DE19902754A1 - Partikel-Sortiervorrichtung - Google Patents

Abstract

Partikel-Sortiervorrichtung, insbesondere für kleine Kupfer-Partikel von geschredderten elektrischen Kabeln. Zur Erkennung der Partikelart wird der Reflektionswert oder der Durchlaßwert von Lichtstrahlen von mindestens zwei verschiedenen Lichtwellenlängen gemessen.

Description

Die Erfindung betrifft eine Partikel-Sortiervorrichtung gemäß dem Oberbegriff von Anspruch 1.

Aus der DE-A-40 17 274 ist eine elektrische Hochfrequenz-Vorrichtung zum Erkennen und Ausscheiden von Metallteilchen aus einem Schüttgutstrom bekannt, bei welcher ein Metallsensor zum Detektieren von Metallteilchen in dem Schüttgutstrom verwendet wird. Ferner ist es bekannt, magnetisierbare Partikel, d. h. Eisen, durch einen Magneten von Partikeln, die aus einem anderen Material bestehen, zu trennen. Hierbei ist es nicht möglich, Metall-Partikel, die nicht aus Eisen bestehen, von anderen Partikeln zu trennen, welche aus einem anderen Nicht-Eisen-Metall oder aus Nicht-Metall bestehen. Das Trennen von Partikeln einer bestimmten Type von anderen Partikeln ist besonders dann schwierig, wenn die herauszusondernden Partikel klein sind, beispielsweise eine Dicke oder einen Durchmesser von nur 0,3 mm oder weniger haben und der Sortiervorgang sehr schnell sein soll, z. B. von einer solchen Partikeltype pro Tag mehrere Tonnen aus einem Schüttgut heraussortiert werden sollen.

Durch die Erfindung soll die Aufgabe gelöst werden, eine Partikel-Sortiervorrichtung derart auszubilden, daß mit ihr auch sehr kleine Partikel bis herunter zu einer Dicke von ungefähr nur 0,3 mm oder kleiner aus einem rieselfähigen Schüttgut extrem schnell heraussortiert werden können, auch wenn die herauszufilternden Partikel aus einem Nicht-Eisen-Metall, z. B. aus Kupfer bestehen und die anderen Partikel überwiegend aus einem anderen Nicht-Eisen-Metall oder einem anderen Material wie beispielsweise Kunststoff oder Steine bestehen.

Die Partikel-Sortiervorrichtung soll derart ausgebildet sein, daß sie auch bei sehr kleinen Partikeln dieser Art mit sehr hoher Sortiergenauigkeit und sehr hoher Sortiermenge pro Tag arbeiten kann, beispielsweise mit einer Menge von 20 Tonnen pro Tag und mit einer Sortier-Reinheit von mindestens 99,9%.

Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung durch die kennzeichnenden Merkmale von Anspruch 1 gelöst.

Demgemäß betrifft die Erfindung eine Partikel-Sortiervorrichtung mit folgenden Merkmalen: eine Vorrichtung, welche aus einer Vielzahl von ihr zugeführten Partikeln mindestens einen Partikelstrom bildet, in welchem die Partikel in einer Partikelreihe einzeln hintereinander angeordnet sind; eine Lichtquelle zur Erzeugung von mindestens einem Lichtstrahl, welcher quer zum Partikelstrom auf jeweils ein darin befindliches Partikel gerichtet ist; mindestens einen Lichtsensor pro Lichtstrahl zum Messen der Lichtstärke eines von dem betreffenden Partikel beeinflußten Teiles des Lichtstrahles; eine Mikroprozessoreinrichtung zum automatischen Berechnen in Abhängigkeit von der gemessenen Lichtstärke, welche der Partikel ein vorbestimmtes Lichtstärken-Kriterium erfüllen und welche der Partikel es nicht erfüllen; eine Trennvorrichtung zum automatischen Trennen des Partikelstromes stromabwärts des mindestens einen Lichtstrahles in zwei Partikel- Teilströme in Abhängigkeit von dem Rechenergebnis der Mikroprozessoreinrichtung, wobei dem einen Partikel-Teilstrom die Kriterium­ konformen Partikel und dem anderen Partikel-Teilstrom die nicht-Kriterium­ konformen Partikel zugeordnet werden.

