DE19604048C2

DE19604048C2 - Verfahren zum maßstabsgetreuen Erstellen von Aufrißplänen von Gebäuden

Info

Publication number: DE19604048C2
Application number: DE1996104048
Authority: DE
Original assignee: TTC TECHNOLOGIE TRANSFER und C
Current assignee: TTC TECHNOLOGIE TRANSFER und C
Priority date: 1996-02-05
Filing date: 1996-02-05
Publication date: 1998-12-17
Anticipated expiration: 2016-02-06
Also published as: DE19604048A1

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum maßstabsgetreuen Erstellen von Aufrißplänen von Gebäuden gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.

Im Hinblick auf gewisse Auflagen zum Gebäudeschutz und/oder der Denkmalspflege besteht ein gewisser Bedarf, daß von historischen Gebäuden genau maßstabsgerechte Aufrißpläne erstellt werden. Derartige Gebäude sind jedoch vielfach mit einer sehr großen Anzahl von dekorativen Elementen versehen, so daß ein Erfassen aller Details unter Einsatz von photogrammetrischen und/oder theodolitischen Vermessungsverfahren nicht oder nur mit äußerst großem Arbeitsaufwand durchführbar ist.

Theoretisch könnte der Aufrißplan eines mit vielen dekorativen Elementen versehenen Gebäudes auch dadurch erstellt werden, indem senkrecht zu der jeweiligen Gebäudefassade in einem relativ großen Abstand unter Einsatz eines Teleobjektivs eine Photographie der betreffenden Gebäudefassade gemacht wird, welche in der Folge auf den gewünschten Maßstab vergrößert wird. Bei innerhalb von Städten befindlichen Gebäuden ist jedoch ein derartiges photographisches Verfahren prinzipiell nicht durchführbar, weil die gegenüberliegende Straßenzeile ein Photographieren des betreffenden Gebäudes aus einer relativ großen Entfernung heraus unmöglich macht.

In der DE 27 13 903 A1 wird innerhalb der Beschreibungseinleitung auf ein Verfahren hingewiesen, bei welchem einzelne stereographisch aufge nommene Teilbilder einer Fassade mit photographischen Mitteln entzerrt und zu einer graphischen Darstellung der Fassade zusammengefügt werden. Als nachteilig erweist sich jedoch der Umstand, daß dieses Verfahren sehr aufwendig ist und zudem sehr teure, kompliziert zu bedienende Gerät schaften zur Durchführung der Entzerrung auf optischen Wege erfordert.

Anhand der DE 41 19 180 C2 ist ferner ein Verfahren und eine Vorrichtung bekannt, welche der Vermessung und Dokumentation der Geometrie sowie der Struktur- und Materialbeschaffenheit von dreidimensionalen Objekten, wie Fassaden und Räume sowie deren Wände, Einrichtungen und Installationen dient. Entsprechend diesem Stand der Technik wird z. B. das Bild einer Fassade in einzelne Bildsegmente zerlegt und elektronisch aufgenommen, wobei die Mitte eines Bildsegments mit einem Ziellaser markiert und die Entfernung und Richtung jedes markierten Mittelpunktes bezüglich der Aufnahme einrichtung bestimmt wird. Für die Aufnahme der einzelnen Bildsegmente wird dabei die Entfernungseinstellung entsprechend eingestellt und die Meßwerte in einem elektronischen Speicher abgelegt. Mit den aufgezeichneten Bildern und Meßdaten läßt sich dann eine Fassade z. B. als räumliches Raster modell mit Hilfe eines Computerprogramms berechnen.

Unter Berücksichtigung dieses Standes der Technik ist es Aufgabe der vor liegenden Erfindung, ein sehr einfach und mit geringem technischen Aufwand durchzuführendes Verfahren zu schaffen, mit welchem sehr genaue maßstabsgetreue Aufrißpläne von mit einer Vielzahl von dekorativen Elementen versehenen Gebäuden auch unter beengten räumlichen Verhältnissen herstellbar sind.

Erfindungsgemäß wird dies durch Vorsehen der im kenn zeichnenden Teil des Anspruchs 1 aufgeführten Verfahrens schritte erreicht.

Vorteilhafte Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahrens ergeben sich anhand der Unteransprüche 2 bis 5. Ein sehr zweckmäßiges Hilfsmittel zur Erleichterung der Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens ergibt sich schließlich anhand des Unter anspruchs 6.

