DE1562236B2 - Prüfschaltung zur Funktionsprüfung einer Abtasteinrichtung - Google Patents

Prüfschaltung zur Funktionsprüfung einer Abtasteinrichtung

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Wolfgang Dipl.-Ing. 7140 Ludwigsburg Arndt
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Alcatel Lucent Deutschland AG
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q3/00Selecting arrangements
    • H04Q3/42Circuit arrangements for indirect selecting controlled by common circuits, e.g. register controller, marker
    • H04Q3/54Circuit arrangements for indirect selecting controlled by common circuits, e.g. register controller, marker in which the logic circuitry controlling the exchange is centralised
    • H04Q3/545Circuit arrangements for indirect selecting controlled by common circuits, e.g. register controller, marker in which the logic circuitry controlling the exchange is centralised using a stored programme
    • H04Q3/54575Software application
    • H04Q3/54591Supervision, e.g. fault localisation, traffic measurements, avoiding errors, failure recovery, monitoring, statistical analysis

Description

einem Adressenregister für die Adresse des bei der Funktionsprüfung gezielt zu prüfenden Abtastpunkts und andererseits mit solchen Leitungen verbunden ist, die jeweils den bei der zyklischen Abtastung abgetasteten Punkt kennzeichnen, und daß in die Prüfleitung eine UND-Schaltung eingefügt ist, die nur dann das Abtastergebnis eines Punkts der Abtastmatrix weitergibt, wenn die Adresse des bei der zyklischen Abtastung abgetasteten Punkts mit der im Adressenregister eingeschriebenen Adresse des bei der Funktionsprüfung gezielt zu prüfenden Punkts übereinstimmt.
Diese Prüfschaltung hat die Vorteile, daß der Abtastzyklus der dezentralen Abtasteinrichtung auch während einer Funktionsprüfung völlig unbeeinflußt bleibt und daß ein geringer Aufwand benötigt wird.
Eine besondere Ausbildung der Prüfschaltung nach der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß sie jeweils einer dezentralen Abtasteinrichtung fest zugeordnet und mit dieser räumlich eng verbunden ist, daß als den gerade abgetasteten Punkt kennzeichnende Leitungen unmittelbar die Ansteuerleitungen für die einzelnen Spalten und Zeilen der Matrix benutzt werden, und daß die im Adressenregister gespeicherte Adresse in eine entsprechende Markierung eines individuellen Ausgangs eines Spaltendekodierers und eines Zeilendekodierers umgesetzt wird. Hierbei werden keine Zwischenspeicher und/oder Dekodierer für die Adresse des jeweils abgetasteten Punkts benötigt, auch werden Fehler und Störungen am Spaltendekodierer und/oder Zeilendekodierer der Abtastmatrix unmittelbar erkannt.
Eine andere Ausbildung der Prüfschaltung nach der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß sie Bestandteil der zentralen Steuerung ist, daß als den gerade abgetasteten Punkt kennzeichnende Leitungen die diesen Punkt im Binärkode kennzeichnenden Leitungen zwischen dem Spaltenzähler und Spaltendekodierer bzw. zwischen dem Zeilenzähler und Zeilendekodierer verwendet werden, und daß die Adresse im Adressenregister ebenfalls im Binärkode gespeichert wird, um einen direkten Vergleich zu ermöglichen.
Hierbei wird die Zahl der benötigten Leitungen zwischen dezentraler Abtasteinrichtung und Prüfschaltung verringert. Bei größeren Abtastmatrizen ergibt sich eine merkbare Einsparung in der Koinzidenzprüf schaltung der Prüfschaltung.
Eine weitere Ausbildung der Prüfschaltung nach der Erfindung besteht darin, daß zur Synchronisierung der Prüfschaltung mit der freilaufenden Abtasteinrichtung über ein besonderes Leitungsbündel jede abgetastete Adresse zur Prüfschaltung übertragen wird.
Eine andere Ausbildung der Prüfschaltung besteht darin, daß zur Synchronisierung der Prüfschaltung mit der freilaufenden Abtasteinrichtung irgendeine bei einem Zustandswechsel über das Meldeleitungsbündel zur zentralen Steuerung übertragene Adresse benutzt wird, und daß die Prüfschaltung eigene Prüfspalten- und Prüfzeilenzähler nach der Synchronisierung durch eine gemeldete Adresse mit dem gleichen Takt fortschaltet, mit dem die Zähler der Abtasteinrichtung fortgeschaltet werden. Hierbei wird keine zusätzliche Leitung für die Synchronisierung benötigt, deshalb eignet sich diese Ausbildung eher für eine zentrale Prüfschaltung. Dafür muß gegebenenfalls auf eine beliebige Zustandsänderung gewartet werden. Wenn eine Störung alle Meldungen unterbindet, dann ist bei dieser Prüfschaltung eine gezielte Prüfung durch die zentrale Steuerung nicht mehr möglich.
