DE19908360A1 - Verfahren zum Betreiben eines Wirbelstromsensors und Wirbelstromsensor - Google Patents
Verfahren zum Betreiben eines Wirbelstromsensors und WirbelstromsensorInfo
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Abstract
Ein Verfahren zum Betreiben eines Wirbelstromsensors (1) mit einer Meßspule (2) und einer Auswerteschaltung (4) zur Bestimmung von Material- oder Geometrieparametern eines Meßobjekts (5), bei dem das Meßobjekt (5) mit Abstand (d) zu der Meßspule (2) angeordnet wird, die Impedanz der Meßspule (2) ausgewertet wird, während die Meßspule (2) über eine Wechselspannung vorgegebener Frequenz gespeist ist, und bei dem die Auswerteschaltung (4) aufgrund der Impedanz der Meßspule (2) die Material- und Geometrieparameter des Meßobjekts (5) bestimmt, wobei die Impedanz der Meßspule (2) bei einer Wechselspannung mit einer ersten Frequenz erfaßt wird, die Impedanz der Meßspule (2) bei einer Wechselspannung mit einer zweiten Frequenz erfaßt wird und daß die Auswerteschaltung (4) aufgrund der Impedanzen der Meßspule (2) bei der ersten und zweiten Frequenz die Material- und Geometrieparameter des Meßobjekts (5) errechnet. Ferner ist ein Wirbelstromsensor (1) beschrieben, der im Zusammenhang mit dem Verfahren vorteilhaft einsetzbar ist.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben eines Wirbelstromsensors mit ei
ner Meßspule und einer Auswerteschaltung zur Bestimmung von Material- oder
Geometrieparametern eines Meßobjekts, bei dem das Meßobjekt mit Abstand zu der
Meßspule angeordnet wird, die Impedanz der Meßspule ausgewertet wird, während
die Meßspule über eine Wechselspannung vorgegebener Frequenz gespeist ist, und
bei dem die Auswerteschaltung aufgrund der Impedanz der Meßspule die Material-
und Geometrieparameter des Meßobjekts bestimmt.
Die Erfindung betrifft ferner einen Wirbelstromsensor, insbesondere zum Einsatz bei
diesem Verfahren, mit einer Meßspule, einer Kompensationsspule und einer Aus
werteschaltung, insbesondere zur Bestimmung von Material- und/oder Geometriepa
rametern eines elektrisch leitenden Meßobjekts, wobei die Meßspule und die Kom
pensationsspule mit Wechselstrom beaufschlagbar sind und die Kompensati
onsspule in der Nähe der Meßspule angeordnet ist, so daß sie den thermischen Um
gebungsbedingungen der Meßspule ausgesetzt ist.
Wirbelstromsensoren werden häufig in der Industrie zur Abstandsmessung und zur
Dickenmessung an einem flachen Meßobjekt, z. B. einer Bahn, einer Schicht oder ei
nem Band, eingesetzt. Dabei werden sie meist bei schwierigen Umgebungsbedin
gungen, bspw. bei hohen Temperaturen, verwendet. Gerade im Zusammenhang mit
hohen, stark schwankenden Temperaturen kommt es bei bekannten Verfahren zur
Bestimmung von Material- und Geometrieparametern zu starken Verfälschungen der
Meß- und Auswerteergebnisse. Bei der Meßspule des Wirbelstromsensors führt der
Temperatureinfluß in erster Linie zu einer Änderung des Realteils, aber auch ein Ein
fluß auf den Imaginärteil der komplexen Impedanz ist feststellbar. Andererseits hat
die Temperatur aber auch einen Einfluß auf die Leitfähigkeit des Meßobjekts. Da die
Leitfähigkeit des Meßobjekts wiederum Einfluß auf die induzierten Wirbelströme und
über die Rückwirkung der magnetischen Kopplung auch auf die Impedanz der Meß
spule hat, ist auch die Leitfähigkeit des Meßobjekts eine Quelle für Verfälschungen
des Meßergebnisses.
Aus der DE 196 31 438 A1 ist ein Wirbelstromsensor mit einer Meß- und einer Kom
pensationsspule bekannt, die in unmittelbarer Nähe, d. h. in thermischem Kontakt, zu
der Meßspule angeordnet ist. Die elektromagnetischen Felder der Kompensati
onsspule und der Meßspule sind orthogonal zueinander orientiert. Durch die ortho
gonale Anordnung der Kompensationsspule hat das Meßobjekt einen geringen Ein
fluß auf deren Impedanz, falls der Wirbelstromsensor mit seiner Meßspule so posi
tioniert wird, daß sich die Anwesenheit des Meßobjekts maximal auf die Impedanz
der Meßspule auswirkt.
Ein Nachteil des bekannten Wirbelstromsensors besteht darin, daß die Temperatur
einflüsse auf die Leitfähigkeit des Meßobjekts über den Wirbelstromeffekt in die
Meßspule einkoppeln, so daß die Meßergebnisse, bspw. der Dicke einer Schicht,
durch die Veränderung der Leitfähigkeit beeinflußt werden.
Ferner sind Wirbelstromsensoren bekannt, die bei einem Verfahren zur berührungs
losen Foliendickenmessung eingesetzt werden, wobei der Wirbelstromsensor an ei
ner Seite des Meßobjekts angeordnet ist. Dabei besteht der Nachteil, daß der Wir
belstromsensor abhängig von den Materialeigenschaften in einem bestimmten,
nachzuregelnden Grundabstand zum Meßobjekt gehalten werden muß, um exakte
Messungen durchzuführen.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und einen miniaturi
sierungsfähigen Wirbelstromsensor zur berührungslosen Messung von Material- und
Geometrieparametern elektrisch leitender Materialien anzugeben, wobei eine zuver
lässige Kompensation von Störgrößen auf die Meßergebnisse vorgesehen ist. Unter
Störgröße wird die Impedanzschwankung der Meßspule durch Veränderung des
Grundabstands oder der Temperatur verstanden, wodurch die Meßergebnisse ver
fälschend beeinflußt werden.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein Verfahren mit den Merkmalen des
Anspruchs 1 gelöst. Danach wird die Impedanz der Meßspule bei einer Wech
selspannung mit einer ersten Frequenz erfaßt, die Impedanz der Meßspule bei einer
Wechselspannung mit einer zweiten Frequenz erfaßt und die Auswerteschaltung er
rechnet aufgrund der Impedanzen der Meßspule bei der ersten und der zweiten Fre
quenz die Material- und Geometrieparameter des Meßobjekts.
