DE19605855A1 - Detektorobjektiv für Korpuskularstrahlgeräte - Google Patents
Detektorobjektiv für KorpuskularstrahlgeräteInfo
- Publication number
- DE19605855A1 DE19605855A1 DE19605855A DE19605855A DE19605855A1 DE 19605855 A1 DE19605855 A1 DE 19605855A1 DE 19605855 A DE19605855 A DE 19605855A DE 19605855 A DE19605855 A DE 19605855A DE 19605855 A1 DE19605855 A1 DE 19605855A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- lens
- detector
- magnetic
- corpuscular beam
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/04—Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement, ion-optical arrangement
- H01J37/10—Lenses
- H01J37/145—Combinations of electrostatic and magnetic lenses
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/25—Tubes for localised analysis using electron or ion beams
- H01J2237/2505—Tubes for localised analysis using electron or ion beams characterised by their application
- H01J2237/2594—Measuring electric fields or potentials
Description
Die Erfindung betrifft ein Detektorobjektiv für Korpus
kularstrahlgeräte gemäß dem Oberbegriff des Anspruches
1.
Derartige Detektorobjektive werden insbesondere bei der
Entwicklung hochintegrierter mikro- und optoelektroni
scher Bauelemente eingesetzt, die eine prozeßnahe In
spektion und Vermessung der erzeugten Strukturen ermög
lichen. Infolge der ständig weiter fortschreitenden Mi
niaturisierung von integrierten Schaltungen werden de
ren interne Strukturen immer kleiner. So wird sich bei
spielsweise die Leiterbahnbreite der heute fortschritt
lichsten Schaltungen von 0.35 µm in den nächsten Jahren
auf 0.18 µm verringern.
Da die Schichtdicken der in Planartechnik aufgebauten
Schaltungen nicht in gleicher Weise abnehmen können,
wird das Höhe-Breite-Verhältnis der internen Strukturen
um etwa eine Größenordnung steigen. Die "Oberfläche"
der Schaltungen wird im zunehmendem Maße dreidimensio
nal werden.
Zum Testen derartiger integrierter Schaltungen ist ins
besondere ein primärer Korpuskularstrahl mit möglichst
kleinem Strahldurchmesser und zum anderen eine effek
tive Absaugung der ausgelösten Sekundärkorpuskel erfor
derlich.
Ein in dieser Hinsicht besonders leistungsfähiges De
tektorobjektiv wird in der EP-B-0 274 622 beschrieben.
Hierbei wird ein den primären Korpuskularstrahl foku
sierendes Magnetfeld von einem elektrischen Verzöge
rungsfeld überlagert. Dieses kombinierte System hat
deutlich geringere Linsenfehler als eine rein magneti
sche Linse. Das magnetische Feld wird zwischen den Pol
schuhen in der Linse gehalten und hat damit nur eine
fokusierende Wirkung auf den primären Korpuskular
strahl. Auf die Sekundärkorpuskel hat das Magnetfeld
keine Wirkung, solange sie sich noch außerhalb der Ob
jektivlinse in Probennähe befinden. Außerhalb der Ob
jektivlinse ist das elektrische Feld schwach, reicht
jedoch aus, um die Sekundärkorpuskel von der Proben
oberfläche in Richtung Detektor zu beschleunigen.
Ein stärkeres elektrisches Feld zur Verbesserung der
Absaugung der Sekundärelektronen würde bei isolierenden
Probenoberflächen zu starken Aufladungen und insbeson
dere bei gekippten Oberflächen zu starken Verzerrungen
führen.
Gemäß der EP-B-0 333 018 kann das elektrische Feld
durch eine zusätzliche Elektrode gesteuert werden. Da
durch ist eine aufladungsneutrale Vermessung und Abbil
dung isolierender Proben möglich, ohne der jeweiligen
Meßstelle Ladungen zuzuführen oder abzuziehen.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, das De
tektorobjektiv gemäß dem Oberbegriff des Anspruches 1
dahingehend weiterzuentwickeln, daß einerseits eine
Verringerung des Durchmessers des primären Korpuskular
strahles und andererseits eine Verbesserung der Absau
gung der ausgelösten Sekundärkorpuskel ermöglicht wird.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch das kennzeich
nende Merkmal des Anspruches 1 gelöst, indem die Ma
gnetlinse als Einzelpollinse ausgebildet ist.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand
der Unteransprüche.
