DE19535845A1 - Plasmaverfahren zur Herstellung von großflächigen Schichten und Target für das Verfahren - Google Patents
Plasmaverfahren zur Herstellung von großflächigen Schichten und Target für das VerfahrenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von Wär
me- und Sonnenschutzschichten auf Architektur- und Flachglas
sowie ein Target für dieses Verfahren.
Schichten zur Verwendung im Architektur- und Flachglasbereich
werden heute vorwiegend durch Nutzung des Katodenzerstäu
bungsverfahrens hergestellt.
Die Beschichtung erfolgt hierbei in der Regel auf Glas-Sub
strate einer Größe von 6,00 m × 3,21 m, mit einer Dicke zwi
schen 3 mm und 20 mm.
Die Herstellung der Schicht geschieht in sogenannten Inline-
Vakuumanlagen im quasi kontinuierlichen Betrieb mit Anlagen
taktzeiten pro Glassubstrat zwischen 1 min und 5 min.
Besonderer Wert wird aus wirtschaftlichen Gründen auf hohe
Beschichtungsraten bei gleichzeitig höchster Schichthomogeni
tät von etwa 1%-3% der Gesamtschichtdicke gelegt.
Als Beschichtungsmaterialien für die Großflächenbeschichtung
mit Reaktivschichten finden - vor allem aus Kostengründen -
nur wenige Materialien Verwendung:
Targetmaterial | |
Schichtkomponente | |
Zinn | Zinnoxid |
Zinn/Zink-Legierung | Zinn-Zink-Oxid |
Wismut | Wismutoxid |
Titan | Titanoxid, Titannitrid |
Chrom | Chromoxid, Chromnitrid |
Als Target für die Beschichtung finden pulver- oder schmelzme
tallurgisch hergestellte Metalltargets Verwendung.
Um einen genügenden Wärmeübergang zwischen Target und Katoden
körper zu erreichen, werden die Targets auf Metall (Kupfer)-
Platten voll flächig aufgelötet (Bondprozeß).
Es ist dabei kaum möglich, mehr als 70% der Gesamtfläche des
Targets stoffschlüssig zu bonden. Weiterhin gestaltet sich der
sichere Nachweis nichtgebondeter Flächen als technisch sehr
aufwendig.
Zur Herstellung der entsprechenden oxidischen bzw. nitridi
schen Schichten werden als Reaktivgase Sauerstoff oder
Stickstoff dem Sputterprozeß zugesetzt.
Die Dicke der abgeschiedenen Schichten ist der verwendeten
Plasmaleistung proportional. Die durch die Gasentladung frei
gesetzte Energie wird zum großen Teil als Wärmeenergie in das
Target eingetragen und führt zur Erhitzung des Targets.
Bei zu starker Erwärmung der Katode wird das Target durch
Schmelzen zerstört.
Ein ungenügender Wärmeübergang zwischen Target und Katodenküh
lung (Bondungsfehler) führt nachteilig zur Limitierung der
anwendbaren Sputterleistung und damit auch zu einer Ratenbe
grenzung.
Bei der Herstellung von Reaktiv-Schichten kann man zwei stabi
le Betriebszustände, den "metallic mode" und den "reactive mo
de" beobachten, die durch einen instabilen Parameterbereich,
den "transition mode", abrupt getrennt sind.
Die großflächige Herstellung homogener Oxidschichten erfolgt
im "reaktiv mode" bei Verwendung eines deutlichen Reaktiv
gasüberschusses. Infolge der damit verbundenen Bedeckung des
Targets mit einer Oxidhaut (Targetvergiftung) kommt es zu ei
ner drastischen Erniedrigung der Beschichtungsrate, die nur
begrenzt durch Erhöhung der Plasmaleistung ausgeglichen werden
kann.
Die verfahrenstechnische Konsequenz dieser Nachteile ist die
Notwendigkeit, die Anzahl der benutzten Katoden zu erhöhen,
was mit erheblichen Kosten verbunden ist.
Einen Ausweg aus dieser Situation bietet die Stabilisierung
eines Arbeitspunktes im "transition mode". Beschrieben ist das
in "Surface and Coating Technology", 33 (1987) S. 405-423.
