DE19804571C2 - Spektrum-Analysator - Google Patents
Spektrum-AnalysatorInfo
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Description
Diese Erfindung betrifft einen Spektrum-Analysator zum Ana
lysieren eines ankommenden Signals in Frequenz- und Zeitbe
reichen und insbesondere einen Spektrum-Analysator, der meh
rere Eingangssignal-Meßkanäle aufweist, von denen jeder in
Gleichlauf mit den anderen arbeitet, um eine Beziehung unter
mehreren Eingangssignalen zu messen, die untereinander die
selbe oder unterschiedliche Trägerfrequenzen aufweisen.
Eine Grundstruktur eines intern bekannten Frequenzspektrum-Analysators
wird in Fig. 5 gezeigt. Der Spektrum-Analysator von Fig. 5
weist einen Frequenzmischer 11, einen Hilfsoszillator 21,
einen ZF-(Zwischenfrequenz-)Filter 31, einen Detektor 41,
einen A/D-(Analog-Digital-)Wandler 51, einen Sägezahngenera
tor 61, und eine Signalverarbeitung und -Anzeige 81 auf.
Der Frequenzspektrum-Analysator von Fig. 5 wandelt die
Frequenz eines zu analysierenden Eingangssignals durch den
Frequenzmischer 11 um. Der Frequenzmischer 11 mischt das
Eingangssignal mit einem Hilfssignal vom Hilfsoszillator 21
und erzeugt ein ZF-Signal. Der Hilfsoszillator 21 wird durch
ein Sägezahnsignal vom Sägezahngenerator 61 angesteuert, so
daß die Frequenz des Hilfssignals als Reaktion auf das Säge
zahnsignal linear variiert (wobbelt). Der ZF-Filter 31 fil
tert das ZF-Signal, damit es eine vorherbestimmte Bandbreite
aufweist. Der Detektor 41 empfängt das ZF-Signal vom ZF-
Filter 31 und erzeugt eine Gleichspannung, die proportional
zur Wechselspannungsamplitude des ZF-Signals ist. Die
Gleichspannung vom Detektor 41 wird durch den A/D-Wandler 51
in ein Digitalsignal umgesetzt. Das Digitalsignal wird durch
die Signalverarbeitung und -Anzeige 81 mit einer vorherbe
stimmten Datenverarbeitung versehen, und das Ergebnis der
Datenverarbeitung wird auf dem Anzeigeschirm angezeigt.
Der Sägezahngenerator 61 liefert das Sägezahnsignal
auch an den A/D-Wandler 51, so daß der Hilfsoszillator 21
und der A/D-Wandler 51 miteinander zusammenarbeiten. Das Sä
gezahnsignal vom Sägezahngenerator definiert einen Bereich
der gewobbelten Frequenz des Hilfsoszillators 21, d. h. eine
Spanne von Frequenzspektren im zu messenden Eingangssignal.
Die Frequenzspanne ist in diesem Fall ein Bereich der Fre
quenz, der auf einer horizontalen Achse der Anzeige gezeigt
wird. Folglich wird, wenn die Frequenzspanne einen bestimm
ten Bereich der Frequenz relativ zum Eingangssignal auf
weist, das Frequenzspektrum des Eingangssignals auf der An
zeige als Frequenzbereichsdaten gezeigt.
Wenn die Frequenzspanne Null ist, bedeutet das, daß
das Sägezahnsignal vom Sägezahngenerator 61 auf eine feste
Spannung eingestellt ist, so daß eine Frequenz des
Hilfssignals festgelegt ist und mit dem Eingangssignal ge
mischt wird. In dieser Situation ist das, was auf der hori
zontalen Achse der Anzeige gezeigt wird, eine Zeitbe
reichsantwort des Eingangssignals für eine feste Frequenz
des Hilfssignals. Daher ist ein Spektrum-Analysator fähig,
das Eingangssignal sowohl im Frequenzbereich als auch im
Zeitbereich zu messen und zu analysieren.
Der Spektrum-Analysator kann eine äußere Triggerfunk
tion aufweisen, bei der der Wobbel-Generator 61 ein Trigger
signal von einer äußeren Quelle durch einen Triggereingangs
anschluß erhält. Bei dieser Anordnung erzeugt der Wobbel-
Generator 61 ein Sägezahnsignal in Gleichlauf mit dem Trig
gersignal. So kann in dem Fall, wo ein zu analysierendes
Eingangssignal ein Impulssignal ist, durch ein äußeres Trig
gersignal, das eine vorherbestimmte zeitliche Beziehung mit
dem Beginn des Impulssignals aufweist, der Spektrum-
Analysator das Impulssignal effektiv analysieren.
