DE19806569C2 - Meßvorrichtung - Google Patents
MeßvorrichtungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Meßvorrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruches 1. Eine universelle
Schnittstelle ist zwischen einer Anzahl von unterschiedlichen
Sonden und verschiedenen Teilen einer Test- und Meß-Ausrü
stung angeordnet. Insbesondere ist die universelle Schnittstelle
für eine aktive oder passive Sonde, die mit einem Oszillos
kop oder einem Spektrumanalysator verbunden ist, geeignet.
Die Schnittstelle zwischen einer Sonde und einem Teil einer
Test- und Meß-Ausrüstung, wie z. B. einem Oszilloskop oder
einem Spektrumanalysator, muß eine minimale Anzahl von Ver
bindungen verwenden, und dieselbe muß dennoch eine große An
zahl von unterschiedlichen Schaltungsfunktionen zusammen mit
dem herkömmlichen RF-BNC-Signalverbinder ermöglichen. Dies
ist besonders dann wichtig, wenn eine große Anzahl von un
terschiedlichen aktiven oder passiven Sonden mit der Test-
und Meß-Ausrüstung schnittstellenmäßig verbunden sind. Die
Sonden weisen unterschiedliche Betriebscharakteristika auf,
wie z. B. Dämpfungen, Offset-Verstärkungen (Offset = Ver
satz), Eingangsimpedanzerfordernisse und Merkmale, wie z. B.
eine Wechselstromkopplung und eine Gleichstromunterdrückung.
Sonden weisen unterschiedliche Steuerungs- und Leistungs-Er
fordernisse auf. Die Sonde weist allgemein eine Sondenprüf
spitze zum Verbinden mit der Test- und Meß-Ausrüstung auf.
Die Sondenprüfspitze kann Leistungsversorgungen und Schal
tungsanordnungen sowie einen Verbinder aufweisen. Es exi
stiert ein Bedarf, eine universelle Sondenschnittstelle für
eine große Anzahl von unterschiedlichen aktiven und passiven
Sonden und einem Teil einer Meß- und Test-Ausrüstung zu
schaffen.
Herkömmliche Sondenschnittstellen sehen eine Befestigung an
der Test- und Meß-Ausrüstung vor, die für den Anwender
manchmal schwer zu verbinden ist. Einige bekannte Sonden
weisen mehrere Kabel zu Verbindung auf - z. B. getrennte
Kabel für die RF und für die Leistung. Die getrennten Kabel
sind manchmal an unterschiedlichen Schnittstellenpositionen
an der Ausrüstung oder an anderen Teilen der Ausrüstung, wie
z. B. an einem äußeren Leistungs- oder Steuerungs-Kasten,
angeschlossen. Es existiert ein Bedarf, die Verwendung von
getrennten Kabeln zu eliminieren, und eine Schnittstellen
verbindung mit einer minimalen Anzahl von Verbindungen je
doch mit einer maximalen Schnittstellenintensität zu schaf
fen, einschließlich der herkömmlichen BNC-Verbindung an ei
ner einzigen Position an der Test- und Meß-Ausrüstung.
Derartige herkömmliche Sondenschnittstellen sehen lediglich
Festspannungsversorgungen von der Test- und Meß-Ausrüstung
zu der Sonde vor, und/oder dieselben sehen Spannungs-Quellen
oder -Regler innerhalb der Sonde vor, die zu dem Gewicht
beitragen, große Raumvolumina einnehmen und zu der Wärme der
Sondenprüfspitze beitragen. Es existiert ein Bedarf, die
Verwendung von Spannungs-Quellen und Reglern in der Sonden
prüfspitze zu eliminieren, um das Gewicht, den Raum und die
Wärme in der Sondenprüfspitze zu minimieren, um eine mini
male Größe für die Prüfspitzen vorzusehen, die eine minimale
Schaltungsanordnung und Leistung aufweisen.
Herkömmliche Sonden, die mit Test- und Meß-Ausrüstungen, wie
z. B. Oszilloskopen oder Spektrumanalysatoren, verbunden
sind, richten nicht automatisch und vollständig die Test-
und Meß-Ausrüstung bezüglich der Eingangsimpedanz, der Dämp
fung, dem Offset-Bereich, der Skalierung (d. h. den Meßein
heiten, die angezeigt werden) und anderen Sondenmerkmalen
(z. B. der Gleichstromunterdrückung, der Wechselstromkopp
lung, etc.) ein. Für eine Sonde, die einen Widerstands-ID
verwendet, muß der Betreiber, sogar wenn der Widerstands-ID
automatisch identifiziert wird, ferner weitere Aufgaben
durchführen, wie z. B. dem manuellen Einstellen der Ein
gangsimpedanz (z. B. 50 Ohm Eingangsimpedanz für eine aktive
10 : 1 Sonde), um vollständig die Sonde einzurichten. Dem Be
treiber muß versichert werden, daß die Sonde ordnungsgemäß
identifiziert ist, und daß die Test- und Meß-Ausrüstung kor
rekt und vollständig konfiguriert ist. Derartige herkömm
liche Sonden und die Schnittstellenverbindungen derselben
sind schwer anzuwenden, insbesondere wenn eine manuelle
Konfiguration erforderlich ist. Es existiert ein Bedarf,
eine große Anzahl von Sonden (einschließlich zukünftigen
Sonden) bei der Installation identifizieren zu können, um
ein automatisches und vollständiges Einrichten von Merkmalen
für die Identifikation von Sonden ohne einen Betreiberein
griff zu schaffen.
Viele Sonden erfordern das Speisen eines Offset-Stroms durch
die Schnittstelle. Es existiert ein Bedarf, einen Null-Off
set-Strom an der Schnittstellenverbindung zu kalibrieren,
derart, daß Sonden ohne Kalibrierung verwendet werden kön
nen.
Bei vielen Sonden, die für einen Betreiber zur Verfügung
stehen, ist es unbedingt erforderlich zu wissen, wann eine
Sonde abgetrennt wurde, und wann eine neue Sonde angeschlos
sen wurde. Daher existiert ein Bedarf, unmittelbar zu erfas
sen, wann eine Sonde von der Test- und Meß-Ausrüstung abge
trennt wurde, und wann eine neue Sonde angeschlossen wurde.
Einige herkömmliche Sonden weisen einen männlichen BNC-Ver
binder mit einem Pogo-Stift zum schnittstellenmäßigen Ver
binden mit einem weiblichen BNC-Verbinder und einen Identi
tätsring um den weiblichen BNC-Verbinder auf. Es existiert
ein Bedarf, eine universelle Schnittstellenverbindung mit
dem Ring zu schaffen, derart, daß die universelle Schnitt
stelle wirksam ist, um derartige herkömmliche Sonden zu
identifizieren.
Einige herkömmliche Sonden weisen spezifische Leistungsver
sorgungsspannungserfordernisse auf. Es existiert ein Bedarf,
einen Bereich von Leistungsversorgungsspannungen bei einer
universellen Schnittstelle mit einem Minimum von Schnitt
stellenverbindungen vorzusehen.
Die DE 35 35 642 A1 betrifft eine Einrichtung zur Korrektur
von Meßwerten mit einem Sensor, der über eine Datenleitung
mit einem Mikroprozessor verbunden ist, der seinerseits eine
Datenspeichereinheit zum Speichern von Korrekturdaten auf
weist. Das Gerät kann mit einer Mehrzahl von Sensoren ver
wendet werden, wobei jeder der Sensoren einem Widerstand
umfaßt, der seinerseits mit einem Ohmmeter verbunden ist.
Auf der Grundlage des Wertes des gemessenen Widerstandes
wird der verwendete Sensor identifiziert, und ein Signal
wird an den Mikroprozessor geliefert, der auf der Grundlage
des empfangenen Identifikationssignals auf einen Speicher
zugreift, in dem eine Anzahl von Tabellen mit spezifischen
Korrekturwerten gespeichert sind, die für die jeweiligen
Sensoren abgespeichert sind.
