DE19620242C2 - Method and device for contacting a wire conductor in the manufacture of a transponder unit - Google Patents

Method and device for contacting a wire conductor in the manufacture of a transponder unit

Info

Publication number
DE19620242C2
DE19620242C2 DE1996120242 DE19620242A DE19620242C2 DE 19620242 C2 DE19620242 C2 DE 19620242C2 DE 1996120242 DE1996120242 DE 1996120242 DE 19620242 A DE19620242 A DE 19620242A DE 19620242 C2 DE19620242 C2 DE 19620242C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
wire conductor
wire
chip
connection
coil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE1996120242
Other languages
German (de)
Other versions
DE19620242A1 (en
Inventor
David Finn
Manfred Rietzler
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Smartrac IP BV
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to DE1996120242 priority Critical patent/DE19620242C2/en
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP52888497A priority patent/JP3721520B2/en
Priority to KR10-1998-0706216A priority patent/KR100373063B1/en
Priority to AU28463/97A priority patent/AU709049B2/en
Priority to DE59701709.3T priority patent/DE59701709C5/en
Priority to CN97192030A priority patent/CN1119768C/en
Priority to AT97914139T priority patent/ATE193136T1/en
Priority to ES97914139T priority patent/ES2146989T3/en
Priority to US09/117,970 priority patent/US6233818B1/en
Priority to CA002449413A priority patent/CA2449413C/en
Priority to CA002245775A priority patent/CA2245775C/en
Priority to PCT/DE1997/000261 priority patent/WO1997030418A2/en
Priority to EP97914139A priority patent/EP0880754B1/en
Publication of DE19620242A1 publication Critical patent/DE19620242A1/en
Application granted granted Critical
Publication of DE19620242C2 publication Critical patent/DE19620242C2/en
Priority to US09/918,126 priority patent/US6698089B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07749Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card
    • G06K19/07773Antenna details
    • G06K19/07777Antenna details the antenna being of the inductive type
    • G06K19/07779Antenna details the antenna being of the inductive type the inductive antenna being a coil
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07749Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07749Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card
    • G06K19/07773Antenna details
    • G06K19/07777Antenna details the antenna being of the inductive type
    • G06K19/07779Antenna details the antenna being of the inductive type the inductive antenna being a coil
    • G06K19/07781Antenna details the antenna being of the inductive type the inductive antenna being a coil the coil being fabricated in a winding process

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Kontaktierung eines Drahtleiters mit den Merkmalen des Anspruchs 1 sowie eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens mit den Merkmalen des Anspruchs 15.The present invention relates to a method for contacting a Wire conductor with the features of claim 1 and a device to carry out the method with the features of claim 15.

Insbesondere bei der Herstellung von auf einem Substrat angeordneten Transpondereinheiten, die als wesentliche Elemente eine Drahtspule und eine mit den Spulenenden kontaktierte Chipeinheit aufweisen, erweist sich die Kontaktierung der Spulenenden mit den Anschlußflächen der Chipein­ heit als besonderes Problem. Im wesentlichen liegt dies in den sehr kleinen Abmessungen der miteinander zu verbindenden Komponenten begründet. So weisen die in der Regel quadratisch oder annähernd quadratisch ausgebildeten Anschlußflächen einer Chipeinheit standardmäßig eine Kantenlänge von ca. 100 bis 150 µm auf. Als Spulendraht wird insbesonde­ re zur Ausbildung von Niederfrequenzspulen ein Kupferdraht verwendet, dessen Durchmesser in der Regel bei 50 µm liegt.In particular in the production of arranged on a substrate Transponder units, the essential elements of a wire coil and have a chip unit contacted with the coil ends, proves contacting the coil ends with the pads of the chip as a special problem. This is essentially due to the very small ones Dimensions of the components to be connected together. They usually have a square or approximately square shape trained pads of a chip unit by default Edge length of approx. 100 to 150 µm. In particular, as coil wire re uses a copper wire to form low frequency coils, whose diameter is usually 50 microns.

Wie etwa aus der WO 91/16718 A1 zu ersehen ist, wurde in der Vergangen­ heit eine direkte Kontaktierung der Spulendrahtenden mit den Anschluß­ flächen einer Chipeinheit dadurch umgangen, daß als Kopplungselement zwischen den Spulendrahtenden einer auf einem Spulensubstrat angeord­ neten Drahtspule und den Anschlußflächen der Chipeinheit ein vergrößerte Anschlußflächen aufweisendes Kontaktsubstrat verwendet wurde, so daß aufgrund der im Vergleich zum Spulendrahtdurchmesser sehr groß bemes­ senen Kontaktflächen des Kontaktsubstrats eine Kontaktierung ohne große Anforderung an die Genauigkeit der Relativpositionierung zwischen den Spulendrahtenden und den Kontaktflächen erfolgen konnte. Da bei dem bekannten Verfahren die Chipeinheit zur Kontaktierung mit den vergrö­ ßerten Anschlußflächen des Substrats mit zusätzlichen Kontaktleitern versehen ist, sind bei dem aus der WO 91/16718 A1 bekannten Herstellungs­ verfahren insgesamt mindestens drei Kontaktierungsschritte erforderlich, um schließlich einen elektrisch leitenden Kontakt zwischen den Anschluß­ flächen der Chipeinheit und der Drahtspule herzustellen.As can be seen from WO 91/16718 A1, has been in the past means direct contacting of the coil wire ends with the connection bypassed areas of a chip unit in that as a coupling element one located on a coil substrate between the coil wire ends Neten wire coil and the pads of the chip unit an enlarged  Contact substrate having pads was used so that due to the very large dimensions compared to the coil wire diameter contact surfaces of the contact substrate without large contact Requirement for the accuracy of the relative positioning between the Coil wire ends and the contact surfaces could be done. Because with that known method the chip unit for contacting with the magn esser contact surfaces of the substrate with additional contact conductors is provided are in the manufacture known from WO 91/16718 A1 procedure requires a total of at least three contacting steps, to finally make an electrically conductive contact between the connector to produce surfaces of the chip unit and the wire coil.

Aus der WO 93/20537 A1 ist ein Verfahren zur Kontaktierung eines Drahtleiters einer Spule mit einer Chipeinheit bekannt, bei dem die Draht­ enden der unabhängig von einem Substrat hergestellten Spule vor der Kontaktierung mit der Chipeinheit auf einem seitlich am Spulenkörper angeordneten Chipsubstrat fixiert werden.WO 93/20537 A1 describes a method for contacting a Wire conductor of a coil with a chip unit is known, in which the wire ends of the coil produced independently of a substrate in front of the Contact with the chip unit on one side of the coil body arranged chip substrate can be fixed.

Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfah­ ren sowie eine zugehörige Vorrichtung vorzuschlagen, die bei der Herstellung einer Transpondereinheit die unmittelbare Kontaktie­ rung ohne zusätzliches Chipsubstrat von Drahtenden einer Spule auf den Anschlußflächen einer Chipeinheit ermög­ licht.The present invention is therefore based on the object of a method ren and propose an associated device that the direct Kontaktie in the manufacture of a transponder unit tion without additional chip substrate from wire ends of a coil on the pads of a chip unit light.

Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren mit den Merkmalen des An­ spruchs 1 bzw eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 15 gelöst.This task is accomplished by a process with the characteristics of the An claim 1 or a device with the features of claim 15 solved.

Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird bei der Herstellung einer auf einem Spulensubstrat ausgebildeten, eine Drahtspule und eine Chipeinheit aufweisenden Transpondereinheit in einem ersten Verfahrensschritt der Spulendraht über die zugeordnete Anschlußfläche der Chipeinheit bzw. einen zur Aufnahme dieser Anschlußfläche bestimmten Raum geführt und auf dem Spulensubstrat fixiert. Hierdurch ist nach Ausführung des ersten Ver­ fahrensschritts eine exakt definierte Ausrichtung des Spulendrahts relativ zur Anschlußfläche gegeben. Im zweiten Verfahrensschritt erfolgt dann die Verbindung des Drahtleiters mit der Anschlußfläche mittels einer Verbindungseinrichtung.In the method according to the invention, a a coil substrate, a wire coil and a chip unit having transponder unit in a first process step Coil wire over the assigned connection area of the chip unit or a space intended for receiving this connection surface and fixed on the coil substrate. This is after execution of the first Ver relative precise orientation of the coil wire given to the pad. The second step then takes place the connection of the wire conductor to the pad by means of a Connecting device.