Durch die Verwendung eines Plasma-Emissions-Monitors kann an
hand einer charakteristischen Spektrallinie der Plasma-Emis
sion das Metallraten-Reaktivgasverhältnis konstant gehalten
werden. Diese Art der Regelung ist nicht nur technisch aufwen
dig und teuer, sondern sie führt bei der Veränderung der Plas
maleistungsdichte zu instabilen Zuständen im Sputterprozeß.
Die Verbindung eines einerseits stabilen Sputterprozesses mit
den produktionstechnischen Anforderungen nach extremer
Schichthomogenität, hohen Beschichtungsraten und einer defi
nierten chemischen Zusammensetzung ist derzeit nicht erreicht.
Targets für Plasmaverfahren zum großflächigen Beschichten von
Glas können auf verschiedene Weise hergestellt werden.
Bekannt ist nach OS-DE 3318828 ein Verfahren zum Aufbringen
von Targetmaterial auf eine Katodenbasis mittels eines ther
mischen Spritzverfahrens nach vorheriger Oberflächenaufrauhung
und dem Auftragen einer Haftvermittlerschicht. Ein Nachteil
dieses Verfahrens besteht darin, daß der Targetwerkstoff
vollflächig auf die Katodenbasis und damit überflüssigerweise
auch an Stellen der Targetoberfläche vorhanden ist, an denen
er funktionell nicht benötigt wird. Weiterhin ist die aufge
tragene Schicht von etwa 4 mm Dicke ein sehr geringes Materi
alangebot für den Sputterprozeß, so daß ein häufiger Target- und
wie in dem beschriebenen Fall, bei dem der Targetwerkstoff
mit der Katodenbasis fest verbunden ist, Katodenwechsel er
forderlich ist.
Bekannt ist ein Target nach PS-DE 3716852, welches durch ein
pulvermetallurgisches Verfahren aus einem Gemisch von Bi-Pul
ver mit vorher durchreagiertem BiMn-Pulver mit anschließendem
Pressen, Sintern und Strangpressen hergestellt wird. Der vor
geschlagene Verfahrensweg führt zu Sauerstoffgehalten, die als
optimal zwischen 500 und 800 ppm angegeben werden, jedoch für
den Sputterprozeß unter Verwendung von mittels thermischen
Spritzverfahren hergestellten Targets nicht ausreichend sind.
Als nachteilig stellen sich bei diesem Target und dem Verfah
ren zu seiner Herstellung der hohe Fertigungsaufwand durch
mehrere Verfahrensschritte und die teilweise hohen Werkzeug
kosten heraus. Ebenfalls kostenungünstig ist der hohe Materia
leinsatz, wenn das Target direkt auf das Magnetron aufgesetzt
wird, da im Sputterprozeß nur ein Teil des Targets verbraucht
wird. Wird eine Verbesserung des Materialausbringens ange
strebt, ist mindestens ein Lötprozeß auf einen Trägerkörper
erforderlich, was jedoch weitere Kosten verursacht. Eine Rege
nerierung abgesputterter Targets ist in keinem der beiden ge
nannten Fälle möglich. Pulvermetallurgisch hergestellte Tar
gets haben eine eingeschränkte Wärmekapazität und Wärmelei
tung.
Das nach DD 2 77 471 A1 bekannte Verbundtarget besteht aus ei
ner Targetplattenunterlage, in der das Profil des späteren
Sputtergrabens mit dem Targetwerkstoff ausgefüllt ist. In die
ses Profil sind zusätzliche Verhakungsriefen eingearbeitet.
Bei diesem Target reicht der eingebrachte Targetwerkstoff bis
nahezu an die Unterseite des Verbundtargets, wodurch die me
chanische Belastbarkeit zum Ende des Sputterprozesses und bei
einem eventuellen Regenerieren des Targets stark vermindert
ist. Als sehr kostenaufwendig und technisch nicht begründbar
ist das Einbringen der Verhakungsriefen anzusehen.
Der Erfindung liegt das Problem zugrunde, ein Verfahren und
ein Target zu dessen Durchführung bereitzustellen, mit dem
großflächige Beschichtungen mit Wärme- und Sonnenschutz
schichten im Architektur- und Flachglasbereich durch reaktives
DC- bzw. DC-Magnetron-Sputtern von Targets gleichmäßig und mit
hoher Produktivität durchgeführt werden können ohne zusätzli
che anlagentechnische Veränderungen zur Stabilisierung eines
Arbeitspunktes im "transition mode" vornehmen zu müssen.