Die DE 41 39 122 C1 bezieht sich auf eine Vorrichtung zum
Bestimmen spezieller medizinischer Meßgrößen, die einen Sen
sorkopf, ein Kupplungsteil, und ein mikroprozessorge
steuertes Basisbauteil umfaßt, welches die Meßwerte weiter
verarbeitet. Unterschiedliche Sensorköpfe können verwendet
werden, und zur Vermeidung unnötiger Kalibrierungsschritte
wird jeder der verwendbaren Sensoren vor der Verwendung mit
der Vorrichtung einem Kalibierungsprozeß unterzogen, z. B.
nach der Herstellung desselben, und die jeweiligen Kalibrie
rungswerte werden in einem Strichcode auf dem Sensorkopf ge
speichert. Wird der Sensorkopf an das Kupplungsteil ange
bracht, wird mittels eines Lesegeräts der Strichcode aus
gelesen, um so eine Kalibierung des Gesamtgeräts auf den je
weils verwendeten Sensorkopf durchzuführen.
Ausgehend von diesem Stand der Technik liegt der vorliegen
den Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine verbesserte Meßvor
richtung zu schaffen, auf einfache Art und Weise die für
eine Sondenprüfspitze erforderliche Betriebsspannung beim
Verbinden derselben mit einem Meßgerät geliefert wird. Diese
Aufgabe wird durch eine Meßvorrichtung gemäß Anspruch 1 ge
löst.
Besondere Ausführungsarten der Erfindung sind in den Unteransprüchen
angegeben.
Ein spannungsprogrammierender Widerstand ist in der Sonden
prüfspitze positioniert, und derselbe erzeugt ein Signal,
das von der Sondenprüfspitze durch eine der Schnittstellen
verbindungen zu der Test- und Meß-Ausrüstung geliefert wird.
Das gelieferte Signal steuert ein Paar von komplementären,
programmierten Spannungsquellen, das eine programmierte
Spannung durch zwei der Verbindungen zu der Sondenprüfspitze
liefert. Die programmierten Spannungen werden als eine posi
tive programmierte Spannung durch eine Verbindung und als
eine negative programmierte Spannung durch eine zweite Ver
bindung geliefert. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel
liegen die programmierten Spannungen in dem Bereich von +/-
(3 bis 6) Volt. Dies eliminiert den Bedarf nach Spannungs
quellen oder Spannungsreglern, die in der Prüfspitze posi
tioniert sind, die Raum einnehmen, ein Gewicht vorsehen und
Wärme erzeugen. Dies ermöglicht ferner, daß die Sonden bei
unterschiedlichen Spannungen arbeiten können.
Eine universelle Schnittstelle ist zwischen einer Anzahl von
aktiven und passiven Sonden und einer Test- und Meß-Aus
rüstung vorgesehen, wie z. B., jedoch nicht darauf be
schränkt, einem Oszilloskop oder einem Spektroanalysator.
Die Schnittstelle umfaßt eine Schnittstelle mit einer mini
malen Anzahl von Verbindungen, die eine Standard-BNC-Verbin
dung zwischen der Sonde und einer einzelnen Position an der
Test- und Meß-Ausrüstung umfassen.
Gemäß einem Ausführungsbeispiel ist ein Paar von komplemen
tären Festspannungsquellen vorgesehen, die in der Test- und
Meß-Ausrüstung positioniert sind. Die Festspannungsquellen
werden durch eine erste Verbindung der Schnittstelle als
eine positive Festspannung und durch eine zweite Verbindung
der Schnittstelle als eine negative Festspannung geliefert.
Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel sind die Festspan
nungen +/- 12 Volt.
Gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel ist ein Sonden
identifikationswiderstand in der Sondenprüfspitze positio
niert. Wenn eine neue Sonde angeschlossen wird, wird ein
Unterbrechungssignal in der Ausrüstung erzeugt, und ein Ohm
meter in der Test- und Meß-Ausrüstung mißt den Widerstand
des Sondenidentifikationswiderstands durch eine der Schnitt
stellenverbindungen. Diese Identität wird in die Test- und
Meß-Ausrüstung geliefert. Die Test- und Meß-Ausrüstung
schlägt die Identität der Sonde in einer Nachschlagtabelle
nach, und dieselbe konfiguriert automatisch und vollständig
die Test- und Meß-Ausrüstung für die Schaltungserfordernisse
der Sonde ohne einen Betreibereingriff. Wenn die Sonde von
der Test- und Meß-Ausrüstung abgetrennt wird, gibt das Ohm
meter ein Unterbrechungssignal aus, da das Ohmmeter einen
Leerlauf an der Schnittstellenverbindung mit dem Sondeniden
tifikationswiderstand erfaßt. Das Unterbrechungssignal in
formiert den Betreiber, daß eine Sonde abgetrennt ist, und
dasselbe konfiguriert einen Nicht-Sonden-Zustand.
Ein zweiwegkommunikationsweg zwischen der Sondenprüfspitze
und der Test- und Meß-Ausrüstung ist durch zwei der Schnitt
stellenverbindungen vorgesehen. Diese zwei Leitungen können
für die digitale, serielle Schnittstelle als Steuerungslei
tungen zu der Sondenprüfspitze, um das Wechselstromkoppeln
oder die Gleichstromunterdrückung zu steuern, oder als Un
terbrechungsleitungen von der Sonde verwendet werden, um
Erfassungen auszuführen/anzuhalten.
Ein Offset-Stromgenerator ist in der Test- und Meß-Ausrü
stung vorgesehen und wird durch eine Schnittstellenverbin
dung zu der Sondenprüfspitze geliefert. Der Offset-Stromge
nerator wird kalibriert, um einen Nullstrom zu erzeugen,
wenn derselbe programmiert wird, um einen Nullstrom zu er
zeugen. Eine Kalibrierung des Offset-Stroms minimiert die
Offset-Spannungsfehler, wenn eine Sonde angeschlossen ist.
Bei einem weiteren bevorzugten Ausführungsbeispiel ist eine
Summe von neun Schnittstellenverbindungen zentriert in einer
Linie unterhalb eines Standard-BNC-Verbinders gebildet, der
eine RF-Verbindung aufweist, und der es ermöglicht, daß die
Test- und Meß-Ausrüstung mit einer Vielfalt von unterschied
lichen aktiven und passiven Sonden arbeitet, einschließlich
zukünftiger Sonden, mit Erfordernissen, die zu diesem
Zeitpunkt noch nicht bekannt sind.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung
werden nachfolgend unter Bezugnahme auf die beiliegenden
Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine Darstellung, die den herkömmlichen weiblichen
BNC-Verbinder auf der Seite der Test- und Meß-Aus
rüstung zeigt, wobei die Schnittstellenverbindun
gen in einer Linie unterhalb des BNC-Verbinders
zentriert und gebildet sind;
Fig. 2a
und 2b die Schnittstelle der vorliegenden Erfindung, wo
bei die Komponenten in der Sondenprüfspitze und in
der Test- und Meß-Ausrüstung dargestellt sind;
Fig. 3 die Details des Ohmmeters der vorliegenden Erfin
dung;
Fig. 4 die Blockdiagrammkomponenten der Test- und Meß-
Ausrüstung;
Fig. 5 die Schaltungsdetails der Taktunterbrechung; und
Fig. 6 die Schaltungsdetails für die Datenunterbrechung.
In Fig. 1 und 2 ist die Schnittstelle 100 der vorliegenden
Erfindung mit neun Schnittstellenverbindungen gezeigt, die
mit 1-9 bezeichnet sind, zusammen mit einer herkömmlichen
BNC-Verbindung 120.
