DE1673174A1 - Probenanalysator - Google Patents

Description

PAfEN ΤΆΉΊΝΚ ι -τ E-* DR. LOTTERHOS - DR.-ING. LOTTERHOS

FRANKFURT (MAIN)

ANNASTRASSE 19 FERNSPRECHER: (0611) 555061 TELEGRAMME: LOMOSAPATENT LANDESZENTRALBANK 4/951 DRESDNER BANK FFM., Nr. 524742 POSTSCHECK-KONTO FFM. 1667

FRANKFURT (MAIN),

ÜBE INDUSTRIES LTD.

No. 12-32, 1-chome, Nishihonmachi

Ube-shi, Yamaguehi-ken, Japan

Probenanalysator

Die Erfindung bezieht sich auf ein. Gerät, mit Hilfe dessen der Gehalt an Bestandteilen einer Probe dadurch gemessen wird, daß Strahlung von einem (später als BI bezeichneten) radioaktiven Isotop auf die Probe geworfen wird, und daß die von der Probe ausgesandte charakteristische Röntgenstrahlung aufgefangen und bestimmt wird, um somit die darin enthaltenen Elemente zu analysieren.

Bei der Fluoreszenzanalyse mittels Röntgenstrahlen wurden in der Praxis bisher aus Röntgenröhren kommende Röntgenstrahlen als Strahlungsquelle verwendet. Die herkömmlichen, eine Röntgenröhre verwendenden Yluoreszenzanalysatoren mit Röntgenstrahlen sind im allgemeinen so beschaffen, daß sie eine quantitative Analyse dadurch erzielen, daß der Einfallswinkel des Röntgendetektor und des Spektrometerkristalls für einzelne, zu bestimmende Elemente eingestellt wird. Analysatoren für industrielle

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Zwecke, die automatische Einstellmechanismen enthalten, sind in ihrem Aufbau ziemlich kompliziert und sperrig. Es werden auch Analysatoren für gleichzeitige Untersuchung entwickelt, die mit einer Vielzahl von spektroskopischen Systemen versehen sind, deren jedes aus einem Spektrometerkristall und einem Röntgendetektor besteht, und die parallel zur Probe angeordnet sind. Die Genauigkeit dieser Analysatoren ist jedoch fraglich, da bei ihnen Schwankungen in der Intensität der Primär-und Sekundärstrahlung und in der Zählleistung der Detektoren auftritt, was auf Änderungen, der Hochspannung in der Köntgenröhre zurückzuführen ist. Außerdem sind diese Geräte ausnahmslos teuer und erfordern genaue Temperatur- und Feuchtigkeitsbedingungen in den Bäumen, in denen die Fluoreszenzanalyse mittels Röntgenstrahlen vorgenommen werden soll.

Gegensatz zu diesen früheren Geräten verwendet die vorliegende Erfindung als radioaktive Quelle RI und kommt somit ohne Hochspannungserzeuger und ohne Röntgenröhre aus und kann stabilisierte Intensitäten von Primärstrahlung und charakteristischer sekundärer Röntgenstrahlung erzielen. Da das Gerät gemäß der Erfindung überdies auf einem Analysator zur Messung der Höhe der Impulse anstatt auf den üblichen Kristalleinheiten für spektrometrische Zwecke beruht, ermöglicht es gute Analyse von aus mehreren Komponenten bestehenden Proben und hat einen ausnehmend vereinfachten mechanischen Aufbau sowie verhältnismäßig einfache elektronische Kreise, die in hohem Maße austauschbar und leicht zu unterhalten sind.

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FUr die Fluoreszenzanalyse mittels Röntgenstrahlen unter Verwendung von RI als radioaktive Quelle wurden Versuche vorgenommen, um Elemente mit relativ hohen Atomzahlen mit z.B. einer /^-Strahlungsquelle und mit elektromagnetischen Strahlungequellen zu erregen (einschließliehp-Strahlungsquellen, die durch /3-Strahlen erregt werden und die aus /^-Strahlung und Prallplatte bestehen). Unsere Versuche mit einer ^-Strahlungsquelle und mit elektromagnetischen Strahlungsquellen ergaben jedoch, daß damit bei der Erregung leichter Elemente nur geringe Leistungen erzielt werden können. Daraufhin stellten wir systematische Untersuchungen über die Erregung von Leichtmetallen mit Hilfe einer oC-Strahlungsquelle an, woraus erkennbar wurde, daß cC-Strahlung für leichte Elemente äußerst wirksam ist. Nachdem ein Weg gefunden worden war, eine oC-Strahlungsquelle ständig unter verringertem Druck auf technischer Ebene zu verwenden, ist es uns gelungen, ein für die Industrie geeignetes Verfahren und Gerät für die Fluoreszenzanalyse mittels Röntgenstrahlen unter Verwendung von RI herzustellen und eine Technik zur gleichzeitigen Analyse von aus mehreren Bestandteilen zusammengesetzten Proben zu entwickeln. Die vorliegende Erfindung ist z.B.beim Verfahren zur Zementherstellung anwendbar. Bei einem derartigen Verwendungszweck kann das Gerät nach der Erfindung direkt an einen elektronischen Computer angeschlossen werden, um das Mischen der Rohmaterialien durch den Computer zu steuern.

Demgemäß verwendet das Gerät eineoC-Strahlungsquelle, wenn die Proben nur auf leichte Elemente untersucht werden sollen.

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Falls Elemente mit hoher Atomzahl in der Probe enthalten sind, die nicht gemessen zu werden brauchen, und falls die ^-Strahlungsquelle mit einer elektromagnetischen Strahlungsquelle verbunden ist, so wird durch die Streustrahlung der elektromagnetischen Strahlen und durch die als Reaktion auf die elektromagnetische Strahlung erfolgenden charakteristischen Röntgenstrahlen der Elemente mit hoher Atomzahl ein Geräusch erzeugt, wodurch das Verhältnis von Signal zu Geräusch (S/N) gestört wird.

Wenn sowohl der Gehalt an leichten Elementen als auch der Gehalt an Elementen mit hoher Atomzahl in einer Probe gemessen werden soll, so verwendet man einecC-Strahlungsquelle und eine elektromagnetische Strahlungsquelle oder eine Strahlungsquelle, die sowohl<£-Strahlen als auch elektromagnetische Strahlen aussendet. Wenn in einer Probe die Elemente mit hoher Atomzahl gemessen werden sollen, so wird eine elektromagnetische Strahlungsquelle benutzt. Je geringer die Verschiedenartigkeit und die Anzahl der radioaktiven Quellen, desto dichter können die radioaktiven Quellen, die Probe und der Detektor zueinander gerückt werden, wodurch die Intensität der charakteristischen Röntgenstrahlung stärker und die Analyse genauer wird. Falls keine weitere Verbesserung der Meßgenauigkeit erforderlich ist, kann stattdessen die Meßdauer abgekürzt werden.

Diese und andere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung gehen aus der folgenden Beschreibung im Zusammenhang mit den beiliegenden Zeichnungen deutlicher hervor, welche Ausführungsformen der Erfindung aufzeigen, die keinen einschränkenden Charakter haben sollen.

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Fig. 1 zeigt einen senkrechten Schnitt einer Ausführungsform des Meßkopfes des Analysators gemäß derErfindung;

Fig. 2 zeigt einen senkrechten Schnitt einer anderen Ausführungsform des in Fig. 1 dargestellten Meßkopfes;

Fig. 3 zeigt einen senkrechten Schnitt einer Ausführungsform des Meßkopfes des Analysators gemäß der Erfindung, der mit einer Vorrichtung zum Auswechseln der Proben versehen ist;

Fig. 4t zeigt einen senkrechten Schnitt einer anderen Ausführungsform des in Fig. 3 gezeigten Analysators;

Fig. 5 ist ein Schaltbild des Meßkreises für di· Analyse;

Fig. 6 ist eine graphische Darstellung und zeigt die Verteilung der Impulshöhe bei derAnalyse von Zement.

Es wird nun insbesondere auf Fig. 1 Bezug genommen, in der ein mit 1 bezeichnetes Meßgehäuse ein Saugrohr 2 aufweist. Dieses Gehäuse ist luftdicht abgeschlossen und kann zur Verringerung des Druoks evakuiert werden. Ein Deckel 3 ist abnehmbar angebracht, so daß das Auswechseln und Einlegen einer Probe 4 ermöglicht wird. Mit 5 ist eine oC-Strahlungsquelle aus einer kleinen, an ihrer Oberseite beispielsweise mit Polonium 210 bedeokten Scheibe bezeichnet. Die Quelle hat eine Massendicke ron weniger als 3*5 mg/cm , ist mit einem gegen das Vakuum schützenden Überzug versehen und sendet cC-Strahlen aus. Eine Söntgenstrahlungsquelle 6 besteht au· einer kleinen Scheibe,

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die mit einem Zr-Uberzug belegt ist, in den z.B. H eingelagert ist. Die Quelle 6 sendet außer weicher /i ^Strahlung Röntgenstrahlen in Form von Bremsstrahlung sowie Zr LX Strahlung aus. Die von den radioaktiven Quellen 5 und 6 ausgesandten Strahlen treten in die *Tobe 4 ein und die Probe erzeugt ihrerseits charakteristische Röntgenstrahlen (KX Strahlen) der darin enthaltenen Elemente in den dem jeweiligen Elementgehalt entsprechenden. Intensitäten. Die derart erregten KX Strahlen werden von zwei Röntgendetektoren aufgefangen und gemessen, d.h. von einem Verhältniszähler 7 ohne Filter und einem anderen Verhältniszähler 9, der einen Filter 8, beispielsweise aus Aluminium von einer Massendicke von 1 mg/cm aufweist. Die Fenster 10 und 11 der Verhältniszähler 7 bzw. 9 sind aus einem etwa 6 /U starken Mylar-Film gebildet. Jeder Mylar-Film ist mit parallel gespannten, im Abstand von etwa 3 mm angeordneten. ¥-Drähten gegen das Vakuum verstärkt. Innerhalb der Verhältniszähler 7 und 9 zirkuliert Gas bei atmosphärischem Druck für Zählzwecke.

Der Verhältniszähler 9 ist aus dem nachstehend erläuterten Grund mit einem Aluminiumfilter 8 versehen, und je naob dem Meßgegen₈tand und der Zusammensetzung des zu messenden Gegenstandes muß das Material und die Dicke des Filters in geeigneter Weise ausgewählt werden.

Wenn der Meßgegenstand aus Zement, Zementklinker oder Zement-Rohmaterialien besteht, überlagern sich AlKX Strahlung, und SiKZ Strahlung. In diesem Fall muß die SiKX Strahlung ab-

für sorbiert und beseitigt werden. Ein Filter, der/die SiKX Strahlung

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allein einen hinreichend großen Absorptionskoeffizienten hat, besteht aus Aluminium.

Y«nn nun von dem. Gerät Zement, Zementklinker oder Zement-Rohmaterialien analysiert werden sollen, so muß der Verhältniszähler 9 daher mit einem Aluminiumfilter β versehen sein.

Sie radioaktiven Quellen 5 und 6 sind in einer Lagerung 12 festgehalten, so daß die Primärstrahlung aus diesen radioaktiven Quellen nicht unmittelbar auf die Fenster 10 und 11 der Verhältniezähler auftreffen kann. Halterungen 13 aus Acrylharz tragen die Probe 4, begrenzen Lage und Ausdehnung der zu messenden Probe und beschränken den Eintritt in die Verhältniszähler von Streustrahlung und anderen störenden Strahlen, die von anderen Quellen als von der Fläche der analysierten Probe stammen, auf ein Mindestmaß.

