DE19901702A1

DE19901702A1 - Verfahren zur Überprüfung des Zustandes einer Vorrichtung zur Prüfung von Blattgut

Info

Publication number: DE19901702A1
Application number: DE19901702A
Authority: DE
Inventors: Achim Philipp; Heinz Hornung
Original assignee: Giesecke and Devrient GmbH
Current assignee: Giesecke and Devrient GmbH
Priority date: 1999-01-18
Filing date: 1999-01-18
Publication date: 2000-07-20
Also published as: US6472670B1; EP1064624A1; DE50000614D1; ES2180510T3; EP1064624B1; ATE225971T1; AU2437700A; WO2000042578A1

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überprüfung des Zustands einer Vorrichtung zur Prüfung von Blattgut, die wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung, ein lichtdurchlässiges Meßfenster und einen Detektor aufweist. Erfindungsgemäß wird zur Feststellung von Verschmutzungen bei einem Meßfenster dieses von einer Beleuchtungseinrichtung mit UV-Licht bestrahlt, wobei das durch das Meßfenster transmittierte UV-Licht von einem UV-Filter derart gefiltert wird, daß nur ein geringer Anteil den Filter passiert und zu einem Detektor durchgelassen wird. Dieser durch den Filter transmittierte Anteil des UV-Lichts wird detektiert und zur Bestimmung des Verschmutzungsgrades des Meßfensters ausgewertet.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überprüfung des Zustands einer Vorrichtung zur Prüfung von Blattgut, die wenigstens eine Beleuchtungs einrichtung, ein lichtdurchlässiges Meßfenster und einen Detektor aufweist.

Eine Vorrichtung der oben genannten Art ist z. B. aus der WO98/26276 be kannt. Das von einer Beleuchtungseinrichtung emittierte Licht trifft durch ein lichtdurchlässiges Meßfenster auf das zu prüfende Blattgut auf. Das vom Blattgut remittierte Licht wird dann detektiert und ausgewertet.

Bei der bekannten Prüfvorrichtung für Blattgut besteht das Problem, daß das Meßfenster während des Betriebs verschmutzen kann. Wenn das Meßfenster verschmutzt ist, gelangt z. B. weniger Licht der Bestrahlungseinrichtung zum zu prüfenden Blattgut, wodurch das Meßsignal sinkt. Bei der Prüfung des Blattguts kann jedoch nicht festgestellt werden, ob das schwächere Meßsi gnal auf eine Verschmutzung des Meßfensters oder auf den Zustand des zu prüfenden Blattguts zurückzuführen ist. Dies hat zur Folge, daß es aufgrund der Verschmutzung des Meßfensters zu einer Fehlbeurteilung des zu prü fenden Blattguts kommen kann. Dadurch wird die Zuverlässigkeit bei der Prüfung von Blattgut beeinträchtigt.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrich tung zur Überprüfung des Zustandes einer Prüfvorrichtung für Blattgut vorzuschlagen, die mit geringem technischem Aufwand die Feststellung von die Messung beeinträchtigenden Verschmutzungen bei einem Meßfenster der Prüfvorrichtung ermöglicht. Erfindungsgemäß wird die Aufgabe durch die in den unabhängigen Ansprüchen angegebenen Merkmale gelöst.

Erfindungsgemäß wird zur Feststellung von Verschmutzungen bei einem Meßfenster dieses von einer Beleuchtungseinrichtung mit UV-Licht be strahlt, wobei das durch das Meßfenster transmittierte UV-Licht von einem UV-Filter derart gefiltert wird, daß nur ein geringer Anteil den Filter passiert und zu einem Detektor durchgelassen wird. Dieser durch den Filter trans mittierte Anteil des UV-Lichts wird detektiert und zur Bestimmung des Ver schmutzungsgrades des Meßfensters ausgewertet.

Vorzugsweise erfolgt die Auswertung derart, daß für ein sauberes Meßfen ster ein Beleuchtungsprofil aufgenommen und gespeichert wird, das mit dem jeweils aktuell aus dem detektierten Signal erhaltenen Beleuchtungs profil verglichen wird. Anhand der Abweichung des aktuell aufgenomme nen Beleuchtungsprofils von dem gespeicherten Beleuchtungsprofil kann der Verschmutzungsgrad des Meßfensters bestimmt werden. Anstelle von Beleuchtungsprofilen können jedoch auch die integrierten Meßwerte mitein ander verglichen werden. In beiden Fällen weist eine Abweichung auf eine Verschmutzung des Meßfensters hin.

