DE1925921B2 - Verfahren zur herstellung von widerstandselementen fuer hochohmige elektrische schichtwiderstaende - Google Patents
Verfahren zur herstellung von widerstandselementen fuer hochohmige elektrische schichtwiderstaendeInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von Widerstandselementen für hochohmige
elektrische Schichtwiderstände, bei denen auf einen plattenförmigen Trägerkörper eine Metallschicht und
darüber eine Siliziummonoxidschicht aufgedampft wird.
Es ist bereits ein Verfahren zum Herstellen von Schichtwiderständen bekannt wobei die Widerstandsschicht
aus Tantal besteht, die auf den Träger aufgestäubt wird und diese Schicht dann mit Sauerstoff
behandelt wird, so daß dünne Oxidschichten auf dem Träger entstehen. Durch die Oxydation der Tantalschicht
kann der Widerstandswert des effektiven Flächenwiderstandes erhöht werden. Um die Schicht
oder die Schichten zu stabilisieren, werden sie vorbereitend einer Temperung in Luft unterzogen. Es
können hierbei mehrere Metallschichten (Tantalschichten) auf den Träger aufgestäubt werden und
jede derartige Schicht wird mit Sauerstoff behandelt, um eine Oxidbildung zu bewirken. Dieses bekannte
Verfahren ist jedoch verhältnismäßig umständlich und obwohl diese Hochwiderstandsschichten überaus
niedrige Temperaturkoeffizienten aufweisen, so steigt bei ihnen die Widerstandskraft mit dem Alter
der Schichten, was offenbar darauf zurückzuführen ist, daß die bisherigen Maßnahmen zur Stabilisierung
der Schichten nicht ausreichten, um der fortschreitenden Oxydation entgegenzuwirken, wobei noch
hinzu kommt, daß aus dem Träger stammende Verunreinigungen sich an der Träger-Metall-Grenzschicht
anreichern und ebenfalls den Widerstandswert verändern. (Literaturstelle IRE Wescon Convention
Record, 1959, Teil 6, Seite 87—91.)
Bekannt ist auch ein Herstellungsverfahren für hochohmige Widerstände insbesondere für stetig veränderbare
hochohmige Widerstände in Drehpotentiometern u. dgl. Hierbei wird zunächst auf den Träger,
der aus einem Polyplast besteht, eine sehr dünne Schicht eines organischen, beständigen dielektrischen
Stoffes, beispielsweise Siliziummonoxid im Vakuum aufgedampft und dann auf diese Schicht, ebenfalls
im Vakuum, eine leitende Metall- oder Halbleiterschicht
aufgedampft Bei einem auf diese Weise hergestellten hochohmigen Widerstand ändert sich jedoch
der Widerstandswert ebenfalls mit fortschreitender Alterung der Schichten. Darüberhinaus wird
der auf diese Weise hergestellte hochohmige Widerstand hier keiner Temperung unterzogen, der Temperaturkoeffizient
ist daher relativ groß und die einzelnen Schichten sind einer fortschreitenden Oxydation
ausgesetzt (deutsche Patentschrift 878 236).
Gemäß einem weiteren bekannten Verfahren wird zur Herstellung von hochohmigen Widerstandsschichten
Kohlenstoff und Bor durch thermische Zersetzung von gasförmigen Kohlenwasserstoffen auf
den Träger aufgebracht. Der Träger besteht aus Keramik, Speckstein, Porzellan od. dgl. Der Träger
wird von der Bekohlung mit Bor oder borhaltigen Stoffen vorbehandelt, und zwar derart, daß eine
Schicht elementares Bor auf der Trägerunterlage aufgebracht wird, wobei keine Reaktion des Bors mit
der Trägerunterlage erfolgt. Auf diese Borschicht wird dann der Kohlenstoff in einem thermischen
Zersetzungsverfahren niedergeschlagen.
Durch die Diffusion der vorhandenen Borschicht in die nachher angebrachte Kohlenstoffschicht ergibt
sich eine homogene dunkelbraun gefärbte Schicht, die sehr fest auf der Trägerunterlage haftet und die
Erzielung sehr hoher Widerstandswerte bei verhältnismäßig starker Widerstandsschicht zu erzielen
gestattet. Eine äußere Schutzschicht fehlt dort jedoch (deutsche Patentschrift 1 045 521).
