DE1514886B2 - Halbleiteranordnung - Google Patents
HalbleiteranordnungInfo
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- H01L23/482—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of lead-in layers inseparably applied to the semiconductor body
- H01L23/485—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of lead-in layers inseparably applied to the semiconductor body consisting of layered constructions comprising conductive layers and insulating layers, e.g. planar contacts
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Description
3 4
tung eingesetzt werden. Hierbei wird die Halbleiter- der Achse der rohrförmigen Anschlußleitungen ist
scheibe mit den Kontaktbahnen umgekehrt in diese ein Justierstift 10 vorgesehen, während als Gegen-Schaltung
gedrückt, wobei die Verbindung zwischen stück in die Halbleiterscheibe ein Loch 11 in ihrem
den Kontaktbahnen und den dazugehörigen Kontak- Mittelpunkt eingebracht ist. Die Verbindung der An-
ten in der Dünnfilmschaltung z. B. durch eine Ultra- 5 Schlußleitungen mit den Kontaktbahnen wird daschallbehandlung
hergestellt wird. Beim Einsetzen durch hergestellt, daß das Halbleiterplättchen 1 mit
der Halbleiterscheibe in die Schaltung braucht nur dem Loch 11 über den Justierstift 10 geschoben und
der Mittelpunkt der konzentrischen Kontaktbahnen mit seinen Kontaktbahnen an die Anschlußleitungen
exakt einjustiert zu werden. Die beispielsweise als angedrückt wird. Ein dauerhafter Kontakt zwischen
Ringsegmente ausgebildeten Kontaktbahnen werden io den Anschlußleitungen und den Kontaktbahnen wird
dann durch einfaches Verdrehen der Halbleiter- beispielsweise durch einen Ultraschallbonder oder
scheibe um ihren Mittelpunkt mit den dazugehörigen durch einen Lötprozeß hergestellt.
Kontakten der Schaltung zur Deckung gebracht. Die F i g. 2 zeigt schließlich noch ein Ausführungs-
Die Erfindung wird im folgenden an einem Aus- beispiel für die Verwendung von Ringsegmenten als
führungsbeispiel näher erläutert. 15 Kontaktbahnen bei Halbleiteranordnungen mit mehr
Ein Hochfrequenzleistungstransistor mit ringför- als drei Kontaktstellen, z.B. bei integrierten HaIbmigen
Kontaktbahnen auf der Isolierschicht nach der leiterschaltungsanordnungen. Nach der F i g. 3 sind
Erfindung besteht beispielsweise aus einem Silizium- auf einer Halbleiterscheibe 1 auf zwei Kreisbahnen
plättchen vom Leitungstyp der Kollektorzone, in das Ringsegmente als Kontaktbahnen angeordnet, und
die Emitter- und die Basiszonen in bekannter Weise 20 zwar jeweils vier Ringsegmente pro Kreisbahn. Die
durch Diffusion nach der Planartechnik eingebracht Ringsegmente auf der inneren Kreisbahn sind mit 12,
werden. Dabei entsteht auf der Oberfläche des Halb- 13,14 und 15 bezeichnet, während die Ringsegmente
leiterplättchens eine isolierende Schutzschicht aus Si- auf der äußeren Kreisbahn die Bezugsziffern 16, 17,
liziumoxyd, die durch Oxydation des Siliziumplätt- 18 und 19 haben. Die vorhandenen acht Kontaktchens
im Oberflächenbereich gewonnen wird. Diese 25 bahnen können beispielsweise zur Kontaktierung von
Schutzschicht wird an denjenigen Stellen, an denen Transistoren, Dioden oder Widerständen auf der
die Halbleiterzonen des Transistors kontaktiert wer- Halbleiterscheibe dienen.
den, freigelegt, indem Löcher in die Schutzschicht Die Halbleiterscheibe der F i g. 2 wird nun mit iheingebeizt
werden. Anschließend werden auf die ren Kontaktbahnen auf die Schaltungsplatte 20 geSchutzschicht
die ringförmigen Emitter-, Basis- und 30 legt, und zwar derart, daß die Kontaktbahnen der
Kollektor-Kontaktbahnen aufgedampft, die durch die Halbleiterscheibe auf die entsprechenden und eben-Verbindungsstücke
mit den entsprechenden Halb- falls auf zwei Kreisbahnen angeordneten Kontakte
leiterzonen verbunden werden. 12', 13', 14', 15', 16', 17', 18', 19' zu liegen kommen.
