DE19721217C1 - Vorrichtung zur Kalibrierung mehrerer Kreiselsysteme - Google Patents

Vorrichtung zur Kalibrierung mehrerer Kreiselsysteme

Info

Publication number
DE19721217C1
DE19721217C1 DE19721217A DE19721217A DE19721217C1 DE 19721217 C1 DE19721217 C1 DE 19721217C1 DE 19721217 A DE19721217 A DE 19721217A DE 19721217 A DE19721217 A DE 19721217A DE 19721217 C1 DE19721217 C1 DE 19721217C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
axis
rotation
bogie
gyro
gyro systems
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE19721217A
Other languages
English (en)
Inventor
Reinhard Dr Mueller
Gert Dr Trommer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MBDA Deutschland GmbH
Original Assignee
Daimler Benz Aerospace AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Daimler Benz Aerospace AG filed Critical Daimler Benz Aerospace AG
Priority to DE19721217A priority Critical patent/DE19721217C1/de
Priority to FR9802292A priority patent/FR2763677B1/fr
Priority to GB9809570A priority patent/GB2325522B/en
Priority to US09/081,764 priority patent/US6209383B1/en
Application granted granted Critical
Publication of DE19721217C1 publication Critical patent/DE19721217C1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C25/00Manufacturing, calibrating, cleaning, or repairing instruments or devices referred to in the other groups of this subclass
    • G01C25/005Manufacturing, calibrating, cleaning, or repairing instruments or devices referred to in the other groups of this subclass initial alignment, calibration or starting-up of inertial devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/58Turn-sensitive devices without moving masses
    • G01C19/64Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams
    • G01C19/72Gyrometers using the Sagnac effect, i.e. rotation-induced shifts between counter-rotating electromagnetic beams with counter-rotating light beams in a passive ring, e.g. fibre laser gyrometers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur gleichzeitigen Kalibrierung mehrerer mehrachsiger Kreiselsysteme, insbesondere faseroptische Kreiselsysteme, in sämtlichen Meßachsen mit einem Einachsdrehtisch.
Kreisel als Drehratensensoren, wie sie z. B. aus Applied Optics, Vol. 29, Nr. 36, 20. 12. 90, Seiten 5360 bis 5365 in der Form von faseroptischen Kreiseln bekannt sind, weisen komplizierte temperaturabhängige Ausgangssignale der Meßwertaufnehmer auf, aus denen über eine dem speziellen Kreiseltyp entsprechende Auswerteformel die gemessene Drehrate berechnet wird. Eine Berechnungsformel ist beispielsweise unter Gleichung 26 in der o.g. Literaturstelle angegeben und gibt den Zusammenhang zwischen den Signalen P1, P2 und P3 der hier als Meßwertaufnehmer dienenden Fotodioden zu der gemessenen Drehrate Ω wieder, wobei hierbei zur Berücksichtigung der individuellen Eigenschaften des Kreisels spezielle Koeffizienten f1 bis f6 auftreten, die vorher durch Kalibrierung des Kreisels auf einem Drehtisch ermittelt werden müssen. Hierzu wird der Kreisel bei mehreren bekannten Drehraten in Rotation versetzt, die Meßsignale der Fotodioden gemessen und aus ihnen die Koeffizienten berechnet. Diese werden dann dem Speicher des Kreisels einprogrammiert und dienen ab jetzt als Basis für die Berechnung inertialer Drehraten durch den Kreiselrechner. Da die Koeffizienten f1 bis f6 temperaturabhängig sind, müssen zur Kompensation temperaturabhängiger Fehler die Rotationen auf dem Drehtisch bei verschiedenen Temperaturen durchgeführt werden. Um also einen Kreisel im Temperaturbereich zwischen -53°C und +85°C temperaturkompensiert betreiben zu können, muß die Bestimmung der Koeffizienten mittels mehrerer bekannter Drehraten auf einem Drehtisch mit integrierter Temperaturkammer bei diskreten Temperaturstützstellen im gesamten Temperaturbereich erfolgen. Das Durchlaufen des gesamten Temperaturbereichs und die Bestimmung der Koeffizienten an diskreten Temperaturstützstellen erfordert einen beträchtlichen Zeitaufwand, typischerweise 12 Stunden.
Im Falle eines dreiachsigen Kreiselsystems ist es erforderlich, alle drei orthogonalen Achsen einzeln zu kalibrieren. Dies kann nach dem Stand der Technik auf zwei verschiedene Weisen erfolgen:
