DE1922871C - Ionenquelle - Google Patents
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Description
insbesondere durch Ionenbeschuß oder Hochfrequenzentladung
zwischen zwei Elektroden vorgenommen werden.
Das Metallrohr kann z. B. einen Rechteck- oder Kreisquerschnitt haben, er kann ein Gitterfenster aufweisen,
aber auch vollkommen aus Gittermaterial bestehen.
Zweckmäßigerweise hat die Absauglochplatte eine verstellbare Blende.
Die Ionenquelle mit einer an sich bekannten Einrichtung zur Fokussierung eines Laserstrahls auf das
Target, die eine am Gehäuse befestigte Linse hat, kann dadurch vorteilhaft weitergebildet werden, daß die
Hinrichtung in Richtung des Laserstrahls vor der Linse ein gegen das Gehäuse abgedichtetes Fenster
und hinter der Linse einen Planspiegel aufweist.
I m Gegensatz zu den oben angegebenen bekannten ionenquellen ist zur Ionisation neben der Laserbestrahlung
vorteilhafterweise keine besondere Gasentladung vorgesehen.
Die Ionenquelle findet Anwendung in einem Massenspektrographen, der genaue Isotopenoberflächenunter-.uchungen
ermöglicht und ein Pumpsystem, das an das Gehäuse der Ionenquelle angeschlossen ist, ein
Magnetablenksystem für den von der Ionenquelle abgegebenen Ionenstrahlenbündel und eine Einrichtung
zur Registrierung auf einer photographischen Platte besitzt.
Durch diesen Massenspektrographen wird eine Punktisotopenanalyse der Oberfläche des Targets
ermöglicht, das den Laserstrahl empfängt.
Zur genaueren Erläuterung der Erfindung sollen eine Ionenquelle und ein Mässenspektrograph beschrieben
werden, der eine derartige Ionenquelle benutzt. In der Zeichnung zeigt
F i g. 1 eine Schnittansicht entlang einer Symmetrieebene durch die Achse der Ionenquelle, deren Target
durch einen Laserstrahl beaufschlagt wird,
F i g. 2 eine Schnittansicht der gleichen Ionenquelle
in einer zu der ersten Schnittebene senkrechten Ebene und
F i g. 3 schematisch einen Massenspektrographen mit der Ionenquelle von F i g. 1 und 2.
Eine Ionenquelle 2 befindet sich in einem Gehäuse 4, das im wesentlichen durch einen Zylinder 6 gebildet
wird, in den mehrere Rohre8 bis 10 (Fig. 1) und
9 bis 11 (F i g. 2) mit zu der Achse des ersten Rohrs senkrechter Achse münden, woboi der obere Teil
durch eine Isolierplatte 16 verschlossen ist, die Isolierdurchführungen
18 trägt, durch die Hochspannungsleitungen 20 verlaufen, die die Elektroden der Ionenquelle
versorgen.
Das Rohr 8 schließt das Gehäuse 4 der Ionenquelle an eine (nicht abgebildete) Pumpeinrichtung74 an.
Das Rohr 10 ist durch einen lösbaren Boden 22 verschlossen, der die Einführung des Targets erlaubt,
das untersucht werden soll.
Im beschriebenen Ausführungsbeispiel wird ein Target 15 durch einen Laserstrahl beaufschlagt, dessen
Auftreffen sowohl neutrale Atome in Form eines Dampfes als auch positive und negative Ladungen
erzeugt, die ein Plasma bilden. Die Einrichtung zur Beaufschlagung des Targets soll später beschrieben
werden.
Das Target 15 bildet den Boden eines Metallrohrs 24. Die Elektroden der Quelle sind sämtlich
koaxial zu der Anordnung 15, 24 angeordnet. Eine kreisförmige Absauglochplatte 26 ist mit chicr Öffnung
versehen, die ebenfalls kreisförmig ist und ein Gitter 28 aufweist, wobei der öffnung eine steuerbare
Blende 30 zugeordnet ist. Das Gitter hat den Zweck, das elektrische Feld in der Nähe der lonenquellenachse
so homogen wie möglich zu machen. Da die Dichten der positiven und negativen Ladungen wichtig sind,
trägt das Gitter zur Trennung der Ionen von den Elektronen bei.
