DE19535177A1 - Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen der Struktur, insbesondere Topografie, von Garnen insbesondere in einer Textilmaschine - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen der Struktur, insbesondere Topo­ grafie, von Garnen einschließlich synthetischen Garnen oder Fasern, die einem strukturbildenden Prozeß unterworfen werden. Ferner betrifft die Erfindung eine entsprechende Prüfvorrichtung, insbesondere zur Durchführung dieses Verfah­ rens, wobei ein auf das Garn einwirkender Strukturgeber, beispielsweise auf der Basis von Luft arbeitende Verwirbelungs- oder Texturiereinrichtungen, eine Meßeinrichtung zur Abtastung des Garns, eine dieser nachgeschaltete Meßsignal- Aufbereitungs- und/oder Auswerteeinheit und eine Transporteinrichtung zur Er­ zeugung von Relativbewegungen zwischen Garn und Meßeinrichtung in Garn- Längsrichtung vorgesehen sind. Schließlich betrifft die Erfindung eine computer­ gestützt arbeitende Textilmaschine oder -anlage, in der das Verfahren oder die Vorrichtung eingesetzt sind.

Filamentgarne und auch sonstige Garne oder Fasern werden heute bei hohen Produktionsgeschwindigkeiten erzeugt. Beim Spinnen werden vereinzelt bereits Produktionsgeschwindigkeiten von über 6000 Meter pro Minute angewendet. Beim Strecken und Falschdrahttexturieren wird eine Geschwindigkeit von 1000 Metern pro Minute häufig überschritten. Filamentgarne werden nach dem Erspin­ nen aus der Spinndüse in der Regel einem strukturbildenden Prozeß unterzogen, die die Parallellage der Einzelfilamente verändert. Solche strukturbildenden Pro­ zesse haben wir im wesentlichen zwei Aufgaben: Einerseits soll das ursprünglich glatte Garn textiler gestaltet werden, andererseits muß es für die Weiterverarbei­ tung "verarbeitungsfähig" gemacht werden. Ein Filamentgarn mit parallel liegen­ den Filamenten ist ohne spezielle Hilfsmittel nicht verarbeitbar, weil sich die Fila­ mente an Fadenführungen elektrostatisch aufladen, voneinander abstoßen und sehr leicht beschädigt werden. Hilfsmittel zur Erzeugung eines Zusammenhalts der Filamente, "Fadenschluß" genannt, basieren beispielsweise auf chemischen Methoden wie Schlichten und/oder Avivagen, oder mechanische Methoden, wie die Erteilung einer ausreichenden Garndrehung oder das Verwirbeln der Filamen­ te.

Beispiele für bekannte Methoden und Prozesse zur Strukturbildung speziell von Filamentgarnen sind:

• - das Texturieren (Falschdrahttexturieren, Luftblastexturieren, Stauchkräu­ seln mit thermischer Einwirkung bei bulk continuous fiber/BCF- Teppichgarnen),
• - das Verwirbeln mittels Blasluftstrahl oder Dampfstrahl,
• - das Zwirnen bzw. Effektzwirnen mit Noppen und Flammeneffekten,
• - und Kombinationen der vorgenannten Prozesse (z. B. Texturieren und Verwirbeln).

Struktureffekte können auch noch auf andere Weise hergestellt werden, bei­ spielsweise durch Erzeugung von Verstreckungsunterschieden (Dick-Dünn- Garne) oder durch Aufrauhen der Garnoberfläche, indem Filamente aufgerissen werden, wodurch Haarigkeit bzw. ein Fasergarncharakter entsteht.

Es ist bekannt (vgl. textilpraxis international August 1991, Seiten 747 und 748 "Die mechanische Abtastung von verwirbelten Garnen" Dr.-Ing. H. Weinsdörfer; Pro­ spekt Interlace Counter RIC a zur Analyse verwirbelter Filamentgarne; Dr.-Ing. H. Weinsdörfer "Herstellung und Prüfung von verwirbelten Garnen", Sonderdruck aus Chemiefasern/Textilindustrie, April 1996), die Garnstrukturen im Labor zu prüfen und die Struktureffekte hinsichtlich ihrer Intensität und Gleichmäßigkeit zu analy­ sieren. Luftverwirbelte Garne beispielsweise, die eine mehr oder weniger unre­ gelmäßige Struktur durch aufeinanderfolgende Filamentverflechtungsstellen und unverwirbelte Zonen mit weitgehend parallel liegenden Filamenten aufweisen, werden mechanisch abgetastet, wobei das zu untersuchende Filamentgarn lang­ sam durch einen Meßspalt gezogen wird, der die Dicke des Fadens abtastet.

Parallel liegende Filamente werden in Bändchenform flach gedrückt. Die kompak­ ten verwirbelten Stellen (Verwirbelungsknoten) lassen dies nicht zu; sie werden als Dickstellen registriert. Durch eine kontinuierliche und lückenlose Abtastung ist es daher möglich, eine genaue Analyse der Verwirbelungsstruktur durchzuführen. Allerdings läßt sich dieses bekannte Verfahren nur an exemplarischen Prüffäden durchführen, da die Prüfgeschwindigkeit relativ niedrig ist und daher während der laufenden Produktion der verwirbelten Filamentgarne nicht angewendet werden kann.

Bekannt ist ein elektronischer Fadenwächter EF 1083 der Firma Gebrüder Frei GmbH & Co., D-7470 Albstadt 3, der zur Anwendung in schnellaufenden Textil­ maschinen, vorwiegend Texturiermaschinen, zwecks Überwachung aller ge­ bräuchlichen Garne vorgeschlagen ist. Der Fadenwächter besitzt als Sensor einen im Betrieb mit vorbestimmter Gleichspannung aufgeladenen Kondensator, dessen eine Elektrode mit Garnführungselementen versehen ist. Wird ein elektrostatisch aufgeladenes Garn hindurchbewegt, wird der Ruheladung des Kondensators eine rauschartige Wechselladung überlagert, deren Amplituden und Frequenzspektren von den Materialeigenschaften, der Vorbehandlung, der Geschwindigkeit und dem Abstand des Garns von der Kondensatorsonde abhängen. Allerdings wird dieses Garnsignal über einen Hochpaß an einen Meßverstärker angekoppelt, so daß le­ diglich Fadenwächterfunktionen realisiert werden können, nämlich bei fehlendem oder stehenden Garn eine Schallfunktion auszulösen. Dadurch soll ein elektro­ magnetischer Fadenschneider betätigt werden.

