DE1598401C3 - Gerät zur Anzeige der Konzentration eines Anteils eines Gasgemisches, beruhend auf der Eigenschwingungsänderung eines piezoelektrischen Kristalls - Google Patents

Gerät zur Anzeige der Konzentration eines Anteils eines Gasgemisches, beruhend auf der Eigenschwingungsänderung eines piezoelektrischen Kristalls

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DE1598401C3
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Description

35
Die Erfindung betrifft ein Gerät zur Anzeige der Konzentration eines Anteils eines Gasgemisches, beruhend auf dem Nachweis und/oder der Messung der von dem Anteil des Gasgemisches beeinflußten Eigenschwingungsänderung eines piezoelektrischen Kristalls, wobei eine mit einer Anzeigeeinrichtung versehene Hochfrequenzoszillatorschaltung vorgesehen ist, deren frequenzbestimmendes Element ein piezoelektrischer Kristall ist, der in einem mit einer Zuführ- und einer Abführleitung versehenen Gehäuse eingeschlossen und mit einer an seiner Oberfläche angebrachten, mit dem Anteil des Analysengemisches in physikalische oder chemische Wechselwirkung tretenden Reagenzschicht versehen ist, nach Patent 089.
Die Ausnutzung piezoelektrischer Erscheinungen zur selektiven Analyse von Gasgemischen ist an sich bekannt und wird insbesondere in dem Hauptpatent näher beschrieben. Das Hauptpatent betrifft ein Gerät bzw. einen Analysator und ein Verfahren zur Verwendung desselben für die Bestimmung von Wasser in Brennstoff, Wasser und/oder H, bei der Beschickung von Krafterzeugern, Kohlendfoxyd bei der Abgas-, Rauchgas- und Kohlenstoffanalyse sowie SO2 und SO3 bei der Schwefelanalyse. Der in dem Hauptpatent beschriebene Analysator ist zwar in den aufgezählten Fällen voll zur Anwendung geeignet, . unterliegt jedoch bestimmten Beschränkungen, welche seine Anwendbarkeit begrenzen.
So lag im besonderen der vorliegenden Erfindung die Aufgabe zugrunde, einen Analysator zu schaffen, bei welchem eine Temperaturregelung des piezoelektrischen Stoffes auf einfache Weise möglich ist. Darüber hinaus soll er die Verwendung dieses Stoffes bei Temperaturen oberhalb der Umgebungstemperatur gestatten.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß der piezoelektrische Kristall mit einem angeformten elektrischen Heizelement versehen ist. Vorzugsweise ist dabei das angeformte elektrische Heizelement auf mindestens eine Fläche eines Quarzkristalls aufgebracht. Es können jedoch auch zwei entgegengesetzte Flächen des Kristalls je ein angeformtes Heizelement tragen. Bei einer bevorzugten Ausführungsform besteht das Heizelement aus Gold.
Durch diese erfindungsgemäßen Merkmale werden für den Analysator eine Anzahl neuer und praktischer Anwendungsgebiete erschlossen. Beispielsweise können piezoelektrische Geräte gemäß der vorliegenden Erfindung mit angeformtem Heizelement als Verbrennungsdetektoren, Absorptions-Desorptions-Nachweisgeräte und als Analysatoren von Gasströmen, f.-z. 3. als Wasseranalysator, verwendet werden.
Im Rahmen der Erfindung wurde festgestellt, daß piezoelektrische Kristalle mit einem angeformten Heizelement und einer Schicht von der im Hauptpatent beschriebenen Art, die für verschiedene Veränderungen der Umgebung empfindlich ist, verschiedene Schwingungsfrequenzen und -Amplituden bei Veränderungen der Umgebung, für welche die Schicht empfindlich ist oder anspricht, ergeben.
Für Geräte gemäß der vorliegenden Erfindung besteht ferner eine erweiterte Verwendbarkeit gegenüber den bekannten Geräten, da sie als Fernanzeiger verwendet werden können. Die erfindungsgemäßen Geräte senden Hochfrequenzsignale aus, welche von einem einfachen Rundfunkempfänger aufgenommen werden können.