Man hat auch zur Herstellung von elektrischen Widerständen bereits vorgeschlagen, Metall oder Me-
tallegierungen in Form von Schichten auf den Widerstandsträger
aufzudampfen. Gemäß einem weiteren bekannten Verfahren werden Widerstände höherer
Widerstandswerte dadurch erzielt, daß in einem evakuierten Gefäß Oxide von elektrisch isolierenden
Elementen und Metalle bzw. Metallegierungen unter Zufuhr von Sauerstoff auf erhitzte Widerstandsträger
gleichzeitig aufgedampft werden. Dabei kann auf dem Träger, der aus Glas bestehen kann, zunächst
eine Nickel-Chrom-Legierung in einer nicht oxydierenden Atmosphäre aufgedampft werden und
dann auf diese aufgedampfte Schicht Siliziummonoxid
als Schutzschicht aufgedampft werden, wobei sich jedoch ebenfalls die aus der Glasunterlage stammenden
Verunreinigungen an der Glas-Metall-Grenzschicht anreichern können und ebenfalls den Widerstandswert
verändert können (deutsche Auslegeschrift 1200 421).
Bei der Entwicklung von Metalloxidschichtwiderständen
erwies sich die elektrische Stabilitäi als ein besonders schwieriges Problem. Es wurde festgestellt,
daß sowohl wandernde Alkalimetallionen im Trägerkörper als auch der direkte Kontakt des
leitenden Schichtelementes mit der Umgebungsatmosphäre als Hauptfaktoren für die elektrische In-Stabilität
angesehen werden. Man ist daher dazu übergegangen, alkalifreie Trägerkörper zu verwenden
und äußere Schutzüberzüge für die elektrisch leitenden Metalloxidwiderstände der vorliegenden Art
vorzusehen, wobei letztere aus hochohmigen Metalloxidschichten bestehen können, z. B. aus Zinn- und
Antimonoxid.
Durch diese Maßnahme vermochte man jedoch nicht, aus diesen Widerständen Präzisionswiderstände
zu machen.
Es hat sich außerdem herausgestellt, daß ein keramisches Material, selbst wenn es frei von wandernden
Alkalimetallionen ist, keine vollständig geeignete und zufriedenstellende Trägeroberfläche liefert,
auf der man unmittelbar die Metalloxidschicht für einen Widerstand niederschlagen kann. Das Einsetzen
einer Zwischenschicht, einschließlich von Oxidschichten, zwischen eine geeignete Widerstandsschicht
und einen Glasträgerkörper ist ebenfalls bekannt. Man hat auch Oxidschichten verwendet, um
die Haftung einer Metallschicht auf einem Glasträger zu begünstigen.
Ein ebenfalls bekannter elektrischer Schichtwiderstand besteht aus einem keramischen Trägerkörper
und mindestens zwei übereinander auf diesen angeordneten Metalloxidschichten, von denen die eine
die eigentliche Widerstandsschicht bildet und die zweite aus Zinn- und Antimonoxid besteht. Zur Verbesserung
der elektrischen Eigenschaften wird bei diesem elektrischen Schichtwiderstand die zweite, jedoch
gegenüber der eigentlichen Widerstandsschicht sehr hochohmige Schicht zwischen dem Trägerkörper
und der eigentlichen Widerstandsschicht mit den Stromschlußklemmen aufgebracht. Die zweite
Schicht ist gegenüber der eigentlichen Widerstandsschicht sehr hochohmig und normalerweise so groß,
daß weniger als 1 % der Querströme in einem Widerstand in der zweiten Schicht auftreten. In einigen
Fällen kann es sich jedoch um einen größeren Bruchteil, beispielsweise wenige Prozent des gesamten
Stromes der zweiten Schicht handeln. Diese Maßnahme kann einen gut ausgeglichenen Temperaturkoeffizienten
liefern, wenn die eigentliche Widerstandsschicht einen positiven Temperaturkoeffizienten
aufweist, und nicht in anderer Weise ausgeglichen ist. Jedoch wird gewöhnlich die Stabilität im umgekehrtem
Sinn beeinträchtigt, und man wendet diese Maßnahme nur dort und nur bis zu dem Ausmaß an,
in dem dieser Einfluß toleriert werden kann (deutsche Auslegeschrift 1204 733).