Damit wird die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe aufgeworfen, ein Verfah­ ren, eine Vorrichtung und eine Textilmaschine anzugeben, womit während des Herstellungsprozesses in Echtzeit eine ständige Überwachung der Strukturdetails des Garns möglich ist. Insbesondere soll die Garnstruktur in ihren Einzelheiten erfaßbar und analysierbar sein, und die garnspezifischen Meßgrößen in die mo­ mentane Garnstruktur reflektierende Überwachungsdaten umgewandelt oder weiterverarbeitet werden können. Damit soll während der Herstellung eine konti­ nuierliche Qualitätskontrolle möglichst auch bei hohen Produktionsgeschwindig­ keiten gegeben sein.

Zur Lösung dieser Aufgabe wird bei einem Verfahren und einer Vorrichtung zur Prüfung der Garnstruktur erfindungsgemäß vorgeschlagen, daß das Garn wäh­ rend und/oder nach seiner Strukturierung über seine Länge einem Meßprozeß unterworfen wird, der von der Garnstruktur beeinflußte Meßgrößen liefert, die dann zu für die Garnstruktur spezifische Größen, Werte oder Daten weiterverar­ beitet werden. Es wird also im Produktionsprozeß hinter oder auch innerhalb der strukturerzeugenden Einrichtung ein Sensor eingesetzt, der Meßgrößen mit aus­ reichender Bandbreite erfaßt, die in einem Zusammenhang mit der Struktur von Filamentgarnen oder sonstigen Garnen oder Fasern stehen. Zweckmäßig ist ein Sensor, der Garnsignal-Frequenzen beispielsweise bis etwa 5 Kilohertz erfassen kann. Schließlich wird im Rahmen der Erfindung bei einer Textilmaschine oder -anlage, die mit mehreren Bearbeitungsstationen für durchlaufendes Garn oder Fasern arbeitet und jeweils mit einer Prüfvorrichtung und gegebenenfalls einem Prüfverfahren der genannten Art ausgestattet ist, erfindungsgemäß vorgeschla­ gen, die Aufbereitungs- und Auswerteeinheiten der Prüfvorrichtungen, welche die Weiterverarbeitung der Meßgrößen in die Faser- oder Garnstruktur kennzeich­ nende Daten bewirken, mit einem Zentral- bzw. Host-Computer zu verbinden. In diesem kann dann eine noch umfassendere Weiterverarbeitung stattfinden, z. B. Verfolgung, Registrierung und Vergleich der Meßwerte über einen längeren Zeit­ raum, Vergleich mit anderen Bearbeitungsstationen, Erstellung von Teil- und Ge­ samtstatistiken, Häufigkeitsverteilungen usw. Aufgrund der relativ hohen Frequen­ zen des Garn-Meßsignals ist eine digitale Bearbeitung unmittelbar durch den Zentralcomputer nicht zweckmäßig bzw. schwer realisierbar, weil die ungeheure Datenflut aufgrund der beispielsweise 200 Garn-Bearbeitungsstationen pro Ma­ schine mit in heutigen Großrechnern verfügbaren Kapazitäten (noch) nicht bewäl­ tigt werden könnte.

Die Erfindung stellt eine verallgemeinerte Abwandlung, Ergänzung und/oder Er­ weiterung des Gegenstands der beiden älteren, (noch) nicht veröffentlichten und inhaltsgleichen Patentanmeldungen P 44 10 571.1 und PCT/EP 95/00996 dar, worin ebenfalls ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Prüfen von Garnen offen­ bart ist. Auf deren Unterlagen wird Bezug genommen.

In konkreter Ausbildung des Erfindungsgedankens werden als Abtast- oder Meß­ organe zur Ermittlung der Garnstruktur Fadenzugkraftsensoren wie zum Beispiel Dehnungsmeßstreifen, Meßaufnehmer auf der Basis von Piezokristallen oder in­ duktive Meßgeber eingesetzt. Damit können von der Garnstruktur bzw. von Strukturunterschieden herrührende Variationen der Zug kraft, in welche die geome­ trischen Formunterschiede und Reibungsunterschiede entlang der Garnoberfläche in Erscheinung treten, erfaßt werden. Der Kraftsensor ist geeignet, wenn er eine ausreichende Eigenresonanzfrequenz um beispielsweise 5 Kilohertz herum be­ sitzt.

Alternativ sind als Abtastorgane auch elektrische Kapazitäten insbesondere in Form geeignet ausgelegter Kondensatoren einsetzbar, welche die elektrostati­ schen Aufladungen (d. h. elektrische Ladungen auf der Garnoberfläche) mit aus­ reichendem Frequenzumfang bzw. Bandbreite erfassen können. Damit wird von dem physikalischen Effekt Gebrauch gemacht, daß die durch Struktur und Form des Garns bedingten Reibungsunterschiede entsprechend unterschiedliche elek­ trostatische Aufladungen verursachen. Diese können die Variation der Strukturun­ terschiede des Garns wiedergeben.

Nach einer anderen Ausbildung der Erfindung werden die Variationen der elek­ trostatischen Aufladung bzw. Ladungsdichte des Garns nicht kapazitiv, sondern direkt beispielsweise mittels Geräte für Messung elektrostatischer Aufladungen erfaßt. Dies kann im konkreten Einzelfall mittels an sich bekannter Elektroskope oder Elektrometer erfolgen, wobei das durchlaufende Garn als Elektrode und/oder elektrisch infuenzierender Ladungsspeicher verwendet wird.

Es ist bekannt (EP 0 572 756 A1, EP 0 465 842 A2, US 4 990 793), zur Überwa­ chung von Verwirbelungsknoten bzw. des Verwirbelungsgrads das Garn mit Licht zu bestrahlen, und Variationen der Absorption, Reflexion und/oder Trans­ mission dieses Lichts durch das Garn als Meßgrößen für die Verwirbelungsstruk­ tur zu verwenden. Dabei kann dem Garn auch eine Fadenlaufgeschwindigkeit bis zu 800 Meter pro Minute erteilt werden. Wenn allerdings diese optoelektronischen Garn-Überwachungsanordnungen im laufenden Produktionsprozeß zur detaillier­ teren Ermittlung der Garnstruktur mit größtmöglicher Genauigkeit eingesetzt wer­ den sollen, stellt sich das Problem, daß die Betriebszuverlässigkeit und Meßge­ nauigkeit der optoelektronischen Komponenten durch im Produktionsbetrieb un­ vermeidliche Verschmutzungen beeinträchtigt wird. Diese sind insbesondere durch Spinnpräparationen oder Avivagen des Garns bedingt. Zur Lösung dieser Problematik wird nach einer besonderen Ausbildung bei der optoelektronischen Anordnung vorgeschlagen, die Lichtstrahlen vorzugsweise mit einer Linsenanord­ nung im Bereich des Garns oder im Garn selbst konvergent zu machen. Damit ist die Möglichkeit eröffnet, die Lichtquelle und/oder den Lichtsensor in so ausrei­ chender Entfernung vom Garn anzuordnen, daß eine Verschmutzung sich nicht mehr nennenswert auswirkt. Mit besonderem Vorteil wird die genannte Maßnah­ me der Lichtbündelung mit einer weiteren Ausbildung der Erfindung kombiniert, nach der das Garn mit Druck in Quer- oder Schrägrichtung zu seiner Längsachse und/oder mit einer Zugspannung in seiner Längsrichtung beaufschlagt wird. Durch die letztere, mechanische Maßnahme wird das Garn langgezogen, wobei weniger oder gar nicht strukturierte Garn-Längsabschnitte auf minimalem Durchmesser reduziert werden, während die (mehr) strukturierten Garnabschnitte als ausbau­ chende Knoten verbleiben. Bei Kombination mit der Maßnahme der Lichtbünde­ lung können so auch schmale, dünne Garnabschnitte optisch präzise und scharf erfaßt werden.

