DE19712459A1 - Verfahren zur optoelektronischen Abtastung - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der elektronischen Reproduktionstech­ nik und betrifft ein Verfahren zur pixel- und zeilenweisen optoelektronischen Abta­ stung von Bildvorlagen.

In der elektronischen Reproduktionstechnik werden in Abtastgeräten, auch Scan­ ner genannt, durch pixel- und zeilenweise optoelektronische Abtastung von zu re­ produzierenden Bildvorlagen Bildwerte gewonnen und weiterverarbeitet.

In einem Scanner, beispielsweise vom Flachbett-Typ, ist die abzutastende Bildvor­ lage auf einem ebenen Vorlagenträger angeordnet, der sich senkrecht zur Rich­ tung der Abtastzeilen relativ zu einem Abtastorgan bewegt. Das Abtastorgan weist im wesentlichen eine Lichtquelle zur zeilenweisen Beleuchtung der Bildvorlage, ei­ ne Fotodiodenzeile (CCD-Zeile) als optoelektronischer Wandler und ein Abtastob­ jektiv zur Abbildung der Abtastzeilen auf die Fotodiodenzeile auf.

Eine Fotodiodenzeile besteht im wesentlichen aus einer Anzahl in Richtung der Abtastzeilen angeordneter lichtempfindlicher Sensorelemente, einem Trans­ fer-Gatter und einem analogen Schieberegister mit einer der Anzahl Sensorelemente entsprechenden Anzahl Speicherzellen.

Das mit dem Bildinhalt der einzelnen Pixel einer Abtastzeile modulierte Abtastlicht wird in den lichtempfindlichen Sensorelementen der Fotodiodenzeile als Ladungs­ pakete gespeichert. Jeweils nach Abtastung einer aktuellen Abtastzeile werden die Ladungspakete der aktuellen Abtastzeilen aus den Sensorelementen über das Transfergatter in die Speicherzellen des analogen Schieberegisters übertragen. Während die Abtastung der nächsten Abtastzeile erfolgt werden die Ladungspake­ te dann seriell aus dem Schieberegister ausgelesen und in einem Ladungs/Span­ nungs-Konverter in eine analoge Spannung, das Bildsignal, umgewandelt. Das Bildsignal wird in einem nachgeschalteten A/D-Wandler in digitale Bildwerte umge­ setzt, die dann in einer Signalaufbereitungs-Stufe zwischengespeichert und wei­ terverarbeitet werden.

Die Abtastgeschwindigkeit, mit der eine Abtastzeile abgetastet wird, ist im wesent­ lichen von der spezifischen Wandlungsgeschwindigkeit pro Spannungswert des verwendeten A/D-Wandlers abhängig. Einer Vergrößerung der Abtastgeschwin­ digkeit ist dadurch eine Grenze gesetzt, daß schnelle A/D-Wandler mit entspre­ chend hohen Arbeitsfrequenzen nicht zur Verfügung stehen oder sehr teuer sind.

Die Abtastfeinheit (Pixel/cm) in Richtung der Abtastzeilen ist von der Anzahl licht­ empfindlicher Sensorelemente der Fotodiodenzeile und von der Breite der abzu­ tastenden Bildvorlage abhängig. Die Abtastfeinheit senkrecht zur Richtung der Abtastzeilen wird durch die Relativgeschwindigkeit zwischen Bildvorlage und Ab­ tastorgan bestimmt. Die Abtastfeinheit läßt sich durch den Abbildungsmaßstab, in dem das Abtastobjektiv die jeweilige Vorlagenbreite auf die Fotodiodenzeile abbil­ det, variieren. Eine andere Möglichkeit zur Änderung der Abtastfeinheit besteht darin, zwischen gespeicherten Bildwerten zu interpolieren, um eine größere Ab­ tastfeinheit zu erzielen oder gespeicherte Bildwerte zusammenzufassen, um eine gröbere Abtastfeinheit zu erlangen.

Herkömmliche Scanner haben den Nachteil, daß die Abtastgeschwindigkeit pro Abtastzeile unabhängig von der jeweiligen Abtastfeinheit konstant ist.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, das bekannte Verfahren zur op­ toelektronischen Abtastung von Bildvorlagen derart zu verbessern, daß bei einer Vorlagenabtastung mit gröberer Abtastfeinheit mit relativ geringem Aufwand eine höhere Abtastgeschwindigkeit und eine gute Abtastqualität erreicht wird.

Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Anspruchs 1 gelöst.

Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen sind in den Unteransprüchen angegeben.

Die Erfindung wird nachfolgend anhand der Fig. 1 bis 3 ausführlich erläutert.

Es zeigen:

Fig. 1 ein prinzipielles Blockschaltbild eines Scanners zur optoelektronischen Ab­ tastung von Bildvorlagen,

Fig. 2 Zeitdiagramme nach dem Stand der Technik und

Fig. 3 Zeitdiagramme zur Erläuterung der Erfindung.

Fig. 1 zeigt ein prinzipielles Blockschaltbild eines Fachbett-Scanners zur punkt- und zeilenweisen optoelektronischen Abtastung von Schwarz/Weiß-Bildvoragen. Eine Lichtquelle (1) für Durchsichtsabtastung oder eine Lichtquelle (2) für Auf­ sichtsabtastung beleuchtet zeilenweise eine auf einem nicht dargestellten Vorla­ genträger angeordnete Bildvorlage (3). Die beleuchteten Abtastzeilen (4) werden nacheinander mittels eines Abtastobjektivs (5) auf die lichtempfindliche Fläche ei­ nes optoelektronischen Wandlers in Form einer Fotodiodenzeile (6) (CCD-Zeile) abgebildet, wobei die Bildvorlage (3) eine senkrecht zur Richtung der Abtastzeilen (4) gerichtete Relativbewegung zu den Lichtquellen (1; 2) und zu der Fotodioden­ zeile (6) ausführt.

Die Fotodiodenzeile (6) besteht im wesentlichen aus einer in Richtung der Ab­ tastzeilen (4) ausgerichteten Sensorelement-Reihe (7) mit einer Anzahl von ne­ beneinander angeordneten lichtempfindlichen Sensorelementen (8), einem Trans­ fergatter (9) und einem analogen Schieberegister (10) mit einer der Anzahl Senso­ relemente (8) entsprechenden Anzahl von Speicherzellen (11). Die Anzahl der Sensorelemente (8) bestimmt die Anzahl von Pixeln, die in einer Abtastzeile (4) abgetastet werden können, wobei jedem Pixel einer Abtastzeile (4) ein Sensore­ lement (8) der Sensorelement-Reihe (7) und eine entsprechende Speicherzelle (11) des Schieberegisters (10) zugeordnet ist. Die Fotodiodenzeile ist beispiels­ weise vom Typ KLI 8013 der Firma Kodak.

Die Fotodiodenzeile (6) möge beispielsweise 8000 lichtempfindliche Sensorele­ mente (8) und Speicherzellen (11) aufweisen. In diesem Fall können 8000 Pixel pro Abtastzeile (4) abgetastet werden.

Der Abbildungsmaßstab, mit dem eine Abtastzeile (4) von dem Abtastobjektiv (5) auf die Sensorelement-Reihe (7) abgebildet wird, bestimmt die Abtastfeinheit (Pixel/cm) in Zeilenrichtung, während die Abtastfeinheit senkrecht zur Zeilenrich­ tung durch die Relativgeschwindigkeit zwischen der Bildvorlage (3) und der Foto­ diodenzeile (6) bestimmt wird.

Das mit der Bildinformation der einzelnen Pixel einer aktuell abgetasteten Ab­ tastzeile (4) modulierte Abtastlicht wird jeweils innerhalb einer Integrationszeit in den lichtempfindlichen Sensorelementen (8) der Sensorelement-Reihe (7) als La­ dungspakete Q gespeichert. Jeweils nach der Integrationszeit bzw. nach Abta­ stung der aktuellen Abtastzeile (4) werden die gespeicherten Ladungspakete Q der einzelnen Pixel der aktuellen Abtastzeile aus den Sensorelementen (8) über das Transfergatter (9) in die zugeordneten Speicherzellen (11) des Schieberegisters (10) übertragen. Während der Abtastung der nächsten Abtastzeile (4) werden die Ladungspakete Q dann seriell aus dem Schieberegister (10) ausgelesen und ei­ nem Ladungs/Spannungs-Konverter (12) der Fotodiodenzeile (6) zugeführt.