Schließlich ist auch ein Verfahren zum Herstellen eines Schichtwiderstandes bekannt, wonach
auf einen Trägerkörper zunächst eine Tantalschicht aufgebracht wird, und zwar zwischen zwei direkt
auf den Trägerkörper aufgesetzte und sich gegenüberliegende Stromanschlußkontakte. Die äußere
Fläche der Tantalschicht wird dann mit einem Elektrolyten in Berührung gebracht, in den eine Kathode
aus Tantal oder aus Platin eintaucht Zwischen die Stromanschlußkontakte und die in den Elektrolyten
eintauchende Kathode wird dann eine Spannung angelegt, so daß sich auf der Oberfläche der Tantalschicht
ein anodischer Überzug niederschlagen kann. Je nach Dauer der Behandlung kann dann ein gewünschter
Widerstandswert erreicht werden (französische Patentschrift 1 307 431).
Aufgabe der Erfindung ist es, das eingangs definierte Verfahren hinsichtlich eines niedrigeren Temperaturkoeffizienten
des elektrischen Widerstandswertes bei relativ hohem Flächenwiderstand der damit
herzustellenden Widerstandselemente zu verbessern.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß zunächst auf den isolierenden Trägerkörper
eine als isolierende Trennschicht dienende Siliziummonoxidschicht aufgedampft wird, auf diese Siliziummonoxidschicht
zwei gegenüberliegende Stromanschlußkontakte und dann eine diese Kontakte teilweise
überbrückend verbindende diffusionsreaktionsfähige Metallschicht mit maximal solcher Schichtdicke
aufgedampft wird, daß sich die in der später erfolgenden Temperung an den Grenzschichten der
Metallschicht bewirkte Diffusion auf den Wert des Flächenwiderstandes noch merklich auswirken kann,
und daß auf diese Metallschicht dann eine äußere Siliziummonoxidschicht aufgedampft wird, und daß
dieses so erhaltene Widerstandselement dann derart einer Temperung unterworfen wird, daß dadurch
zwischen der Metallschicht und den Siliziummonoxidschichten eine Reaktion ausgelöst wird, deren Tiefe
einem wesentlichen Teil der Dicke der Metallschicht entspricht.
Ein nach diesem vergleichsweise einfachen Verfahren hergestellter Schichtwiderstand weist dann
einen äußerst niedrigen Ternper-turkoeffizienten des elektrischen Widerstandswertes auf, und zwar bei
relativ hohem Flächen widerstand.
Eine vorteilhafte Ausführungsform des zuvor definierten Verfahrens besteht auch darin, daß auf die
untere Siliziummonoxidschicht eine aus Chrom bestehende
Metallschicht aufgedampft und dieser Vorgang beendet wird, bevor der Flächenwiderstand
der Metallschicht unter 100 000 Ohm absinkt.
Hervorragende Ergebnisse lassen sich auch dann erzielen, wenn man auf die untere Siliziummonoxidschicht
eine aus Nickel bestehende Metallschicht aufdampft und diesen Vorgang beendet, bevor der
Flächenwiderstand der Metallschicht unter 60000hm absinkt.
Zweckmäßig wird dabei die untere Siliziummonoxidschicht in einer Dicke von etwa 2500 Angstrom
und die obere Siliziummonoxidschicht in einer Dicke von etwa 10 000 Angström aufgetragen.
Im einzelnen kann die Erfindung dadurch eine vorteilhafte Weiterbildung erfahren, daß die jeweilige
Behandlungstemperatur je nach den Widerstandswerten der Metallschicht, die diese vor der Temperung
hat und nach der Temperung haben soll, eingestellt wird.
Der einschneidende Unterschied zwischen dem Verfahren nach der Erfindung und den bekannten
Verfahren zur Herstellung von Metallschichtwiderständen wird dann deutlich, wenn man den Schichtwiderstandswert,
der gemäß dem bekannten Verfahren erreicht wird, mit dem Schichtwiderstandswert vergleicht, der nach der vorliegenden Erfindung
erzieit wird. Bei dea nach bekannten Verfahren hergestellten Schichtwiderständen liegt der
Schichtwiderstand in der Größenordnung von einem Ohm, während der Schichtwiderstandswert, der mit
Hilfe des erfindungsgemäßen Verfahrens erzielt wird, beispielsweise bei Verwendung von Nickel in der
Größenordnung von 6000 Ohm und bei Verwendung von Chrom in der Größenordnung von IOC 000 Ohm
liegt.