Die Erfindung wird im folgenden im Zusammenhang mit den Zeichnungen erläutert:
F i g. 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel der Prüfschaltung nach der Erfindung;
F i g. 2 zeigt eine an mehreren Stellen abgewandelte Ausführung der Prüfschaltung.
Der obere Teil der F i g. 1 zeigt eine bereits vorgeschlagene dezentrale Abtasteinrichtung DA. Mehrere dezentrale Abtasteinrichtungen DA arbeiten mit einer zentralen Steuerung Z zusammen. Wesentliche Bestandteile einer Abtasteinrichtung sind eine Abtastmatrix AM, eine Speichermatrix SM und eine Vergleichseinrichtung Vgl. Mit Hilfe eines vom Takt T1 gesteuerten Spaltenzählers SZ werden über einen Spaltendekodierer SD zyklisch alle Spalten der Abtastmatrix AM abgetastet. Der Spaltenzähler treibt gleichsam als Verlängerung den Zeilenzähler ZZ, der über den Zeilendekodierer ZD zyklisch alle Zeilen abtastet. Insgesamt werden also alle Punkte der Abtastmatrix AM zyklisch abgetastet, in jeder Stellung des Spaltenzählers SZ und Zeilenzählers ZZ wird der Punkt am Schnittpunkt der markierten Spalte mit der markierten Zeile abgetastet. Jeweils gleichzeitig wird der entsprechende Punkt der Speichermatrix SM abgetastet, der den Zustand des abgetasteten Punkts bei der vorausgegangenen Abtastung im vorigen Zyklus kennzeichnet. Die in der Abtastmatrix AM und Speichermatrix SM abgefragten Zustände jedes Punkts werden der Vergleichseinrichtung Vgl zugeführt. Außerdem wird die Speichermatrix SM über Zwischenspeicher ZSp jeweils gemäß dem neuen Abtastergebnis der Abtastmatrix A M eingestellt. Zeigt die Vergleichseinrichtung Vgl einen Zustandswechsel an, so wird die Adresse des gerade abgetasteten Punkts zusammen mit einem Richtungsbit RB als Meldung des Zustandswechsels über ein Meldeleitungsbündel MLB zur zentralen Steuerung Z übertragen. Wird kein Zustandswechsel festgestellt, so wird keine Meldung übertragen. Da die Punkte der Abtastmatrix AM in kurzen Abständen abgetastet werden müssen, um kein Paar von Zustandswechseln eines Punkts zu verpassen, und da andererseits vergleichsweise selten ein Zustandswechsel auftritt, ist es auf diese Weise möglich, den Datenfluß zur zentralen Steuerung erheblich zu vermindern.
Wie in der Einleitung bereits erwähnt, kann durch Fehler in der dezentralen Abtasteinrichtung DA oder durch Störungen der Übertragungsstrecke eine Meldung zur zentralen Steuerung unwiederbringlich verlorengehen. Nach der Erfindung ist daher eine Prüfschaltung P vorgesehen, die es gestattet, den Zustand eines beliebigen Punkts der Abtastmatrix abzufragen. Vom Ausgang der Abtastmatrix AM führt eine Prüfleitung PL zur Prüfschaltung P, an der fortlaufend die Zustände der abgetasteten Punkte angezeigt werden. Es fehlt hier jedoch noch eine Zuordnung, welcher Zustand zu welchem Punkt gehört. Die Adresse eines bestimmten abzufragenden Punkts wird von der zentralen Steuerung Z zu einem Adressenregister A Rg übertragen und dort gespeichert. Dementsprechend wird jeweils einer der Ausgänge 1 bis 8 des Spaltendekodierers SD und Zeilendekodierers ZD in der Prüfschaltung P markiert. Diese Ausgänge führen je zu einem Eingang von UND-Schaltungen E. Der