Die zu verwendenden piezoelektrischen Kristalle umfassen solche, die, wenn sie einem mechanischen Druck ausgesetzt werden, einen elektrischen Strom erzeugen, während, wenn sie einem elektrischen Strom ausgesetzt werden, mechanisch verformt werden. Es sind viele derartige Kristalle bekannt, wie (, Quarz, Turmalin, Rochellesalze, keramische Massen aus Bariumtitanat, Bleimetaniobate, Bleizirkonat-Bleititanate u. dgl. Quarz ist der am häufigsten verwendete Kristall, jedoch stellt die neuere Entwicklung auf dem Gebiet der keramischen Massen auf Basis von Bariumtitanat einen hohen Anreiz zur Verwendung als piezoelektrische Kristalle dar. Die zu verwendenden piezoelektrischen Kristalle können eine beliebige geeignete geometrische Form haben. Im allgemeinen sind diese Stoffe im wesentlichen oval oder rund, jedoch können auch andere Querschnittsformen, wie Sechsecke, Quadrate und Achtecke verwendet werden.
Die besondere Frequenz, mit welcher der piezoelektrische Kristall schwingt, hängt von mehreren Faktoren ab, z.B. von der Dicke des Kristalls und, im Falle von Einkristallen, von der besonderen · Achse, längs welcher er geschnitten wurde.
Das erfindungsgemäß verwendete angeformte Heizelement ist ein elektrisches Widerstandsheizelement, welches aus einem Material besteht, das einen elektrischen Strom leitet, und infolge des Widerstandes gegen den Stromfluß Wärme erzeugt. Für das Heizelement geeignete elektrisch leitende Materialien sind
3 4
beispielsweise Metalle, ζ. B. Gold, Silber, Kupfer, welch letztere für das Anschalten an einen nicht
Platin, Nickel und Aluminium. gezeigten elektrischen Stromkreis dienen, um einen
Das Heizelement kann auf die Oberfläche des ständigen Stromfluß durch das elektrisch leitende piezoelektrischen Kristalls z.B. durch Aufdampfen Material 2 zu erhalten. Die Zuleitung 14 bildet die unter Vakuum oder durch Ausfällen aus einer Lösung 5 elektrische Verbindung zwischen der Hochfrequenzaufgebracht werden. Die Oberfläche des piezoelek- elektrode an der Rückseite des Kristalls 1 und dem trischen Kristalls kann entweder zusammenhängend Steckstift 16. Die Stifte 15, 16 und 17 werden durch oder mit Unterbrechungen mit dem Heizelement einen Träger 18 aus starrem Isoliermaterial in ihrer bedeckt werden, wie in den Zeichnungen dargestellt. Stellung gehalten. Die Kombination aus dem Heiz-Ein unterbrochener Überzug läßt sich beispielsweise io element 2, den Zuleitungen 12 und 13 und den dadurch erzielen, daß das gewünschte elektrisch Stiften 15 und 17 wird hier als »angeformtes Heizleitende Material und ein anderes Material aufge- element« bezeichnet.
bracht werden, welch letzteres später von der Ober- In F i g. 2 ist die umgekehrte d. h. die Rückseite
fläche ausgelaugt werden kann, oder mittels Vakuum- des Kristalls 1 von F i g. 1 gezeigt, die eine Schicht 19
bedampfung durch eine Abdeckvorrichtung. 15 aus elektrisch leitendem Material trägt. Die Schicht
Im allgemeinen wird das angeformte Heizelement 19 ist durch die Zuleitung 14 und durch den Stift 16
nur auf die eine Seite des piezoelektrischen Kristalls in einen nicht gezeigten Stromkreis geschaltet. Die
aufgebracht. Piezoelektrische Kristalle mit angeform- Kombination aus dem elektrisch leitenden Material
ten Heizelementen auf mehr als einer Oberfläche 19, der Zuleitung 14 und des Stiftes 16 wird hier als
haben jedoch eine besondere Anwendungsmöglich- 20 »Elektrode« bezeichnet. Die Elemente 12, 13, 15, 17
keit. und 18 sind wie vorangehend in Verbindung mit
Außer dem angeformten Heizelement tragen die Fig. 1 beschrieben. Wie ersichtlich, dient bei der piezoelektrischen Kristalle im allgemeinen eine geeig- in F i g. 1 und 2 dargestellten Ausführungsform das nete Metallelektrode. Der piezoelektrische Kristall angeformte Heizelement auch als Hochfrequenzist mit zwei geeigneten Elektroden, z. B. Hoch- 25 elektrode.