Fig. 1 stellt die mechanische Konfiguration der neun Kon
taktflächen 100 dar, die zentriert in einer Linie 110 unter
halb eines herkömmlichen, weiblichen BNC-Verbinders 120 auf
einem Teil der Test- und Meß-Ausrüstung 150 angeordnet sind.
Der weibliche BNC-Verbinder 120 weist einen RF-Signalweg 122
und eine RF-Masse 124 auf. Der Ring 130 um den weiblichen
BNC-Verbinder 120 ist mit einem Punkt 140 mit der Kontakt
fläche 5 verbunden, wie es in Fig. 1 gezeigt ist. Der Ring
130 ist ebenso herkömmlich, und derselbe trägt die existie
rende Sonden, die einen Pogostift aufweisen, der sich auf
dem Ring 130 dreht, wenn der BNC verbunden wird. Eine Kon
taktfläche 5 plaziert die gleiche Sonden-ID-Verbindung (wie
im folgenden erklärt werden wird) in einer Linie mit den an
deren Kontaktflächen (d. h. 1-4 und 6-9), um die Verbin
dung zu erleichtern.
Unter Bezugnahme auf die Fig. 1 und 2 schafft die gezeigte,
mechanische Konfiguration eine positive Ineingriffnahme für
die Schnittstelle 100 der vorliegenden Erfindung. Die Son
denprüfspitze weist einen passenden, männlichen BNC-Verbin
der 120' und eine Stift 5' auf, die den weiblichen BNC 120
bzw. die Kontaktfläche 5 entlang der Linie 180 in Eingriff
nehmen. Dies richtet die Stifte 1'-9' der Sondenprüfspitze
160 mit den Kontaktflächen 1-9 entlang der Linie 110 aus.
Die senkrechte Beziehung der Linie 180 zu der Linie 110
schafft eine schnelle und positive Ineingriffnahme der Prüf
spitze 160 mit der Test- und Meß-Ausrüstung 150. Die Linie
110 unterhalb des weiblichen BNC 120 ermöglicht, daß sich
eine Litzendrahtschaltung in der Ausrüstung 150 leicht mit
den Kontaktflächen 1-9 verbindet.
In Fig. 2 ist die elektrische Konfiguration für die neun
Schnittstellenverbindungen 100 gezeigt. Die neun Kontaktflä
chen 1-9 verbinden sich mit neun entsprechenden Stiften 1'-9'
auf der Sondenprüfspitze 160, wie es gezeigt ist. Die
neun Schnittstellenverbindungen 100 sind in Tabelle I im
folgenden identifiziert.
Die neun Schnittstellenverbindungen 100, die in den Fig. 1
und 2 gezeigt sind, schaffen sowohl ein Leistungs- und ein
Kommunikationsverbindungsglied zwischen einer Sonde 170,
ganz gleich, ob dieselbe aktiv oder passiv ist, und der
Test- und Meß-Ausrüstung 150 als auch die herkömmliche
BNC-RF-Verbindung 120, 120'. Im wesentlichen stellt jede
Verbindung 100 eine getrennte Schaltung dar, und daher ist
eine Neunschaltungsschnittstelle zwischen jeder Sondenprüf
spitze 160 und der Ausrüstung 150 in einer geraden Linie 110
unterhalb des weiblichen BNC 120 vorgesehen. Es wird der üb
liche Sondenidentifikationsring 130 verwendet, der den weib
lichen BNC 120 umgibt, um die existierenden BNC-Sonden unter
Verwendung der älteren Sonden-ID-Schemata zu unterstützen.
Der Ring 130 ist ferner mit der Mittelkontaktfläche 5 unter
halb des weiblichen BNC 120 verbunden 140. Bei dem bevorzug
ten Ausführungsbeispiel enthält die Sondenprüfspitze 160
neun Pogostifte 1'-9', um einen Kontakt mit den Kontakt
flächen 1-9 an der Ausrüstung 150 zu bilden. Eine Kommu
nikation und eine Leistung für die Sondenprüfspitze 160 (und
daher für die Sonde 170) wird von der Ausrüstung 150 herge
leitet.
Es sollte ausdrücklich offensichtlich sein, daß die Test-
und Meß-Ausrüstung 150 ein Oszilloskop, ein Spektrumanaly
sator oder jeder äquivalente Typ einer intelligenten Test-
und Meß-Vorrichtung sein kann. Es sollte ferner ausdrücklich
offensichtlich sein, daß die Sondenprüfspitze 160 jede be
liebige Spitze einer Anzahl von unterschiedlichen Formen,
Gestalten und Entwürfen sein kann, die die die Pogostifte 1'-9'
ausrichtet und dieselben gedrückt gegen die Kontakt
flächen 1-9 hält.
Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel weist die Ausrüstung
150 vier Schnittstellen 100 zur Verbindung von vier getrenn
ten Sonden 170 auf. Es sollte ausdrücklich offensichtlich
sein, daß jede beliebige Anzahl von Schnittstellen 100 mit
der Ausrüstung 150 verwendet werden könnte. Wenn mehrere
Schnittstellen 100 verwendet werden, können die verschiede
nen Sonden einige der Schaltungsanordnungen in der Ausrü
stung 150 teilen.
Wie in den Fig. 2a und 2b gezeigt, besteht die Leistung, die
zu der Sonde geliefert wird, aus vier Spannungen: +/-12 Volt
auf den Verbindungen 8 und 9 und einem Paar von komplemen
tären, programmierbaren Spannungen in dem Bereich von 3 bis
6 Volt auf den Verbindungen 1 und 2.
Die +/-12-Volt-Busse werden auf Verbindungen 8'-8 und 9'-9
von Leistungsversorgungen 200 und 210 in der Test- und Meß-
Ausrüstung 150 versorgt, und dieselben werden strombegrenzt
202 und 212. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel gibt
die Leistungsversorgung +/-12 Volt innerhalb von +1,2 Volt
und -0,6 Volt aus.
Wie in Fig. 2a gezeigt, gibt es zwei Spurverfolgungsserien
regler 220 und 230 in der Test- und Meß-Ausrüstung, die eine
Strombegrenzung vorsehen. Die Regler 220 und 230 liefern +
(3 bis 6 Volt) (+VPRG) auf der Verbindung 1'-1 und -(3 bis
6 Volt) (-VPRG) auf der Verbindung 2'-2. Die tatsächliche
Spannung, die über die Verbindungen 1'-1 und 2'-2 geliefert
wird, ist über einen Widerstand Rp in der Sondenprüfspitze
160 hardwareprogrammierbar, der als Signal Rprog über die
Verbindung 7'-7 zu den zwei Reglern 220 und 230 geliefert
wird. Der Wert des Widerstands Rp in Verbindung mit dem
Widerstand RR und der Spannung V hardwareprogrammiert die
Spannung, die über die Verbindungen 1'-1 und 2'-2 geliefert
wird.
Diese programmierbaren Spannungen werden durch einen Pro
grammwiderstand Rprog bestimmt, und dieselben können unter
Verwendung der folgenden Gleichungen bestimmt werden:
für +/-VPRG = 3 + 60/(20 + Rprog) in Volt [Rprog in kOhm]
oder
Rprog = 60/(VPRG - 3) - 20 in kOhm [VPRG in Volt und immer positiv, und wenn VPRG = 3, Rprog = unendlich]
Es folgen vier Beispiele:
- 1. für +/-VPRG - 3 Volt, Rprog = unendlich (d. h. ein Leerlauf)
- 2. für +/-VPRG = 4 Volt, Rprog = 40 kOhm
- 3. für +/-VPRG = 5 Volt, Rprog = 10 kOhm
- 4. für +/-VPRG = 6 Volt, Rprog = 0 kOhm (d. h. ein Kurz schluß)
Die Toleranz ist für +/-VPRG =< 2%, wenn ein 1% Programmwi
derstand Rprog verwendet wird.