Erfindungsgemäß ist erkannt worden, daß die Temperatureinflüsse auf die Messung
der Material- und Geometrieparameter des Meßobjekts hervorragend kompensiert
werden können, wenn die Messung mit einem Wirbelstromsensor bei zwei unter
schiedlichen Frequenzen durchgeführt wird. Die Temperatureinflüsse wirken sich,
abhängig von der Frequenz der Wechselspannung, mit der die Meßspule gespeist
wird, unterschiedlich aus. Andererseits kann die Auswerteschaltung aufgrund der
Impedanzen der Meßspule bei den unterschiedlichen Frequenzen, bei Kenntnis der
mathematischen Zusammenhänge zwischen den temperaturbeeinflußten Größen,
bspw. der Leitfähigkeit des Meßobjekts, die Material- und Geometrieparameter des
Meßobjekts berechnen. Eine vollständige Kompensation der Temperatureinflüsse auf
die Meßgrößen ist nur möglich, wenn sowohl der Temperatureinfluß auf die Impe
danz der Meßspule als auch der Temperatureinfluß auf die Leitfähigkeit des Meßob
jekts kompensiert werden.
Das Verfahren der vorliegenden Erfindung wird bevorzugt im Zusammenhang mit der
einseitigen Foliendickenmessung eingesetzt, wobei der Wirbelstromsensor an einer
Seite des Meßobjekts angeordnet ist. Bei dem Verfahren wird die Dicke bzw. Stärke
eines flächigen Meßobjekts, insbesondere einer Bahn, eines Bandes oder einer
Schicht aus elektrisch leitendem Material, mit Hilfe mindestens einer von einem
Wechselstrom durchflossenen Meßspule, die mit einem Grundabstand zum Meßob
jekt angeordnet ist, bestimmt. Dabei wird über die Impedanz die Änderung der In
duktivität und Dämpfung ausgewertet. Hinsichtlich des Grundabstands kann zu
nächst eine Messung mit dem Wirbelstromsensor ohne Meßobjekt durchgeführt wer
den, um den Wirbelstromsensor zu kalibrieren. Danach können dann die Messungen
mit dem Meßobjekt durchgeführt werden, wobei erfindungsgemäß die Impedanz
schwankungen aufgrund der Veränderung des Grundabstands kompensiert werden
sollen. Bei dem Verfahren gemäß der vorliegenden Erfindung ist eine Kalibrierung
auch dann möglich, wenn Messungen nur mit dem Meßobjekt durchgeführt werden
können. Ein Microcontroller kann dann aus den Meßergebnissen bei den verschie
denen Frequenzen den kompensierten Meßwert errechnen.
Erfindungsgemäß kann das Verfahren folgende Meßschritt vorsehen: Ermittlung der
Impedanz oder des Induktivitätswertes und/oder des Dämpfungswertes der Meß
spule bei einer ersten Frequenz. Dabei ist entweder kein Meßobjekt im Bereich des
Wirbelstromsensors vorgesehen oder der Abstand zwischen Meßobjekt und Meß
spule ist größer als der doppelte Radius R der Meßspule, so daß der Einfluß des
Meßobjekts klein ist. Anschließend wird der Induktivitätswert und der Dämpfungswert
mit vorhandenem Meßobjekt bestimmt, wobei der Abstand zwischen Meßspule und
Meßobjekt kleiner als der Radius R der Meßspule ist. Die Meßergebnisse werden
bevorzugt in einen dimensionslosen Wert umgewandelt. Schließlich wird über einen
Rechner aus dem Meßwert der Meßspule die Dicke des Meßobjekts bestimmt. Dazu
kann beispielsweise die Leitfähigkeit des Meßobjekts bei der Berechnung verwendet
werden. Gerade bei der erfindungsgemäßen Durchführung der Messung bei zwei
unterschiedlichen Frequenzen, ist jedoch die Ermittlung der Leitfähigkeit nicht unbe
dingt erforderlich. Denn der dem Wirbelstromsensor nachgeschaltete Rechner MC
kann die Dicke des Meßobjekts durch einen Algorithmus berechnen, der von der
Leitfähigkeit und/oder dem Grundabstand zwischen Meßspule und Meßobjekt unab
hängig ist.
Bei einer Weiterbildung der Erfindung kann die Dicke D eines flächigen Meßobjekts
aus dem Meßwert berechnet werden. Bei bekannter, bspw. zuvor gemessener Leit
fähigkeit des Meßobjekts, läßt sich die Dicke aus folgenden Gleichungen bestimmen:
In den oben genannten Gleichungen sind D die Dicke des Meßobjekts, d der Ab
stand von der Spule zum Meßobjekt, r der Radius der Spule, ω die Kreisfrequenz
und µ0 die magnetische Feldkonstante der Meßspule.
Erfindungsgemäß kann die Auswerteschaltung die Dicke des Meßobjekts mittels den
oben genannten Gleichungen aus den Impedanzen der Meßspule berechnen. Dabei
muß die Leitfähigkeit σ des Meßobjekts bekannt sein. Dieses Verfahren kann erfin
dungsgemäß bei einem Wirbelstromsensor mit oder ohne Kompensationsspule ein
gesetzt werden.
Bevorzugt kann die Leitfähigkeit des Meßobjekts durch die Auswerteschaltung auf
grund der gemessenen Impedanz der Meßspule bei einer ersten Frequenz berechnet
werden. Der Vorteil bei diesem Verfahren besteht darin, daß die Leitfähigkeit des
Meßobjekts nicht vor jedem Meßvorgang bestimmt sein muß, um die Dicke D des
Meßobjekts zu berechnen. Die Auswerteschaltung kann aufgrund der oben angege
benen Gleichungen die Leitfähigkeit des Meßobjekts berechnen.
Bei einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung wird die Meßspule mit einer
Wechselspannung hoher erster Frequenz versorgt, so daß die Impedanz der Meß
spule bei dieser ersten Frequenz von den Material- oder Geometrieparametern des
Objekts nahezu unabhängig ist. Wenn die erste Frequenz groß genug gewählt ist, ist
die Impedanz der Meßspule von den Material- oder Geometrieparametern, insbe
sondere der Dicke des flächigen Meßobjekts unabhängig. Damit ist die Bestimmung
der Material- oder Geometrieparameter des Meßobjekts besonders vorteilhaft ohne
die temperaturabhängige Leitfähigkeit des Meßobjekts zu berechnen. Da dann die
Bestimmung der Dicke des Meßobjekts unabhängig von der Leitfähigkeit des Meß
objekts ist, sind Temperatureinflüsse auf das Meßobjekt dadurch kompensiert.
In besonders vorteilhafter Weise kann dann zusätzlich noch ein Wirbelstromsensor
mit Kompensationsspule zusammen mit dem Verfahren verwendet werden, wobei
die Kompensationsspule die Temperatureinflüsse auf die Meßspule selbst reduzieren
kann. So wird die Kompensationsspule derart angeordnet, daß sie unabhängig von
den Material- oder Geometrieparametern des Meßobjekts ist. Die Impedanz der
Kompensationsspule kann dann mit der Impedanz der Meßspule verglichen, abgegli
chen oder verrechnet werden, so daß der temperaturabhängige Einfluß auf die Meß
spule durch den besonders vorteilhaften Wirbelstromsensor dieser Erfindung zusätz
lich kompensiert wird. Bei der Verwendung des Verfahrens zusammen mit dem er
findungsgemäßen Wirbelstromsensor sind dann sowohl die Temperatureinflüsse auf
die Leitfähigkeit des Meßobjekts als auch die Temperatureinflüsse auf die Meßspule
selbst kompensiert.