Aufgrund des erfindungsgemäßen Verfahrens entfällt die Notwendigkeit zur Kontaktierung der Anschlußflächen der Chipeinheit mit den Spulenen­ den ein gesondertes Kontaktsubstrat, auf dem vergrößerte Anschlußflä­ chen ausgebildet sind, vorzusehen. Vielmehr dient quasi als Kontaktie­ rungs- oder Positionierungshilfe zur Relativpositionierung der Spulenen­ den gegenüber den Anschlußflächen der Chipeinheit das ohnehin als Substrat für die Drahtspule verwendete Spulensubstrat, das beispielsweise in dem Fall, daß die Transpondereinheit zur Herstellung einer Chipkarte dienen soll, durch einen den Chipkartenabmessungen entsprechenden Kunststoffträgerbogen gebildet ist. Dabei kann die Chipeinheit sowohl in einer hierfür vorgesehenen Ausnehmung des Spulensubstrats angeordnet sein, als auch auf der Oberfläche des Spulensubstrats vorgesehen sein. Die erste Alterna­ tive bildet die Möglichkeit die Chipeinheit wahlweise bereits vor Fixie­ rung der Drahtleiter in der Ausnehmung anzuordnen, oder auch die Chipeinheit erst nach erfolgter Fixierung der Drahtleiter in die Ausneh­ mung einzuführen, um anschließend die eigentliche Kontaktierung der Drahtleiter auf den Anschlußflächen durchzuführen.Because of the method according to the invention, the need is eliminated for contacting the pads of the chip unit with the coils a separate contact substrate, on the enlarged pad  Chen are trained to provide. Rather, it serves as a contact Positioning aid for the relative positioning of the coils which compared to the pads of the chip unit anyway as Substrate used for the wire coil, the coil substrate, for example in the event that the transponder unit for producing a chip card should serve, by a corresponding to the chip card dimensions Plastic carrier sheet is formed. The chip unit can both in a recess of the coil substrate provided for this purpose can be arranged as also be provided on the surface of the coil substrate. The first alterna tive provides the option of pre-fixing the chip unit To arrange the wire conductor in the recess, or the Chip unit only after the wire conductors have been fixed in the recess to introduce the actual contacting of the Perform wire conductors on the connection surfaces.

Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht somit aufgrund der auf dem Spulensubstrat fixierten Drahtleiter eine vereinfachte Kontaktierung der Drahtleiter mit den Anschlußflächen der Chipeinheit.The method according to the invention thus enables on the basis of Coil substrate fixed wire conductor a simplified contacting of the Wire conductor with the pads of the chip unit.

Um eine zuverlässige und betriebssichere Kontaktierung zwischen dem Drahtleiter und den standardmäßig durch Aluminiumoberflächen gebilde­ ten Anschlußflächen der Chipeinheit zu erzielen, ist es insbesondere bei Verwendung eines Kupferdrahtleiters vorteilhaft, die Aluminiumoberfläche der Anschlußflächen einer Vorbehandlung zu unterziehen. Bei einer besonders vorteilhaften Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfah­ rens wird die Vorbehandlung der Aluminiumoberfläche quasi in den eigentlichen Verbindungsvorgang, also die Kontaktierung des Drahtleiters mit den Anschlußflächen, integriert, dadurch, daß die Verbindung des Drahtleiters mit den Anschlußflächen mittels einer als Ultraschalleinrich­ tung ausgebildeten Verbindungseinrichtung erfolgt. Hierbei wird eine auf der Aluminiumoberfläche angeordnete Oxidschicht durch Beaufschlagung der Oxidschicht mit den Ultraschallschwingungen der Ultraschalleinrich­ tung mechanisch beseitigt. Diese Art der im wesentlichen zeitgleich mit dem eigentlichen Verbindungsvorgang erfolgenden Reinigung der Alumi­ niumoberflächen von der Oxidschicht weist den besonderen Vorteil auf, daß auf besondere Maßnahmen hinsichtlich einer Abschirmung der Verbin­ dungsstellen vor Umgebungseinflüssen, beispielsweise durch Ausbildung einer inerten oder reduzierenden Atmosphäre, die die Ausbildung einer erneuten Oxidschicht vor Durchführung des Verbindungsvorgangs verhin­ dern sollen, verzichtet werden kann.To ensure reliable and reliable contact between the Wire conductor and the standard formed by aluminum surfaces To achieve th pads of the chip unit, it is particularly in Using a copper wire conductor is beneficial to the aluminum surface to pretreat the pads. At a particularly advantageous embodiment of the inventive method The pretreatment of the aluminum surface is quasi in the actual connection process, that is, the contacting of the wire conductor with the pads, integrated, in that the connection of the Wire conductor with the pads by means of an ultrasound device device trained connecting device takes place. Here one is on oxide layer arranged on the aluminum surface by exposure the oxide layer with the ultrasonic vibrations of the ultrasonic device mechanically eliminated. This kind of essentially coincides with the actual connection process, cleaning the aluminum  nium surfaces from the oxide layer has the particular advantage that special measures regarding shielding of the verbin Development sites against environmental influences, for example through training an inert or reducing atmosphere that prevents the formation of a Prevent another oxide layer before performing the connection process should be dispensed with.

Wird hingegen als Alternative zu der vorgenannten ultraschallinduzierten Entfernung der Oxidschicht in Verbindung mit einem Ultraschallverbin­ dungsvorgang ein vom eigentlichen Verbindungsvorgang entkoppeltes Vorbehandlungs- oder Reinigungsverfahren gewählt, kann der Verbin­ dungsvorgang selbst in einer inerten oder reduzierenden Atmosphäre durchgeführt werden.However, it is used as an alternative to the aforementioned ultrasound-induced Removal of the oxide layer in connection with an ultrasonic compound a decoupled from the actual connection process Pretreatment or cleaning methods selected, the Verbin process even in an inert or reducing atmosphere be performed.

Als besonders vorteilhaft zur Reinigung der Aluminiumoberflächen der Anschlußflächen von Oxidschichten erweist sich der Einsatz von Ätzver­ fahren, die eine große Selektivität aufweisen. Ein Beispiel für Troc­ kenätzverfahren ist das Ionenstrahlenätzen. Aber auch die Verwendung von einfach durchführbaren Verfahren, wie das Naßätzen oder ein Oxid­ schichtabtrag durch Laser-, insbesondere Excimerlaser-Beaufschlagung, ist vorteilhaft.As particularly advantageous for cleaning the aluminum surfaces of the The use of etchers has proven to be the connection surfaces of oxide layers drive that have a high selectivity. An example of Troc The etching process is ion beam etching. But also the use of processes that are easy to carry out, such as wet etching or an oxide layer removal by laser, in particular excimer laser exposure, is beneficial.

Zur Verhinderung einer erneuten Oxidierung der Aluminiumoberfläche besteht auch die Möglichkeit, die Aluminiumoberfläche mit einer mehr­ schichtigen Kontaktmetallisierung mit einer auf die Aluminiumoberfläche als Zwischenschicht aufgebrachten Zinkatschicht und einer darauf ange­ ordneten, für die Kontaktierung mit dem Drahtleiter vorgesehenen Ver­ bindungsschicht zu versehen. Dabei dient die Zinkatschicht in erster Linie dazu, die Oxidschicht auf der Aluminiumoberfläche zu beseitigen, und die Verbindungsschicht, die etwa aus Nickel oder Palladium oder entspre­ chenden Legierungen bestehen kann, zur Verbesserung der Haftung zu den in der Regel als Drahtleiter verwendeten Kupferdrähten.To prevent renewed oxidation of the aluminum surface there is also the possibility of using a more aluminum surface layered contact metallization with a on the aluminum surface zincate layer applied as an intermediate layer and a layer thereon ordered Ver intended for contacting the wire conductor to provide binding layer. The zincate layer serves primarily to remove the oxide layer on the aluminum surface, and the Connection layer, which is made of nickel or palladium or equivalent Alloys can exist to improve the adhesion to the copper wires usually used as wire conductors.

Im Fall der Verwendung einer Ultraschalleinrichtung zur Herstellung der Verbindung zwischen dem Drahtleiter und den Anschlußflächen erweist es sich als besonders vorteilhaft, wenn die durch Ultraschall bewirkte Schwingungsbeaufschlagung des Drahtleiters in einer im wesentlichen zur Anschlußfläche parallelen Ebene und quer, etwa rechtwinklig, zur Längs­ achse des Drahtleiters erfolgt. Mittels der quer zur Drahtlängsachse erfolgenden Ultraschallbeaufschlagung des Drahtleiters lassen sich näm­ lich aufgrund der Querflexibilität des in Längsrichtung beidseitig der Anschlußfläche auf dem Substrat fixierten Drahtleiters die größtmöglichen Relativbewegungen zwischen dem Drahtleiter und der Aluminiumoberflä­ che erzielen.In the case of using an ultrasound device to manufacture the It proves the connection between the wire conductor and the pads  proved to be particularly advantageous if the ultrasound caused Vibration exposure of the wire conductor in a substantially Terminal plane parallel and transverse, approximately at right angles to the longitudinal axis of the wire conductor. By means of the transverse to the longitudinal axis of the wire ultrasound exposure of the wire conductor can be Lich due to the transverse flexibility of the The largest possible Relative movements between the wire conductor and the aluminum surface achieve.