Weitere Merkmale der Erfindung sind in den Unteransprüchen enthalten.

Die Erfindung wird im folgenden mit Bezug auf die Zeichnungen anhand einer bevorzugten Ausführungsform als Beispiel beschrieben. In den Zeichnungen zeigen:

Fig. 1 schematisch eine Partikel-Sortiervorrichtung nach Erfindung in Seitenansicht,

Fig. 2 schematisch eine Draufsicht auf einen Teil der Partikel-Sortiervorrichtung in Richtung des Pfeiles II von Fig. 1 gesehen,

Fig. 3 Einzelheiten von Fig. 1 in vergrößerter Darstellung,

Fig. 4 ein Diagramm, welches die Abhängigkeit der Stärke von, von einem Partikel reflektierten (oder durch das Partikel hindurchgelassem) Licht von der Wellenlänge des reflektierten Lichtes beispielsweise für Grünlicht und für Rotlicht zeigt, wobei eine Kurve für Kupfer und eine andere Kurve für andere Metalle dargestellt ist, welche normalerweise in geschreddertem Schüttgut beim Schreddern von elektrischen Kabeln enthalten ist, beispielsweise Zinn und Blei.

Bei der in den Zeichnungen dargestellten Partikel-Sortiervorrichtung nach der Erfindung strömt Schüttgut 2 durch Schwerkraft von einem Behälter 4 auf einen schrägen Rütteltisch 6 und fällt dann von dessen unterer Kante 8 auf eine ebenfalls schräg nach unten geneigte Beruhigungsplatte 10, auf welcher die Partikel Zeit haben, ihre Hüpfbewegungen abzubauen, die durch die Rüttelbewegungen des Rütteltisches 6 und die Aufprallenergie auf der Beruhigungsplatte 10 entstanden sind. Die Partikel des Schüttgutes 2 werden auf dem Rütteltisch 6 und auf der Beruhigungsplatte 10 auf eine einzige Partikellage verteilt und rutschen von der Beruhigungsplatte 10 auf eine Vereinzelungsvorrichtung 12.

Die Vereinzelungsvorrichtung 12 hat eine Vielzahl von sich schräg nach unten erstreckenden Kanälen 14, welche mindestens an ihrem oberen Anfangsabschnitt 16 nach unten hin trichterartig enger werdend ausgebildet sind. Dadurch können die Partikel nur einzeln hintereinander durch die Kanäle 14 hindurchrutschen und am unteren Ende der Kanäle 14 kann jeweils nur ein Partikel nach dem anderen durch eine Freiflugstrecke 18, in welcher die Partikel nicht geführt sind, durch Schwerkraft in einen Sammelbehälter 20 fallen, welcher für die Aufnahme nur von Kupferpartikeln vorgesehen ist.

Die Kanäle 14 haben vorzugsweise die Form von oben offenen Rinnen.

Neben der Freiflugstrecke 18 ist eine Vielzahl von optischen Erkennungsvorrichtungen 22 angeordnet, wobei für den Partikel-Flugweg von jedem der Kanäle 14 eine solche optische Erkennungsvorrichtung 22 vorgesehen ist. Die optische Erkennungsvorrichtung 22 erkennt im Partikel-Flugweg des betreffenden Kanals 14, ob das durch die Flugstrecke 18 fallende Partikel Kupfer ist oder nicht. Wenn es Kupfer ist, fällt das Partikel unbeeinflußt auf seinem weiteren Flugweg in den Sammelbehälter 20. Wenn jedoch das Partikel nicht als Kupfer erkannt wurde, gibt die optische Erkennungsvorrichtung 22 einer pneumatischen Trennvorrichtung 24 ein elektrisches Signal, durch welches die Trennvorrichtung 24 über eine Druckluftdüse 26 Druckluft quer zur Freiflugstrecke 18 gegen das an ihr vorbeifliegende Partikel ausstößt und dadurch dieses Patrikel, über eine Leitvorrichtung 28 hinweg ablenkt, so daß dieses weggeblasene Partikel in einen anderen Sammelbehälter 30 fällt, welcher zur Aufnahme der nicht-Kupfer-Partikel dient.