Die erfindungsgemäße Magnetlinse weist einen inneren
Polschuh sowie einen verkürzten äußeren Polschuh auf.
Dadurch breitet sich das Magnetfeld im wesentlichen au
ßerhalb der Linse aus, so daß es deutlich näher an die
Probe und sogar in der Probe angeordnet werden kann.
Die dadurch bedingte Verringerung der Brennweite stei
gert die Leistungsfähigkeit der Linse, indem sich ins
besondere der Strahldurchmesser des primären Korpusku
larstrahles verringert.
Die an der Probe ausgelösten Sekundärkorpuskel werden
von der Probenoberfläche durch das dort vorhandene ma
gnetische Feld in Spiralen entlang der Feldlinien zum
Detektorobjektiv geführt. Je nach Abstand von Probe und
Detektorobjektiv können die Feldlinien im Bereich der
Probe unter Umständen fast senkrecht verlaufen, wodurch
das Herausführen der Sekundärkorpuskel aus den zuneh
mend dreidimensional werdenden Probenoberflächen ermög
licht wird.
Weitere Vorteile und Ausgestaltungen der Erfindung wer
den anhand der nachfolgenden Beschreibung und der
Zeichnung näher erläutert.
Das in der Zeichnung schematisch dargestellte Detektor
objektiv bildet die Komponente eines Korpuskular
strahlgerätes, insbesondere eines Elektronenstrahlgerä
tes, mit der der von einer Quelle erzeugte primäre Kor
puskularstrahl auf eine Probe 1 fokussiert wird.
Das Detektorobjektiv besteht im wesentlichen aus einer
ein magnetisches Feld erzeugenden Magnetlinse 2 zur Fo
kussierung eines primären Korpuskularstrahles 3 auf die
Probe 1, sowie einem Detektor 4 zum Nachweis der vom
primären Korpuskularstrahl auf der Probe 1 ausgelösten
Sekundärkorpuskeln. Ferner ist eine elektrostatische
Linse 5 zum Abbremsen der Korpuskeln des primären
Korpuskularstrahles 3 und zum Beschleunigen der
Sekundärelektronen vorgesehen. Sie besteht im darge
stellten Ausführungsbeispiel aus einer kegelstumpfför
migen ersten Elektrode 5a und einer zweiten Elektrode
5b.
Als Magnetlinse 2 ist eine konisch ausgebildete Einzel
linse vorgesehen, die einen inneren Polschuh 2a und
einen verkürzten äußeren Polschuh 2b aufweist. Zur Ge
währleistung möglichst geringer Brennweiten und damit
kleiner Farbfehlerkonstanten des Detektorobjektivs wird
der von einer Erregerspule 2c der Magnetlinse 2 er
zeugte magnetische Fluß mit Hilfe des inneren und äuße
ren Polschuhs 2a, 2b auf einen kleinen Raumbereich um
eine Symmetrieachse 6 des Systems konzentriert.
Die erste Elektrode 5a der elektrostatischen Linse 5
ist im gezeigten Ausführungsbeispiel vorzugsweise in
Form eines sich in Richtung der Probe 3 verjüngenden
Kegelstumpfes ausgebildet, die in der konischen Bohrung
des inneren Polschuhs 2a der Magnetlinse 2 konzentrisch
zu deren Symmetrieachse 6 isoliert angeordnet ist.