Erfindungsgemäß wird die Problemstellung dadurch gelöst, daß
der Prozeß so geführt wird, daß am Arbeitspunkt (1) im Über
gangsbereich "transition mode" (2) zwischen den Prozeßzustän
den "metallic mode" (3) und "reactive mode" (4) justiert wird
und daß dafür ein Target verwendet wird, das eine für den
Sputterprozeß erforderliche hohe Wärmekapazität und Wärmeab
leitung sowie ein ständiges und gleichmäßiges Sauerstoffange
bot zur sicheren Prozeßführung im Übergangsbereich "transition
mode" (2) hat.
Das Verfahren läuft so, daß mittels des DC-Magnetron-Katoden
zerstäubungsverfahrens unter Verwendung des erfindungsgemäßen
Targets gemäß der Patentansprüche 2 bis 10 eine Katodenkammer
einer Magnetron-Großflächenbeschichtungsanlage bis zu einem
Druck von 10-4 bis 10-6 mbar evakuiert und mehrere Stunden zur
Desorption von Atmosphärilien bei diesem Druck gehalten wird,
daß anschließend Argongas bis zu einem Druck von 10-2 bis
10-3 mbar in der Weise zudosiert wird, daß bei fortwährendem
Pumpprozeß bei einem Gasfluß von 100 bis 3000 Standardkubik
zentimeter/Minute ein konstanter Druck gehalten wird, daß an
schließend eine elektrische Gleichspannung von 300 bis 700 V
an die im Deckel der Katodenkammer montierte Magnetron-Katode
mit dem auf der Katodenfläche befindlichen Target gelegt wird
und danach ein Plasma gezündet wird und der Targetwerkstoff
abgestäubt wird, daß nach dem Zünden des Plasmas die Plasmalei
stung bei 0,5 bis 3 W/cm² Fläche konstant gehalten wird und
sich eine hohe Katodenspannung einstellt, daß anschließend die
hohe Katodenspannung durch Zudosieren von Sauerstoff als Reak
tivgas im gleichen Maß wie das zudosierte Argongas reduziert
wird, daß anschließend die Grenzplasmaleistung ermittelt wird,
bei der die Gefahr des Schmelzens des Targets besteht, daß an
schließend die Plasmaleistung auf 80 bis 90% der ermittelten
Grenzplasmaleistung eingestellt wird und daß anschließend
durch Regulierung der Reaktivgaszufuhr die Entladung bei einer
Katodenspannung stabilisiert wird, die etwa der Hälfte der
Spannungsdifferenz zwischen dem "metallic mode" (3) und dem
"reactive mode" (4) entspricht.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren wird unter Verwendung der
erfindungsgemäßen Targets ein lanzeitstabiler Beschichtungs
prozeß erreicht.
Die anwendbare Plasmaleistung läßt sich unter Verwendung der
erfindungsgemäßen Targets im Vergleich zu konventionellen
schmelz- oder pulvermetallurgischen Targets wesentlich erhö
hen.
Als vorteilhaft hat sich bei deutlich höherer Sputterrate eine
konstante Sputterleistung herausgestellt. Die herstellbaren
gleichmäßigen Schichten führen zur Verringerung der Ausschuß
quote beim beschichteten Glas.
Das für die Durchführung des erfindungsgemäßen Plasmaverfah
rens benutzte erfindungsgemäße Target besteht aus einem Grund
körper (5) aus einem metallischen Werkstoff mit guter Spanbar
keit und hoher Wärme - und elektrischer Leitfähigkeit. An sei
ner Unterseite befindet sich eine plattenförmige Auflage (6)
mit einer Breite von 100 bis 300 mm, einer Dicke von 3 bis 15
mm und frei wählbarer Länge, in die am Rand Löcher (7) für die
Befestigung des Targets auf dem Sputtermagnetron eingebracht
sind. Oberhalb der plattenförmigen Auflage (6) befindet sich
ein schmalerer Teil (8) mit einer Breite von 60 bis 280 mm, ei
ner Dicke von 5 bis 25 mm und frei wählbarer Länge, in dem
eine oder mehrere muldenförmige und in Längsrichtung des
Grundkörpers mit frei wählbarer Länge verlaufende Vertiefungen
(9), die mit einem für das großflächige Plasmasputtern von
Glas geeigneten Targetwerkstoff gefüllt und stoffschlüssig mit
dem Werkstoff des Grundkörpers (5) verbunden sind. Der Target
werkstoff ist nach vorheriger Oberflächenreinigung und -auf
rauhung mittels eines thermischen Spritzverfahrens mit einem
Energieeintrag von 3 bis 20 kW eingebracht worden.