frequenzelektroden, versehen, wobei eine dieser In F i g. 3 ist ein piezoelektrischer Kristall 20 mit Hochfrequenzelektroden auch als das angeformte einer im wesentlichen zusammenhängenden Schicht Heizelement dienen kann. Es können auch Ausfüh- 21 aus einem elektrisch leitenden Material dargestellt, rungsformen vorgesehen werden, bei welchen die Die Schicht 21 ist in einen nicht gezeigten elektrischen Hochfrequenzelektroden sich nicht in elektrischem 30 Stromkreis mit Hilfe von Zuleitungen 22 und 24 und Kontakt mit dem piezoelektrischen Kristall befinden. Stiften 25 und 27 geschaltet. Ebenso wie in F i g. 2 Bei einer solchen Ausführungsform wirkt das ange- ist die Schicht auf der Rückseite des piezoelektrischen formte Heizelement nicht als Hochfrequenzelektrode. Kristalls 20 in einen elektrischen Stromkreis mit Hilfe Die Ausbildung und Anordnung der Elektrode bzw. einer Zuleitung 23 und eines Stiftes 26 geschaltet. Elektroden sowie die Merkmale der zugehörigen 35 Die Stifte 25, 26 und 27 werden durch einen starren Schaltung beeinflussen ebenfalls die besondere Fre- Träger 28 in einer festen Stellung gehalten. Ebenso quenz, mit welcher der piezoelektrische Kristall wie in Fig. 1 und 2 wirkt das angeformte Heizschwingt, element auch hier als Elektrode.
Zum besseren Verständnis der Erfindung wird In Fig. 4 ist ein sechseckiger piezoelektrischer
diese nachfolgend in Verbindung mit den Zeichnun- 40 Kristall 30 dargestellt, der ein elektrisch leitendes
gen näher beschrieben, und zwar zeigt Material 31 trägt, welches in einen nicht gezeigten
F i g. 1 eine schaubildliche Ansicht eines piezo- elektrischen Stromkreis mittels Zuleitungen 32 und 34
elektrischen Quarzkristalls mit einem angeformten und Steckstiften 35 und 37 geschaltet ist. Das nicht
Heizelement, gezeigte elektrisch leitende Material auf der Rück-
F i g. 2 eine schaubildliche Ansicht der Rückseite 45 seite des piezoelektrischen Kristalls 30 ist in einen
des in F i g. 1 dargestellten Kristalls, elektrischen Stromkreis mittels einer Zuleitung 33
F i g. 3 eine schaubildliche Ansicht eines piezo- und eines Stiftes 36 geschaltet. Die Stifte 35, 36 und
elektrischen Kristalls mit einem zusammenhängenden 37 werden durch einen Träger 38 in einer starren
Überzug bzw. einer zusammenhängenden Schicht, Stellung gehalten,
die als angeformtes Heizelement dient, 5° In Fig. 5 ist eine elektronische Schaltung gezeigt,
F i g. 4 eine schaubildliche Ansicht eines piezo- die gleichzeitig zum Heizen des angeformten Heizelektrischen Kristalls von sechseckiger Form, elements des piezoelektrischen Kristalls und zur
F i g. 5 eine beispielsweise elektronische Schaltung, Beobachtung von Schwingungsveränderungen ver-
die für die vorliegenden Zwecke verwendet werden wendet werden kann. Bei den nachfolgend beschrie-
kann, 55 benen Beispielen wurde diese Schaltung verwendet,
F i g. 6 eine graphische Darstellung, bei der die obwohl jede herkömmliche Kristalloszillatorschaltung
Frequenz über der prozentualen relativen Feuchtig- für die vorliegenden Zwecke geeignet ist, voraus-
keit eines Gasstromes aufgetragen ist, in welchem gesetzt, daß angemessene Mittel zur Isolierung des
ein Gerät als Wasseranalysator verwendet wird. Hochfrequenzkreises vom Heizkreis vorgesehen sind.