Wie Fig. 2 zeigt, ist neben der Freiflugstrecke für jeden Kanal 14 eine Druckluftdüse 26 vorgesehen.

Gemäß der bevorzugten Ausführungsform ist gemäß den Fig. 2 und 3 nicht für jeden Kanal 14 neben der Freiflugstrecke 18 eine vollständige optische Erkennungsvorrichtung 22 angeordnet, sondern von dieser Erkennungsvorrichtun 22 nur ein optischer Sende-Empfangs-Kopf 32, welcher von einer Lichtquelle 34 über einen Lichtleiter 36 erhaltenes Licht quer zur Freiflugstrecke 18 durch den Flugweg eines Partikels strahlt und welcher von einem Partikel in diesem Flugweg reflektiertes Licht über einen Lichtleiter 38 einem Lichtsensor 40 zuleitet. Die Lichtsensoren 40 von allen Sende-Empfangs-Köpfen 32, und damit auch für alle Kanäle 14, sind über elektrische Leitungen 42 an eine Mikroprozessoreinrichtung 44 angeschlossen. Die Mikroprozessoreinrichtung 44 steuert in Abhängigkeit von den Signalen der Lichtsensoren 40 die pneumatische Trennvorrichtung 24, so daß diese über die Druckluftdüse 26 einen Druckluftstoß quer zur Freiflugstrecke 18 gegen das betreffende Partikel 2 stößt und dieses in den anderen Sammelbehälter 30 ablenkt, wenn das Partikel nicht Kupfer ist. Die pneumatische Trennvorrichtung 24 kann für alle Düsen 26 eine gemeinsame Druckluftquelle 46 haben.

In einem Speicher der Mikroprozessoreinrichtung 44 ist entsprechend dem in Fig. 4 gezeigten Diagramm eine Kurve 50 für Kupferpartikel und eine andere Kurve 52 für Fremdpartikel abgelegt. Die Kurven 50 und 52 geben an, wie stark verschiedene Lichtwellenlängen reflektiert werden (oder beim Hindurchscheinen durch ein Partikel gedämpft werden). Entsprechend ist in Fig. 4 auf der horizontalen Diagrammachse das Spektrum der Lichtwellenlängen und auf der vertikalen Achse die Reflektionsstärke (oder Restlichtstärke) angegeben. Für die optische Erkennungsvorrichtung 22 kann sichtbares Licht oder unsichtbares Licht verwendet werden. Gemäß den Kurven 50 und 52 haben Kupfer-Partikel über das gesamte Farbspektrum oder Wellenlängenspektrum des Lichtes eine andere Reflektionsstärke als die von den Kupfer-Partikeln zu trennenden Fremdpartikel, mit Ausnahme an zwei Kurvenkreuzungspunkten 54 und 56. An anderen Stellen liegen die beiden Kurven 50 und 52 je nach der verwendeten Lichtwellenlänge oder Lichtfarbe mehr oder weniger unterschiedlich weit voneinander entfernt. Dadurch kann, mit Ausnahme in den Kreuzungspunkten 54 und 56, mit einem einzigen Lichtstrahl beliebiger Wellenlänge über den Sende-Empfangs-Kopf 32 und den Sensor 40 von der Mikroprozessoreinrichtung 44 detektiert werden, ob das im Lichtweg des Sende-Empfangs-Kopfes 32 befindliche Partikel 2 ein Kupfer-Partikel oder ein Fremdpartikel ist. Eine große Selektionssicherheit hat man hierbei aber nicht. Zur Erhöhung der Selektionssicherheit, d. h. zur Gewinnung von Kupfer- Partikeln im Sammelbehälter 20 mit extrem großem Kupfer-Reinheitsgrad und damit ohne oder nur mit einem geringsten Anteil von Fremdpartikeln, welche in den anderen Sammelbehälter 30 gehören, wird gemäß der Erfindung vorgeschlagen, aus dem Farbspektrum bzw. Wellenlängenspektrum des Lichtes für die Messung der Reflektion von jedem Partikel 2 mindestens zwei getrennte Lichtwellenlängen oder Lichtfarben zu verwenden, vorzugsweise entsprechend Fig. 4 Grünlicht und Rotlicht. Die Lichtfarben werden derart gewählt, daß mindestens eine von den beiden nicht in einem Kurverkreuzungspunkt 54 oder 56 liegt. Die Partikel-Messung mit Grünlicht 58 ergibt einen niedrigeren Grünlicht-Reflektionswert 60 für Kupferpartikel und einen relativ dazu höheren Fremdpartikel-Reflektionswert 62 z. B. für ein anderes Metall-Partikel. Bei dem gleichen Partikel 2 ergibt eine vorzugsweise gleichzeitig durchgeführte Messung mit Rotlicht 64 einen niedrigeren Rotlicht-Reflektionswert 66 für das Fremdpartikel und einen relativ dazu höheren Rotlicht-Reflektionswert 68 für das Kupfer-Partikel.