Die Ionenquelle hat ferner eine Vorbeschleunigungsplatte 32, die einen großen Spalt aufweist, der mit
einem Gitter versehen ist. Diese zweite Elektrode unterstützt die Wirkung der Absaugplatte und hat
den Zweck, einen Überschlag und eine Entladung zu vermeiden. An die Elektroden, die sich in dem Bereich
befinden, der von dem durch das Target nach der Bestrahlung mit dem Laserstrahl ausgestoßenen Dampf
erreicht wird, wird zu diesem Zweck nicht die gesamte Beschleunigungsspannung angelegt.
Eine Fokussierungselektrode 34 wird durch einen Stutzen gebildei, an dem außen ein Ring koaxial angebracht
ist.
Eine letzte Elektrode wird durch eine Begrenzungselektrode 36 gebildet, die den Spalt zur Begrenzung
des Strahls oder den Objektspalt aufweist.
An den Elektroden der Quelle sind stabilisierte Potentiale angelegt, während die Begrenzungsplatte 36
geerdet ist, und an dem Target ist das positivste Potential über einer Reihe von Zellen angelegt, die an
stabilisierende Kondensatoren angeschlossen sind.
Anschlüsse an dieser Reihe von Zellen erlauben die Versorgung der Absaugelektrode 26, der Vorbeschleunigungselektrode
32 und der Begrenzungselektrode 36. Die Fokussierungselektrode 34 wird über eine zweite
Reihe von Zellen auf einem Potential gehalten, das positiv gegenüber dem der Vorbeschleunigungselektrode
32 ist. Auch hier wird eine Stabilisierung durch einen Kondensator erreicht.
Es soll jetzt die Arbeitsweise der Ionenquelle beschrieben
werden:
Die Abgabe der positiven Ionen und der Elektronen durch das Auftreffen des Laserstrahls auf das Target
ist mit einem sehr starken, kurzzeitigen Elektronenaustritt aus dem Target verbunden. Die Ladung des
erzeugten Plasmas, dessen Ausweitung durch den vom
Metallrohr 24 gebildeten Äquipotentialkäfig erleichtert wird, hat positives Vorzeichen, enthält aber noch einen
hohen Elektronenanteil, der bedeutend nachteiliger ist als der Dampf. Dieser Effekt macht eine besonders
sorgfältige Einstellung der Hochspannungsversorgung erforderlich.
Das Potential der Absatzplatte wird so eingestellt, daß der größte Teil der Elektronen einer Kraft unterliegt,
die die Elektronen von der Achse wegbewegt, so daß sie durch die Absauglochplatte eingefangen werden
und nicht durch ihre Öffnung laufen. Dieses Potential muß also sorgfältig eingestellt werden, um eine Verschiebung
der Elektronen und der Ionen unter dem Einfluß des elektrischen Feldes in entgegengesetzter
Richtung und damit eine Entladung in dem Dampf
zu vermeiden. Der Einbau einer derartigen Ionenquelle in einen Mussenspektrographen wäre unmöglich, da
die Anfangsverteilung des lonisationsgrads der Ionen gestört wäre.
Die Vorbeschleimigungsplaite muß nicht unbedingt
vorhanden sein, jedoch kann eine derartige Elektrode die Wirkung der Absauglochplatte unterstützen. Sie
sammelt in diesem Fall die meisten Elektronen, die durch die Absauglocliplatte 26 gelaufen siiul.