  • 1. Die Bestimmung der Koeffizienten bei verschiedenen Temperaturstützstellen wird nacheinander zuerst für die X-Achse, dann für die Y-Achse und dann für die Z-Achse vorgenommen. Die Rotation um die drei verschiedenen Achsen erfolgt durch Umspannen des Kreiselsystems auf dem Drehtisch auf die entsprechenden Achsen am Ende des jeweiligen Temperaturzyklus. Die Gesamtzeit der Kalibrierung ist dann dreimal so lang wie die eines Einachskreisels, wobei die jeweiligen Umspannzeiten hinzukommen.
  • 2. Die Bestimmung der Koeffizienten kann für die verschiedenen Achsen auch sukzessive bei der gleichen Stützstellentemperatur vorgenommen werden, in dem ein Mehrachsendrehtisch verwendet wird, welcher eine wahlweise Rotation um jede der Achsen erlaubt. Es wird also bei einer bestimmten Temperatur z. B. erst um die X-Achse, dann um die Y-Achse und dann um die Z-Achse rotiert, dabei für die jeweilige Temperatur die Koeffizienten für die drei Achsen errechnet und anschließend eine neue Stützstellentemperatur angefahren, und der gleiche Vorgang wiederholt. Der Zeitaufwand dieser Methode ist ähnlich wie bei der ersten, wobei jedoch zusätzlich ein kostenintensiver Mehrachsdrehtisch innerhalb der Temperaturkammer benötigt wird.
Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung zur Kalibrierung mehrachsiger Kreiselsysteme zu schaffen, mit welcher auch mehrere Kreiselsysteme gleichzeitig in kürzerer Zeit als bisher kalibriert werden können. Die Lösung dieser Aufgabe gelingt durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung kommt auf einem Einachsdrehtisch mit integrierter Temperaturkammer zur Anwendung, wobei die Bestimmung der o.g. Koeffizienten für alle Meßachsen simultan erfolgt. Hierzu ist jedes Kreiselsystem auf einem Drehgestell so angeordnet, daß gleiche Meßachsen der Kreiselsysteme, also sämtliche X-Achsen bzw. sämtliche Y-Achsen bzw. sämtliche Z-Achsen eine gleiche Komponente der Drehung des Drehgestelles erfahren und keine der Komponenten Null ist. Dies wird z. B. dadurch erreicht, daß die Flächen- oder Raumdiagonalen der Meßachsen sämtlicher Kreiselsysteme innerhalb des Drehgestelles einen gleichen Winkel, einschließlich des Winkels Null, zur Drehachse des Drehgestelles einnehmen. Auf diese Weise werden für jede Temperaturstützstelle alle drei Meßachsen sämtlicher Kreiselsysteme simultan rotiert und die simultanen Meßsignale der einzelnen Fotodioden aller Meßachsen zur Berechnung der Koeffizienten ermittelt. Anschließend wird die nächste Temperaturstützstelle angefahren und das Verfahren wiederholt. Diese Prozedur dauert nicht länger als die eines einachsigen Kreisels unter Verwendung eines Einachsdrehtisches.
Das Drehgestell ist vorteilhafterweise so aufgebaut, daß sämtliche darin plazierten Kreiselsysteme n-strahlig-symmetrisch um dessen Drehachse verteilt angeordnet sind. Die Kreiselsysteme können zusätzlich innerhalb des Drehgestelles in mehreren Ebenen senkrecht zu dessen Drehachse angeordnet sein.
Die Erfindung wird im folgenden anhand eines in den Figuren teilweise schematisch dargestellten Ausführungsbeispieles näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 einen Querschnitt durch einen Einachsdrehtisch mit Drehgestell für faseroptische Kreiselsysteme und
Fig. 2 eine Aufsicht auf das Drehgestell und die Kreiselsysteme gemäß Fig. 1.
Fig. 1 zeigt einen an sich bekannten Einachsdrehtisch 1 mit aufgesetzter Temperaturkammer 2, in welcher ein Drehteller 3 mit definierten einstellbaren Drehraten rotiert; hierzu ist der Drehteller 3 mit einem regelbaren Antriebsmotor M über eine Welle 4, welche durch den Boden der Temperaturkammer 2 hindurchführt, verbunden. Auf dem Drehteller 3 ist im dargestellten Fall ein zweistöckiges Drehgestell befestigt, wobei jedes "Stockwerk" eine Basisplatte 6 bzw. 7, einen zylindrischen Stützring 8 bzw. 9 und gleichmäßig über den Umfang verteilte Aufnahmeflächen 10.1 bis 10.n bzw. 11.1 bis 11.n aufweist. Auf diesen Aufnahmeflächen sind im dargestellten Fall dreiachsige faseroptische Kreiselsysteme zum Zwecke einer gleichzeitigen Kalibrierung bei mehreren definierten Temperaturpunkten befestigt. Die erfindungsgemäße Eichvorrichtung kann unabhängig vom physikalischen Meßprinzip des zu kalibrierenden Kreiselsystems (z. B. faseroptisch, mechanisch, schwingende Struktur) verwendet werden. Die vom Meßsystem zu messende Drehbewegung, d. h. die Sollvorgabe für die Kalibrierung sind durch die Geometrie der Anordnung eindeutig vorgegeben. Die Kreiselsysteme besitzen im dargestellten Falle eine zylindrische Form, wobei die Zylinderachse gleichzeitig eine der Meßachsen, im gezeigten Fall die X-Achse darstellt.