Die Meßwerte der Grünlichtmessung und der Rotlichtmessung werden von der Mikroprozessoreinrichtung 44 mathematisch miteinander verknüpft. Eine Möglichkeit besteht in einer einfachen Subtraktion der Rotlicht-Meßwertes vom Grünlicht-Meßwert (oder umgekehrt). Als Ergebnis ergibt sich für ein Kupfer-Partikel der Differenzwert aus einem hohen Rotlicht-Reflektionswert 68 minus einem niedrigen Grünlicht-Reflektionswert 60. Im Falle eines Fremdpartikels (beispielsweise ein anderes nicht-Eisen-Metall oder Eisen) würde sich ein Differenzwert aus einem mit Bezug auf Kupfer niedrigeren Rotlicht-Reflektionswert 66 minus einem höheren Grünlicht-Reflektionswert 62 ergeben. Die Mikroprozessoreinrichtung 44 läßt alle Partikel, für welche sich der für Kupfer zutreffende Differenzwert ergibt, ungehindert in den einen Sammelbehälter 20 fallen, während sie für alle anderen Berechnungswerte eines Partikels das betreffende Partikel durch die pneumatische Trennvorrichtung 24 und deren Druckluftdüsen 26 in den anderen Sammelbehälter (30) wegblasen läßt. Es ist ersichtlich, daß anstelle von zwei verschiedenen Lichtfarben oder Lichtwellenlängen 58 und 64 auch drei oder mehr verwendet und rechnerisch miteinander verknüpft werden können.

Zur Erhöhung der Sortiergenauigkeit und damit Erhöhung des Kupfer- Reinheitsgrades im einen Sammelbehälter 20 auf nahezu 100% wird gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung der Reflektionsstärkewert der Lichtwellen, welche entsprechend Fig. 4 im niedrigeren Reflektionsstärkebereich liegt, bei vorliegendem Beispiel der Reflektionsstärkewert des grünen Lichtes 58, mit einem solchen Faktor multipliziert, daß sich im Falle eines Kupfer-Partikels ein Wert 70 ergibt, welcher gleich groß ist wie der mit Rotlicht 64 gemessene Kupfer- Reflektionsstärkewert 68. Im Falle eines nicht aus Kupfer bestehenden Fremdpartikels wird der Reflektionsstärkemeßwert des Grünlichtes 58 mit dem gleichen Faktor multipliziert wie bei den Kupfer-Partikeln, was einen Multiplikationswert 72 für Grünlicht ergibt, der wesentlich höher ist als der für das gleiche Fremdpartikel mit Rotlicht gemessene Reflektionswert 66 und auch höher als der Rotlicht-Reflektionswert 68 für Kupfer. Je größer der Multiplikationsfaktor gewählt wird, desto größer ist die Partikel-Sortiergenauigkeit und damit auch der Reinheitsgrad der Kupfer-Partikel im Sammelbehälter 20.