5 V 6
Bei der praktischen Erprobung hat sich auf Grund Die Ionenquelle 68 ist bereits oben beschrieben
der erhaltenen Untersuchungsergebnisse herausgestellt, worden. Die Magnetablenkeinrichtung für die Ionen70
daß die Form der Fokussierungselektrode 34 Vorzugs- bildet ein magnetisches Prisma mit einem Öffnungsweise
ringförmig sein sollte. Sie hat die Aufgabe, den winkel von 60". Sie weiß einen Elektromagnet 78 auf,
Divergenzraumwinkel des Ionenstrahlenbündels zu 5 der mit Polstücken 80 versehen ist, die zwischen sich
verringern und seine genaue Beschleunigung bei mini- ein Röhrchen 76 umfassen, das von dem Ionenstrahl
maler Divergenz zu ermöglichen. Es ist bereits erwähnt von der Quelle durchlaufen wird. Eine Blende befindet
worden, daß diese Elektrode 34 auf einem Potential sich an der Eintrittsöffnung des Prismas und begrenzt
liegt, das bedeutend positiver als das der Vorbeschleu- die Öffnung des lonenstrahlenbündels. Eine noch
nigungsplatte 32 ist. Sie übt daher auf die Ionen eine io engere andere Blende fängt einen seitlichen Abschnitt
Abstoßungskraft aus. Zusammenfassend ist zu sagen, des lonenstrahlenbündels auf, der das magnetische
daß die Resultierende der leicht fokussierenden Kraft, Prisma verläßt.
die auf die Ionen in Höhe der Vorbeschleunigungs- Die Ladungsmengen, die durch die Begrenzungsplatte
32 ausgeübt wird, und der Abstoßungskraft platte und durch letztere Blende aufgefangen werden,
durch die Elektrode 34 eine Fokussierung der Ionen 15 werden gleichzeitig durch einen Zweistrahl-Oszillozur
Achse bewirkt. graphen gemessen.
Die Begrenzungselektrode 36 schließlich, die ge- Die durch die letzte Blende durchgeiassenen ionen
erdet ist und daher relativ zum Target die höchste werden von einer photographischen Platte 82 der
Polentialdifferenz aufweist, begrenzt die Form des Sammel- und Registriereinrichtung 72 aufgefangen.
Strahlenbündels. Die Öffnung der Vorbeschleunigungs- 20 Diese Platte verläuft tangential zur Brennebene des
platte hat eine Rechteckform, die in ihrer Höhe die Massenspektrographen. Der Einfall der Ionen auf die
nicht zu nutzenden Bereiche des Strahls unterdrückt empfindliche Schicht der photographischen Platte
und damit auch die Effekte der Raumladung ver- äußert sich nach der Entwicklung dieser Schicht in
ringen. Im Gegensatz dazu sind für die Absaugloch- einer Schwärzung, die proportional zu der auf das
platte und die Fokussierungselektrode rotations- 25 Target gefallenen Ionenmenge ist. Die erhaltene Form
symmetrische öffnungen vorgesehen, um zu vermeiden, der Schwärzungsstreifen gibt die des Objektspalts
daß eine Fokussierung entlang einer Achse nicht die wieder. Jeder Streifen entspricht einem Verhältnis
Fokussierung entlang einer dazu senkrechten Achse von m/e.
zur Folge hat. Ein derartiger Massenspektrograph ist praktisch
Es soll jetzt die Schnittansicht von F i g. 2 entlang 30 erprobt worden. Der verwendete Laser lieferte in
einer Ebene senkrecht zu der ersten Schnittebene einem Zeitintervall von 4μββΰ einige Lichtimpulse,
beschrieben werden. In F i g. 2 sind zwei noch nicht deren Gesamtenergie 0,2 J erreichen konnte. Die
in F i g. 1 abgebildete Teile des Gehäuses 6 abgebildet, Linse 46 fokussierte den Laserstrahl auf die Obernämlich die Rohre 9 und 11 mit zu den Achsen des fläche des Targets der Ionenquelle in einer Brennweite
Gehäuses 6 und der Rohre 8 und 10 senkrechten 35 von 43 mm.
