert und somit unmittelbar in Wärme zu dessen Temperierung umgesetzt.
Um eine Homogenität der Temperaturverteilung zu erreichen, wird entweder gleichzeitig die gesamte Multiwellanalysenplatte mit allen Einzelgefäßen bestrahlt oder die Infrarotstrahlung erfaßt jeweils lediglich einen Teil der Einzelgefäße (z. B. zeilen- oder spaltenweise), wobei die Multiwellanalysen­ platte relativ zum Infrarotstrahl bewegt wird. Der Infrarotstrahler kann oberhalb oder unterhalb der Mikrotiterplatte angeordnet sein.
Für einige Anwendungsfälle wird das zu temperierende Gut von mehreren Infrarotstrahlern sowohl von unten als auch von oben erwärmt.
In den Unteransprüchen 2 bis 8 und 10 bis 27 sind vorteilhafte Ausführungen der Verfahrens- und Vorrichtungsmerkmale aus den Hauptansprüchen genannt.
Die Temperaturhomogenität des in den Einzelgefäßen befindlichen Analy­ sengutes kann zusätzlich erhöht werden, indem die Multiwellanalysenplatte mit den Einzelgefäßen in einem gut wärmeleitenden Block (Metallblock) aufgenommen oder in engem Wärmekontakt auf einem solchen (bzw. auf einer Metallplatte) gelagert wird.
Vorteilhaft ist insbesondere auch, wenn Mittel, beispielsweise ein bewegter Schlitten, vorgesehen sind, welche die Multiwellanalysenplatte aufnehmen, in den Strahlungsbereich der Infrarotstrahlungsquelle und ggf. in demselben bewegen sowie nach Erwärmung zur Weiterbehandlung wieder aus diesem heraus transportieren. Temperaturgradienten innerhalb des Analysengutes in den Einzelgefäßen der Multiwellanalysenplatte kann vorteilhaft durch intermittierende Mischung mit an sich bekannten Schüttlern entgegengewirkt werden.
Die Erfindung soll nachstehend anhand eines in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert werden.
Es zeigen:
Fig. 1 Vorrichtung zum Transport einer Multiwellanalysenplatte durch einen Heizraum mit IR-Bestrahlung zu einem Temperierraum
Fig. 2 Multiwellanalysenplatte mit Deckfolie und Metallblock zur Aufnahme der Einzelgefäße
Fig. 3 Heizzeit bei Erwärmung von Wasser auf eine mittlere Solltempera­ tur von 37°C, ausgehend von 24,2°C Ausgangstemperatur in einem Einzelgefäß der Multiwellanalysenplatte
Fig. 4 zeitabhängiges Temperaturprofil in der Multiwellanalysenplatte bei IR-Bestrahlung einer Kresolrot/Trislösung ohne zusätzlich homo­ genisierenden Metallblock
Fig. 5 zeitabhängiges Temperaturprofil in der Multiwellanalysenplatte bei IR-Bestrahlung einer Kresolrot/Trislösung mit zusätzlich homo­ genisierendem Metallblock
In Fig. 1 ist eine Vorrichtung in Drauf und Seitenansicht gezeigt, mit welcher eine Multiwellanalysenplatte 1, die bekannterweise in Zeilen und Spalten eines 8 × 12-Rasters angeordnete Einzelgefäße 2 zur Aufnahme von Analysengut besitzt, zwecks Aufheizung durch Infrarot(IR)-Strahlung in einen Heizraum 3 und anschließend zur Erhaltung einer konstanten Temperatur aus diesem in einen Temperierraum 4 transportiert werden kann. Für diesen Transport befindet sich die Multiwellanalysenplatte 1 auf einem Schlitten 5, der auf Transportschienen 6 gleitet bzw. rollt, die durch den Heizraum 3 hindurch bis in den Temperierraum 4 führen.