Die Material- und Geometrieparameter des Meßobjekts werden bei einer besonders
vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung von der Auswerteschaltung, insbesondere
durch einen Rechner, mittels eines nichtlinearen Gleichungssystems berechnet. Zur
Berechnung der Dicke eines Meßobjekts lautet das Gleichungssystem wie folgt:
Wird die Gleichung einerseits für die erste Frequenz (k = 1) mit der Gleichung für die
zweite Frequenz (k = 2) gleichgesetzt, so läßt sich daraus besonders vorteilhaft die
Leitfähigkeit des Meßobjekts berechnen. Die Größe ωk ist dabei die Kreisfrequenz
der Wechselspannung, mit der die Meßspule versorgt wird. Das nichtlineare Glei
chungssystem ist bevorzugt von der ersten Frequenz und der zweiten Frequenz der
Wechselspannung abhängig. Da sich aus dem Gleichungssystem die Leitfähigkeit
berechnen läßt, können Material- oder Geometrieparameter des Meßobjekts, insbe
sondere die Dicke eines flachen Meßgutes, dadurch berechnet werden.
Bei einer besonders vorteilhaften Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens,
läßt sich die Dicke eines Meßobjekts in einem eingeschränkten Bereich näherungs
weise bestimmen. In diesem Meßbereich läßt sich die Dicke D eines flachen Meß
objekts über folgende Gleichung berechnen:
Bevorzugt ist die näherungsweise Berechnung der Material- oder Geometriepara
meter des Meßobjekts durch die Auswerteschaltung auf einen Bereich abhängig von
der Leitfähigkeit des Meßobjekts und den Frequenzen beschränkt. Der Bereich auf
den die Berechnung der Auswerteschaltung beschränkt wird, läßt sich durch folgen
de Gleichung wiedergeben:
r = √ ≧ 10
Bei einer besonders vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung werden die Tempera
tureinflüsse auf die Impedanz der Meßspule durch eine Kompensationsspule ausge
glichen, deren Impedanz von Material- und Geometrieparametern des Meßobjekts
nahezu unabhängig sind. Die Impedanz der Kompensationsspule kann dann zur
Kompensation der Temperatureinflüsse bei der Impedanz der Meßspule verwendet
werden. Dazu kann die Auswerteschaltung bspw. Mittel zum Berechnen des berei
nigten Realteils der Meßspule aufweisen. Der bereinigte Realteil ergibt sich aus der
Differenz zwischen den Realteilen der Impedanzen der Meßspule und der Kompen
sationsspule.
Die Auswerteschaltung kann zusätzlich Mittel zum Erfassen des bereinigten Imagi
närteils als Differenz zwischen dem Imaginärteil der Impedanzen der Meßspule und
der Kompensationsspule aufweisen. Auf diese Weise kann die Auswerteschaltung
den Temperatureinfluß auf die Meßspule aufgrund der Subtraktion der Impedanz der
Kompensationsspule kompensieren. Andererseits könnte der Temperatureinfluß aber
auch dadurch kompensiert werden, daß sich der Temperatureinfluß bei der ersten
Frequenz anders auswirkt als bei der zweiten Frequenz. Infolgedessen könnte auch
der Temperatureinfluß über die Impedanzen bei der ersten und der zweiten Fre
quenz der Versorgungs-Wechselspannung kompensiert werden.
Bei einer anderen Weiterbildung der vorliegenden Erfindung ist jeweils die Güte der
Meßspule und der Kompensationsspule im Betrag angeglichen. Die Gleichung für die
Güte der Spulen lautet:
Bei einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist die Güte der Meßspule gleich
der Güte der Kompensationsspule.
Die Angleichung der Güte der Spulen kann durch entsprechende Wahl der Spulen
parameter erreicht werden. Die Spulengüte kann bspw. über die Windungszahl, über
den Durchmesser des Spulendrahtes oder über die Spulengeometrie eingestellt wer
den.
Bei einer besonders bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist die Berechnung der
Material- und Geometrieparameter des Meßobjekts, insbesondere der Dicke, unab
hängig vom Abstand zwischen der Meßspule und dem Meßobjekt. Dadurch kann die
Auswerteschaltung die Dicke des Meßobjekts berechnen, ohne daß der Abstand
zwischen Meßobjekt und Meßspule bekannt sein muß.
Bevorzugt erfolgt die Temperaturkompensation durch Subtraktion der komplexen Im
pedanz der Meßspule von der komplexen Impedanz der Kompensationsspule. Dazu
können zwei Operationsverstärker mit jeweils der Meßspule bzw. der Kompensati
onsspule in der Rückkopplungsschleife vorgesehen sein.
Bei einer anderen Weiterbildung der Erfindung kann die Amplitude der Kopplungsim
pedanz der Meßspule oder der Kompensationsspule zur numerischen Korrektur bzw.
Verbesserung der Berechnung eingesetzt werden.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung wird auch durch eine Vorrichtung gemäß
Anspruch 18 gelöst. Danach ist ein Wirbelstromsensor mit einer Meßspule, einer
Kompensationsspule und einer Auswerteschaltung zur Bestimmung von Material-
und/oder Geometrieparametern eines elektrisch leitenden Meßobjekts vorgesehen,
wobei die Meßspule und die Kompensationsspule mit Wechselstrom beaufschlagbar
sind und die Kompensationsspule in der Nähe der Meßspule angeordnet ist, so daß
sie den thermischen Umgebungsbedingungen der Meßspule ausgesetzt ist. Die
Kompensationsspule ist erfindungsgemäß so ausgebildet und angeordnet, daß der
Einfluß des Meßobjekts auf deren Impedanz möglichst gering ist.
Erfindungsgemäß ist erkannt worden, daß bei einem Wirbelstromsensor mit einer
Kompensationsspule der Einfluß des Meßobjekts auf deren Impedanz sehr gering
sein muß, so daß die Auswerteschaltung die temperaturabhängige Impedanz der
Kompensationsspule von der temperatur- und vom Meßobjekt abhängigen Impedanz
der Meßspule abziehen kann und der so verbleibende Differenzbetrag im Wesentli
chen nur von dem Einfluß durch das Meßobjekt abhängt. Die Kompensationsspule
kann beispielsweise so angeordnet sein, daß das Spulenfeld mit einem Winkel zu
dem Spulenfeld der Meßspule ausgerichtet ist, so daß eine sich unterscheidende
Rückkopplung des Meßobjekts auf die Kompensationsspule, im Vergleich zur Meß
spule, ergibt.