Zur Reflexions-Messung eines Partikels mit mindestens zwei verschiedenen Lichtwellenlängen bieten sich mehrere Möglichkeiten. Eine Möglichkeit besteht darin, als Lichtquelle 34 eine Halogenlampe zu verwenden und deren Licht je über einen Grünlichtfilter für Grünlicht 58 und einen Rotlichtfilter für Rotlicht 64 über getrennte Lichtleiter 36 jedem Sende-Empfangs-Kopf 32 zuzuleiten, welcher das Licht dieser beiden Wellenlängen quer zur Freiflugstrecke 18 auf das zu messende Partikel 2 leitet und von diesem die reflektierten Grünlichtanteile und Rotlichtanteile wieder empfängt und über getrennte Lichtleiter 38 je einem von zwei Lichtsensoren 40 zuleitet, welche den Lichtreflektionswerten entsprechende elektrische Signale über Leitungen 42 an die Mikroprozessoreinrichtung 44 weitergeben. Die vorstehend beschriebene Verstärkung entsprechend dem genannten Multiplikations-Faktor kann entweder bereits in den Lichtsensoren 40 oder in der Mikroprozessoreinrichtung 44 durchgeführt werden. Eine andere Möglichkeit der Verwendung von Lichtstrahlen verschiedener Wellenlängen besteht darin, den Lichtsensoren 40 entsprechende Filter, gemäß vorliegendem Beispiel ein Grünlichtfilter für Grünlicht 58 und ein Rotlichtfilter für Rotlicht 64, vorzuschalten.

Ein bevorzugtes Anwendungsgebiet der Erfindung sind geschredderte elektrische Kabel, aus welchen vor oder nach dem Schreddervorgang das elektrische Isoliermaterial der Kabel aussortiert wurde und danach mit der Partikel- Sortiervorrichtung nach der Erfindung von den geschredderten Kupfer-Partikeln alle nicht-Kupfer-Partikel getrennt werden sollen, welches überwiegend nicht-Eisen- Metalle sind wie beispielsweise Blei oder Zinn (verzinnte Kabelschuhe), Aluminium oder Fremdkörper wie beispielsweise Steine. Der Kupferpreis, welcher für geschreddertes Kupfer bezahlt wird, ist sehr stark von der Reinheit der geschredderten Kupfer-Partikel-Menge abhängig. Für einen wirtschaftlichen Wiederverwertungsbetrieb müssen mindestens fünf Tonnen pro Tag sortierte Kupferpartikel produziert werden. Da die Kupfer-Partikel einen Durchmesser oder eine Dicke im Bereich zwischen 0,3 mm und etwa 10,0 mm haben, meistens im Bereich von 1,4 mm, muß die Partikel-Sortiervorrichtung ein sehr schnelles Messen jedes einzelnen Partikels ermöglichen. Dies ist verständlich, wenn man bedenkt, daß etwa zehn Partikel gemessen werden müssen, ob es Kupfer oder Fremdmaterial ist, um ein Gramm Kupfer zu erhalten. Die Erfindung ist auch verwendbar für Partikel, deren Durchmesser oder Dicke kleiner als 0,3 mm ist, jedoch lohnt sich eine solche Verwendung nicht für Kupfer wegen des niedrigen Kupferpreises.