Der Spektrum-Analysator arbeitet als ein Empfänger zur
Messung eines Eingangssignals einer einzelnen Frequenz durch
Einstellen der Null-Frequenzspanne wie oben bemerkt. Bei
dieser Einstellung wird das Sägezahnsignal vom Sägezahngene
rator 61 auf eine feste Spannung eingestellt, so daß eine
feste Frequenz des Hilfssignals mit dem Eingangssignal ge
mischt wird. Die Hilfssignalfrequenz wird so eingestellt,
daß der Frequenzunterschied zwischen dem Hilfssignal und dem
Eingangssignal immer auf die Mittenfrequenz des ZF-Filters
abgestimmt ist.
Ein Anwendungsbeispiel der Nullspannen-Betriebsart des
Spektrum-Analysators wird in Fig. 3A gezeigt, wobei Signale
bei einem TDMA (Mehrfachzugriff im Zeitmultiplex) wie einem
PHS (Personalhandtelefonsystem) dargestellt werden. Ein Re
ferenzsteuerkanal, der eine Frequenz f1 aufweist, und ein
Übertragungskanal, der eine Frequenz f2 aufweist, werden in
Fig. 3A gezeigt. Beim Messen einer Zeitdifferenz t1 zwischen
dem Impulssignal im Referenzsteuerkanal und der Informatio
nen A im Übertragungskanal sind zwei Empfänger (Spektrum-
Analysatoren) erforderlich, einer, der auf die Frequenz f1
abgestimmt ist, um eine Referenzzeit zu ermitteln, und der
andere, der auf die Frequenz f2 abgestimmt ist, um die
Startzeit des Informationssignals zu ermitteln.
Ferner ist es im Beispiel der Fig. 3A notwendig, um
den Betrieb der beiden Empfänger zu synchronisieren, einen
triggerauskoppelnde Schaltung vorzubereiten, um ein Trigger
signal aus dem Empfänger zu erzeugen, der auf den Referenz
kanal abgestimmt ist. Das Triggersignal wird an den Trigger
eingangsanschluß des Empfängers angelegt, der auf den Über
tragungskanal abgestimmt ist. Folglich arbeiten zwei Empfän
ger in Gleichlauf miteinander.
Ein weiteres Beispiel einer Meßanwendung, die die
Nullspannen-Betriebsart der Spektrum-Analysatoren verwendet,
wird in Fig. 4 gezeigt. Wie gezeigt, empfängt in einem mobi
len Kommunikationssystem der Fig. 4 ein mobiles Funk-Sende-
/Empfangsgerät 92 direkt ein Sendesignal von einer Basissta
tion 91 über einen Weg 400. Das mobile Funk-Sende-
/Empfangsgerät 92 empfängt auch ein weiteres Sendesignal,
das durch einen Gegenstand 93, wie ein Gebäude, reflektiert
worden ist. Um eine Zeitverzögerung des reflektierten Sende
signals relativ zum direkten Sendesignal in der Situation
der Fig. 4 zu messen, ist es notwendig, zwei Empfänger
(Spektrum-Analysatoren) zu verwenden, obwohl die Frequenz
beider Signale dieselbe ist. Einer empfängt das direkte Sen
designal über eine Referenzantenne und der andere empfängt
das reflektierte Sendesignal über eine Meßantenne.
Wie im vorhergehenden erläutert worden ist, sind zum
Messen der Zeitdifferenz zwischen zwei Signalen mit unter
schiedlichen Frequenzen oder der Zeitverzögerung zwischen
den beiden Signalen mit derselben Frequenz zwei Empfänger
(Spektrum-Analysatoren) erforderlich. Ferner ist es zum Mes
sen der Zeitdifferenz zwischen den beiden Signalen durch die
herkömmlichen Spektrum-Analysatoren erforderlich, eine zu
sätzliche Schaltung vorzubereiten, um ein Triggersignal zu
erzeugen, das auf dem Eingangssignal beruht, um den Betrieb
zwischen den beiden Spektrum-Analysatoren zu synchronisie
ren.
Es ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
einen Spektrum-Analysator bereitzustellen, der eine Zeitdif
ferenz zwischen zwei oder mehreren Signale mit unterschied
lichen Trägerfrequenzen oder eine Zeitverzögerung zwischen
zwei oder mehreren Signalen mit derselben Trägerfrequenz
messen kann.
Es ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfin
dung, einen Spektrum-Analysator bereitzustellen, der zum
Durchführen mehrerer unterschiedlicher Prüfpunkte eines Ein
gangssignals auf parallele Weise fähig ist.
In einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Er
findung weist der Spektrum-Analysator mindestens zwei Meßka
näle, wobei jeder der Meßkanäle einen Frequenzmischer, einen
Hilfsoszillator und einen ZF-(Zwischenfrequenz-)Filter zum
Mischen eines zu messenden Eingangssignals mit einem
Hilfssignal des Hilfsoszillators aufweist, um ein ZF-Signal
zu erzeugen, das durch den ZF-Filter geht, und einen Demodu
lator auf, der in einem der Meßkanäle vorgesehen ist, um das
ZF-Signal zu demodulieren, das aus dem Eingangssignal er
zeugt wird, um ein Triggersignal zu erzeugen, um gleichzei
tig Operationen aller Meßkanäle zu starten.
In einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Er
findung weist der Spektrum-Analysator auf:
einen ersten Meßkanal zur Messung eines ersten Ein gangssignals, der aufweist:
einen ersten Hilfsoszillator zum Erzeugen eines ersten Hilfssignals;
einen ersten Frequenzmischer zum Mischen des ersten zu messenden Eingangssignals mit dem ersten Hilfssignal, um ein erstes ZF-(Zwischenfrequenz-)Signal zu erzeugen;
einen ersten ZF-Filter, um es dem ersten ZF-Signal aus dem ersten Frequenzmischer zu gestatten, dort hindurch zu gehen;
einen ersten Detektor zum Ermitteln eines ersten Si gnals, das das erste Eingangssignal aus dem ersten ZF-Filter repräsentiert;
einen ersten A/D-(Analog-Digital-)Wandler zum Umsetzen des ersten Signals aus dem ersten Detektor in ein erstes Di gitalsignal; und
einen ersten Sägezahngenerator zum Erzeugen eines er sten Sägezahnsignals, das an den ersten Hilfsoszillator und den ersten A/D-Wandler geliefert wird;
einen zweiten Meßkanal zur Messung eines zweiten Ein gangssignals, der aufweist:
einen zweiten Hilfsoszillator zum Erzeugen eines zwei ten Hilfssignals;
einen zweiten Frequenzmischer zum Mischen des zweiten zu messenden Eingangssignals mit dem zweiten Hilfssignal, um ein zweites ZF-(Zwischenfrequenz-)Signal zu erzeugen;
einen zweiten ZF-Filter, um es dem zweiten ZF-Signal aus dem zweiten Frequenzmischer zu gestatten, dort hindurch zu gehen;
einen zweiten Detektor zum Ermitteln eines zweiten Si gnals, das das zweite Eingangssignal aus dem zweiten ZF- Filter repräsentiert;
einen zweiten A/D-(Analog-Digital-)Wandler zum Umset zen des zweiten Signals aus dem zweiten Detektor in ein zweites Digitalsignal; und
einen zweiten Sägezahngenerator zum Erzeugen eines zweiten Sägezahnsignals, das an den zweiten Hilfsoszillator und den zweiten A/D-Wandler geliefert wird;
einen Demodulator zum Empfangen eines des ersten ZF- Signals aus dem ersten ZF-Filter oder des zweiten ZF-Signals aus dem zweiten ZF-Filter zum Demodulieren des ZF-Signals, um ein Triggersignal zu erzeugen, um eine Wobbeloperation eines des zweiten Sägezahngenerators oder des ersten Säge zahngenerators zu starten, um die ersten und zweiten Ein gangssignale durch die ersten und zweiten Meßkanäle synchron zu messen; und
Einrichtungen zum Verarbeiten der ersten und zweiten Digitalsignale, um Meßergebnisse der ersten und zweiten Ein gangssignale zu berechnen, und Anzeigen der Ergebnisse.
einen ersten Meßkanal zur Messung eines ersten Ein gangssignals, der aufweist:
einen ersten Hilfsoszillator zum Erzeugen eines ersten Hilfssignals;
einen ersten Frequenzmischer zum Mischen des ersten zu messenden Eingangssignals mit dem ersten Hilfssignal, um ein erstes ZF-(Zwischenfrequenz-)Signal zu erzeugen;
einen ersten ZF-Filter, um es dem ersten ZF-Signal aus dem ersten Frequenzmischer zu gestatten, dort hindurch zu gehen;
einen ersten Detektor zum Ermitteln eines ersten Si gnals, das das erste Eingangssignal aus dem ersten ZF-Filter repräsentiert;
einen ersten A/D-(Analog-Digital-)Wandler zum Umsetzen des ersten Signals aus dem ersten Detektor in ein erstes Di gitalsignal; und
einen ersten Sägezahngenerator zum Erzeugen eines er sten Sägezahnsignals, das an den ersten Hilfsoszillator und den ersten A/D-Wandler geliefert wird;
einen zweiten Meßkanal zur Messung eines zweiten Ein gangssignals, der aufweist:
einen zweiten Hilfsoszillator zum Erzeugen eines zwei ten Hilfssignals;
einen zweiten Frequenzmischer zum Mischen des zweiten zu messenden Eingangssignals mit dem zweiten Hilfssignal, um ein zweites ZF-(Zwischenfrequenz-)Signal zu erzeugen;
einen zweiten ZF-Filter, um es dem zweiten ZF-Signal aus dem zweiten Frequenzmischer zu gestatten, dort hindurch zu gehen;
einen zweiten Detektor zum Ermitteln eines zweiten Si gnals, das das zweite Eingangssignal aus dem zweiten ZF- Filter repräsentiert;
einen zweiten A/D-(Analog-Digital-)Wandler zum Umset zen des zweiten Signals aus dem zweiten Detektor in ein zweites Digitalsignal; und
einen zweiten Sägezahngenerator zum Erzeugen eines zweiten Sägezahnsignals, das an den zweiten Hilfsoszillator und den zweiten A/D-Wandler geliefert wird;
einen Demodulator zum Empfangen eines des ersten ZF- Signals aus dem ersten ZF-Filter oder des zweiten ZF-Signals aus dem zweiten ZF-Filter zum Demodulieren des ZF-Signals, um ein Triggersignal zu erzeugen, um eine Wobbeloperation eines des zweiten Sägezahngenerators oder des ersten Säge zahngenerators zu starten, um die ersten und zweiten Ein gangssignale durch die ersten und zweiten Meßkanäle synchron zu messen; und
Einrichtungen zum Verarbeiten der ersten und zweiten Digitalsignale, um Meßergebnisse der ersten und zweiten Ein gangssignale zu berechnen, und Anzeigen der Ergebnisse.
In einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Er
findung weist der Spektrum-Analysator vorzugsweise ferner
eine Auswahlvorrichtung auf, die zwischen den zweiten Detek
tor und den zweiten A/D-Wandler eingefügt ist, wobei die
Auswahlvorrichtung eines des ersten Signals aus dem ersten
Detektor oder des zweiten Signals aus dem zweiten Detektor
auswählt und dasselbe an den zweiten A/D-Wandler liefert.
Erfindungsgemäß kann der Spektrum-Analysator die Zeit
differenz zwischen mehreren Eingangssignalen, die unter
schiedliche Trägerfrequenzen aufweisen, oder die Zeitverzö
gerung zwischen mehreren Eingangssignalen, die dieselbe Trä
gerfrequenz aufweisen, in der Mehrwegeumgebung messen, da
mehrere Meßkanäle gemeinsam durch ein Triggersignal getrig
gert werden, das durch ein demoduliertes ZF-Signal eines der
Meßkanäle erzeugt wird, um ein synchronisiertes Wobbeln un
ter den Meßkanälen durchzuführen. Ferner kann der Spektrum-
Analysator Eingangssignale schnell messen, da mehrere unter
schiedliche Prüfpunkte für ein Eingangssignal parallel durch
Liefern des Signals vom Detektor an mehrere A/D-Wandler bei
einer Wobbeloperation durchgeführt werden können.
Fig. 1 ist ein schematisches Blockschaltbild, das
den Aufbau einer Ausführungsform des erfindungsgemäßen Spek
trum-Analysators zeigt.
Fig. 2 ist ein schematisches Blockschaltbild, das
den Aufbau einer weiteren Ausführungsform des erfindungsge
mäßen Spektrum-Analysators zeigt.
Fig. 3A ist ein Diagramm, das ein Beispiel von Wel
lenformen in einem PHS-Kommunikationssystem zeigt.
Fig. 3B ist ein Diagramm, das ein Beispiel von Zeit
bereichswellenformen im PHS-Kommunikationssystem zeigt.
Fig. 4 ist ein schematisches Diagramm, das eine Si
tuation zeigt, wo mehrfache Signalwege in einem Mobilkommu
nikationssystem erzeugt werden.
Fig. 5 ist ein Blockschaltbild, das den Aufbau eines
herkömmlichen Spektrum-Analysators zeigt.
Die erste Ausführungsform der vorliegenden Erfindung
wird unter Bezugnahme auf Fig. 1 erläutert.
Der Spektrum-Analysator der Fig. 1 weist zwei Meßkanä
le CH1 und CH2 auf. Wie im herkömmlichen Spektrum-Analysator
der Fig. 5 weist der erste Meßkanal CH1 einen Frequenz
mischer 11, einen Hilfsoszillator 21, einen ZF-
(Zwischenfrequenz-)Filter 31, einen Detektor 41, einen A/D-
(Analog-Digital-)Wandler 51 und einen Sägezahngenerator 61
auf. Der zweiten Meßkanal CH2 weist einen Frequenzmischer
12, einen Hilfsoszillator 22, einen ZF-(Zwischenfrequenz-)
Filter 32, einen Detektor 42, einen A/D-(Analog-Digital-)
Wandler 52 und einen Sägezahngenerator 62 auf. Eine Signal
verarbeitung und -Anzeige 81 erhält gemessene Signale sowohl
vom ersten als auch vom zweiten Meßkanal. Der Spektrum-
Analysator weist auch einen Demodulator 70 auf.
Jeder der Meßkanäle kann dieselben Funktionen ausfüh
ren, die im Spektrum-Analysator der Fig. 5 gefunden werden.
Folglich ist die folgende Beschreibung auf die Arbeitweise
des Spektrum-Analysators beschränkt, bei der die beiden Meß
kanäle miteinander zusammenarbeiten. Bei der vorliegenden
Erfindung ist der Spektrum-Analysator fähig, den einen Meß
kanal in Gleichlauf mit einem Signal im anderen Meßkanal zu
betreiben.
