DE19680327C2 - GMSK-Kommunikationsgerät-Testsystem - Google Patents

GMSK-Kommunikationsgerät-Testsystem

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Description

Diese Erfindung bezieht sich auf ein Testsystem zum Testen von Kommunikationsgeräten, die durch das sogenannte GMSK-(Gaussian Minimum Shift Keying)-Verfahren moduliert sind und in einem digitalen Kommunikationsnetz, wie beispielsweise in einem GSM-Kommunikationsnetz (Global System For Mobile Communication) verwendet werden.
Eine kurze Beschreibung des GSM-Kommunikationsstandards findet sich beispielsweise im Michel Mouly/Marie-Bernadette Pantet: "The GSM System For Mobile Communications", 1992, Seiten 248-259. Die GMSK-Modulation ist beispielsweise in Karl-Dirk-Kammeyer: "Nachrichtenübertragung", 1992, Seiten 387-393 beschrieben.
Testeinheiten, die zum Testen eines derartigen (und nachfolgend als DUT-Gerät (device under test) bezeichneten) GMSK-Kommunikationsgeräts verwendet werden, testen die Phasendifferenz zwischen einem Ausgangssignal des DUT-Geräts und einem idealen Signal. Das DUT-Ausgangssignal ist durch analoge Basisbandsignale I(t) und Q(t) gegeben, die ein in Phase befindliches Signal bzw. ein Signal mit einer 90°- Phasenverschiebung repräsentieren.
Das DUT-Gerät nimmt Übertragungsdaten mit einer Übertragungsgeschwindigkeit von beispielsweise 270,833 kBit/s auf, und unterzieht die empfangenen Daten einem digitalen Umsetzungsprozeß gemäß einer Gaußfilter-Kennlinie durch eine darin installierte digitale Verarbeitungstechnologie. Die Gauß-umgesetzten Daten werden einer Digital/Analog-Umsetzung unterzogen, so daß durch das DUT-Gerät die analogen Basisbandsignale bzw. -Signalverläufe I(t) und Q(t) erzeugt werden.
Ein Beispiel eines herkömmlichen Testsystems zum Testen derartiger DUT-Geräte ist in Fig. 3 dargestellt.
Ein DUT-Gerät 100 nimmt Übertragungsdaten TXdat auf und erzeugt die oben erwähnten Basisband-Signalverläufe I(t) und Q(t). Die Basisband-Signalverläufe I(t) und Q(t) werden durch einen Rechteckmodulator 110 moduliert, wodurch die Basisband-Signalverläufe unter Verwendung eines Trägersignals fc, welches eine Trägerfrequenz von mehreren Megahertz aufweist, einer Rechteckmodulation unterzogen werden. Das modulierte Hochfrequenzsignal 120rf wird, wie nachfolgend beschrieben wird, durch das Testsystem gemessen bzw. getestet.
Das Testsystem umfaßt einen Analog/Digital-Wandler (A/D-Wandler) 82, einen Pufferspeicher 83, einen IQ-Demodulator 84, ein Phasen/Amplituden-Rechenteil 86 und ein Fehler-Rechenteil 90.
Der A/D-Wandler 82 empfängt das rechteckmodulierte Hochfrequenzsignal 120rf, tastet dieses mit einer Abtastfrequenz fmp ab, und setzt die abgetasteten Daten in ein digitales Signal um. Das digitalisierte Signal wird für eine bestimmte Periode in dem Pufferspeicher 83 gespeichert.
Der IQ-Demodulator 84 extrahiert die Basisbandsignale I und Q, die durch das Phasen/Amplituden-Rechenteil 86 aufgenommen werden. Das Phasen/Amplituden- Rechenteil 86 erzeugt eine Amplituden-Datenfolge 88amp und eine Phasen-Datenfolge 87phase, die dem Fehler-Rechenteil 90 zugeführt werden.
Das Fehler-Rechenteil 90 besteht aus einem Differentiator- Zwischenfrequenzbeseitigungsteil 92, einem Nulldurchgangs-Detektier- /Kompensationsteil 93, einem Taktphase-/Perioden-Detektierteil 94, einem Pro- Synchronisations-Bitmuster-Extraktionsteil 95, einem Idealdaten-Generator 96 und einem Differenz-Detektier-/Linear-Regressions-Rechenteil 97.