Das aufgeworfene Problem der Verschmutzung optoelektronischer Komponenten wird auch durch eine weitere Ausbildung der Erfindung angegangen, nach der der optoelektronischen Anordnung zur Garnstrukturanalyse Reinigungsmittel zuge­ ordnet sind, die entweder regelmäßig bzw. periodisch oder in Abhängigkeit vom Verunreinigungsgrad der optoelektronischen Einrichtung betätigt werden. Zur Bestimmung des Verunreinigungsgrades ist im Rahmen der Erfindung die Anord­ nung einer zweiten gleichartigen Optoelektronikanordnung zweckmäßig, welche in denselben Umgebungsbedingungen wie die das Garn sensierende Optoelektronik­ anordnung positioniert ist. Wird das Ansprechen der zweiten Optoelektronik­ anordnung aufgrund zu hoher Verschmutzung zu schwach, kann dies als Kriteri­ um bzw. Triggersignal zur Betätigung der Reinigungsmittel für die erste Optoelek­ tronikanordnung und auch für die zweite Referenz-Optoelektronikanordnung selbst dienen. Zusätzlich oder alternativ können bei Feststellung eines bestimm­ ten Verschmutzungsgrades die Meßgrößen im Zuge ihrer Weiterverarbeitung mit Korrekturwerten verknüpft werden, welche der Kompensation der Meßgrößenver­ fälschung durch Verschmutzung dienen.

Unter Umständen kann es anzustreben sein, die Garnstrukturanalyse ohne Ein­ flüsse und/oder Rückwirkungen mit dem strukturbildenden Garn-Herstellungs­ prozeß durchzuführen, insbesondere um letztlich die Qualität der Strukturbildung noch genauer und objektiver erfassen zu können. Dieser Problematik widmet man sich mit einer Ausbildung der Erfindung, nach der der Meßprozeß physikalisch und/oder chemisch vom strukturbildenden Prozeß entkoppelt und/oder isoliert durchgeführt wird. Dies kann konkret beispielsweise durch mehrere Garn- Schwingungsdämpfer erreicht werden, die vom Strukturgeber herführende Garn­ schwingungen unterdrücken. Nach einer anderen Ausbildung der Erfindung wer­ den - anders als nach dem Gegenstand der oben genannten, älteren und (noch) nicht veröffentlichten Parallelanmeldungen - dem Garn Schwingungen außerhalb und/oder unabhängig vom strukturbildenden Prozeß eingeprägt, beispielsweise mittels (Ultra-)Schall, und diese Schwingungen gemessen, wobei die Meßgrößen zur Garnstrukturanalyse hinsichtlich Struktur Unterschiede, räumliche Massever­ teilungen, Bauschigkeit, Schwankungen, Regelmäßigkeit der Verwirbelungskno­ ten und zur Erkennung unzulässig langer, unverwirbelter oder nicht hinreichend verwirbelter Garnabschnitte herangezogen werden können.

Weitere Einzelheiten, Merkmale, Vorteile und Wirkungen auf der Basis der Erfin­ dung ergeben sich aus den Unteransprüchen und der nachfolgenden Beschrei­ bung bevorzugter Ausführungsbeispiele der Erfindung sowie aus den Zeichnun­ gen. Diese zeigen in:

Fig. 1A-Fig. 1D schematisch in Längsseitenansicht Garnabschnitte mit unterschied­ licher Strukturen,

Fig. 2A-Fig. 2D die jeweiligen Garnabschnitte in vergrößerter und realistischerer Darstellung,

Fig. 3-6 beispielhafte Prüfanordnungen nach der Erfindung jeweils in sche­ matischer Längsseitenansicht,

Fig. 7 eine Stirnansicht in Garnlaufrichtung gemäß Richtung X in Fig. 6,

Fig. 8 in Fig. 7 entsprechender Ansicht ein weiteres Meßanordnungsbei­ spiel nach der Erfindung,

Fig. 9 in schematischer Längsseitenansicht des Garns eine weiteres Meß­ anordnungsbeispiel nach der Erfindung, und

Fig. 10A-Fig. 10D Signalamplituden/Zeit- bzw. Weg-Diagramme für die Weiterverar­ beitung abgetasteter Garnsignale.

In den Fig. 1A-1D und 2A-2D sind Garnarten dargestellt, die sich beispielsweise zur Garnstrukturanalyse gemäß Erfindung eignen. Fig. 1A und 2A zeigen ein Garn 1 mit einer Mehrzahl dicht nebeneinander, weitgehend parallel verlaufender Ein­ zelfilamente 2 vor Eintritt in den strukturbildenden Prozeß. Ein Zusammenhalt der Einzelfilamente 2 - sogenannter Fadenschluß - liegt noch nicht vor. Gemäß Fig. 1B ist das Garn 1 zur Strukturbildung einer Luftblasverwirbelung unterworfen wor­ den, wonach strukturlose Abschnitte 3 entsprechend Fig. 1A mit spezifisch struk­ turierten Verwirbelungsstellen 4 abwechseln. Gemäß vergrößerter Darstellung in Fig. 2B sind die Verwirbelungsstellen 4 durch Verflechtung der Einzelfilamente 2 miteinander charakterisiert. Gemäß 1C ist die Strukturierung mittels Lufttexturie­ rung vorgenommen, wodurch längere stark strukturierte Abschnitte 5 mit längeren schwach strukturierten Abschnitten 6 abwechseln. In Fig. 2C ist der Abschnitt 5 starker Strukturierung in vergrößertem Maßstab dargestellt. Die erfindungsgemä­ ßen Methoden zur Garnstrukturanalyse eignen sich auch für andere Garnarten, insbesondere für durch Umwinden oder Verzwirnen erzeugte. So ist in den Fig. 1D und 2D ein Garn 1 als Effektzwirn gezeigt, bei dem sich strukturierte Abschnit­ te mit Noppen oder Flammen 7 (in Fig. 2D vergrößert) mit längeren strukturlosen Abschnitten 8 abwechseln.