Der oberhalb der plattenförmigen Auflage befindliche Volumen
anteil des Grundkörpers steht zum Volumen des in der mulden
förmigen Vertiefung befindlichen Targetwerkstoffs im Verhält
nis 1 : 1 bis 1 : 1,5. Im Targetwerkstoff ist eine gleichmäßige
Sauerstoffverteilung von < 2000 ppm vorhanden.
Die Gestalt des Targets und das Volumenverhältnis zwischen dem
Targetwerkstoff und dem Werkstoff des Grundkörpers sind vor
teilhaft für den Wärmehaushalt im Target und verhindern das
Aufschmelzen des Targetwerkstoffs. Durch die stoffschlüssige
Verbindung des Targetwerkstoffs mit dem Werkstoff des Grund
körpers wird die Wärmeableitung zum Magnetron im Vergleich zu
gebondeten Targets verbessert. Die muldenförmige Vertiefung,
in der sich der beim Sputterprozeß verbrauchende Targetwerk
stoff befindet, macht das Target für eine Regenerierung geeig
net, bei der der Sputtergraben erneut mittels eines thermi
schen Spritzverfahrens gefüllt wird. Die gleichmäßige Sauer
stoffverteilung im Targetwerkstoff gewährleistet ein ständiges
zusätzliches Sauerstoffangebot für den Sputterprozeß.
In einer Inline-Sputteranlage wird auf ein Glassubstrat mit
den Abmessungen 6 m × 3,21 m × 4 mm eine dünne Wismutoxid
schicht derart aufgetragen, daß eine weitgehend absorptions
freie Durchsicht im sichtbaren Spektralbereich gewährleistet
ist.
Die Beschichtung erfolgt homogen mittels des DC-Magnetron-Ka
todenzerstäubungsverfahrens unter Verwendung eines unter An
spruch 2 bis 9 beschriebenen Targets aus Wismut/Mangan.
Dazu wird eine Katodenkammer einer Magnetron-Großflächenbe
schichtungsanlage bis zu einem Druck von ca. 1·10-5 mbar eva
kuiert und mehrere Stunden zur Desorption von Atmosphärilien
bei diesem Druck gehalten. Zur Erzeugung einer Plasmaentladung
wird Argongas bis zu einem Druck von etwa 3·10-3 mbar in der
Weise zudosiert, daß bei fortwährendem Pumpprozeß, bei einem
Gasfluß von 600 Standardkubikzentimeter/Minute ein konstanter
Druck erhalten wird.
Durch Anlegen einer elektrischen Gleichspannung von 600 V an
die im Deckel der Katodenkammer montierte Magnetron-Katode
(Länge: 3,6 m, Breite: 0,3 m) wird ein Plasma gezündet und
metallisches Wismut von dem nach Anspruch 2 bis 9 gestaltetem
Target, das auf der Katodenfläche montiert ist, abgestäubt
("metallic mode").
Wird die Plasmaleistung bei etwa 2 W/cm² Targetfläche konstant
gehalten, stellt sich eine charakteristisch hohe Katodenspan
nung ein.
Wird nun im gleichen Maße wie Argon Sauerstoff als Reaktivgas
zudosiert, kommt es zu einer drastischen Reduzierung der Kato
denspannung ("reactive mode"). Durch Erhöhung der Plasmalei
stung wird die Grenzleistung für die Sputteranordnung durch
Erreichen des Schmelzpunktes des Targets im Sputterprozeß er
mittelt.
Danach wird die Plasmaleistung auf etwa 80%-90% des ermit
telten Grenzwertes eingestellt.
Durch Reduzierung des Reaktivgasanteils wird bei konstanter
Leistung ein Anstieg der Katodenspannung gemessen. Die Entla
dung wird bei einer Katodenspannung stabilisiert, die ca. der
Hälfte der Spannungsdifferenz zwischen dem "metallic mode" und
dem "reactiv mode" entspricht.