Im folgenden wird die Erfindung an Hand eines Ausführungsbeispiels unter Hinweis auf die Zeichnung
näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 einen Querschnitt durch einen nach dem erfindungsgemäßen Verfahren hergestellten Schichtwiderstand,
F i g. 2 ein Diagramm zur Veranschaulichung der Widerstandswerte in Abhängigkeit von verschiedenen
Wärmebehandlungszeiten und -temperaturen,
F i g. 3 ein Diagramm zur Veranschaulichung des Verhältnisses zwischen dem höchstmöglichen Widerstandswert
nach der Temperung und dem Widerstandswert vor der Temperung.
Wie aus F i g. 1 hervorgeht, wird auf eine in üblicher Weise vorbehandelte Glasplatte 10 in einem
Vakuum zunächst eine Siliziummonoxidschicht 11 einer Dicke von 2600 Angström aufgebracht. Auf
diese Schicht 11 werden zwei dünne Chrom/Gold-Stromkontakte 12 A und 12 B zusammen mit einer
diese verbindenden Nickelschicht 14 durch die öffnung einer Abdeckplatte aufgedampft. Obwohl bei
diesem bevorzugten Ausfuhrungsbeispiel eine Nickelschicht aufgetragen wird, kommt hierfür auch eine
Chromschicht in Betracht. Mit welchen Verfahrensabweichungen und Ergebnissen bei deren Anwendung
für die erfindungsgemäßen Schichtwiderstände zu rechnen ist, wird weiter unten noch dargelegt werden.
Während der Aufdampfung der Nickelschicht wird der Widerstand eines bestimmten Schichtsegments
überwacht, und die Beschichtung wird beendet, sobald der Flächenwiderstand, der ja mit zunehmender Dicke
der Nickelschicht abnimmt, auf wenig über 6000 Ohm gesunken ist. Es hat sich als praktisch und durchführbar
erwiesen, die Nickelaufdampfung zu beenden, wenn der Flächenwiderstand einen Wert zwischen
100 000 und 6000 Ohm angenommen hat Unmittelbar danach wird durch die gleiche Abdeckblende ein
Siliziummonoxid-Überzug einer Stärke von 10 000 Angström auf die Nickelschicht aufgebracht. Die erhaltenen
Widerslände werden dann mindestens 30 Minuten lang auf eine Temperatur zwischen 260 und
400° C, die sich nach dem jeweils gewünschten Widerstandswert richtet, erwärmt. Hierauf werden
sie mindestens 24 Stunden hindurch in Luft einer Temperatur von 260° C ausgesetzt und auf diese
Weise stabilisiert, indem hierdurch ein Gleichgewichtszustand an den Nickelgrenzen geschaffen wird. Es ist
festgestellt worden, daß die gebildeten Schichten unterhalb der Wärmebehandlungstemperatur sehr
stabile Widerstandswerte aufweisen.
F i g. 2 zeigt, daß der Widerstandswert einer Schicht während seiner Wärmebehandlung ansteigt
und schließlich bei einer bestimmten Temperatur ίο konstant bleibt. Es ist zu ersehen, daß der Widerstandswert
von dem Widerstandswert vor der Wärmebehandlung, der Behandhingstemperatur und der
Behandlungszeit vor Erreichen des Gleichgewichtszustandes abhängt.
Die Isothermkurven B1, B2 und B3 beziehen sich
auf die verschiedenen Behandlungstemperaruren T1,
T2 und T3 und veranschaulichen die Beziehungen zwischen
den Behandlungstemperaturen und -zeiten. Die Kurven B1, B2 und B3 gehen von einer Widerstandsschicht
aus, welche vor der Wärmebehandlung einen Flächenwiderstandswert R1 aufweist, und insbesondere
aus der Kurve B1 ist zu ersehen, daß durch die Wärmebehandlung dieser Schicht bei einer Temperatur
von T1 in der Zeit t2 sein Flächenwiderstand auf
den Wert R2 ansteigt. Wenn diese Schicht in der vorbeschriebenen
Weise stabilisiert wird, so bleibt sie temperaturbeständig bei jeder Temperatur unterhalb T1,
also unterhalb derjenigen Temperatur, bei welcher der Flächenwiderstand R2 erhalten wurde. Wird je-
doch die Schicht nach ihrer Stabilisierung hinreichend lange bei einer Temperatur oberhalb T1 erwärmt, so
ändert sich ihr Flächenwiderstand. Wird sie beispielsweise bei einer Temperatur J8 erwärmt, so nimmt ihr
Flächenwiderstand zu.