Gemäß Fig. 3 wird ein Garn 1, noch etwa im Zustand nach Fig. 1A bzw. 2A über einen umlenkenden Garnführer 9 einer Verwirbelungseinrichtung 10 zugeführt. Diese besitzt in ihrem Inneren einen Garnkanal 11, in den eine Blasdüse 12 im schrägen Winkel hineinmündet. Diese wird von einem Druckluftkanal 13 innerhalb der Verwirbelungseinrichtung 10 gespeist. Indem die Blasdüse 12 in einem Schrägwinkel zur Längsrichtung des Garnkanals 11 liegt, wobei in Transportrich­ tung gesehen auf der stromaufwärtigen Seite der Blasdüse 12 ein spitzer Winkel mit dem Garnkanal 11 eingeschlossen ist, kann die Blasdüse 12 dem im Garnka­ nal 11 befindlichen Garn 1 eine Beschleunigung in Richtung zum weiteren Garn­ führer 14 an der Ausgangsseite des Garnkanals 11 erteilen. Auch der stromab­ wärtige Garnführer 14 drückt auf das Garn 1 in dessen Querrichtung und erteilt diesem so eine Umlenkung. Dabei können etwaige, in der Verwirbelungseinrich­ tung 10 entstandene Schwingungen des Garns 1 vor allem in dessen Querrich­ tung gedämpft werden. Der Verwirbelungseinrichtung 10 folgt ein Fadenzugkraft­ messer 15, dem das Garn 1 mittels dreier Umlenkorgane 16 zugeführt wird. Dabei wird ein Garnbogen 17 erzeugt, so daß aufgrund der Fadenzugkraft auf das mitt­ lere Umlenkorgan 16 eine Kraft 18 in Abhängigkeit von der Fadenzugkraft (umgangssprachlich oft auch als Fadenspannung bezeichnet) ausgeübt wird. Das mittlere Umlenkorgan 16 Ist mit einem Kraftaufnehmer 19 versehen, der bei­ spielsweise als Dehnungsmeßstreifen, mit einem Piezokristall oder einem indukti­ ven Meßgeber realisiert ist. Dieser ist in der Lage, von der Garnstruktur bzw. Strukturunterschieden herrührende Variationen der Fadenzugkraft bzw. Faden­ spannung mit ausreichendem Frequenzumfang zu erfassen. Die geometrischen Formunterschiede und Reibungsunterschiede entlang der Garnoberfläche (vgl. Fig. 2B-2D) treten als Kraftunterschiede in Erscheinung, die vom Kraftsensor 19 in elektrische Signale umgewandelt und zu Kenngrößen für die Garnstruktur wei­ terverarbeitet werden können.

Gemäß Fig. 4 ist das Abtastorgan der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung als Kondensator Cx ausgeführt, zwischen dessen beide Elektrodenplatten das Garn 1 mit minimaler Fadenspannung hindurchbewegt wird. Dessen relative Dielektrizi­ tätskonstante, zu der die Kapazität des Kondensators Cx proportional ist, wird maßgeblich von strukturellen Unterschieden im Garn, dessen geometrische For­ men und Masseverteilungen beeinflußt und variiert. Wird also das Garn 1 zwi­ schen den beiden Platten des Kondensators Cx hindurchbewegt, führt dies zu einer Änderung seiner Kapazität entsprechend den geometrischen Formen, Mas­ severteilungen usw., die vor allem durch die Verwirbelungsknoten bzw. -stellen 4 und die strukturlosen Abschnitte 3 dazwischen bedingt sind. Letztere ergeben aufgrund der Verwendung minimaler Fadenspannung, fehlenden Fadenschlusses und elektrostatischer Abstoßungskräfte ausbauchende Wellenberge, die zur Her­ beiführung dielektrischer Änderungen zwischen den Platten des Meßkondensa­ tors Cx besonders geeignet sind. Methoden zur Messung von Kapazitätsänderun­ gen sind im Stand der Technik an sich bekannt. Im Beispiel gemäß Fig. 4 wird eine Kapazitätsmeßbrücke mit der Wechselstromquelle 20, den beiden vorzugs­ weise gleichwertigen Widerständen R, der variablen Kapazität Cy und dem Ab­ gleichmeßgerät 21 verwendet. Die variable Kapazität Cy, die beispielsweise durch eine Kapazitätsdiode realisiert sein kann, wird mit (nicht gezeichneten) Elektro­ nikmitteln dem Meßkondensator Cx für das Garn 1 in ihrem Wert so nachgestellt, daß sich im Abgleichmeßgerät 21 stets der Strom- und/oder Spannungswert Null ergibt. Der Verlauf der Einstellwerte für die Abgleichkapazität Cy ist dann propor­ tional zu den Kapazitätsänderungen des Kondensators Cx und läßt sich bei­ spielsweise als Tabelle in einer Datenverarbeitungsanlage abspeichern. Nach ei­ ner anderen, in Fig. 4 gestrichelt angedeuteten Methode wird an den Meßkonden­ sator Cx die Wechselstromquelle 20 direkt angelegt. Der sich durch den Meßkon­ densator Cx ergebende Wechselstromfluß ist dann direkt proportional zu dessen Kapazität bzw. Änderungen der Dielektrizitätskonstante aufgrund Strukturunter­ schieden des Garns 1 und kann mit einem Wechselstrom-Meßgerät 22 erfaßt werden. Dessen Werte können dann ebenfalls in einer Datenverarbeitungsanlage erfaßt, tabelliert und weiterverarbeitet werden.