Unabhängig von der Art und Weise der Vorbehandlung sowie der Wahl des Verbindungsverfahrens ist es von besonderem Vorteil, wenn als Spulensubstrat ein Kunststoffträgerbogen verwendet wird, der zusammen mit der Spule und der Chipeinheit ein Karteninlet zur Herstellung einer Kreditkarte oder dergleichen bildet. Alternativ sind auch hiervon abwei­ chende Spulenträgerausbildungen möglich, die in jedem Fall, also unabhängig von der jeweiligen Ausbildung, lediglich eine sichere beidseitige Fixie­ rung des Drahtleiters relativ zu den Anschlußflächen der Chipeinheit ermöglichen müssen. Hierdurch wird auch eine quasi hängende Anordnung und damit eine "schwimmende Aufnahme" des Chips im Substrat möglich. So ist beispielsweise auch die Verwendung eines Papierbogens als Spulen­ substrat möglich, wobei die Fixierung des Drahtleiters auf dem Substrat über eine auf dem Papierbogen vorgesehene, am Drahtleiter haftende Adhäsionsschicht oder auch eine am Drahtleiter selbst vorgesehene Adhäsionsschicht, etwa eine Backlack-Schicht, erfolgen kann.Regardless of the type of pre-treatment and the choice the connection process, it is particularly advantageous if as Coil substrate a plastic backing sheet is used that together with the coil and the chip unit a card inlet for the production of a Credit card or the like forms. Alternatively, these are also different appropriate coil carrier training possible, which in any case, ie regardless of the training, only a secure bilateral fixie tion of the wire conductor relative to the pads of the chip unit must enable. This also creates a quasi hanging arrangement and thus a "floating recording" of the chip in the substrate is possible. For example, the use of a sheet of paper as coils possible substrate, the fixation of the wire conductor on the substrate via one provided on the paper sheet and adhering to the wire conductor Adhesive layer or one provided on the wire conductor itself Adhesive layer, such as a baking varnish layer, can be done.

Unabhängig von der Art des verwendeten Spulensubstrats erweist es sich als vorteilhaft, wenn die Fixierung des Drahtleiters auf dem Substrat durch eine ohnehin zur spulenförmigen Anordnung des Drahtleiters auf dem Substrat eingesetzte Verlegeeinrichtung erfolgt, die eine kontinuierli­ che oder stellenweise Verbindung des Drahtleiters mit der Substratober­ fläche ermöglicht. Dabei erweist es sich insbesondere bei Verwendung von Kunststoffsubstraten als vorteilhaft, wenn als Verlegeeinrichtung eine Ultraschalleinrichtung eingesetzt wird, die eine zumindest teilweise Einbettung des Drahtleiterquerschnitts in die Substratoberfläche und damit eine Fixierung mit guter Haftung ermöglicht.Regardless of the type of coil substrate used, it proves to be as advantageous if the wire conductor is fixed on the substrate due to the coil-shaped arrangement of the wire conductor anyway the substrate used laying device is a continuous che or in places connection of the wire conductor with the substrate surface enables. It proves to be particularly useful when using Plastic substrates as advantageous if a Ultrasonic device is used, which is at least partially  Embedding the wire conductor cross section in the substrate surface and so that fixation with good adhesion is possible.

Eine besonders gute Fixierung des Drahtleiters an der Substratoberfläche und die Herstellung einer besonders zuverlässigen Verbindung des Draht­ leiters mit den Anschlußflächen der Chipeinheit ist möglich, wenn die zur Verlegung und Fixierung des Drahtleiters auf dem Spulensubstrat verwendete Ultraschalleinrichtung eine Schwingungsbeaufschlagung des Drahtleiters quer zur Längsachse des Drahtleiters und quer zur Oberfläche des Substrats bewirkt, und die zur Verbindung des Drahtleiters mit den Anschlußflächen verwendete Ultraschalleinrichtung eine Schwingungsbe­ aufschlagung des Drahtleiters in einer im wesentlichen zum Spulensubstrat parallelen Ebene und quer zur Längsachse des Drahtleiters bewirkt.A particularly good fixation of the wire conductor on the substrate surface and the establishment of a particularly reliable connection of the wire conductor with the pads of the chip unit is possible if the Laying and fixing the wire conductor used on the coil substrate Ultrasonic device a vibration application of the wire conductor transverse to the longitudinal axis of the wire conductor and transverse to the surface of the Causes substrate, and that for connecting the wire conductor with the Pads used an ultrasonic device a Schwingungsbe opening of the wire conductor in an essentially to the coil substrate parallel plane and transversely to the longitudinal axis of the wire conductor.

Eine zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens besonders geeignete Vorrichtung weist eine Ultraschalleinrichtung mit einem den Drahtquerschnitt teilweise umfassenden Schwingungsstempel mit einem Ultraschalloszillator auf, der eine Schwingungsbeaufschlagung des Schwingungsstempels quer zur Längsachse eines durch den Schwingungs­ stempel geführten Drahtleiters aufweist.One particularly for carrying out the method according to the invention suitable device has an ultrasound device with a Partially comprehensive wire cross section with a vibration stamp Ultrasonic oscillator on which a vibration application of the Vibration stamp transverse to the longitudinal axis of one through the vibration stamped wire conductor.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Vorrichtung ist die Ultraschalleinrichtung mit einer Drahtverlegeeinrichtung gekoppelt.According to a preferred embodiment of the device Ultrasonic device coupled to a wire laying device.

Eine besonders einfache Ausbildung der Vorrichtung wird möglich, wenn der Ultraschalloszillator der Ultraschalleinrichtung gleichzeitig zur Ultraschallbeaufschlagung der Verlegeeinrichtung dient, etwa dadurch, daß der Ultraschalloszillator derart angeordnet ist, daß die Achse seiner Wirkrichtung veränderbar ist.A particularly simple design of the device is possible if the ultrasonic oscillator of the ultrasonic device at the same time Ultrasound exposure of the laying device serves, for example, that the ultrasonic oscillator is arranged such that the axis of it Direction of action is changeable.

Nachfolgend wird das erfindungsgemäße Verfahren und eine zur Durch­ führung des Verfahrens geeignete Vorrichtung anhand der Zeichnungen beispielhaft erläutert. Es zeigen:In the following the method according to the invention and one for the through implementation of the method suitable device based on the drawings exemplified. Show it:

Fig. 1 ein Karteninlet einer Chipkarte mit einer aus einer Drahtspule und einer Chipeinheit gebildeten Tanspondereinheit; Fig. 1 is a Karteninlet a chip card having formed of a wire coil and a chip unit Tanspondereinheit;

Fig. 2 eine Schnittdarstellung des in Fig. 1 dargestellten Karteninlets gemäß Schnittlinienverlauf II-II zur Erläuterung des Herstellungsverfah­ rens; Fig. 2 is a sectional view of the card inlet shown in Figure 1 according to section line II-II to explain the manufacturing process.

Fig. 3 eine weitere Schnittdarstellung des in Fig. 1 dargestellten Karten­ inlets gemäß Schnittlinienverlauf III-III; Fig. 3 is another sectional view of the card shown in Figure 1 inlets according to the section line III-III.

Fig. 4 eine in der Ansicht Fig. 2 entsprechende Darstellung zur Erläute­ rung einer alternativen Verfahrensweise mit nachträglicher Applikation einer Chipeinheit; FIG. 4 is a view corresponding to the view in FIG. 2 for explaining an alternative procedure with subsequent application of a chip unit;

Fig. 5 die Kontaktierung der gemäß Fig. 5 nachträglich applizierten Chipeinheit; . Fig. 5 according to the contacting of Fig 5 applied subsequently chip unit;

Fig. 6 eine mögliche Kontaktmetallisierung einer Chipanschlußfläche bei Kontaktierung gemäß dem in Fig. 5 dargestellten Verfahren; FIG. 6 shows a possible contact metallization of a chip pad when making contact according to the method shown in FIG. 5;

Fig. 7 eine weitere Möglichkeit der Kontaktmetallisierung einer Chipan­ schlußfläche; Fig. 7 circuit face, a further possibility of the contact of a Chipan;

Fig. 8 eine in der Ansicht Fig. 2 entsprechende Darstellung einer auf einem Spulensubstrat angeordneten Transpondereinheit. Fig. 8 is a corresponding view in Fig. 2 showing a substrate disposed on a coil transponder unit.