Die F i g. 1 zeigt den fertigen Transistor, der aus Zu diesem Zweck wird zunächst der Mittelpunkt 21
dem Halbleiterkörper 1, der auf dem Halbleiterkör- 35 der Halbleiterscheibe 1 mit dem Punkt 22 der Schalper
befindlichen Isolierschicht 2 sowie aus den ring- tungsplatte 20 zur Deckung gebracht und die HaIbförmigen
Emitter-, Basis- und Kollektor-Kontakt- leiterscheibe so lange gedreht, bis die Kontaktbahnen
bahnen 4,5 und 6 besteht, die durch nicht darge- der Halbleiterscheibe auf die dazugehörigen Konstellte
Zuleitungen mit den entsprechenden Halb- takte der Schaltungsplatte zu liegen kommen. Die
leiterzonen verbunden sind. Die F i g. 1 zeigt außer- 40 elektrische Verbindung der Kontakte der Schaltungsdem
die zu den Kontaktbahnen gehörigen Anschluß- platte mit anderen Schaltungselementen erfolgt durch
leitungen 4', 5' und 6', die rohrförmig und gleichzei- die auf der Schaltungsplatte befindlichen Leitungstig
als Schwingkreise ausgebildet sind. Im Bereich züge 23, 24, 25, 26, 27, 28, 29 und 30.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (6)
1. Halbleiteranordnung mit konzentrisch ein Hohlzylinder als Anschlußteil vorgesehen und
zueinander verlaufenden, ringförmigen Kontakt- s mit der Legierungselektrode legiert ist (deutsche
bahnen auf der einen Oberflächenseite des Halb- Auslegeschrift 1 118 889).
leitersystems, dadurch gekennzeich- Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei
net, daß die Kontaktbahnen ganz auf einer iso- Planaranordnungen die Kontaktierung zu erleichtern,
lierenden Schutzschicht auf der einen Oberflä- Zur Lösung dieser Aufgabe wird bei einer Halbchenseite
des Halbleiterkörpers verlaufen und io leiteranordnung mit konzentrisch zueinander verlaudurch
Zuleitungen wie Dünnfilmstreifen oder Zu- fenden, ringförmigen Kontaktbahnen auf der einen
leitungsdrähte mit den zu kontaktierenden Halb- Oberflächenseite des Halbleitersystems nach der Erleiterzonen
von beliebiger Struktur verbunden findung vorgeschlagen, daß die Kontaktbahnen ganz
sind. auf einer isolierenden Schutzschicht auf der einen
2. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, da- 15 Oberfiächenseite des Halbleiterkörpers verlaufen und
durch gekennzeichnet, daß der Mittelpunkt der durch Zuleitungen wie Dünnfilmstreifen oder Zuleikonzentrischen
Kontaktbahnen auf dem Halb- tungsdrähte mit den zu kontaktierenden Halbleiterzoleiterkörper
gekennzeichnet ist. nen von beliebiger Struktur verbunden sind.
3. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1 Die Halbleiterzonen, die durch die Kontaktbahnen
oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Halb- 20 kontaktiert werden, können bei der Halbleiteranordleiterkörper
im Mittelpunkt der konzentrischen nung nach der Erfindung eine beliebige Struktur be-Kontaktbahnen
eine Vertiefung zur Aufnahme sitzen und beispielsweise streifenförmig oder kreiseines
zu einem Anschlußstück gehörigen Zapfens förmig ausgebildet sein. Eine konzentrische Anordaufweist.
nung der auf der Isolierschicht befindlichen Kontakt-
4. Halbleiteranordnung nach einem der An- 25 bahnen nach der Erfindung hat den Vorteil, daß zur
Sprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß als genauen Festlegung der Halbleiteranordnung in einer
Anschlußstücke für die Kontaktbahnen rohrför- Schaltung nur die exakte Einstellung eines einzigen
mige konzentrische Leitungen vorgesehen sind. Punktes, nämlich des Mittelpunktes der konzentri-
5. Transistor nach Anspruch 4, dadurch ge- sehen Kontaktbahnen, erforderlich ist. Sind gemäß
kennzeichnet, daß das Mittelrohr der konzentri- 30 einer Weiterbildung der Erfindung als Kontaktbahschen
Leitungen als Basis- oder als Emitteran- nen Ringsegmente, die auf einer oder mehreren
Schluß vorgesehen ist. Kreisbahnen verlaufen, so wird nach der Einjustie-
6. Halbleiteranordnung nach einem der An- rung des Mittelpunktes der Halbleiterkörper um seisprüche
1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß als nen Mittelpunkt so lange gedreht, bis der erforder-Kontaktbahnen
Ringsegmente vorgesehen sind, 35 liehe Kontakt hergestellt ist. Bei Verwendung von
die auf einer oder mehreren Kreisbahnen verlau- ringförmigen Kontaktbahnen entfällt das Drehen des
fen. Halbleiterkörpers sogar.
Eine konzentrische Anordnung der Kontaktbahnen hat eine besondere Bedeutung für den Einbau
40 von Halbleiteranordnungen in Hochfrequenz-Leistungsschaltungen.