Das Meßgehäuse 1 wird auf einen verminderten Druck von 1 rnaHg oder weniger evakuiert, um die Dämpfung der Primärstrab,-lung aus den radioaktiven Quellen sowie der charakteristischen Röntgenstrahlen von der Probe auf ihren jeweiligen Bahnen zu verringern und somit die Meßleistung zu steigern und die wiederholbare Meßgenauigkeit zu verbessern. In der abgebildeten Ausführungsform wird der Deckel 3 immer dann geöffnet und der luftdichte Zustand unterbrochen, wenn die Probe ausgetauscht wird. Das ursprüngliche, verminderte Druckverhältnis wird jedoch wieder erlangt, sobald der Deckel 3 in seine Lage gebracht ist*

Fig. 2 zeigt eine Ausführungsform eines Meßkopfes gemäß der Erfindung, bei dem ein Strahlungskörper (radioaktive Quell«)

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verwendet wird, der sowohl elektromagnetische Strahlung geringer Energie als auchpL-Strahlung aussendet.

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Der Strahlungskörper stellt eine aus z.B. Am bestehende radioaktive Quelle dar, die gleichzeitig06-Strahlung und elektromagnetische Strahlung geringer Energie aussendet.

In Fig. 2 bezeichnet das Bezugszeichen 5¹, wie oben erwähnt, eine radioaktive Quelle, In dieser Figur sind die gleichen Bezugszeichen wie in Fig. 1 für gleiche Teile verwendet.

Fig. 3 zeigt eine Ausbildungsart des Meßkopfes eines Analysators gemäß der Erfindung, der mit einer Vorrichtung zum Auswechseln der Proben ausgestattet ist. In dieser Figur gelten die gleichen Bezugszeichen wie in Fig. 1 für gleiche Teile,

Bei der dargestellten Ausführungsform kann die fertig analysierte Probe während der Messung durch eine nächste Probe ersetzt werden, ohne daß das verminderte Druckverhältnis beim Austauschen verändert wird. Das ist deshalb von Vorteil, da die gesamte erforderte Meßdauer dadurch abgekürzt werden kann und der Belag der radioaktiven Quelle sowie die Detektor-Fenster vor Schaden bewahrt und in ihrer Lage gehalten werden.

Das Meßgehäuse i wird durch einen Schieber 14 sowie durch Gummiringe 15, i6, 17, 18, 19 und 20 luftdicht abgeschlossen, welche um den Schieber herum angeordnet sind, um diesen abzudichten. Angenommen, der Schieber 14 wird aus der in Fig. 3 abgebildeten Lage nach links gerückt, so kann das Meßgehäuse 1

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durch den Gummiring 16 luftdicht gehalten werden, wenn die Halterung 21* »it der Probe 4' am Gummiring 15 vorbeiläuft. In gleicher Weise wird das Gehäuse, wenn die Halterung den Gummiring l6 passiert, durch den Gummiring 17 luftdicht gehalten. Da das Volumen der Probe 4¹ und der Halterung 21' zusammen etwas weniger beträgt als das Volumen der die Anordnung enthaltenden Öffnung im Schieber, strömt entsprechend diesem Volumenunter schied Luft zwischen die Gummiringe 15 und 16 und wenn eich die Probe fortbewegt, zwischen die Gummiringe 16 und 17*

Da jedoch der Hohlraum zwischen den Gummiringen 16 und 17 sowie das Meßgehäuse ständig durch einen Pufferbehälter 22 evakuiert werden, so wird der Raum in der Öffnung des Schiebers 14, wenn die Halterung 21' zwischen den Gummiringen 16 und 17 vorbeiläuft, auf einen verminderten Druck evakuiert, der im wesentlichen dem innerhalb des Meßgehäuses 1 herrschenden Druck gleich ist. Die Unterschiede in der Druckverminderung innerhalb des Meßgehäuses 1 werden mit Hilfe des Pufferbehälters vernachlässigbar klein gehalten. Mit Hilfe der beschriebenen Anordnung kann die Probe 4* sofort analysiert werden, wenn sie den Platz der gemessenen Probe 4 eingenommen hat. Zu diesem Zeitpunkt liegen Halterung 21 und Probe 4 an der linken Seite ffei, so daß dort der Austausch der Proben vorgenommen werden kann. Von da an wird der oben beschriebene Vorgang in gleicher Weise wiederholt, nur in der anderen Richtung, d.h. von links nach rechts und umgekehrt.

Zwar wird in der Ausführungsform ein Satz von drei Gummiringen verwendet, um das verminderte Druokverhältnis im

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Meßgehäuse 1 zu gewährleisten, es ist jedoch möglich, die Gummiringe 17 und 18 zur Vereinfachung fortzulassen, da die Änderungen in dem verminderten Druökverhältnis im Meßgehäuse 1, die darauf beruhen, daß Luft in beschriebener Weise einströmt, vernachlässigbar sind, wenn nur der Pufferbehälter 22 groß genug ist, und es kann mit der Messung begonnen werden, sobald die Probe h* in die Meßlage gebracht worden ist. Ferner ist in der in Fig. 3 gezeigten Ausbildungsart die Begrenzung von Lage und Bereich der Oberfläche der zu messenden Probe durch die Probenhalterung 21 oder 21* sowie durch eine Abdeckblende 23 bestimmt. Unmittelbar nachdem die Probenhalterung 21 die Meßlage erreicht hat, wird sie von einem Motor 24 und Getrieberädern 25, 26 um ihre Achse gedreht. Auf diese Weise wird die Wirkung von Unebenheiten auf der gemessenen Oberfläche beseitigt und somit die Genauigkeit der Analyse gewährleistet.

Fig. k zeigt eine andere Ausbildungsart eines Meßkopfes des Analysators gemäß der Erfindung, der mit einer Vorrichtung zum Auswechseln der Proben ausgestattet ist.

In dieser Figur ist mit 50 eine Probe bezeichnet, die gerade untersucht wird; 51 stellt eine Probe dar, die anschließend gemessen werden soll; 6k ist ein Meßgehäuse; 52 ein Raum zum Austauschen der Proben; 53 ein Hebel, um einen Meßraum 62 gegen, den Raun 52 zum Au&efetauschen der Proben abzuschließen; mit 5% schließlich ist ein Gummiring bezeichnet, der den Meßraum 62 gegen den Raum 52 zum Auswechseln der Probe abdichtet. Ein Ventil 56 ist vorgesehen, um von außen Luft in den Raum 52 zum Austauschen der Proben einzulassen und dadurch den Deckel

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zu öffnen. An eine nicht dargestellte Vakuumpumpe ist ein Austrittskanal 66 angeschlossen.

Ein mit einem Filter versehener Verhältniszähler ist mit dem Bezugszeichen 57 versehen. 58 zeigt einen Verhältniszähler ohne Filter; 59 und 60 sind Fenster der Verhältniszähler; 6l ist der Filter des Verhältniszählers 57; 65 bezeichnet einen an eine Vakuumpumpe angeschlossenen Austrittskanal; 67 ist eine isolierende Platte, 68 eine Probenhalterung und 69 ein Griff.

Bei der oben beschriebenen Anordnung wird der Hebel 53 gedreht, um die isolierende Platte 67 nach oben zu drücken, während die Probe 50 im Meßraum 62 untersucht wird, undder Gummiring 5^ wird durch die Probenhalterung 68 und die isolierende Platte 67 zusammengedrückt, so daß er den Meßraum 62 und den Raum 52 zum Austauschen der Proben gegeneinander abdichtet. Daraufhin wird das Ventil 56 geöffnet, um in den Raum 52 zum Auswechseln der Proben Luft einzulassen, der Deckel 55 wird abgehoben und die bereits untersuchte Probe wird herausgenommen und die nächste eingelegt. Sodann wird der Deckel 55 geschlossen, und der innen herrschende Druck wird dadurch herabgesetzt, daß mit Hilfe einer Vakuumpumpe durch den Austrittskanal 66 Luft abgesaugt wird. Venn in dem Raum zum Auswechseln der Proben dasselbe verminderte Druckverhältnis wie im Meßraum 62 erreicht ist, so wird der Hebel 53 so gedreht, daß er einen Dichtungsring 54 lockert, so daß der Meßraum 62 und der Kaum 52 zum Austausch der Prob en miteinander in Verbindung gebracht werden. Wenn in diesem Zustand der Griff 69 gedreht wird,

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sobald die Analyse der Probe 50 beendet ist, so wird diese Probe durch die nächste Probe 51 ersetzt, und es kann sofort wieder mit der Messung begonnen werden. Auf diese Weise wird eine kontinuierliche Analyse von Proben ermöglicht.

Fig· 5 zeigt, wie die Ausgänge der Verhältniszähler 7 und 9 jeweils über Vorverstärker, 27, 28 und lineare Verstärker 29, 30 den Analysatoren für die Impulshöhe 33, 31, 32, Jk und zugeführt werden, die jeweils Kanälen A, B, C, D und E zugeordnet sind, wie in Fig. 6 zu sehen ist. Die Anzahl der durch die Kanäle der entsprechenden Analysatoren für die Impulshöhe hindurchgegangenen Impulse werden von Maßstabrechnern (sealers) 38, 36, 37, 39 und 40 über eine bestimmte Zeitdauer gezählt und integriert. Die von den Maßstabrechnern 38, 36, 37, 39 und 40 errechneten Werte entsprechen jeweils dem Gehalt an Fe₂O-, CaO, SiO₂, AIgO- und Al₂O_+SiO₂ in der Probe. Die Kanäle der Analysatoren für die Impulshöhe 31, 32, 33, 34 und 35 werden in nachstehender Weise eingestellt.

Venn eine zu analysierende Probe aus gemischten Zement-Rohmaterialien hergestellt ist (ca. 43$ CaO; ca. 13% SiO₂; ca yfo AIgO-; und ca. 2$ Fe₂O-), so ist die Höhe der Impulse beim Ausgang des VerhältnisZählers 7 derart verteilt, «ie es die ausgezogene Linie in Fig. 6 zeigt, während sich beim Verhältniszähler 9 di« in der Figur in gestrichelter Linie dargestellte Verteilung ergibt.

Fig. 6 ist eine graphische Darstellung der Verteilung der Impulshöhe bei der Analyse von Rphmaterialien für Zement.

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Mit Zement,und. Zementklinker werden im wesentlichen gleiche Resultate erzielt. Bei der Verteilung der Impulshöhe, die in ausgezogener Linie angegeben ist, bedeutet das Zeichen a den Scheitelwert der PeKX-Strahlung j b den Scheitelwert der CaKX-Strahlung und £ den überlagerten Scheitelwert von sowohl der SiKX- als auch der AlKX-Strahlung. Bei der durch die gestrichelte Linie angegebenen Verteilung der Impulshöhe dagegen idt nur die SiKX-Strahlung aufgrund des Al-Filters fast vollständig absorbiert»und die AlKX-Strahlung erreicht, wie dargestellt, ihren Scheitelwert bei cj_. Während die CaKX-Strahlung etwas abgevchwächt ist, wird die KX-Strahlung von Fe, das eine höhere Atomzähl hat, nur wenig absorbiert.

Somit dienen die in Fig. 6 gezeigten Kanäle A, B, C und D für die Höhe der Impulse in den jeweiligen Analysatoren für die Impulshöhe 33, 31, 32 und 34 zur quantitativen Analyse von Fe₂O,, CaO, SiO₂ und Al₂O₅. Die Kanäle A, B und D sind so eingestellt, daß sie ihre jeweiligen Scheitelwerte vom Grund her erfassen, während der Kanal C so eingestellt ist, daß er die Hälfte oberhalb der Mitte des Scheitels £ erfaßt (d.h. bis zur Senke zwischen £ und b). Durch diese besondere Einstellung wurde experimentell nachgewiesen, daß die Wirkung von Al₂O, bei der Abschätzung von SiO₂ (Auftreffen von AlKX-Strahlung und Absorption von SiKX-Strahlung durch Al₂O- in der Probe) sowie die Wirkungen (wie oben erwähnt) von MgO fast vollständig eliminiert werden, und daß ein nur dem SiO₂ entsprechender Zählwert direkt erhalten wird.