Gemäß Fig. 5 wird zur Garnstrukturanalyse eine optoelektronische Anordnung mit einer Lichtquelle 23 und einem Lichtempfänger 24 verwendet, zwischen welchen das Garn 1 ebenfalls mit minimaler Fadenspannung hindurchtransportiert wird. Infolgedessen ergibt sich für das Garn die gleiche Struktur wie in Fig. 4, was die Verwirbelungsstellen bzw. -knoten 4 und die strukturlosen, ausbauchenden Ab­ schnitte 3 angeht. Der Absorptions-, Transmissions- und/oder Reflexionsgrad der Verwirbelungsknoten 4 unterscheidet sich von denen der strukturlosen Abschnitte 3 deutlich. Folglich kann ein Vergleich der von der Lichtquelle 23 auf das Garn abgestrahlten Photonenmenge mit der Photonenmenge, die vom Lichtempfänger 24 vom Garn empfangen ist, Aussagen über Verwirbelungsgrad und sonstige Strukturparameter des Garns liefern. Zur Durchführung des entsprechenden Ver­ gleichs ist die Lichtquelle 23 mit einem Mikrocomputer 25 gekoppelt, der auch mit dem Ausgang des Lichtempfängers 24 verbunden ist, woraus die abgestrahlten und empfangenen Photonenmengen verglichen werden können. Über ein Kom­ munikationssystem 26 kann der Mikrocomputer 25 die von ihm aufbereiteten Da­ ten über Absorptions-, Transmissions- und/oder Reflexionsgrade an einen Zen­ tralcomputer (nicht gezeichnet) weiterleiten. Unmittelbar neben der Optoelektroni­ kanordnung 23, 24 ist eine zweite Optoelektronikanordnung 23a, 24a angeordnet, dessen Komponenten Lichtquelle 23a und Lichtempfänger 24a denen der ersten Anordnung gleichartig sind. Allerdings sind die jeweils zweiten Komponenten 23a, 24a so angeordnet, daß das Garn zwischen diesen nicht hindurchläuft. Da beide Optoelektronikanordnungen 23, 24; 23a, 24a denselben Umgebungseinflüssen und mithin derselben Verschmutzung ausgesetzt sind, läßt sich durch Überwa­ chung des Verschmutzungsgrades der zweiten Referenz- Optoelektronikanordnung 23a, 24a auf den Verschmutzungsgrad der das Garn messenden Optoelektronikanordnung schließen. Der Verschmutzungsgrad bei der zweiten Referenz-Optoelektronikanordnung wird mittels eines Kontrollglieds K mit integriertem Schwellwertentscheider S überwacht. Unterschreitet die von der zweiten Lichtquelle 23a zum zweiten Lichtempfänger 24a gelangende Photonen­ menge eine bestimmte Schwelle, wird das Kontrollglied K vom Schwellwertent­ scheider S so angesteuert, daß Reinigungsmittel für die beiden Optoelektroni­ kanordnungen aktiviert werden. Wie zeichnerisch angedeutet, können diese bei­ spielsweise aus einer Mehrzahl von Fluiddüsen 27 bestehen, aus denen Reini­ gungsfluid 28, zum Beispiel Luft oder Reinigungsflüssigkeit, auf die jeweiligen Optoelektronik-Komponenten 23, 23a, 24, 24a abgestrahlt werden.

Gemäß Fig. 6 wird das Garn 1 ebenfalls an einer Optoelektronikanordnung, von der lediglich der Fotoempfänger 24 gezeichnet ist, zur Garnstrukturanalyse vor­ beigeführt. Dabei wird das Garn 1 über Drucknoppen 29 derart gezogen, daß eine spürbare Fadenspannung entsteht, die dazu führt, daß die strukturlosen, offenen Abschnitte 3 des Garns 1 zu dünneren Garnabschnitten zusammengezogen und plattgedrückt werden. Die Verwirbelungsstellen bzw. -knoten 4 verbleiben dann als Ausbauchungen, wie in Fig. 6 angedeutet. Um vor allem die schmalen, struk­ turlosen Garnabschnitte 3 mit ausreichender Schärfe und Präzision erfassen zu können, ist gemäß Fig. 7 eine Bündelung von Lichtstrahlen 30 durch eine Sam­ mellinse 31 vorgesehen. Diese ist durch beispielsweise Verstellbewegungen 32 so verschoben und in sich so dimensioniert, daß ihr Brennpunkt 33 im Bereich des gemäß Fig. 6 mittleren Drucknoppens 29 liegt, vorzugsweise innerhalb von des­ sen baulich integrierten V-Nut 34 (nur in Fig. 7 gezeichnet), die zur Garn- Seitenführung dient.

Gemäß Fig. 8 ist für das Abtastorgan zur Garnstrukturanalyse der einleitend als Stand der Technik genannte elektronische Fadenwächter verwendet. Dessen äu­ ßere Kondensatorelektrode 35 in U-Form bildet das Außengehäuse und ist auf Bezugspotential 36 gelegt. Von der Außenelektrode 35 ist die zweite, innere Kon­ densatorelektrode 37 umgeben, zur Bildung einer nach oben offenen Führungsnut für das durch laufende Garn 1 ebenfalls U-Form aufweist und über einen hochohmigen Widerstand R mit einer Gleichspannungsquelle 38 verbunden ist. Mit der Innenelektrode 37 ist ferner ein Meßverstärker 39 vorzugsweise mit vorge­ schaltetem Eingangsfilter 40 verbunden. Der Ausgang des Meßverstärkers 39 ist einer Aufbereitungs- und/oder Auswerteeinheit 41 zugeführt, die aus folgenden Funktionsmodulen besteht: ein analoges oder digitales bzw. softwaremäßig reali­ sierter Filter F, das vorzugsweise als Tiefpaß oder Bandpaß beispielsweise mit den Grenzfrequenzen 200 Hertz und 5 Kilohertz realisiert ist; ein Schwellwertent­ scheider S, der aus dem gefilterten Signal eine Impulsformung bewirkt (vgl. weiter unten zu Fig. 10A-C); ein Zählmodul Z, das die durch Schwellwertentscheidung gewonnenen Impulse über Zeit- und/oder Garnlängen-Intervalle abzählt; einen analogen oder digitalen Integrator, dessen Integrationszeit durch impulslose Zei­ tintervalle bestimmt wird; ein softwaremäßig oder mittels kundenspezifischen Schaltkreis realisiertes Statistikmodul W, welches zur Errechnung insbesondere von Häufigkeitsverteilungen von beispielsweise Verwirbelungsknoten und/oder deren Längen, entsprechenden Streuungen, Mittelwerten und/oder zum Anlegen von Tabellen ausgebildet ist; und einen Mikrocomputer 25 insbesondere zur Ab­ laufsteuerung und Koordinierung, in dem auch das Statistikmodul W integriert sein kann. Über das mit ihm verbundene Kommunikationssystem 26 können die so aufbereiteten und (vor-)verarbeiteten Meßdaten an einen übergeordneten Zen­ tralcomputer weitergeleitet werden, der zur Prozeßoptimierung Vergleiche mit Meßdaten anderer Bearbeitungsstationen durchführt.