Die Isothermkurven A1 und A2 beziehen sich auf
die Behandlungstemperaturen T1 bzw. T2 und zeigen
die Änderung der Widerstandswerte einer Schicht gleicher Beschaffenheit, wie sie den Kurven B1, B2
und B3 zugrunde liegt, nur mit dem Unterschied, daß sein Anfangswiderstandswert R3 vor der Wärmebehandlung
kleiner ist als R1.
Die Wärmebehandlung der Schicht bei einer entsprechenden Temperatur und Behandlungszeit kann
in verschiedener Weise vorgenommen werden, z. B.
durch Strahlungsbeheizung, Hindurchleiten eines Heizstromes durch das Widerstandselement, mittels
Laserstrahlen. Ultrakurzwellen oder auf induktivem Wege. Während der Wärmebehandlung kann ein
Schichtabschnitt überwacht und mit einem geeichten Widerstandselement verglichen werden. Es kann die
Temperatur entsprechend empirisch ermittelter Werte gesteigert werden, bis der angestrebte Widerstandswert
erreicht ist, und dann eine entsprechende Zeit hindurch konstant gehalten werden. Ein anderes Verfahren
zur Wärmebehandlung der Schicht besteht darin, diese als Arm einer Wechselstrommeßbrücke
zu schalten und sie mit Gleichstrom entsprechend den empirisch ermittelten Werten zu erwärmen, bis die
Brücke ausbalanciert ist und damit anzeigt, daß die Schicht den gewünschten Widerstandswert erhalten
hat.
F i g. 3 veranschaulicht die Abhängigkeit des durch Temperung einer Nickelschicht erreichbaren maximalen
Widerstandswertes von dem Widerstandswert der Schicht vor der Temperung. Aus diesem Diagramm
ist auch zu ersehen, daß die prozentuale Zunahme des Widerstandswertes mit der Größe dieses Wertes vor
der Temperung ansteigt. Die hierfür maßgebenden
Gründe werden später noch erörtert. Die Wichtigkeit der Maßnahme, beim Aufbringen einer Nickelschicht
deren Widerstandswert nicht unter 6000 Ohm absinken zu lassen, ergibt sich daraus, daß bei Nickelschichten
ein Ausgangswiderstandswert unter 6000 Ohm durch anschließende Wärmebehandlung sich nicht erhöhen
läßt oder sogar noch abfällt, wohingegen bei Nickelschichten mit einem Anfangswert über 6000
Ohm während der Wärmebehandlung zunimmt, und zwar um so mehr, je höher der Anfangswert zu Beginn
der Wärmebehandlung ist.
Weshalb durch die Erfindung elektrisch stabile Schichten mit außerordentlich hohem Widerstandswert
erhalten werden, ergibt sich aus den folgenden Betrachtungen der Vorgänge bei der Bildung und
Stabilisierung der Schichten. Maßgebend für die BiI-dung der Schichtwiderstände sind Oxydations- und
strukturelle Umwandlungsvorgänge, wobei es sich bei den Oxydationsvorgängen um eine teilweise oder vollständige
Oxydation oder Silizierang der Metallschicht ao handelt, die mit einer Änderung des spezifischen
Widerstandes verbunden sind, während die strukturelle Umwandlung sowohl innere als auch äußere
Gefügeänderungen umfaßt und ebenfalls den spezifischen Widerstand beeinflußt. Die Kombination die- as
ser beiden Vorgänge bestimmt den zu erhaltenden Widerstandsendwert.