Die Orientierung der Aufnähmeflächen 10.1 bis 10.n.n bzw. 11.1 bis 11.n und damit die Orientierung der X-Achsen aller Kreiselsysteme in Bezug auf die Drehachse 4.1 ist so gewählt, daß der durch diese Achsen eingeschlossene Winkel ϕ der Bedingung cosϕ = 1/√3 genügt; d. h. ϕ ist ungefähr gleich 54,74°. Die Orientierung der übrigen Meßachsen, hier also die Y-und Z-Achse wird besser aus Fig. 2 ersichtlich und ist zum einen so gewählt, daß beide Achsen eines Kreiselsystems jeweils parallel zur Ebene einer Aufnahmefläche und weiterhin spiegelsymmetrisch zu der durch die Drehachse 4.1 und die jeweilige X-Achse aufgespannte Ebene verlaufen. Bei der so gewählten Orientierung verläuft die Raumdiagonale der drei Meßachsen parallel zur Drehachse 4.1; damit erhalten sämtliche Meßachsen eines Kreiselsystems bei einer Drehung des Drehgestelles 5 eine gleiche Komponente dieser Drehung. Da dies für sämtliche Kreiselsysteme auf dem Drehgestell gilt, erfahren somit alle X-Achsen bzw. alle Y-Achsen bzw. alle Z-Achsen eine gleiche Komponente der Drehung, da ihre jeweiligen Komponenten in Richtung der Drehachsen 4.1 gleich sind.
Bei der Orientierung der Kreiselsysteme auf dem Drehgestell ist es nicht zwingend erforderlich, daß die einzelnen Meßachsen eines einzigen Kreiselsystems untereinander eine gleichgroße Komponente in Bezug auf die Drehachse 4.1 besitzen; es muß lediglich sichergestellt sein, daß gleiche Meßachsen sämtlicher Kreiselsysteme, also z. B. sämtliche X-Achsen, die gleiche Komponente in Bezug auf die Drehachse 4.1 aufweisen.
Aufgrund des konzentrischen, mehrstöckigen Aufbaus des Drehgestells 5 kann das Volumen der Thermokammer 2 optimal für eine große Anzahl von gleichzeitig zu kalibrierenden Kreiselsystemen ausgenutzt werden.
Falls eine oder mehrere der Meßachsen eines Kreiselsystems einen Fehler in der Achsenausrichtung aufweist, dann ist die Projektion der Rotation des Drehgestelles auf die jeweilige Meßachse bei der oben beschriebenen Diagonalaufspannung während der Kalibration größenordnungsmäßig mit dem gleichen Fehler behaftet. Die Folge ist ein Fehler in den Koeffizienten für den sog. Skalenfaktor (hier f6), der zu einem Skalenfaktorfehler der gleichen Größenordnung führt. Dieser Fehler ist jedoch nicht temperaturabhängig, da hier der Fehler aus der Genauigkeit der mechanischen Ausrichtung der Meßachsen herrührt, welcher in erster Näherung nicht von der Temperatur abhängt. Dieser Fehler läßt sich auf einfache Weise bestimmen, in dem das Kreiselsystem im Anschluß an die temperaturabhängige Diagonaikalibrierung bei konstanter Temperatur zuerst um die X-Achse, dann um die Y-Achse und schließlich um die Z-Achse gedreht wird und bei einer bekannten, durch den Drehtisch vorgegebenen Drehrate durch Vergleich von Kreiselsignal und Drehtischdrehrate die Diskrepanz in der Meßdrehrate bestimmt wird. Daraus läßt sich schließlich der Restfehler im Skalenfaktor ermitteln, so daß dieser als Korrekturgröße den Kreiselkoeffizienten zugeschlagen wird (hier also die Korrektur von f6(T) mit dem Faktor der Diskrepanz, gebildet aus dem Verhältnis von gemessener Drehrate zur Drehtischdrehrate). Da die Umspannung bei einer beliebigen Temperatur, also z. B. bei Zimmertemperatur erfolgen kann, und das Anfahren der Drehraten mit dem Drehtisch relativ schnell erfolgt, bedeutet diese Korrektur keine signifikante Erhöhung der Kalibrierzeit. Für den Fall einer solchen Korrektur des Skalenfaktors ist es vorteilhaft, wenn die oberste Ebene des Drehgestelles 5 eine Abschlußplatte 14 mit zentraler Aufnahme für ein einziges Kreiselsystem 15 (in der Fig. 1 jeweils gestrichelt dargestellt) aufweist.