Zunächst gelangt die Multiwellanalysenplatte 1 auf ihrem Transportweg in den Heizraum 3, in welchem das in den Einzelgefäßen 2 der Multiwell­ analysenplatte 1 befindliche Analysengut von einer Ausgangstemperatur auf eine Solltemperatur erhitzt wird. Zu diesem Zweck wird die Multiwellanalysenplatte 1 im gesamten Flächenbereich der Einzelgefäße 2 durch einen flächenhaften Infrarotstrahler 7 von oben bestrahlt, so daß das Analysengut in den Einzelgefäßen 2 homogen über die Multiwellanalysen­ platte 1 verteilt erwärmt wird. Diese Erwärmung erfolgt unmittelbar in dem Analysengut, das in der Praxis eine wäßrige Lösung mit einer Schichtdicke von 0,5 bis 10 mm ist und die auftreffende Infrarotstrahlung nahezu vollständig absorbiert und somit in Wärme umsetzt. Das Analysengut wird auf diese Weise sehr schnell und mit relativ geringem Aufwand sowie Energieverlusten auf die Solltemperatur gebracht. Die Leistungsdichte der IR-Strahlung ist abhängig von der Wellenlänge. Die Oberflächentemperatur des Infrarotstrahlers 7 wird so gewählt, daß ein möglichst großer Teil der Strahlungsleistung in einem Wellenlängenbereich liegt, der vom Analysengut absorbiert wird. In der Regel liegt diese Temperatur im Bereich von 100-1000°C. Sollte die Multiwellanalysenplatte 1 mit dem Analysengut in den Einzelgefäßen 2 (anders als in Fig. 1 dargestellt) von unten oder von unten und oben mit Infrarotstrahlung bestrahlt werden, so ist bei der Erwärmung die Transmission des Materials der Multiwellanalysenplatte 1, d. h. der Wandung der Einzelgefäße 2, zu berücksichtigen. Als Wandungsmaterial hat sich dabei Polystyrol bewährt.
Um diese Erwärmung gezielt steuern zu können, ist eine Steuerstufe 8 für den Infrarotstrahler 7 vorgesehen, an die ein oder mehrere Thermosensoren (in Fig. 1 ist ein Thermosensor 9 unmittelbar am Infrarotstrahler 7 gezeigt) angeschlossen werden. Darüber hinaus ist es möglich, weitere, insbesondere auch direkt an der Multiwellanalysenplatte 1 befindliche, Thermosensoren (in Fig. 1 ist ein Thermosensor 10 angedeutet) mit dem Eingang dieser Steuerstufe 8 zu verbinden.
Nach Erreichen der vorgewählten Solltemperatur wird die erwärmte Multiwellanalysenplatte 1 mittels des Schlittens 5 aus dem Heizraum 3 in den Temperierraum 4 transportiert, in welchem die Multiwellanalysenplatte 1 auf andere Art, beispielsweise durch Wärmekonvektion oder Wärmeleitung, weitertemperiert und damit unter vertretbarem Aufwand auf der Solltemperatur gehalten wird.
Um Temperaturgradienten innerhalb des Analysengutes in den Einzel­ gefäßen 2 der Multiwellanalysenplatte 1 zu vermeiden, wird das Analysengut mit einer an sich bekannten Schütteleinrichtung 15 (siehe Fig. 1) bewegt und intermittierend gemischt.
In Fig. 1 ist im Heizraum 3 zwischen dem Infrarotstrahler 7 und der darunter transportierten Multiwellanalysenplatte 1 eine für die Infrarotstrahlung weitgehend durchlässige Platte 11, beispielsweise eine Glaskeramikplatte, angeordnet. Zum einen trennt diese Platte 11 zum Schutz räumlich den Bereich, in dem sich die Multiwellanalysenplatte 1 befindet, vom elektrischen Potential des Infrarotstrahlers 7; zum anderen verhindert sie ein eventuell einseitiges, insbesondere durch Luftbewegungen hervorgerufenes, Abkühlen des Infrarotstrahlers 7. Außerdem kann die Platte 11 zur Absorption von Strahlung im nahen Infrarot eingesetzt werden, damit störende Floureszenz- und Lumineszenzeffekte, die in den Multiwellanalysenplatten 1 auftreten können, unterdrückt werden.