Das erfindungsgemäße Verfahren soll nunmehr im folgenden näher erläutert und beschrieben werden, wobei auf die beigefügte Zeichnung Bezug genommen ist. Es zeigen

Fig. 1 eine photographische Ansicht eines Gebäudes, dessen Fassade mit einer Vielzahl von räumlich vorspringenden dekorativen Elementen versehen ist, und

Fig. 2 eine Ansicht gemäß Fig. 1, welche der Er läuterung des erfindungsgemäßen Verfahrens dient.

Fig. 1 zeigt ein Gebäude aus der Rokokozeit, dessen Fassade 1 mit einer Vielzahl von dekorativen Elementen 2 versehen ist. Die betreffende Fassade 1 gliedert sich dabei jeweils in drei nebeneinanderliegenden Fenstern 3, welche in vier übereinanderliegenden Stockwerken 4 angeordnet sind.

Zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird auf die zu vermessende Fassade 1 des Gebäudes ein Raster 5 gelegt. Entsprechend der vorhandenen Fensterteilung kann dieses Raster 5 gemäß Fig. 2 mit einer Mehrzahl von rechteckigen Rasterfeldern 6 zur Festlegung gelangen, wobei innerhalb jedes dieser Rasterfelder 6 in etwa mittig ein vorhandenes Fenster 3 der zu vermessenden Fassade 1 zu liegen gelangt. Anhand der rechteckigen Rasterfelder 6 ergeben sich somit jeweils vier Rastereckpunkte 7. Soweit diese Rastereckpunkte 7 von den Fenstern 3 der betreffenden Gebäudefassade 1 leicht zu erreichen sind, können dieselben dadurch festgelegt werden, indem an den jeweiligen Rastereckpunkten 7 der Gebäudefassade 1 selbstklebende Folien 8 mit Markierungskreuzen temporär befestigt werden. In jenen Bereichen jedoch, in welchen das physische Erreichen der Rastereckpunkte 7 des Rasters 5 Schwierigkeiten bereitet, kann eine Festlegung der Rastereckpunkte 7 auch dadurch erreicht werden, indem ein geeignet erscheinender Punkt eines vorhandenen dekorativen Elements 2 der Gebäudefassade 1 gewählt wird.

Nachdem alle Rastereckpunkte 7 des auf die Gebäudefassade 1 projizierten Rasters 5 zur Festlegung gelangt sind, erfolgt nunmehr ein erster Schritt der Gebäudevermessung, indem unter Einsatz von photogrammetrischen und/oder theodolitischen Vermessungsverfahren eventuell in Verbindung mit Laserentfernungsmeßverfahren die an der Gebäudefassade 1 festgelegten Rastereckpunkte 7 des Rasters 5 genau in Bezug auf ihre räumliche Koordinaten vermessen werden. Die dabei sich ergebenden Daten werden in der Folge in einen der Auswertung und Erstellung des gewünschten Aufrißplanes dienenden elektronischen Rechner eingegeben.

Im Rahmen eines zweiten Verfahrensschrittes werden die Rasterfelder 6 des über die Gebäudefassade 1 gelegten Rasters 5 vorzugsweise unter Einsatz eines Farbfilmes einzeln photographiert. Dabei erscheint es erstrebenswert, daß bei dieser photographischen Erfassung der Rasterfelder 6 möglichst geringe optische Verzerrungen auftreten, was dadurch erreicht werden kann, indem die einzelnen Rasterfelder 6 entweder unter Einsatz einer Hebebühne oder durch die Fenster eines gegenüberliegenden Gebäudes photographiert werden.

Anhand des belichteten Filmes werden in der Folge vergrößerte Photographien der einzelnen Rasterfelder 6 erstellt, worauf auf den hergestellten Photographien die festgelegten Rastereckpunkte 7 zusätzlich noch optisch markiert werden, soweit sich dies als notwendig erweist.

Die verschiedenen Photographien der Rasterfelder 6 der Gebäudefassade 1 werden schließlich mit Hilfe eines Abtastgerätes in den elektronischen Rechner eingegeben, in welchem durch Schwenkung der Bildebene eine Bildentzerrung vorgenommen wird, soweit sich dies als notwendig erweist. Die vorgenommene elektronische Entzerrung wird dabei so lange fortgeführt, bis die auf den Photographien markierten Rastereckpunkte genau mit den bereits zuvor vermessenen Rastereckpunkten 7 der Gebäudefassade 1 übereinstimmen. Sobald diese Anpassung erreicht ist, werden die zugeführten photographischen Bilder innerhalb des elektronischen Rechners in das vorhandene Bildraster 5 eingesetzt.