Der Demodulator 70 hat die Funktion, das empfangene
Signal zu demodulieren, d. h. ein Signal aus einem Trägersi
gnal auszukoppeln, dessen Funktion ähnlich zu einem Signal
detektor ist. Der Demodulator 70 demoduliert ein ZF-Signal
100, das eine Ausgangsgröße des ZF-Filters 31 im ersten Meß
kanal CH1 ist, um ein Triggersignal 200 zu erzeugen. Das
Triggersignal 200 synchronisiert den Betrieb der Sägezahnge
neratoren 61 und 62.
Die Arbeitsweise der vorliegenden Erfindung beim Mes
sen der Zeitverzögerung t1 in Fig. 3A ist wie folgt. Die
Zeitverzögerung t1 ist eine Zeitdifferenz zwischen der Über
tragungskanal-Information A einer Trägerfrequenz f2 und dem
Referenzsteuerkanal einer Trägerfrequenz f1. Der Eingangsan
schluß des ersten Meßkanals CH1 empfängt das Referenzsteuer
kanalsignal. Die Hilfsfrequenz im ersten Kanal CH1 wird so
abgeglichen und auf die Nullspanne eingestellt, daß das ZF-
Signal immer auf der Mittenfrequenz des ZF-Filters 31 er
zeugt wird. Der Eingangsanschluß des zweiten Meßkanals CH2
empfängt das Übertragungskanalsignal. Die Hilfsfrequenz im
zweiten Kanal CH2 wird so abgeglichen und auf die Nullspanne
eingestellt, daß das ZF-Signal immer auf der Mittenfrequenz
des ZF-Filters 32 erzeugt wird.
Daher werden das Referenzsteuerkanalsignal und die In
formationen A, B und C im Übertragungskanal jeweils durch
Hüllwellenformen der Fig. 3B ausgedrückt. Folglich kann
durch Untersuchen der ermittelten Signale in den Meßkanälen
CH1 und CH2 durch gleichzeitiges Wobbeln der A/D-Wandler 51
und 52 und der horizontalen Achse der Signalverarbeitung und
-Anzeige 81 der Spektrum-Analysator die Zeitverzögerung t1
im Zeitbereich messen.
Die Arbeitsweise der vorliegenden Erfindung beim Mes
sen der Zeitverzögerung t1 zwischen den mehreren Signalen
derselben Frequenz, die in Fig. 4 gezeigt werden, ist wie
folgt. Eine Referenzantenne und eine Meßantenne werden je
weils an der Position des mobilen Funk-Sende-
/Empfangsgerätes 92 vorbereitet. Die Referenzantenne ist mit
dem Eingangsanschluß des ersten Meßkanals CH1 verbunden, und
die Meßantenne ist mit dem Eingangsanschluß des zweiten Meß
kanals CH2 verbunden.
Die jeweiligen Hilfsfrequenzen werden abgeglichen und
festgelegt, um die Eingangssignale in der Nullspannen-
Betriebsart zu empfangen. Durch Triggern der Wobbeloperatio
nen in den A/D-Wandlern beider Kanäle und der horizontalen
Achse der Signalverarbeitung und -Anzeige 81, wird die Zeit
verzögerung zwischen dem direkten Weg 400 und dem reflek
tierten Weg 500 im Zeitbereich angezeigt.
In der obigen Erläuterung ermöglicht der erfindungsge
mäße Spektrum-Analysator das synchronisierte Wobbeln zwi
schen den beiden Meßkanälen beruhend auf dem Signal in einem
der Kanäle. Jedoch ist der erfindungsgemäße Spektrum-
Analysator nicht auf zwei Kanäle beschränkt, sondern kann
aus drei oder mehr Meßkanälen gebildet werden.
Fig. 2 zeigt die zweite Ausführungsform der vorliegen
den Erfindung. In diesem Beispiel ist eine Auswahlvorrich
tung 75 vor dem A/D-Wandler 52 im zweiten Meßkanal CH2 vor
gesehen. Folglich liefert die Auswahlvorrichtung 75 selektiv
entweder ein ermitteltes Signal 300 aus dem Detektor 41 oder
ein ermitteltes Signal 600 aus dem Detektor 42 an den A/D-
Wandler 52.
Durch Auswählen des ermittelten Signals 300 durch die
Auswahlvorrichtung 75 empfangen beide der A/D-Wandler 51 und
52 das ermittelte Signal 300 vom Detektor 41 zur selben Zeit
in einer parallelen Form. Daher kann das Eingangssignal zum
Spektrum-Analysator durch zwei unterschiedliche Prüfpunkte
zur selben Zeit in einer Wobbeloperation analysiert werden.
Folglich wird bei der Anwendung dieser Erfindung die Prüf
zeit reduziert, da der Spektrum-Analysator in der herkömmli
chen Technologie es erfordert, daß zweimal gewobbelt wird,
wenn zwei unterschiedliche Prüfpunkte durchgeführt werden
sollen. Daher kann ein hoher Prüfdurchsatz erzielt werden,
der zweimal schneller als das herkömmliche Beispiel ist. In
dieser Ausführungsform ist es nicht notwendig, sich auf die
beiden Meßkanäle zu beschränken, sondern es sind auch drei
oder mehr Meßkanäle möglich. In einer solchen Situation wird
sich der Meßdurchsatz entsprechend weiter erhöhen.