Aber auch wenn die Achsen der Meßspule und der Kompensationsspule im wesent
lichen parallel angeordnet sind, kann die Auswerteschaltung den Temperatureinfluß
kompensieren. Beispielsweise besitzt dann die Kompensationsspule einen viel ge
ringeren Querschnitt als die Meßspule, wodurch der Einfluß des Meßobjekts auf die
Kompensationsspule stark verringert ist, wobei sich der Temperatureinfluß auf beide
Spule ähnlich auswirkt. Infolgedessen kann die Impedanz der Kompensationsspule
von der Impedanz der Meßspule zur Temperaturkompensation subtrahiert werden,
so daß der Differenzwert nur vom Einfluß des Meßobjekts abhängt. Natürlich kann
auch über die Anzahl der Spulenwindungen, der Spulengeometrie oder der Spulen
güte eine unterschiedlich vom Meßobjekt abhängige Impedanz erzeugt werden.
Bei einer besonders vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung ist die Kompensati
onsspule innerhalb der Meßspule angeordnet. Dadurch eignet sich der Wirbelstrom
sensor insbesondere für eine kompakte Bauweise, wobei der Radius der Kompensa
tionsspule insbesondere kleiner gewählt ist, als der Radius der Meßspule. Durch die
unterschiedliche Dimensionierung der Spulen kann der Einfluß des Meßobjekts auf
die Kompensationsspule geringer gehalten werden, als der Einfluß auf die Meßspule.
Auf diese Weise läßt sich durch Subtraktion der Impedanz der Kompensationsspule
von der Impedanz der Meßspule eine vorteilhafte Temperaturkompensation durch
führen.
Bevorzugt ist der Radius der Kompensationsspule kleiner als der Radius der Meß
spüle und insbesondere kleiner als der Abstand zwischen Kompensationsspule und
Meßobjekt. Bei dieser geometrischen Ausgestaltung und Anordnung der Kompensa
tionsspule ist der Einfluß des Meßobjekts auf die Impedanz der Kompensationsspule
verhältnismäßig klein. Infolgedessen kann die Auswerteschaltung besonders vorteil
haft die Berechnung zur Temperaturkompensation durchführen.
Die Kompensationsspule und/oder die Meßspule des erfindungsgemäßen Wirbel
stromsensors können auch als flache Spulen ausgebildet sein. Als flache Spule wird
im Zusammenhang mit der Erfindung eine Spiralspule oder eine Spule verstanden,
deren Windungen im wesentlichen in einer Ebene liegen, die aber auch senkrecht
zur Ebene mehrlagig sein können. Dadurch können sowohl die Meßspule als auch
die Kompensationsspule auf einer oder mehreren Leiterplatten oder ähnlichen Trä
germaterialien, bspw. aus Kunststoff, angeordnet sein.
Bei einer besonders vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung sind die Meßspule und
die Kompensationsspule in einer Ebene zueinander, insbesondere auf demselben
Träger angeordnet. Bevorzugt ist dann die Kompensationsspule konzentrisch zur
Meßspule angeordnet. Auf diese Weise können die Meßspule und die Kompensati
onsspule auf einem Träger oder einer Leiterplatte angeordnet werden und besonders
vorteilhaft miniaturisiert werden. Der Wirbelstromsensor kann dabei besonders be
vorzugt auf einer Leiterplatte zusammen mit Halbleitern, Operationsverstärkern und
anderen Bauelementen integriert werden.
Bei einer anderen vorteilhaften Weiterbildung des erfindungsgemäßen Wirbelstrom
sensors kann eine Meßspule und/oder eine Kompensationsspule auf einer Seite des
Meßobjekts angeordnet sein, während eine andere Meßspule und/oder eine andere
Kompensationsspule auf dessen gegenüberliegenden Seite angeordnet ist. Im ein
fachsten Fall ist an einer Seite des Meßobjekts die Meßspule als Sendespule vorge
sehen, während auf der gegenüberliegenden Seite des Meßobjekts die Kompensa
tionsspule als Empfangsspule ausgebildet ist. Natürlich kann die Empfangsspule
auch eine weitere Meßspule zur Bestimmung der Material- oder Geometrieparameter
des Meßobjekts sein.
Bevorzugt ist die Meßspule und/oder die Kompensationsspule als Spiralspule in
planarer Technik ausgebildet. Dazu kann die Meßspule und/oder die Kompensati
onsspule in Dünnschicht- oder Dickschichttechnik auf einem Trägermaterial, bspw.
einem Leiterplattenmaterial, aufgebracht sein. Bei einer Weiterentwicklung könnte
dann auch die Auswerteschaltung auf dem Trägermaterial der Meßspule und/oder
der Kompensationsspule mit integriert sein. Dadurch entsteht ein besonders vorteil
hafter und kompakter Wirbelstromsensor mit Temperaturkompensation.
Die Meßspule oder die Kompensationsspule könnten auch mehrlagig ausgebildet
sein. Ebenso könnte die Meßspule von der Kompensationsspule durch eine Isolati
onsschicht getrennt sein, so daß die ebenen Spulen in zwei Lagen nebeneinander
angeordnet sind.
Bei einer besonders bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist die Güte der Meß
spule auf die Güte der Kompensationsspule abgestimmt. Bevorzugt ist die Güte der
Meßspule im Betrag gleich mit der Güte der Kompensationsspule. Die Güte der
Spulen kann über die Anzahl der Windungen, den Durchmesser des Spulendrahtes
oder die Spulengeometrie aufeinander abgestimmt werden.
Die Messung mit dem Wirbelstromsensor erfolgt bevorzugt berührungslos. Der Wir
belstromsensor wird insbesondere zur Messung der Dicke einer Schicht, einer Lei
terbahn oder eines leitfähigen Bandes verwendet. Natürlich könnte der Wirbelstrom
sensor aber auch bei der Messung auf der Oberfläche des Objekts aufliegen. Die
Oberfläche müßte dann aber als Isolator ausgebildet sein.
Bei einer Weiterbildung des Wirbelstromsensors sind die Meßspule und die Kom
pensationsspule jeweils in die Rückkopplungsschleife eines Operationsverstärkers
der Auswerteschaltung geschaltet. Dadurch läßt sich die Temperaturkompensation
besonders vorteilhaft durchführen, wenn bspw. die Ausgänge der Operationsverstär
ker zusammengeschaltet sind und die Eingänge der Operationsverstärker mit einem
Oszillator verbunden sind, der zwei komplementäre sinusförmige Wechselspannun
gen U1 und U2 erzeugt. Die komplementären sinusförmigen Wechselspannungen
können dann zu den nicht invertierenden Eingängen des Verstärkers geführt sein.
Aufgrund der Beschaltung mit den komplementären Wechselspannungen werden die
Impedanzen der Meß- und der Kompensationsspule am ausgangsseitigen Knoten
punkt zwischen den Operationsverstärkern automatisch subtrahiert, so daß die Aus
werteschaltung ein temperaturkompensiertes Ausgangssignal erzeugt.
Die Auswerteschaltung kann Mittel zum Erfassen der Meßspulenimpedanz, der
Kompensationsspulenimpedanz und/oder der Kopplungsimpedanz aufweisen. Bspw.
kann ein Spannungssignal, das zur Kopplungsimpedanz der Meßspule proportional
ist, gemessen und verarbeiten werden, was den Vorteil hat, daß die Kopplungsimpe
danz der Meßspule unabhängig vom Abstand und der elektrischen Leitfähigkeit des
Meßgutes bei der erfindungsgemäßen Auswerteschaltung ist.
