DE19515347C2 - Elektrodenstruktur und Kondensator mit Materialien mit hoher Dielektrizitätskonstante - Google Patents
Elektrodenstruktur und Kondensator mit Materialien mit hoher DielektrizitätskonstanteInfo
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Description
Diese Erfindung bezieht sich auf Kondensatoren zur Verwendung in
Speichern und spezieller auf eine Elektrodenstruktur auf der
Halbleiterseite eines Kondensators mit einem Material mit hoher
Dielektrizitätskonstante vom Oxid-Typ, der für dynamische Spei
cher mit wahlfreiem Zugriff (DRAMs) geeignet ist.
Die Erweiterung von dynamischen Speichern mit wahlfreiem Zugriff
(DRAMs) hin zu höheren Dichten, zu einem GBit oder höherer Inte
gration, erfordert Materialien mit hohen Dielektrizitätskonstan
ten, um in der Lage zu sein, ausreichend große Kondensatoren in
dem reduzierten, zur Verfügung stehenden Oberflächengebiet auf
einem integrierten Schaltkreischip zu konstruieren. Es zeigt
sich, daß Materialien vom Verbindungsoxid-Typ, insbesondere fer
roelektrische oder paraelektrische Materialien, wie BaxSr(1-x)TiO₃
oder PbZrxTi1-xO₃ (PZT), unter den Materialien sind, die ausrei
chend hohe Dielektrizitätskonstanten aufweisen, wie sie für
DRAMs mit einem GBit erforderlich sind. Diese Materialien müssen
auf Elektroden in elektrischem Kontakt zu Halbleiterbereichen,
wie Silicium oder Legierungen desselben, aufgebracht werden. Die
hoch dielektrischen Materialien können durch eine Vielzahl von
Verfahren aufgebracht werden, die in einem bestimmten Stadium
häufig eine Erwärmung auf Temperaturen über 500°C beinhalten.
Die Materialien können während der Fertigung der Bauelemente
auch höheren Temperaturen ausgesetzt sein.
Bei der Fertigung der Kondensatorstruktur sollten die elektri
sche Leitfähigkeit der Elektroden erhalten und die Bildung einer
Siliciumoxidschicht in Serie mit dem hoch dielektrischen Konden
sator verhindert werden. Außerdem sollte die Wechselwirkung zwi
schen der Elektrode und dem hoch dielektrischen Material vermie
den werden, um die Struktur und die Eigenschaften des hoch di
elektrischen Materials zu bewahren.
US 5 185 689 beschreibt einen Kondensator mit einer Elektrode
aus Ruthenat. Die Elektrodenstruktur des Kondensators ist auf
einer leitfähigen Schicht aufgebaut, die sich auf einem
dielektrischen Substrat befindet. Die Elektrodenstruktur wird
von zwei Elektroden gebildet, die durch eine dielektrische
Schicht getrennt sind. Eine der beiden Elektroden oder auch
beide bestehen aus Ruthenatmaterial, aus Rutheniumoxid oder
einem vergleichbaren leitfähigen Oxid.
In Research Disclosure, Januar 1993, 345119, ist eine
dreischichtige Elektrodenstruktur beschrieben, deren mittlere
Schicht aus einer binären Legierung besteht. Die binäre
Legierung ist eine oxidationsbeständige Matrix aus z. B. Pt, Ir,
Rh und kleinen Beimengungen von B, Hf oder Ti.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird eine Elektrodenstruktur
für eine Seite eines Kondensators mit einem Material mit hoher
Dielektrizitätskonstante in Kontakt mit einem Halbleiterbereich
auf einem Substrat mit einer freiliegenden Oberfläche bereitge
stellt, wobei sie eine erste Schicht aus Metall, das aus der
Gruppe ausgewählt ist, die aus Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legie
rungen derselben besteht, die über dem Halbleiterbereich und in
ohmschem Kontakt mit dem Halbleiterbereich ausgebildet ist, eine
zweite Schicht aus Metalloxid, das aus der Gruppe ausgewählt
ist, die aus einem Oxid von Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Mischun
gen derselben besteht, die über der ersten Schicht in ohmschem
Kontakt mit der ersten Schicht ausgebildet ist, und eine dritte
Schicht aus Metall beinhaltet, das aus der Gruppe ausgewählt
ist, die aus Pt, Au, Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen der
selben besteht, wobei ein hoch dielektrisches Material darüber
gebildet werden kann, zum Beispiel Bariumstrontiumtitanat oder
Bleizirkoniumtitanat (PZT).