Die Erfindung ist jedoch nicht auf die Sortierung von Kupfer-Partikeln beschränkt, sondern kann auch für beliebige andere Partikel verwendet werden. Die Erfindung ist insbesondere dort von Vorteil, wo eine sehr schnelle Sortierung und eine sehr hohe Sortierqualität erforderlich sind, insbesondere dann, wenn es sich nicht um Eisenteile handelt und damit keine Magnetverfahren verwendet werden können. Die Erfindung ist gemäß einer abgewandelten Ausführungsform auch verwendbar zum Sortieren von lichtdurchlässigen Partikeln von anderen lichtdurchlässigen Partikeln oder von lichtundurchlässigen Partikeln, indem auf der Lichteinfallseite (Lichtreflektionsseite) der Partikel nur Lichtsendungsköpfe (Teil von 32) der Lichtquelle 34 angeordnet werden, während Lichtempfangsköpfe (anderer Teil von 32) der Lichtsensoren 40 auf der von der Lichteinfallseite (Lichtreflektionsseite) abgewandten Seite der Partikel angeordnet werden, um dort die Lichtstärke des von den Partikeln hindurch gelassenen Lichtes zu messen. In diesem Falle sind für das gesendete Licht und für das empfangene Licht keine kombinierten Sende- Empfangs-Köpfe 32 verwendbar, sondern getrennte Sendeköpfe und Empfangsköpfe.

Claims (13)

1. Partikel-Sortiervorrichtung mit folgenden Merkmalen: einer Vorrichtung (6, 10, 12), welche aus einer Vielzahl von ihr zugeführten Partikeln (2) mindestens einen Partikelstrom bildet, in welchem die Partikel in einer Partikelreihe einzeln hintereinander angeordnet sind; eine Lichtquelle (34) zur Erzeugung von mindestens einem Lichtstrahl, welcher quer zum Partikelstrom auf jeweils ein darin befindliches Partikel (2) gerichtet ist; mindestens einen Lichtsensor (40) pro Lichtstrahl zum Messen der Lichtsträrke eines von dem betreffenden Partikel beeinflußten Teiles des Lichtstrahles; eine Mikroprozessoreinrichtung (44) zum automatischen Berechnen in Abhängigkeit von der gemessenen Lichtstärke, welche der Partikel ein vorbestimmtes Lichtstärken-Kriterium erfüllen und welche der Partikel es nicht erfüllen; eine Trennvorrichtung (24) zum automatischen Trennen des Partikelstromes stromabwärts des mindestens einen Lichtstrahles in zwei Partikel-Teilströme in Abhängigkeit von dem Rechenergebnis der Mikroprozessoreinrichtung (44), wobei dem einen Partikel-Teilstrom die Kriterium-konformen Partikel und dem anderen Partikel-Teilstrom die nicht- Kriterium-konformen Partikel zugeordnet werden.

2. Partikel-Sortiervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtstrahlteil das Licht verwendet wird, welches durch lichtdruchlässige Partikel hindurchscheint.

3. Partikel-Sortiervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtstrahlteil das reflektierte Licht verwendet wird, welches von den Partikeln reflektiert wird.

4. Partikel-Sortiervorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die mindestens eine Lichtquelle (34) zur Erzeugung von mindestens zwei Lichtanteilen (56, 64) in dem mindestens einen Lichtstrahl oder zur Erzeugung von Lichtstrahlen, die je einen anderen Lichtanteil enthalten, ausgebildet ist, von welchen jeder Lichtanteil (58, 64) eine andere Lichtwellenlänge hat, daß für jede Lichtwellenlänge ein Lichtsensor (40) zur Messung der Lichtstärke des von einem Partikel beeinflußten Teiles der Lichtstrahlen vorgesehen ist, daß für jedes Partikel die Meßwerte von allen Lichtsensoren (40) der Mikroprozessoreinrichtung (44) zugeführt werden, daß die Mikroprozessoreinrichtung (44) derart ausgebildet ist, daß sie die pro Partikel von allen Lichtsensoren (40) erhaltenen Meßwerte miteinander rechnerisch verknüpft und als Verknüpfungs-Ergebnis ein Entscheidungs-Signal erzeugt, welches entscheidet, ob das betreffende Partikel das vorbestimmte Kriterium erfüllt oder nicht.