Die Oxydationsvorgange
Wird eine dünne Metallschicht auf ein Oxid aufgetragen, so ist mit einer gegenseitigen Beeinflussung
dieser beiden Stoffe in ihren Grenzschichten zu rechnen. Durch Metalldiffusion in das Oxid und durch
Silizium- oder Sauerstoffdiffusion in das Metall wird eine Zwischenschicht gebildet, deren spezifischer
Widerstand von den hierbei entstehenden Reaktionsprodukten abhängt. Die Art und Tiefe der Reaktion
in den Grenzschichten der verschiedenen Stoffe hängt von der Temperatur der Schichten und der Zeit ab,
in der sie auf einer bestimmten Temperatur gehalten werden. Eine erneute Temperaturerhöhung hat naturgemäß
eine größere Diffusionstiefe und damit eine weitere Änderung des spezifischen Widerstandes zur
Folge. Anders als bei sonstigen Diffusioiisvorgangcn
entspricht hier die Diffusionstiefe einem großen Teil der Schichtdicke und sind die für die Diffusion zur
Verfugung stehenden Metall- und Oxidmengen wegen der geringen Masse der Schicht begrenzt. Hieraus ergibt
sich eine obere Temperaturgrenze, bei deren Überschreitung eine Diffusion von Komponenten in
der angrenzenden Schicht und damit eine weitere Änderung des Widerstandswertes zufolge der Oxydation
oder Vermischung der Komponenten nicht mehr erfolgt.
Durch den Siliziummonoxidüberzug auf der Metallschicht wird nicht nur eine weitere Diffusionsquelle
geschaffen, sondern auch der Zutritt von Sauerstoff aus der Atmosphäre verhindert, diese Seite des Metails
also geschützt. Die Siliziummonoxidschicht unter der Metallschicht verhindert den Zutritt von Alkaliionen
oder anderen schädlichen Verunreinigungen aus dem Glas in das Metall. Die zwischen den beiden
Siliziummonoxidschichten eingebettete Metallschicht ist also symmetrischen Diffusionsbedingungen ausgesetzt.
Je dicker die Metallschicht ist, desto geringer wirkt
sich die auf die Grenzschichten des Metalls beschränkte Diffusion auf den Gesamtwiderstand der
doppelseitig beschichteten Metallschicht aus. Bei sehr
dicken Schichten beruhen Änderungen der Widerstandswerte lediglich auf Gefügeveränderungen auf
Grund der Glühbehandlung des Metalls. Andererseits isl festzuhalten, daß Metalle, die mit ihren Unter- und
Oberschichten keine oder nur vernachlässigbare Diffusionsreaktion»1!!
eingehen, auch durch Wärmebehandlung keine Änderung ihrer Widerstandswerte erfahren.
Die allgemeine chemische Umsetzung verläuft nach folgender Gleichung:
si + SiO + (2 χ + 1) Me = MeO + 2 MevSi,
worin Me das Metall und Si ein Überschußelement in der SiO-Schicht ist, z. B.
<- + ,-q + (2 * + 1) Ni = NiO + 2 Ni Si
Haben die Reaktionsprodukte einen höheren spezifischen Widerstand als das betreffende Metall, so
wird durch die Temperung der Widerstandswert naturgemäß erhöht. Entstehen dagegen Reaktionsprodukte
mit höheren und zugleich andere Produkte mit geringerem spezifischen Widerstand im Vergleich
mit demjenigen der ursprünglichen Metallschicht, so müssen die betreffenden Anteile der Reaktionsprodukte
zuvor bestimmt werden, ehe die Temperung auf die Erlangung eines bestimmten Flächenwiderstandes
abgestellt werden kann. Dies geschieht durch Bestimmung der Änderung m der fr|ien Energie der einzel.
nen Reaktionsprodukte und der Reaktionstiefe. Hinsichtlich der im Falle des beschriebenen Ausführungsbeispiels
benutzten Nickelschicht und der diese umgebenden Siliziummonoxidschichten ist es bekannt,
daß der spezifische Widerstand des Nickeloxides und des Nickelsilizides größer ist als derjenige des Nickels.