Außerdem kann die Auswerteschaltung eine Elektronik zum Feststellen der Verände
rung des Phasenwinkels der Meßspulenimpedanz, der Kompensationsspulenimpe
danz oder der Kopplungsimpedanz aufweisen. Der Phasenwinkel kann dann zur
weiteren Auswertung durch den Rechner der Auswerteschaltung herangezogen wer
den.
Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, die Lehre der Erfindung in vorteilhafter Wei
se auszugestalten und weiterzubilden. Dazu wird einerseits auf die nachgeordneten
Ansprüche, andererseits auf die nachfolgende Erläuterung mehrerer Ausführungs
formen des erfindungsgemäßen Wirbelstromsensors bzw. mehrerer Ausführungsbei
spiele für das erfindungsgemäße Verfahren anhand der Zeichnungen verweisen. Es
zeigen, jeweils in schematischer Darstellung,
Fig. 1 eine Ansicht eines Meßaufbaus, mit dem die erfindungsgemäße Be
stimmung der Dicke eines Meßobjekts mittels einer einseitig am Meß
objekt angeordneten Meßspule durchgeführt werden kann,
Fig. 2a eine erste Ausführungsform des Wirbelstromsensors der vorliegenden
Erfindung bei der Dickenmessung an einem flächigen Meßobjekt,
Fig. 2b eine Draufsicht auf ein Trägermaterial mit einer Meßspule und einer
Kompensationsspule des erfindungsgemäßen Wirbelstromsensors,
Fig. 3 einen Wirbelstromsensor gemäß der vorliegenden Erfindung mit zwei
gegenüberliegenden Spulen, wobei eine Spule als Sendespule und ei
ne weitere als Empfangsspule dient,
Fig. 4 eine Auswerteschaltung des Wirbelstromsensors zur Bestimmung eines
temperaturkompensierten Meßwerts für Material- und Geometriepara
meter elektrisch leitender Materialien,
Fig. 5 ein Schaubild mit einer Funktion, die den Zusammenhang zwischen tan
ϕc und der Dicke D des Meßobjekts wiedergibt und
Fig. 6 ein Schaubild mit Funktionen, die den Zusammenhang zwischen tan ϕc
und der Dicke D des Meßobjekts zeigen, wobei die einzelnen Kurven
die Meßergebnisse bei unterschiedlichem Abstand zwischen dem Meß
objekt und der Meßspule wiedergeben.
Der Wirbelstromsensor 1 weist eine Meßspule 2, gegebenenfalls eine Kompensati
onsspule 3 und eine Auswerteschaltung 4 auf. Die Auswerteschaltung 4 ist vorgese
hen, um aufgrund der Impedanz der Meßspule 2 Material- und/oder Geometriepara
meter, bspw. die Dicke, eines elektrisch leitenden Meßobjekts 5 zu bestimmen. Die
Auswerteschaltung 4 weist zur Berechnung der Material- und/oder Geometriepara
meter einen Mikrorechner µC auf. Die Meßspule 2 und die Kompensationsspule 3
sind mit Wechselstrom beaufschlagbar und die Kompensationsspule 3 ist in der Nä
he der Meßspule 2 angeordnet, so daß sie den thermischen Umgebungsbedingun
gen der Meßspule 2 ausgesetzt ist.
Der Wirbelstromsensor 1 ist zur berührungslosen Messung am flachen Meßobjekt 5,
insbesondere einer Bahn, eines Bandes oder einer Schicht, mit einem Abstand d zur
Oberfläche des Meßobjekts 5 angeordnet. Das Meßobjekt 5 wird am Wirbelstrom
sensor 1 vorbei geführt. Dazu kann der Wirbelstromsensor im Bereich einer Produk
tionsanlage für flächige Materialien befestigt sein.
Wie in Fig. 2a dargestellt, ist die Meßspule 2 des Wirbelstromsensors 1 als flache
Spule ausgebildet, die im wesentlichen in einer Ebene liegt und nur wenige, senk
recht zur Ebene nebeneinander liegende Spulenwindungen aufweist. Der Radius R
der Meßspule ist wesentlich größer als die Ausdehnung der Spule senkrecht zur
Ebene. Die Kompensationsspule 3 ist konzentrisch oder koaxial innerhalb der Meß
spule 2 angeordnet und weist einen kleineren Radius r auf. Die Meßspule 2 und die
Kompensationsspule 3 sind auf einem Träger 7 angeordnet und liegen in einer Ebe
ne. Auch die Kompensationsspule 3 ist als flache Spule ausgebildet.
Sowohl die Meßspule 2 als auch die Kompensationsspule 3 werden über eine Lei
tung 6 mit Wechselspannung versorgt. Die Meßspule 2 kann mit einer sinusförmigen
Wechselspannung und die Kompensationsspule 3 kann mit einer dazu komplemen
tären sinusförmigen Wechselspannung versorgt sein. Die Güte der Meßspule 2 sollte
unter ähnlichen Umgebungsbedingungen der Güte der Kompensationsspule 3 ent
sprechen. Die Angleichung der Spulengüten kann durch entsprechende Wahl der
Spulenparameter erreicht werden, bspw. kann die Spulengüte über die Windungs
zahl, den Durchmesser des Spulendrahtes und die Spulengeometrie beeinflußt wer
den. Der Radius r der Kompensationsspule ist bevorzugt kleiner als der Abstand d
zwischen dem Meßobjekt 5 und der Meßspule 2.
Der Wirbelstromsensor 1 funktioniert folgendermaßen: Die mit der sinusförmigen
Wechselspannung versorgte Meßspule 2, insbesondere deren Impedanz, wird durch
die Anwesenheit des Meßobjekts 5 beeinflußt. Der Wirbelstromeffekt führt zu einer
Veränderung des komplexen Anteils der Impedanz. Aufgrund der Veränderung der
Impedanz der Meßspule 2, ermittelt die Auswerteschaltung 4 die Dicke D eines flä
chigen Meßobjekts 5.
In Abhängigkeit von der Umgebungstemperatur wird einerseits die Impedanz der
Meßspule 2 und andererseits die Leitfähigkeit des Meßobjekts 5 beeinflußt. Bei be
kannter Leitfähigkeit des Meßobjekts 5, kann die temperaturabhängige Impedanzän
derung der Meßspule 2 dadurch ausgeglichen werden, daß die Impedanzänderung
der Kompensationsspule 3 zum Ausgleich des Temperatureinflusses herangezogen
wird. Bspw. kann die Impedanz der Kompensationsspule 3 von der Impedanz der
Meßspule 2 durch die Auswerteschaltung 4 subtrahiert werden. Die Kompensati
onsspule 3 muß dazu in möglichst geringem Umfange durch das vorhandene Meß
objekt 5 beeinflußt werden, so daß sich lediglich der Einfluß der Temperaturände
rung auf die Impedanz der Kompensationsspule 3 auswirkt. Der Einfluß des Meßob
jekts 5 auf die Impedanz kann bspw. dadurch gering gehalten werden, daß der Radi
us r der Kompensationsspule 3 möglichst klein ist. Die Auswerteschaltung 4 kann
dann aufgrund der unterschiedlichen Impedanzen bzw. Impedanzänderungen der
Meßspule 2 und der Kompensationsspule 3 den temperaturkompensierten Wert für
die Dicke D des Meßobjekts 5 berechnen.