Die Erfindung stellt des weiteren ein Verfahren zum Herstellen
eines Kondensators sowie einen Kondensator bereit, der die oben
beschriebene Elektrodenstruktur aufweist und des weiteren eine
vierte Schicht aus einem hoch dielektrischen Material, das aus
der Gruppe ausgewählt ist, die aus Materialien vom Verbindungs
oxid-Typ besteht, insbesondere ferroelektrischen oder paraelek
trischen Materialien, wie BaTiO₃, SrTiO₃, BaxSr(1-x)TiO₃, PLT, PLZT
oder PbZrxTi1-xO₃ (PZT), und eine fünfte Schicht aus einem leitfä
higen Material umfaßt, die auf der vierten Schicht ausgebildet
ist.
Die Aufgabe der Erfindung besteht in der Bereitstellung eines
Kondensators zur Verwendung in dynamischen Speichern mit wahl
freiem Zugriff (DRAMs), mit einer Elektrodenstruktur, zum
Beispiel die untere Elektrode des Kondensators, wobei die dritte
Schicht eine Barriere für Titanatkomponenten bereitstellt, um zu
verhindern, daß diese mit dem Metalloxid wechselwirken, das die
zweite Schicht bildet, wie oben beschrieben.
Diese und weitere Merkmale, Aufgaben und Vorteile der vorliegen
den Erfindung werden bei Betrachtung der folgenden detaillierten
Beschreibung der Erfindung offensichtlich, wenn sie in Verbin
dung mit den Zeichnungen gelesen wird, in denen:
Fig. 1 eine Querschnittsansicht einer Ausführungsform der Erfin
dung zeigt.
Fig. 2 eine vergrößerte Ansicht eines Teils von Fig. 1 zeigt.
Fig. 3 eine Querschnittsansicht einer alternativen Ausführungs
form der Erfindung zeigt.
Bezugnehmend auf Fig. 1, ist eine Speichermatrix 9, die Konden
satoren 10 und 11 umfaßt, zum Speichern von elektrischer Ladung
gezeigt. Fig. 2 zeigt eine vergrößerte Ansicht eines Teils von
Fig. 1 und stellt eine Querschnittsansicht des Kondensators 10
und eines Halbleiterbereichs 26 dar. Die Kondensatoren 10 und 11
sind auf einer Oberseite 22 über jeweiligen Halbleiterbereichen
26 und 28 ausgebildet. Die Halbleiterbereiche 26 und 28 wirken
dahingehend, daß die untere Elektrodenstruktur 14 der Kondensa
toren 10 und 11 mit dotierten Bereichen 38 und 40 in einem Sub
strat 12 elektrisch gekoppelt werden. Die Halbleiterbereiche 26
und 28 können zum Beispiel aus Silicium, Germanium, Galliumarse
nid und Legierungen derselben bestehen. Das Substrat 12 kann aus
einem Halbleiter, zum Beispiel Silicium, Germanium, Galliumarse
nid und Legierungen derselben bestehen. Die Kondensatoren 10 und
11 können jeweils eine untere Elektrodenstruktur 14, eine di
elektrische Schicht 16, die zum Beispiel aus einem hoch dielek
trischen Material, wie Bariumtitanat oder Bleizirkoniumtitanat
(PZT) bestehen kann, und eine obere Elektrode 18 beinhalten, die
aus einem leitfähigen Material, wie Aluminium, Platin etc., be
stehen kann.