Zur Übertragung der Ladungspakete Q aus den Sensorelementen (8) der Sensore­ lement-Reihe (7) in die Speicherzellen (11) des Schieberegisters (10) wird das Transfergatter (9) jeweils durch einen Tansfertakt einer Transfertaktfolge T_T auf ei­ ner Leitung (13) freigeschaltet. Das Auslesen der Ladungspakete Q aus dem Schieberegister (10) erfolgt durch eine Schiebetaktfolge T_S auf einer Leitung (14).

Der Ladungs/Spannungs-Konverter (12) setzt die Ladungspakete Q der einzelnen Pixel in Spannungswerte U um, die den Ladungspaketen Q proportional sind. Je­ weils nach Wandlung des Ladungspakets Q eines Pixels in den Spannungswert U wird der analoge Ladungs/Spannungs-Konverter (12) durch einen Resettakt einer Resettaktfolge T_R auf einer Leitung (15) zurückgesetzt und damit für die Wandlung des Ladungspakets Q des nächsten Pixels vorbereitet.

Die in dem Ladungs/Spannungs-Konverter (12) erzeugten Spannungswerte U werden in einem durch eine Digitalisierungs-Taktfolge T_D auf einer Leitung (16) getakteten A/D-Wandler (17) in digitale Bildwerte umgesetzt, die dann in einer dem A/D-Wandler (17) nachgeschalteten Signalaufbereitungs-Stufe (18) zwischenge­ speichert und weiterverarbeitet werden.

Transfertaktfolge T_T, Schiebetaktfolge T_S, Resettaktfolge T_R und Digitalisierungs­ taktfolge T_D zur Steuerung des Scanners werden in einer Taktgeneratorschaltung (19) erzeugt.

Fig. 2 zeigt Zeitdiagramme zur Erläuterung der Steuerung des Scanners nach dem Stand der Technik.

In dem Zeitdiagramm (2A) ist die Schiebetaktfolge T_S dargestellt, welche dem Schieberegister (10) zugeführt wird.

In dem Zeitdiagramm (2B) ist die Resettaktfolge T_R dargestellt, die den analogen Ladungs/Spannungs-Konverter (12) zurücksetzt.

Das Zeitdiagramm (2C) zeigt die Spannungswerte U, die in dem analogen La­ dungs/Spannungs-Konverter (12) durch Umwandlung der Ladungspakete Q der einzelnen Pixel nach dem Stand der Technik erzeugt werden.

Die Taktperiode der Schiebetaktfolge T_S ist gleich der Taktperiode der Resettakt­ folge T_R und entspricht der Wandlungszeit t_w pro Spannungswert des verwende­ ten A/D-Wandlers (17). In jeder Taktperiode der Schiebetaktfolge T_S wird das La­ dungspaket Q eines Pixels aus einer Speicherzelle (10) des Schieberegisters (10) ausgelesen und weiterverarbeitet. Zu Beginn jeder Taktperiode der Schiebetakt­ folge T_S wird der analoge Ladungs/Spannungs-Konverter (12) durch einen Reset­ takt der Resettaktfolge T_R zurückgesetzt und damit zur Umwandlung des La­ dungspakets Q des nachfolgenden Pixels vorbereitet, wobei am Ausgang des analogen Ladungs/Spannungs-Konverter (12) zunächst auf dem jeweiligen Schwarz-Referenzpegel U_ref. liegt. Jeweils am Ende einer Taktperiode der Schie­ betaktfolge T_S erscheinen am Ausgang des Ladungs/Spannungs-Konverters (12) die Spannungswerte U der in der Bildvorlage (3) abgetasteten Pixel, welche die abgetastete Bildinformation repräsentieren. Dies sind beispielsweise für das erste Pixel der Spannungswert U₁ für das zweite Pixel der Spannungswert U₂ und für das n-te Pixel der Spannungswert U_n.