Nachdem auf diese Weise die mittels Photographien erstellten Rasterfelder 6 vollkommen in das an der Gebäudefassade 1 festgelegte Raster 1 verzerrungsfrei eingesetzt worden sind, wird das innerhalb des elektro nischen Rechners befindliche Bild unter Einsatz eines Mehrfarbenausdruckgerätes in Echtfarben und in einen gewünschten Maßstab zum Ausdruck gebracht, so daß auf diese Weise ein maßstabsgenauer Aufrißplan der mit einer Vielzahl von dekorativen Elementen versehenen Gebäude fassade 1 zur Verfügung steht.

Claims

1. Verfahren zum maßstabsgetreuen Erstellen von Aufrißplänen von Gebäuden, welche mit einer Vielzahl von räumlich angebrachten dekorativen Elementen versehen sind, dadurch gekennzeichnet,

1. daß an der aufrißmäßig zu erfassenden Gebäude fassade (1) ein aus verschiedenen Rasterfeldern (6) zusammengesetztes Raster (5) zur Festlegung gelangt, bei welchem die Raster- oder Kreuzungspunkte (7) entweder durch bauliche Einzelheiten einer Fassade oder gegenständlich aufgebrachte Meßpunkte festgelegt sind.
2. daß jeweils die an der Gebäudefassade (1) befindlichen Rastereck- bzw. Kreuzungspunkte (7) dieses Rasters (5) unter Einsatz von photogrametrischen und/oder theodolitischen Vermessungsverfahren eventuell in Verbindung mit Laserentfernungsmeßverfahren genau vermessen werden,
3. daß die dabei ermittelten Daten der Rastereck punkte (7) in einen elektronischen Rechner eingegeben werden,
4. ferner daß aus einer möglichst entfernten und im wesentlichen senkrecht zu der Gebäudefassade (1) befindlichen Position die einzelnen Rasterfelder (6) der Gebäudefassade (1) photographisch erfaßt werden;
5. daß die auf diese Weise erstellten Photographien nach entsprechender Markierung der Rastereckpunkte (7) mittels eines Abtastgerätes abgetastet und in den elektronischen Rechner eingegeben werden,
6. daß in der Folge die anhand von Photographien in den elektronischen Rechner eingegebenen Bilder der verschiedenen Rasterfelder (6) der Gebäudefassade (1) durch Verschwenkung und gleichzeitige Maßstabsveränderung soweit entzerrt und größenmäßig verändert werden, bis die vier Rastereckpunkte (7) der photographischen Bilder jedes Rasterfeldes (6) genau und maßstabsgerecht auf die zuvor vermessenen Rastereckpunkte (7) des auf die Gebäudefassade (1) gelegten virtuellen Rasters (5) passen, und
7. daß nach dem Einsetzen aller photographischen Bilder der verschiedenen Rasterfelder (6) in das an der Gebäudefassade (1) festgelegte Raster (5) der dadurch gebildete Aufrißplan der Gebäudefassade (1) unter Einsatz eines Mehrfarbenausdruckgerätes in Echtfarben und in einen gewünschten Maßstab zum Ausdruck gebracht wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das auf die Gebäudefassade (1) gelegte Raster (5) ein Rechteckraster ist.

3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Festlegung des Rasters (1) auf der zu vermessenden Gebäudefassade (1) derart erfolgt, indem jeweils ein Rasterfeld (6) einem Gebäudefenster (3) zugeordnet ist.

4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekenn zeichnet, daß das auf die Gebäudefassade (1) gelegte Raster (5) derart verlegt ist, daß die einzelnen Fenster (3) der Gebäudefassade (1) jeweils in etwa mittig innerhalb der rechteckigen Rasterfelder (6) zu liegen gelangen.

5. Verfahren nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Festlegung der Rastereckpunkte (7) auf der Gebäudefassade (1) dadurch erfolgt, indem jeweils beidseitig eines vorhandenen Fensters (3) mit Markierungskreuzen versehene selbstklebende Folienabschnitte (8) an der zu vermessenen Hausfassade (1) temporär angebracht werden.

6. Meßanordnung zum maßstabsgetreuen Erstellen von Aufrißplänen von Gebäuden, welche zu diesem Zweck in eine Mehrzahl von Rasterfeldern gegliedert werden und die Raster- oder Kreuzungspunkte der Rasterfelder durch gegenständlich aufgebrachte Meßpunkte festgelegt sind, unter Einsatz von photogrammetrischen und/oder theodoli tischen Geräten eventuell in Verbindung mit einem Laser entfernungsgerät, einer elektronischen Auswerteinrichtung sowie einem photographischen Aufnahmegerät zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die gegenständlich angebrachten Meßpunkte (7) selbstklebende Folien (8) sind, welche auf ihren vorderen Flächen mit Markierungskreuzen versehen sind.