In F i g. 1 ist ein piezoelektrischer Quarzkristall 1 60 Die in F i g. 5 dargestellte Schaltung arbeitet mit der
dargestellt, bei dem ein elektrisch leitendes Material einen Hochfrequenzelektrode auf dem Erdpotential,
.oder Heizelement 2 auf einen Teil seiner einen Fläche Der Heizkreis kann daher mit dem Erdpotential
(die zweckmäßig als die Vorderseite bezeichnet wird) betrieben werden, was experimentell sehr bequem ist.
so aufgebracht ist, daß Bereiche 3 auch auf dieser Der Heizstromkreis ist im oberen Teil der F i g. 5
Vorderseite nicht mit dem elektrisch leitenden Mate- 65 dargestellt. Eine Batterie oder eine andere geeignete
rial 2 beschichtet sind. Elektrische Zuleitungen 12 Stromquelle bewirkt einen Stromfluß durch das ange-
und 13 sind mit dem elektrisch leitenden Material 2 formte Heizelement und die dazugehörigen Teile.
des Kristalls 1 sowie mit Stiften 17 und 15 verbunden, Die Spannung über das angeformte Heizelement am
piezoelektrischen Kristall (ζ. Β. Quarzkristall) und die Stromstärke werden durch ein Voltmeter V und ein Amperemeter A angezeigt. R1 ist ein Nebenschlußwiderstand zur Einstellung des Bereichs des Amperemeters A. R% ist ein Regelwiderstand, der zur Regelung des Stromes dient. Cx ist ein Frequenzfilter; um den Heizstromkreis auf Erdpotential zu halten. In den folgenden Beispielen werden im Heizstromkreis geeignete Veränderungen vorgenommen, die für den Fachmann aus den Beispielen erkennbar sind;
Der untere Teil der F i g. 5 ist ein Kondensator mit abgestimmtem Anodenkreis zur Erregung der Hochfrequenzelektroden des piezoelektrischen Kristalls. Wenn diese Hochfrequenzelektfoden zur Erde kurzgeschlossen werden, erhält man einen h'erkömmliehen Oszillator mit abgestimmtem Anodenkreis der frei mit einer Frequenz schwingt; welche hauptsächlich durch die Werte des Oszillatorschwingkreises G5 und L1 bestimmt Wird. Nähere Beschreibungen von Oszillatoren mit abgestimmtem Anodenkreis sind in den meisten Rädio-Händbüchern und elektronischen Lehrbüchern enthalten, so daß sich eine solche Beschreibung hier erübrigt; Infolge der Anordnung des piezoelektrischen Kristalls in der Erdrückleitüng des Gitterrückkopplungskreises schwingt der Oszillator auf die Frequenz des piezoelektrischen Kristalls ein, wie nachfolgend beschrieben wird;
Die zum Gitter rückführende Rüekkopplürigsleitung enthält den piezoelektrischen Kristall, den Abstimmkreis L» von niedriger Impedanz und die Widerstände R5 und R^ in Reihenschaltung.' Die Rückkopplung'ssparinung zum Gitter ist maximal; wenn der Strom durch R5 und R^ maximal ist: Dies ist der Fäll, wenn die Impedanz des piezoelektrischen Kristalls äiri niedrigsten ist. Diese Bedingung wird nahe der Serienresonanz des piezoelektrischen Kristalls erhalten. Eine Seriehresönanz kann beim Einstellen des Wertes von L1 erkannt und auf verschiedene Weise erzielt werden; Beispielsweise zeigt eine Hochfrequeiizsonde, die an dem piezoeiektrisehen Kristall angebracht ist; einen Mindestweft der Hochfrequenzsparihuhg, der Gitterström zeigt ein Maximum, und das Hochfreqüehzaüsgärigssigrial zeigt ebenfalls ein Maximum. In Fig; 5 ist iiür das Gifterstrom-Meßverfahren dargestellt. Bei Serienresoriäriz ist die Impedanz des piezoelektrischen Kristalls im wesentlichen gleich derjenigen eines niedriger! Widerstandes mit einem Wert von mehreren Ohrri. Wenn der piezoelektrische Kristall durch einen Widerstand vom gleichen Wert ersetzt wird, bleibt die Schaltung unbeeinflußt. Diese Sübstitüierurig würde vorgenommen, um die Werte bei einem dynamischen VerlUstwiderständ zu erhalten; wie in deni folgenden Beispiel II angegeben. Die Belastung bzw': der Tfeib'grpegel des piezoelektrischen Kristalls wird auf einen sicheren Pegel mittels eines Potentiometers i?4 eirigestellf, welcher die Gleiehspännüngsspeisurig der Röhre regelt. Die Funktion der änderen Schaltungselemente ergibt sich aus Fig. 5-.