Jede der vorstehenden Ausführungsformen weist zur Ein
fachheit der Erläuterung nur eine einzige Stufe des Fre
quenzmischers und des ZF-Filters auf. Jedoch ist die vorlie
genden Erfindung in dem Spektrum-Analysator mit mehreren
Stufen von Frequenzmischern und ZF-Filtern ausführbar.
Obwohl die vorhergehende Erläuterung für die Beispiele
einer synchronisierten Wobbelfunktion gemacht wird, kann je
der Meßkanal in einer asynchronen Art funktionieren, indem
ein Demodulator separat an jedem Meßkanal vorhanden ist. Die
Funktion ist in diesem Fall ähnlich zu der Situation, in der
mehrere separate Spektrum-Analysatoren verwendet werden. Ein
relativer Vergleich von Meßdaten ist effektiv, da die Daten
verarbeitung unter denselben Verhältnissen unter den mehre
ren Meßkanälen durchgeführt wird.
Die vorliegende Erfindung erzielt infolge der oben be
schriebenen Anordnung die folgenden Wirkungen.
Der Spektrum-Analysator kann die Zeitdifferenz zwi
schen mehreren Eingangssignalen, die unterschiedliche Trä
gerfrequenzen aufweisen, oder die Zeitverzögerung zwischen
mehreren Eingangssignalen messen, die dieselbe Trägerfre
quenz in der Mehrwegeumgebung aufweisen, da die mehreren
Meßkanäle gemeinsam durch ein Triggersignal getriggert wer
den, das durch ein demoduliertes ZF-Signal einer der Meßka
näle erzeugt wird, um ein synchronisiertes Wobbeln unter den
Meßkanälen durchzuführen. In einem anderen Aspekt der vor
liegenden Erfindung kann der Spektrum-Analysator Eingangs
signale schnell messen, da mehrere unterschiedliche Prüf
punkte für ein gemeinsames Eingangssignal in einer paralle
len Art durchgeführt werden können, indem das ermittelte Si
gnal vom Detektor an mehrere A/D-Wandler in einer Wobbelope
ration geliefert werden.
Claims (5)
1. Spektrum-Analysator, der aufweist:
mindestens zwei Meßkanäle (CH1, CH2), wobei jeder der
Meßkanäle einen Frequenzmischer (11, 12), einen Hilfsoszil
lator (21, 22) und einen ZF-(Zwischenfrequenz-) Filter (31,
32) zum Mischen eines zu messenden Eingangssignals mit einem
Hilfssignal des Hilfsoszillators (21, 22) aufweist, um ein
ZF-Signal (100) zu erzeugen, das durch den ZF-Filter (31,
32) geht; und
einen in einem der Meßkanäle (CH1, CH2) vorgesehenen Demodu lator (70) zum Demodulieren des ZF-Signals (100), das aus dem Eingangssignal erzeugt wird, zum Erzeugen eines Trigger signals (200), um gleichzeitig Operationen aller Meßkanäle zu starten.
einen in einem der Meßkanäle (CH1, CH2) vorgesehenen Demodu lator (70) zum Demodulieren des ZF-Signals (100), das aus dem Eingangssignal erzeugt wird, zum Erzeugen eines Trigger signals (200), um gleichzeitig Operationen aller Meßkanäle zu starten.
2. Spektrum-Analysator nach Anspruch 1, wobei jeder
der Meßkanäle (CH1, CH2) ferner aufweist:
einen Detektor (41, 42) zum Ermitteln eines Signals, das das Eingangssignal aus dem ZF-Filter (31, 32) repräsentiert;
einen A/D-(Analog-Digital-)Wandler (51, 52) zum Umsetzen des ermittelten Signals vom Detektor (41, 42) in ein Digitalsi gnal; und
einen Sägezahngenerator (61, 62) zum Erzeugen eines an den Hilfsoszillator (21, 22) und den A/D-Wandler (51, 52) zu liefernden Sägezahnsignals.
einen Detektor (41, 42) zum Ermitteln eines Signals, das das Eingangssignal aus dem ZF-Filter (31, 32) repräsentiert;
einen A/D-(Analog-Digital-)Wandler (51, 52) zum Umsetzen des ermittelten Signals vom Detektor (41, 42) in ein Digitalsi gnal; und
einen Sägezahngenerator (61, 62) zum Erzeugen eines an den Hilfsoszillator (21, 22) und den A/D-Wandler (51, 52) zu liefernden Sägezahnsignals.