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Bei der Analyse für SiO₂ wird der Ausgang des filterlosen VerhältnisZählers 7 durch den Analysator für die Impulshöhe 32 spektroskopisch untersucht.- Ein weiterer zu beachtender Paktor besteht darin, daß in Zement, Zementklinker und Zement-Rohmaterialien MgO auftritt. Da MgKX-Strahlung, AlkX-Strahlung und SiKX-Strahlung in ihren Spektren sehr dicht beeinander liegen, werden die MgKX-Strahlung und die AIKX-Strahlung in den Kanal C in Fig. 6 geleitet. Aus diesem Grund ist es bei der Einstellung des Kanals C bei der Analyse von SiO₂ erforderlich, die Grundlinie des Kanals so einzustellen, daß sich kein Einfluß von MgKX-Strahlung und AIKX-Strahlung bemerkbar macht.

Falls die Probe aus Zement, Zementklinker oder Zement-Rohmaterialien besteht, so tritt in der Nähe der FeIiX-S tr ah lung und der GaKX-Strahlung keine weitere KX-Strahlung auf, und die spektroskopische Analyse kann daher mit Hilfe der Kanäle A und B zufriedenstellend erfolgen.

Auf diese ¥eise werden Zählbeträge, die den jeweiligen Bestandteilen der Probe entsprechen, ohne nachträgliche Berechnung direkt erhalten, und es kann somit ohne Schwierigkeit eine bessere quantitative Genauigkeit erzielt werden als durch Errechnung.

Bei der Überprüfung der Qualität von Zement, Zementklinker oder Zement-Rohmaterialien ist es in der Praxis allgemein üblich, den hydraulischen Modul = CaO/CAl^+SiOg+FegO^), den Kieselsäuremodul a Si0₂/(Al₂0₃+Fe₂0_) und den Eisenmodul = AlgO^/FegO^ innerhalb gewisser Werte zu kontrollieren. Wenn nun der hydraulische Modul festgestellt werden soll, so wird eine größer·

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Genauigkeit dadurch erzielt, daß die Messung mit dem Kanal für Al+Si vorgenommen wird, anstatt daß der Gehalt an AIgO- und an SiO₂ getrennt gemessen wird. Demgemäß kann ein Kanal E verwendet werden, der einen Bereich umfaßt, der sich von einem Betrag etwas unterhalb des ¥ertes der Mitte des Scheitels von C bis zum Wert der Senke zwischen £ und b erstreckt.

Auf diese Weise können die Einflüsse von MgO ausgeschaltet werden, wie z.B. im Falle von SiO und man erhält dadurch einen dem SiOg+AlgO- entsprechenden Zählwert. Genauer gesagt, es wird iür die Messung von (SiOg+AlgO-) der in Pig. 6 dargestellte Kanal E verwendet. Da die MgKX-Strahlung dicht daneben liegt, wird diese in den Kanal E geleitet, mit dem Ergebnis, daß der Zählwert des Kanals E den Zählwert von (SiKX-Strahlung +AIKX-Strahlung) übersteigt. Wenn in der Probe Mg enthalten ist, werden die SiKX-Strahlung und die AIKX-Strahlung, bevor sie aus der Probe austreten, im Verhältnis zur Menge des anwesenden Mg absorbiert. Wenn daher die Grundlinie des Kanals E auf einen geeigneten Wert eingestellt ist, wird es möglich, die auf der MgKX-Strahlung beruhende Zunahme des Zählbetrages des Kanals E und die auf der Absorption von AlKX- und SiKX-Strahlung durch das in der Probe enthaltene Mg beruhende Abnahme des Zählbetrags des Kanals E auszuschalten. Wenn die Grundlinie des Kanals E in dieser Lage eingestellt ist, so kann die Analyse von O,) ohne Beeinflussung durch MgO erfolgen.

In Fig. 5 ist mit 35 ein Analysator für die Impulshöhe bezeichnet, der in der oben befrchriebenen Weise eingestellt ist

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und 40 bezeichnet einen Maß st al) rechner.

Die Bezugszeichen 41 und 42 in der Figur bedeuten Analysatoren für die Impulshöhe, die dazu dienen, jeweils die Schwankungen der Impulshöhe der aus den linearen Verstärkern austretenden Impulse festzustellen (d.h. Schwankungen in der Gesamtausbeute von den Verhältniszählern bis zu den linearen Verstärkern). Unter Ausnutzung der Vorteile der Schweitelwerte von der CaKX-Strahlung, d.h. der Scheitelwerte b und b¹ bei der in Fig. 6 dargestellten Analyse der Impulshöhe sind die Analysatoren so bemessen, daß sie oberhalb und unterhalb des Betrags der Kittellinie des Kanals ein Schwingen bewirken, üie Ausgangs impulse werden den Stabilisatoren 43 und 44 für die Impulshöhe zugeführt, in welchen sie mit den Kanalschwingungen in 41 und 42 synchronisiert werden, und man erhält somit das Verhältnis (oder den Unterschied) von Zählwerten bei jeder Halbperiode; mit dem somit erzielten Zahlenwert werden die Spannungen der Hochspannungsgeneratoren 45 und 46, welche den Verhältniszählern 7 und 9 zugeführt werden sollen,automatisch gesteuert. Mit anderen Worten, das Spektrum wird nach eechts oder nach links verschoben, je nachdem, ob die an den Verhältniszählern 7 und 9 liegenden Spannungen erhöht oder erniedrigt werden. Venn das Spektrum nach rechts verschoben wird, wird der Ausgang (Spannung oder Strom) des linearen Verstärkers vergrößert, und wenn es nach links verschoben wird, wird der Ausgang verringert. Wenn die Kanäle der Analysatoren für die Impulshöhe 41, 42 vom Wert der Mitte des Scheitels von der CaKX-Strahlung aus nach links _u»d reohts in Schwingung versetzt werden, so ergeben der Zählwert der

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Halbperiode auf der rechten Seite N_R und der Zählwert der Halbperiode auf der linken Seite N, ein Verhältnis von N-/N, = 1 oder eine Differenz von NL - Ny= O, wenn der Wert der Mitte des Scheitels in der normalen Lage ist. ¥enn der Wert der Mitte des Scheitels nach rechts verlagert ist, so ist Np/N^Ni oder Ν« - N,^> O. Wenn also die an den Verhältniszählern liegenden Hochspannungen in Abhängigkeit von der Größe von N_t,/N_T oder Np - N_L verringert werden, wird der Wert der Mitte des Scheitels in die Normallage zurückkehren, d.h. Np/N_L = 1 oder N_t, - N_T =0. Wenn der Wert der Mitte des Scheitels nach links

IC L·

verschoben ist, so kann der Zustand durch Erniedrigung der Hochspannungen wieder normalisiert werden.

Durch die zusätzliche Verwendung eines derartigen, die Impulshöhe stabilisierenden automatischen Mechanismus' kann die Spektralanalyse mittels einer Analyse der Impulshöhe in stabilisiertem Zustand erfolgen, wobei Einflüsse der Kaumtemperatur und andere Beeinflussungen durch die Umgebung wegfallen.

Es werden nun weitere Angaben über die radioaktive Quelle gemacht. Da die Quelle RI enthält, kann sie eine vollkommen stabile Intensität der Primärstrahlung ergeben, die nicht schwankt, wie es bei der Strahlung aus einer Röntgenröhre der Fall ist. (Zwar wird die Intensität des einzelnen Bestandteils in seiner jeweiligen Halbwertszeit abgeschwächt, jedoch kann diese Abschwächung leicht ausgeglichen werden.) Da ferner eine radioaktive Quelle gewählt wird, die keine störende Streustrahlung oder dergl. erzeugt, können die Quelle, die Probe und der Detektor nahe beieinander angeordnet werden, wodurch eine in Fig.6

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gezeigte Verteilung der Impulshöhe erzielt werden kann, trotz der Tatsache, daß ein nicht disperses, direktes Nachweisverfahren verwendet wird. (Streustrahlen sind andere strahlen als die charakteristischen Röntgenstrahlen der gemessenen Komponenten und ergeben ein Geräusch, wodurch das Verhältnis S/N kleiner und die Genauigkeit der Analyse störend beeinflußt wird).

Es ist notwendig, die KX-Strahlen von Grundbestandteilen einer Probe bei gutem S/N-Verhältnis und mit möglichst hoher Intensität zu messen. i>abei hat sich durch Versuche herausgestellt, daß die Erregungsieistung für den maximalen Gehalt an Ga relativ herabgesetzt und die Erregungsleistungen für die KX-3trahlen von Si, Al und Fe relativ erhöht werden müssen. Es hat sich somit als zweckmäßig erwiesen, eine Probe mit^-Strahlung und mit elektromagnetischer Strahlung geringer Energie mit ziemlich hoher kombinierter Intensität zu bestrahlen. Das bedeutet, daß die radioaktive Quelle vorzugsweise von geringer Ausdehnung ist und eine hohe Strahlungsintensität aufweist.

Wenn die radioaktive Quelle klein genug ist, können die Quelle, die Probe und die Verhältniszähler nahe beieinander angeordnet werden, so daß die Strahlung von der Quelle und die charakteristische Röntgenstrahlung von der Probe dadurch verstärkt werden können. Dies wiederum erhöht den Zählbetrag der charakteristischen Röntgenstrahlung und setzt die statistische Schwankung des Zählbetrags herab, woraus sich eine Verbesserung der Analysengenauigkeit ergibt. Ferner kann die Meßzeit abgekürzt werden. Aus des. oben erläuterten Gründen muß die radioaktive Quelle Möglichst klein sein, und die höchstmögliche spezifische

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Aktivität besitzen.

Bei den Analysen von Zement, Zementklinker und Zement-Rohmaterialien können derartig leichte Elemente wie Al, Si und Ca in ausreichendem Maße mit Hilfe von Po (jl-Strahlungsquelle) erregt und untersucht werden, jedoch ist die ürregungsleistung für Fe nicht zufriedenstellend. Deshalb wird ⁵H+Zr zur Erregung von Fe benutzt. (Zwar stellt ^JH+Zr eine Quelle für sowohl A-Strah lung als auch für elektromagnetische Strahlung geringer Energie dar, jedoch wird sie mit Glimmer überzogen, um die/^-Strahlung auszuschalten und wird demzufolge lediglich als Quelle für elektromagnetische Strahlung geringer Energie benutzt.)

Die charakteristischen Röntgenstrahl-Intensitäten der Komponenten der Probe, die mit Hilfe des Po (iO nc χ 2 pcs.) und ^H+Zr (3c χ 2 pcs.) in oben beschriebener Weise erhalten werden, sind bei weitem größer als die charakteristischen Röntgenstrahl-Intensitäten, die mit den herkömmlichen Fluoreszenz-Ana lysatoren mit Röntgenstrahlen unter Verwendung von Röntgenröhren erzielt werden. Das bedeutet also, daß das Gerät gemäß der vorliegenden Erfindung die herkömmlichen Fluoreszenzanalysatoren mit Röntgenstrahlen unter Verwendung von Röntgenröhren an Genauigkeit übertrifft. Weiterhin ermöglicht der Fluoreszenzanalysator mit Röntgenstrahlen, der RI enthält, eine gute Analyse von Proben mit mehreren Komponenten und kann billig hergestellt werden.

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In der oben beschriebenen Ausführungsform wird Po

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ORlOlNAL INSPECTED

als dC-Strahler und ^H+Zr als Strahlungsquelle für weiche Röntgenstrahlung verwendet. Die Quelle für elektromagnetische Strahlung geringer Energie soll in der Lage sein, die FeKX-Strahlung so stark wie möglich und stärker als die CaKX-Strahlung zu erregen und darf nur eine vernachlässigbare Streustrahlung erzeugen. Die günstigste Quelle für elektromagnetische Strahlung geringer Energie ist eine Quelle, welche eine kritische Absorptionsenergie der K-Reihe von mehr als 7,111 KeV für Eisen aufweist und die hauptsächlich elektromagnetische Strahlung des Bereichs aussenden kann, der so dicht wie möglich an dem obengenannten Wert liegt. Jedoch sind Quellen, die in der Hauptsache ^f-Strahlen oder Röntgenstrahlen von mehr als 60 KeV aussenden, wegen ihrer Streustrahlung nicht erwünscht. Ob es sich nun um^-Strahlung oder um Röntgenstrahlung handelt, die Strahlung über 60 KeV hat eine derartig hohe Energie, daß sie durch die Lagerung für die radioaktive Quelle dringt und direkt in die Verhältniszähler eintritt und dadurch das Geräusch verstärkt. Es kommt hinzu, daß die hohe Energie dementsprechend hohe Leistungen zur Erzeugung von Streustrahlung in der Lagerung, in der radioaktiven Quelle, der Halterung für die Probe und in der Probe hervorruft.