Die folgenden Beispiele sollen zur näheren Erläü- So terürig dienen:
Beispiel I
Ein Quarzkristall mit eiheiri ängeföfmten Heizeleirierit von der in Verbindung riiit F i g. 1 Beschrieberien Art wurde hefgestellt; indeni zuerst ein Quarzkristall gründlich in Säure und dänri in einem Ultfäschallbad, das Wässer und Ammoniak enthielt, gereinigt. Der Kristall wurde dann in einem fließenden Wasserstrom, dann in Methylalkohol und dann trocknen gelassen. Hierauf wurde der Kristall in einer Lochmaske angeordnet und in einen Vakuumverdampfer gebracht. Der Druck im Verdampfer wurde sodann auf etwa 10~4 Torr herabgesetzt, wobei Gold von einem Wolframfaden durch die Maske auf den Kristall aufgedampft wurde. Der Kristall wurde dann in eine weitere Lochmaske gebracht, um die Metallschicht aus elektrisch leitendem Material auf der Rückseite zu bilden, wie in F i g. 2 gezeigt. Nach dein Aufbringen von Gold auf beiden Seiten oder, wenn gewünscht, jeweils auf der einen Seite, wurden die Elektroden nickelplattiert, indem der metallplattierte Kristall in eine Nickel-Elektroplattierungslösüng getaucht wurde. Hierauf wurden feine Drähte Unmittelbar an die Metallschichten auf jeder Seite des Kristalls als elektrische Zuleitungen aufgelötet; Die Lochmasken können beispielsweise dadurch hergestellt werden, daß Löcher von geeigneter Größe in einem Metallschirm vorgesehen werden und dänri Drähte über das Loch gelötet werden; um das gewünschte Muster zu erzielen. Die Drähte können durch Spännen parallel und zentriert gehalten werden·.
Beispiel Π
Zwei Quarzkristall, d.h. ein Kristall »A« und »B«·, wurden hinsichtlich ihres Ansprechens auf Temperatürveränderungen Untersucht. Es wurden Kristalle von 9 MHz mit einem ^C-Schhitt gewählt, da sie in der Industrie einen Standard zur Messung der Temperatur von Kristallöfen darstellen und von ihnen angegeben wird, daß sie einen Frequenz-Temperaturkoeffizienten von 20 ppm/0 G haben; Die Tabelle I gibt die Werte an, welche bei dem Temperatüreichungsversüch erhalten wurden.