Fig. 1 zeigt ein Chipkarteninlet 10, das zur Herstellung einer hier als Endprodukt nicht näher dargestellten Chipkarte mit beidseitigen Deck­ schichten versehen wird, die in der Regel als Laminatschichten flächen­ deckend auf das Chipkarteninlet aufgebracht werden. Fig. 1 shows a chip card insert 10 , which is provided for the production of a chip card not shown here as an end product with double-sided cover layers, which are generally applied as laminate layers covering the chip card insert.

Das Chipkarteninlet 10 besteht hier aus einem aus Kunststoffmaterial gebildeten Spulensubstrat 11, auf das eine Drahtspule 12 in Verlegetech­ nik aufgebracht ist. Hierzu wird ein Drahtleiter 13 mittels einer in Fig. 1 nicht näher dargestellten Verlegeeinrichtung auf der Oberfläche des Spulensubstrats 11 verlegt und durch eine Ultraschallbeaufschlagung teilweise in das Spulensubstrat 11 eingebettet, wie es der Fig. 2 entnom­ men werden kann.The chip card insert 10 here consists of a coil substrate 11 made of plastic material, to which a wire coil 12 is applied in laying technology. For this purpose, a wire conductor 13 is laid on the surface of the coil substrate 11 by means of a laying device (not shown in more detail in FIG. 1) and partially embedded in the coil substrate 11 by an ultrasound application, as can be seen in FIG. 2.

Wie weiterhin aus der Darstellung gemäß Fig. 1 zu ersehen ist, ist im Spulensubstrat 11 eine Ausnehmung 14 vorgesehen, die zur Aufnahme einer hier durch einen einzelnen Chip 15 gebildeten Chipeinheit dient. Die Chipeinheit kann, wie im vorliegenden Fall, lediglich durch den Chip 15 gebildet sein. Darüber hinaus ist es jedoch möglich, daß die Chipeinheit aus einem sogenannten "Chipmodul" gebildet ist, das einen oder auch mehrere gehäuste Chips aufnimmt.As can further be seen from the illustration according to FIG. 1, a recess 14 is provided in the coil substrate 11 which serves to receive a chip unit formed here by a single chip 15 . As in the present case, the chip unit can only be formed by the chip 15 . In addition, however, it is possible for the chip unit to be formed from a so-called “chip module” which accommodates one or more packaged chips.

Wie weiterhin aus Fig. 1 zu ersehen ist, ist der zur Ausbildung der Drahtspule 12 auf dem Spulensubstrat 11 verlegte Drahtleiter 13 mit Drahtenden 16, 17 auf jeweils einer zugeordneten Anschlußfläche 18 bzw. 19 des Chips 15 kontaktiert.As can further be seen from FIG. 1, the wire conductor 13 laid to form the wire coil 12 on the coil substrate 11 is contacted with wire ends 16 , 17 on an associated connection area 18 and 19 of the chip 15 , respectively.

Ein Verfahren zur Durchführung der Kontaktierung der Drahtenden 16, 17 mit den Anschlußflächen 18, 19 des Chips 15 soll nachfolgend unter Bezugnahme auf Fig. 2 näher erläutert werden. Das in Fig. 2 näher dargestellte Verfahren erfolgt in zwei aufeinanderfolgenden Phasen, die hier zur Unterscheidung mit I und II gekennzeichnet sind. In der mit I bezeichneten Phase erfolgt eine Fixierung des hier abgebildeten Drahten­ des 16 auf dem Spulensubstrat 11, wobei gleichzeitig infolge des vorge­ nannten Verlegeverfahrens zur Aufbringung des Drahtleiters 13 auf die Oberfläche des Spulensubstrats 11 der Drahtleiter 13 über den in der Ausnehmung 14 aufgenommenen Chip 15 hinweggeführt wird. Zur Durchführung des in Fig. 2 dargestellten Verfahrens ist das Spulen­ substrat 11 zusammen mit dem in der Ausnehmung 14 aufgenommenen Chip 15 auf einem Tisch 20 angeordnet.A method for carrying out the contacting of the wire ends 16 , 17 with the connection areas 18 , 19 of the chip 15 will be explained in more detail below with reference to FIG. 2. The process shown in more detail in FIG. 2 takes place in two successive phases, which are identified here by I and II for differentiation. In the phase designated I, the wire 16 shown here is fixed on the coil substrate 11 , at the same time as a result of the aforementioned laying method for applying the wire conductor 13 to the surface of the coil substrate 11 of the wire conductor 13 via the chip 15 accommodated in the recess 14 is led away. To carry out the method shown in FIG. 2, the coil substrate 11 is arranged on a table 20 together with the chip 15 received in the recess 14 .

Als Verlegeeinrichtung wird bei dem in Fig. 2 dargestellten Verfahrens­ beispiel eine Ultraschalleinrichtung 21 verwendet, die mit einem Schwin­ gungsstempel 22 den kontinuierlich aus einem Drahtführer 23 herausge­ führten Drahtleiter 13 in die Oberfläche des Spulensubstrats 11 einbettet und dabei gleichzeitig eine Horizontalbewegung 24 auf der Oberfläche des Spulensubstrats 11 ausführt. Diese mit dem Begriff "verlegen" beschriebe­ ne Applikation des Drahtleiters 13 auf der Oberfläche des Spulensubstrats 11 erfolgt zunächst in dem mit Ia bezeichneten Bereich links der Ausneh­ mung 14, anschließend wird der Drahtleiter 13 mit dem Drahtführer 23 über den in der Ausnehmung 14 angeordneten Chip 15 hinweggeführt, um schließlich rechtsseitig der Ausnehmung 14 in dem mit Ib überschriebenen Bereich mit der Fixierung des Drahtleiters 13 mittels Ultraschallbeauf­ schlagung des Drahtleiters über den Schwingungsstempel 22 fortzufahren. Obwohl bei Verwendung der vorstehend beschriebenen Ultraschallein­ richtung 21 zur Verlegung des Drahtleiters 13 auf dem Spulensubstrat 11 eine sich im wesentlichen über die gesamte Länge des Drahtleiters 13 erstreckende Fixierung desselben auf dem Spulensubstrat 11 ergibt, ist es zur Realisierung des Verfahrensprinzips ausreichend, wenn eine Fixierung des Drahtleiters 13 auf dem Spulensubstrat 11 lediglich in zwei Punkten links und rechts der Ausnehmung 14 erfolgt, um die in Fig. 2 dargestellte lineare Ausrichtung des Drahtleiters 13 über die Anschlußflächen 18, 19 des Chips 15 zu erzielen.As a laying device in the method shown in FIG. 2, an ultrasound device 21 is used, for example, which embeds the vibrating plunger 22, the wire conductor 13 continuously guided out of a wire guide 23 into the surface of the coil substrate 11 and at the same time a horizontal movement 24 on the surface of the Coil substrate 11 executes. This described with the term "relocate" ne application of the wire conductor 13 on the surface of the coil substrate 11 takes place first in the area labeled Ia on the left of the Ausneh tion 14 , then the wire conductor 13 with the wire guide 23 via the arranged in the recess 14 chip 15 , to finally continue on the right-hand side of the recess 14 in the area labeled Ib with the fixing of the wire conductor 13 by means of ultrasound exposure of the wire conductor via the vibration stamp 22 . Although when using the Ultraschallein above-described device 21 to the laying of the wire conductor 13 on the coil substrate 11 thereof, a substantially extending over the entire length of the wire conductor 13 fixing results on the coil substrate 11, it is sufficient for the realization of the process principle, when a fixing of the Wire conductor 13 on the coil substrate 11 takes place only in two points to the left and right of the recess 14 in order to achieve the linear alignment of the wire conductor 13 shown in FIG. 2 via the connection surfaces 18 , 19 of the chip 15 .