5. Partikel-Sortiervorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlängen der Lichtstrahlen derart gewählt sind, daß mindestens von einem dieser Lichtstrahlen die Wellenlänge in einem Bereich liegt, in welchem die Partikel, welche das vorbestimmte Lichtstärken-Kriterium erfüllen, den Lichtstrahl anders beeinflußen als die Partikel, welche das Lichtsträrken-Kriterium nicht erfüllen.

6. Partikel-Sortiervorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die aus der Mikroprozessoreinrichtung (44) und dem mindestens einen Lichtsensor (40) gebildete Schaltung derart ausgebildet ist, daß sie den Meßwert des Lichtanteils (58, 64), welcher einen kleineren Maßwert (60) ergibt, automatisch mit einem vorbestimmten Faktor multipliziert, durch welchen sich ein Ergebnis (70) ergibt, welches gleich dem Meßwert (68) des Lichtanteils (64) ist, welcher einen höheren Meßwert (68) ergibt, wenn das gemessene Partikel das Lichtstärken-Kriterium erfüllt, jedoch dann keine Gleichheit zwischen dem Multiplikations-Ergebnis (72) des einen Lichtanteils (58) und dem Meßwert (66) des anderen Lichtanteils (64) gegeben ist, wenn das gemessene Partikel das Lichtstärken-Kriterium nicht erfüllt.

7. Partikel-Sortiervorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine führungslose freie Partikel-Flugstrecke (18) vorgesehen ist, in welcher die Partikel (2) in einem führungslosen freien Flug durch den mindestens einen Lichtstrahl bewegt werden.

8. Partikel-Sortierungsvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine Druckluftausstoßvorrichtung (24) vorgesehen ist, welche die Partikel, welche das Kriterium nicht erfüllen, nach dem Meßvorgang durch einen Druckluftstoß aus dem Partikelstrom ausstößt.

9. Partikel-Sortiervorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch einen schiefen Rütteltisch (6) zum Rütteln einer großen Vielzahl von Partikeln (2), so daß sie sich auf dem Tisch verteilen und von einer Tischkante abfallen; eine Aufteilvorrichtung (12) zum Aufteilen der vom Rütteltisch abfallenden Partikel auf eine Vielzahl von sich schräg nach unten erstreckenden Kanäle (14) derart, daß in jedem Kanal die Partikel nur einzeln hintereinander den Kanal durchlaufen können als Partikelstrom; eine Freifallstrecke für die Partikel nach dem unteren Ende von jedem Kanal (14); wobei neben der Freifallstrecke (18) für jeden Kanal (14) mindestens ein Lichtstrahl-Sender und ein Lichtstrahl-Empfänger (32) der mindestens einen Lichtquelle (34) und des mindestens einen Lichtsensors (40) angeordnet sind.

10. Partikel-Sortiervorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen dem Rütteltisch (6) und der Aufteilvorrichtung (12) eine Beruhigungsgleitfläche (10) vorgesehen ist, auf welcher die Partikel Zeit zum Abbauen von Hüpfbewegungen haben, die durch die Rüttel- und Fallbewegungen der Partikel entstehen.

11. Verwendung der Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche zum Sortieren von Kupferpartikeln einerseits und Partikeln anderen Materials andererseits, von welchen mindestens einige andere Nicht-Eisen-Metalle sind.

12. Verwendung nach Anspruch 11 zum Aussortieren von Kupferpartikeln einerseits und Partikeln anderen Materials andererseits, wobei die einen und/oder anderen Patrikel eine sehr kleine Dicke oder einen sehr kleinen Durchmesser bis herunter auf 0,3 mm haben können.

13. Verwendung nach Anspruch 11 oder 12 für Partikel, welche eine Dicke oder einen Durchmesser im Bereich zwischen 0,3 mm und 10,0 mm haben.