Achsen. Die hauptsächlichen Bauteile der Ionenquelle hatten
Achsen. Die hauptsächlichen Bauteile der Ionenquelle hatten
Diese Gehäuseteile enthalten ein optisches System 38 folgende Abmessungen:
zur Einstrahlung des Laserstrahls und eine Einrich- Die Absauglochplatte 26 hatte eine Kreisöffnung,
tung 40 zur Justierung des Targets 15. die mit einem Gitter 28, das eine Transparenz von
Das optische System hat ein Fenster 42, das am 40 85 % aufwies, und mit einer Blende 30 versehen war.
Ende des Rohres 9 befestigt ist, und eine Halterung 44 deren Innendurchmesser 2 bis 10 mm betrug,
für eine Linse 46, die die Fokussierung eines Laser- Die Vorbeschleunigungsplatte 32 hatte einen Spalt
Strahlenbündels 48 auf das Target 15 ermöglicht. Der mit den Abmessungen 8 · 15 mm2, während der Innen-
Einfail des Laserstrahienbündeis auf das Target wird durchmesser der Fokussierungsclektrode ebenso wie
durch einen versilberten Spiegel 50 und ein Gitter- 45 ihre Länge 5 bis 15 mm betrug. Der Begrenzungsspalt
fenster 54 des Metallrohres 24 ermöglicht. der Begrenzungselektrode hatte ungefähr die Ab-
Das Target 15 ist an einem Probenhalter 56 mit messungen 1 · 10 mm2.
einer Zahnstange 58 befestigt. Der Probenhalter 56 Die Spannungen, die an die verschiedenen Elekwird
in einer Halterung 60 gehalten. Das Target kann troden des Strahlerzeugers angelegt -werden, hatten
von vorn nach hinten, und umgekehrt, zu der Ebene 50 etwa folgende Werte:
von F i g. 2 durch Drehung eines Zahnrads 62 verschoben werden, das die Zahnstange 58 verschiebt, Target + 8,5 kV
von F i g. 2 durch Drehung eines Zahnrads 62 verschoben werden, das die Zahnstange 58 verschiebt, Target + 8,5 kV
wenn ein Steuerarm 64 für die Lage des Targets Absauglochplatte -f 8,5 bis 8,3 kV
gedreht wird. Vorbeschleunigungsplatte + 8,3 bis 7,5 kV
Eine Hauptanwendung der Ionenquelle von F i g. 1 55 Fokussierungselektrode + 8,5 bis 7,5 kV
und 2 ist ihr Einbau in einen Massenspektrographen Begrenzungselektrode 0
wie den in F i g. 3 abgebildeten.
Dieser Massenspektrograph hat einen Rubinlaser66, Mit dieser Ionenquelle wurde ein Strahl beschleu-
eine Ionenquelle 68 mit einem durch einen Laserstrahl nigter und fokussierter Ionen mit einer mittleren
beaufschlagten Target, wobei die Ionenquelle gleich 60 Intensität von 200 μΑ erhalten. Die Ionenquelle wurde
der in F i g. 1 und 2 beschriebenen Quelle ist, eine mit einem Massenspektrometer einfacher Fokussie-
magnctische Ablenkeinrichtung 70 für die Ionen, eine rung mit Registrierung durch photographische Platten
Sammel- und photographische Registriereinrichtung72 verwendet.