Das Differentiator-Zwischenfrequenzbeseitigungsteil 92 empfängt die oben erwähnte Phasen-Datenfolge 87phase und differenziert diese, um sie in eine Frequenz-Datenfolge zu konvertieren. Das Nulldurchgangs-Detektier-/Kompensationsteil 93 nimmt die Frequenz-Datenfolge auf, erfaßt deren Nulldurchgänge und legt entsprechende zeitliche Wiedergabepunkte fest. Das Taktphase-/Perioden-Detektierteil 94 erzeugt auf Grundlage dieser zeitlichen Wiedergabepunkte durch Anwendung der Methode des kleinsten Quadrats einen Takt mit einer Übertragungsgeschwindigkeit von 270 kBit/s.
Das Pro-Synchronisations-Bitmuster-Extraktionsteil 95 empfängt die Daten des Nulldurchgangs-Detektier-/Kompensationsteils 93 sowie die Amplituden-Datenfolge 88amp und erzeugt eine Bitmusterfolge, die unter Verwendung des zuvor genannten Bandraten-Taktes mit den tatsächlichen Daten synchronisiert ist.
Der Idealdatengenerator 96 empfängt die Bitmusterfolge von dem Pro-Synchronsiations- Bitmuster-Extraktionsteil 95 und erzeugt daraus "ideale" Daten mit idealen Phasenpunkten. Die durch den Idealdatengenerator 96 erzeugten idealen Daten sind als Referenzdaten zu verwenden, welche dem Differenz-Detektier-/Linear-Regressions- Rechenteil 97 zur Verfügung gestellt werden.
Das Differenz-Detektier-/Linear-Regressions-Rechenteil 97 empfängt die oben erwähnten idealen Daten sowie die Phasen-Datenfolge 87phase von dem Phasen/Amplituden-Rechenteil 86 und berechnet die Differenz zwischen den tatsächlichen Daten und den idealen Daten. Anschließend berechnet das Differenz- Detektier-/Linear-Regressions-Rechenteil 97 einen Effektivwert-Phasenfehler und einen Frequenzfehler durch Anwendung eines Regressionsverfahrens.
Das oben erwähnte Testsystem umfaßt gemäß der herkömmlichen Technologie das Differenz-Detektier-/Linear-Regressions-Rechenteil 97, so daß bei der Berechnung der Phasendifferenz zwischen den idealen Daten und den tatsächlichen Daten bzw. der Phasen-Datenfolge 87phase des Phasen-/Amplituden-Rechenteils 86 Phasenversetzungen in beiden Daten berücksichtigt werden müssen. Weitere Nachteile bestehen bei dem herkömmlichen Testsystem darin, daß die Nulldurchgangspunkte in dem Nulldurchgangs-Detektier-/Kompensationsteil 93 eingestellt werden müssen und ein Versatz (Offset) der Basisband-Signalverläufe I(t) und Q(t) unbekannt ist. Eine genaue Messung bzw. Auswertung der Basisband-Signalverläufe I(t) und Q(t) ist daher bei dem herkömmlichen Testsystem nicht möglich.
Der vorliegenden Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, ein Testsystem für ein GMSK-Kommunikationsgerät bereitzustellen, bei dem Phasenoffsets zwischen den wiedergegebenen idealen Daten und der zu messenden Phasen-Datenfolge nicht berücksichtigt werden müssen.
Diese Aufgabe wird gemäß der vorliegenden Erfindung durch ein Testsystem mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Die Unteransprüche beschreiben bevorzugte und vorteilhafte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung.