Gemäß Fig. 9 wird zur Erfassung der Garnstruktur von dem physikalischen Effekt der elektrischen Influenz aufgrund des elektrostatisch beispielsweise positiv aufge­ ladenen Garns 1 Gebrauch gemacht. Hierzu wird mittels einer Transportwalze 42 dem Garn 1 eine Transportbewegung 43 erteilt, wobei es über ein Garn- Reibelement 44 beispielsweise aus Gummi abgezogen wird. Dadurch wird die elektrostatische Aufladung des Garns 1 erheblich verstärkt. Im Bereich eines Verwirbelungsknotens 4 ergibt sich aufgrund von dessen rundlichen Krümmungen eine erhöhte Ladungsdichte; im Vergleich dazu weisen die strukturlosen Garnab­ schnitte 3 mit weitgehend linearem flachen Verlauf eine spürbar niedrigere La­ dungsdichte auf. Diese Variationen der elektrostatischen Ladungsdichte aufgrund struktureller Unterschiede in der Garntopografie können mittels eines an sich be­ kannten Elektroskops 45 erfaßt werden. Dazu wird das Garn 1 am leitenden Knopf 46 des ungeladenen Elektroskops 45 vorbeibewegt. Dabei zieht die positive Garnladung einen Teil der negativen Ladungen im Elektroskopstab 47 nach oben. Unten bleiben positive Ladungen im Überschuß zurück, die sich elektrostatische abstoßen. Infolgedessen wird dem baulich integriertem, angelenkten Meßzeiger 48 ein Ausschlag bzw. Drehmoment erteilt, das ihn vom Elektroskopstab 47 weg­ bewegt. Nach Vorbeibewegen des Verwirbelungsknotens 4 des Garns 1 gerät ein strukturloser Garnabschnitt 3 in unmittelbare Nähe des Elektroskopknopfs 46. Aufgrund der schwächeren elektrostatischen Aufladung werden auch die elektro­ statischen Abstoßungskräfte in der unteren Hälfte des Elektroskopstabs 47 gerin­ ger, so daß der Meßzeiger 48 sich unter der Wirkung der Schwerkraft und/oder eines (nicht gezeichneten) Federelements in Richtung zum Elektroskopstabs 47 zurückbewegt. Also entsprechen die Schwenkbewegungen 49 des Meßzeigers 48 der Stärke und Variation der elektrostatischen Aufladung des Garns 1 und damit dessen geometrischer und materieller Struktur. Methoden zur Umwandlung der Schwenkbewegungen 49 des Meßzeigers 48 in elektrische Meßsignale, die für die vorzugsweise digitale Weiterverarbeitung geeignet sind, sind an sich bekannt.

Die Funktionsweise der Aufbereitungs- und Auswerteeinheit 41 beispielsweise in der Struktur nach Fig. 8 ist in Fig. 10A-D näher dargestellt. Gemäß Fig. 10A be­ sitzt das gegebenenfalls verstärkte Meßsignal aus dem Abtastorgan für das Garn 1 rauschartig verlaufende Amplituden und ein breites Frequenzspektrum. Nach einer Tiefpaß- oder Bandpaß-Filterung ergibt sich ein geglättetes Signal gemäß Fig. 10B, das eine Binärentscheidung mittels eines Schwellwertentscheiders (vgl. Fig. 8) zuläßt. Die Zeitabschnitte, in denen das Originalsignal gemäß Fig. 10A weitgehend flach ohne Ausschläge nach oben verläuft, und in denen entspre­ chend Fig. 10B die Schwelle 50 nicht überschritten wird, geben die Längenab­ schnitte 3 des Garns wieder, in welchen es nicht oder nur wenig strukturiert ist. Die Schwellwertentscheidung dient dazu, Zählimpulse je nach Über- oder Unter­ schreitung der Schwelle 50 des Schwellwertentscheiders S mit entsprechend un­ gleichnamigen Binärwerten zu bilden. Ein gehäuftes Auftreten von Zählimpulsen reflektiert eine stark strukturierte (Verwirbelungs-) Stelle 4 des Garns. Lange Pau­ sen zwischen positiven Impulsen signalisieren wenig strukturierte oder strukturlo­ se Abschnitte 3 des Garns. Zu deren Feststellung kann der oben genannte Zeit- Integrator dienen, der gemäß Fig. 10D von abfallenden Impulsflanken 51 gestartet bzw. getriggert wird. Eine ansteigende Flanke 52 eines positiven Impulses kann dazu verwendet werden, den Integrationsvorgang damit synchron zu stoppen. Überschreitet das Integrationsergebnis gemäß Fig. 10D eine bestimmte Schwelle 50, was ebenfalls mittels des Schwellwertentscheiders S festgestellt werden kann, bedeutet dies, daß ein strukturloser Abschnitt 3 des Garns abgetastet und/oder ein überlanger, das heißt fehlerhaft strukturloser Garnabschnitt 3 detektiert wurde. Dabei kann eine Integrationszeit von beispielsweise 6 Millisekunden auf eine Garnlänge von 6 cm bezogen sein. Die Aufbereitungs- und Auswertestufen A, B, C und D der Fig. 10 können in einer entsprechenden Elektronik- und/oder Mikro­ computereinheit 41 implementiert sein.

Claims (33)

1. Verfahren zum Prüfen der Struktur, insbesondere Topografie, von Garnen (1) und/oder Fasern, die einem strukturbildenden Prozeß unterworfen wer­ den, dadurch gekennzeichnet, daß das Garn (1) während und/oder nach seiner Strukturierung über seine Länge einem Meßprozeß unterworfen wird, der von der Garnstruktur beeinflußte Meßgrößen liefert, die dann zu für die Faser- oder Garnstruktur charakteristische Größen, Werte oder Daten wei­ terverarbeitet werden.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß im Meßprozeß Variationen der Fadenzugkraft des Garns als Meßgrößen verwendet wer­ den, die geometrischen Formunterschieden und/oder Reibwertunterschie­ den der Garnoberfläche entsprechen.

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß im Meß­ prozeß Variationen der elektrischen Ladungsdichte, -verteilung und/oder - menge des Garns als Meßgrößen verwendet werden, die insbesondere Strukturunterschieden des Garns (1) und/oder Reibwertunterschieden der Garnoberfläche entsprechen.

4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekenn­ zeichnet, daß im Meßprozeß Variationen einer elektrisch kapazitiven Span­ nung beziehungsweise Energie und/oder einer elektrostatischen Kraft eines elektrischen Dipols, insbesondere Kondensators (35, 37) und/oder Elektro­ meters beziehungsweise Elektroskops (45), mit dem Garn als Elektrode und/oder elektrisch influenzierender Ladungsspeicher als Meßgrößen ver­ wendet werden, die insbesondere Strukturunterschieden des Garns (1) und/oder Reibwertunterschieden der Garnoberfläche entsprechen.

5. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekenn­ zeichnet, daß im Meßprozeß Variationen einer elektrischen Kapazität (Cx) mit dem Garn als Dielektrikum als Meßgrößen verwendet werden, die geo­ metrischen Strukturunterschieden, räumlichen Masseverteilungen, Bau­ schigkeit und deren Schwankungen im Garn (1) entsprechen.

6. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei im Meßpro­ zeß das Garn (1) mit als Referenz spezifiziertem Licht (30) bestrahlt wird, und Variationen seines Absorptions-, Reflexions- und/oder Transmissions­ grads als Meßgrößen verwendet werden, die insbesondere Strukturunter­ schieden, räumlichen Masse- und/oder Dichteverteilungen, Bauschigkeit und deren Schwankungen im Garn (1) entsprechen, dadurch gekennzeich­ net, daß die Lichtstrahlen (30) im Bereich des Garns (1) oder im Garn kon­ vergent gemacht werden.

7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Garn (1) unter eine Zugspannung in seiner Längsrichtung gesetzt und/oder mit Druck in Quer- oder Schrägrichtung beaufschlagt wird.

8. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche 6 oder 7, wobei im Meßprozeß das Garn (1) mit als Referenz spezifiziertem Licht (30) bestrahlt wird, und Variationen seines Absorptions-, Reflexions- und/oder Transmis­ sionsgrads als Meßgrößen verwendet werden, die insbesondere Strukturun­ terschieden, räumlichen Masse- und/oder Dichteverteilungen, Bauschigkeit und deren Schwankungen im Garn (1) entsprechen, dadurch gekennzeich­ net, daß die Lichtquelle (23) und/oder der zugeordnete Lichtsensor (24) re­ gelmäßig, periodisch und/oder in Abhängigkeit von einer Bestimmung ihres Verschmutzungsgrads einer Reinigung unterworfen und/oder mit Korrek­ tursignalen verknüpft werden, die zur Beeinflussung der Strahlungsintensität der Lichtquelle (23) und/oder des Ausgangssignals des Lichtsensors (24) spezifiziert sind.

9. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei das Garn (1) in Schwingungen versetzt wird, dadurch gekennzeichnet, daß dem Garn (1) außerhalb und/oder unabhängig vom strukturbildenden Prozeß die Schwin­ gungen eingeprägt werden, und diese im Meßprozeß als Meßgrößen ver­ wendet werden, die insbesondere Strukturunterschieden, räumlichen Mas­ severteilungen, Bauschigkeit und deren Schwankungen im Garn (1) ent­ sprechen.

10. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Meßgrößen auf eine Zeit- und/oder Längeneinheit des Garns (1) bezogen werden.

11. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Meßgrößen einer Tief- oder Bandpaßpaßfilterung (F) un­ terworfen werden.

12. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Meßgrößen vorzugsweise nach ihrer Filterung (F) in binä­ re Impulse (Fig. 10C) umgeformt werden, deren Binärwerte je nach Über- oder Unterschreiten eines Schwellwertes (50) unterschiedlich gesetzt wer­ den.

13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß Impulse gleichnamiger Binärwerte gezählt werden, wobei das Zählergebnis auf eine Zeit- und/oder Garn-Längeneinheit bezogen ist.

14. Verfahren nach Anspruch 12 oder 13, gekennzeichnet durch Messung der Zeitintervalle zwischen dem Auftreten von Impulsen gleichnamigen Binär­ werts (Fig. 10D), wobei die Meßergebnisse tabelliert, miteinander oder mit sonstigen Größen verglichen und/oder insbesondere statistisch ausgewer­ tet werden.

15. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch die Anwendung auf Effektzwirne oder Multifilamentgarne, wobei im Rahmen ihres strukturbildenden Prozesses deren ursprünglich parallellie­ gende Einzelfilamente (2) beispielsweise durch Umwinden beziehungswei­ se Blasen von Luft vor allem in ihrer Lage zur Erzeugung eines Zusam­ menhalts verändert worden sind.

16. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Meßprozeß physikalisch und/oder chemisch vom struk­ turbildenden Prozeß entkoppelt und/oder isoliert durchgeführt wird.

17. Vorrichtung zum Prüfen der Struktur, insbesondere Topografie, von Garnen (1) und/oder Fasern, insbesondere zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorangehenden Ansprüche, mit einem auf dieses Garn einwir­ kenden Strukturgeber, beispielsweise Verwirbelungs- und/oder Textu­ riereinrichtung (10), mit einer Meßeinrichtung (15; Cx, Cy; Cx, 20, 22; 23, 24; 35, 37, 39; 45) zur Abtastung des Garns (1), der einer Meßsignal-Aufbereitungs- und/oder Auswerteeinheit (41) nachge­ schaltet ist, und mit einer Transporteinrichtung (12, 16; 42) zur Erzeugung von Relativbewegungen zwischen Garn (1) und Meßeinrichtung (15; Cx, Cy; Cx, 20, 22; 23, 24; 35, 37, 39; 45) in Garn-Längsrichtung, gekenn­ zeichnet durch ein derart ausgebildetes und mit dem Garn (1) in Wirkungs­ verbindung setzbares Abtastorgan (19, Cx, 24, 37, 46) in der Meßeinrichtung (15; Cx, Cy; Cx, 20, 22; 23, 24; 35, 37, 39; 45), daß diese von der Faser- oder Garnstruktur beeinflußte Meßgrößen an die Aufbereitungs- und/oder Aus­ werteeinheit (41) liefert.

18. Vorrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßein­ richtung (15; Cx, Cy; Cx, 20, 22; 23, 24; 35, 37, 39; 45) gegenüber dem Struktur­ geber (10) isoliert, entkoppelt und/oder außerhalb von dessen Wirkungsbe­ reich angeordnet ist.

19. Vorrichtung nach Anspruch 17 oder 18, dadurch gekennzeichnet, daß der Meßeinrichtung (15; Cx, Cy; Cx, 20, 22; 23, 24; 35, 37, 39; 45) und/oder dessen Abtastorgan (19, Cx, 24, 37, 46) ein oder mehrere Garn-Schwingungsdämpfer (9, 14, 16, 29, 44) gegenüber dem Strukturgeber (10) vor- oder zwischengela­ gert sind.

20. Vorrichtung nach Anspruch 17, 18 oder 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtasteinrichtung (19, Cx, 24, 37, 46) einen Fadenzugkraftsensor (19), ei­ ne elektrische Kapazität, insbesondere Kondensator (Cx), ein Elektrometer beziehungsweise Elektroskop (45) und/oder ein Coulombmeter bezie­ hungsweise einen Ladungsmengenmesser aufweist.

21. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 17 bis 20, gekennzeichnet durch ein oder mehrere Garn-Reibelemente (44), auf welche die das Garn erfassende Transporteinrichtung (42) zur Herbeiführung des Reibkontakts zwischen Garn (1) und Reibelement (44) gerichtet ist, und die der Meßeinrichtung (15; Cx, Cy; Cx, 20, 22; 23, 24; 35, 37, 39; 45) und/oder dessen Abtastorgan (19, Cx, 24, 37, 46) vorgelagert sind.

22. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 17 bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß das Abtastorgan (19, Cx, 24, 37, 46) mit baulich integrierten Garn- Führungselementen (34) insbesondere in V- oder U-Form versehen ist.

23. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 17 bis 22, wobei das Abtastorgan (19, Cx, 24, 37, 46) eine Lichtquelle (23) aufweist, dem ein Fotodetektor oder sonstiger lichtempfindlicher Sensor (24) zugeordnet ist, und das Garn (1) zwischen beiden (23, 24) verläuft, gekennzeichnet durch eine oder mehrere Linsen, vorzugsweise Sammellinsen (31), zwischen der Lichtquelle (23) und dem Garn (1) und/oder dem Garn und dem Sensor.

24. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 17 bis 23, wobei das Abtastorgan (19, Cx, 24, 37, 46) eine Lichtquelle (23) aufweist, dem ein Fotodetektor oder sonstiger lichtempfindlicher Sensor (24) zugeordnet ist, und das Garn (1) zwischen beiden (23, 24) verläuft, gekennzeichnet durch ein oder mehrere Fadenspanner und/oder Druckelemente, insbesondere rundliche Drucknoppen (29), die gegen das Garn (1) quer oder schräg zu dessen Längsrichtung in Angriff gebracht und mit dem Abtastorgan (19, Cx, 24, 37, 46) baulich integriert ausgeführt und/oder in dessen Bereich angeordnet sind.

25. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 17 bis 24, wobei das Abtastorgan (19, Cx, 24, 37, 46) eine Lichtquelle (23) aufweist, dem ein Fotodetektor oder sonstiger lichtempfindlicher Sensor (24) zugeordnet ist, und das Garn (1) zwischen beiden (23, 24) verläuft, gekennzeichnet durch ein oder mehrere, der Lichtquelle (23) und/oder dem Sensor (24) zugeordnete Reinigungsmit­ tel (27, 28), und ein damit verbundenes Reinigungskontrollglied (K), das zur Betätigung des oder der Reinigungsmittel (27, 28) ausgebildet ist
26. Vorrichtung nach Anspruch 25, gekennzeichnet durch eine im unmittelbaren räumlichen Bereich von Lichtquelle (23) und/oder Sensor (24) plazierte op­ toelektronische Referenzanordnung (23a, 24a) vorzugsweise gleicher Art, die mit Schwellwertentscheider (S) zur Erfassung einer Mindestintensität sensierter Lichtstrahlen (30) ausgebildet und mit dem Reinigungskontroll­ glied (K) zu dessen Ansteuerung verbunden ist.

27. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 17 bis 26, dadurch gekennzeichnet, daß die Aufbereitungs- und/oder Auswerteeinheit (41) eingangsseitig über einen Tief- oder Bandpaß (F) mit dem Ausgang des Abtastorgans (19, Cx, 24, 37, 46) und/oder der Meßeinrichtung (15; Cx, Cy; Cx, 20, 22; 23, 24; 35, 37, 39; 45) verbunden ist.

28. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 17 bis 27, dadurch gekennzeichnet, daß die Aufbereitungs- und/oder Auswerteeinheit (41) eine Impulsformer­ stufe mit Schwellwertentscheidung (S) aufweist, die den gegebenenfalls gefilterten Ausgangssignalen der Meßeinrichtung (15; Cx, Cy; Cx, 20, 22; 23, 24; 35, 37, 39; 45) zugeordnet sind.

29. Vorrichtung nach Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, daß die Aufberei­ tungs- und/oder Auswerteeinheit (41) einen der Impulsformerstufe zugeord­ neten Impuls-Zähler (Z) aufweist, der zur Auszählung der Schwellwert- Über- oder Unterschreitungen (S; 50) pro Zeit- beziehungsweise Garnlän­ geneinheit ausgebildet ist.

30. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 28 oder 29, dadurch gekennzeich­ net, daß die Aufbereitungs- und/oder Auswerteeinheit (41) Zeiterfas­ sungsmittel (Fig. 10D) aufweist, die den Zeitintervallen zwischen Impulsen zugeordnet sind.

31. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 28 bis 30, dadurch gekennzeichnet, daß die Aufbereitungs- und/oder Auswerteeinheit (41) eine Zeit- Integrationsstufe (I) besitzt, die zur Triggerung (51) durch die Impulse aus­ gebildet und ausgangsseitig mit einem Schwellwertentscheider (S) verbun­ den ist, der zur Erzeugung von Zeitüberschreitungssignalen ausgebildet ist.

32. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 28 bis 31, dadurch gekennzeichnet, daß die Aufbereitungs- und/oder Auswerteeinheit (41) ein Statistikmodul (W) besitzt, das mit dem Impulszähler (Z), dem oder den Zeiterfassungsmit­ teln (Fig. 10D, I) und/oder dem Schwellwertentscheider (S, 50) für Zeitüber­ schreitungssignale verbunden und zur ausgangsseitigen Bereitstellung (26) von Tabellen, Häufigkeitsverteilungen und/oder Streuungen ausgebildet ist.

33. Textilmaschine oder -anlage, mit mehreren Bearbeitungsstationen für durchlaufendes Garn (1) und/oder Fasern, in denen jeweils eine Prüfvor­ richtung und gegebenenfalls ein Prüfverfahren nach einem der vorange­ henden Ansprüche verwendet wird, gekennzeichnet durch einen Zen­ tralcomputer, mit dem die Aufbereitungs- und/oder Auswerteeinheiten (41) der Prüfvorrichtungen in den Bearbeitungsstationen verbunden (26) sind.

34. Textilmaschine oder -anlage nach Anspruch 33, dadurch gekennzeichnet, daß der Zentralcomputer mit Funktionsmodulen versehen ist, die zur Über­ wachung und zum Vergleich von Daten unterschiedlicher Bearbeitungssta­ tionen über spezifizierte Zeiträume und/oder zur Erstellung von Gesamtsta­ tistiken programmiert sind.