Nachdem sich der Drahtleiter 13 in der die zugeordnete Anschlußfläche 18 des Chips 15 überspannenden Position befindet, erfolgt in der mit II gekennzeichneten Phase die Verbindung des Drahtleiters 13 mit der Anschlußfläche 18. Hierzu wird bei dem in Fig. 2 dargestellten Verfah­ rensbeispiel eine weitere Ultraschalleinrichtung 25 verwendet, die, wie insbesondere aus Fig. 3 zu ersehen ist, ein mit einer konkaven Ausneh­ mung versehenes Profilende 26 eines Schwingungsstempels 27 aufweist.After the wire conductor 13 is in the position spanning the associated connection area 18 of the chip 15 , the connection of the wire conductor 13 to the connection area 18 takes place in the phase marked II. To this end, in the illustrated in Fig. 2 procedural rensbeispiel another ultrasonic device 25 is used, which, as can be seen especially from FIG. 3, 26 comprises a mung with a concave profile provided Ausneh end of a vibration punch 27.

Das vorstehend unter Bezugnahme auf die Fig. 2 und 3 beschriebene Verfahren bietet auch die Möglichkeit, durch entsprechende Wahl der Fixierungspunkte des Drahtleiters auf dem Substrat, den Drahtleiter diagonal über die Anschlußflächen hinwegzuführen, um die Überdeckung zwischen dem Drahtleiter und den Anschlußflächen zu erhöhen. Auch können auf die in Fig. 2 dargestellte Art und Weise mehrere Chips oder andere in Reihe liegend auf oder in einem Substrat angeordnete Elemente durch den Drahtleiter verbunden werden.The method described above with reference to FIGS. 2 and 3 also offers the possibility of guiding the wire conductor diagonally over the connection surfaces by appropriately selecting the fixing points of the wire conductor on the substrate, in order to increase the overlap between the wire conductor and the connection surfaces. In the manner shown in FIG. 2, a plurality of chips or other elements arranged in series on or in a substrate can also be connected by the wire conductor.

Fig. 3 zeigt weiterhin deutlich, daß im Gegensatz zu der durch Ultraschall induzierten Schwingungsbeaufschlagung 28, die in Längsrichtung des Schwingungsstempels 22 der Ultraschalleinrichtung 21 erfolgt, die durch Ultraschall induzierte Schwingungsbeaufschlagung 29 des Schwingungs­ stempels 27 quer zur Längsrichtung des Drahtleiters 13 und parallel zur Oberfläche des Spulensubstrats 11 erfolgt. Dieser Schwingungsbeauf­ schlagung 28 wird ein leichter Anpressdruck 30 überlagert, so daß der geführt im Profilende 26 des Schwingungsstempels 27 aufgenommene Drahtleiter 13 im Bereich der Anschlußfläche 18 unter Druck oszillierend über diese hin- und herbewegt wird. Zum einen ergibt sich hierdurch ein Aufreißen und Abtragen etwaiger auf der Anschlußfläche 18 vorhandener Oxidhäute, zum anderen ergibt sich nachfolgend bei entsprechend hohen oder erhöhten Anpressdruck 30 ein Verschweißen des hier aus Kupfer gebildeten Drahtleiters 13 mit der Aluminiumanschlußfläche 18. Falls der Drahtleiter 13 mit einer äußeren Isolierung versehen ist, läßt sich auch diese durch die oszillierende Hin- und Herbewegung im Bereich der Anschlußfläche 18 entfernen, so daß nachfolgend die vorbeschriebene metallische Verbindung zwischen dem unmittelbar zuvor noch durch die Isolierung gegen Oxidation geschützten Drahtleiter und der Anschlußflä­ che möglich wird. Fig. 3 also clearly shows that, in contrast to the ultrasound-induced vibration application 28 , which takes place in the longitudinal direction of the vibration stamp 22 of the ultrasonic device 21 , the ultrasound-induced vibration application 29 of the vibration stamp 27 transversely to the longitudinal direction of the wire conductor 13 and parallel to the surface of the Coil substrate 11 takes place. This Schwingungsbeauf beat 28 is a slight contact pressure 30 superimposed so that the guided in the profile end 26 of the vibration stamp 27 received wire conductor 13 in the area of the pad 18 is oscillated under pressure back and forth over this. On the one hand, this results in tearing and removal of any oxide skins present on the connection surface 18 , and on the other hand, subsequently, with a correspondingly high or increased contact pressure 30 , the wire conductor 13 formed here from copper is welded to the aluminum connection surface 18 . If the wire conductor 13 is provided with external insulation, this can also be removed by the oscillating back and forth movement in the area of the connecting surface 18 , so that subsequently the above-described metallic connection between the wire conductor which was previously protected against oxidation by the insulation and the Connection surface is possible.

In dem in den Fig. 2 und 3 dargestellten Spulensubstrat 11 ist die Aus­ nehmung 14 soviel größer als die entsprechenden Abmessungen des Chips 15 vorgesehen, so daß sich ein umlaufender Spalt 30 zwischen dem Chip 15 und den Rändern der Ausnehmung 14 ergibt. Hierdurch ist quasi eine "schwimmende Aufnahme" des Chips 15 in der Ausnehmung 14 möglich, wobei dieser in seiner Relativlage zum Spulensubstrat 11 zwar im wesent­ lichen definiert ist, jedoch kleinere Relativbewegungen ausführen kann. Hieraus ergibt sich der Vorteil, daß durch den eingangs beschriebenen Laminiervorgang zum Auftrag der beidseitigen Deckschichten auf das Spulensubstrat 11 der Chip den mit dem Laminiervorgang verbundenen Druckbelastungen zumindest teilweise ausweichen kann und somit das Risiko einer Beschädigung des Chips beim Laminiervorgang wesentlich reduziert wird.In the coil substrate 11 shown in FIGS . 2 and 3, the recess 14 is provided so much larger than the corresponding dimensions of the chip 15 , so that there is a circumferential gap 30 between the chip 15 and the edges of the recess 14 . As a result, a "floating recording" of the chip 15 is possible in the recess 14 , which is defined in its relative position to the coil substrate 11 in wesent union, but can perform smaller relative movements. This results in the advantage that the lamination process described at the outset for applying the two-sided cover layers to the coil substrate 11 allows the chip to at least partially avoid the pressure loads associated with the lamination process and thus significantly reduces the risk of damage to the chip during the lamination process.

Um auch bei der vorstehend beschriebenen "schwimmenden Aufnahme" des Chips in der Ausnehmung 14 eine exakte Positionierung des Drahtlei­ ters 13 auf der Anschlußfläche 18 ausführen zu können, kann der Draht­ leiter 13 über eine entsprechende Querbewegungsachse 31 der Ultra­ schalleinrichtung 25 nachgeführt werden.To be able to also perform the above-described "floating picture" of the chips in the recess 14 an exact positioning of Drahtlei ters 13 on the pad 18, the wire guide 13 via a corresponding cross-scan axis 31 of the Ultra can sonic device are tracked 25th

Obwohl unter Bezugnahme auf das in den Fig. 2 und 3 dargestellte Ver­ fahrensbeispiel vorstehend von zwei unterschiedlichen Ultraschalleinrich­ tungen 21 und 25 die Rede war, besteht auch die Möglichkeit, bei ent­ sprechender Ausführung der Ultraschalleinrichtung 21 diese sowohl zur Verlegung bzw. Fixierung des Drahtleiters auf der Oberfläche des Spulen­ substrats 11 als auch zur Verbindung des Drahtleiters 13 mit der jeweils zugeordneten Anschlußfläche 18 bzw. 19 zu verwenden.Although reference was made to two different ultrasonic devices 21 and 25 above with reference to the process example shown in FIGS . 2 and 3, there is also the possibility, with a corresponding design of the ultrasonic device 21, that both for laying or fixing the wire conductor to use the surface of the coil substrate 11 as well as for connecting the wire conductor 13 to the respectively assigned connection surface 18 or 19 .

In den Fig. 4 und 5 ist eine gegenüber den Fig. 2 und 3 leicht variierte Vorgehensweise dargestellt, bei der ein Chip 32 erst nach Fixierung des Drahtleiters 13 auf der Oberfläche des Spulensubstrats 11 beidseitig der Ausnehmung 14 in diese eingeführt wird. Um gleichzeitig mit dem Einfüh­ ren des Chips 32 in die Ausnehmung 14 eine für die nachfolgende Kon­ taktierung des Drahtleiters 13 mit einer zugeordneten Anschlußfläche 33 des Chips 32 geeignete Positionierung zu ermöglichen, ist dieser auf seiner Kontaktseite 34 mit jeweils benachbart einer Anschlußfläche 33 angeordneten, stegartigen Ausrichtungshilfen 35 versehen, die über Führungsschrägen 36 für eine korrekte Relativpositionierung sorgen.In Figs. 4 and 5 is shown a comparison with FIGS. 2 and 3 slightly varied procedure, in which a chip 32 of the recess is introduced into these 14 after fixation of the wire conductor 13 on the surface of the coil substrate 11 on both sides. In order to enable a suitable positioning for the subsequent contacting of the wire conductor 13 with an associated connection surface 33 of the chip 32 at the same time as the introduction of the chip 32 into the recess 14 , the latter is arranged on its contact side 34 with adjacent one connection surface 33 , web-like Alignment aids 35 are provided, which ensure correct relative positioning via guide slopes 36 .