Das erfindungsgemäße Testsystem umfaßt A/D-Wandler, welche von einem zu testenden Kommunikationsgerät zwei Rechtecksignale, nämlich ein I- Komponentensignal und Q-Komponentensignal, aufnehmen und diese in ein digitales I- Komponentensignal bzw. ein digitales Q-Komponentensignal umsetzen. Ein Offset- Detektor ermittelt abhängig von den digitalen I- und Q-Komponentensignalen der A/D- Wandler Versetzungs- bzw. Offsetwerte der I- und Q-Komponentensignale, wobei die Offsetwerte den Drehmittelpunkt eines den I- und Q-Komponentensignalen entsprechenden Signalzeigers im I/Q-Koordinatensystem, in welchem die I- und Q- Komponentensignale darstellbar sind, und Amplitudenwerte der I- und Q- Komponentensignale bezeichnen. Ein Phasendetektor subtrahiert von den digitalen I- und Q-Komponentensignale den von dem Offset-Detektor ermittelten Offset und berechnet zu den somit korrigierten digitalen I- und Q-Komponentensignalen entsprechende Phasendaten, wobei dies insbesondere durch die Durchführung der Berechnung tan-1 Q/I erfolgt. Darüber hinaus ist ein Differentiator zur Umsetzung der Phasendaten in eine Frequenz-Datenfolge vorgesehen, wobei die Frequenz-Datenfolge Momentan-Frequenzdaten entspricht. Eine DFT-Einheit (diskrete Fourier- Transformation) unterzieht die Momentan-Frequenzdaten zu bestimmten Zeitpunkten, die durch eine Modulationsbitrate festgelegt sind, einer diskreten Fourier- Transformation, wobei die diskrete Fourier-Transformation insbesondere auf die quadrierten Momentan-Frequenzdaten angewendet wird. Die DFT-Einheit erzeugt somit einen entsprechenden Phasenwert, der ebenfalls mit der oben genannten Modulationsbitrate vorliegt.
Das Testsystem umfaßt ferner einen Bitdaten-Regenerator, der bei Empfang der Momentan-Frequenzdaten vom Differentiator sowie des Phasenwerts von der DFT- Einheit durch einen Demodulationsprozeß Bitdaten erzeugt, wobei der Demodulationsprozeß durch die Erzeugung des Phasenwerts ausgelöst wird, das heißt die Bitrate, mit der der Phasenwert vorliegt, dient als Takt für den Bitdaten- Regenerator. Ein Idealdaten-Generator erzeugt abhängig von den Bitdaten ideale Momentan-Frequenzdaten, die einem Differenz-Rechenteil zusammen mit den Momentan-Frequenzdaten des Differentiators zugeführt werden, so daß das Differenz- Rechenteil die Differenz zwischen den Momentan-Frequenzdaten des Differentiators und den idealen Momentan-Frequenzdaten des Idealdaten-Generators berechnen und entsprechende Momentan-Frequenzfehlerdaten erzeugen kann. Schließlich ist auch ein Phasenfehler-Detektierteil vorgesehen, welches die zuvor erwähnten Momentan- Frequenzfehlerdaten integriert, um somit die Momentan-Frequenzfehlerdaten in eine entsprechende Phaseninformation umzusetzen, wobei das Phasenfehler-Detektierteil zudem einen Quadratmittelwert (Effektivwert) der somit erhaltenen Phaseninformation bestimmt und diesen als gemittelten Phasenfehler ausgibt.
Das erfindungsgemäße Testsystem umfaßt somit eine Funktion zur Messung des Phasenfehlers eines Phasenoffsets in den I- und Q-Komponentensignalen eines zu testenden GMSK-Kommunikationsgeräts.
Zusätzlich zu der oben genannten Anordnung können Pufferspeicher vorgesehen sein, um die abgetasteten Daten der A/D-Wandler zu speichern.
Darüber hinaus kann ferner ein IQ-Demodulator vor den A/D-Wandler vorgesehen sein, um ein rechteckmoduliertes (bzw. orthogonalmoduliertes) Zwischenfrequenzsignal von dem zu testenden Kommunikationsgerät aufzunehmen, zu demodulieren und das Zwischenfrequenzsignal in die I- und die Q-Komponentensignale aufzuteilen.