3. Spektrum-Analysator nach Anspruch 1 oder 2, wobei
jeder der Meßkanäle (CH1, CH2) ferner aufweist:
Prozessor- und Anzeige-Einrichtungen (81) zum Verarbeiten
der Digitalsignale aus den beiden Meßkanälen (CH1, CH2), um
Meßergebnisse der Eingangssignale zu berechnen, und Anzeigen
der gemessenen Ergebnisse.
4. Spektrum-Analysator, der aufweist:
einen ersten Meßkanal (CH1) zur Messung eines ersten Eingangssignals, der aufweist:
einen ersten Hilfsoszillator (21) zum Erzeugen eines ersten Hilfssignals;
einen ersten Frequenzmischer (11) zum Mischen des ersten zu messenden Eingangssignals mit dem ersten Hilfssignal, um ein erstes ZF-(Zwischenfrequenz-)Signal (100) zu erzeugen;
einen ersten ZF-Filter (11), der das erste ZF-Signal (100) aus dem ersten Frequenzmischer (11) durchläßt;
einen ersten Detektor (41) zum Ermitteln eines ersten Signals (300), das das erste Eingangssignal aus dem ersten ZF-Filter (31) repräsentiert;
einen ersten A/D-(Analog-Digital-)Wandler (51) zum Um wandeln des ersten Signals aus dem ersten Detektor (41) in ein erstes Digitalsignal; und
einen ersten Sägezahngenerator (61) zum Erzeugen eines ersten Sägezahnsignals, das an den ersten Hilfsoszillator (21) und den ersten A/D-Wandler geliefert wird;
einen zweiten Meßkanal (CH2) zur Messung eines zweiten Eingangssignals, der aufweist:
einen zweiten Hilfsoszillator (22) zum Erzeugen eines zweiten Hilfssignals;
einen zweiten Frequenzmischer (12) zum Mischen des zweiten zu messenden Eingangssignals mit dem zweiten Hilfssignal, um ein zweites ZF-(Zwischenfrequenz-)Signal zu erzeugen;
einen zweiten ZF-Filter (32), der das zweite ZF-Signal aus dem zweiten Frequenzmischer (12) durchläßt;
einen zweiten Detektor (42) zum Ermitteln eines zwei ten Signals (600), das das zweite Eingangssignal aus dem zweiten ZF-Filter (32) repräsentiert;
einen zweiten A/D-(Analog-Digital-)Wandler (52) zum Umwandeln des zweiten Signals (600) aus dem zweiten Detektor (42) in ein zweites Digitalsignal; und
einen zweiten Sägezahngenerator (62) zum Erzeugen ei nes zweiten Sägezahnsignals, das an den zweiten Hilfsoszil lator (22) und den zweiten A/D-Wandler (52) geliefert wird;
einen Demodulator (70) zum Empfangen des ersten ZF- Signals (100) aus dem ersten ZF-Filter (31) oder des zweiten ZF-Signals aus dem zweiten ZF-Filter (32) zum Demodulieren des ZF-Signals, um ein Triggersignal (200) zu erzeugen, das eine Wobbeloperation des zweiten Sägezahngenerators (62) oder des ersten Sägezahngenerators (61) startet, um die er sten und zweiten Eingangssignale durch die ersten und zwei ten Meßkanäle (CH1, CH2) synchron zu messen; und
Prozessor- und Anzeige-Einrichtungen (81) zum Verarbeiten der ersten und zweiten Digitalsignale, um Meßergebnisse der ersten und zweiten Eingangssignale zu berechnen und die Ergebnisse an zuzeigen.
einen ersten Meßkanal (CH1) zur Messung eines ersten Eingangssignals, der aufweist:
einen ersten Hilfsoszillator (21) zum Erzeugen eines ersten Hilfssignals;
einen ersten Frequenzmischer (11) zum Mischen des ersten zu messenden Eingangssignals mit dem ersten Hilfssignal, um ein erstes ZF-(Zwischenfrequenz-)Signal (100) zu erzeugen;
einen ersten ZF-Filter (11), der das erste ZF-Signal (100) aus dem ersten Frequenzmischer (11) durchläßt;
einen ersten Detektor (41) zum Ermitteln eines ersten Signals (300), das das erste Eingangssignal aus dem ersten ZF-Filter (31) repräsentiert;
einen ersten A/D-(Analog-Digital-)Wandler (51) zum Um wandeln des ersten Signals aus dem ersten Detektor (41) in ein erstes Digitalsignal; und
einen ersten Sägezahngenerator (61) zum Erzeugen eines ersten Sägezahnsignals, das an den ersten Hilfsoszillator (21) und den ersten A/D-Wandler geliefert wird;
einen zweiten Meßkanal (CH2) zur Messung eines zweiten Eingangssignals, der aufweist:
einen zweiten Hilfsoszillator (22) zum Erzeugen eines zweiten Hilfssignals;
einen zweiten Frequenzmischer (12) zum Mischen des zweiten zu messenden Eingangssignals mit dem zweiten Hilfssignal, um ein zweites ZF-(Zwischenfrequenz-)Signal zu erzeugen;
einen zweiten ZF-Filter (32), der das zweite ZF-Signal aus dem zweiten Frequenzmischer (12) durchläßt;