Bei Versorgung der Meßspule 2 und wahlweise der Kompensationsspule 3 mit einer
Wechselspannung erster Frequenz bei einer ersten Messung und mit einer Wech
selspannung einer zweiten Frequenz bei einer zweiten Messung kann über die Aus
werteschaltung 4 die Dicke D aus einem nichtlinearen Gleichungssystem berechnet
werden, wobei die Gleichung dann unabhängig von der Leitfähigkeit des Meßobjekts
5 und damit von der Temperaturbeeinflussung der Leitfähigkeit des Meßobjekts 5 ist.
In Fig. 2b ist ein Wirbelstromsensor 8 nach einer zweiten Ausführungsform darge
stellt, wobei die Meßspule 9 und die Kompensationsspule 10 in Dünnschichttechnik
auf einem Trägermaterial 11 aufgebracht sind. Das Trägermaterial 11 kann eine
dünne Leiterplatte, ein Kunststoff-, Keramik- oder magnetisches Material sein, wobei
die Meßspule 9 und die Kompensationsspule 10 einlagig darauf aufgebracht sind.
Die Kompensationsspule 10 ist innerhalb der Meßspule 9 und konzentrisch dazu an
geordnet und beide Spulen 9, 10 sind als spiralförmige Spulen ausgebildet. Alternativ
dazu können die Spulen auch mehrschichtig, jeweils durch eine Isolierschicht ge
trennt, aufgebaut sein. Die Abmessungen der Kompensationsspule 10 sind klein ge
genüber dem Abstand d zwischen dem Meßobjekt 5 und dem Wirbelstromsensor 8.
Dadurch wird der elektromagnetische Einfluß des Meßobjekts 5 auf die Kompensati
onsspule 10 verringert.
In Fig. 3 ist ein Wirbelstromsensor 12 mit einer Meßspule 13 und einer Kompensati
onsspule 14 vorgesehen. Die Meßspule 13 ist mit einem Abstand d1 vom Meßobjekt
5 angeordnet, während die gegenüberliegende Kompensationsspule 14 mit einem
Abstand d2 zum Meßobjekt 5 angeordnet ist. Die Meßspule 13 dient dabei als Sende-
und die Kompensationsspule 14 dient dabei als Empfangsspule. Der Radius r der
Kompensationsspule 14 ist kleiner als der Radius R der Meßspule 13.
Alternativ zu dieser Ausführungsform könnten statt der Anordnung einer Meßspule
13 und einer Kompensationsspule 14 beiderseits des Meßobjekts 5 auch je eine
Meßspule zu beiden Seiten des Meßobjekts 5 vorgesehen sein. Eine Temperatur
kompensation der Impedanz der Meßspule 13 durch eine Kompensationsspule wür
de dann entfallen, so daß lediglich eine Temperaturkompensation über die Auswer
teschaltung bezüglich der Leitfähigkeit des Meßobjekts 5 vorgesehen wäre.
In Fig. 4 ist die Auswerteschaltung 4 der Wirbelstromsensoren 1, 8 bzw. 12 darge
stellt. Die Auswerteschaltung 4 weist einen Oszillator 15 und mehrere Operations
verstärker 16 bis 18 auf. Zur Beschaltung der Operationsverstärker 16 bis 18 sind
noch Widerstände R0, R1, R2 und R3 vorgesehen.
Der Oszillator 15 erzeugt zwei komplementäre, sinusförmige Wechselspannungen U1
und U2, die zu den nicht invertierenden Eingängen der Operationsverstärker 16 und
17 geführt sind. Die Meßspule 2 und die Kompensationsspule 3 sind jeweils in die
Rückkopplung der Operationsverstärker 16, 17 geschaltet. Die Operationsverstärker
16, 17 dienen dabei als Meßverstärker zum Erfassen der Impedanzen der Meßspule
2 und der Kompensationsspule 3. Am Knotenpunkt 19 stellt sich ein Potential ein,
das von der Impedanz der Meßspule 2 und der Impedanz der Kompensationsspule 3
abhängt und ein temperaturkompensiertes Meßsignal bildet. Das Meßsignal am
Knotenpunkt 19 wird durch den Operationsverstärker 18 nochmals verstärkt, so daß
das Ausgangssignal U5 am Ausgang des Operationsverstärkers 18 vorliegt. Dieses
Ausgangssignal U5 wird einem Mikrokontroller der Auswerteschaltung zugeführt, wo
eine weitere Berechnung durchgeführt wird. Diese Berechnung basiert bevorzugt auf
dem gemäß der vorliegenden Erfindung offenbarten Verfahren, wobei eine zusätzli
che Temperaturkompensation der Leitfähigkeit des Meßobjekts durch die Berech
nung mit dem nichtlinearen Gleichungssystem erfolgt.
Das Ausgangssignal U3 des als Meßverstärker beschalteten Operationsverstärkers
16 entspricht der Beziehung
wobei K1 = R3/R1, K2 = R3/R2. Z2 und Z3 sind die komplexen Impedanzen der Meß
spule 2 und der Kompensationsspule 3. Das Signal U3 ist der Kopplungsimpedanz
dZ2 der Meßspule 2 proportional, weil Z3 unabhängig vom Abstand und der elektri
schen Leitfähigkeit des Meßobjekts 5 ist. Die Temperaturkompensation erfolgt durch
einfaches Subtraktion der komplexen Impedanzen Z2 und Z3 der Meßspule 2 und der
Kompensationsspule 3, ohne daß eine weiterreichende Berechnung erforderlich sein
muß, da am Knotenpunkt 19 durch die Beschaltung der Auswerteschaltung 4 und die
Versorgung mit zwei komplementären sinusförmigen Wechselspannungen U1 und
U2, sich automatisch das Differenzspannungssignal einstellt.
In Fig. 5 ist eine Meßkurve dargestellt, die den Zusammenhang zwischen tan ϕc und
der Dicke D des Meßobjekts 5 zeigt. Die Formel zur Berechnung des tan ϕc ist im
Zusammenhang mit dem erfindungsgemäßen Verfahren dargestellt worden und es
sind im Schaubild die durch den Mikrokontroller der Auswerteschaltung 4 berechne
ten Werte für tan ϕc aufgezeichnet, so daß daraus der proportionale Zusammenhang
zwischen dem errechneten Wert tan ϕc und der realen Dicke D des Meßobjekts 5
sichtbar ist.