Die zweite Elektrode 5b wird zwischen der ersten Elek
trode 5a und der Probe 1 vorgesehen und ist im darge
stellten Ausführungsbeispiel am unteren Ende des inne
ren Polschuhs 2a angeordnet. Die zweite Elektrode 5b
ist hier auch kegelstumpfförmig ausgebildet, wobei sie
sich in Richtung auf die Probe 1 verjüngt. Die zweite
Elektrode 5b wird vorzugsweise mit einer (in der Zeich
nung nicht dargestellten) variablen Spannungsquelle
verbunden, um die Intensität des Stromes, der von der
Probe 1 ausgehenden und in Richtung des Detektors 4 be
schleunigten Sekundärkorpuskel zu steuern. Bei entspre
chend eingestellter Spannung an der zweiten Elektrode
ist das elektrische Absaugfeld an der Probenoberfläche
relativ flach. Es beschleunigt aber mit zunehmendem Ab
stand von der Probenoberfläche die Sekundärkorpuskel
auf die Endenergie in Richtung auf den Detektor 4. Die
erste Elektrode 5a wird ebenfalls über eine nicht näher
dargestellte Spannungsquelle beaufschlagt.
Je nach Abstand zwischen Detektorobjektiv und Probe 1
sind die Feldlinien der Magnetlinse 2 im Bereich der
Probe im wesentlichen parallel zur Symmetrieachse 6.
Auf diese Weise werden die Sekundärelektronen von der
Probenoberfläche entlang der Feldlinien bis zur zweiten
Elektrode 2b beschleunigt und gelangen von dort weiter
bis zum Detektor 4. Die Ausbeute der Sekundärelektronen
wird durch die Kombination der magnetischen Einzelpol
linse 2 und der elektrostatischen Linse 5 erheblich
verbessert.
In dem dargestellten Ausführungsbeispiel ist im Bereich
zwischen den beiden Polschuhen 2a, 2b ein Abschlußdeckel 7
vorgesehen, der aus unmagnetischem Material her
gestellt ist und den Raum zwischen den Polschuhen vaku
umdicht verschließt.
Das erfindungsgemäße Detektorobjektiv ist insbesondere
für niederenergetische Korpuskel ausgelegt, die End
energien von < 10 keV und insbesondere < 5 keV besit
zen. Bei Energien < 5 keV reicht die magnetische Feld
stärke nicht aus, um die Primärkorpuskel in ausrei
chendem Maße zu fokussieren. In derartigen Anwendungs
fällen kann jedoch die elektrostatische Linse 5 unter
stützend eingreifen, so daß dadurch der Arbeitsbereich
des beschriebenen Detektorobjektivs auch zu höheren En
ergien erweitert wird. Der bevorzugte Anwendungsbereich
des erfindungsgemäßen Detektorobjektivs liegt jedoch
bei Endenergien der Korpuskel des primären Korpuskular
strahls von < 5 keV.
Das für die Absaugung der Sekundärkorpuskel so ge
eignete Magnetfeld durchdringt zwangsläufig die Probe 1
und Teile eines Positioniertisches. Dabei könnten ma
gnetische Proben oder Tischteile das fokussierende Ma
gnetfeld negativ beeinflussen.
Als Hauptanwendungsgebiet für das erfindungsgemäße De
tektorobjektiv kommen daher insbesondere nichtmagneti
sche Proben aus der Halbleiterindustrie in Frage, die
zudem mit niederenergetischen Korpuskeln untersucht
werden können. Bei der Ausgestaltung des Positionierti
sches sind zudem magnetische Teile zu vermeiden.
Das Detektorobjektiv ist nicht auf eine konische bzw.
kegelstumpfförmige Ausbildung von Magnetlinse 2 und
elektrostatischer Linse 5 beschränkt. Im Rahmen der Er
findung sind insbesondere auch zylindrische Ausbil
dungen denkbar. Ferner kann die elektrostatische Linse
lediglich eine Elektrode aufweisen, wobei die Gegen
elektrode dann beispielsweise durch die Probe selbst
gebildet werden könnte.