Jeder Sondenprüfspitze 160 ist ein 0,2 Ampere positiver und
ein 0,2 Ampere negativer Versorgungsstrom zugeordnet. Der
Versorgungsstrom kann in jeder Kombination von den 12-Volt-
Versorgungen 200 und 210 und/oder von den programmierbaren
Reglern 220 und 230 kommen. Beispielsweise 0,025 Ampere von
der +12-Volt-Versorgung 200 und 0,175 Ampere von dem +6-
Volt-Regler 220 für ein Gesamt von 0,2 Ampere, und ähnlich
von den negativen Versorgungen.
Das Liefern der programmierbaren Spannung in dem Bereich von
3 bis 6 Volt von den zwei Spurverfolgungsserienreglern 220
und 230 in der Ausrüstung 150 ist ein wichtiges Merkmal der
vorliegenden Erfindung. Bei herkömmlichen Sondenprüfspitzen
160 sind dieselben, wenn die Sonde andere Spannungen benö
tigt als an der Schnittstelle vorhanden sind, herkömmlicher
weise in der Sondenprüfspitze 160 positioniert. Dies trägt
zu dem Gewicht der Sondenprüfspitze 160 bei, und nimmt eine
große Raummenge in der Sondenprüfspitze 160 ein, und trägt
zu der Wärme in der Sondenprüfspitze 160 bei. Daher ist die
Plazierung der Regler 220 und 230 in der Ausrüstung 150 und
die Plazierung des programmierbaren Widerstands Rp in der
Sondenprüfspitze 160 zur Lieferung über den Stift 7, um prä
zise den Wert der Spannungen zu steuern, der über die Stifte
1 und 2 von der Ausrüstung zu der Sondenprüfspitze 160 ge
liefert wird, ein wichtiges Merkmal der vorliegenden Erfin
dung.
Es sollte ausdrücklich offensichtlich sein, daß der Entwurf
der Regler 220 und 230 jeder herkömmliche Entwurf sein kann,
und daß andere äquivalente Spannungsquellen verwendet werden
könnten.
Mit der Schnittstellenverbindung 5'-5 und dem Ring 130 ist
ein Identifikationswiderstand RID in der Sondenprüfspitze
160 verbunden. Dieser ist mit einem Ohmmeter 240 in der Aus
rüstung 150 verbunden. Der Sondenwiderstand RID identifi
ziert, ganz gleich ob derselbe in einer aktiven oder einer
passiven Sonde positioniert ist, gewisse Charakteristika der
Sonde. Wenn die Sondenprüfspitze 160 mit der Ausrüstung 150
verbunden ist, bestimmt das Ohmmeter 240 den Wert des Wider
stands RID. Basierend auf diesem Wert werden die Charakteri
stika der Sonde 170 durch die Ausrüstung 150 mittels einer
Nachschlagtabelle automatisch bestimmt, die in einem Spei
cher 410 gespeichert ist. Die Ausrüstung 150 konfiguriert
dann automatisch und vollständig ohne einen Betreiberein
griff die Sonde. Jeder geeignete Typ eines Ohmmeters 240
könnte unter den Lehren der vorliegenden Erfindung verwendet
werden.
In Tabelle II, die ein Beispiel einer Nachschlagtabelle ist,
sind die verschiedenen Werte für den Widerstand RID für ein
zelne aktive und passive Sonden sowie die Betriebscharakte
ristika derartiger Sonden dargelegt.
In Tabelle II bedeutet "AC" das Wechselstromkoppeln, wobei
die Kopplungsecke gleich oder kleiner als 10 Hertz ist.
In Tabelle II identifiziert die erste Spalte vierzig ge
trennte Sonden mit unterschiedlichen Identifikationswider
ständen RID. Gemäß den Lehren der vorliegenden Erfindung
könnte jede Anzahl verwendet werden. Die Sonden, die mit 1-
17 numeriert sind, wurden ausgewählt, um Sonden mit gemein
samen Charakteristika zu entsprechen. Beispielsweise weist
die Sonde 12 einen 100 : 1 Sondendämpfungsfaktor, eine 50 Ohm
Eingangsimpedanz (d. h. Eingangs-Z), eine Offset-Steuerung
und eine Wechselstromkopplung auf. Der RID der Sonde 12 ist
auf 26,1 kOhm eingestellt. Bei einem zweiten Beispiel weist
die Sonde 17 eine 1000 : 1 Sondendämpfung und eine Eingangs
impedanz von 1 Megaohm auf. Der RID der Sonde 17 ist auf
42,2 kOhm eingestellt. Die Sonden, die mit 18-22 numeriert
sind, sind existierende Sonden, die der Bevollmächtigten der
vorliegenden Erfindung bekannt sind, und die der Schnitt
stelle der vorliegenden Erfindung angepaßt sind. Die Sonde
23 ist für eine digitale Schnittstelle, wie z. B. I2C reser
viert. Für die Sonden, die mit 24-40 numeriert sind, än
dern sich die Widerstandswerte um 10%, was eine Meßgenauig
keit von +/-5% erfordert. Die Sonden 24-40 sind für eine
zukünftige Anwendung reserviert. Derartige Sonden könnten
Stromsonden, faseroptische Sonden mit unterschiedlichen Off
set-Spannungsbereichen, etc. umfassen.
Wie es im folgenden ausführlicher erklärt wird, sind die In
halte der Tabelle II herkömmlicherweise in dem Speicher 410
von Fig. 4 als eine Nachschlagtabelle gespeichert. Wenn eine
Sonde 170 mit der Ausrüstung 150 an der Schnittstelle 100
verbunden wird, bestimmt die Ausrüstung den Wert des RID,
und dieselbe erhält die Charakteristika (d. h. die Spalten
2, 3 und 4 von Tabelle II) für diese Sonde aus dem Speicher
410. Dann konfiguriert die Ausrüstung 150 automatisch und
vollständig die Ausrüstung für die Sonde 170 ohne einen Be
treibereingriff.
Die Inhalte des Speichers 410 (d. h. entsprechend der Tabel
le 11) können von Zeit zu Zeit modifiziert werden. Man nimmt
beispielsweise an, daß eine zukünftige Sonde einen 1 : 1 Dämp
fungsfaktor, eine 50 Ohm Eingangsimpedanz, einen Offset-
Strom und eine DC-Unterdrückung (DCR) aufweist. Zusammen mit
der zukünftigen Sonde könnten eine Software oder geschrie
bene Befehle mitgeliefert werden, in denen der Speicher 410
aktualisiert werden könnte, um die Charakteristika für die
neue Sonde zu umfassen. Die Tabelle II stellt diese Charak
teristika dar, die in den Speicher 410 für diese neue Sonde
eingegeben werden, und die die Zahl 24 aufweisen. Es ist
ohne weiteres offensichtlich, daß die universelle Sonden
schnittstelle 100 der vorliegenden Erfindung zu einer
wesentlichen Flexibilität für zukünftige Sondenentwürfe
fähig ist, während dieselbe die meisten Standardsondenent
würfe (Sonden 1-17) und existierende Sondenentwürfe (Son
den 18-22) aufnimmt. Es können ferner digitale ID-Sonden
aufgenommen werden.
Es ist offensichtlich, daß einige Sonden 170 alle neun der
Schnittstellenverbindungen 100 verwenden werden, und daß
andere Sonden 170 verschiedene Verbindungen in der Schnitt
stelle verwenden werden. Die Schnittstelle ist jedoch uni
versell. Zusätzlich verbinden sich Sonden, die lediglich
einen BNC-Verbinder mit einem Pogostift aufweisen, der den
Ring 130 kontaktiert, ohne weiteres in die universelle
Schnittstelle 100, und der RID derselben wird durch die
Fläche 5 der Schnittstelle 100 gelesen, da die Kontaktfläche
5 mit dem Ring 130 verbunden ist.