Der tan ϕc, wie er am Ausgang des Mikrokontrollers der Auswerteschaltung 4 vor
liegt, ergibt sich aus der Division des temperaturkompensierten Imaginärteils durch
den temperaturkompensierten Realteil der Spulenimpedanzen. Die Berechnung des
tan ϕc läßt sich entsprechend der nichtlinearen Differentialgleichung aufgrund zweier
Impedanzmeßwerte bei der ersten Frequenz und der zweiten Frequenz der Versor
gungswechselspannung der Meßspule 2 und der Kompensationsspule 3, unabhän
gig von der Leitfähigkeit des Meßobjekts, errechnen.
In Fig. 6 ist nochmals der Zusammenhang zwischen tan ϕc und der Dicke D des
Meßobjekts 5 dargestellt, wobei als Parameter der Abstand zwischen dem Meßob
jekt 5 und der Meßspule 2 aufgezeigt ist. Die in Fig. 6 aufgetragene Funktionen 21,
22, 23 zeigen, daß die Bestimmung von D nach der nichtlinearen Differentialglei
chung nahezu unabhängig vom Abstand d des Meßobjekts 5 von der Meßspule 2 ist.
Dadurch erübrigt sich die aufwendige exakte Ausrichtung des Meßobjekts 5 auf ei
nen bestimmten Abstand d gegenüber der Meßspule 2 des Wirbelstromsensors 1.
Das Verfahren entsprechend der vorliegenden Erfindung führt zu hervorragenden
Meßergebnissen bei dem Wirbelstromverfahren, da durch die Messung bei zwei un
terschiedlichen Frequenzen des Wechselstroms, mit denen die Meßspule 2 und die
Kompensationsspule 3 versorgt werden, die Ausgangssignale der Auswerteschal
tung 4 von der temperaturabhängigen Leitfähigkeit des Meßobjekts 5 unabhängig
sind. Durch den Wirbelstromsensor der vorliegenden Erfindung wird zusätzlich der
Temperatureinfluß auf die Impedanz der Meßspule 2 kompensiert, so daß die Meß
ergebnisse schließlich von den Verfälschungen durch die Temperatur bereinigt sind.
In Bezug auf das erfindungsgemäße Verfahren werden im Folgenden noch die zur
Berechnung der Auswerteschaltung 4 erforderlichen Formeln dargestellt:
Bei bekannter Leitfähigkeit σ des Meßobjekts 5 kann die Dicke D des Meßobjekts 5 durch folgende Gleichungen bestimmt werden:
Bei bekannter Leitfähigkeit σ des Meßobjekts 5 kann die Dicke D des Meßobjekts 5 durch folgende Gleichungen bestimmt werden:
wobei d der Abstand zwischen der Meßspule 2 und dem Meßobjekt 5 ist, r der Radi
us der Meßspule 2 bzw. der Kompensationsspule 3 ist, µ0 die magnetische Feldkon
stante und ω die Kreisfrequenz ist.
Ausgehend von oben angegebenen Gleichungen kann für eingeschränktes
β = r √ωµ₀σ ≧ 10
der Wert für tan ϕc durch folgende vereinfachte Gleichung bestimmt werden:
Für weiterhin eingeschränktes β und ξβ<1 kann tan ϕc durch folgende Gleichung an
genähert werden.
Bei dem im erfindungsgemäßen Verfahren verwendeten nichtlinearen Gleichungssy
stem wird tan ϕc bei einer ersten und einer zweiten Frequenz bestimmt und es ergibt
sich tan ϕc rechnerisch aus dem nichtlinearen Gleichungssystem
Für eingeschränktes β kann tan ϕc bestimmt werden als
Die Kreisfrequenz ω, wird so groß gewählt, daß die Impedanz der Meßspule von der
Dicke der Folie unabhängig wird. Damit kann die Leitfähigkeit berechnet werden.
Es wird von einer bekannten Leitfähigkeit ausgegangen, wobei ω = ω2 gesetzt wird.
Die Amplitude der Kopplungsimpedanz kann noch zur numerischen Korrektur und
Verbesserung der Berechnung verwendet werden.
Bei bekannten σ und µ2, tan ϕc kann die Messung bei einer Frequenz ω1 durchgeführt
werden, so daß die Dicke D über Gleichung 1 gemessen werden kann. Es gilt dann:
β = 2√ω₁µ₀σ.
Bei unbekannten σ oder µ0 muß wie beschrieben mit zwei Frequenzen ω1 und ω2
gemessen werden, damit die Dicke D bestimmt werden kann.
Claims (38)
1. Verfahren zum Betreiben eines Wirbelstromsensors (1, 8, 12) mit einer Meß
spule (2, 9, 13) und einer Auswerteschaltung (4) zur Bestimmung von Material- oder
Geometrieparametern, insbesondere der Dicke (D) eines Meßobjekts (5), bei dem
das Meßobjekt (5) mit Abstand (d) zu der Meßspule (2, 9, 13) angeordnet wird, die
Impedanz der Meßspule (2, 9, 13) ausgewertet wird, während die Meßspule (2, 9,
13) über eine Wechselspannung vorgegebener Frequenz gespeist ist, und bei dem
die Auswerteschaltung (4) aufgrund der Impedanz der Meßspule (2, 9, 13) die Mate
rial- und Geometrieparameter des Meßobjekts (5) bestimmt,
dadurch gekennzeichnet, daß die Impedanz der Meßspule (2, 9, 13) bei
einer Wechselspannung mit einer ersten Frequenz erfaßt wird, die Impedanz der
Meßspule (2, 9, 13) bei einer Wechselspannung mit einer zweiten Frequenz erfaßt
wird und daß die Auswerteschaltung (4) aufgrund der Impedanzen der Meßspule (2,
9, 13) bei der ersten und zweiten Frequenz die Material- und Geometrieparameter
des Meßobjekts (5) errechnet.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß bei bekannter, ins
besondere gemessener Leitfähigkeit des Meßobjekts (5), dessen Dicke (D) bestimmt
wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Leitfähigkeit
des Meßobjekts (5) durch die Auswerteschaltung (4) aufgrund der gemessenen Im
pedanz der Meßspule (2, 9, 13) bei der ersten Frequenz berechnet wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß
die Meßspule (2, 9, 13) mit einer Wechselspannung hoher erster Frequenz versorgt
wird, so daß deren Impedanz von den Material- oder Geometrieparametern des
Meßobjekts (5) nahezu unabhängig ist.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß
die Material- oder Geometrieparameter des Meßobjekts (5) von der Auswerteschal
tung (4), insbesondere durch einen Rechner, mittels eines nichtlinearen Gleichungs
systems berechnet werden.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß
das nichtlineare Gleichungssystem von der ersten Frequenz und der zweiten Fre
quenz der Wechselspannung abhängig ist.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß
mittels der berechneten Leitfähigkeit und des nichtlinearen Gleichungssystems die
Material- oder Geometrieparameter des Meßobjekts (5), insbesondere die Dicke (D)
eines flachen Meßgutes, berechnet wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß
die Dicke (D) eines Meßobjekts (5) über folgende Gleichung berechnet wird:
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß
die Berechnung der Material- oder Geometrieparameter des Meßobjekts (5) durch
die Auswerteschaltung (4) auf einen Bereich abhängig von der Leitfähigkeit des
Meßobjektes (5) und den Frequenzen beschränkt wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Bereich, auf
den die Berechnung der Auswerteschaltung (4) beschränkt wird, durch folgende
Gleichung vorgegeben wird:
r√ ≧ 10
r√ ≧ 10
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß
Temperatureinflüsse auf die Impedanz der Meßspule (2, 9, 13) durch eine Kompen
sationsspule (3, 10, 14) ausgeglichen werden, deren Impedanz von Material- oder
Geometrieparametern des Meßobjekts (5) nahezu unabhängig ist.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswerte
schaltung (4) den Temperatureinfluß auf die Meßspule (2, 9, 13) aufgrund der Impe
danz der Meßspule (2, 9, 13) rechnerisch kompensiert.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet,
daß bei ähnlichen Umgebungsbedingungen die Güte der Meßspule (2, 9, 13) und der
Kompensationsspule (3, 10, 14) im Betrag gleich sind.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß
die Berechnung der Material- und Geometrieparameter des Meßobjektes
(5) unabhängig vom Abstand zwischen der Meßspule (2, 9, 13) und dem Meßobjekt
(5) berechnet wird.
15. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß
die Temperaturkompensation durch Subtraktion der komplexen Impedanz der Meß
spule (2, 9, 13) von der komplexen Impedanz der Kompensationsspule (3, 10, 14)
erfolgt.
16. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß
die Material- oder Geometrieparameter des Meßobjekts (5) durch eine Sende- und
eine Empfangsspule gemessen werden.
17. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß
die Amplitude der Kopplungsimpedanz der Meßspule (2, 9, 13) oder der Kompen
sationsspule (3, 10, 14) zur numerischen Korrektur bzw. Verbesserung der Berech
nung eingesetzt wird.
18. Wirbelstromsensor mit einer Meßspule (2, 9, 13), einer Kompensationsspule
(3, 10, 14) und einer Auswerteschaltung (4) zur Bestimmung von Material- und/oder
Geometrieparametern eines elektrisch leitenden Meßobjekts (5), wobei die Meßspule
(2, 9, 13) und die Kompensationsspule (3, 10, 14) mit Wechselstrom beaufschlagbar
sind und die Kompensationsspule (3, 10, 14) in der Nähe der Meßspule (2, 9, 13)
angeordnet ist, so daß sie den thermischen Umgebungsbedingungen der Meßspule
(2, 9, 13) ausgesetzt ist,
dadurch gekennzeichnet, daß die Kompensationsspule (3, 10, 14) der
art ausgebildet und angeordnet ist, daß der Einfluß des Meßobjekts (5) auf deren
Impedanz möglichst gering ist.
19. Wirbelstromsensor nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die
Kompensationsspule (3, 10, 14) räumlich kleiner als die Meßspule (2, 9, 13) ist, ins
besondere innerhalb der Meßspule (2, 9, 13) angeordnet ist.
20. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 oder 19, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Radius der Kompensationsspule (3, 10, 14) kleiner als der Radius
der Meßspule (2, 9, 13) und insbesondere kleiner als der Abstand zwischen Kom
pensationsspule (3, 10, 14) und Meßobjekt (5) ist.
21. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 20, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Kompensationsspule (3, 10, 14) eine flache, vorzugsweise in einer
Ebene angeordnete Spule ist.
22. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 21, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Meßspule (2, 9, 13) und die Kompensationsspule (3, 10, 14) in ei
ner Ebene zueinander, insbesondere auf dem selben Träger (11), angeordnet sind.
23. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 22, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Meßspule (2, 9, 13) und die Kompensationsspule (3, 10, 14) kon
zentrisch zueinander angeordnet sind.
24. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 23, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine Meßspule (2, 9, 13) und/oder eine Kompensationsspule (3, 10,
14) auf einer Seite des Meßobjekts (5) angeordnet ist bzw. sind, während eine ande
re Meßspule (2, 9, 13) und/oder eine andere Kompensationsspule (3, 10, 14) auf
dessen gegenüberliegenden Seite angeordnet ist bzw. sind.
25. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 24, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Meßspule (2, 9, 13) und/oder die Kompensationsspule (3, 10, 14)
als Spiralspulen in planarer Technik ausgebildet sind.
26. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 25, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Meßspule (2, 9, 13) und/oder die Kompensationsspule (3, 10, 14)
in Dünnschicht- oder Dickschichttechnik auf einem Trägermaterial (11) aufgebracht
sind.
27. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 26, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Meßspule (2, 9, 13) und/oder die Kompensationsspule (3, 10, 14),
insbesondere durch eine Isolationsschicht getrennt, mehrlagig ausgebildet sind.
28. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 27, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Güte der Meßspule (2, 9, 13) und der Kompensationsspule (3, 10,
14) aneinander angeglichen sind.
29. Wirbelstromsensor nach Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, daß die Güte
über Anpassung der Windungszahl, des Durchmessers des Spulendrahtes oder der
Spulengeometrie angeglichen ist.
30. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 29, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Messung, insbesondere der Dicke eine Schicht, einer Leiterbahn
oder eines leitfähigen Bandes berührungslos erfolgt.
31. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 30, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Meßspule (2, 9, 13) und die Kompensationsspule (3, 10, 14) je
weils in die Rückkopplungsschleife eines Operationsverstärkers (16, 17, 18) der
Auswerteschaltung (4) geschaltet sind.
32. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 31, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Auswerteschaltung (4) Mittel zur Erzeugung zweier komplementä
rer Wechselspannungen aufweist.
33. Wirbelstromsensor nach Anspruch 32, dadurch gekennzeichnet, daß die zwei
komplementären Wechselspannungen jeweils an einem Eingang eines Operations
verstärker (16, 17, 18) anliegen.
34. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 33, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Auswerteschaltung (4) Mittel zum Erfassen der Meßspulenimpe
danz, der Kompensationsspulenimpedanz und/oder der Kopplungsimpedanz auf
weist.
35. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 34, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Auswerteschaltung (4) eine Elektronik zum Feststellen der Ände
rung des Phasenwinkels der Meßspulenimpedanz, der Kompensationsspulenimpe
danz und/oder der Kopplungsimpedanz aufweist.
36. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 35, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Meßspule (2, 9, 13) und die Kompensationsspule (3, 10, 14) mit
zueinander im wesentlichen parallelen Achsen angeordnet sind.
37. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 36, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Spulenachsen der Meßspule (2, 9, 13) und der Kompensati
onsspule (3, 10, 14) einen spitzen Winkel zueinander aufweisen oder orthogonal zu
einander angeordnet sind.
38. Wirbelstromsensor nach einem der Ansprüche 18 bis 37, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Kompensationsspule (3, 10, 14) eine geringere Windungszahl, ei
nen geringeren Spulendrahtdurchmesser oder ein anderes Material des Drahtes oder
des Spulenkerns aufweist, so daß die Beeinflussung des Meßobjekts geringer als bei
der Meßspule (2, 9, 13) ist.
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