Mit den erfindungsgemäßen Targets wird der Sputterprozeß durch
Sauerstoff-Freisetzung aus den Targets soweit stabilisiert,
daß ein langzeitstabiler Beschichtungsprozeß (ca. eine Woche)
gewährleistet ist.
Wird nun unter der Katode ein Glassubstrat mit einer konstan
ten Geschwindigkeit zwischen 1-10 m/min vorbeigeführt, so ent
steht auf dem Glas ein transparenter Belag von Wismutoxid mit
einer Brechzahl n = 2,3 bis 2,5, der zur Entspiegelung in
LowE-Schichten geeignet ist.
Dabei sind die Beschichtungsraten nach o.g. Verfahren um den
Faktor 3-5 höher als die im "reactive mode".
Weiterhin läßt sich die anwendbare Plasmaleistung bei Targets
nach Anspruch 2 bis 9 verdreifachen im Vergleich zu konventio
nellen schmelz- oder pulvermetallurgischen Wismut-Targets.
Insgesamt wird auf diese Weise eine Ratenerhöhung im Falle der
Wismutoxidschichten um den Faktor 10 gegenüber den im Stand
der Technik beschriebenen Methoden erreichbar.
Ein erfindungsgemäßes Target besteht aus einem Grundkörper aus
Kupfer. Die plattenförmige Auflage hat die Abmessungen
560 × 135 × 7 mm³.
Der darüber befindliche schmalere Teil hat die Abmessungen
560 × 90 × 12 mm³.
In diesem Teil ist ein über die Länge des Grundkörpers hinrei
chende muldenförmige Vertiefung eingearbeitet, die nach vorhe
riger Oberflächenreinigung und -aufrauhung mittels Vakuumplas
maspritzens unter Verwendung von BiMnO, 5-Pulver und mit einem
Energieeintrag von 7 kW gefüllt wird. Das Volumen des
schmalen Teils des Grundkörpers steht zum Volumen des Target
werkstoffs im Verhältnis 1 : 1,2. Im Targetwerkstoff ist eine
gleichmäßige Sauerstoffverteilung von 2200 ppm vorhanden.
Claims (10)
1. Plasmaverfahren zur Herstellung von großflächigen Schichten
auf Glassubstraten durch reaktives DC- bzw. DC-Magnetron-Sput
tern von Targets, dadurch gekennzeichnet, daß der Prozeß so
geführt wird, daß am Arbeitspunkt (1) im Übergangsbereich
"transition mode" (2) zwischen den Prozeßzuständen "metallic
mode" (3) und "reactive mode" (4) justiert wird und daß dafür
ein Target verwendet wird, das eine für den Sputterprozeß er
forderliche hohe Wärmekapazität und Wärmeableitung sowie ein
ständiges und gleichmäßiges Sauerstoffangebot zur sicheren
Prozeßführung im Übergangsbereich "transition mode" (2) hat,
wobei das Verfahren so abläuft, daß eine Katodenkammer einer
Magnetron-Großflächenbeschichtungsanlage bis zu einem Druck
von 10-4 bis 10-6 mbar evakuiert und mehrere Stunden zur Desorp
tion von Atmosphärilien bei diesem Druck gehalten wird, daß
anschließend Argongas bis zu einem Druck von 10-2 bis 10-3 mbar
in der Weise zudosiert wird, daß bei fortwährendem Pumpprozeß
bei einem Gasfluß von 100 bis 3000 Standardkubikzentime
ter/Minute ein konstanter Druck gehalten wird, daß anschlie
ßend eine elektrische Gleichspannung von 300 bis 700 V an die
im Deckel der Katodenkammer montierte Magnetron-Katode mit dem
auf der Katodenfläche befindlichen Target gelegt wird, daß
nach dem Zünden des Plasmas die Plasmaleistung bei 0,5 bis 3 W/cm²
Fläche konstant gehalten wird, daß anschließend die hohe
Katodenspannung durch Zudosieren von Sauerstoff als Reaktivgas
im gleichen Maß wie das zudosierte Argongas reduziert wird,
daß anschließend die Grenzplasmaleistung ermittelt wird, bei
der die Gefahr des Schmelzens des Targets besteht, daß an
schließend die Plasmaleistung auf 80 bis 90% der ermittelten
Grenzplasmaleistung eingestellt wird und daß anschließend
durch Regulierung der Reaktivgaszufuhr die Entladung bei einer
Katodenspannung stabilisiert wird, die etwa der Hälfte der
Spannungsdifferenz zwischen dem "metallic mode" (3) und dem
"reactive mode" (4) entspricht.