Wenn die Ausrüstung eingeschaltet wird, liest dieselbe den
ID der Sonde, um herauszufinden, wie die Ausrüstung einzu
richten ist, da es möglich ist, daß eine andere Sonde 170,
während der Strom abgeschaltet war, installiert wurde.
In Fig. 3 sind die Details des Ohmmeters 240 gezeigt, wobei
dieselben eine 2 bis 100 Mikroampere Stromquelle 300 umfas
sen, die verwendet wird, um den Sondenwiderstand RID zu er
regen. Eine Spannungsquelle 310 wird als eine Referenzspan
nung verwendet. Ein Komparator 320 vergleicht die RID-Span
nung mit der Referenzspannung 310. Die Stromquelle 300 wird
auf der Leitung 302 unter Steuerung eines Digital-zu-Ana
log-Wandlers (DAC; DAC = Digital to Analog Converter) 456
variiert, und die Spannung 310 wird über die Leitung 312
variiert. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel werden
16-Kanal-, 16-Bit-DACs 456, 458 verwendet, um die Strom
quelle 300 und die Spannungsquelle 310 zu steuern. Ein
Beispiel eines derartigen DAC kann in dem U.S.-Patent Nr.
5,041,831 vorgefunden werden.
Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel wird der Sondenwi
derstand RID mindestens zweimal unter Verwendung von zwei
getrennten Stromwerten gemessen. Der erste Meßwert befindet
sich bei 100 Mikroampere und der zweite Meßwert liegt bei 25
Mikroampere. Unter Verwendung von zwei getrennten Meßwerten
werden Meßfehler minimiert, die durch die Komparator-Off
set-Spannung, Transistor-VBE-Unterschiede, Widerstandstole
ranzen und Sondenmassen-Offset-Spannungsfehlern bewirkt wer
den. Die Spannungsquelle 310 wird zwischen 0 und 5 Volt
durch den DAC 458 variiert.
In Fig. 3 wird das Ausgangssignal des Komparators 320 in die
Flip-Flops 330 und 340 gespeist. Wie erwähnt ist, wird der
Strom 300 zunächst auf 100 Mikroampere eingestellt, und dann
wird die Spannung 310 unter der Steuerung der Leitung 312
solange variiert, bis die Spannung von 310 zu der Spannung
über den Widerstand RID paßt. Diese Spannung wird kleiner
als 5 Volt sein. Das Ausgangssignal des Komparators 320 wird
seinen Zustand ändern, wenn die passende Spannung gekreuzt
wird.
Ein Beispiel der zwei Stromlesevorgänge für einen Widerstand
RID folgt. Man nimmt an, daß der Stromgenerator 300 zuerst
100 Mikroampere zu dem Widerstand RID liefert. Bei diesem
Beispiel ist RID 42,2 kOhm für die Sonde 17 in Tabelle II.
Dies entwickelt eine Spannung von 4,220 + Δ Volt quer zu dem
Widerstand RID, wobei Δ = +/- Spannung aufgrund von Meßfeh
lern ist.
Der Spannungswert wird durch Variieren der Spannungsquelle
310 bestimmt, solange bis die Referenzspannung von der Span
nungsquelle 310 4,220 + Δ entspricht (wie im folgenden er
klärt). Während des zweiten Stromlieferns von 25 Mikroampere
wird eine Spannung von 1,055 + Δ Volt durch die Spannungs
quelle 310 bestimmt. Die erste Spannung, die gelesen wird,
ist 4,220 + Δ Volt, und die zweite Spannung, die gelesen
wird, ist 1,055 + Δ Volt. Der Spannungsunterschied zwischen
diesen zwei Lesevorgängen ist 3,165 Volt. Die Δ-Lesevorgänge
werden durch Subtraktion eliminiert. Der Stromunterschied
zwischen diesen zwei Lesevorgängen beträgt 75 Mikroampere
(100 Mikroampere - 25 Mikroampere). Daher ist der Wider
stand, wie durch die zwei Lesevorgänge gemessen, 3,165 Volt
geteilt durch 75 Mikroampere oder 42,2 kOhm.
Es ist möglich, daß die erste Messung bei 100 Mikroampere
von der Stromquelle 300 den Komparator in Sättigung treibt.
Die Spannung 310 wird auf 5 Volt eingestellt, und wenn die
Spannung auf der Leitung 304 größer als 5 Volt ist, exi
stiert ein Sättigungszustand. Für diesen Fall reduziert die
Stromquelle 300 unter der Steuerung des I-VARIATION-DAC 456
den Strom, und die Bestimmung der Sättigung tritt von neuem
auf. Dieser Prozeß wird solange wiederholt, bis eine Span
nung, die kleiner als 5 Volt ist, auf der Zuleitung 304 er
scheint. Daher kann der Strom, der bei dem ersten Lesevor
gang verwendet wird, kleiner als 100 Mikroampere sein, und
der Strom, der bei dem zweiten Lesevorgang verwendet wird,
wird ebenso niedriger eingestellt. Wenn sich beispielsweise
der Komparator 320 aus der Sättigung bewegt, wenn der erste
Strom 90 Mikroampere beträgt, dann ist der zweite Strom
niedriger als z. B. 20 Mikroampere.
Das Variieren der Spannung durch den DAC 458 ist bei dem be
vorzugten Ausführungsbeispiel eine binäre Suche. Da die
Spannungsquelle anfangs auf 5 Volt eingestellt ist, beträgt
die erste Steuerung von dem DAC 458 2,5 Volt, wenn die Span
nung auf der Leitung 304 höher (wobei dies bei dem obigen
Beispiel von 4,220 + Δ Volt der Fall ist) ist, dann ist das
Ausgangssignal des Komparators 320 in einem hohen Zustand,
der erfaßt wird, und der bewirkt, daß der Spannungsvaria
tions-DAC 458 die Quelle 310 steuert, so daß dieselbe 2,50 +
1,25 oder 3,75 Volt zu dem Komparator 320 liefert. Wiederum
ist bei dem vorhergehenden Beispiel die Spannung 4,22 + Δ
Volt auf der Zuleitung 304 größer als 3,75 Volt. Dann be
wirkt der DAC 458, daß die Quelle 310 3,750 + 0,625 oder
4,375 Volt liefert. Diese Spannung ist größer als die Span
nung auf der Zuleitung 304 und das Ausgangssignal des Kompa
rators 320 geht in einen niedrigen Zustand. Der DAC 458 lie
fert 4,375-0,313 oder 4,062 Volt. Diese Spannung ist klei
ner als 4,220 und der Komparator geht in einen hohen Zu
stand. Der DAC 458 liefert 4,062 + 0,157 oder 4,219 Volt.
Dieser binäre Prozeß fährt solange fort, bis die erwünschte
Genauigkeit erreicht ist.
Nachdem die Bestimmung von RID vorgenommen wurde, wird die
Stromquelle 300 auf einen Ruhezustand von 5 Mikroampere
durch die Zuleitung 302 eingestellt, und die Spannungsquelle
310 wird auf einen Ruhezustand von 5 Volt eingestellt. Das
Ohmmeter 240 ist nun auf einen Zustand eingestellt, um zu
erfassen, wann die Sondenprüfspitze 160 nicht in die Aus
rüstung 150 eingesteckt ist. Wenn die Sondenprüfspitze 160
nicht mit der Ausrüstung 150 verbunden ist, dann wird ein
Leerlauf (größer als 1 Megaohm) erfaßt, der ein Unter
brechungssignal ID-UNTERBRECHUNG 454 erzeugt. Der Leerlauf
an der Verbindung 5'-5 bewirkt, daß die Spannung auf der
Zuleitung 304 plötzlich über 5 Volt geht, was bewirkt, daß
das Signal auf der Zuleitung 322 sich in einem hohen Zustand
befindet, was das Flip-Flop 330 derart einstellt, daß der
Q-Ausgang desselben sich in einem hohen Zustand befindet.