Claims (6)

1. Vorrichtung zur gleichzeitigen Kalibrierung mehrerer mehrachsiger Kreiselsysteme, insbesondere faseroptische Kreiselsysteme in sämtlichen Meßachsen mit einem Einachsdrehtisch, gekennzeichnet durch ein mit der Drehachse (4.1) des Einachsdrehtisches (1) verbundenes Drehgestell (5), auf welchem die Kreiselsysteme (12.1 bis 12.n; 13.1 bis 13.n) derart angeordnet sind, daß gleiche Meßachsen (X, Y, Z) der Kreiselsysteme (12.1 bis 12.n; 13.1 bis 13.n) eine gleiche Komponente der Drehung des Drehgestelles (5) erfahren und keine der Komponenten Null ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Flächen- oder Raumdiagonalen der Meßachsen (X, Y, Z) sämtlicher Kreiselsysteme (12.1 bis 12.n; 13.1 bis 13.n) innerhalb des Drehgestelles (5) einen gleichen Winkel, einschließlich des Winkels Null, zur Drehachse 4.1 des Drehgestells (5) einnehmen.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Kreiselsysteme (12.1 bis 12.n; 13.1 bis 13.n) innerhalb des Drehgestelles (5) derart angeordnet sind, daß keine ihrer Meßachsen (X, Y, Z) senkrecht zur Drehachse (4.1) des Drehgestelles (5) gerichtet ist und die Komponenten in Richtung der Drehachse (4.1) für alle Meßachsen oder zumindest für gleiche Meßachsen (Y oder Z) gleich sind.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Kreiselsysteme (12.1 bis 12.n; 13.1 bis 13.n) innerhalb des Drehgestelles (5) n-strählig-symmetrisch um dessen Drehachse (4.1) verteilt angeordnet sind.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Kreiselsysteme (12.1 bzw. 12.n; 13.1 bzw. 13.n) innerhalb des Drehgestelles (5) in mehreren Ebenen senkrecht zu dessen Drehachse (4.1) angeordnet sind.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Drehgestell (5) eine in der Drehachse (4.1) angeordnete Befestigungseinrichtung (14) zur Drehung eines einzelnen Kreiselsystems (15) um eine seiner Meßachsen aufweist.
DE19721217A 1997-05-21 1997-05-21 Vorrichtung zur Kalibrierung mehrerer Kreiselsysteme Expired - Fee Related DE19721217C1 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19721217A DE19721217C1 (de) 1997-05-21 1997-05-21 Vorrichtung zur Kalibrierung mehrerer Kreiselsysteme
FR9802292A FR2763677B1 (fr) 1997-05-21 1998-02-25 Dispositif d'etalonnage de plusieurs systemes gyroscopiques
GB9809570A GB2325522B (en) 1997-05-21 1998-05-05 Device for the calibration of several gyroscope systems
US09/081,764 US6209383B1 (en) 1997-05-21 1998-05-21 Arrangement for calibrating several gyro systems