In dem angenommenen Beispiel mit 8000 Sensorelementen (8) der Fotodiodenzei­ le (6) sind in dem A/D-Wandler (17) 8000 Spannungswerte U pro Abtastzeile ana­ log/digital zu wandeln. Bei einer typischen Wandlungszeit des A/D-Wandlers (17) von t_w = 6 µs pro Spannungswert U ergibt sich nach dem Stand der Technik eine Abtastzeit pro Abtastzeile von t_A = 8000×6 µs = 48 ms und zwar unabhängig da­ von, ob die Bildvorlage (3) mit einer großen oder einer geringen Abtastfeinheit in Zeilenrichtung abgetastet wird.

Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird in vorteilhafter Weise eine Verkür­ zung der Abtastzeit bei einer gröberen Abtastfeinheit in Zeilenrichtung dadurch er­ reicht, daß die Anzahl der analog/digital zu wandelnden Spannungswerte U der Pi­ xel einer jeden Abtastzeile in Abhängigkeit von der gewünschten gröberen Ab­ tastfeinheit reduziert wird, indem mindestens zwei benachbarte Pixel einer Ab­ tastzeile zusammengefaßt und die Ladungspakete Q der zusammengefaßten Pixel nach dem Auslesen aus dem Schieberegister (10) in dem Ladungs/Spannungs- Konverter (12) aufsummiert werden, wobei ein Spannungswert U' die Bildinforma­ tion der jeweils zusammengefaßten Pixel repräsentiert.

Dazu wird zunächst ein Reduktionsfaktor als Quotient aus der Anzahl maximal möglicher Spannungswerte U pro Abtastzeile, die der Anzahl der Sensorelemente der Fotodiodenzeile entspricht, und aus der sich aufgrund der gewünschten gröbe­ ren Abtastfeinheit ergebenden Anzahl Spannungswerte U' pro Abtastzeile ermittelt.

Der Reduktionsfaktor bestimmt die Anzahl der jeweils zusammenzufassenden be­ nachbarten Pixel und damit die Anzahl der jeweils zu addierenden Ladungspakete Q.

Der reziproke Reduktionsfaktor ist ein Maß für die Verkürzung der Abtastzeit nach dem erfindungsgemäßen Verfahren gegenüber der Abtastzeit, die sich nach dem Stand der Technik ergibt. Darüber hinaus wird durch das erfindungsgemäße Ver­ fahren in vorteilhafter Weise erreicht, daß bei der Vorlagenabtastung keine Bildin­ formation verloren geht und daß Abtastlichtquellen mit einer geringeren Lichtin­ tensität verwendet werden können.

Das erfindungsgemäße Verfahren läßt sich auf einfache Weise durch eine modifi­ zierte Steuerung beim Auslesen der Ladungspakete Q aus dem Schieberegister (10) und bei der Umwandlung der ausgelesenen Ladungspakete Q in Spannungs­ werte U' in dem analogen Ladungs/Spannungs-Konverter (12) realisieren.

Die Taktperiode der modifizierten Schiebetaktfolge T'_S wird gegenüber der Schie­ betaktfolge T_S um den Reduktionsfaktor verkürzt bzw. die Frequenz um den rezi­ proken Reduktionsfaktor erhöht. Entsprechendes gilt für die Transfertaktfolge T'_T.

Die Taktperiode der Resettaktfolge T'_R bleibt gegenüber der Resettaktfolge T_R nach dem Stand der Technik unverändert und entspricht wiederum der Wand­ lungszeit t_w pro Spannungswert des verwendeten A/D-Wandlers (17).

Zwischen jeweils zwei Resettakten der Resettaktfolge T'_R liegt eine dem Redukti­ onsfaktor entsprechende Anzahl von Taktperioden der modifizierten Schiebetakt­ folge T'_S, so daß nunmehr jeweils zwischen zwei Resettakten eine mit dem Re­ duktionsfaktor übereinstimmende Anzahl von Ladungspaketen Q aus dem Schie­ beregister (10) ausgelesen, in dem analogen Ladungs/Spannungs-Konverter (12) aufaddiert und die aufaddierten Ladungspakete Q in einen der Ladungsaddition proportionalen Spannungswert U' für die zusammengefaßten benachbarten Pixel umgesetzt werden.