Es sollte ausdrücklich offensichtlich sein, daß solange die
Prüfspitze 160 an der Verbindung 5 eingesteckt ist, eine
Spannung kleiner als 5 Volt auf der Leitung 304 zu dem Kom
parator 320 geliefert wird. Wenn jedoch die Sondenprüfspitze
160 nicht eingesteckt ist, wird ein "1"-Signal auf der Lei
tung 322 zu dem Flip-Flop 330 und dem Flip-Flop 340 gelie
fert. Dies liefert ein "1"-Signal durch das OR-Tor 350, das
als ein Unterbrechungssignal ID-UNTERBRECHUNG 454 geliefert
wird. Daher ist der Ausrüstung 150 sofort bekannt, wenn eine
Sonde 170 von dem Oszilloskop abgetrennt wird. Dies ist ein
wichtiges Merkmal der vorliegenden Erfindung, da ein Unter
brechungssignal 454 erzeugt wird, sobald die Sonde abge
trennt ist. Ein Datensignal ID-UNTERBRECHUNGS-STATUS wird
auf der Leitung 455 geliefert, um die Existenz des Unter
brechungssignals zu verifizieren. Während der Verifikation
wird ein Neueinstellungssignal RST 452 zu den Flip-Flops 330
und 340 geliefert.
Wenn ein ID-Unterbrechungssignal erzeugt 454 wird, wird die
Ausrüstung 150 programmiert, um eine momentane Bildschirm
meldung zu erzeugen, die den Benutzer darauf aufmerksam
macht, was passiert ist, d. h., daß eine Sonde angeschlossen
oder abgetrennt wurde. Wenn eine Sonde angeschlossen wird,
tritt eine automatische Konfiguration auf. Wenn eine Sonde
abgetrennt wird, dann wird kein Sondenkonfigurationszustand
betreten.
Wenn eine Sondenprüfspitze 160 an der Ausrüstung 150 neu be
festigt wird, dann wird der Widerstand an der Verbindung 5
unter 1 Megaohm fallen, und das Ausgangssignal des Kompara
tors 320 geht in einen niedrigen Zustand, um weniger als 5
Volt anzuzeigen, was eine Unterbrechung erzeugt. Dann be
stimmt das Ohmmeter 240 den Sonden-ID-Widerstand RID.
Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist die Stromquelle
300 in dem Ohmmeter 240 derart entworfen, daß dieselbe einen
Bereich von 2 bis 100 Mikroampere und eine absolute Genauig
keit von +/-1,5 Mikroampere und eine Genauigkeit des Del
ta-Stroms (d. h. für die zwei Stromeinstellungen, die oben
erörtert wurden) von +/-0,5 Mikroampere aufweist.
Die vorliegende Erfindung schafft eine Taktleitungsverbin
dung 6'-6 und eine Datenleitungsverbindung 4'-4 für eine
Zweiwegkommunikation zwischen der Sonde 170 und der Ausrü
stung 150. Diese Schnittstelle sieht eine I2C-kompatible di
gitale Kommunikation vor, dieselbe kann jedoch verschiedene,
andere Protokolle liefern. Gemäß den Lehren der vorliegenden
Erfindung und bei alternativen Ausführungsbeispielen können
beide Leitungen als Steuerungsleitungen und Statusleitungen
verwendet werden. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel
wird die Taktleitung CLK für Unterbrechungen verwendet. Ein
Treiber 270 kann Daten (oder andere Signale) von der Ausrü
stung zu der Sondenprüfspitze 160 liefern, und ein Puffer
272 kann Daten (oder andere Signale) von der Sondenprüfspit
ze 160 empfangen. Ähnlich kann ein Treiber 274 Taktsignale
(oder andere Signale) von der Ausrüstung zu der Sondenprüf
spitze 160 liefern, und ein Puffer 276 kann Taktsignale
(oder andere Signale) von der Sondenprüfspitze 160 liefern.
Bei einigen Sonden 170 kann der Benutzer der Sonde einen
herkömmlichen Knopf auf der Sondenspitze drücken, um eine
Unterbrechung einzuleiten, die über die Verbindung 6'-6
durch den Puffer 276 geliefert werden kann. Auf dies wird
herkömmlicherweise als "Auto-Erfassung" Bezug genommen. Dies
bewirkt herkömmlicherweise, daß die Ausrüstung 150, wie z.
B. ein Oszilloskop, den "Rahmen einfriert", wenn sich die
selbe in dem Laufmodus befindet. Wenn sich das Oszilloskop
in einem Einzelbildmodus befindet, dann wird das Oszilloskop
einen herkömmlichen "Auslöserarm" durchführen.
Die Verbindung 3'-3 der Schnittstelle 100, wie in den Fig. 1
und 2 gezeigt, liefert einen OFFSET-Strom von der Ausrüstung
150 zu der Sondenprüfspitze 160. Wie in Fig. 2 gezeigt, sind
ein Widerstand R0 und ein Kondensator C0 in der Sondenprüf
spitze 160 vorgesehen. Der Widerstand R0 in der Sondenprüf
spitze 160 führt die Strom-zu-Spannungs-Wandlung durch und
bezieht die Offset-Spannung auf die Sondenmasse. Der Konden
sator C0 sieht parallel mit dem Widerstand R0 ein Filtern
und einen elektrostatischen Entladungsschutz vor. Der R0 ist
bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel etwa 5 kOhm, um eine
Ausgleichsspannung von +/-5 Volt zu ergeben. Diese Aus
gleichsspannung stellt einen ordnungsgemäßen Betrieb des
Offset-Stromfilterns sicher. Bei dem bevorzugten Ausfüh
rungsbeispiel ist der OFFSET-Strom +/-1 Milliampere mit ei
ner Toleranz von +/-0,01 Milliampere. Die OFFSET-Spannungs
grenze, die über R0 entwickelt wird, ist maximal +/-6 Volt.
Bei der Ausrüstung 150 ist eine Stromquelle I0, die durch
PROG 440 gesteuert wird, der den OFFSET-Strom durch die Ver
bindung 3'-3 zu der Sondenprüfspitze 160 und zu dem Wider
stand R0 liefert. Der PROG 440 ist ein herkömmlicher DAC und
wird eingestellt, um den erforderlichen Offset-Strom zu der
Sonde zu liefern.
Ein OFFSET-Komparator 260 wird verwendet, um ein Null-Aus
gangssignal während der Kalibrierung zu liefern. Wenn die
Sondenprüfspitze 160 von der Ausrüstung 150 abgetrennt ist,
dann wird die Stromquelle I0 262 programmiert, um Null
Milliampere +/-0,1 Mikroampere zu liefern. Dies könnte
durch Erfassen des Ausgangssignals des Komparators 260 und
durch Durchführen einer binären Suche (wie im vorhergehenden
erörtert) verifiziert werden, wobei der Offset-PROG-DAC 440
steuert, um zu bestimmen, welcher DAC-Code einen Nullstrom
ergibt. Wenn nicht, könnte das Ausgangssignal des PROG 440
zu der Stromquelle I0 262 geeignet modifiziert werden, um
einen Nullstrom an dem Ausgang des Komparators 260 zu er
zeugen. Bei dem bevorzugten Ausführungsbeispiel weist die
Steuerung des PROG 440 der Stromquelle I0 262 eine Auflösung
von 0,015 Mikroampereschritten auf.