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19721217A DE19721217C1 (de) 1997-05-21 1997-05-21 Vorrichtung zur Kalibrierung mehrerer Kreiselsysteme

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE19721217C1 true DE19721217C1 (de) 1998-08-27

Family

ID=7830063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19721217A Expired - Fee Related DE19721217C1 (de) 1997-05-21 1997-05-21 Vorrichtung zur Kalibrierung mehrerer Kreiselsysteme

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6209383B1 (de)
DE (1) DE19721217C1 (de)
FR (1) FR2763677B1 (de)
GB (1) GB2325522B (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000037891A1 (de) * 1998-12-18 2000-06-29 Autoflug Gmbh & Co. Verfahren zum verbessern der messwerte eines inertialen messsystems
CN102141411A (zh) * 2010-12-29 2011-08-03 上海亨通光电科技有限公司 光纤陀螺数据异步采集方法
CN112729270A (zh) * 2020-12-11 2021-04-30 浙江大学 一种基于光纤陀螺的转台校准装置及校准方法

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6758080B1 (en) * 1999-03-17 2004-07-06 Input/Output, Inc. Calibration of sensors
US6598455B1 (en) * 1999-06-30 2003-07-29 California Institute Of Technology Non-inertial calibration of vibratory gyroscopes
US6640610B2 (en) * 2001-03-30 2003-11-04 Analog Devices, Inc. Automatic integrated mechanical and electrical angular motion detector test system
DE10155667C1 (de) * 2001-11-13 2003-01-23 Bosch Gmbh Robert Verfahren und Vorrichtung zum Abgleich von Kombisensoren mit einer Drehraten-Sensorkomponente und einer Beschleunigungs-Sensorkomponente
US20060250257A1 (en) * 2005-05-09 2006-11-09 Reynolds Christopher I Sensor orientation for environmental error reduction
US7650238B2 (en) * 2005-05-09 2010-01-19 Northrop Grumman Corporation Environmental characteristic determination
US7467536B2 (en) * 2005-11-21 2008-12-23 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Positioning system for single or multi-axis sensitive instrument calibration and calibration system for use therewith
KR100886340B1 (ko) * 2007-04-04 2009-03-03 삼성전자주식회사 이동 로봇의 자이로 센서를 캘리브레이션하는 장치 및 방법
US8019542B2 (en) * 2007-04-16 2011-09-13 Honeywell International Inc. Heading stabilization for aided inertial navigation systems
US9599474B2 (en) * 2009-04-06 2017-03-21 Honeywell International Inc. Technique to improve navigation performance through carouselling
GB2478561A (en) * 2010-03-09 2011-09-14 Servomex Group Ltd Apparatus and methods for three axis vector field sensor calibration
CN102095398B (zh) * 2010-12-28 2012-05-02 三一重工股份有限公司 一种倾角传感器的校准系统及校准方法
CN102128638B (zh) * 2010-12-29 2013-04-10 上海亨通光电科技有限公司 光纤陀螺仪半成品探测板检测方法
TW201241449A (en) * 2011-04-01 2012-10-16 Askey Computer Corp Test auxiliary device
JP5482766B2 (ja) * 2011-11-07 2014-05-07 株式会社デンソー 車両用ナビゲーション装置
US9052250B1 (en) 2012-05-04 2015-06-09 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Method of calibrating a force balance
FR3000194B1 (fr) 2012-12-24 2015-03-13 Commissariat Energie Atomique Gyroscope a calibration simplifiee et procede de calibration simplifie d'un gyroscope
US9400226B2 (en) 2013-04-09 2016-07-26 Freescale Semiconductor, Inc. Methods and apparatus for calibrating transducer-including devices
US9365413B2 (en) 2013-05-29 2016-06-14 Freescale Semiconductor, Inc. Transducer-including devices, and methods and apparatus for their calibration
DE102013014622A1 (de) * 2013-09-02 2015-03-05 Northrop Grumman Litef Gmbh System und Verfahren zum Bestimmen von Bewegungen und Schwingungen bewegter Strukturen
US9970781B2 (en) * 2015-03-03 2018-05-15 West Virginia University Apparatus for three-axis IMU calibration with a single-axis rate table
CN105352527B (zh) * 2015-05-25 2018-12-07 哈尔滨工程大学 一种基于双轴转位机构光纤陀螺标定方法
US10228264B2 (en) * 2016-09-02 2019-03-12 Northrop Grumman Systems Corporation Self-calibration of an inertial system
US11047687B2 (en) * 2017-01-13 2021-06-29 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Fiber management assembly for multi-axis fiber optic gyroscope
CN107515014B (zh) * 2017-09-25 2024-01-16 武汉元生创新科技有限公司 一种惯性器件的校准装置及校准方法
RU183331U1 (ru) * 2018-06-08 2018-09-18 Акционерное общество "Научно-производственное объединение автоматики имени академика Н.А. Семихатова" Одноосный поворотный динамический стенд
KR20200005332A (ko) 2018-07-06 2020-01-15 삼성전자주식회사 캘리브레이션 장치 및 그것의 동작 방법
CN110954131B (zh) * 2018-09-27 2022-09-09 北京自动化控制设备研究所 一种光纤陀螺输入轴失准角标定工装
CN109813296B (zh) * 2019-03-24 2020-12-15 浙江大学 一种消除光纤陀螺标度因数误差的角度测量装置和方法
US11656081B2 (en) * 2019-10-18 2023-05-23 Anello Photonics, Inc. Integrated photonics optical gyroscopes optimized for autonomous terrestrial and aerial vehicles
CN111351507A (zh) * 2020-04-20 2020-06-30 北京理工导航控制科技有限公司 一种利用单轴温箱转台对多个三轴陀螺同时标定的方法
DE102020119723B4 (de) 2020-07-27 2022-04-28 mg-sensor GmbH Vorrichtung und verfahren zur kalibrierung eines messaufnehmers
CN112539766B (zh) * 2020-12-02 2023-03-28 北京航天光华电子技术有限公司 单轴速率陀螺回转台回转轴线垂直度误差测试装置及方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2490574A (en) * 1944-01-24 1949-12-06 Bryans Aeroquipment Ltd Apparatus for testing gyroscopic instruments