einen zweiten Detektor (42) zum Ermitteln eines zwei ten Signals (600), das das zweite Eingangssignal aus dem zweiten ZF-Filter (32) repräsentiert;
einen zweiten A/D-(Analog-Digital-)Wandler (52) zum Umwandeln des zweiten Signals (600) aus dem zweiten Detektor (42) in ein zweites Digitalsignal; und
einen zweiten Sägezahngenerator (62) zum Erzeugen ei nes zweiten Sägezahnsignals, das an den zweiten Hilfsoszil lator (22) und den zweiten A/D-Wandler (52) geliefert wird;
einen Demodulator (70) zum Empfangen des ersten ZF- Signals (100) aus dem ersten ZF-Filter (31) oder des zweiten ZF-Signals aus dem zweiten ZF-Filter (32) zum Demodulieren des ZF-Signals, um ein Triggersignal (200) zu erzeugen, das eine Wobbeloperation des zweiten Sägezahngenerators (62) oder des ersten Sägezahngenerators (61) startet, um die er sten und zweiten Eingangssignale durch die ersten und zwei ten Meßkanäle (CH1, CH2) synchron zu messen; und
Prozessor- und Anzeige-Einrichtungen (81) zum Verarbeiten der ersten und zweiten Digitalsignale, um Meßergebnisse der ersten und zweiten Eingangssignale zu berechnen und die Ergebnisse an zuzeigen.
5. Spektrum-Analysator nach Anspruch 4, der ferner
eine Auswahlvorrichtung (75) aufweist, die zwischen dem
zweiten Detektor (42) und dem zweiten A/D-Wandler (52) ein
gefügt ist, wobei die Auswahlvorrichtung (75) das erste Si
gnal (300) aus dem ersten Detektor (41) oder das zweite Si
gnal (600) aus dem zweiten Detektor (42) auswählt und das
selbe an den zweiten A/D-Wandler (52) liefert.
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AU2003213785A1 (en) * | 2002-03-06 | 2003-09-22 | Paradigm Wireless Systems, Inc. | Rf amplifier system with interface to provide a computer readable spectral depiction of the re output |
US7285948B2 (en) * | 2002-12-17 | 2007-10-23 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus providing single cable bi-directional triggering between instruments |
US20060271318A1 (en) * | 2005-05-27 | 2006-11-30 | Mar Wing J | Dual spectrum analyzer measurement system |
US7327303B1 (en) * | 2007-03-27 | 2008-02-05 | Information Systems Laboratories, Inc. | Hybrid radar receiver |
JP2009186323A (ja) * | 2008-02-06 | 2009-08-20 | Advantest Corp | 周波数特性測定装置 |
WO2010035646A1 (ja) * | 2008-09-26 | 2010-04-01 | 株式会社アドバンテスト | 周波数特性測定装置 |
US9157943B2 (en) * | 2010-08-13 | 2015-10-13 | Tektronix, Inc. | Multi-channel frequency domain test and measurement instrument |
CN102095930B (zh) * | 2010-12-22 | 2013-03-06 | 中国电子科技集团公司第十二研究所 | 无预选器频谱仪外混频方式下的外部自动信号识别方法 |
JP5249390B2 (ja) | 2011-06-23 | 2013-07-31 | 株式会社アドバンテスト | 信号測定装置、信号測定方法、プログラム、記録媒体 |
US20130265034A1 (en) * | 2012-04-04 | 2013-10-10 | Motorola Solutions, Inc. | Method and apparatus of dynamic fast spectral survey |
DE102013202900B4 (de) | 2013-01-07 | 2020-12-03 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. Kommanditgesellschaft | Messgerät und Verfahren zur iterativen Detektion mehrerer Signale |
PT107293B (pt) * | 2013-11-14 | 2015-11-27 | Luís Carlos Carneiro Gonçalves | Método para determinar o atraso entre as medições em dois ou mais analisadores de espectro ou medidores de potência |
CN105044461B (zh) * | 2015-06-18 | 2018-03-09 | 魏腾飞 | 一种宽带射频频谱分析结构 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19530812A1 (de) * | 1995-08-22 | 1996-01-18 | Oliver Bartels | Funkmeßempfänger mit neuartiger Spiegelfrequenzelemination |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2915897A (en) * | 1956-05-07 | 1959-12-08 | Probescope Co | Automatic tracking spectrum analyzer |
US3110861A (en) * | 1956-11-09 | 1963-11-12 | Hurvitz Hyman | Variable scan rate spectrum analyzer |
US5493209A (en) * | 1993-10-20 | 1996-02-20 | Tektronix, Inc. | Tunable trigger acquisition system and method for making in-service time-domain signal measurements |
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19530812A1 (de) * | 1995-08-22 | 1996-01-18 | Oliver Bartels | Funkmeßempfänger mit neuartiger Spiegelfrequenzelemination |
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