In diesem Falle kann man nämlich als Anschlußleitungen rohrförmige konzentrische
Die Erfindung betrifft eine Halbleiteranordnung Leitungen verwenden und diese so ausbilden, daß sie
mit konzentrisch zueinander verlaufenden, ringförmi- gleichzeitig als Schwingkreise dienen. Der Einbau in
gen Kontaktbahnen auf der einen Oberflächenseite 45 die Schaltung erfolgt dann einfach dadurch, daß das
des Halbleitersystems. flache Halbleiterplättchen mit seinen Kontaktbahnen
Es ist bei einer integrierten komplementären gegen die Kanten der konzentrischen Leitungen ge-Transistoranordnung
(französische Patentschrift drückt und mit diesen beispielsweise verlötet wird. 680) bekannt, bei einem Lateraltransistor mit Auf diese einfache Weise kann man z. B. niederohringförmig
um die Emitterzone verlaufender Kollek- 50 mige Schwingkreise an Transistoren anschließen,
torzone die Elektroden der Ringform der Kollektor- ohne daß störende Induktivitäten oder Kapazitäten
zone anzupassen und ringförmige, zueinander kon- auftreten.
zentrisch verlaufende Elektroden vorzusehen, die in Die konzentrische Anordnung von rohrförmigen
Aussparungen der Isolierschicht unmittelbar auf der Anschlußleitungen kann aber auch als völlige Ab-Halbleiteroberfläche
verlaufen. Entsprechend ring- 55 schirmung von Eingangs- und Ausgangskreis eines
förmig sind auch die ebenfalls unmittelbar auf der UHF-Verstärkers dienen, wo Rückwirkungskapazitä-Halbleiteroberfläche
angeordneten Elektroden des ten von Bruchteilen eines pF eine entscheidende dazugehörigen Komplementärtransistors ausgebildet, Rolle spielen. Verwendet man das Mittelrohr der
der ein normaler Planartransistor ist. konzentrischen Leitungen als Basisanschluß, so ist
Bei einer anderen bekannten Halbleiteranordnung 60 die Rückwirkungskapazität zwischen Kollektor und
sind konzentrisch verlaufende, ringförmige Emitter- Emitter gleich Null. Verwendet man dagegen das
zonen vorgesehen, die durch Legieren hergestellt Mittelrohr als Emitteranschluß, dann ist die Rücksind.
Diese konzentrisch zueinander verlaufenden Wirkungskapazität zwischen Kollektor und Basis
Emitterzonen sind durch das Legierungsmaterial als gleich Null. Dies gilt jeweils für die außerhalb des
Elektrodenmaterial unmittelbar bedeckt. Zwischen 65 Halbleiterplättchens auftretenden Kapazitäten,
den ringförmigen Emitterzonen bzw. Emitterelektro- Eine weitere Anwendungsmöglichkeit der Erfinden sind ebenfalls ringförmige, konzentrisch zueinan- dung besteht bei integrierten Schaltungen oder Trander verlaufende Basiselektroden auf dem Halbleiter- sistoren, die in eine Dünnfilm- oder Siebdruckschal-
den ringförmigen Emitterzonen bzw. Emitterelektro- Eine weitere Anwendungsmöglichkeit der Erfinden sind ebenfalls ringförmige, konzentrisch zueinan- dung besteht bei integrierten Schaltungen oder Trander verlaufende Basiselektroden auf dem Halbleiter- sistoren, die in eine Dünnfilm- oder Siebdruckschal-
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DET0029678 | 1965-10-28 |
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DE1514886A1 DE1514886A1 (de) | 1969-06-26 |
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DE1514886C3 DE1514886C3 (de) | 1974-08-08 |
Family
ID=7555066
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19651514886 Expired DE1514886C3 (de) | 1965-10-28 | 1965-10-28 | Halbleiteranordnung |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE1514886C3 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0058835A2 (de) * | 1981-02-20 | 1982-09-01 | Texas Instruments Deutschland Gmbh | Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2251727A1 (de) * | 1972-10-21 | 1974-04-25 | Licentia Gmbh | Halbleiteranordnung mit mindestens zwei zonen entgegengesetzten leitfaehigkeitstyps |
-
1965
- 1965-10-28 DE DE19651514886 patent/DE1514886C3/de not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0058835A2 (de) * | 1981-02-20 | 1982-09-01 | Texas Instruments Deutschland Gmbh | Halbleitervorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
EP0058835A3 (en) * | 1981-02-20 | 1983-07-27 | Texas Instruments Deutschland Gmbh | Semiconductor device and method of producing it |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE1514886C3 (de) | 1974-08-08 |
DE1514886A1 (de) | 1969-06-26 |
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