Für die Erregung von KX-Strahlen für Si und Al ist da- , gegen eine«^-Strahlungsquelle zweckmäßig, die, wie oben erläutert, mit einem Überzug von einer Massendicke von weniger als 3,5 mg/cm bedeckt ist. Die Massendicke des Überzugs ist aus folgendem Grund auf einen Wert unterhalb 3,5 mg/cm² beschränkt.

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Um die Dämpfung der Strahlung aus der radioaktiven Quelle und der Intensitäten der charakteristischen Röntgenstrahlen aus der Probe auf ein Mindestmaß zu beschränken, ist es erforderlich, Heliumgas in dem Meßgehäuse zirkulieren zu lassen oder im Gehäuse ein Vakuum herzustellen. Letzteres wird bevorzugt, da eine Zirkulation von Heliumgas die Betriebskosten des Geräts beträchtlich steigert. Wenn innerhalb des Gehäuses ein Vakuum erzeugt wird, so geht das auf der Scheibe durch galvanischen

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Niederschlag aufgebrachte Po allmählich ab und die Intensität der«/-Strahlung von Po verringert sich, wodurch das Meßgehäuse in gefährlichem Maße verseucht wird. Aus diesem Grunde

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wird also Po mit Aluminium überzogen, so daß es nicht abgehen kann. Wenn der Aluminiumüberzug jedoch dicker ist als 3,5 mg/cm , so wird der größte Teil der C^-Strahlung von dem Po durch den Aluminiumüberzug absorbiert und nur wenig Strahlung auf die Probe geworfen. Daher geht nur wenig charakteristische Röntgenstrahlung von der Probe aus. Der Schutzüberzug puß deshalb eine Dicke von 3»5 mg/cm oder weniger aufweisen und in der Lage sein, dem Vakuum zu widerstehen.

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Der Strahlungskörper Am oder dergl., der, wie oben

beschrieben, sowohl elektromagnetische Strahlung geringer Energie als auch (/-Strahlung aussenden kann, stellt eine äußerst günstige radioaktive Quelle dar. Als zweckmäßig gelten ebenfalls, wie in der obigen Ausführungsform beschrieben, die kombinierte Verwendung von zwei unterschiedlichen Typen von Strahlungskörpern, um die gewünschten Wirkungen zu erzielen.

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Vie vorstehend erläutert, ermöglicht die vorliegende Erfindung eine gleichzeitige und sofortige quantitative Analyse der Hauptbestandteile von verschiedenen Stoffen durch wirksame Verwendung von bestimmten radioaktiven Elementen. Es geht aus der vorstehenden Beschreibung auch deutlich hervor, dalß außer den Hauptbestandteilen auch jeder andere Bestandteil gleichfalls dadurch analysiert werden kann, daß der Kanal für die Impulshöhe auf die entsprechende Lage der Impulshöhenverteilung des erregten Röntgenstrahls für das betreffende Element eingestellt wird. Falls die Verteilung der Impulshöhe des betreffenden Elements diejenige irgendeines anderen Elements überlagert, so kann dies Element mit Hilfe eines Filters mit Adsorptions-Randwirkung oder durch Berechnung getrennt ausgewertet werden. Bei Verwendung des Filters wird der Zählbetrag erniedrigt, jedoch können nah verwandte Elemente damit leicht getrennt analysiert werden. Die Benutzung einer Rechenvorrichtung wird dann bevorzugt, wenn viele nah verwandte Elemente vorhanden sind. Wenn in diesem Falle Verhältniszähler mit Filter verwendet werden, so bedeutet das, daß »ine Vielzahl von Verhältniszählern benutzt werden muß, mit dem Ergebnis, daß die Abstände zwischen der radioaktiven Quelle, der Probe und den Verhältniszählern vergrößert und die Intensitäten der charakteristischen Röntgenstrahlung der Komponenten verringert werden und somit die Genauigkeit der Analyse beeinträchtigt wird»

Die vorliegende Erfindung ist' auf analytische Auswertung folgender Stoffe anwendbar:

(l) Zement, Zementklinker, Zement-Rohmaterialien, magnesiabaltigen Klinker etc.

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ORlGiNAL

(2) Glas, Eisenerz, Eisenschlacke, Stahl, Roheisen, Petroleum etc. die mit Hilfe von geeigneten radioaktiven Quellen auf Schwefel oder den Gehalt an anderen Stoffen untersucht werden sollen.

Insbesondere ist der Analysator nach der Erfindung außerordentlich geeignet für rasche Analyse von Zement-Rohmaterialien, was einen großen Vorteil für die automatische Steuerung beim Mischen der Materialien darstellt.

Die Erfindung wird durch die folgenden Beispiele verdeut- ™

1. Analyse von Zement-Rohmaterialien

(l) Messung des Gehalts an AIgO,, SiO₂, CaO und Pe₂O, in Zement-Rohmaterialien

(a) Für den Fall, daß nur Verhältniszähler ohne Filter verwen-

«rf

t werden:

Die zu verwendende radioaktive Quelle ist entweder eine Verbindung einery/-Strahlungsquelle und einer elektromagnetischen Strahlungsquelle oder eine radioaktive Quelle, die sowohl -Strahlung als auch elektromagnetische Strahlung aussendet. Die Kanäle der Analysatoren für die Impulshöhe werden folgendermaßen eingestellt: Für Al₀O, auf einen Bereich, der sich im allgemeinen vom Rand der Kuppe des AlKX-Strahlenspektrums bis zu einem etwas oberhalb der Scheitelmitte liegenden Punkt erstreckt; für SiO₂ auf einen Bereich von im wesentlichen dem etwas unterhalb der Mitte des SiKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt bis zum Rand der Kuppe; für CaO auf einen Bereich von im wesent-20981 3/ 1297

SADORJGlNAL

lichen dem unteren Rand des CaKX-Strahlenspektrums bis zum oberen Rand; und für Fe₂O,, auf einen Bereich, der sieh im wesentlichen vom unteren Rand des FeKX-Strahlenspektrums zum oberen Rand erstreckt. Für das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe wird die CaKX-S tr all lung genommen«

(b) Für den Fall, daß ein filterloser Verhältniszähler und ein mit einem Al-Filter ausgestatteter Verhältniszähler verwendet werden:

Dabei gilt für die Wahl der radioaktiven Quelle und der Analysatoren für die Impulshöhe sowie für die kanaleinsteilung und für die Verwendung des Spektrums zur Stabilisierung der Impulshöhe dasselbe wie bei 1. (l) (b), außer daß der Kanal des Analysators der Impulshöhe für AIgO- auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand bis zum oberen Rand des AlKX-Strahlenspektrums des mit dem Al-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(2) Messung des Gehalts an CaO in Zement-Rohmaterialien

(a) Die zu verwendende radioaktive Quelle ist eine elektromagnetische Strahlungsquelle (eine radioaktive Quelle, wie z.B. -Ή+Ti, die in der Lage ist, eine elektromagnetische Strahlung auszusenden, die oberhalb und so dicht wie möglich bei der kritischen Absorptionsenergie der K-Reihe für Ca von 4,038 KeV liegt.)

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(b) Die zu verwendenden Verhältniszähler sind nioht mit Filtern versehen.

(c) Der Kanal des Analysators für die Impulshöhe wird auf einen Bereich eingestellt, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des CaKX-Strahlenspelctrums erstreckt.

(d) Als Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe wird die CaKX-Strahlung genommen.

(3) Messung des Gehalts an Fe₀O- in Zement-Rohmaterialien

(a) Die zu verwendende radioaktive Quelle ist eine elektromagnetische Strahlungsquelle (eine radioaktive Quelle, wie z.B. ^H+Ni oder H +Zr, die elektromagnetische Strahlung aussenden kann, die oberhalb und so dicht wie möglich bei der kritischen Absorptionsenergie der K-Reine für Fe von 7,Hi KeV liegt.)

(b) Die Verhältniszähler sind nicht mit Filtern versehen.

(c) Der Kanal des Analysators für die Impulshöhe wird auf einen Bereich eingestellt, der sich im wesentlichen vom oberen Rand zum unteren Rand des FeKX-Strahlenspektrums erstreckt.

(d) Für das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe wird entweder FeKX-Strablung oder CaKX-Strahlung genommen.

[4) Heseung des Gehalte an CaO und Fe₂O₃ in Zement-Rohmaterialien

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(a) Die zu verwendende radioaktive quelle ist entweder die - "i elektromagnetische Strahlungsquelle (i) oder (ii), die nachstehend beschrieben werden:

(i) ist eine radioaktive Quelle wie z.B. ^JH+Ni oder die in der Lage ist, elektromagnetische strahlung oberhalb und so dicht wie möglich bei der kritischen Absorptionsenergie der K-Reihe für Fe von 7,111 KeV auszusenden.

(ii) ist eine radioaktive Quelle, wie z.B. H+Ti, die elektromagnetische Strahlung oberhalb und so dicht wie möglich bei der kritischen Absorptionsenergie der K-Reihe für Ca von 4,038 KeV aussenden kann und eine

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radioaktive Quelle, wie z.B. H+Ni oder 11+ Zr, die in der Lage ist, elektromagnetische Strahlung oberhalb und so dicht wie möglich bei der kritischen Absorptionsenergie der K-Reihe für Pe von 7,111 KeV auszusenden.

(b) Die zu verwendenden Verhältnis zähler sind nicht mit Filtern versehen.

(c) Die Kanäle der Analysatoren für die Impulshöhe werden für CaO auf einen Bereich eingestellt, der sich im wesentlichen Ton unteren Rand zum oberen Rand des CaKX-Strahlenspektrums erstreckt und für Fe₂^ ^{au:f einen} Bereich vom unteren Rand zum oberen Rand des FeKX-Strahlenspektruas.

(d) Als Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe wird CaKX-Strahlung genommen.

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2. Analyse von Zementklinker

Messung des Gehalts an AIgO,, SiO₂, SO,, GaO und Fe₂O^ in Zementklinker

(l) Für den Fall, daß S0_ weniger als 0,5 jt beträgt

(a) Bei Verwendung von Verhältniszählern ohne Filter:

Dabei gilt für die zu verwendende radioaktive Quelle, die Kanaleins teilung der Analysatoren für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe das gleiche wie bei 1. (l) (a) für die Messung des tiehalts an Al_;.0„, SiO₀, CaO und Fe_o0_ in Zement-Rohmaterialien, außer daß der Kanal des Analysators der Impulshöhe für SO, auf einen Bereich eingestellt wird, der sich von einem etwas unterhalb der Mitte des SKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt zum oberen Rand des Spektrums erstreckt.

(b) Wenn ein Verhältniszähler ohne Filter und ein Verhältniszähler mit einem Al-Filter verwendet werden: Man verwendet dabei die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrui für die Stabilisierung der Impulshöhe wie oben bei 1. (i) (b) für die Messung des Gehalts an Al₂O-, SiOp, CaO und Fe₂O, in Zement-Rohmaterialien beschrieben ist, außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für SO, auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen von einem etwas unterhalb der Mitte liegenden Punkt zum oberen Rand des SKX-Strahlenspektrums bei den nicht mit Filter versehenen Verhältniszählern erstreckt.

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(2) Im Fall, daß SO₃ = 0,5 - i,6ji

(a) Wenn nur Verhältniszähler ohne Filter verwendet werden: Die Verwendung der radioaktiven Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe ist ebenso, wie oben unter 2. (l) (a) erläutert, wo ein Verhältniszähler ohne Filter und ein mit einem Al-Filter versehener Verhältniszähler verwendet wurden, nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für SiOg auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen von einem etwas unterhalb der Mitte des Spektrums liegenden Punkt zu einem etwas unterhalb des oberen Rands des SiKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt erstreckt.