Um die Homogenität der Erwärmung des in den matrixförmig über die gesamte Multiwellanalysenplatte 1 angeordneten Einzelgefäßen 2 befindli­ chen Analysengutes zu erhöhen, wird die Multiwellanalysenplatte 1 durch einen gut wärmeleitenden Metallblock 12 aufgenommen, mit dem die Einzelgefäße 2 für einen Temperaturaustausch in einem guten Wärmekontakt zueinander stehen.
Fig. 2 zeigt sowohl die Multiwellanalysenplatte 1 in Draufsicht als auch diese in Seitenansicht getrennt und vereinigt mit dem Metallblock 12. Der Metall­ block 12 besitzt durchgängige Bohrungen 13 zur formschlüssigen Aufnahme der Einzelgefäße 2. Eine Wärmeleitung zwischen den Einzelgefäßen 2 über den Metallblock 12 gleicht Unterschiede in der Erwärmung des über die Multiwellanalysenplatte 1 verteilten Analysengutes aus. Ein hinreichend guter Wärmekontakt zwischen den Einzelgefäßen 2 könnte prinzipiell auch erreicht werden, indem die Multiwellanalysenplatte 1 nicht von einem Block (wie dem Metallblock 12) aufgenommen wird, sondern lediglich auf einer Metallplatte (nicht dargestellt) ruht.
In Fig. 2 ist, um das Analysengut in den Einzelgefäßen 2 insbesondere gegen Verdunstung, gegen Transportverluste und gegen Verschmutzung zu schützen, eine Deckfolie 14, beispielsweise eine Klebefolie, auf der Multiwellanalysenplatte 1 angebracht. Diese Deckfolie ist für die verwendete Infrarotstrahlung weitgehend durchlässig.
Fig. 3 zeigt die Abhängigkeit der Heizzeit für die Multiwellanalysenplatte 1 von der aufgewendeten Strahlungsenergie. In den im Raster 8 × 12 der Multiwellanalysenplatte 1 angeordneten Einzelgefäßen 2 wird eine wäßrige Lösung von Analysengut mit jeweils einem Volumen von 250 µl pro Einzelgefäß 2 mit Hilfe des Infrarotstrahlers 7 ausgehend von einer Umgebungstemperatur von 24,2°C auf eine mittlere Solltemperatur von 37°C erwärmt. Der Infrarotstrahler 7 ist dabei über der Multiwellanalysen­ platte 1 angeordnet und überragt diese flächenmäßig in jeder Richtung. Der Abstand zwischen der Multiwellanalysenplatte 1 und dem Infrarotstrahler 7 beträgt 22 mm. Das Diagramm zeigt die Heizzeit in s für diese Erwärmung in Abhängigkeit der Strahlungsleistung des Infrarotstrahlers 7. Bei einer Leistungsaufnahme des Strahlers von 468 W wird die Solltemperatur von 37°C bereits nach 11 s erreicht. Andere, insbesondere auf Wärmeleitung beruhende, Heizverfahren benötigen vergleichsweise für einen solchen Erwärmungsvorgang wesentlich längere Zeit. Bei der gewählten Geometrie der Anordnung des Infrarotstrahlers 7 und der Multiwellanalysenplatte 1 blieb die Heizzeit im übrigen für einen Abstandsbereich von 22-56 mm nahezu unabhängig von der Distanz.
In Fig. 4 ist schematisch das Temperaturprofil in einer Multiwellanalysen­ platte 1 für die Zeitzyklen 0 : 58, 3 : 38, 4 : 14, und 4 : 49 Minuten nach einer Bestrahlungsperiode unter einem Strahler im Abstand von 20 mm dargestellt. Als Analysengut in den 8 × 12 Einzelgefäßen 2 der Multiwellanalysenplatte 1 wird für den Testzweck eine beispielsweise aus der DE 41 30 584 A1 an sich bekannte Kresolrotlösung verwendet, die eine temperaturabhängige Absorbanz hat und als "optisches Thermometer" dient. Die Kresolrotlösung wird von 22,2°C Ausgangstemperatur auf wiederum eine Solltemperatur von 36,7°C erwärmt. Nach dem Aufheizen der Kresolrotlösung mit einer Leistung von 453 W für eine Zeit von 50 s wurde die Multiwellanalysen­ platte 1 sofort in einem an sich bekannten absorbanzmessenden vorgeheizten Reader mehrfach vermessen. Die erreichten Temperaturen sind als mittlere Temperatur aus Fig. 4 zu entnehmen. Die Standardabweichungen der gemessenen Temperaturen sind an den äußeren Rändern der jeweiligen Temperaturprofile, die den besagten vier Zeitzyklen zugeordnet sind, dargestellt. Wie aus der Abbildung ersichtlich ist, wird schon nach kurzer Zeit eine Homogenität der Temperaturverteilung erreicht, die für viele analytische Anwendungsfälle ausreicht.