andere Eingang der UND-Schaltungen E ist jeweils mit der entsprechenden Spalten- bzw. Zeilenleitung der Abtastmatrix AM verbunden. In Fig. 1 wurde davon ausgegangen, daß die Prüfschaltung P jeweils einer dezentralen Abtasteinrichtung DA fest zugeordnet und mit dieser räumlich benachbart angeordnet ist, so daß sich einerseits besondere Verstärker oder Treiberstufen für die UND-Schaltungen E erübrigen und andererseits auch die Verbindung zwischen den Spalten- und Zeilenleitungen der Abtastmatrix AM und den UND-Schaltungen E mit vertretbarem Aufwand herstellen läßt. Die Ausgänge der UND-Schaltungen E sind über zwei ODER-Schaltungen F zu Eingängen einer UND-Schaltung A zusammengefaßt. Wenn die abzufragende Adresse mit der gerade abgetasteten Spalte und Zeile übereinstimmt, dann sind diese beiden Eingänge markiert. Man könnte also bereits vom Ausgang der UND-Schaltung A die Weitergabe des gerade abgetasteten Zustande steuern. In der Zeichnung sind jedoch noch weitere logische Elemente dargestellt, die sicherstellen, daß die Weitergabe einer Zustandsmeldung nicht von Schalt- ■ vorgängen beeinflußt wird, daß also zum Zeitpunkt der Weitergabe definierte Schaltzustände herrschen. Dazu werden in an sich bekannter Weise aus dem Takt T1 zwei Takte T 2 und T 3 abgeleitet, die die gleiche Frequenz wie der Takt T1 haben und deren Impulse durch bestimmte Mindestpausen voneinander getrennt sind. So wird nach Beendigung eines Impulses des Takts T1 der UND-Schaltung A ein Impuls des Takts T 2 zugeführt. Bei koinzidenter Markierung der Ausgänge der ODER-Schaltungen F wird durch den Impuls des Takts T 2 die Flip-Flop-Schaltung FF1 eingestellt. Durch einen Impuls des Takts T 3 wird dann über die UND-Schaltung C der Zustand des abgetasteten Punkts in der Flip-Flop-Schaltung FF 2 gespeichert. Mit dem folgenden Impuls des Takts T1 wird über die UND-Schaltung D die Flip-Flop-Schaltung FF 3 eingestellt, deren markierter Ausgang der zentralen Steuerung Z anzeigt, daß jetzt die Flip-Flop-Schaltung FF 2 den Zustand des abzufragenden Abtastpunkts anzeigt. Über den Ausgang der Flip-Flop-Schaltung FF 3 wird das Adressenregister ARg gelöscht und durch einen Impuls des Takts T 2 wird über die UND-Schaltung B die Flip-Flop-Schaltung FF1 zurückgestellt. Nach dem Empfang der Zustandsmeldung wird von der zentralen Steuerung Z die Flip-Flop-Schaltung FF 3 rückgestellt und die Flip-Flop-Schaltung FF 2 in eine definierte Lage gebracht. Darüber hinaus ist es leicht möglich, der zentralen Steuerung Z besonders anzuzeigen, daß es sich um die Anzeige des abgefragten Zustands eines Punkts dieser dezentralen Abtasteinrichtung DA handelt.
In entsprechender Weise ist es auch möglich, auf Anforderung den Zustand einer Reihe von Abtastpunkten ohne Beeinträchtigung des Abtastzyklus zu übermitteln.