(b) Wenn ein filterloser Verhältniszähler und ein mit einem Al-Filter versehener Verhältniszähler verwendet werden: Dabei gilt für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe das gleiche wie oben unter 2. (l) (b) beschrieben, wo ein Verhältniszähler ohne *ilter und ein mit Al-Filter ausgestatteter Verhältniszähler verwendet wurden.

^v ' Wenn ein Verhältnis zähler ohne Filter, ein mit Al-Filter und ein mit einem Si-Filter versehener Verhältniszähler verwendet werden oder wenn ein filterloser Verhältniszähler und ein Verhältniszähler mit Al-Filter oder Si-Filter, die gegeneinander austauschbar sind, verwendet werden:

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Für die Verwendung derradioaktiven Quelle, die Kanaleinsteilung des Analysators für die Impulshöhe und das zu verwendende Spektrum für die Stabilisierung der -i-mpulshöhe gilt das gleiche wie bei 2. (2) (b), wo ein Verhältniszähler ohne filter und ein mit einem Al-Filter versehener Verhältniszähler verwendet wurden, nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für SiO₀ auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des SiKX-Strahlenspektrums des mit einem Si-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(d) Wenn ein filterloser Verhältniszähler, ein mit einem Al-Filter, ein mit einem Si-Filter und ein mit einem S-Filter versehener Verhältniszähler verwendet werden, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit einem Verhältniszähler mit Filter verwendet wird, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Al, Si und S versehen werden kann;

Dabei gilt für die radioaktive Quelle, die Kanäleinsteilung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe das gleiche wie oben bei 2. (2) (c) beschrieben, nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für SO, auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen von einem etwas oberhalb des unteren Rands liegenden Punkt zum oberen Rand des SKX-Strahlenspektrums das mit einem S-Filter versehenen Verhältniezählers erstreckt,

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3» Analyse von Zement

Messung des Gehalts an Al₂O,, SiO₂, SO,, CaO und Fe₂O, in Zement

(1) Venn nur Verhältniszähler ohne Filter verwendet werden: Für die Vahl der radioaktiven Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das zu verwendende Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt dasselbe wie bei 2. (l) (a).

(2) Wenn ein Verhältniszähler ohne Filter und ein mit Al-Filter versehener Verhältniszähler verwendet werden: Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei 2. (l) (b) beschrieben.

(3) Wenn ein Verhältniszähler ohne Filter, ein mit Al-Filter und ein mit Si-Filter versehener Verhältniszähler verwendet werden oder wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit einem Verhältniszähler benutzt wird, der mit einem von gegeneinander austauschbaren ^iItern aus Al und Si versehen werden kann:

Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Impulshöhe gilt das gleiche wie bei 2. (2) (c).

(4) Bei Verwendung eines Verhältniszählers ohne Filter zusammen mit einem mit Al-Filter, einem mit Si-Filter und einem mit S-Filter versehenen Verhältniszähler oder bei Benutzung

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eines filterlosen Verhältniszählers zusammen mit einem Verhältniszähler, der mit einem von gegeneinander auswechselbaren Filtern aus Al, Si und S versehen werden kann: Für die radioaktive Quelle, die Kanäleinsteilung des Analysators für die Inipulshöhe und das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe gilt dasselbe wie bei 2. (2) (d).

k. Analyse von Eisenerz

(l) Messung des Gehalts an MgO, Al₂O-, SiO₂, CaO, MnO und Fe₂O, in Hämatit und Limonit:

(a) Wenn nur Verhältniszähler ohne Filter verwendet werden: Die zu verwendende radioaktive Quelle ist entweder eine Kombination einer J- -Strahlungsquelle und einer elektromagnetischen Strahllingsquelle oder eine radioaktive Quelle, die in der Lage ist, sowohl «^-Strahlung als auch elektromagnetische Strahlung auszusenden. Die Kanäle der Analysatorenfür die Impulshöhe werden auf folgende Bereiche eingestellt: Für MgO auf einen Bereich, der sich im wesentliehen von unteren Rand zu einem etwas unterhalb des oberen Randes liegenden Punkt des MgKX-Strahlenspektrums erstreckt; für AlgO- auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden Punkt zu einem etwas unterhalb des oberen Randes des AIKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt; für SiO₂ auf einen Bereich,der sich im wesentlichen von einem etwas oberhalb des unteren Rands liegenden Punkt zum oberen Rand des SiKX-Strahlenspektrums erstreckt;für CaO auf einen Bereich,der sich im wesent-

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BAD ORIQtMAL

lichen vom unteren Rand zum oberen Hand des CaKX-Strahlenspektrums erstreckt; für MnO auf einen Bereich von im wesentlichen dem unteren Rand zu einem etwas oberhalb der Mitte des Scheitels des MnKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt; und für Fe₂O, auf einen Bereich, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des FeKX-Strahlenspektrums erstreckt.

Für das Spektrum zur stabilisierung der Impulshöhe wird entweder FeKX-S tr ahlung oder SiICX-S tr ah lung genommen.

(b) Wenn ein Verhältniszähler ohne Filter und ein mit einem Mg-Filter ausgestatteter Verhältniszähler verwendet werden: Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinsteilung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Iinpulshöhe gilt das gleiche wie bei 4. (l) (a), nur daß der Kanal des ^nalysators für die Impulshöhe für MgO auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Sand des MgKX-Strahlenspektrums des mit einem Mg-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(c) Wenn ein Verhältniszähler ohne Filter, ein mit Mg- und ein mit Al-Filter ausgestatteter Verhältniszähler zusammen benutzt werden, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit einem Verhältniszähler verwendet wird, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Mg- und Al-Filtern versehen werden kann:

Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die

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Stabilisierung der Impulshöhe gilt dasselbe wie bei 4. (l) (b), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für AIgO- auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des AIKX-S^rahlenspektrums des mit Al-Filter versehenen Verhältniszahlers erstreckt.

(d) Wenn ein Verhältnis zähler ohne Filter, ein mit Mg-Filter, ein mit Al-Filter und ein mit Sfc-Filter versehener Verhältniszähler zusammen verwendet werden, oder wenn ein Verhältniszähler ohne Filter in Verbindung mit einem Verhältniszähler benutzt wird, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Mg, Al und ^i ausgestattet werden kann:

Für die Wahl der radioaktiven Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei 4, (l) (c), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe: für SiO₂ auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des SiKX-Strahlenspektrums des mit Si-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(e) Wenn ein filterloser Verhältniszähler in Verbindung mit Verhältniszählern benutzt wird, die jeweils mit einem Filter aus Mg, Al, Si bzw. Mn versehen sind, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit einem mit Filter versehenen Verhältniszähler verwendet wird, der mit einem von gegeneinander auswechselbaren Filtern aus Mg, Al, Si und Mn ausgestattet werden kann:

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SAD ORIGINAL

^abei gilt für die radioaktive quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe das gleiche wie bei k, (l) (d), außer dai3 der Kanal des ^nalysators für die Impulshöhe für MnO auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Hand des MnKX-Strahlenspektrums des mit Mn-Filter versehenen Verhältniszähj.ers erstreckt.

(f) Wenn ein Verhältniszäliler ohne Filter im Zusammenhang mit Verhältniszählern verwendet wird, die einen Filter aus Mg, bzw. Al, ^i, Mn und Fe aufweisen, oder wenn ein Verhältniszähler verwendet wird, welcher mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Mg ,Al, Si, Mn und Fe ausgestattet werden kann:

Radioaktive Quelle, Kanaleinstellung des Aiiaiysators für die Impulshöhe und Spektrum für die stabilisierung der Impulshöhe sind ebenso wie bei k. (l) (e), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Fe₂O- auf einen Bereich von im wesentlichen dem unteren Rand zum oberen Rand des FeKX-Strahlenspektrums eingestellt wird,

(2) Messung des Gehalts an MgO, Al₂O-, SiO₂, CaO, TiO₂, MnO und Fe₂O, in Magneteisenstein

(a) Wenn nur Verhältniszähler ohne Filter benutzt werden:

FUr die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysator B für die Impulshöhe und das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei k. (l) (a), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für

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CaO auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zu einem etwas oberhalb der Mitte des Scheitels liegenden Punkt des CaKX-Strahlenspektrums erstreckt und der Kanal für TiO₂ auf einen Bereich, welcher sich im wesentlichen von einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden tunkt zu einem etwas unterhalb des oberen Randes des TiKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt erstreckt.

(b) Bei Verwendung eines Verhältniszählers ohne Filter zusammen mit einem mit Mg-*'üter ausgestatteten Verhältniszähler:

Für die Wahl der radioaktiven Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei k. (2) (a), nur daß der Kanal des AnalysatorsIUr die Impulshöhe für MgO auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des HgKX-Strahlenspektrums des mit Mg-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(c) Wenn ein Verhältniszähler ohne Filter, ein mit Mg-Filter und ein mit Al-Filter versehener Verhältniszähler zusammen benutzt werden, oder wenn ein Verhältniszähler ohne Filter in Verbindung mit einem Verhältniszähler verwendet wird, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Mg und Al versehen werden kann:

Für die Wahl der radioaktiven Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die

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•AD ORiGfRV

Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie^; bei 4. (2) (b), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Al₀O- auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im.wesentlichen vom unteren Rand zum oberen'Rand des AIKX-Strahlenspektrums des mit Al-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(d) Wenn ein Verhältniszähler ohne Filter zusammen mit Verhältniszählern benutzt wird, die jeweils mit einem Filter aus Mg bzw. Al und Si versehen sind, oder wenn ein Verhältniszähler ohne Filter zusammen mit einem Verhältniszähler verwendet wird, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Mg, Al und Si verseilen werden kann: Dabei gilt für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe dasselbe wie bei 4. (2) {c), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für SiOg auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des SiKX-Strahlenspektrums des mit Si-FiIter ausgestatteten Verhältniszählers erstreckt.

(e) Bei Verwendung eines filterlosen Verhältniszählers in Verbindung mit Verhältnis zählern, die jeweils mit einem Filter aus Mg,bzw. Al, Si und Ca versehen sind, oder bei Verwendung eines VerhältnisZählers ohne Filter zusammen mit einem Verhältniszähler, der mit einem von gegeneinander auswechselbaren Filtern aus Mg, Al, Si und Ga versehen werden kann:

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Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt dasselbe wie bei 4. (2) (d), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Caü auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des CaKX-Strahlenspektrums des mit Ga-Filter versehenen Verliältniszählers erstreckt.

(f) Wenn ein filterloser Verhältniszähler und Verhältniszähler, die jeweils mit einem Filter aus Mg, Al, Si, Ca und Ti ausgestattet sind, verwendet werden, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit einem Verhältniszähler verwendet wird, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Mg, Al, Si, Ca und Ti versehen werden kann:

Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei 4. (2) (e), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für TiOg auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zu einem etwas unterhalb des oberen Randes liegenden Punkt des TiKX-Strahlenspektrums des mit Ti-FiIter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(g) Bei Verwendung eines filterlosen Verhältniszählers in Verbindung mit Verhältnis zählern, die jeweils mit einem Filter aus Mg, Al, Si, Ca, Ti bzw. Mn ausgestattet sind, oder bei Verwendung eines filterlosen Verhältniszählers

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zusammen mit einem mit Filter versehenen Verhältniszähler, der mit einem von gegeneinander auswechselbaren Filtern aus Mg, Al, Si, Ca, Ti und Mn ausgestattet werden kann: Dabei gilt für die radioaktive Quelle, die Kanäle ins teilung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe das gleiche wie bei ^li. (2) (f), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für FeJa- auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des MnKX-Strahlenspektrums des mit Mn-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt,

(h) Wenn ein Verhältniszähler ohne Filter im Zusammenhang mit Verhältniszählern benutzt wird, die jeweils mit einem Filter aus Mg, Al, Si, Ca, Mn bzw. Fe versehen sind, oder bei ¥erwendung eines Verhältiiiszählers ohne Filter zusammen mit einem Verhältniszähler, der mit gegeneinander austauschbaren Filtern aus Mg, Al, Si, Ca, Mn bzw. Fe versehen werden kann:

Dabei gilt für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe das gleiche wie bei k. (2) (g), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Fe₀O, auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im vesentliehen vom unteren Rand zum oberen Rand des FeKX-Strahlenspektrums des ait Fe-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

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5· Analyse von Glas

(i) Messung des Gehalts an Na₃O, MgO, Al₂O₅, SiO₂, SO₅, CaO

und ^Fe2°3 ^{in Glas}

(a) Venn nur Verhältniszähler ohne Filter verwendet werden: Die zu verwendende radioaktive Quelle ist entweder eine Verbindung einer -Strahlungsquelle und einer elektromagnetischen Strahlungsquelle oder eine radioaktive Quelle, die in der Lage ist, sowohl -Strahlung als auch elektromagnetische Strahlung auszusenden.