Fig. 5 zeigt außerdem eine alternativ zur Ultraschalleinrichtung 25 als Verbindungseinrichtung einsetzbare Thermodeneinrichtung 37, die eine Verbindung des Drahtleiters unter Druck und Temperaturbeaufschlagung mit der zugeordneten Anschlußfläche 33 ermöglicht. Grundsätzlich besteht auch bei beiden in den Fig. 2, 3 bzw. 5 dargestellten Verbindungsverfahren die Möglichkeit, die Verbindung zwischen dem Drahtleiter und den Anschlußflächen durch eine Überlagerung von Ultraschall- und Tempera­ turbeaufschlagung herzustellen, beispielsweise durch eine beheizbare Ultraschalleinrichtung. Fig. 5 also shows an alternative to the ultrasonic device 25 can be used as connecting device Thermodeneinrichtung 37 which allows connection of the wire conductor under pressure and temperature treatment with the associated connecting surface 33. Basically, there is also the possibility in both of the connection methods shown in FIGS . 2, 3 and 5, the connection between the wire conductor and the pads by superimposing ultrasound and tempera ture, for example, by a heatable ultrasonic device.

Um eine Verbindung des Kupfer-Drahtleiters 13 mit den Aluminium- Anschlußflächen 33 des Chips 32 zu ermöglichen, sind die Anschlußflä­ chen 33 mit einer Kontaktmetallisierung 38 (Fig. 6) oder 39 (Fig. 7) versehen. Die Kontaktmetallisierungen 38, 39 weisen übereinstimmend eine als Zwischenschicht 40 dienende Zinkatschicht auf, die als Grundlage für eine hierauf aufgetragene Nickelschicht 41 im Falle der Kontaktmetal­ lisierung 38 oder Palladiumschicht 42 im Falle der Kontaktmetallisierung 39 dient. Zur Verbesserung der Verbindungseigenschaft bzw. zur Erhö­ hung der Oxidationsbeständigkeit ist die Nickelschicht 41 noch mit einem Goldüberzug 45 versehen. Zur Verdeutlichung der Größenabmessungen werden nachfolgend beispielhaft Schichtstärken, der auf die etwa 1 bis 2 µm starke Aluminiumbeschichtung der Anschlußfläche 33 aufgetragenen Schichten angegeben:
In order to enable a connection of the copper wire conductor 13 to the aluminum connection surfaces 33 of the chip 32 , the connection surfaces 33 are provided with a contact metallization 38 ( FIG. 6) or 39 ( FIG. 7). The contact metallizations 38 , 39 consistently have a zincate layer serving as an intermediate layer 40 , which serves as the basis for a nickel layer 41 applied thereon in the case of the contact metalization 38 or palladium layer 42 in the case of the contact metallization 39 . To improve the connection property or to increase the oxidation resistance, the nickel layer 41 is also provided with a gold coating 45 . In order to illustrate the size dimensions, the following is an example of the layer thicknesses of the layers applied to the approximately 1 to 2 μm thick aluminum coating of the connecting surface 33 :

Zinkatschicht: d = 150 nm;
Nickelschicht: d = 1-5 µm
Palladiumschicht: d = 1-5 µm;
Gold-Überzug: d = 100-150 nm.
Zincate layer: d = 150 nm;
Nickel layer: d = 1-5 µm
Palladium layer: d = 1-5 µm;
Gold plating: d = 100-150 nm.

Fig. 8 zeigt schließlich noch in einer Variante zu der Darstellung gemäß Fig. 1, die Möglichkeit, das vorstehend beschriebene Verfahren zur Direktkontaktierung des Drahtleiters 13 mit zugeordneten Anschlußflä­ chen 18 bzw. 19 des Chips 15 auch anzuwenden, wenn der Chip 15 nicht in einer Ausnehmung, sondern vielmehr auf der Oberfläche eines Substrats 43 angeordnet ist. Bei dem in Fig. 8 dargestellten Substrat 43 kann es sich beispielsweise um ein Papiersubstrat oder auch ein beliebig anderes Substrat handeln. Übereinstimmend mit dem unter Bezugnahme auf die Fig. 2 und 3 erläuterten Verfahren ist auch hier beidseitig eines Aufnah­ me- bzw. Anordnungsbereichs 44 für den Chip 15 eine Fixierung des Drahtleiters 13 in den hier vereinfacht mit Ia und Ib bezeichneten Oberflä­ chenbereichen des Substrats 43 vorgesehen. Fig. 8 shows, finally, in a variant of the representation according to FIG. 1, the possibility of also using the above-described method for direct contacting of the wire conductor 13 with associated connecting surfaces 18 and 19 of the chip 15 when the chip 15 is not in a Recess, but rather is arranged on the surface of a substrate 43 . The substrate 43 shown in FIG. 8 can be, for example, a paper substrate or any other substrate. Corresponding to the method explained with reference to FIGS. 2 and 3, here too, on both sides of a receiving or arrangement area 44 for the chip 15, a fixation of the wire conductor 13 is provided in the surface areas of the substrate 43 , which are simply referred to here as Ia and Ib .

Die in Fig. 8 dargestellte Ausführungsform erscheint insbesondere wegen des besonders dünn ausgebildeten Substrats besonders für die Verwen­ dung als Transponderanordnung bei der Gepäckidentifizierung geeignet. Obwohl in den vorstehenden Ausführungsbeispielen zur Erläuterung des Verfahrens Bezug genommen wird auf aus einer kernlosen Drahtspule und einer Chipeinheit bestehende Transpondereinheiten, können natürlich auch Ferritkernspulen, wie sie beispielsweise zur Herstellung von Fiertranspon­ dern eingesetzt werden, verwendet werden.The embodiment shown in FIG. 8 appears particularly suitable for use as a transponder arrangement in luggage identification, in particular because of the particularly thin substrate. Although reference is made in the above exemplary embodiments to explain the method to transponder units consisting of a coreless wire coil and a chip unit, ferrite core coils, of the kind used, for example, for producing transponders, can of course also be used.

In jedem Fall kann der Chip oder die Chipeinheit vor oder nach der Applikation auf bzw. im Substrat gedünnt werden, um die Flexibilität des Chips zu erhöhen und den Chip gegebenenfalls im Biegeverhalten an das Substrat anzupassen.In any case, the chip or the chip unit before or after the Application on or in the substrate to be thinned to the flexibility of the Increase chips and if necessary the bending behavior of the chip Adapt substrate.

BezugszeichenlisteReference list

1010th

Chipkarteninlet
Chip card inlet

1111

Spulensubstrat
Coil substrate

1212th

Drahtspule
Wire spool

1313

Drahtleiter
Wire conductor

1414

Ausnehmung
Recess

1515

Chip
chip

1616

Drahtende
Wire end

1717th

Drahtende
Wire end

1818th

Anschlußfläche
Pad

1919th

Anschlußfläche
Pad

2020th

Tisch
table

2121

Ultraschalleinrichtung
Ultrasound device

2222

Schwingungsstempel
Vibration stamp

2323

Drahtführer
Wire guide

2424th

Horizontalbewegung
Horizontal motion

2525th

Ultraschalleinrichtung
Ultrasound device

2626

Profilende
End of profile

2727

Schwingungsstempel
Vibration stamp

2828

Schwingungsbeaufschlagung
Vibration application

2929

Schwingungsbeaufschlagung
Vibration application

3030th

Spalt
gap

3131

Querbewegungsachse
Transverse axis of movement

3232

Chip
chip

3333

Anschlußfläche
Pad

3434

Kontaktseite
Contact page

3535

Ausrichtungshilfe
Alignment aid

3636

Führungsschräge
Leading slope

3737

Thermodeneinrichtung
Thermode device

3838

Kontaktmetallisierung
Contact metallization

3939

Kontaktmetallisierung
Contact metallization

4040

Zwischenschicht
Intermediate layer

4141

Nickelschicht
Nickel layer

4242

Palladiumschicht
Palladium layer

4343

Substrat
Substrate

4444

Anordnungsbereich
Arrangement area

4545

Goldüberzug
Gold plating

Claims (18)