Das Substrat 12 kann eine dielektrische Schicht 20 aufweisen,
die auf einer Oberseite 21 ausgebildet ist. Die dielektrische
Schicht 20, die zum Beispiel aus Siliciumaioxid bestehen kann,
weist eine Oberseite 22 auf. Öffnungen, Durchkontaktlöcher oder
Gräben 24 und 25 können in der Oberseite 22 durch die Schicht 20
hindurch bis zu der Oberseite 21 des Substrates 12 oder in diese
hinein ausgebildet sein. Öffnungen, Durchkontaktlöcher oder Grä
ben 24 und 25 können zum Beispiel durch eine Maskierungsschicht
20 und reaktives Ionenätzen (RIE) gebildet werden. Die Gräben 24
und 25 können mit dotiertem Silicium oder einer dotierten Legie
rung von Silicium, wie Silicium-Germanium, oder einem Silicid
gefüllt sein, das polykristallin sein kann, um Halbleiterberei
che 26 und 28 zu bilden. Die Halbleiterbereiche 26 und 28 können
jeweils eine Oberseite 27 und 29 aufweisen, die koplanar mit der
Oberseite 22 der dielektrischen Schicht 20 ist. Die koplanare
Oberseite 22, 27 und 29 kann durch chemisch-mechanisches Polie
ren (CMP) erzeugt werden. Die Oberseiten 27 und 29 der Halblei
terbereiche 26 und 28 bilden eine freiliegende Oberfläche für
einen nachfolgenden elektrischen Kontakt zur unteren Elektroden
struktur 14 der Kondensatoren 10 beziehungsweise 11.
Wie in Fig. 2 gezeigt, beinhaltet die untere Elektrodenstruktur
14 der Kondensatoren 10 und 11 drei Schichten. Eine erste
Schicht 31, eine zweite Schicht 32 und eine dritte Schicht 33,
die eine über der anderen über der Oberseite 27 des Halbleiter
bereichs 26 und der Oberseite 22 der dielektrischen Schicht 20
ausgebildet sind.
Die erste Schicht 31 kann aus einem Metall bestehen, das aus der
Gruppe ausgewählt ist, die aus Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legie
rungen derselben besteht, die über dem Halbleiterbereich 26 und
der dielektrischen Schicht 20 und in ohmschem Kontakt mit dem
Halbleiterbereich 26 ausgebildet ist. Die erste Schicht 31 kann
durch Sputterdeposition in einem sauerstofffreien Plasma, wie in
einer Umgebung aus reinem Argon, oder durch chemische Gasphasen
abscheidung in einer sauerstofffreien Umgebung oder einem sauer
stofffreien Umfeld erzeugt werden.
Die zweite Schicht 32 kann aus einem Metalloxid bestehen, das
aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus einem Oxid von Ru, Ir,
Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht, die über der
ersten Schicht 31 und der dielektrischen Schicht 20 und in ohm
schem Kontakt mit der ersten Schicht 31 ausgebildet ist. Die
zweite Schicht 32 kann durch Sputterdeposition oder reaktives
Sputtern eines Targets aus einem ausgewählten Metall in einem
sauerstoffhaltigen Plasma, durch reaktive Aufdampfung von einem
Target aus einem ausgewählten Metall in Sauerstoff oder durch
chemische Gasphasenabscheidung von einem geeigneten Vorprodukt
in einer Sauerstoffumgebung oder einem Sauerstoffumfeld erzeugt
werden.
Die dritte Schicht 33 kann aus einem Metall bestehen, das aus
der Gruppe ausgewählt ist, die aus Pt, Au, Ru, Ir, Re, Rh, Os,
Pd und Legierungen derselben besteht, die über der zweiten
Schicht 32 und der dielektrischen Schicht 20 und in ohmschem
Kontakt mit der zweiten Schicht 32 ausgebildet ist. Die dritte
Schicht 33 kann durch Sputterdeposition oder Aufdampfen erzeugt
werden.