Aus Analysen ist ebenso bekannt, daß bei den hier in Betracht kommenden Behandlungstemperaturen
au* der Reaktion des Nickels mit Sauerstoff und SiIizium
bzw. Siliziummonoxid, Nickeloxid und Nickelsilizid entstehen. Dies erklärt die charakteristische
Erhöhung des Flächenwiderstandes einer gemäß der Erfindung behandelten Nickelschicht. Die Tatsache,
daß die prozentuale Zunahme des Flächenwiderstandes durch Wärmebehandlung abhängig ist von dem
Widerstandswert des Metalls zu Beginn der Wärmebehandlung ist folgendermaßen zu erklären:
Bekanntlich ist der Flächenwiderstand einer Schicht umgekehrt proportional der Schichtdicke, während
die Tiefe, bis zu der eine Oxydation erfolgt, nicht von der Schichtdicke, sondern von den miteinander reagierenden
Stoffen und der Reaktionstemperatur abhängt. Hingegen ist jedoch das Verhältnis zwischen
der Oxydationstiefe und der Schichtdicke von letzterer abhängig, d. h. von dem Ausgangswert des Flächenwiderstandes
für eine bestimmte Stoffkombination und den Reaktionstemperaturen. Ist der Ausgangswert
des FTächenwiderstandes hoch, so handelt es sich um eine dünne Schicht, bei der die relative
Oxydationstiefe und damit die Zunahme des FTachenwiderstandes ebenfalls hoch ist. Ist dagegen der
Anfangswert des Flächenwiderstandes klein, so handelt es sich um eine verhältnismäßig dickere Schicht,
bei der die relative Oxydationstiefe und damit die prozentuale Erhöhung des Flächenwkisrstandes ebenfalls
gering ist. Metallschichten, die so dick sind, daß demgegenüber die Reaktionstiefe nicht ins Gewicht
faiii, können keine nennenswerte Verbesserung ihrer Widerstandswerte erfahren, selbst dann nicht, wenn
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sie nach der Lehre vorliegender Erfindung behandelt werden. Die in F i g. 3 angedeutete untere Grenze des
Ausgangswertes für den Flächenwiderstand, der durch Temperung erhöht werden kann, liegt für Nickel bei
6000 Ohm. Das Absinken des Flächenwiderstandes unter 6000 Ohm ist bei der Nickelschicht auf deren
strukturelle Umwandlung oder auf die strukturelle Einebnung der Berührungsflächen zwischen der Metallschicht
und den Siliziummonoxidschichten während der Temperung zurückzuführen, worauf nachstehend
noch näher eingegangen wird.
Ein weiteres Metall, das auf Grund seiner Affinität zu Sauerstoff und Silizium und seiner Fähigkeit, bei
Erwärmung aus Siliziummonoxidüberzügen Sauerstoff aufzunehmen, Oxid- und Silizidfilme bildet, ist Chrom.
Die Behandlung von Schichten aus diesem Metall gemäß der Erfindung ergibt ebenfalls Schichtwiderständc
mit über den vor der Wärmobehandlung liegenden Anfangswerten des Flächenwiderstandes, sofern
auch dieser Anfangswert über der Grenze seiner ao Veränderungsmöglichkeit liegt. So kann bei einer
Chromschicht durch Behandlung nach dem erfindungsgemäßen Verfahren der Flächenwiderstand nur
dann erhöht werden, wenn dessen Anfangswert vor der Wärmebehandlung über etwa 100 000 Ohm liegt.
Strukturveränderungen
Metallschichten mit hohen elektrischen Widerstandswerten sind überaus dünn. Ihre Stärke beträgt
etwa das Zehn- bis Hundertfache der monomolekularen Dicke. Wegen dieser geringen Dicke der Schicht
und des verhältnismäßig langen mittleren Elektronenweges, der gelegentlich mehrere hundert Atomlagen
betragen kann, hat die Elektronenstreuung aus der Oberfläche einer dünnen Schicht einen großen Einfluß
auf den Widerstand. Bei diesen kleinen Schichtdicken spielt die örtliche Anhäufung von Atomen
eine besondere Rolle, weil sie mit einer ungleichmäßigen Ausbildung der Schicht verbunden ist. Beim
Aufdampfen der Schicht auf eine Unterlage erstarrt sie sofort nach der schnellen Kondensation und erhält
hierbei eine körnige Flächenstruktur, die durch nachfolgende Erwärmung auf Temperaturen oberhalb
der Kondensationstemperatur homogenisiert wird. Diese flächenglättende Homogenisierung der Schicht
hai eine Verminderung ihres elektrischen Widerstandes zur Folge. Durch das Versintern eines auf die
Metallschicht aufgebrachten Isolierüberzuges werden nichtleitende Teilchen zwischen die Körnchen an der
Oberfläche der Metallschicht eingelagert und hierdurch deren elektrischer Widerstandswert erhöht.