Die allgemeine Konfiguration der Ausrüstung 150 der vorlie
genden Erfindung ist in Fig. 4 gezeigt. Die Ausrüstung 150
weist einen herkömmlichen Mikroprozessor 400 auf, der auf
eine Speichernachschlagtabelle 410 zugreift. Der Mikropro
zessor ist herkömmlicherweise mit einer Anzeige 420 und mit
einem Eingabegerät 430 verbunden. Es kann eine beliebige
Anzahl von Eingabegeräten 430 verwendet werden, wie z. B.
eine Tastatur, ein Berührungsbildschirm, eine Platte etc.
Der Mikroprozessor 400 steuert die verschiedenen Schaltungen
der Schnittstelle, wie es oben erörtert wurde. Der Mikropro
zessor 400 ist mit einer Nachschlagtabelle 410 über die Lei
tungen 411 verbunden. Die Inhalte der Nachschlagtabelle 410
enthalten die Sondenbetriebscharakteristika, die in Tabelle
II vorgefunden werden.
Unter Bezugnahme auf Fig. 3 und 4 wird, wenn eine Sonde 170
mit der Ausrüstung 150 verbunden ist, eine ID-Unterbrechung
454 über die Leitung 455 durch ein OR-Tor 457 zu dem Mikro
prozessor 400 geliefert. Der Computer verifiziert durch Prü
fen des ID-Unterbrechungsstatus 455 über die Leitung 416,
welche Unterbrechung empfangen wurde. Der Mikroprozessor 400
stellt die Flip-Flops 330 und 340 durch Senden eines Signals
über die Leitung 414 zu dem RST 452 ein.
Die Ausrüstung 150 bestimmt nun den Widerstand des Wider
stands RID. Bei der im vorhergehenden erörterten Prozedur
werden zwei Messungen des Widerstands RID durch den Mikro
prozessor 400 durch Variieren des I-VARIATION-DAC 456 und
des V-VARIATION-DAC 458 über die Leitung 418 bzw. 422 durch
geführt. Nach jedem Meßschritt liest der Mikroprozessor 400
über die Leitung 412 den ID 450, um das Ausgangssignal des
Tors 350 in der ID-Unterbrechung 454 zu bestimmen. Der Mi
kroprozessor 400 kennt den Spannungs-DAC-Wert, den derselbe
über die Leitung 422 zu der Schaltung V-VARIATION-DAC 458
nach dem Abschließen des Teilen-durch-Zwei-Prozesses ge
liefert hat, wobei dieser DAC-Wert der Spannung quer zu der
Sonde RID entspricht. Daher bestimmt der Mikroprozessor 400
die Identität der Sonde, die befestigt wurde, und derselbe
schlägt die identifizierten Betriebscharakteristika der
Sonde in der Tabelle 410 nach.
Der Mikroprozessor 400 konfiguriert dann automatisch die
Ausrüstung 150 für die befestigte Sonde, und derselbe stellt
die Ausrüstung 150 für die Sondencharakteristika ein. Bei
spielsweise kann der Mikroprozessor 400 die geeigneten Da
tenwerte über die Leitungen 403 zu dem PROG-DAC 440 zum
Steuern des Offset-Stroms 262, wie es in Fig. 2a gezeigt
ist, liefern.
In den Fig. 2 und 4 steuert der Mikroprozessor 400 die Takt
aktivierung 280 über die Leitungen 281, und derselbe liefert
das Taktsignal über die Leitung 424 zu dem Taktausgang 460.
Auf diese Art und Weise können Taktsignale über die Verbin
dung 6'-6 in die Sondenprüfspitze 160 geliefert werden.
Taktunterbrechungssignale können zurück zu dem Mikroprozes
sor 400 über die Leitung 426 von dem Takteingang 462 ge
liefert werden. Dies ist in Fig. 5 gezeigt, bei der das Aus
gangssignal des Verstärkers 276 in ein Flip-Flop 500 gelie
fert wird, das durch den Mikroprozessor über RST 452 neu
eingestellt werden kann. Beim Betrieb tritt, wenn eine Takt
unterbrechung von der Sondenprüfspitze 160 über die Verbin
dung 6'-6 geliefert wird, dieselbe in den Verstärker 276 ein
und stellt das Flip-Flop 500 derart ein, um ein Taktunter
brechungssignal 462 auszugeben, das in das Tor 457 zum Lie
fern zu dem Mikroprozessor 400 gespeist wird. Der Mikropro
zessor 400 verifiziert einen Taktunterbrechungsstatus 510
über die Leitung 511. Nachdem die Unterbrechung verifiziert
wurde, kann der Mikroprozessor das Flip-Flop 500 auf eine
herkömmliche Art und Weise neu einstellen 452. Der Mikro
prozessor 400 kann ferner Taktsignale von der Sondenprüf
spitze 160 an dem Takteingang 462 empfangen.
Der Betrieb der Datenschaltung ist ähnlich zu der Taktschal
tung, die im vorhergehenden beschrieben wurde. Unter Bezug
nahme auf die Fig. 2a, 4 und 6 tritt das Freigeben der Da
tensignale bei 290 und das Liefern der Datensignale durch
den Datenausgang 444 auf. Daher liefert der Mikroprozessor
400 Datensignale über die Leitungen 406 durch den Datenaus
gang 444 durch den Verstärker 270 und durch die Verbindung
4'-4 zu der Sondenprüfspitze 160. Ähnlich können Daten von
der Sondenspitze 160 zu dem Mikroprozessor 400 zurückgegeben
werden. In Fig. 6 werden ankommende Daten durch den Verstär
ker 272 und direkt zu dem Dateneingang 446 zur Lieferung
über die Leitungen 408 zu dem Mikroprozessor 400 geliefert.
Eine Unterbrechung kann ferner über die Verbindung 4'-4 kom
men, und die Unterbrechung stellt das Flip-Flop 600 derart
ein, daß dieselbe eine Datenunterbrechung 446 ausgibt. Der
Mikroprozessor 400 verifiziert den Status der Datenunter
brechung bei 610 über die Leitung 611. Das Flip-Flop 600
kann durch RST 452 durch den Mikroprozessor neu eingestellt
werden.
Es sollte ausdrücklich offensichtlich sein, daß das Block
diagramm von Fig. 4 eine funktionale Darstellung ist, und
daß eine Anzahl von herkömmlichen verfügbaren Systemen ver
wendet werden könnte, um dasselbe zu implementieren.
Claims (15)
1. Meßvorrichtung mit einer Test- und Meß-Ausrüstung (150)
und zumindest einer Sonde (160, 170), die aus einer
Mehrzahl von Sonden ausgewählt ist,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Sonde (160, 170) über eine universelle Schnitt stelle (100) mit der Test- und Meß-Ausrüstung (150) verbindbar ist, wobei die universelle Schnittstelle (100) eine Mehrzahl von Verbindungen (1-1' ... 9-9') zwischen der Sonde (160, 170) und der Test- und Meß- Ausrüstung (150) bereitstellt;
die Sonde (160, 170) einen spannungsprogrammierenden Widerstand (RP) umfaßt;
die Sonde (106, 170), wenn dieselbe mit der Test- und Meß-Ausrüstung (150) verbunden ist, abhängig von dem spannungsprogrammierenden Widerstand (RP) ein Signal (RPROG) erzeugt;
die universelle Schnittstelle (100) das erzeugte Signal (RPROG) über eine Verbindung (7-7') von der Sonde (160, 170) zu der Test- und Meß-Ausrüstung (150) liefert;
die Test- und Meß-Ausrüstung (150) eine Einrichtung (RR, 220, 230) umfaßt, die abhängig von dem gelieferten Signal (RPROG) eine programmierte Spannung (+VPROG, -VPROG) erzeugt; und
die universelle Schnittstelle (100) die programmierte Spannung (+VPROG, -VPROG) über zumindest eine Verbindung (1-1', 2-2') von der Test- und Meß-Ausrüstung (150) zu der Sonde (160, 170) liefert.