Damit die durch die Aufaddition der Ladungspakete Q gebildeten Spannungswerte U' den Ladungs/Spannungs-Konverter (12) der Fotodiodenzeile (6) nicht übersteu­ ern, was zur Verfälschung der abgetasteten Bildinformation führen würde, wird die Integrationszeit der Fotodiodenzeile (6), d. h. die Einwirkungsdauer des Abtast­ lichts auf die Sensorelemente (8) der Fotodiodenzeile (6), entsprechend dem rezi­ proken Reduktionsfaktor verkürzt. Durch die verkürzte Auslesezeit aufgrund der verkürzten Verweildauer der Ladungen Q in der Sensorelement-Reihe (7) und in dem Schieberegister (10) sowie aufgrund der verkürzten Integrationszeit wird in vorteilhafter Weise das Rauschen der Fotodiodenzeile (6) vermindert.

In dem angenommenen Beispiel mit 8000 Sensorelementen (8) der Fotodioden­ zeile (6) und mit 4000 abzutastenden Pixeln entsprechend einer um den Faktor "2" gröberen Abtastfeinheit ist der Reduktionsfaktor "2". In diesem Fall werden jeweils die Ladungspakete Q_n und Q_n+1 von zwei benachbarten Pixeln aufaddiert und ein der Ladungsaddition proportionaler Spannungswert U_n + U_n+1 = U' für die jeweils zusammengefaßten zwei benachbarten Pixel erzeugt. Damit sind in dem A/D-Wandler (17) nunmehr lediglich 4000 Spannungswerte U' pro Abtastzeile ana­ log/digital zu wandeln. Bei der typischen Wandlungszeit des A/D-Wandlers (18) von t_w = 6 µs pro Spannungswert ergibt sich eine Abtastzeit pro Abtastzeile von t_A = 4000×6 µs = 24 ms, also in vorteilhafter Weise eine Halbierung der Abtastzeit pro Abtastzeile.

Fig. 3 zeigt Zeitdiagramme zur Erläuterung der Steuerung des Scanners nach der Erfindung für einen Reduktionsfaktor "2".

In dem Zeitdiagramm (3A) ist die modifizierte Schiebetaktfolge T'_S dargestellt, wel­ che dem Schieberegister (10) zugeführt wird.

In einem Zeitdiagramm (3) ist die unveränderte Resettaktfolge T'_R dargestellt, die dem analogen Ladungs/Spannungs-Konverter (12) zugeführt wird.

Das Zeitdiagramm (2C) zeigt die Spannungswerte U', die in dem analogen La­ dungs/Spannungs-Konverter (12) durch Umwandlung der aufaddierten Ladungs­ pakete Q der zusammengefaßten Pixel nach der Erfindung erzeugt werden.

Die Taktperiode der modifizierten Schiebetaktfolge T'_S ist gegenüber der Taktperi­ ode der Schiebetaktfolge T_S nach dem Stand der Technik (Fig. 2; Zeitdiagramm 2A) halbiert.

Die Taktperiode der Resettaktfolge T'_R ist gegenüber der Taktperiode der Reset­ taktfolge T_R nach dem Stand der Technik (Fig. 2; Zeitdiagramm B) unverändert und entspricht wiederum der Wandlungszeit t_w pro Spannungswert des verwende­ ten A/D-Wandlers (17).

Zwischen jeweils zwei Resettakten der Resettaktfolge T'_R liegen zwei Taktperioden der modifizierten Schiebetaktfolge T'_S, so daß nunmehr jeweils zwischen zwei Re­ settakten zwei Ladungspakete Q_n und Q_n+1 aus dem Schieberegister (10) ausge­ lesen, in dem analogen Ladungs/Spannungs-Konverter (12) aufaddiert und die aufaddierten Ladungspakete (Q_n + Q_n+1) in einen der Ladungsaddition proportio­ nalen Spannungswert U_n + U_n+1 = U'_n/n+1 der zwei zusammengefaßten benach­ barten Pixel n und n+1 umgesetzt werden. Beispielsweise werden für die Pixel 1 und 2 die Ladungen Q₁ und Q₂ addiert, und es ergibt sich der Spannungswert U'_1/2, während für die Pixel 3 und 4 die Ladungen Q₃ und Q₄ addiert werden, um den Spannungswert U'_3/4 zu erhalten.