Zur Bestimmung des Verschmutzungsgrades, wird vorzugsweise die Emp findlichkeit des Detektors beispielsweise durch eine Verlängerung der Inte grationszeit oder auch die Leuchtintensität der Beleuchtungseinrichtung oder auch die Signalverstärkung gegenüber dem normalen Betrieb bei der Prüfung des Blattguts erhöht. Weitere Vorteile sowie Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen sowie der nachfol genden Beschreibung und Ausführungsbeispielen der Erfindung anhand der beigefügten Figuren.

Darin zeigen:

Fig. 1 das Funktionsprinzip der Überprüfung des Zustands einer Vorrichtung zur Prüfung von Blattgut,

Fig. 2 ein Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung mit beidseitigen Detektoren.

Fig. 1 zeigt beispielhaft in schematischer Darstellung das Funktionsprinzip zur Feststellung von Verschmutzungen bei einem Meßfenster. Das Meßfen ster 2 wird hierbei von einer Beleuchtungseinrichtung z. B. von zwei LTV- Lampen 1 mit UV-Licht 5 bestrahlt. Das durch das Meßfenster transmittierte UV-Licht 5 wird mittels eines UV-Filters 3 derart gefiltert, daß nur ein gerin ger Anteil 6 des UV-Lichts 5 zu einem Detektor 4 gelangt. Nur dieser Anteil des UV-Lichts wird detektiert und zur Bestimmung des Verschmutzungs grades des Meßfensters ausgewertet. Dabei wird der aktuelle Meßwert mit einem gespeicherten Referenzwert verglichen, der bei einem sauberen Meß fenster erhalten wird. Der Vergleich kann hierbei anhand der integrierten Meßwerte oder auch anhand der aufgenommenen Beleuchtungsprofile in bestimmten Zyklen, die von der Betriebsdauer abhängen, erfolgen. Da der Auswertung nur der UV-Lichtanteil 6, der den Filter 3 passiert, zugrundege legt wird und dieser Anteil im Vergleich zu dem von der Beleuchtungsein richtung abgestrahlten UV-Licht 5 gering ist, der beispielsweise nur einige Prozent beträgt, wird vorzugsweise die Empfindlichkeit des Detektors bei spielsweise durch eine Verlängerung der Integrationszeit oder auch die Leuchtintensität der Beleuchtungseinrichtung oder auch die Signalverstär kung zur Überprüfung des Zustands des Meßfensters gegenüber dem Be trieb bei der Prüfung des Blattguts erhöht, wodurch die Auswertung erleich tert und verbessert wird.

Fig. 2 zeigt eine Vorrichtung zur Überprüfung von Blattgut, insbesondere von Banknoten, bei der beispielsweise zwei Meßfenster 2 vorgesehen sind, die in einem Abstand gegenüber angeordnet sind. Jedem Meßfenster ist hierbei eine Beleuchtungseinrichtung 1, z. B. in Form zweier LTV-Lampen 1 zugeordnet. Die zwischen den Meßfenstern 2 transportierte und hier nicht dargestellte Banknote wird z. B. bei der Echtheitsprüfung beidseitig mit IJV- Licht angeregt, wobei das auf jeder Seite von der Banknote remittierte Licht von jeweils einem Detekor 4 erfaßt wird. Beispielsweise emittieren Bankno ten bei Anregung durch LTV-Licht, Licht im sichtbaren Wellenlängenbereich, was unter anderem ein Kriterium für die Echtheit der Banknoten darstellt. Vor den Detektoren 4 ist jeweils ein LTV-Filter 3 angeordnet, durch den das Meßsignal der Banknote jedoch nicht beeinträchtigt wird, da von den Filtern 3 das von der Banknote im sichtbaren Wellenlängenbereich remittierte Licht durchgelassen wird. Die Überprüfung des Zustands der Meßfenster erfolgt vorzugsweise durch beidseitige Bestrahlung der Meßfenster 2 mittels des von den Beleuchtungseinrichtungen 1 jeweils abgestrahlten LTV-Lichts 5. Das durch die Meßfenster 2 transmittierte UV-Licht 5 wird hierbei von den Fil tern 3 derart gefiltert, daß nur ein geringer Anteil 6, der beispielsweise einige Prozent beträgt, zu den Detektoren 4 durchgelassen wird. Der durch die Fil ter 3 transmittierte Anteil 6 des LTV-Lichts 5 wird detektiert und zur Bestim mung des Verschmutzungsgrades der Meßfenster ausgewertet. Zur Über prüfung des Zustandes der Meßfenster 2 können diese auch nur von einer Seite mit LrV-Licht bestrahlt werden, wie dies bereits im Zusammenhang mit Fig. 1 beschrieben worden ist.