Erfindungsgemäß bestimmt der Versatz- bzw. Offset-Detektor Versatz- bzw. Offset- Werte, die den Drehmittelpunkt eines den I- und Q-Komponentensignalen entsprechenden Signalzeigers im I/Q-Koordinatensystem, in welchem die I- und Q- Komponentensignale darstellbar sind, sowie die Amplitudenwerte der I- und Q- Komponentensignale bezeichnen, wobei dies insbesondere nach dem in der japanischen Offenlegungsschrift Nr. 1994-191930 beschriebenen Verfahren erfolgen kann.
Der Differentiator des erfindungsgemäßen Testsystems setzt die ihm zugeführten Phasendaten in Frequenz- bzw. Momentan-Frequenzdaten um, wobei dies insbesondere durch Anwendung eines Differenzierverfahrens durch Differenzieren der vorliegenden Daten und der vorhergehenden Daten erfolgt. Die DFT-Einheit quadriert die Frequenzdaten und unterzieht die Frequenzdaten einer diskreten Fourier- Transformation, wobei dies insbesondere in Übereinstimmung mit der Modulationsbitrate erfolgt. Die DFT-Einheit erzeugt somit einen Phasenwert, der als Taktsignal für den nachfolgenden Demodulationsprozeß dient.
Der Bitdaten-Regenerator des erfindungsgemäßen Testsystems empfängt die Frequenzdaten von dem Differentiator sowie den Phasenwert von der DFT-Einheit und führt einen Demodulationsprozeß aus, wodurch die Bitdaten als Grundlage für die zu erzeugenden idealen Frequenzdaten erhalten werden.
Das Phasenfehler-Detektierteil integriert die Differenz zwischen den Frequenzdaten des Differentiators und den idealen Frequenzdaten, die auf Grundlage der oben genannten Bitdaten von dem Idealdaten-Generator erzeugt werden, um somit die Differenz zwischen den augenblicklichen Frequenzdaten und den idealen Frequenzdaten in eine Phaseninformation umzusetzen und den Quadratmittelwert bzw. Effektivwert der Phaseninformation zu bestimmen, wobei dieser Quadratmittelwert als gemittelter Phasenfehler ausgegeben wird. Daher ist bei dem erfindungsgemäßen Testsystem nicht notwendig, den Phasenoffset in der Phasen-Datenfolge des zu messenden Signals zu berücksichtigen.
Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung anhand eines bevorzugten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
Fig. 1 zeigt den Aufbau eines bevorzugten Ausführungsbeispiels eines Testsystems für ein GMSK-Kommunikationsgerät gemäß der vorliegenden Erfindung,
Fig. 2 zeigt ein Diagramm zur Erläuterung des Offsets des Drehmittelpunkts des Signalzeigers im I/Q-Diagramm bei Anwendung einer Phasenmodulation und
Fig. 3 zeigt den Aufbau eines herkömmlichen Testsystems für ein GMSK- Kommunikationsgerät.
Gemäß dem in Fig. 1 gezeigten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung werden von dem erfindungsgemäßen Testsystem direkt Basisband-Signalverläufe I(t) und Q(t) eines zu testenden Kommunikationsgeräts (DUT-Geräts) 100 gemessen. Das Testsystem umfaßt Analog/Digital-Wandler (A/D-Wandler) 11, 12, Pufferspeicher 13, 14, einen Versatz- bzw. Offset-Detektor 16, einen Phasendetektor 18, einen Differentiator 20, einen DFT- (diskrete Fourier Transformation)-Prozessor 22, einen Bitdaten-Regenerator 24, einen Idealdaten-Generator 26, ein Differenz-Rechenteil 28 und ein Integrations-/Phasenfehler-Detektierteil 30.
Der A/D-Wandler 11 tastet den Basisband-Signalverlauf I(t) mit einem Abtasttakt ab und setzt die abgetasteten Daten in ein digitales Signal um, welches in dem Pufferspeicher 13 gespeichert wird. Der A/D-Wandler 12 tastet den Basisband- Signalverlauf Q(t) mit dem Abtasttakt ab, und setzt die abgetasteten Daten in ein digitales Signal um, welches in dem Pufferspeicher 14 gespeichert wird. Die Signalverläufe I(t) und Q(t) sind Funktionen der Zeit.