Der Halbleiterbereich 26 und die Oberseite 27 können mit der
Schicht 31 wechselwirken, um eine Verbindung von Atomen des
Halbleiterbereichs 26 zu bilden, um eine Metall-Halbleiter
schicht 34, wie ein Metallsilicid, zu erzeugen. Die Metall-Halb
leiterschicht 34 kann in Abhängigkeit davon, ob die Temperatur
an der Oberfläche 27 auf eine ausreichende Temperatur erhöht
wurde, bei der die Atome vom Bereich 26 in die erste Schicht 31
hineindiffundieren oder umgekehrt und eine Verbindung bilden,
erzeugt werden oder nicht.
Die dielektrische Schicht 16 besteht aus einem hoch dielektri
schen Material, das aus der Gruppe ausgewählt sein kann, die aus
Materialien vom Verbindungsoxid-Typ besteht, insbesondere ferro
elektrischen oder paraelektrischen Materialien, wie Bariumstron
tiumtitanat und Bleizirkoniumtitanat (PZT).
Die obere Elektrode 18 kann zum Beispiel aus einer Schicht Me
tall bestehen, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Pt,
Au, Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht.
Eine erste Spannung V₁ kann an den Kondensator 10 dadurch ange
legt werden, daß eine Spannung an eine Leitung 40 zu der oberen
Elektrode 18 angelegt wird und die untere Elektrode 14, der
Halbleiterbereich 26, der dotierte Bereich 38 und das untere
Substrat 12, wenn das untere Substrat 12 leitend ist, mit einer
zweiten Spannung V₂ über eine Leitung 42 beaufschlagt werden. Da
der Halbleiterbereich 26, die Metall-Halbleiterschicht 34, wenn
vorhanden, und die untere Elektrode 14, die eine erste, eine
zweite und eine dritte Schicht 31 bis 33 beinhaltet, elektrisch
leitfähig sind, liegt die Spannung V₁ an der Leitung 40 und der
oberen Elektrode 18 über die dielektrische Schicht 16 hinweg zu
der unteren Elektrode 14 auf Spannung V₂ mittels der Leitung 42
an. Die Spannung über dem Kondensator 10 beträgt V₁-V₂.
Die erste Schicht 31 der unteren Elektrodenstruktur 14 wirkt
dahingehend, daß eine Oxidation des Halbleiterbereichs 26 nach
der Bildung der ersten Schicht 31 und während der Bildung der
zweiten Schicht verhindert wird, wobei ein Teil der ersten
Schicht oxidiert werden kann. Wenn der Bereich 26 zum Beispiel
aus Silicium besteht, kann die Metallsilicidschicht 34 aus Ru
theniumsilicid bestehen, und die erste Schicht 31 kann aus Ru
thenium bestehen. Die zweite Schicht 32 kann aus Rutheniumoxid
bestehen. Die zweite Schicht 32 wirkt dahingehend, daß eine Dif
fusionsbarriere für Sauerstoff- und Halbleiteratome bereitge
stellt wird. Die Halbleiteratome stammen von dem Halbleiterbe
reich 26, und die Sauerstoffatome können von der dielektrischen
Schicht 16 herrühren.