Eine entsprechende Verkürzung der Abtastzeit bei einer gröberen Abtastfeinheit senkrecht zur Zeilenrichtung wird in einfacher Weise durch Änderung der Relativ­ geschwindigkeit zwischen Bildvorlage (3) und Fotodiodenzeile (6) erreicht.

Ohne Verkleinerung der Taktperiode der Schiebetaktfolge T_S wird die Abtastzeit pro Abtastzeile zwar nicht verkürzt, aber bereits durch Unterdrückung von Reset­ takten der Resettaktfolge T_R gemäß dem Stand der Technik wird eine entspre­ chende Addition von Ladungspaketen mit den bereits genannten Vorteilen erreicht.

Anstelle einer Addition der Ladungspakete von zusammengefaßten benachbarten Pixeln können die entsprechenden Ladungspakete auch in dem analogen La­ dungs/Spannungs-Konverter (12) durch eine modifizierte Resttaktfolge T_R unter­ drückt werden, was zwar zu einer Verkürzung der Abtastzeit, aber in nachteiliger Weise zu Verlust von Bildinformation führen würde.

Der beschriebene Scanner dient zur Abtastung von Schwarz/Weiß-Vorlagen. Das erfindungsgemäße Abtast-Verfahren kann selbstverständlich auch bei Farbscan­ nern zur Abtastung von Farbvorlagen Anwendung finden. Bei einem ersten Aus­ führungsbeispiel für einen Farbscanner wird das von der Lichtquelle kommende weiße Licht mittels eines rotierenden Farbfilterrades in rotes, grünes und blaues Abtastlicht zerlegt, und die Farbvorlage sequentiell mit dem farbigen Licht beleuch­ tet. Das Abtastlicht wird dann in einer monochromen Fotodiodenzeile in die Bildsig­ nale für "Rot", "Grün" und "Blau" umgewandelt.

Bei einem zweiten Ausführungsbeispiel für einen Farbscanner wird die Farbvorla­ ge mit weißem Licht beleuchtet und das von der Farbvorlage kommende Abtast­ licht durch Farbteilung mittels dichroitischer Farbfilter in drei Farbanteile zerlegt und drei monochromen Fotodiodenzeilen zur Umwandlung in die Bildsignale für "Rot", "Grün" und "Blau" zugeführt.

In einem dritten Ausführungsbeispiel für einen Farbscanner wird die Farbvorlage ebenfalls mit weißem Licht beleuchtet und das von der Farbvorlage kommende farbige Abtastlicht in einer farbselektiven Fotodiodenzeile in die Bildsignale für "Rot", "Grün" und "Blau" umgesetzt. Bei der Farbabtastung werden dann den ein­ zelnen Farbkanälen entsprechende Schieberegister und A/D-Wandler zugeordnet.

Es liegt im Rahmen der Erfindung, das erfindungsgemäße Abtast-Verfahren derart zu gestalten, daß zwischen auszuwertenden Abtastzeilen und nicht auszuwerten­ den Abtastzeilen und innerhalb der auszuwertenden Abtastzeilen zwischen aus­ zuwertenden Pixeln und nicht auszuwertenden Pixeln unterschieden werden kann, so daß eine flächenbezogene Modulation der Auslesegeschwindigkeit für das Schieberegister erfolgt. Dies ist beispielsweise der Fall, wenn anstelle einer eindi­ mensionalen Fotodiodenzeile ein zweidimensionales Fotodiodenarray verwendet wird.

Die Erfindung ist auch nicht auf das Gebiet der elektronischen Reproduktions­ technik begrenzt, sondern kann überall dort angewendet werden, wo optoelektro­ nische Abtastung und Analog/Digital-Wandlung miteinander gekoppelt sind.