Während der Detektor 4 im dargestellten Ausführungsbei
spiel - in Richtung des primären Korpuskularstrahles
gesehen - vor der Magnetlinse angeordnet ist, könnte
dessen Anordnung auch innerhalb der Magnetlinse vorge
sehen werden.
Claims (10)
1. Detektorobjektiv für Korpuskularstrahlgeräte mit
- a) einer ein magnetisches Feld erzeugenden Magnet linse (2) zur Fokussierung eines primären Kor puskularstrahles (3) auf eine Probe (1),
- b) einem Detektor (4) zum Nachweis der vom primären Korpuskularstrahl (3) auf der Probe ausgelösten Sekundärkorpuskeln,
- c) sowie einer, elektrostatischen Linse (5) zum Ab bremsen der Korpuskeln des primären Korpuskular strahls (3) und zum Beschleunigen der Sekundär elektronen, dadurch gekennzeichnet, daß die Magnetlinse (1) als Einzelpollinse ausgebildet ist.
2. Detektorobjektiv nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die elektrostatische Linse (5) wenig
stens eine Elektrode (5a) innerhalb der Magnetlinse
(2) aufweist.
3. Detektorobjektiv nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die elektrostatische Linse (5) wenig
stens zwei auf unterschiedlichem Potential liegende
Elektroden (5a, 5b) aufweist.
4. Detektorobjektiv nach Anspruch 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß wenigstens eine Elektrode (5b) zur
Steuerung der Intensität des Stromes der vom primä
ren Korpuskularstrahl ausgelösten und in Richtung
des Detektors (4) beschleunigten Sekundärkorpuskeln
ausgebildet ist.
5. Detektorobjektiv nach Anspruch 2 oder 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß zumindest eine Elektrode (5a, 5b)
kegelstumpfförmig ausgebildet ist.
6. Detektorobjektiv nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Detektor (4) - in Richtung des
primären Korpuskularstrahls (3) gesehen - vor dem
Raum zwischen Probe (1) und Magnetlinse (2) angeord
net ist.
7. Detektorobjektiv nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Detektor (4) - in Richtung des
primären Korpuskularstrahls (3) gesehen - vor der
Magnetlinse (2) angeordnet ist.
8. Detektorobjektiv nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die elektrostatische Linse (5) mit ei
nem derartigen Potential beaufschlagbar ist, daß die
Korpuskeln des primären Korpuskularstrahls (3) auf
eine Endenergie < 10 keV, insbesondere < 5 keV abge
bremst werden.
9. Detektorobjektiv nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Magnetlinse (2) konisch ausgebil
det ist und einen inneren sowie einen verkürzten äu
ßeren Polschuh (2a, 2b) aufweist.
10. Detektorobjektiv nach Anspruch 9, dadurch gekenn
zeichnet, daß die elektrostatische Linse (5) eine
kegelstumpfförmige erste Elektrode (5a) sowie eine
im Bereich des inneren Polschuhes (2a) angeordnete
zweite Elektrode (5b) aufweist.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19605855A DE19605855A1 (de) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | Detektorobjektiv für Korpuskularstrahlgeräte |
EP96110765A EP0790634B1 (de) | 1996-02-16 | 1996-07-03 | Elektrostatisch-magnetische Linsenanordnung |
DE69606515T DE69606515T2 (de) | 1996-02-16 | 1996-07-03 | Elektrostatisch-magnetische Linsenanordnung |
US08/791,091 US5780859A (en) | 1996-02-16 | 1997-01-29 | Electrostatic-magnetic lens arrangement |
JP02909397A JP3170680B2 (ja) | 1996-02-16 | 1997-02-13 | 電界磁気レンズ装置及び荷電粒子線装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19605855A DE19605855A1 (de) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | Detektorobjektiv für Korpuskularstrahlgeräte |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19605855A1 true DE19605855A1 (de) | 1997-08-21 |
Family
ID=7785635