sowie eine Pumpeinrichtung 74, die an das Gehäuse Der Massenspektrograph zeigte folgende Betriebs-
dcr Ionenquelle angeschlossen ist. 65 werte: Der registrierte Massenbereich, definiert als das
Der Rubinlaser 66, der durch verdampfenden flüssi- Verhältnis der an den beiden Enden der Platte empfangen
Stickstoff gekühlt ist. arbeitet gctriggert und weist genen Massen, betrug 1,6, während das Auflösungseincn
rotierenden Spiegel :uif. vermögen 200 betrug.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (8)
1. Ionenquelle mit einem Gehäuse und einem Laserstrahls auf die eine Elektrode thermische Elekdarin
befindlichen metallischen Target, mit einer tronen emittiert werden, die zur anderen Elektrode
Vorrichtung zum Erzeugen von Plasma aus dem 5 der Funkenstrecke beschleunigt werden, so daß eine
Targetmaterial und mit einer eine Absauglochplatte Elektronenstoßionisation großer Stabilität im Raumund
eine Begrenzungselektrode enthaltenden Ionen- bereich entsteht, wo die Funken gezündet werden,
optik zur Absaugung eines Ionenstrahlenbündels Die lonenoptik zur Absaugung der bei der Funkenaus dem Plasma, dadurch gekennzeich- entladung entstehenden Ionen erzeugt ein elektrisches η e t, daß das Target (15) am Boden.eines Metall- io Feld mit Hilfe von zwei lochplattenartigen Elektroden, rohres (24) angeordnet ist, daß sich gleichachsig deren eine geerdet und deren andere potentialmäßig zu dem Target und dem Metallrohr eine Absaug- . nicht näher bestimmt ist.
optik zur Absaugung eines Ionenstrahlenbündels Die lonenoptik zur Absaugung der bei der Funkenaus dem Plasma, dadurch gekennzeich- entladung entstehenden Ionen erzeugt ein elektrisches η e t, daß das Target (15) am Boden.eines Metall- io Feld mit Hilfe von zwei lochplattenartigen Elektroden, rohres (24) angeordnet ist, daß sich gleichachsig deren eine geerdet und deren andere potentialmäßig zu dem Target und dem Metallrohr eine Absaug- . nicht näher bestimmt ist.
lochplatte (26) befindet, deren kreisförmige öffnung Ferner ist es bekannt (vgl. britische Patentschrift
mit einem Gitter (28) versehen ist, daß sich an die 1 018 508, deutsche Patentschrift 1 198 465), zusätz-Absauglochplatte
in Vorwärtsrichtung des Ionen- 15 lieh zu der Einwirkung des Laserstrahls durch Elek-
strahlenbündels eine Vorbeschleunigungsplatte (32), tronenstoßionisation im Raum zwischen einer Ka-
in deren Ionendurchtrittsöffnung ein Gitter ange- thode und einer Anode zu ionisieren. Die lonenoptik
ordnet ist, eine einen ringförmigen Stutzen bil- (vgl. britische Patentschrift 1 018 508) besteht aus
dende Fokussierungselektrode (34) und die mit einem nicht näher erklärten System von Elektroden,
einem Spalt versehene Begrenzungselektrode (36) 20 die in Vorwärtsrichtung des Ionenstrahls vor einem
anschließen, und daß an die Absauglochplatte, die Fenster des Gehäuses angeordnet sind.
Vorbeschleunigungsplatte, die Fokussierungselek- Bei diesen bekannten lonenquellen wird durch die
trode und die Begrenzungselektrode jeweils zu- verwendete lonenoptik zum Absaugen des Ionenstrahls
nehmend höhere Spannungen in bezug auf das nicht die Anfangsverteilung des lonisationsgrades der
Target angelegt sind. 25 das Target bildenden chemischen Elemente beibehalten.
2. Ionenquelle nach Anspruch 1, dadurch ge- Es ist also nicht möglich, die Ionen aus diesem Plasma
kennzeichnet, daß das Metallrohr (24) Rechteck- unter Aufrechterhaltung der Anfangsverteilung des
querschnitt hat. lonisationsgrades abzusaugen, da mit diesen bekann-
3. Ionenquelle nach Anspruch 1, dadurch ge- ten Ionenoptiken die Ursache der differentiellen Ionikennzeichnet,
daß das Metallrohr (24) Kreisquer- 30 sation der verschiedenen Elemente, z. B. verschiedene
schnitt hat. parasitäre Effekte elektrischer Entladungen, nicht be-
4. Ionenquelle nach einem der Ansprüche 1 bis seitigt werden kann. Die Beibehaltung der Anfangs-3,
dadurch gekennzeichnet, daß das Metallrohr(24) verteilung des lonisationsgrades ist aber insbesondere
in der Seitenwand ein vergittertes Fenster (54) von großer Wichtigkeit, wenn die Ionenquelle für