Der Offset-Detektor 16 weist eine Einrichtung zur Ermittlung von Offset-Punkten auf, wie sie beispielsweise in der japanischen Offenlegungsschrift Nr. 1994-191930 beschrieben ist. Der Offset-Detektor 16 empfängt die Amplitudendaten Ia(t) des I-Komponentensignals von dem Pufferspeicher 13 und erhält somit eine Histogrammverteilung des Amplitudenpegels des I-Komponentensignals. Der Offset- Detektor 16 ermittelt zwei Maximumspitzenpunkte im Histogramm und bestimmt genau einen Offset-Wert Ioff, der dem Mittelpunkt zwischen den beiden Maximumspitzen entspricht, sowie eine Amplitude I, die der Differenz zwischen den beiden Maximumspitzen entspricht. Auf entsprechende Weise untersucht der Offset-Detektor 16 auf Grundlage der Amplitudendaten Qa(t) des Q-Komponentensignals des Pufferspeichers 14 eine Histogrammverteilung des Amplitudenpegels des Q- Komponentensignals und bestimmt einen Offset-Wert Qoff, der dem Mittelpunkt zwischen den beiden Maximumspitzen im Histogramm entspricht, sowie eine Amplitude Q, die der Differenz zwischen den beiden Maximumspitzen entspricht.
Der Phasendetektor 18 subtrahiert von den Amplituden der I- und Q- Komponentensignale die oben erwähnten Offset-Werte Ioff bzw. Qoff und berechnet somit eine korrigierte I-Komponente Ib(t) = Ia(t) - Ioff sowie eine korrigierte Q- Komponente Qb(t) = Qa(t) - Qoff. Des weiteren berechnet der Phasendetektor 18 auf Grundlage dieser korrigierten I- und Q-Komponentensignale Phasendaten Pase (t) durch die Beziehung Pase (t) = tan-1(Qb(t)/Ib(t)), wobei die Phasendaten dem Differentiator 20 zugeführt werden. Der Differentiator 20 empfängt die Phasendaten Pase (t) von dem Phasendetektor 18 und unterzieht diese Phasendaten einer Differentiation, indem die Differenz zwischen den vorliegenden Phasendaten und den unmittelbar vorhergehenden Phasendaten berechnet wird, so daß die Phasendaten in Frequenzdaten f(t) umgesetzt werden.
Der DFT-Prozessor 22 empfängt die Frequenzdaten f(t), quadriert die Frequenzdaten und unterzieht die Frequenzdaten in Übereinstimmung mit der Modulationsbitrate einer diskreten Fourier-Transformation (DFT), so daß eine mit einer bestimmten Bitrate vorliegende Frequenz f0 bzw. ein mit der bestimmten Bitrate vorliegender entsprechender Phasenwert p0 erhalten wird, der als Taktsignal für eine nachfolgende Demodulation dient.
Der Bitdaten-Regenerator 24 empfängt die Frequenzdaten f(t) von dem Differentiator 20 sowie den mit der bestimmten Bitrate vorliegenden Phasenwert p0 von dem DFT- Prozessor 22 und erzeugt durch einen Demodulationsprozess Bitdaten Bdat (t). Der Idealdaten-Generator 26 erzeugt abhängig von diesen Bitdaten Bdat (t) ideale Frequenzdaten fref (t).
Das Differenz-Rechenteil 28 empfängt die Frequenzdaten f(t) von dem Differentiator 20 sowie die oben erwähnten Frequenzdaten fref (t) von dem Idealdaten-Generator 26 und berechnet die Differenz zwischen den Frequenzdaten f(t) und den idealen Frequenzdaten fref (t). Das Ergebnis dieser Differenzberechnung wird dem Integrations-/Phasenfehler-Detektierteil 30 als Frequenzfehlerdaten zugeführt.
Das Integrations-/Phasenfehler-Detektierteil 30 integriert die Frequenzfehlerdaten, so daß die Frequenzfehlerdaten in eine entsprechende Phaseninformation umgesetzt werden. Darüber hinaus bestimmt das Integrations-/Phasenfehler-Detektierteil 30 einen Effektivwert bzw. Quadratmittelwert dieser Phaseninformation und gibt diesen Effektivwert als Effektivwert-Phasenfehler bzw. gemittelten Phasenfehler aus.