Die dritte Schicht 33 kann zum Beispiel aus einem oxidationsbe
ständigen Metall, wie Platin, bestehen und wirkt dahingehend,
daß eine Wechselwirkung zwischen dem nachfolgend gebildeten hoch
dielektrischen Oxid der dielektrischen Schicht 16 und dem Me
talloxid der zweiten Schicht 32 verhindert wird. Ohne die
Schicht 33 aus oxidationsbeständigem Metall kann das Metalloxid
der Schicht 32 mit der dielektrischen Schicht 16 wechselwirken
und in diese hineindiffundieren, oder die dielektrische Schicht
16 kann mit der Metalloxidschicht 32 wechselwirken oder in diese
hineindiffundieren. Es scheint wahrscheinlich, daß das Metall
oxid von Schicht 32 in die dielektrische Schicht 16 hineinwan
dert oder -diffundiert, wenn die Schicht 33 nicht vorhanden ist,
um eine Diffusionsbarriere bereitzustellen.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform beinhaltet die erste
Schicht 31 ein Metall wie Ru, Ir, Re und Rh. Die zweite Schicht
32 beinhaltet ein Oxid des Metalls oder der Metalle, aus denen
die erste Schicht 31 besteht.
Bezugnehmend auf Fig. 3, ist ein Kondensator 48 gezeigt, der für
die Speichermatrix 9 geeignet ist. In Fig. 3 werden gleiche Be
zugszeichen für Funktionen verwendet, die den Bauelementen der
Fig. 1 und 2 entsprechen. Ein Halbleiterbereich 26′ erstreckt
sich über die Oberfläche 22 der dielektrischen Schicht 20, um
ein zusätzliches Oberflächengebiet einer unteren Elektroden
struktur 14′ bereitzustellen, die über einem Halbleiterbereich
26′ ausgebildet ist. Eine dielektrische Schicht 16′ und eine
obere Elektrode 18′ sind über der unteren Elektrodenstruktur 14′
ausgebildet. Der Halbleiterbereich 26′ kann eine kubische, ku
bisch-rechtwinklige, zylindrische, konische oder komplexe geome
trische Form aufweisen, die sich von der Oberfläche 21 des Sub
strates 12 aus erstreckt. Die Form über der Oberfläche 22 wirkt
dahingehend, daß viel Oberflächengebiet sowohl für die untere
Elektrodenstruktur 14′ als auch die obere Elektrode 18′ bereit
gestellt wird.
Es wurden ein Kondensator und eine Elektrodenstruktur beschrie
ben, die ein Substrat, einen Halbleiterbereich auf einem Sub
strat mit einer freiliegenden Oberfläche, eine erste Schicht aus
Metall, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Ru, Ir, Re,
Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht, die über dem Halb
leiterbereich in ohmschem Kontakt mit dem Halbleiterbereich aus
gebildet ist, eine zweite Schicht aus Metalloxiden, die aus der
Gruppe ausgewählt sind, die aus einem Oxid von Ru, Ir, Re, Rh,
Os, Pd und Mischungen derselben besteht, die über der ersten
Schicht in ohmschem Kontakt mit der ersten Schicht ausgebildet
ist, eine dritte Schicht aus Metall, das aus der Gruppe ausge
wählt ist, die aus Pt, Au, Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierun
gen derselben besteht, eine vierte Schicht aus einem hoch di
elektrischen Material, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die
aus Materialien vom Verbindungsoxid-Typ besteht, insbesondere
ferroelektrischen oder paraelektrischen Materialien, wie
BaxSr(1-x)TiO₃ oder PbZrxTi1-xO₃ (PZT), und eine fünfte Schicht aus
einem leitfähigen Material beinhaltet, die auf der vierten
Schicht ausgebildet ist.
Claims (5)
1. Elektrodenstruktur (14) für eine Seite eines Kondensators
(10, 11) mit einem Material mit hoher
Dielektrizitätskonstante, die beinhaltet:
ein Substrat (12),
einen Halbleiterbereich (26, 28) auf dem Substrat (12) mit einer freiliegenden Oberfläche (27, 29),
eine erste Schicht (31) aus einem Metall, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht, die über dem Halbleiterbereich (26, 28) in ohmschem Kontakt mit dem Halbleiterbereich ausgebildet ist,
eine zweite Schicht (32) aus einem Metalloxid, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus einem Oxid von Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht, die über der ersten Schicht (31) in ohmschem Kontakt mit der ersten Schicht (31) ausgebildet ist, und
ein dritte Schicht (33) aus einem Metall, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Pt, Au, Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht, wobei ein hoch die lektrisches Material (16) darüber ausgebildet werden kann.