2. Target für das Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß es aus einem Grundkörper (5) aus einem metalli
schen Werkstoff mit guter Spanbarkeit und hoher Wärme- und
elektrischer Leitfähigkeit besteht, der an seiner unteren
Seite eine breite plattenförmige Auflage (6) mit einer Brei
te von 100 bis 300 mm, einer Dicke von 3 bis 15 mm und frei
wählbarer Länge und mit am Rand befindlichen Löchern (7) zur
Befestigung des Targets auf dem Sputtermagnetron und einen
oberhalb dieser Auflage (6) befindlichen schmaleren Teil (8)
mit einer Breite von 60 bis 280 mm, einer Dicke von 5 bis 25
mm und frei wählbarer Länge und eine oder mehrere in Längs
richtung des Grundkörpers (5) mit frei wählbarer Länge verlau
fende muldenförmigen Vertiefungen (9) hat, die nicht bis in
die plattenförmige Auflage (6) hineinreichen, und daß die Ver
tiefung (9) mit einem für das großflächige Plasmasputtern von
Glas geeigneten Targetwerkstoff gefüllt und stoffschlüssig mit
dem Werkstoff des Grundkörpers (5) verbunden ist und daß der
Targetwerkstoff nach vorheriger Oberflächenreinigung und
-aufrauhung mittels eines thermischen Spritzverfahrens mit
einem Energieeintrag von 3 bis 20 kW eingebracht wurde, wobei
der oberhalb der plattenförmigen Auflage (6) befindliche Volu
menanteil des Grundkörpers (5) zum Volumen des in der Vertie
fung befindlichen Targetwerkstoffs im Verhältnis 1 : 1 bis 1 : 1,5
steht und daß in dem Targetwerkstoff eine gleichmäßige Sauer
stoffverteilung von < 2000 ppm vorhanden ist.
3. Target nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper (5) aus Kupfer
oder einer Kupferlegierung besteht.
4. Target nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß der Grundkörper (5) aus Aluminium
oder einer Aluminiumlegierung besteht.
5. Target nach Anspruch 2 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Vertiefung (9) mit einer Le
gierung gefüllt ist, die mittels Vakuumplasmaspritzens von
BiMnO, 5-Pulver eingebracht wurde.
6. Target nach Anspruch 2 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Vertiefung (9) mit einer Le
gierung gefüllt ist, die mittels Vakuumplasmaspritzens von
BiMnO, 5-Pulver eingebracht wurde und daß in der Legierung eine
gleichmäßige Sauerstoffverteilung von < 2000 ppm vorhanden
ist.
7. Target nach Anspruch 2 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Vertiefung (9) mit einer Le
gierung gefüllt ist, die mittels atmosphärischen Plasmasprit
zens von BiMnO, 5-Pulver eingebracht wurde.
8. Target Anspruch 2 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß die Vertiefung (9) mit einer Le
gierung gefüllt ist, die mittels atmosphärischen Plasmasprit
zens von BiMnO, 5-Pulver eingebracht wurde und daß in der Le
gierung eine gleichmäßige Sauerstoffverteilung von < 2000 ppm
vorhanden ist.
9. Target nach Anspruch 2 bis 8,
dadurch gekennzeichnet, daß es nach geeigneter Oberflächenbe
arbeitung als Einzelteil für ein beliebig langes und breites
Großtarget geeignet ist, wobei das Target gemäß Anspruch 2
mehrfach in Längsrichtung nebeneinander angeordnet ist.
10. Target nach Anspruch 2 bis 9,
dadurch gekennzeichnet, daß die plattenförmige Auflage (6)
keine Löcher aufweist und die Befestigung auf dem
Sputtermagnetron mit Klemmleisten erfolgt.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19535845A DE19535845C2 (de) | 1995-09-15 | 1995-09-15 | Verfahren zur Gleichstrommagnetronaufstäubung von Schichten auf großflächige Glassubstrate, Target und Verfahren zur Herstellung des Targets |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19535845A DE19535845C2 (de) | 1995-09-15 | 1995-09-15 | Verfahren zur Gleichstrommagnetronaufstäubung von Schichten auf großflächige Glassubstrate, Target und Verfahren zur Herstellung des Targets |
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