dadurch gekennzeichnet, daß
die Sonde (160, 170) über eine universelle Schnitt stelle (100) mit der Test- und Meß-Ausrüstung (150) verbindbar ist, wobei die universelle Schnittstelle (100) eine Mehrzahl von Verbindungen (1-1' ... 9-9') zwischen der Sonde (160, 170) und der Test- und Meß- Ausrüstung (150) bereitstellt;
die Sonde (160, 170) einen spannungsprogrammierenden Widerstand (RP) umfaßt;
die Sonde (106, 170), wenn dieselbe mit der Test- und Meß-Ausrüstung (150) verbunden ist, abhängig von dem spannungsprogrammierenden Widerstand (RP) ein Signal (RPROG) erzeugt;
die universelle Schnittstelle (100) das erzeugte Signal (RPROG) über eine Verbindung (7-7') von der Sonde (160, 170) zu der Test- und Meß-Ausrüstung (150) liefert;
die Test- und Meß-Ausrüstung (150) eine Einrichtung (RR, 220, 230) umfaßt, die abhängig von dem gelieferten Signal (RPROG) eine programmierte Spannung (+VPROG, -VPROG) erzeugt; und
die universelle Schnittstelle (100) die programmierte Spannung (+VPROG, -VPROG) über zumindest eine Verbindung (1-1', 2-2') von der Test- und Meß-Ausrüstung (150) zu der Sonde (160, 170) liefert.
2. Meßvorrichtung nach Anspruch 1, die der
die Sonde (160, 170) einen Sondenidentifikationswider stand (RID) umfaßt; und
die Test- und Meß-Ausrüstung (150) ein Ohmmeter (240) umfaßt, das den Wert des Sondenidentifikationswider stands (RID) in der Sonde (160, 170) über eine Verbin dung (5-5') der universellen Schnittstelle (100) mißt.
die Sonde (160, 170) einen Sondenidentifikationswider stand (RID) umfaßt; und
die Test- und Meß-Ausrüstung (150) ein Ohmmeter (240) umfaßt, das den Wert des Sondenidentifikationswider stands (RID) in der Sonde (160, 170) über eine Verbin dung (5-5') der universellen Schnittstelle (100) mißt.
3. Meßvorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Test- und
Meß-Ausrüstung (150) einen Offset-Stromgenerator (262)
umfaßt, der abhängig von der identifizierten Sonde
(160, 170) einen Offset-Strom (262) über eine Verbin
dung (3-3') der universellen Schnittstelle (100) zu der
Sonde (160, 170) liefert, wobei die Test- und Meß-Aus
rüstung (150) den Offset-Stromgenerator (262) für einen
Nullstrom unabhängig von der Sonde kalibriert.
4. Meßvorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, bei der die
Test- und Meß-Ausrüstung (150) folgende Merkmale um
faßt:
einen Speicher (410), der die Betriebscharakteristika für die Sonde (160, 170) enthält; und
einen Prozessor (400) zum Steuern des Ohmmeters (240), um den Wert des Sondenidentifikationswider stands (RID) der verbundenen Sonde (160, 170) zu be stimmen, wobei der Prozessor (400) die Betriebscha rakteristika der verbundenen Sonde (160, 170) aus dem Speicher (410) erhält, wobei der Prozessor (400) die Test- und Meß-Ausrüstung (150) konfiguriert, um die Betriebscharakteristika für die verbundene Sonde (160, 170) über die universelle Schnittstelle (100) an die Sonde (160, 170) zu liefern.
einen Speicher (410), der die Betriebscharakteristika für die Sonde (160, 170) enthält; und
einen Prozessor (400) zum Steuern des Ohmmeters (240), um den Wert des Sondenidentifikationswider stands (RID) der verbundenen Sonde (160, 170) zu be stimmen, wobei der Prozessor (400) die Betriebscha rakteristika der verbundenen Sonde (160, 170) aus dem Speicher (410) erhält, wobei der Prozessor (400) die Test- und Meß-Ausrüstung (150) konfiguriert, um die Betriebscharakteristika für die verbundene Sonde (160, 170) über die universelle Schnittstelle (100) an die Sonde (160, 170) zu liefern.
5. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, bei
der das Ohmmeter (240) ein Unterbrechungssignal (454)
ausgibt, wenn die Sonde (160, 170) mit der Test- und
Meß-Ausrüstung (150) verbunden ist oder von derselben
abgetrennt ist.
6. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, bei
der
die Test- und Meß-Ausrüstung (150) eine Festspannungs quelle (200, 210) umfaßt, wobei die universelle Schnittstelle (100) eine Festspannung von der Festspan nungsquelle (200, 210) durch zwei Verbindungen (8-8', 9-9') von der Test- und Meß-Ausrüstung (150) zu der Sonde (160, 170) liefert; und
ein Zweiwegkommunikationsweg zwischen der Sonde (160, 170) und der Test- und Meß-Ausrüstung (150) über zwei Verbindungen (4-4', 6-6') der universellen Schnitt stelle (100) gebildet ist.
die Test- und Meß-Ausrüstung (150) eine Festspannungs quelle (200, 210) umfaßt, wobei die universelle Schnittstelle (100) eine Festspannung von der Festspan nungsquelle (200, 210) durch zwei Verbindungen (8-8', 9-9') von der Test- und Meß-Ausrüstung (150) zu der Sonde (160, 170) liefert; und
ein Zweiwegkommunikationsweg zwischen der Sonde (160, 170) und der Test- und Meß-Ausrüstung (150) über zwei Verbindungen (4-4', 6-6') der universellen Schnitt stelle (100) gebildet ist.
7. Meßvorrichtung nach Anspruch 6, bei der die Festspan
nung eine positive Festspannung und eine negative Fest
spannung umfaßt, die die universelle Schnittstelle
(100) über eine erste Verbindung (8-8') bzw. eine
zweite Verbindung (9-9') an die Sonde (160, 170) lie
fert.
8. Meßvorrichtung nach Anspruch 7, bei der die Fest
spannung 12 Volt beträgt.
9. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, bei
der der Zweiwegkommunikationsweg ein Taktsignal (CLK)
auf einer Verbindung (6-6') der universellen Schnitt
stelle (100) aufweist.
10. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 9, bei
der der Zweiwegkommunikationsweg einen Datenweg auf
einer Verbindung (4-4') der universellen Schnittstelle
(100) aufweist.
11. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, bei
der die programmierte Spannung (+VPROG, -VPROG) eine
positive programmierte Spannung (+VPROG) und eine ne
gative programmierte Spannung (-VPROG) umfaßt, die die
universelle Schnittstelle (100) über eine erste Verbin
dung (1-1') bzw. eine zweite Verbindung (2-2') an die
Sonde (160, 170) liefert.
12. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, bei
der die programmierte Spannung (+VPROG, -VPROG) einen
Wert im Bereich von 3 bis 6 Volt hat.
13. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, bei
der die universelle Schnittstelle (100) ferner einen
BNC-Verbinder (120) aufweist, wobei die Verbindungen
(1-1'... 9-9') der universellen Schnittstelle (100) in
einer Linie (110) unterhalb des BNC-Verbinders (120)
angeordnet sind.
14. Meßvorrichtung nach Anspruch 13 in Rückbezug auf die
Ansprüche 2 bis 12, bei der der BNC-Verbinder (120)
einen Sondenidentifikationsring (130) umfaßt, der an
der Test- und Meß-Ausrüstung (150) angeordnet ist,
wobei eine Verbindung (5-5') der universellen Schnitt
stelle mit dem Sondenidentifikationsring (130) in elek
trischem Kontakt ist.
15. Meßvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 14, bei
der eine Mehrzahl von Sonden mit der Test- und Meß-Aus
rüstung verbunden ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/818,855 US5939875A (en) | 1997-03-17 | 1997-03-17 | Universal probe interface |
Publications (2)
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