Die Kanäle der Analysatoren für die Impulshöhe werden auf folgende Bereiche eingestellt: Für Na^O auf einen Bereich, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des KaKX-Strahlenspektrums erstreckt; für HgO auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas oberhalb des oberen Randes liegenden Punkt zu einem etwas unterhalb des oberen Randes des MgKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt; für Al₀O,, auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas oberhalb de» unteren Randes liegenden Punkt zu eines etwas oberhalb der Mitte des Scheitels des AIKX-Strahlen*» spektrums liegenden Punkt; für SiO₀ auf einen Bereich, der sich im wesentlichen von einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden Punkt zum ob er «8 η Rand des SiKX-Strahlenspektrums erstreckt; für SO, auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden Punkt zu einem etwas unterhalb des oberen Randes des SKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt; für GaO auf einen Bereich von im wesentlichen dem unteren Rand zum

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oberen Rand des CaKX-Strahlenspektrums; und für Fe₂O^ auf einen Bereich, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des FeKX-Strahlenspektrums erstreckt. Für das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe wird die SiKX-Strahlung verwendet.

(b) Wenn ein Verhältnis zähler ohne Filter inVerbindung mit einem mit Na-Filter versehenen Verhältniszähler verwendet wird:

Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei 5. (l) (a), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Na^O auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des NaKX-Strahlenspektrums des mit Na-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(c) Wenn ein filterloser Verhältniszähler, ein mit Na-Filter und ein mit Mg-Filter versehener Verhältniszähler verwendet werden, oder wenn ein Verhältniszähler ohne Filter zusammen mit einem Verhältniszähler verwendet wird, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Na und Mg versehen werden kann:

Dabei gilt für die Wahl der radioaktiven Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Irapulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshohe das gleiche wie bei 5. (l) (b), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für MgO auf einen Bereich eingestellt wird,

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der sich im wesentlichen von einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden Punkt zum oberen Rand des MgKX-Strahlenspektrums des mit Mg-Filter versehenen Verhältnis-Zählers erstreckt.

(d) Wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit Verhältniszählern benutzt wird, die jeweils mit einem Filter aus Na, Mg bzw. Al ausgestattet sind, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler benutzt wird in Verbindung mit einem Verhältniszähler, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Na, Mg und Al versehen werden kann:

Für die Verwendung der radioaktiven Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt dasselbe wie bei 5. (l) (c), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für AIoO* auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zu einem etwas unterhalb des oberen Randes liegenden Punkt des AlKX-Strahlenspektrums des mit Al-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(β) Bei Verwendung eines Verhältniszählers ohne Filter zusammen mit Verhältniszählern, die jeweils mit einem Filter aas Na, Mg, Al bzw. Si versehen sind, oder bei Benutzung eines Verhältnis Zählers ohne Filter in Verbindung mit einem Verhältniszähler, der mit einem von gegeneinander auswechselbaren Filtern aus Na, Mg, Al und Si versehen werden Mann: Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des

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Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei 5. (i) (d), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für SiO₀ auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des SiKX-Strahlenspektrums des mit Si-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(f) Bei Verwendung eines Verhältniszählers ohne Filter zusammen mit Yerhältniszählern, die jeweils mit Filtern aus Na, Mg, Al, Si bzw. S versehen sind, oder bei Verwendung eines filterlosen Verhältniszählers zusammen mit einem Verhältniszähler, der mit einem von gegeneinander auswechselbaren Filtern aus Na, Mg, Al, Si und S versehen werden kann: Dabei gilt für die Wahl der radioaktiven Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe das gleiche wie bei 5. (l) (e), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für SO, auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen von einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden Punkt zum oberen Rand des SKX-Strahlenspektrums des mit S-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(g) Bei Verwendung eines Verhältniszählers ohne Filter zusammen mit Verhältniszählern, die jeweils mit einem Filter aus Na, Mg, Al, Si, S bzw. Ca versehen sind, oder bei Verwendung eines filterlosen Verhältnis Zählers in Verbindung mit einem Verhältniszähler, der mit einem von gegeneinander

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austauschbaren Filtern aus Na, Mg, Al, Si, S und Ca versehen werden kann:

Dabei gilt für die radioaktive Quelle, die Kanaleinetellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Irapulshöhe dasselbe wie bei 5· (l) (f), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Gaü auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Hand zum oberen Hand des OaKX-Strahlenspelctruiüs des mit Ca-Filter versehenen Verhältnis zähl ers erstreckt.

(2) Messung des Gehalts an Na₀O, Mgc, Al₀O-, SiO₀, SO-, CaO, Fe₀O,, B₀V-, Bau und FbO in Kristallglas

(a) Bei Verwendung von Verhältniszählern ohne Filter:

Für die Wahl der radioaktiven Quelle, die Kanäleinsteilung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei 5. (l) (a), außer daß die Kanäle des Analysators für die Impulshöhe auf folgende Bereiche eingestellt werden: für B₀O^ auf einen Bereich, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des BKK-Strahlenspektrums erstreckt; für BaO auf einen Bereich von im wesentliehen dem unteren Rand zum oberen Rand des BaKX-Strahlenspektrums; und für TbO auf einen Bereich vom unteren Rand zum oberen Rand des FbkX-Strahlenspektrums.

(b) Bei Verwendung eines filterlosen Verhältniszählers in Verbindung mit einem mit Na-Filter versehenen VerhältnisZählers:

209813/1297 ■ ßAD ORlOfNAt

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Für die radioaktive Quelle, (üie Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie hei 5. (2) (a), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Na^O auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des NaKX-Strahlenspektrums des mit Na-Filter versehenen Verhältnis Zählers erstreckt.

(c) Bei Verwendung eines filterlosen Verhäitniszählers zusammen mit einem mit Na-Filter und einem mit Mg-Filter versehenen Verhältniszähler oder hei Verwendung eines filterlosen Verhältniszählers in Verbindung mit einem Verhältniszähler, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Na und Mg versehen werden kann:

Dabei gilt für die radioaktive Quelle, die Kanal einstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe das gleiche wie bei 5· (2) (b), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für MgO auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen von einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden Punkt zum oberen Rand des MgKX-StrahIenspelctruins des mit Mg-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(d) Bei Verwendung eines filterlosen Verhältniszählers in Verbindung mit Verhältnis zählern, die jeweils mit einem Filter aus Na, Mg, bzw. Al versehen sind, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit einem Verhftltnis zähler

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verwendet wird, der mit einem von gegeneinander auswechselbaren Filtern aus Na, Mg und Al versehen werden kann: Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei 5. (2) (c), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für AIgO, auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zu einem etwas unterhalb des oberen Randes liegenden Punkt des AlKX-Strahlenspektrums des mit Al-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(β) Bei Verwendung eines filterlosen Verhältniszähler im Zusammenhang mit Verhältniszählern, die jeweils mit einem Filter aus Na, Mg, Al bzw. Si versehen sind, oder bei Verwendung eines filterlosen Verhältniszählers zusammen mit einem Verhältniezähler, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Na, Mg, Al und Si ausgestattet werden kann:

Für die Wahl der radioaktiven Quelle, die Kanaleinstellung de» Analysators. für die Impulshöhe sowie für die Verwendung des Spektrums für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt dasselbe wie bei 5. (2) (d), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für SiO₂ auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zu» oberen Rand des SiKX-Strahlenspektrums des mit Si-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(f) Wenn ein Verhältniszähler ohne Filter zusammen mit Verhältniszählern verwendet wird, die jeweils mit einem Filter aus

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Na, Mg, Al, Si bzw. S versehen sind, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit einem Verhältniszähler verwendet wird, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Na, Mg, Al, Si und S versehen werden kann: Dabei gilt für die radioaktive Quelle, die Kanäleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das zu verwendende Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe dasselbe wie bei 5· (2) (e), außer daß derKanal des Analysators für die Impulshöhe für S0_ auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen von einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden Funkt zum oberen Rand des SKX-Strahlenspektrums des mit S-Filter ausgestatteten Verhältniszählers erstreckt.

(g) Bei Verwendung eines filterlosen Verhältniszählers in Verbindung mit Verhältniszählern, die jeweils mit einem Filter aus Na, Mg, Al, Si, S bzw. Ca versehen sind, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit einem Verhältniszähler benutzt wird, der mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Na, Mg, Al, Si, S und Ca ausgestattet werden kann:

Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöke und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt dasselbe wie bei 5. (2) (f), nur daß der Kanal de* Analysators für die Impulshöhe für CaO auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des CaKX-Strahlenspektrums des mit dem Ca-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

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6. Analyse von iaagnes iahaltigein Klinker

(l) Messung des (iehalts an MgO, Al₂O₅₈ SiOg, P, S, GaO und Fe₂O₅ in magnesiahaltigem Klinker

(a) Wenn nur VerhUltniszähler ohne Filter verwendet werden: Die zu verwendende radioaktive Quelle ist entweder eine Kombination einer -Strahlungsquelle und einer elektromagnetischen Strahlungsquelle oder eine radioaktive Quelle, die in der Lage ist, sowohl -Strahlung als ai oh elektro-r magnetische Strahlung auszusenden. Die Kanäle der AnaIysatorenfür die linpulshöhe werden auf folgende Bereiche eingestellt: Für HgO auf einen Bereich, der sich Jm wesentlichen vom unteren Hand zum oberen Hand des Mgh-X-Strahlenspektrams erstreckt; für Al₂O, auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas unterhalb des Scheitels liegenden Tunkt zum oberen Rand des AlKX-Strahlenspektrums; für SiOy auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas unterhall) des Scheitels liegenden Punkt zum oberen Rand des SiKX-Strahlenspektrums; für Γ auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas oberhalb des unteren .Randes liegenden Punkt zu einem etwas unterhalb des oberen Randes des PlUC-S tr ah lon s pektrums liegenden Punkt; für S auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden Punkt zu einem etwas unterhalb des oberen Randes des SKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt; für üaU auf einen Bereich von im wesentlichen dem unteren Riind zum oberen Rand des CaKX-Strahlenspektrums; und für Fe ,,0, auf einen Bereich von im wesentlichen dem

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unteren R$uad zum oberen Rand des FeKX-Strahlenspektrums ; Für das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe wird die MgKX-Strahlung verwendet.

(b) Bei Verwendung eines filterlosen VerhältnisZählers und eines mit einem Mg-Filter versehenen Verliältniszählers: Für die radioaktive Quelle, die Kanal einstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierimg der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei (l) (a), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Mgü auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Hand zum oberen Rand des MgKX-Strahlenspektrums des mit dem Mg-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(c) Venn ein filterloser Verhältniszähler, ein mit Mg-FiIter und ein mit Al-Filter versehener Verhältniszähler verwendet werden, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler in Verbindung mit einem mit Filter versehenen Verhältniszähler benutzt wird, welcher mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Mg und Al ausgestattet werden kann: Dabei gilt für die radioaktive quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das zu verwendende Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe das gleiche wie bei 6. (i) (b), aulJer dai3 der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für AIoO, auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen von einem etwas unterhalb des Scheitels liegenden Funkt zum oberen Rand des AlKX-Strahlenspektrumfj des mit dem Al-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

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BAD

(d) ¥enn ein filterloser Verhältniszähler in Verbindung mit einem mit Mg-Filter, einem mit Al-Filter und einem mit Si-Filter versehenen Verhäitniszähler verwendet wird,oder wenn ein Verhältnis zähler ohne Filter zusammen mit einem Verhältniszähler verwendet wird, der jeweils mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Mg, Al und Si ausgestattet werden kann:

Für die Mahl der radioaktiven Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshbhe gilt dasselbe wie bei 6. (l) (c), nur daß der Kanal des Analyxators für die Impulshöhe für SiO„ auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen von einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden Punkt zum oberen Band des Si&X-Strahlenspektrums des mit dem Si-Filter versehenen Verhältnis Zählers erstreckt.