Claims (11)

1. Verfahren zur optoelektronischen Abtastung von Vorlagen, bei dem

• - eine Vorlage (3) pixel- und zeilenweise mittels einer Anzahl von in Zeilen­ richtung angeordneten optoelektronischen Wandlern (8) abgetastet wird, welche die abgetastete Bildinformation der einzelnen Pixel in Spannungs­ werte (U) umsetzen,
• - die Spannungswerte (U) aus den optoelektronischen Wandlern (7) ausge­ lesen werden und
• - die ausgelesenen Spannungswerte (U) in einem A/D-Wandler (17) in digi­ tale Bildwerte umgewandelt werden, dadurch gekennzeichnet, daß zur Verkürzung der Abtastzeit in Zeilen­ richtung bei einer bezüglich einer normalen Abtastfeinheit gröberen Abtast­ feinheit die Anzahl der in dem A/D-Wandler (17) analog/digital zu wan­ delnden Spannungswerte (U) der Pixel pro Abtastzeile um einen Redukti­ onsfaktor verringert wird, der dem Quotienten aus der Anzahl maximal möglicher Spannungswerte (U) und der sich aufgrund der gröberen Abastfeinheit ergebenden geringeren Anzahl Spannungswerte (U') ent­ spricht.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß

• - die Anzahl der in dem A/D-Wandler (17) analog/digital zu wandelnde Spannungswerte (U) jeweils durch Zusammenfassen einer dem Redukti­ onsfaktor entsprechenden Anzahl in einer Abtastzeile benachbarter Pixel verringert wird und
• - die Spannungswerte (U'), die sich jeweils aus den Spannungswerten (U) der zusammengefaßten Pixel ergeben, analog/digital gewandelt werden.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet daß die Anzahl maximal möglicher Spannungswerte der Anzahl optoelektronischer Wandler (8) entspricht.

4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß

• - die optoelektronischen Wandler die Sensorelemente (8) einer Fotodioden­ zeile (6) sind, welche die abgetastete Bildinformation der einzelnen Pixel in elektrische Ladungspakete (Q) umsetzen,
• - die Fotodiodenzeile (6) ein Schieberegister (10) zur Zwischenspeicherung der Ladungspakete (Q), ein Transfergatter (9) zur Übertragung der La­ dungspakete (Q) aus den Sensorelementen (8) in das Schieberegister (10) und einen Ladungs/Spannungs-Konverter (12) zur Umwandlung der der La­ dungspakete (Q) in Spannungswerte aufweist, wobei der Ladungs/Span­ nungs-Konverter (12) jeweils durch einen Takt einer Resettaktfolge (T_R) zu­ rückgesetzt wird,
• - die Ladungspakete (Q) der einzelnen Pixel aus dem Schieberegister (10) seriell mittels einer Schiebetaktfolge (T_S) ausgelesen werden,
• - jeweils eine dem Reduktionsfaktor entsprechende Anzahl in einer Abtastzei­ le benachbarter Pixel zusammengefaßt werden,
• - die ausgelesenen Ladungspakete (Q) der jeweils zusammengefaßten Pixel in dem Ladungs/Spannungs-Konverter (12) aufaddiert werden und
• - die aufaddierten Ladungspakete (Q) in die für die zusammengefaßten Pixel relevanten Spannungswerte (U') umgewandelt werden.

5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Zusammen­ fassung von Pixeln und das Aufaddieren der zugehörigen Ladungspakete (Q) jeweils durch Unterdrückung einer dem Reduktionsfaktor entsprechende An­ zahl von Takten der Resettaktfolge (T_R) bei normaler Abtastfeinheit erreicht wird.

6. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Takt­ periode der Resettaktfolge (T_R) gleich der Wandlungszeit des A/D-Wandlers (17) gewählt wird.

7. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Taktperiode der Schiebetaktfolge (T_S) bei gröberer Abtastfeinheit gegen­ über der Taktperiode bei normaler Abtastfeinheit um den Reduktionsfaktor verkürzt wird.

8. Verfahren nach einem der Ansprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß zur Vermeidung einer Übersteuerung der Fotodiodenzeile (6) die Integrations­ zeit der Fotodiodenzeile (6) verkürzt wird.

9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die gröbere Abtastfeinheit senkrecht zur Zeilenrichtung durch Änderung der Relativgeschwindigkeit zwischen Bildvorlage (3) und optoelektronischen Wandlern (8) senkrecht zur Zeilenrichtung erreicht wird.

10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, die optoelektronischen Wandler (8) die Sensorelemente eines Fotodioden-Arrays zur flächenhaften Abtastung der Vorlage (3) sind.

11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß das Verfahren bei der optoelektronischen Abtastung von Farbvorlagen angewendet wird.