aufweist. 35 einen Massenspektrographen benutzt wird, da sonst
5. Ionenquelle nach einem der Ansprüche 1 bis die Massenanalyse ungenau ist.
3, dadurch gekennzeichnet, daß das Metallrohr(24) Es ist daher Aufgabe der Erfindung, die Ionenquelle
vollkommen aus Gittermaterial besteht. der eingangs genannten Art so zu verbessern, daß
6. Ionenquelle nach einem der Ansprüche 1 bis durch die lonenoptik im abgesaugten Ionenstrahl die
5, dadurch gekennzeichnet, daß die Absaugloch- 40 Anfangsverteilung des lonisationsgrades der chemiplatte
(26) eine verstellbare Blende hat. sehen Elemente in der vom Target ausgestoßenen
7. Ionenquelle nach einem der Ansprüche 1 bis Plasmawolke beibehalten wird.
6, mit einer Einrichtung zur Fokussierung eines Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß das Target
Laserstrahls auf das Target, die eine am Gehäuse am Boden eines Metallrohres angeordnet ist, daß sich
befestigte Linse hat, dadurch gekennzeichnet, daß 45 gleichachsig zu dem Target und dem Metallrohr eine
die Einrichtung in Richtung des Laserstrahls vor Absauglochplatte befindet, deren kreisförmige öffder
Linse (46) ein gegen das Gehäuse (4) abge- nung mit einem Gitter versehen ist, daß sich an die
dichtetes Fenster (42) und hinter der Linse einen Absauglochplatte in Vorwärtsrichtung des Ionen-Planspiegel
(50) aufweist. Strahlenbündels eine Vorbeschleunigungsplatte, in
8. Anwendung der Ionenquelle nach einem der 50 deren Ionendurchtrittsöffnung ein Gitter angeordnet
Ansprüche 1 bis 7 in einem Massenspektrograph ist, eine einen ringförmigen Stutzen bildende Fokusmit
einem Pumpsystem (74), das an das Gehäuse sierungselektrode und die mit einem Spalt versehene
der Ionenquelle (68) angeschlossen ist, einem Begrenzungselektrode anschließen, und daß an die
Magnetablenksystem (78) für das von der Ionen- Absauglochplatte die Vorbeschleunigungsplatte, die
quelle abgegebene lonenstrahlenbündel und einer 55 Fokussierungselektrode und die Begrenzungselektrode
Einrichtung zur Registrierung der Ionen auf einer jeweils zunehmend höhere Spannungen in bezug auf
photographischen Platte (72). das Target angelegt sind.
Da durch die erfindungsgemäß ausgebildete Ionenquelle im abgesaugten lonenstrahlenbündel die An-
Dic Erfindung betrifft eine Ionenquelle mit einem 60 fangsverteilung des lonisationsgrades der chemischen
Gehäuse und einem darin befindlichen metallischen Elemente in der vom Target ausgestoßenen Plasma-Target,
mit einer Vorrichtung zum Erzeugen von wolke beibehalten wird, zeigt sich der durch die
Plasma aus dem Targetmaterial und mit einer eine Erfindung erreichte technische Fortschritt darin, daß
Ahsuuglochplatte und eine Uegrenzungsclektrode ent- genauere Analysen des Targets als bisher möglich sind,
hallenden lonenoptik zur Absaugung eines Ionen- 65 insbesondere bei Verwendung der Ionenquelle mit dem
strahlenbündel* aus dem Plasma. Target zur Massenanalyse in einem Massenspektro-
Uei einer ähnlichen bekannten Ionenquelle (vgl. graphen.
britische Patentschrift 1 018 508, deutsche Patentschrift Die Erzeugung des Plasmas aus dem Target kann
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