(2) Messung des Gehalts an CaO in magnesiahaltigem Klinker

(a) Die zu verwendende radioaktive Quelle ist eine elektromagnetische Strahlungsquelle (eine radioaktive Quelle, wie z.B. ^li+Ti, die in der Lage ist, eine elektromagnetische Strahlung auszusenden, die oberhalb und so dicht wie möglich bei der kritischen Absorptionsenergie der K-Keihe für Ca von 4,038 KeV liegt).

(b) Die Verhältniszähler sind nicht mit Filter versehen.

(o) Der Kanal des Analysators für die Impulshöhe wird auf einen Bereich eingestellt, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des CaKX-Strahlenspektrums erstreckt.

209813/1297 ■»««««.

(d) Für das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshohe wird entweder CaKX-Strahlung oder MgKX-Strahlung verwendet.

(3) Messung des Gehalts an Fe₂ü„ in magnesiahaltigeiu Klinker

(a) Die zu verwendende radioaktive Quelle ist eine elektromagnetisch· Strahlungsquelle (eine radioaktive Quelle wie z.B. H+Ni oder ■'H+Zr, die in der Lage ist, elektromagnetische Strahlung auszusenden, die oberhalb und so dicht wie möglich bei der kritischen Absorptionsenergie der K-Reihe für Fe von 7,111 KeV liegt).

(b) Die Verhältniszähler sind nicht mit Filter versehen.

(c) Der Kanal des Analysators für die Impulshöhe wird auf einen Bereich eingestellt, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des FeKX-Strahlenspektrums erstreckt.

(d) Für das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe wird entweder FeKX-Strahlung oder MgKX-Strahlung verwendet.

(4) Messung des Gehalts an GaO und Fe₂(U in magnesiahaltigem Klinker

(a) Die zu verwendende radioaktive Quelle ist entweder eine elektromagnetische Strahlungsquelle (i) oder (ii), die nachstehend erläutert Λ-rerden:

(i) ist eine radioaktive Quelle (z.B. ⁵H+N1 oder⁵H+Zr), die in der Lage ist, eine elektromagnetische Strahlung auszusenden, die oberhalb und so dicht wie möglich bei der kritischen Absorptionsenergie der K-Reihe für Fe von 7,Hl KeV liegt.

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Sn

(ii) ist eine radioaktive quelle (z.B. ^11+Ti), die in der Lage ΐκί, eine elektromagnetische strahlung auszusenden, die oberhalb und so dicht v.ie möglich bei der kritischen Absorptionsenergie der K-Reine für Ca von 4,038 KeV liegt, in Verbindung mit einer vetteren radioaktiven quelle (z.B. ''li+Ni oder H+Zr), die eine elektromagnetische Strahlung aussendet, die oberhalb und so dicht wie möglich bei der kritischen Absorptionsenergie der ir-Reihe für Fe von 7,111 ICeV liegt.

(b) Die zu verwendenden Verhältniszähler sind nicht mit Filter versehen.

(o) i'ie kanüle der Analysatoren für die Imjulshöhe werden auf folgende Ber(-icho eingestellt: Für CaO auf einen Bereich, dei¹ sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen hand des OaKX-^t3 ahlenspektrums erstreckt und für Fe₀O.. nuf einen lsereioh, der sich im wesentlichen vom unteren Land zuBi oberen Rand des FeKX-Strahleuspektruins erstreckt.

(d) Für das Spektrum zur Stabilisierung der Iinpulshöhe wird entweder die CaKX-Strah1ung, die FeKX-Strahlung oder die die MgKI-Strahlung verwendet.

7. Messung des Üchwefelgehalts in Petroleum (a) Uie zu verwendende radioaktive Quelle ist entweder eine

-Strahlungsquelle^.B. Γο) oder eine elektromagnetische Strahlungsquelle (eine radioaktive Quelle wie z«B. ^H+Ti, die in der J nge ist, eine elektromagnetische Strahlung auszusenden, die oberhalb und so dicht wie möglich bei der kritischen Absorptionsenergie der K-Iteihe für S von 2,5 KeV u«r.t). ?098 13/1297 ' BAD 0R_1SINAL

(Ti) ] i< zu verv< iidiinidt Vorhin tnirzähler Hi ml nicht mil Filter Y(¹I f (lit I» ,

U) ijci KiMi;. I <■'.' .Minlvfiat οι {·· iiir (Ii" "JnpulfihölH vird aui einen I'e.reieli eiii(,e: i el 31 , der inch vom unteren Kami κιιιη oberen liand do κ fil· \-iitr{ili]piif·polctrums (-.r:;t reckt .

(d) Tin ('as; iapeittrum ?ui iJtalii J iKien?n(- der Jiiij>u J ,sliölie ν. i ν (I

Milv(d(i] ;jl. ·'s ( ϊ ahluiii' ddei" dio K; · .vl-i alilinif^r cinr: Lleiiients Kic ,·,!·« IA V(!i\/end<it , dfiJ an d< ι j ϊ ohciiliali erunj uiks an ^ (i( ί Ii oliCJi- /Ji(UeIIi j ende- be. Ief1 i/Ί iui und dnc; in i-einei

Λ\α\ι\; iiX\\ niiif] j cln<1 niodij^ und mop j j oli:; < veil cnlJeint von dem Uu(.(-i suc-hunf.fjolj.jelft ici.

8. Messung (ie» (»ehalte an Hr.0, ΛΙ,,υ^, Si()_flJL _^>^-_2_ ^JaO und J^:f,,i>η L· ijs β ι ικ eh 1 a c; 1< e .

(l) leim mir V( rhä J tnif-?{ihlei oline i'iliri vei'vendet ιακίιπι: lJi( i.it voirpndf-nde rndionlil ivc quelle ir;1 en1i.e(i(?j eine I oinbinati OJi einer ty - ü\ raliluiif isquel Ic und einer eJelitro»

^ . mafnet iHeltf.n .Strahlungsquelle, oder eine radioaktive quelle,

di(· in dei I-a(^re. i.«-:i , s(n;olil <x -f>i jahlurif al« auc-h elellro- Uint ικ ti ί (Ik ..;:*( ι ahlun; am.hurenden .

Die I.anitJe der Analj sat oren iiii die Imjul sshöiie ve.rdcn aui iolgende Beieielio oinpeiätelli: Für I If. O aul einen Hcieieh, der .sich im wesentlichen vom unteren Hand zu einem etwas oberhalb der Hi tie des Solieitel» des HiLX-St ralileiiH peki ι ums liegenden lunhi erstreckt; für .Al₀O. aui einen Doreioh von im wesentlichen einem etwas oberhalb des unteien Karnies lie.fienden l'unlit zu einem etwa» unterhalb des oberen Ii and ce

liegenden i'unUt des AlKX-StrahlenspeUt rmiiH; fur LuO₁, aui 7 0 9 8 13/1297

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einen Bereich von einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden l'unkt zu einem etwas unterhalb des oberen Bandes des SiKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt; für SO,, auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas unterhalb der Mitte des Scheitels liegenden Punkt zum oberen Eand des SIiX-S tr ah 1 ens pekt rums ; für CaO auf einen Bereich von im wesentlichen dem unteren Rand zum oberen Rand des CaKX-Strahlenspektrums; und für FeJÜ- auf einen Bereich von im wesentlichen dem unteren Rand zum oberen Rand des FeivX-Strahlenspektrums.

Für das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe wird entweder CaKX-Strahlung oder SiKX-Strahlung verwendet.

(2) Wenn ein filterloser Verhältniszähler und ein Verhältniszähler, der mit Mg-Filter versehen ist, verwendet werden; Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung fes Annlysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt dasselbe wie bei 8. (l), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für MgO auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zu einem etwas unterhalb des oberen Randes liegenden Punkt des MgKX-Strahlenspektrums des mit dem Mg-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(3) Wenn ein filterloser Verhältniszähler, ein mit Mg-Filter und ein mit Al-Filter versehener Verhältniszähler zusammen verwendet werden, oder wenn ein filterloser Verhiiltniszähler zusammen mit einem Verhältniszähler verwendet wird, der jeweils mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aue Mg und Al versehen werden kann:

^209813/1297 «DORMIN«.

Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des AHalysators für die Irapulshöhe und das zu verwendende Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei 8. (2), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Al₀O- auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zu einem etwas unterhalb des oberen Randes liegenden Punkt des AlKX -Strahl ens ρ ektruins des mit dem Al-Filter versehenen VerhältnisZählers erstreckt.

(k) Wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit Verhältniszählern verwendet wird, die mit Filtern aus Mg, Al bzw. Si versehen sind, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit einem Verhältniszähler benutzt wird, der mit einem von, gegeneinander austauschbaren Filtern aus Mg, Al und Si versehen werden kann: Dabei gilt für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstel-" lung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe dasselbe wie bei 8. (3), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für SiOg auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen von einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden Punkt zum oberen Rand des SiKX-Strahlenspektrums erstreckt.

(5) Wenn ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit Verhältnis zählern benutzt wird, die mit Filtern aus Mg, Al, Si bzw. S-versehen sind, oder bei Verwendung eines filterlosen Verhältniszählers in Verbindung mit einem Verhältniszähler,

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der jfiVf-i 1 .'■: mit einem von kogeneinanuer austauschbaren Filtern nun H&, Al, Si b*:w*» S vorgehen wei'deii kann: Für die radioaktive quelle, die Kanaloinstei lung der Aiialysutdri-= IUr die Impuls hohe und das .Spektrum zur Staldli-sieruiui der Impulshö'he gilt dasselbe wie bei 8« (¹I)₁₁ auiier daß der kanal des Analysators für die Impulshöhe für b()_(} auf einen Bereich eingestellt wird, der si oh im wesciitH-ohen von feinem etwas oberhalb des unteren Randes ..1Iof.enden lunlct zum oberen Rand des SIQi-S tr ah 1 eiispelttrums dea mit dem S-FiIter versehenen Verhältniszählers erstreckte

-* · Analyse von Ht

(i) Hessurip deo Gehalts an G_f Si, P, S und Mn in Stahl (wnrragevalzt)

(a) VfCUU nur Verhältniszähler ohne Filter verwendet werden; Die zu verwendende radioaktive quelle isi entweder eine kombination einer^-Strahlungsquelle und einer elektromagnetischen -Jtrahlungsquelle oder eine radioaktive quelle, die in der Lage ist, sowohl >'-Strahlung als auch elthtro™ magnetische Strahlung auszusenden« Die Kanäle der Analysatorenfür die Impulshöhe werden auf folgende Bereiche eingestellt: Für C auf einen Bereich von im v; es entlichen dem unteren Rand zum oberen Hand des CKX-Strohlenspektrums; für Si auf einen Bereich von im wesent 1 ichen dem unteren Rand zu einem etifas unterhalb des oberen Randes des SiKX-Strahlenspektrums liegenden Tunkt; für Γ auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden lunkt zu einem etwas

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unterhalb des oberen Bandes des PKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt; für S auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden. Punkt zum oberen Rand des SKX-S t rahl ens pek tr ums; und-für Mn. aiii einen Bereich von imwsentlichen dem unteren Rand zu einem etwas unterhalb des oberen Randes des MnKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt.

Für das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe wird X FeKX-Strahlung genommen.