In F i g. 2 wurde davon ausgegangen, daß die zentrale Steuerung eine für mehrere Abtasteinrichtungen gemeinsame zentrale Prüfschaltung ZP enthält, die in nicht dargestellter Weise über Schalter jeweils mit einer dezentralen Abtasteinrichtung DA verbunden wird. In einem solchen Fall ist es günstig, Adern zwischen der dezentralen Abtasteinrichtung DA und der zentralen Prüfschaltung ZP einzusparen. Hierzu kann man die Adresse des gerade abgetasteten Punkts in binärer Form vom Ausgang des Spalten- und Zeilenzählers abgreifen, so, wie sie auch in F i g. 1 als Meldung zur zentralen Steuerung übertragen wird. In F i g. 2 wurde auch noch ein derartig verkleinertes Bündel eingespart. Der Prüfspaltenzähler PSZ und der Prüfzeilenzähler PZZ werden nach der Anschaltung an diese dezentrale Abtasteinrichtung durch eine beliebige Meldung auf dem Meldeleitungsbündel MLB mit dem Spaltenzähler SZ und Zeilenzähler ZZ der dezentralen Abtasteinrichtung DA synchronisiert und werden dann mittels des Takts T1 auf dem laufenden gehalten. Die abzufragende Adresse wird im Adressenregister ARg ebenfalls in binärer Form gespeichert. Damit ergibt sich zugleich eine Verkleinerung der Koinzidenzprüfschaltung. In jeder Binärstelle sind die antivalenten Ausgänge der Zähler PSZ, PZZ und des Adressenregisters ARg mit einem Eingang einer UND-Schaltung G verbunden. Die Ausgänge der UND-Schaltungen G sind über eine ODER-Schaltung H mit einem negierenden Eingang der UND-Schaltung A verbunden. Wenn die abzufragende Adresse und die gerade abgefragte Adresse übereinstimmen, dann führen alle UND-Schaltungen G und somit auch die ODER-Schaltung H kein Ausgangssignal. Demzufolge erscheint während eines Impulses des Takts Ί2 am Ausgang der UND-Schaltung A ein Zeichen, das die Flip-Flop-Schaltung FF1 einstellt und daher während des nachfolgenden Impulses des Takts Γ 3 über die UND-Schaltung C die Weitergabe des abgefragten Zustands zur Flip-Flop-Schaltung FF 2 ermöglicht. Im übrigen stimmt die Prüfschaltung nach F i g. 2 mit der Prüfschaltung nach F i g. 1 überein.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (5)

1 2 Adresse benutzt wird, und daß die Prüfschaltung Patentansprüche: eigene Prüfspalten- und Prüfzeilenzähler (PSZ, PZZ) nach der Synchronisierung durch eine ge-
1. Prüfschaltung zur Funktionsprüfung einer meldete Adresse mit dem gleichen Takt (71) Abtasteinrichtung, die mit einer Abtastmatrix 5 fortschaltet, mit dem die Zähler (SZ, ZZ) der Abzyklisch den binären Zustand von Abtastpunkten tasteinrichtung (DA) fortgeschaltet werden,
abtastet, die in einer Vergleichseinrichtung den
abgetasteten Zustand mit dem in einer Speichermatrix festgehaltenen Zustand der Abtastpunkte Die Erfindung betrifft eine Prüfschaltung zur Funkbei der vorausgegangenen Abtastung vergleicht io tionsprüfung einer Abtasteinrichtung, die mit einer und die im Normalfall nur bei einem Zustands- Abtastmatrix zyklisch den binären Zustand von Abwechsel eines Abtastpunkts eine den Zustands- tastpunkten abtastet, die in einer Vergleichseinrichwechsel und den betroffenen Abtastpunkt kenn- tung den abgetasteten Zustand mit dem in einer zeichnende Meldung zu einer zentralen Steuerung Speichermatrix festgehaltenen Zustand der Abtastüberträgt, in Fernmelde-, insbesondere in Fern- 15 punkte bei der vorausgegangenen Abtastung versprechvermittlungsanlagen, dadurch ge- gleicht und die im Normalfall nur bei einem kennzeichnet, daß am Ausgang der Ab- Zustandswechsel eines Abtastpunkts eine den Zutastmatrix (AM) der Abtasteinrichtung (DA) Standswechsel und den betroffenen Abtastpunkt eine Prüfleitung (PL) angeschlossen ist, daß eine kennzeichnende Meldung zu einer zentralen Steuerung Koinzidenzprüfschaltung (E, F, A bzw. G, H, A) 20 überträgt, in Fernmelde-, insbesondere in Fernsprecheinerseits mit einem Adressenregister (ARg) für Vermittlungsanlagen.
die Adresse des bei der Funktionsprüfung gezielt Eine solche Betriebsweise einer Abtasteinrichtung
zu prüfenden Abtastpunkts und andererseits mit wird als last-look-Verfahren bezeichnet und ergibt
solchen Leitungen verbunden ist, die jeweils den einen erheblich reduzierten Datenfluß zur zentralen
bei der zyklischen Abtastung abgetasteten Punkt 25 Steuerung.