Eine anschließende Temperung bewirkt eine wechselseitige Diffusion zwischen dem Metall und dem Nichtleiter
unter Bildung eines Mischgefüges aus nichtleitenden und leitenden Teilchen. Das Auftragen eines
Isolierüberzuges kann einerseits durch Einebnen einer rauhen Schichtfläche eine Verminderung des Widerstandswertes,
andererseits aber auch durch Aufrauhen einer glatten Schichtfläche eine Erhöhung des Widerstandswertes
zur Folge haben.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (6)
1. Verfahren zur Herstellung von Widerstandselementen
für hochohmige elektrische Schichtwiderstände, bei denen auf einen plattenförmigen
Trägerkörper eine Metallschicht und darüber eine Siliziummonoxidschicht aufgedampft wird,
dadurch gekennzeichnet, daß zunächst auf den isolierenden Trägerkörper (10) eine als
isolierende Trennschicht dienende Siliziummonoxidschicht (11) aufgedampft wird, auf diese Siliziummonoxidschicht
(11) zwei gegenüberliegende Stromanschlußkontakte (12 Λ, 12 B) und dann
eine diese Kontakte (12 Λ, 12 B) teilweise überbrückend
verbindende diffusionsreaktionsfähige Metallschicht (14) mit maximal solcher Schichtdicke
aufgedampft wird, daß sich die in der später erfolgenden Temperung an den Grenzschichten
der Metallschicht (14) bewirkte Diffusion auf den Wert des Flächenwiderstandes
noch merklich auswirken kann, und daß auf diese Metallschicht (14) dann eine äußere Siliziummonoxidschicht
(16) aufgedampft wird, und daß dieses so erhaltene Widerstandselement dann derart einer Temperung unterworfen wird, daß
dadurch zwischen der Metallschicht (14) und den Siliziummonoxidschichten (11,16) eine Reaktion
ausgelöst wird, deren Tiefe einem wesentlichen Teil der Dicke der Metallschicht (14) entspricht.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß auf die untere Siliziummonoxidschicht
(11) eine aus Chrom bestehende Metallschicht (14) aufgedampft und dieser Vorgang beendet
wird, bevor der Flächenwiderstand der Metallschicht (14) unter 100 000 Ohm absinkt.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß auf die untere Siliziummonoxidschicht
(11) eine aus Nickel bestehende Metallschicht (14) aufgedampft und dieser Vorgang
beendet wird, bevor der Flächenwiderstand der Metallschicht (14) unter 6000 Ohm absinkt.
4. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die untere Siliziummonoxidschicht
(11) in einer Dicke von etwa 2500 Angström und die obere Siliziummonoxidschicht
(16) in einer Dicke von etwa 10 000 Angstrom aufgetragen wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die jeweilige Behandlungstemperatur je nach den Widerstandswerten der
Metallschicht (14), die diese vor der Temperung hat und nach der Temperung haben soll, eingestellt
wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Einstellung selbsttätig erfolgt.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US73433068A | 1968-06-04 | 1968-06-04 | |
US73433068 | 1968-06-04 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1925921A1 DE1925921A1 (de) | 1970-03-19 |
DE1925921B2 true DE1925921B2 (de) | 1972-08-17 |
DE1925921C DE1925921C (de) | 1973-03-08 |
Family
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2740021A1 (de) * | 1976-09-29 | 1978-04-06 | Corning Glass Works | Elektrische bauelemente |
DE3603757A1 (de) * | 1985-02-16 | 1986-08-21 | Nippon Soken, Inc., Nishio, Aichi | Schichtwiderstand fuer eine stroemungsmessvorrichtung |
DE10161047B4 (de) * | 2000-12-13 | 2011-06-01 | Denso Corporation, Kariya-City | Verfahren zur Herstellung eines Sensors mit Membranstruktur |
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Also Published As
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US3607386A (en) | 1971-09-21 |
CH516215A (fr) | 1971-11-30 |
GB1235786A (en) | 1971-06-16 |
DE1925921A1 (de) | 1970-03-19 |
FR2010091A1 (de) | 1970-02-13 |
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