(b) Wenn ein filterloser Verhältniszähler und ein mit einem Si-Filter versehener Verhältniszähler verwendet werden: Für die radioaktive Quelle, die Kanal einstellung des Analysators für die Impulshöhe und das zu verwendende Spektrum für die Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei 9.«. (i) (a), außer daß der Kanal des ^nalysators für die Impulshöhe für Si auf einen Bereich eingestellt i&rd, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zu einem etwas unterhalb des oberen Randes des SiKX-Stralilanspektrums erstreckt»

(c) Wenn ein Verhältniszähler ohne Filter, ein mit Si-Filter versehener und ein mit p-Filter versehener Verhältniszäh-1er verwendet werden, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler zusfenmen mit einem Verhältniszähler benutzt wird, der jeweils mit einem von-gegeneinander auswechselbaren Filtern aus Si und P ausgestattet werden kann:

Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das Spektrum zur

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Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie hei 9.

(1) (b), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für P auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Band zum oberen Band des FKK-Strahl enpsfcetrums des mit dem P-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

(2) Messung des Gehalts an C, Si, P₄ S, Cr und Mn in Stahl (hitzebeständig)

(a) Wenn nur Verhältniszähler ohne filter verwendet werden: W Die zu verwendende radioaktive Quelle sowie die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe sind ebenso wie; bei 9. (l) (a), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Cr auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zu einem etwas unterhalb des oberen Randes des CrKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt erstreckt.

Für das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe wird SiKX-Strahlung, CrKX-Strahlung oder FeKX-Strahlung verwen- λ det.

(b) Wenn ein filterloser Verhältniszähler und ein mit einem Si-Filter versehener Verhältniszähler verwendet werden: Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe sowie für das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe gilt dasselbe wie bei 9.

(2) (a), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Si auf einen Bereich eingestellt wird, der eich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen Rand des SiKX-Strahlenspektruma des mit dem Si-Filter ausgestatteten

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Verhältniszählers erstreckt.

(c) Wenn ein filterloser Verhältnis zähler, ein mit Si-Filter und ein mit Cr-Filter -versehener Verhältniszähler verwendet werden, oder wenn ein filterloser Verhältniszähler in Verbindung mit einem Verhältniszähler verwendet wird, der jeweils mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus Si und Cr versehen werden kann: Dabei gilt für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des Analysators für die Impulshöhe und das zu verwendende Spektrum zur Stabilisierung der Inpulshöhe das gleiche wie bei 9· (2) (b), außer daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Cr auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zu einem etwas unterhalb des oberen Randes liegenden Punkt des CrKX-Strahlenspektrums des mit dem Cr-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

10. Analyse von Roheisen

(i) Messung des Gehalts an C, Si, P, S, Mn und Cu in Roheisen (für Stahlherstellung und zum Gießen)

(a) Wenn nur filterlose Verhältniszähler verwendet werden: Die zu verwendende radioaktive Quelle ist entweder eine Kombination einer^-Strahlungsquelle und einer elektromagnetischen Strahlungsquelle oder eine radioaktive Quelle , die in der Lage ist, sowohl /-Strahlung als auch elektromagnetische Strahlung auszusenden.

Die Kanäle der Analysatoren für die Impulshöhe werden auf folgende Bereiche eingestellt: Für C auf einen Bereich 2 09813/1297

von im wesentlichen dem unteren Rand zum oberen Rand des CKX-Strahlenspektrums; für Si auf einen Bereich von im wesentlichen dem unteren Rand zu einem etwas oberhalb des oberen Randes des SiKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt; für V auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas oberhalb des unteren Bandes liegenden Punkt zu einem etwas unterhalb des oberen Randes des FKX-Strahlenspektrums liegenden Punkt; für S auf einen Bereich von im wesentlichen einem etwas oberhalb des unteren Randes liegenden Punkt zum oberen Rand des SKX-Strahlenspektrums; für Mn auf einen Bereich von im wesentlichen dem unteren Rand zu einem etwas oberhalb der Mitte des Scheitels des MnKX-Strahlenspektrums liegenden Funkt; und für Gu auf einen Bereich, der sich im wesentlichen von der Mitte des Spektrums zum oberen Rand des CuKX-Strahlenspektrums erstreckt.

Für das Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe wird entweder SiKX-Strahlung oder FeKX-Strahlung verwendet.

(b) Wenn ein filterloser Verhältniszähler und ein mit Si-FiI-ter versehener Verhältniszähler benutzt werden: Für die radioaktive Quelle, die Kanaleinstellung des *nalysators für die Impulshöhe sowie für das zu verwendende Spektrum zur Stabilisierung der Impulshöhe gilt das gleiche wie bei 10. (l) (a), nur daß der Kanal des Analysators für die Impulshöhe für Si auf einen Bereich eingestellt wird, der sich im wesentlichen vom unteren Rand zum oberen. Rand des SiKX-Strahlenspektrums d«s mit dem Si-Filter versehenen Verhältniszählers erstreckt.

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Claims (1)

1. "■— —T673174

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   Patentansprüche

   1. Probenanalysator, gekennzeichnet durch eine Probenhalterung (13), die in einem abgeschlossenen Meßgehäuse (i)

   gehalten wird, eine Lagerung (i2) für eine radioaktive Quelle, die gegenüber einer Probe (4) angebracht ist, durch ein auf dieser Lagerung für die radioaktive Quelle angeordnetes radioaktives Isotop, (5, 6), das eine radioaktive Quelle zur Erregung der Probe (4) darstellt, durch einen mit einem Filter (8) versehenen Verhältniszähler (9) und einen weiteren, nicht mit einem Filter versehenen Verhältniszähler (7)» die beide derart an dem Meßgehäuse (l) angebracht sind, daß ihre jeweiligen Fenster (iO, Ii) der Probe (4) zugewandt sind, wobei an jedem dieser Verhältniszähler (7, 9) ein Vorverstärker (27, 28), ein linearer Verstärker (29, 30), Analysatoren für die Impulshöhe (31 - 35) und Maßstabrechner (36 - 40) auf übliche Weise angebracht sind, wobei die Zählwerte der Maßstabrechner der Verhältniszähler dem jeweiligen Gehalt an Bestandteilen der Probe entsprechen.

   2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Raum (52) zum Auswechseln der Proben und der Meßraum (62) durch die Probenhalterung (68) und durch abdichtendes Material (54) gegeneinander abgeschlossen sind, so daß die Lage der Probenhalterung (68) verschoben werden kann, und daß die Probenhalterung (68) in jeder ihrer beiden Lagen mindestens einen Paßrahmen für die Probe aufweist, und zwar sowohl im Raum (52) zum Auswechseln der Proben als auch im Meßraum (62).

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   - ssr - '

   3. Gerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Probenhalterung (68) mit Hilfe eines Griffs (69) drehbar ist.

   4. Gerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Probenhalterung (21 bzw, 21·) mit Hilfe eines Schiebers (14) fortbewegt werden kann.

   5. Gerät nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen zusätzlichen. Kreis (43, 44) zur Stabilisierung der Impulshöhe, der auf der Basis des Scheitels eines Spektrums, welcher im Zählbetrag bein Ausgang der Verhältniszähler (7, 9) dem höchsten Wert entspricht und symmetrisch ist, den Kanal des Analysators für die Impulshöhe nach links und nach rechts in Schwingungen versetzt, um somit die an den Verhältniszählern (7» 9) liegende Hochspannung (45, 46) zu verändern, bis das Verhältnis oder die Differenz der linken und rechten Zählwerte auf Null gebracht ist.

   6. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß nur

   der mit einem Filter (8) versehene Verhältniszähler (9) derart * fest an dem Meßgehäuse (l) angebracht ist, daß sein Fenster (ll) gegenüber der Probe (4) gelagert ist.

   7· Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die radioaktive Quelle zur Erregung der Probe eine auf der Lagerung (12) für die radioaktive Quelle angeordnete -Strahlungsquelle (5)

   8. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die auf der Lagerung (12) angeordnete radioaktive Quelle zur Erregung der Probe (4) «ine radioaktive Quelle (6) darstellt, die

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   in der Hauptsache elektromagnetische Strahlung aussendet.

   9. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die radioaktive Quelle zur Erregung der Probe aus einer Kombination einer^-Strahlungsquelle (5) und einer in der Hauptsache elektromagnetische Strahlung aussendenden radioaktiven quelle (6)
   besteht, welche beide auf der Lagerung (12) für die radioaktive Quelle angeordnet sind.

   10. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die auf der Lagerung (12) angeordnete radioaktive Quelle zur Erregung der Probe eine in der Hauptsache c/-Strahlung und elektromagnetische Strahlung aussendende radioaktive Quelle ist.

   11. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die radioaktive Quelle zur Erregung der Probe aus einer Kombination einer^-strahlungsquelle und einer sowohl α-Strahlung als auch
   elektromagnetische Strahlung aussendenden radioaktiven Quelle
   besteht, welche beide auf der Lagerung (12) für die radioaktive Quelle angeordnet sind.

   12. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die radioaktive Quelle zur Erregung der Probe aus einer Kombination einer elektromagnetischen Strahlungsquelle und einer sowohl

   θ' -Strahlung als auch elektromagnetische Strahlung aussendenden radioaktiven Quelle besteht, die beide auf der Lagerung (12)
   für die radioaktive Quelle angeordnet sind.

   13. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die radioaktive Quelle zur Erregung der Probe aus einer Kombination

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   einer -S tr alii uns quelle, einer elektromagnetischen Strahlungsquelle und einer radioaktiven Quelle besteht, die sowohl -Strahlung als auch elektromagnetische Strahlung aussendet, wobei alle diese quellen auf der Lagerung (12) für die radioaktive Quelle ang e ο rdne t s ind.

   Ik. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die -Strahlungsquelle (5) einen Schutzüberzug aufweist, dessen Massendicke nicht mehr als 3,5 mg/em beträgt.

   15· Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Irobe aus Zement-Rohmaterialien besteht, die auf ihren Gehalt an Al₀O-, SiO₀, CaO und Pe₀O, untersucht werden.

   16. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Probe aus Zement-Rohmaterialien besteht, die auf ihren Gehalt an Caü untersucht werden.

   17. Gerät nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß magnesiahaltiger Klinker als Probe verwendet wird, der auf seinen Gehalt an Fe₀O- untersucht wird.

   18. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Irobe aus magnesiahaltigern Klinker besteht, der ent seinen Gehalt an CaO und Fe_o0_ untersucht wird.

   19. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Prob· aus magnes iahalt ig em Klinker besteht, der auf seinen. Gehalt an MgO, Al₂O₃, SiO₂, P, S, CaO und Pe₂O₃ untersucht wird.

   209813/1297 BADORIGtNAL

   20. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Petroleum als Probe verwendet wird, das auf seinen Gehalt an Schwefel untersucht wird.

   21. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Probe Eisensahlacke verwendet wird, die auf ihren Gehalt an MgO, Al₂O-, SiO₂, SO-, CaO und Fe₂O- untersucht wird.

   22. Gerät nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Probe aus warmgewalztem Stahl besteht, der auf seinen Gehalt an C, Si, P, S,und Mn untersucht wird.

   23.Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß hiteebeständiger Stahl als Probe verwendet wird, der auf seinen Gehalt an G, Si, P, S, Cr und Mn untersucht wird.

   24. Gerät nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Probe aus Roheisen besteht, das auf seinen Gehalt an C, Si, P, S, Mn und Cu untersucht wird.

   25. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß nur filterlose Verhältniszähler für die Analyse von anorganischen Oxyden oder Elementen in der Probe verwendet werden.

   26. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein filterloser Verhältniszähler und ein Verhälthiszähler, der mit einem Filter aus einem einzelnen Element versehen ist, für die Analyse von anorganischen Oxyden oder Elementen in der Probe verwendet werden.

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   27· Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß für die Analyse von anorganischen Oxyden oder Elementen in der Probe ein filterloser Verhältniszähler zusammen mit einem Verhältniszähler verwendet wird, welcher jeweils mit einem von gegeneinander austauschbaren Filtern aus einem einzelnen Element versehen werden kann.

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