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1374162A (en) * 1915-10-06 1921-04-05 Sperry Gyroscope Co Ltd Testing-stand for gyroscopes
GB526279A (en) * 1939-03-11 1940-09-13 George Hancock Reid Device for testing instruments and particularly gyroscopic aircraft instruments
US2882717A (en) * 1954-09-03 1959-04-21 Genisco Inc Rotary apparatus for testing instruments
US2882718A (en) * 1955-06-03 1959-04-21 Robert M Shaw Rate gyroscope calibrating device
US3164978A (en) * 1959-02-27 1965-01-12 Sharman Godfrey Alan Apparatus for testing gyroscopes
US3277725A (en) * 1963-07-18 1966-10-11 Mcdonnell Aircraft Corp Method of and apparatus for testing rate gyros
US3330149A (en) * 1965-02-02 1967-07-11 Jr Philip R Scott Rotary test table rate smoother
US3640137A (en) * 1969-06-24 1972-02-08 Sperry Rand Corp Erection cutoff system for plural gyroscopes
DE1943026C3 (de) * 1969-08-23 1980-01-03 Teldix Gmbh, 6900 Heidelberg Verfahren zur Bestimmung der Drift eines Kurskreisels
US3680355A (en) * 1970-10-07 1972-08-01 Singer Co Method and apparatus for performance monitoring of dual platform inertial navigation systems
DE3734941A1 (de) * 1987-10-15 1989-04-27 Messerschmitt Boelkow Blohm Verfahren zur kalibrierung der kreisel eines dreiachsenstabilisierten satelliten
JPH0291513A (ja) * 1988-09-28 1990-03-30 Sumitomo Electric Ind Ltd ジャイロの零点補正方法及びその装置
US5156051A (en) * 1989-06-07 1992-10-20 M/Rad Corporation Vibration test fixture
US5421187A (en) * 1993-12-28 1995-06-06 Honeywell Inc. Calibration of an internal sensor system
US5955668A (en) * 1997-01-28 1999-09-21 Irvine Sensors Corporation Multi-element micro gyro