Tabelle I
Eichung von Standard-Kristallen rftit ^IC-Schnitt
Zellentemperatur Kristall A Kristall B
0G kHz kHz
-40 8993,950 8993;530
-33,33 8995,000 8995;594
+ 13,89 8998,540 8998,135
12,22 9002,883 9002,496
23;33 9004,869 9004,511
31,95 9006*619 9006,145
34,44 9006;923 9006,528
53,33 9010;555 9010*135
66;67 9013;343 9012,914
79;44 90l6;150 9015;703
93;33 9019;264 9018,798
121,95 9026,230 9025,712
122,22 9026,400 9025,880
137,78 9030,183 9029,630
152,22 9034,600 9034,023
166,67 9039,050 9038;45Ö
Die geringe Frequenz-Fehlänpassung Von etwa 4ÖÖ Hz kähn leicht auf einen beliebigen gewünschten Wert einschließlich Null dadurch eingestellt werden, daß ein Kondensator in den Stromkreis des einen Kristalls geschaltet wird. Die Kristalle A und B entsprechen einander innerhalb etwa 100 HZ; was etwa 0,5° C entspricht: Die in Tabelle II gegebenen Werte wurden mittels eiries erfindungsgemäßen Gerätes niit
einem Kristall mit einem ^IC-Schnitt und einem im wesentlichen wie in Beispiel I beschrieben, angeformten Heizelement bestimmt.
Tabelle II
Eichung eines Kristalls mit /iC-Schnitt
und einem angeformten Heizelement
Zellen
temperatur
0C		 Frequenz
kHz		 Heizelement
widerstand
Ohm		 Dynamischer
Verlust
widerstand
-Ohm*)
+ 13,89 8992,880 12,45 13,0
24,44 8924,650 12,72 13,2
38,33 8926,843 13,15 14,6
55,56 8930,190 13,80 19,7
70,00 8933,100 14,43 24,0
93.33 8938,060 15,27 27,4
115,00 8943,470 16,15 20,8
126,67 8946,590 16,72 16,6
146,67 8951,850 17,55 12,4
166,67 8957,350 18,38 14,5
Beispiel IV
Bei manchen Anwendungsfällen ist es wichtig, ein Detektorsystem zu haben, dessen Frequenz sich nicht verändert, wenn sich die Temperatur verändert, so daß eine resultierende Frequenzverwerfung voll durch die Absorption-Desorption des gelösten Gases bedingt sein würde. Der /IT-Schnitt Kristall eignet sich für diesen Zweck. Die Tabelle VII zeigt den Frequenzgang eines ^r-Schnitt-lO-MHz-Kristalls mit einem angeformten Heizelement in Abhängigkeit von der Temperatur.
Tabelle IV
Eichung eines /IT-Schnitt-Kristalls
mit angeformtem Heizelement
*) Bestimmt in Serienresonanzschaltung bei einer Mindestspannung von 0,1 V an der Hochfrequenzelektrode des Kristalls (s. F i g. 5).
Die entsprechenden Werte aus den Tabellen I und II sind in der Tabelle ΠΙ zusammengefaßt, in welcher die Temperaturkoeffizienten des Standard-Kristalls mit ^IC-Schnitt und des Kristalls mit v4C-Schnitt und angeformtem Heizelement gezeigt sind.
Tabelle III
Temperaturkoeffizienten des Standard-Kristalls
und des Kristalls mit ängeformtem Heizelement
Temperaturintervall Standard Mit Heizelement
0C ppm/0 C ppm/°C
-40 bis +10 5,9
+ 10 bis +38 6,2 5,8
38 bis 66 6,8 6,7
66 bis 93 7,6 7,7
93 bis 121 8,6 8,6
121 bis 149 9,1 9,2
149 bis 177 10,6 9,7
35
40
45
Diese Daten zeigen, daß das an den Kristall angeformte Heizelement dessen Temperaturfrequenzkurven nicht wesentlich beeinflußt. Gleichzeitig mit der Bestimmung der Temperaturkoeffizienten des Kristalls mit dem angeformten Heizelement wurde der Widerstand des Heizelements zusammen mit -der Bewegungsimpedanz des Kristalls bestimmt. Die geringfügige Veränderung des dynamischen Verlust-Widerstandes des Kristalls zeigt an, daß die Schwingungsfähigkeit durch die Betriebstemperatur nicht ernstlich, beeinträchtigt wird.