ein Substrat (12),
einen Halbleiterbereich (26, 28) auf dem Substrat (12) mit einer freiliegenden Oberfläche (27, 29),
eine erste Schicht (31) aus einem Metall, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht, die über dem Halbleiterbereich (26, 28) in ohmschem Kontakt mit dem Halbleiterbereich ausgebildet ist,
eine zweite Schicht (32) aus einem Metalloxid, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus einem Oxid von Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht, die über der ersten Schicht (31) in ohmschem Kontakt mit der ersten Schicht (31) ausgebildet ist, und
ein dritte Schicht (33) aus einem Metall, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Pt, Au, Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht, wobei ein hoch die lektrisches Material (16) darüber ausgebildet werden kann.
2. Elektrodenstruktur nach Anspruch 1, wobei der Halbleiterbe
reich (26, 28) ein Material beinhaltet, das aus der Gruppe
ausgewählt ist, die aus Silicium, Germanium und Legierungen
derselben besteht.
3. Elektrodenstruktur nach Anspruch 1, wobei die Oberfläche
(27, 29) des Halbleiterbereichs (26, 28) und die erste
Schicht (31) eine Verbindung beinhalten, die von Atomen des
Halbleiterbereichs (26, 28) und der ersten Schicht (31)
gebildet wird.
4. Elektrodenstruktur nach Anspruch 3, wobei die Verbindung
aus einem Silicid besteht.
5. Kondensator (10, 11) zur Verwendung in dynamischen
Speichern mit wahlfreiem Zugriff (DRAMs), der beinhaltet:
ein Substrat (12),
einen Halbleiterbereich (26, 28) auf dem Substrat (12) mit einer freiliegenden Oberfläche (27, 29),
eine erste Schicht (31) aus einem Metall, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht, die über dem Halbleiterbereich (26, 28) in ohmschem Kontakt mit dem Halbleiterbereich (26, 28) ausgebildet ist,
eine zweite Schicht (32) aus einem Metalloxid, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus einem Oxid von Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Mischungen derselben besteht, die über der ersten Schicht (31) in ohmschem Kontakt mit der ersten Schicht (31) ausgebildet ist,
ein dritte Schicht (33) aus einem Metall, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Pt, Au, Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht,
eine vierte Schicht (16) aus einem hoch dielektrischen Material, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus einem Material vom Verbindungsoxid-Typ besteht, einem ferroelektrischen Material oder einem paraelektrischen Material, BaxSr(1-x)TiO₃ und PbZrxTi1-xO₃ (PZT), und
eine fünfte Schicht (18) aus einem leitfähigen Material, das auf der vierten Schicht (16) ausgebildet ist.
ein Substrat (12),
einen Halbleiterbereich (26, 28) auf dem Substrat (12) mit einer freiliegenden Oberfläche (27, 29),
eine erste Schicht (31) aus einem Metall, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht, die über dem Halbleiterbereich (26, 28) in ohmschem Kontakt mit dem Halbleiterbereich (26, 28) ausgebildet ist,
eine zweite Schicht (32) aus einem Metalloxid, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus einem Oxid von Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Mischungen derselben besteht, die über der ersten Schicht (31) in ohmschem Kontakt mit der ersten Schicht (31) ausgebildet ist,
ein dritte Schicht (33) aus einem Metall, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus Pt, Au, Ru, Ir, Re, Rh, Os, Pd und Legierungen derselben besteht,
eine vierte Schicht (16) aus einem hoch dielektrischen Material, das aus der Gruppe ausgewählt ist, die aus einem Material vom Verbindungsoxid-Typ besteht, einem ferroelektrischen Material oder einem paraelektrischen Material, BaxSr(1-x)TiO₃ und PbZrxTi1-xO₃ (PZT), und
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