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2490574A (en) * 1944-01-24 1949-12-06 Bryans Aeroquipment Ltd Apparatus for testing gyroscopic instruments

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
US-Z: TROMMER, G.F., et al.: Passive fiber optic gyroscope, in: Applied Optics, Vol. 29, No. 36, 20. December 1990, S. 5360-5365 *

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000037891A1 (de) * 1998-12-18 2000-06-29 Autoflug Gmbh & Co. Verfahren zum verbessern der messwerte eines inertialen messsystems
US6738721B1 (en) 1998-12-18 2004-05-18 Autoflug Gmbh & Co. Method for improving the measurement values of an inertial measurement system
CN102141411A (zh) * 2010-12-29 2011-08-03 上海亨通光电科技有限公司 光纤陀螺数据异步采集方法
CN112729270A (zh) * 2020-12-11 2021-04-30 浙江大学 一种基于光纤陀螺的转台校准装置及校准方法
CN112729270B (zh) * 2020-12-11 2023-03-07 浙江大学 一种基于光纤陀螺的转台校准装置及校准方法

Also Published As

Publication number Publication date
GB2325522A (en) 1998-11-25
GB9809570D0 (en) 1998-07-01
FR2763677A1 (fr) 1998-11-27
US6209383B1 (en) 2001-04-03
FR2763677B1 (fr) 2000-03-31
GB2325522B (en) 2001-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19721217C1 (de) Vorrichtung zur Kalibrierung mehrerer Kreiselsysteme
EP0842393B1 (de) Verfahren zum gegenseitigen ausrichten von körpern und lagemesssonde hierfür
EP1342050B1 (de) Ermittlung von korrekturparametern einer dreh- schwenkeinheit mit messendem sensor ( koordinatenmessgerät ) über zwei parameterfelder
EP1711777B1 (de) Verfahren zur bestimmung der lage und der relativverschiebung eines objekts im raum
EP1144955B1 (de) Verfahren zum verbessern der messwerte eines inertialen messsystems
DE102016100618A1 (de) Verfahren zum Kalibrieren einer hochpräzisen FOG Trägheitsmesseinrichtung
EP0316635A1 (de) Faseroptischer Spannungssensor
EP0414057A2 (de) Verfahren zur Eliminierung von Kreiselfehlern
DE2732738B1 (de) Vorrichtung zum Auswuchten von Unwuchtkoerpern,insbesondere von Kraftfahrzeug-Raedern
DE2313087A1 (de) Verfahren zur kompensation der taumelbewegung eines rotierenden koerpers und vorrichtung zur durchfuehrung der verfahren
DE3537407A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum messen der geradlinigkeit und planheit
DE102006004283B4 (de) Kalibriervorrichtung sowie Kalibrierverfahren zum Kalibrieren von Kraft-Momenten-Sensoren
DE102017131465B4 (de) Kalibrierkörper und Verfahren zum Kalibrieren optischer Messeinrichtungen zum Messen rotierbarer Werkstücke
DE10021491B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln des Schwerpunktes eines anbaubaren Werkstücks, insbesondere einer Kolbenmaschine
DE2537786A1 (de) Vorrichtung zur durchfuehrung von traegheitsmessungen
DE69934472T2 (de) Bestimmung der Position der optischen Achse einer Kamera
EP1089055A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Vermessen der gegenseitigen Orientierung eines Hohlzylinders und einer zugeordneten Schnittfläche
DE4242883C2 (de) Verfahren zur 3-D-Shear-Bildauswertung
DE3408137C2 (de)
DE19917729C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur räumlichen Positionierung und Ausrichtung eines Kugelgelenks
EP1231457A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren einer Unwuchtmesseinrichtung
DE2855411C2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Ausführung einer Radialskala auf einem Teilungskreis
EP2616766B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum kalibrieren eines referenzsystems zur fahrzeugvermessung
DE3151582C2 (de)
DE10048095A1 (de) Verfahren zur Korrektur einer Dreh-Schwenkeinheit

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of patent without earlier publication of application
D1 Grant (no unexamined application published) patent law 81
8364 No opposition during term of opposition
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: MBDA DEUTSCHLAND GMBH, DE

Free format text: FORMER OWNER: LFK LENKFLUGKOERPERSYSTEME GMBH, 81669 MUENCHEN, DE

Effective date: 20130307

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20131203