Kristall Frequenz
kHz		 Heizelement
temperatur
0C		 9849,200 widerstand
Ohm
22,22 9849,294 37,70
24,44 9849,175 37,85
57,78 9849,139 44,50
114,44 9849,604 47,20
145,00 9850,823 50,85
175,56 54,50
Der Kristall war eine 12,7 · 12,7 · 0,16764 mmylT-Schnitt Quarzscheibe mit einem Nickelheizelement auf der einen Seite, einer 7,94 mm Elektrode auf der anderen Seite, in einem Standard-Messingzellenhalter, 50 ccm/Min. Trockenluftströmung. Serienresonanzfrequenz 9 848 650 Hz dynamischer Verlustwiderstand 27 Ohm bei etwa 24° C. Angepaßter Kristall Fr = 9 851 000 Rr = 12 Ohm, Heizelement 39,8 bei etwa 24° C.
Es läßt sich beobachten, daß ein sehr weiter Temperaturbereich (22 bis 115° C) die Detektorfrequenz nicht wesentlich beeinflußt. Es wurde ein Absorptions-Desorptions-Versuch unter Verwendung von zwei einander angepaßten /IT-Schnitt-Kristallen mit angeformten Heizelementen durchgeführt. Es wurde der gleiche Strom durch beide Detektoren geleitet, um etwa 0,67 Watt in jedem Kristall abzuleiten. Die resultierende Temperatur betrug etwa 121° C. Einer der Kristalle war mit sulfuriertem Polystyrol beschichtet, um ihn für Wasser empfindlich zu machen. Die Wasserkonzentration im eintretenden Gas wurde verändert, und bei jedem Konzentrationspegel wurden Frequenzablesungen mit eingeschaltetem und ausgeschaltetem Strom erhalten. Der Ablesungsunterschied wurde als Signal für den Wassergehalt benutzt.
F i g. 6 ist eine graphische Darstellung, welche das Signal zeigt, das für beide Gleichgewichtsbedingungen erhalten wurde, wobei der Energiepegel bis zum Erreichen des Gleichgewichtszustandes aufrechterhalten wurde. Ferner sind Werte für selbsttätiges Schalten gezeigt, bei welchem die Energie durch einen Zeitschalter unterbrochen wurde (1 Min. eingeschaltet und 1 Min. ausgeschaltet). Die Daten zeigen die Brauchbarkeit eines solchen Systems.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen 309 527/374

Claims (4)

Patentansprüche:
1. Gerät zur Anzeige der Konzentration eines Anteils eines Gasgemisches, beruhend auf dem Nachweis und/oder der Messung der von dem Anteil des Gasgemisches beeinflußten Eigenschwingungsänderung eines piezoelektrischen Kristalls, wobei eine mit einer Anzeigeeinrichtung versehene Hochfrequenzoszillatorschaltung vorgesehen ist, deren frequenzbestimmendes Element ein piezoelektrischer Kristall ist, der in einem mit einer Zufuhr- und einer Abführieitung versehenen Gehäuse eingeschlossen und mit einer an seiner Oberfläche angebrachten, mit dem Anteil des Analysengemisches in physikalische oder chemische Wechselwirkung tretenden Reagenzschicht versehen ist, nach Patent 1 198 089, dadurch gekennzeichnet, daß der piezoelektrische Kristall (1, 20, 30) mit einem angeformten elektrischen Heizelement (2, 19, 21, 31) versehen ist.
2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das angeformte elektrische Heizelement (2,19, 21, 31) auf mindestens eine Fläche eines Quarzkristalls (1, 20, 30) aufgebracht ist.
3. Gerät nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Heizelement (2, 19, 21, 31) aus Gold besteht.
4. Gerät nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zwei entgegengesetzte Flächen des Kristalls (1, 20, 30) je ein angeformtes Heizelement (2, 19, 21, 31) tragen.
DE1598401A 1965-07-29 1966-07-28 Gerät zur Anzeige der Konzentration eines Anteils eines Gasgemisches, beruhend auf der Eigenschwingungsänderung eines piezoelektrischen Kristalls Expired DE1598401C3 (de)

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