Die nach den Pufferspeichern 13 und 14 in dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel durchgeführten Rechenprozesse können durch einen Hochgeschwindigkeits-DSP-Prozessor (digitalen Signalprozessor) ausgeführt werden.
Bei den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen sind die Pufferspeicher 13 und 14 vorgesehen, welche die digitalen Daten von den A/D-Wandlern 11 und 12 speichern, so daß die aus den Pufferspeichern 13, 14 ausgelesenen Daten in den späteren Stufen des Testsystems verarbeitet werden können. Bei Verwendung eines Hochgeschwindigkeits- DSP-Prozessors können jedoch auch die Pufferspeicher 13 und 14 weggelassen werden.
Darüber hinaus werden bei dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel die Basisband- Signalverläufe I(t) und Q(t) durch die A/D-Wandler 11 und 12 digitalisiert. Es ist jedoch auch möglich, die Basisband-Signalverläufe einer Orthogonal- bzw. Rechteckmodulation zu unterziehen, wobei anschließend das rechteckmodulierte Signal einer IQ-Demodulation unterzogen wird, bevor es den A/D-Wandlern 11 und 12 zugeführt wird, wie es in Fig. 3 veranschaulicht ist.
Des weiteren wird bei dem oben beschriebenen Ausführungsbeispiel davon ausgegangen, daß das DUT-Gerät 100 ein Kommunikationsgerätetyp ist, der direkt die Basisband-Signalverläufe I(t) und Q(t) abgibt. Das DUT-Gerät 100 kann jedoch auch selbst einen Rechteckmodulator aufweisen und rechteckmodulierte Signale abgeben. In diesem Fall kann in dem Testsystem ein IQ-Demodulator verwendet werden, der das rechteckmodulierte Signal demoduliert und somit in die I- und Q-Signalverläufe aufteilt.
Die oben beschriebene Erfindung besitzt den Vorteil, daß aufgrund des oben beschriebenen Aufbaus kein Phasenversatz bei der Phasen-Datenfolge des zu messenden Signals berücksichtigt werden muß.
Der Offset-Detektor 16 bestimmt Offset-Werte Ioff nach einem Verfahren, wie es beispielsweise in der japanischen Offenlegungsschrift Nr. 1994-191930 beschrieben ist, wobei die Offset-Werte dem Drehmittelpunkt eines den I- und Q-Komponentensignalen entsprechenden Signalzeigers im I/Q-Koordinatensystem bei der Modulation entsprechen.
Der Differentiator 20 empfängt von dem Phasendetektor 18, der von den I- und den Q- Komponentensignalen die zuvor beschriebenen Offset-Werte subtrahiert, entsprechende Phasendaten Pase (t) und setzt die Phasendaten durch Differenzieren der vorliegenden Phasendaten und der unmittelbar vorhergehenden Phasendaten in Frequenzdaten f(t) um.
Der DFT-Prozessor 22 quadriert die Frequenzdaten f (t) und unterzieht die Frequenzdaten entsprechend der Modulationsbitrate einer diskreten Fourier- Transformation, um somit einen mit einer bestimmten Bitrate vorliegenden Phasenwert p0 zu erzeugen, der als Taktsignal für die nachfolgende Demodulation dient.
Der Bitdaten-Regenerator 24 empfängt die Frequenzdaten f(t) von dem Differentiator 20 sowie den mit der bestimmten Bitrate vorliegenden Phasenwert p0 von dem DFT- Prozessor 22 und erzeugt durch einen Demodulationsprozess Bitdaten Bdat (t), welche die Grundlage für die Erzeugung von idealen Frequenzdaten fref (t) bilden.