kennzeichnen, und daß in die Prüfleitung (PL) Bei einer solchen Abtasteinrichtung besteht die
eine UND-Schaltung (C) eingefügt ist, die nur Möglichkeit, daß durch fehlerhaftes Arbeiten oder
dann das Abtastergebnis eines Punkts der Ab- durch Störung der Übertragung Meldungen zur zen-
tastmatrix (AM) weitergibt, wenn die Adresse des tralen Steuerung unwiederbringlich verlorengehen,
bei der zyklischen Abtastung abgetasteten Punkts 30 denn vor einer erneuten Zustandsänderung wird keine
mit der im Adressenregister (ARg) eingeschriebe- weitere Meldung bezüglich des abgetasteten Punkts
nen Adresse des bei der Funktionsprüfung gezielt zur zentralen Steuerung übertragen. Eine erneute Zu-
zu prüfenden Punkts übereinstimmt. Standsänderung kann aber eventuell gerade durch
2. Prüfschaltung nach Anspruch 1, dadurch das Ausbleiben einer Meldung verhindert werden, gekennzeichnet, daß sie jeweils einer dezentralen 35 Eine Möglichkeit, dennoch den wirklichen Zustand Abtasteinrichtung (DA) fest zugeordnet und mit eines Abtastpunkts zu erfahren, besteht darin, den dieser räumlich eng verbunden ist, daß als den entsprechenden Punkt der Speichermatrix definiert gerade abgetasteten Punkt kennzeichnende Lei- einzustellen, worauf das Ausbleiben bzw. Eintreffen tungen unmittelbar die Ansteuerleitungen für die einer Meldung für den entsprechenden Punkt der einzelnen Spalten und Zeilen der Matrix benutzt 40 Abtastmatrix den wirklichen Zustand kennzeichnet, werden, und daß die im Adressenregister ge- Diese Möglichkeit ist aber mit den Nachteilen behafspeicherte Adresse in eine entsprechende Markie- tet, daß in den normalen Abtastzyklus eingegriffen rung eines individuellen Ausgangs (1 bis 8) eines werden muß, daß besondere Schreibeinrichtungen Spaltendekodierers (SD) und Zeilendekodierers erforderlich sind und daß eine weitere Meldung ver- (ZD) umgesetzt wird. 45 lorengeht, wenn der abzufragende Punkt zufällig
3. Prüfschaltung nach Anspruch 1, dadurch zwischen den gleichen Abtastungen, zwischen denen gekennzeichnet, daß sie Bestandteil der zentralen der entsprechende Punkt der Speichermatrix definiert Steuerung ist, daß als den gerade abgetasteten eingestellt wird, erst den entsprechenden Zustand Punkt kennzeichnende Leitungen die diesen einnimmt.
Punkt im Binärkode kennzeichnenden Leitungen 5° Die Aufgabe der Prüfschaltung nach der Erfindung
zwischen dem Spaltenzähler (SZ) und Spalten- besteht darin, bei einer Abtasteinrichtung der ein-
dekodierer (SD) bzw. zwischen dem Zeilenzähler leitend beschriebenen Art eine gezielte Funktions-
(ZZ) und Zeilendekodierer (ZD) verwendet wer- prüfung dahingehend zu ermöglichen, ob das Aus-
den, und daß die Adresse im Adressenregister bleiben einer Meldung bezüglich eines Zustands-
(ARg) ebenfalls im Binärkode gespeichert wird, 55 wechseis eines Abtastpunkts auf der Tatsache beruht,
um einen direkten Vergleich zu ermöglichen. daß der entsprechende Abtastpunkt einen bestimm-
4. Prüfschaltung nach Anspruch 2 oder 3, ten, früher schon eingenommenen Zustand noch dadurch gekennzeichnet, daß zur Synchronisie- innehat, oder ob das Ausbleiben der Meldung auf rung der Prüfschaltung mit der freilaufenden einer Störung der Abtasteinrichtung beruht, daß Abtasteinrichtung über ein besonderes Leitungs- 60 nämlich z. B. der Abtastpunkt einen neuen, sowohl in bündel jede abgetastete Adresse zur Prüfschal- der Abtastmatrix als auch in der Speichermatrix tung übertragen wird. vermerkten Zustand einnimmt, daß. aber die ent-
5. Prüfschaltung nach Anspruch 2 oder 3, sprechende Meldung über den Zustandswechsel nicht dadurch gekennzeichnet, daß zur Synchronisie- in der zentralen Steuerung eingetroffen ist. ·
rung der Prüfschaltung (ZP) mit der freilaufen- 65 Die Prüfschaltung nach der Erfindung ist dadurch
den Abtasteinrichtung (DA) irgendeine bei einem gekennzeichnet, daß am Ausgang der Abtastmatrix
Zustandswechsel über das Meldeleitungsbündel der Abtasteinrichtung eine Prüfleitung angeschlossen
(MLB) zur zentralen Steuerung übertragene ist, daß eine Koinzidenzprüfschaltung einerseits mit
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