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19605855A Withdrawn DE19605855A1 (de) | 1996-02-16 | 1996-02-16 | Detektorobjektiv für Korpuskularstrahlgeräte |
DE69606515T Revoked DE69606515T2 (de) | 1996-02-16 | 1996-07-03 | Elektrostatisch-magnetische Linsenanordnung |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69606515T Revoked DE69606515T2 (de) | 1996-02-16 | 1996-07-03 | Elektrostatisch-magnetische Linsenanordnung |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0790634B1 (de) |
DE (2) | DE19605855A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19845329C2 (de) * | 1998-03-10 | 2001-09-27 | Erik Essers | Rasterelektronenmikroskop |
US6590210B1 (en) | 1998-03-10 | 2003-07-08 | Erik Essers | Scanning electron microscope |
US6949744B2 (en) | 2003-04-17 | 2005-09-27 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Electron microscopy system, electron microscopy method and focusing system for charged particles |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE59711915D1 (de) * | 1997-09-29 | 2004-10-21 | Advantest Corp | Objektivlinse |
EP0989583A1 (de) * | 1998-09-25 | 2000-03-29 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Verfahren und Vorrichtung zur Fokusierung eines Ladungsträgerstrahls |
EP1022766B1 (de) * | 1998-11-30 | 2004-02-04 | Advantest Corporation | Teilchenstrahlgerät |
EP1432008B1 (de) * | 2002-12-17 | 2010-05-05 | ICT, Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik Mbh | Mehrachsige Verbundlinse, Strahlvorrichtung und Verfahren zur Anwendung dieser kombinierten Linse |
EP2629317B1 (de) | 2012-02-20 | 2015-01-28 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Teilchenstrahlvorrichtung mit dynamischem Fokus und Verfahren zu deren Betrieb |
US10504684B1 (en) * | 2018-07-12 | 2019-12-10 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | High performance inspection scanning electron microscope device and method of operating the same |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0259907A1 (de) * | 1986-08-27 | 1988-03-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Elektronen-Nachweis mit Energie-Unterscheidung |
EP0274622A1 (de) * | 1986-12-12 | 1988-07-20 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Detektoranordnung mit einem Detektorobjektiv für Korpuskularstrahlgeräte |
EP0333018A2 (de) * | 1988-03-17 | 1989-09-20 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Objektivlinse zur Fokussierung geladener Teilchen |
EP0548573A2 (de) * | 1991-11-27 | 1993-06-30 | Hitachi, Ltd. | Elektronenstrahlgerät |
DE4236273A1 (en) * | 1992-10-27 | 1993-07-01 | Siemens Ag | Lens for focussing electrons for specimen inspection - has field generated by coils and cone-shaped electrode set into entry section |
EP0592899A1 (de) * | 1992-10-15 | 1994-04-20 | Hitachi, Ltd. | Raster-Elektronenmikroskop |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2922325A1 (de) * | 1979-06-01 | 1980-12-11 | Philips Patentverwaltung | Rasterelektronenmikroskop |
ATE91822T1 (de) * | 1986-04-24 | 1993-08-15 | Integrated Circuit Testing | Elektrostatisch-magnetische-linse fuer korpuskularstrahlgeraete. |
JPH0636346B2 (ja) * | 1988-03-09 | 1994-05-11 | セイコー電子工業株式会社 | 荷電粒子線装置及びこれによる試料観察方法 |
JP2777840B2 (ja) * | 1990-11-30 | 1998-07-23 | セイコーインスツルメンツ株式会社 | 電子線装置 |
-
1996
- 1996-02-16 DE DE19605855A patent/DE19605855A1/de not_active Withdrawn
- 1996-07-03 DE DE69606515T patent/DE69606515T2/de not_active Revoked
- 1996-07-03 EP EP96110765A patent/EP0790634B1/de not_active Revoked
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0259907A1 (de) * | 1986-08-27 | 1988-03-16 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Elektronen-Nachweis mit Energie-Unterscheidung |