Das Integrations-/Phasenfehler-Detektierteil 30 integriert die von dem Differenz- Rechenteil 28 erzeugte Differenz zwischen den Differenzdaten f(t) des Differentiators 20 und den idealen Frequenzdaten fref (t), um somit eine entsprechende Phaseninformation zu erzeugen, wobei das Integrations-/Phasenfehler-Detektierteil 30 den Quadratmittelwert bzw. Effektivwert der Phaseninformation bestimmt und diesen als Effektivwert-Phasenfehler bzw. gemittelten Phasenfehler ausgibt. Daher ist es nicht notwendig, den Phasenversatz bei der Phasen-Datenfolge des zu messenden Signals zu berücksichtigen.

Claims (3)

1. Testsystem für ein gemäß der GMSK-(Gaussian Minimum Shift Keying)-Modulation arbeitendes Kommunikationsgerät, umfassend:
A/D-Wandler (11, 12), welche von einem zu testenden Kommunikationsgerät (100) ein I- Komponentensignal (I(t)) und ein Q-Komponentensignal (Q(t)) aufnehmen und in ein digitales I-Komponentensignal bzw. Q-Komponentensignal (Ia(t), Qa(t)) umsetzen,
einen Offset-Detektor (16), der abhängig von den digitalen I- und Q-Komponentensignalen der A/D-Wandler (11, 12) Offsetwerte (Ioff, Qoff) der I- und Q-Komponentensignale ermittelt, wobei die Offsetwerte den Drehmittelpunkt eines den I- und Q- Komponentensignalen entsprechenden Signalzeigers im I/Q-Koordinatensystem, in welchem die I- und Q-Komponentensignale darstellbar sind, und Amplitudenwerte der I- und Q-Komponentensignale bezeichnen,
einen Phasendetektor (18), der von den digitalen I- und Q-Komponentensignalen den von dem Offset-Detektor (16) ermittelten Offset subtrahiert und zu den somit korrigierten digitalen I- und Q-Komponentensignalen entsprechende Phasendaten (Pase(t)) berechnet,
einen Differentiator (20) zur Umsetzung der Phasendaten in Momentanfrequenzdaten (f(t)),
eine DFT-(diskrete Fourier-Transformation)-Einheit (22), die zu durch eine Modulationsbitrate bestimmten Zeitpunkten auf die Momentanfrequenzdaten (f(t)) eine diskrete Fouriertransformation anwendet, um einen entsprechenden Phasenwert (p0) zu erzeugen,
einen Bitdaten-Regenerator (24), der bei Empfang der Momentanfrequenzdaten (f(t)) von dem Differentiator (20) sowie des Phasenwerts (p0) von der DFT-Einheit (22) durch einen Demodulationsprozeß Bitdaten (Bdat) erzeugt, wobei der Demodulationsprozeß durch die Erzeugung des Phasenwerts ausgelöst wird,
einen Idealdaten-Generator (26), der abhängig von den Bitdaten (Bdat) ideale Momentanfrequenzdaten (fref(t)) erzeugt,
ein Differenz-Rechenteil (28), welches die Differenz zwischen den Momentanfrequenzdaten (f(t)) des Differentiators (20) und den idealen Momentanfrequenzdaten (fref(t)) des Idealdaten-Generators (26) berechnet und entsprechende Momentan-Frequenzfehlerdaten ausgibt, und
ein Phasenfehlerdetektierteil (30), welches die Momentan-Frequenzfehlerdaten integriert, um die Momentan-Frequenzfehlerdaten in eine entsprechende Phaseninformation umzusetzen, und einen Quadratmittelwert der Phaseninformation bestimmt und diesen als gemittelten Phasenfehler ausgibt.
2. Testsystem nach Anspruch 1, weiterhin umfassend einen Pufferspeicher (13, 14) zum Speichern abgetasteter Daten von den AD-Wandlern (11, 12).
3. Testsystem nach Anspruch 1 oder 2, weiterhin umfassend einen IQ-Demodulator, der zur Aufnahme eines rechteckmodulierten Zwischenfrequenzsignals von dem zu testenden Kommunikationsgerät (100) und zum Demodulieren und Aufteilen des Zwischenfrequenzsignals in die I- und Q- Komponentensignale vor den AD-Wandlern (11, 12) vorgesehen ist.
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