Claims

1. Verfahren zur Überprüfung des Zustands einer Vorrichtung zur Prüfung von Blattgut, die wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung, ein lichtdurch lässiges Meßfenster und einen Detektor aufweist, wobei zur Bestimmung des Verschmutzungsgrades des Meßfensters folgende Schritte durchgeführt werden:

- Bestrahlen des Meßfensters mit tTV-Licht,
- Filtern des vom Meßfenster transmittierten LTV-Lichts derart, daß nur ein geringer Anteil des LTV-Lichts von einem UV-Filter durchgelassen wird,
- Detektieren des vom Filter transmittierten LIV-Lichts und
- Vergleichen des Meßwerts mit einem gespeicherten Referenzwert.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Referenz wert ein Beleuchtungsprofil bei einem sauberen Meßfenster aufgenommen und gespeichert wird, welches mit dem für den aktuellen Zustand des Meß fensters erhaltenen Beleuchtungsprofil verglichen wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Referenz wert, der für ein sauberes Meßfenster integrierte Meßwert gespeichert wird und mit dem aktuellen integrierten Meßwert verglichen wird.

4. Verfahren nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Vergleich in bestimmten Zyklen erfolgt.

5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekenn zeichnet, daß die Empfindlichkeit des Detektors oder die Leuchtintensität der Beleuchtungseinrichtung oder die Signalverstärkung zur Bestimmung des Verschmutzungsgrades des Meßfensters im Vergleich zum Prüfbetrieb des Blattguts erhöht wird.

6. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 5, die wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung (1), ein Meßfenster (2), einen Filter (3) und einen Detektor (4) aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens eine Beleuchtungseinrichtung (1) auf einer Seite des Meßfen sters (2) derart angeordnet ist, daß das von der Beleuchtungseinrichtung (1) abgestrahlte W-Licht (5) durch das Meßfenster (2) auf einen auf der anderen Seite des Meßfensters (2) angeordneten LTV-Filter (3) auftrifft, der nur einen geringen Anteil (6) des LTV-Lichts (5) zum Detektor (4) durchläßt, wobei zur Bestimmung des Verschmutzungsgrades des Meßfensters der durch den Fil ter (3) transmittierte Anteil (6) des UV-Lichts (5) vom Detektor (4) erfaßt und ausgewertet wird.

7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß ein zweites Meßfenster (2) in einem bestimmten Abstand gegenüber dem ersten Meßfen ster (2) derart angeordnet ist, daß das von der Beleuchtungseinrichtung ab gestrahlte LTV-Licht (5) durch das erste und zweite Meßfenster (2) auf den UV-Filter (3) auftrifft, der nur einen geringen Anteil (6) des UV-Lichts (5) zu dem Detektor (4) durchläßt, wobei der durch den UV-Filter (3) transmittierte Anteil (6) des LIV-Lichts (5) vom Detektor (4) erfaßt und zur Bestimmung des Verschmutzungsgrades der Meßfenster (2) ausgewertet wird.

8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß eine zweite Beleuchtungseinrichtung (1) vorgesehen ist, wobei die Beleuchtungseinrich tungen (1) derart angeordnet sind, daß das von den Beleuchtungseinrichtun gen (1) abgestrahlte UV-Licht (5) durch die beiden Meßfenster (2) jeweils auf einen den Beleuchtungseinrichtungen (1) zugeordneten UV-Filter (3) auftref fen, der jeweils nur einen geringen Anteil (6) des UV-Lichts (5) zu jeweils einem dem Filter (3) zugeordneten Detektor (4) durchläßt, wobei der durch die UV-Filter (3) jeweils transmittierte Anteil (6) des UV-Lichts (5) von den Detektoren (4) erfaßt und zur Bestimmung des Verschmutzungsgrades der Meßfenster (2) ausgewertet wird.