EP0274622A1 (de) * | 1986-12-12 | 1988-07-20 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Detektoranordnung mit einem Detektorobjektiv für Korpuskularstrahlgeräte |
EP0333018A2 (de) * | 1988-03-17 | 1989-09-20 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Objektivlinse zur Fokussierung geladener Teilchen |
EP0548573A2 (de) * | 1991-11-27 | 1993-06-30 | Hitachi, Ltd. | Elektronenstrahlgerät |
EP0592899A1 (de) * | 1992-10-15 | 1994-04-20 | Hitachi, Ltd. | Raster-Elektronenmikroskop |
DE4236273A1 (en) * | 1992-10-27 | 1993-07-01 | Siemens Ag | Lens for focussing electrons for specimen inspection - has field generated by coils and cone-shaped electrode set into entry section |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19845329C2 (de) * | 1998-03-10 | 2001-09-27 | Erik Essers | Rasterelektronenmikroskop |
US6590210B1 (en) | 1998-03-10 | 2003-07-08 | Erik Essers | Scanning electron microscope |
US6949744B2 (en) | 2003-04-17 | 2005-09-27 | Carl Zeiss Nts Gmbh | Electron microscopy system, electron microscopy method and focusing system for charged particles |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0790634A1 (de) | 1997-08-20 |
DE69606515T2 (de) | 2000-06-15 |
EP0790634B1 (de) | 2000-02-02 |
DE69606515D1 (de) | 2000-03-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0274622B1 (de) | Detektoranordnung mit einem Detektorobjektiv für Korpuskularstrahlgeräte | |
EP0333018B1 (de) | Objektivlinse zur Fokussierung geladener Teilchen | |
EP0242602B1 (de) | Elektrostatisch-magnetische-Linse für Korpuskularstrahlgeräte | |
DE69332995T2 (de) | Raster-Elektronenmikroskop | |
EP0218920B1 (de) | Elektronenenergiefilter vom Omega-Typ | |
EP0893816B1 (de) | Korpuskularstrahlgerät | |
EP0267555B1 (de) | Spektrometerobjektiv für Korpuskularstrahlmessgeräte und Verfahren zur Untersuchung von Proben. | |
EP0461442B1 (de) | Teilchenstrahlgerät | |
EP0205184B1 (de) | Abberrationsarmes Spektrometer-Objektiv hoher Sekundärelektronen-Akzeptanz | |
DE69920182T2 (de) | Korpuskularstrahloptisches gerät mit auger-elektronendetektion | |
DE60105199T2 (de) | Sem mit einem sekundärelektronendetektor mit einer zentralelektrode | |
EP1389793B1 (de) | Elektronenmikroskopiesystem | |
DE102013208959A1 (de) | Vorrichtung zur massenselektiven Bestimmung eines Ions | |
EP0218921A2 (de) | Elektronenenergiefilter vom Alpha-Typ | |
DE19605855A1 (de) | Detektorobjektiv für Korpuskularstrahlgeräte | |
EP0205185B1 (de) | Spektrometer-Objektiv für die Elektronenstrahl-Messtechnik | |
DE102019107327A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Elektronentransfer von einer Probe zu einem Energieanalysator und Elektronen-Spektrometervorrichtung | |
DE102020123567A1 (de) | Vielzahl-Teilchenstrahl-System mit Kontrast-Korrektur-Linsen-System | |
EP1774560B1 (de) | Elektronenstrahlgerät | |
DE2331091A1 (de) | Einrichtung zur bestimmung der energie geladener teilchen | |
EP0910108B1 (de) | Elektronenstrahl-Linse | |
DE102010001349B9 (de) | Vorrichtung zum Fokussieren sowie zum Speichern von Ionen | |
DE2004256B2 (de) | Vorrichtung zur festkoerperoberflaechenanalyse mit einer elektronenstrahl-mikrosonde | |
DE69633505T2 (de) | Ablenksystem | |
DE2705430A1 (de) | Elektrostatischer analysator fuer geladene teilchen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OM8 | Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO, JP |
|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: RECHTSANW. UND PAT.-ANW. DR.-ING. DR.JUR. VOLKMAR |
|
8141 | Disposal/no request for examination |