1. Verfahren zur Kontaktierung eines Drahtleiters (13) bei der Her­ stellung einer auf einem Spulensubstrat (11) ausgebildeten, eine Drahtspule (12) und eine Chipeinheit (15) aufweisenden Transpon­ dereinheit, bei dem in einer ersten Phase der Drahtleiter (13) über die Anschlußfläche (18, 19) oder einen die Anschlußfläche aufneh­ menden Bereich hinweggeführt und relativ zur Anschlußfläche (18, 19) bzw. dem der Anschlußfläche zugeordneten Bereich auf dem Spulensubstrat (11) fixiert wird, und in einer zweiten Phase die Verbindung des Drahtleiters (13) mit der Anschlußfläche (18, 19) mittels einer Verbindungseinrichtung (25, 37) erfolgt. 1. A method for contacting a wire conductor ( 13 ) in the manufacture of a formed on a coil substrate ( 11 ), a wire coil ( 12 ) and a chip unit ( 15 ) having transponder unit, in which in a first phase the wire conductor ( 13 ) the connection surface ( 18 , 19 ) or a region receiving the connection surface is guided away and fixed on the coil substrate ( 11 ) relative to the connection surface ( 18 , 19 ) or the region assigned to the connection surface, and in a second phase the connection of the wire conductor ( 13 ) with the connecting surface ( 18 , 19 ) by means of a connecting device ( 25 , 37 ). 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß vor der Verbindung des Drahtleiters (13) mit der Anschlußflä­ che (18, 19) eine Vorbehandlung der Aluminiumoberfläche der An­ schlußfläche (18, 19) erfolgt.2. The method according to claim 1, characterized in that before the connection of the wire conductor ( 13 ) with the Anschlussflä surface ( 18 , 19 ), a pretreatment of the aluminum surface of the connection surface ( 18 , 19 ) is carried out. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Verbindungseinrichtung eine Ultraschalleinrichtung (25) verwendet wird.3. The method according to claim 1 or 2, characterized in that an ultrasonic device ( 25 ) is used as the connecting device. 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Vorbehandlung eine mechanische Beseitigung einer auf der Aluminiumoberfläche angeordneten Oxidschicht mittels Beaufschla­ gung der Anschlußfläche (18, 19) durch die Ultraschalleinrichtung (25) erfolgt.4. The method according to claim 3, characterized in that for the pretreatment mechanical removal of an oxide layer arranged on the aluminum surface by means of exposure of the connection surface ( 18 , 19 ) by the ultrasonic device ( 25 ). 5. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Aluminiumoberfläche zur Vorbehandlung mit einem Reini­ gungsverfahren beaufschlagt wird.5. The method according to claim 2, characterized, that the aluminum surface for pretreatment with a Reini is applied. 6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß als Reinigungsverfahren ein Trockenätzverfahren, ein Naßätz­ verfahren oder eine Laserbeaufschlagung der Aluminiumoberfläche eingesetzt wird.6. The method according to claim 5, characterized, that as a cleaning process a dry etching process, a wet etching process or laser exposure of the aluminum surface is used. 7. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Aluminiumoberfläche zur Vorbehandlung mit einer mehr­ schichtigen Kontaktmetallisierung (38, 39) mit einer auf die Alumi­ niumfläche als Zwischenschicht (40) aufgebrachten Zinkatschicht und einer für die Kontaktierung mit dem Drahtleiter (13) vorgese­ henen Verbindungsschicht (41, 42) versehen wird.7. The method according to claim 2, characterized in that the aluminum surface for pretreatment with a multi-layer contact metallization ( 38 , 39 ) with an aluminum surface as an intermediate layer ( 40 ) applied zincate layer and one for contacting the wire conductor ( 13 ) the connecting layer ( 41 , 42 ) is provided. 8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Verbindungsschicht als eine Nickel- oder Palladium aufwei­ sende Schicht ausgebildet ist. 8. The method according to claim 7, characterized, that the tie layer has a nickel or palladium transmitting layer is formed.   9. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die durch Ultraschall bewirkte Schwingungsbeaufschlagung des Drahtleiters (13) in einer im wesentlichen zur Anschlußfläche (18, 19) parallelen Ebene und quer zur Längsachse des Drahtleiters (13) erfolgt.9. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the vibration caused by ultrasound of the wire conductor ( 13 ) in a substantially to the pad ( 18 , 19 ) parallel plane and transverse to the longitudinal axis of the wire conductor ( 13 ). 10. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die durch Ultraschall bewirkte Schwingungsbeaufschlagung des Drahtleiters (13) zur bereichsweisen Entfernung einer Drahtleiteriso­ lierung dient.10. The method according to claim 9, characterized in that the vibration caused by ultrasound of the wire conductor ( 13 ) serves for the area-wise removal of a wire wire insulation. 11. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Fixierung des Drahtleiters (13) auf einem Kunststoffträger­ bogen erfolgt, der zusammen mit dem Drahtleiter (13) und dem Chip (15) ein Karteninlet (10) zur Herstellung einer Chipkarte bil­ det.11. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the fixing of the wire conductor ( 13 ) is carried out on a plastic carrier which, together with the wire conductor ( 13 ) and the chip ( 15 ), a card inlet ( 10 ) for producing a chip card bil det. 12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Fixierung des Drahtleiters (13) auf dem Kunststoffträgerbo­ gen und die Verbindung des Drahtleiters mit den Anschlußflächen des Chips (15) zur Ausbildung einer mechanischen Aufhängung des Chips am Kunststoffträgerbogen dient.12. The method according to claim 11, characterized in that the fixing of the wire conductor ( 13 ) on the Kunststoffträgerbo gene and the connection of the wire conductor with the connection surfaces of the chip ( 15 ) is used to form a mechanical suspension of the chip on the plastic carrier sheet. 13. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Fixierung des Drahtleiters (13) durch Verlegung mit einer eine Ultraschalleinrichtung aufweisenden Verlegevorrichtung er­ folgt. 13. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the fixing of the wire conductor ( 13 ) by laying with an ultrasonic device having a laying device, it follows. 14. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Ultraschalleinrichtung (21) zur Verlegung des Drahtleiters (13) auf dem Trägerbogen eine Schwingungsbeaufschlagung des Drahtleiters (13) quer zur Längsachse des Drahtleiters (13) und quer zur Oberfläche des Trägerbogens bewirkt, und die Ultraschal­ leinrichtung (25) zur Verbindung des Drahtleiters (13) mit der An­ schlußfläche (18, 19) eine Schwingungsbeaufschlagung des Draht­ leiters (13) in einer im wesentlichen zum Trägerbogen parallelen Eben und quer zur Längsachse des Drahtleiters (13) bewirkt.14. The method according to claim 11, characterized in that the ultrasonic device ( 21 ) for laying the wire conductor ( 13 ) on the support sheet causes vibration of the wire guide ( 13 ) transversely to the longitudinal axis of the wire guide ( 13 ) and transversely to the surface of the support sheet, and the ultrasonic device ( 25 ) for connecting the wire conductor ( 13 ) to the connection surface ( 18 , 19 ) causes vibrations of the wire conductor ( 13 ) in a plane parallel to the carrier arch and parallel to the longitudinal axis of the wire conductor ( 13 ). 15. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 14 mit einer Ultraschalleinrichtung (25) mit einem den Drahtquerschnitt des Drahtleiters (13) teilweise umfassenden Schwingungsstempel (27) und einem Ultraschalloszil­ lator, der eine Schwingungsbeaufschlagung des Schwingungsstem­ pels (27) quer zur Längsachse des in einem Profilende (26) des Schwingungsstempels (27) geführten Drahtleiters (13) bewirkt.15. An apparatus for performing the method according to one of claims 1 to 14 with an ultrasonic device (25) lator with a wire cross-section of the wire conductor (13) partially surrounding the vibration punch (27) and a Ultraschalloszil transversely a vibrational loading of the Schwingungsstem pels (27) to the longitudinal axis of the wire conductor ( 13 ) guided in a profile end ( 26 ) of the vibration stamp ( 27 ). 16. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Ultraschalleinrichtung (25) gekoppelt ist mit einer Verlege­ einrichtung.16. The apparatus according to claim 15, characterized in that the ultrasonic device ( 25 ) is coupled to a laying device. 17. Vorrichtung nach Anspruch 15 oder 16, dadurch gekennzeichnet, daß der Ultraschalloszillator der Ultraschalleinrichtung (25) gleich­ zeitig zur Ultraschallbeaufschlagung der Verlegeeinrichtung dient.17. The apparatus of claim 15 or 16, characterized in that the ultrasonic oscillator of the ultrasonic device ( 25 ) serves simultaneously for ultrasound exposure of the laying device. 18. Vorrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß der Ultraschalloszillator derart angeordnet ist, daß die Achse seiner Wirkrichtung veränderbar ist.18. The apparatus according to claim 17, characterized, that the ultrasonic oscillator is arranged such that the axis its direction of action is changeable.
DE1996120242 1996-02-12 1996-05-20 Method and device for contacting a wire conductor in the manufacture of a transponder unit Expired - Lifetime DE19620242C2 (en)