Zur Gegenüberstellung (siehe Fig. 5) wurde das Analysengut unter vergleich­ baren Bedingungen erwärmt und ausgewertet, wobei die Multiwellanalysen­ platte 1 jedoch zur Verbesserung der Homogenität der Temperaturerhöhung durch den Metallblock 12 (siehe Fig. 2) aufgenommen wurde. Die lokal unterschiedliche Leistungsdichte des Infrarotstrahlers 7 führt zwar wiederum zunächst zu Temperaturunterschieden, d. h. zu unterschiedlich erwärmten Bereichen der Multiwellanalysenplatte 1, jedoch setzt sofort eine Wärmeleitung über den Metallblock 12 ein, der die Streuung der Temperatur deutlich senkt. Bemerkenswert ist die selbst zu Beginn der Messung (Zyklus 1 in Fig. 5) viel niedrigere Streuung der Temperatur im Vergleich zum Aufheizen ohne homogenisierenden Metallblock 12 (Zyklen 3 und 4 in Fig. 4). Die benötigte Heizzeit nimmt bei gleicher Heizleistung zu und beträgt ohne den homogenisierenden Metallblock 12 lediglich 14 s, mit diesem 60 s.
Die Leistungsaufnahme des homogenisierenden Metallblocks 12 kann insbesondere durch eine geeignete Oberflächengestaltung (Farbe, Rauhigkeit), so beeinflußt werden, daß dieser sich etwa genauso schnell erwärmt wie das Analysengut in den Einzelgefäßen 2 der Multiwellanalysen­ platte 1. Diese Bedingung verringert eine Wärmeleitung aus den Einzelgefäßen 2 zum homogenisierenden Metallblock 12, so daß die oben angegebene Heizzeit von 14 s wieder erreichbar ist.
Aufstellung der verwendeten Bezugszeichen
1
Multiwellanalysenplatte
2
Einzelgefäß
3
Heizraum
4
Temperierraum
5
Schlitten
6
Transportschiene
7
Infrarotstrahler
8
Steuerstufe
9
,
10
Thermosensor
11
Platte
12
Metallblock
13
Bohrung
14
Deckfolie
15
Schütteleinrichtung

Claims (27)

1. Verfahren zur Temperierung von Analysengut in Multiwellanalysen­ platten, bei dem das in Einzelgefäßen der Multiwellanalysenplatte befindliche Analysengut temperiert wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Multiwellanalysenplatte mit dem Analysengut einer Infrarotstrahlung ausgesetzt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Multiwell­ analysenplatte mit dem Infrarotstrahlung absorbierenden Analysengut gleichzeitig im gesamten Flächenbereich der Einzelgefäße bestrahlt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Multiwell­ analysenplatte mit dem Infrarotstrahlung absorbierenden Analysengut nacheinander in Flächenteilbereichen der Einzelgefäße bestrahlt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Multiwell­ analysenplatte mit dem Infrarotstrahlung absorbierendem Analysengut während der Bestrahlung relativ zur Infrarotstrahlung bewegt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Multiwell­ analysenplatte mit dem Infrarotstrahlung absorbierendem Analysengut bis zum Erreichen einer Solltemperatur der Infrarotstrahlung ausgesetzt wird und danach auf andere Weise weitertemperiert wird.
6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Temperatur des durch die Infrarotstrahlung erwärmten Analysengutes gemessen und ggf. mit einer Solltemperatur verglichen wird.
7. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Multiwell­ analysenplatte mit dem Analysengut zum Abbau von Temperaturgradienten im Analysengut, vorzugsweise durch Schütteln bzw. Vibration, bewegt wird.
8. Verfahren nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß das Infrarot­ strahlung absorbierende Analysengut primär im festen Aggregatzustand vorliegt und mit der Infrarotstrahlung aufgetaut wird.
9. Vorrichtung zur Temperierung von Analysengut in Multiwellanalysen­ platten mit einer Heizstrahlungsquelle, dadurch gekennzeichnet, daß als Heizstrahlungsquelle eine über und oder unter der Multiwellanalysen­ platte (1) angeordnete Infrarotstrahlungsquelle (7) vorgesehen ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Infrarot­ strahlungsquelle (7) eine Oberflächentemperatur zwischen 100°C und 1000°C aufweist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Infrarot­ strahlungsquelle (7) eine flächenförmige Abstrahlung aufweist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Infrarot­ strahlungsquelle (7) eine Strahlungsfläche besitzt, die mindestens so groß ausgebildet ist wie der Flächenbereich, der von den Einzelgefäßen (2) der Multiwellanalysenplatte (1) eingenommen wird.
13. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Infrarot­ strahlungsquelle (7) eine Strahlungsfläche besitzt, die mindestens so groß ausgebildet ist wie eine Zeile oder Reihe der matrixförmig angeordneten Einzelgefäße (2) von der Multiwellanalysenplatte (1).
14. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel (5) vorgesehen sind, welche die Multiwellanalysenplatte (1) aufnehmen und in den Strahlungsbereich der Infrarotstrahlungsquelle (7) transportieren.
15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel aus einem beweglichen Schlitten (5) bestehen.
16. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel (5) so ausgebildet sind, daß die Multiwellanalysenplatte (1) während der Bestrahlung im Strahlungsbereich der Infrarotstrahlungsquelle (7) bewegt wird.
17. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel (5) so ausgebildet sind, daß die Multiwellanalysenplatte (1) nach der Infrarotbestrahlung aus dem Bereich der Infrarotstrahlungsquelle (7) in einen Raum (4) zur weiteren Temperierung, insbesondere zur Temperatur­ konstanthaltung, transportiert wird.
18. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel (5) einen Metallblock (12) mit Vertiefungen (13) zur formschlüssigen und gut wärmeleitenden Aufnahme der Einzelgefäße (2) von der Multiwell­ analysenplatte (1) aufweisen.
19. Vorrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Vertiefungen aus durchgängigen Bohrungen (13) bestehen.
20. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel (5) eine Metallplatte zur gut wärmeleitenden Auflage der Multiwell­ analysenplatte (1) enthalten.
21. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel (5) Bestandteil eines programmgesteuerten Transportsystems sind.
22. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß zur Messung der Temperatur von dem durch die Infrarotstrahlung erwärmten Analysengut mindestens ein Temperatursensor (10) vorgesehen ist, der in gutem thermischen Kontakt mit dem Analysengut steht.
23. Vorrichtung nach Ansprüchen 9, 17 und 22, dadurch gekennzeichnet, daß der mindestens eine Temperatursensor unmittelbar am Metallblock (12) zur gut wärmeleitenden Aufnahme der Einzelgefäße (2) von der Multiwell­ analysenplatte (1) angeordnet ist.
24. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß eine ggf. auf der Multiwellanalysenplatte (1) befindliche Abdeckung (14) der Einzelge­ fäße (2) für die Strahlung der Infrarotstrahlungsquelle (7) zumindest partiell und weitgehend durchlässig ist.
25. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Infrarotstrahlungsquelle (7) und der Multiwellanalysenplatte (1) eine für die Infrarotstrahlung weitgehend durchlässige Platte (11) angeordnet ist.
26. Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel (15) vorgesehen sind, welche die Multiwellanalysenplatte (1) mit dem Analysen­ gut während der Infrarotbestrahlung zum Abbau von Temperaturgradienten im Analysengut zum Zweck dessen Durchmischung bewegen.
27. Vorrichtung nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, daß die Mittel aus einer Schütteleinrichtung (15) bestehen.
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