Priority Applications (14)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1996120242 DE19620242C2 (en) 1996-05-20 1996-05-20 Method and device for contacting a wire conductor in the manufacture of a transponder unit
CA002245775A CA2245775C (en) 1996-02-12 1997-02-12 Method and device for bonding a wire conductor
AU28463/97A AU709049B2 (en) 1996-02-12 1997-02-12 Process and device for contacting a wire conductor
DE59701709.3T DE59701709C5 (en) 1996-02-12 1997-02-12 METHOD AND DEVICE FOR CONTACTING A WIRE GUIDE
CN97192030A CN1119768C (en) 1996-02-12 1997-02-12 Method and apparatus for bonding wire conductor
AT97914139T ATE193136T1 (en) 1996-02-12 1997-02-12 METHOD AND DEVICE FOR CONTACTING A WIRE CONDUCTOR
ES97914139T ES2146989T3 (en) 1996-02-12 1997-02-12 PROCEDURE AND DEVICE FOR THE CONTACT OF A WIRE CONDUCTOR.
US09/117,970 US6233818B1 (en) 1996-02-12 1997-02-12 Method and device for bonding a wire conductor
JP52888497A JP3721520B2 (en) 1996-02-12 1997-02-12 Method for contacting wire conductors
KR10-1998-0706216A KR100373063B1 (en) 1996-02-12 1997-02-12 Wire conductor connection method and device
PCT/DE1997/000261 WO1997030418A2 (en) 1996-02-12 1997-02-12 Method and device for bonding a wire conductor
EP97914139A EP0880754B1 (en) 1996-02-12 1997-02-12 Method and device for bonding a wire conductor
CA002449413A CA2449413C (en) 1996-02-12 1997-02-12 Method and device for bonding a wire conductor
US09/918,126 US6698089B2 (en) 1996-02-12 2001-07-30 Device for bonding a wire conductor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1996120242 DE19620242C2 (en) 1996-05-20 1996-05-20 Method and device for contacting a wire conductor in the manufacture of a transponder unit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19620242A1 DE19620242A1 (en) 1997-11-27
DE19620242C2 true DE19620242C2 (en) 1999-11-04

Family

ID=7794780

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1996120242 Expired - Lifetime DE19620242C2 (en) 1996-02-12 1996-05-20 Method and device for contacting a wire conductor in the manufacture of a transponder unit

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE19620242C2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009005570A1 (en) * 2009-01-21 2010-07-22 Mühlbauer Ag Method for producing an antenna on a substrate
US8286332B2 (en) 2006-09-26 2012-10-16 Hid Global Gmbh Method and apparatus for making a radio frequency inlay
US8413316B2 (en) 2007-09-18 2013-04-09 Hid Global Ireland Teoranta Method for bonding a wire conductor laid on a substrate

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102004011929A1 (en) * 2004-03-11 2005-09-29 Conti Temic Microelectronic Gmbh Electrical contact surfaces connection establishing method, involves arranging contact surfaces by irradiating surfaces with laser radiation having power density within specific range
EP2014406A3 (en) 2004-11-02 2010-06-02 HID Global GmbH Relocation device, contacting device, delivery system, relocation and contacting unit production facility and a transponder unit
US7971339B2 (en) 2006-09-26 2011-07-05 Hid Global Gmbh Method and apparatus for making a radio frequency inlay
IL184260A0 (en) 2007-06-27 2008-03-20 On Track Innovations Ltd Mobile telecommunications device having sim/antenna coil interface
US8028923B2 (en) 2007-11-14 2011-10-04 Smartrac Ip B.V. Electronic inlay structure and method of manufacture thereof
DE102009038620B4 (en) 2009-08-26 2012-05-24 Melzer Maschinenbau Gmbh Method and device for producing a transponder unit
DE102011009577A1 (en) * 2011-01-27 2012-08-02 Texas Instruments Deutschland Gmbh RFID transponder and method for connecting a semiconductor die to an antenna
DE102012212996B4 (en) * 2012-07-24 2018-06-28 Toru Takita Method for producing an inlay for a chip card

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991016718A1 (en) * 1990-04-19 1991-10-31 Ake Gustafson Method for assembling a coil on a printed circuit
WO1993020537A1 (en) * 1992-04-01 1993-10-14 Picopak Oy Method for connecting a microcircuit to the inductive coupling coil of a smart card and assembly for an inductively coupled smart card

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1991016718A1 (en) * 1990-04-19 1991-10-31 Ake Gustafson Method for assembling a coil on a printed circuit
WO1993020537A1 (en) * 1992-04-01 1993-10-14 Picopak Oy Method for connecting a microcircuit to the inductive coupling coil of a smart card and assembly for an inductively coupled smart card

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8286332B2 (en) 2006-09-26 2012-10-16 Hid Global Gmbh Method and apparatus for making a radio frequency inlay
US8413316B2 (en) 2007-09-18 2013-04-09 Hid Global Ireland Teoranta Method for bonding a wire conductor laid on a substrate
DE102009005570A1 (en) * 2009-01-21 2010-07-22 Mühlbauer Ag Method for producing an antenna on a substrate
DE102009005570B4 (en) * 2009-01-21 2012-11-29 Mühlbauer Ag Method for producing an antenna on a substrate

Also Published As

Publication number Publication date
DE19620242A1 (en) 1997-11-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0880754B1 (en) Method and device for bonding a wire conductor
DE19525933C2 (en) Method and device for embedding a coil in the carrier substrate of an IC card
DE19620242C2 (en) Method and device for contacting a wire conductor in the manufacture of a transponder unit
DE10014620A1 (en) Electronic chip carrier band manufacturing method has contact elements for applied chips provided by metallized plastics foil or metal foil
WO1997034247A2 (en) Smart card, connection arrangement and method of producing a smart card
DE19709985A1 (en) Smart card for data transmission using contact- or contactless technology
DE202007013680U1 (en) Device for producing a chip card
DE19619771A1 (en) Ultrasonic bonding method e.g. for mounting wire conductor on substrate surface
DE19610044C2 (en) Card body and method for producing a chip card
WO2002056657A1 (en) Method and device for placing conductor wires on or in a supporting layer
EP1983467B1 (en) Data carrier/transmission device and method for manufacturing it
EP2297797B1 (en) Piezoelectric component and method for the manufacture of an electric contact
EP2158566B1 (en) Transponder system
EP1843281A1 (en) Data carrier/transmission device and method for manufacturing such a data carrier/transmission device
WO1999006948A1 (en) Method for producing a chip card for the contactless transmission of data and/or energy, and corresponding chip card
EP0569417B1 (en) Process for making a portable data support
DE10107072B4 (en) Method for producing a chip card
DE102009050386B4 (en) Method for producing plated-through holes
EP1520253B1 (en) Method for the production of electrically-conducting connections on chipcards
DE102007030650B4 (en) Method for producing a chip card
EP0785155A1 (en) Conveyor belt with embedded conductor loops
EP1742173A2 (en) Card and method for its production
DE10236666A1 (en) Method for producing contactless and / or mixed chip cards
DE102006053823B4 (en) Method for laying a wire
DE19947596A1 (en) Chip card manufacture with transfer element attached to card

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: ASSA ABLOY IDENTIFICATION TECHNOLOGY GROUP AB, STO

Owner name: RIETZLER, MANFRED, 87616 MARKTOBERDORF, DE

8328 Change in the person/name/address of the agent

Representative=s name: GRUENECKER, KINKELDEY, STOCKMAIR & SCHWANHAEUSSER

8381 Inventor (new situation)

Inventor name: FINN, DAVID, 87459 PFRONTEN, DE

Inventor name: RIETZLER, MANFRED, 87616 MARKTOBERDORF, DE

8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: SMARTRAC IP B.V., AMSTERDAM, NL

8328 Change in the person/name/address of the agent

Representative=s name: PATENT- UND RECHTSANWAELTE BOECK - TAPPE - V.D. ST

R071 Expiry of right