DE1239789B - Elektronisches Festkoerperbauelement mit negativem Widerstand - Google Patents
Elektronisches Festkoerperbauelement mit negativem WiderstandInfo
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Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. Cl.:
HOIl
Deutsche Kl.: 21g-41/00
Nummer: 1 239 789
Aktenzeichen: J 25122 VIII c/21 g
Anmeldetag: 9. Januar 1964
Auslegetag: 3. Mai 1967
Die Erfindung bezieht sich auf ein elektronisches Festkörperelement mit negativem Widerstand, das
auf den Eigenschaften sogenannter »heißer« Ladungsträger innerhalb einer anisotropen Bandstruktur
beruht.
Man weiß, daß unter dem Einfluß stärkerer elektrischer Felder in gewissen Festkörpern Ströme hervorgerufen
werden können, die nicht dem Ohmschen Gesetz gehorchen. In diesen Fällen sind im Gegensatz
zu den Verhältnissen bei schwachen elektrischen Feldern, insbesondere in Metallen, die erzeugten
Ströme nicht einfach dem angelegten elektrischen Feld proportional. Unter der Einwirkung des elektrischen
Feldes werden die Ladungsträger beschleunigt und nehmen in entsprechender Weise Energie
aus dem Feld auf. Dabei muß der aufgenommene Energieanteil gleich sein dem Anteil, der durch
Wechselwirkungseffekte, z. B. durch Stoßprozesse, von den Trägern an das Gitter abgegeben wird. Für
bestimmte Substanzen kann diese Bedingung nur so erfüllt werden, daß die mittlere Energie der Ladungsträger
größer ist als ihre thermische Energie bei Gittertemperatur. Durch das Feld werden auf diese
Weise »heiße« Elektronen erzeugt, d. h. Elektronen, denen ihrer Geschwindigkeit nach eine höhere Temperatur
zuzuordnen ist, als es der Kristallgittertemperatur entspricht. Wenn der Anteil des Energieaustausches
der Träger untereinander durch wechselseitige Stöße groß ist im Vergleich zum Energieaustausch
zwischen den Trägern und den Gitter-Schwingungen, sind die Träger untereinander im
thermischen Gleichgewicht. Es ergibt sich jedoch im Impulsraum eine Verschiebung, wodurch die Trägertemperatur
T größer als diejenige T0 des Gitters sein kann.
Ferner weiß man, daß bei solchen Ladungsträgern, die als Flächen konstanter Energie nicht durch Kugeln,
sondern durch Ellipsoide darzustellen sind, bei Anlegung der obengenannten elektrischen Felder
eine ungleichmäßige Aufheizung der Träger in verschiedenen Gebieten des Bandes stattfinden kann,
was eine Rückwirkung auf die Gleichgewichtsverteilung der Träger auf die verschiedenen Bandgebiete
mit sich bringt. Auf diese Weise kann der Fall eintreten, daß nil feldlosen Zustand äquivalente Energieflächen
nach Anlegung eines elektrischen Feldes nicht mehr äquivalent sind. Dieser Fall tritt bisweilen auch
dann ein, wenn die Stromdichte sowohl eine Komponente in Feldrichtung als auch senkrecht hierzu
besitzt. Es ist ;^her aber nicht bekanntgeworden, die
vorgenamreu Tatsachen zur Realisierung eines negativen
Widerstandes auszunutzen.
Elektronisches Festkörperbauelement mit
negativem Widerstand
negativem Widerstand
Anmelder:
International Business Machines Corporation,
Armonk, N. Y. (V. St. A.)
Vertreter:
Dipl.-Ing. H. E. Böhmer, Patentanwalt,
Böblingen, Sindelfinger Str. 49
Als Erfinder benannt:
Erich Erlbach, New York, N. Y. (V. St. A.)
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 10. Januar 1963 (250 514)
Einen negativen Widerstand kann man mittels eines Halbleiterbauelementes erhalten, das gekennzeichnet
ist durch die Wahl einer Halbleitersubstanz, deren die Majoritätsträger betreffende anisotrope
Bandstruktur durch mehrere Systeme konstanter Energieflächen in Form von EUipsoiden mit hoher
Exzentrizität darstellbar ist und in der zusätzlich durch Zufuhr von Energie mittels eines elektrischen
Feldes heiße Elektronen erzeugt werden können derart, daß das Produkt aus Beweglichkeit und Relaxationszeit
für Übergänge dieser Elektronen zwischen verschiedenen Systemen konstanter Energieflächen
bei ansteigendem elektrischem Feld abnimmt.
Zur weiteren Erläuterung des dem Erfindungsgedanken zugrunde liegenden physikalischen Sachverhaltes
seien hier folgende Literaturstellen genannt:
»High Electric Field Effects in Semiconductors«, J. B. Gunn, Progress in Semiconductors, Vol.2,
p. 211 (1957);
»Anisotropy of Hot Electrons in Germanium« by Sasaki et al, Journal of Physics and Chemistry
in Solids, 1959, Vol. 8, pp. 250 bis 256; »The Anisotropy of the Conductivity of Hot
Electrons and Their Temperature in Germanium« by E. G. S. Paige, Proceedings of
the Physical Society, Vol. 75, 1960, pp. 174 bis 184.
709 578/262
Unter Zugrundelegung der obengenannten Tatsachen der Halbleiterphysik wird einem Halbleiterkristall
ein elektrisches Hilfsfeld in einer speziellen Richtung angelegt, wodurch die Elektronen in jedem
Energieminimum beschleunigt werden. Wenn man unter geeigneten Voraussetzungen, auf die später
zurückgekommen wird, ein weiteres elektrisches Feld an den Halbleiterkristall anlegt, das zu dem Hilfsfeld
rechtwinklig verläuft, so zeigt sich, daß die Richtung des dem zweiten Feld entsprechenden Stromes entgegengesetzt
zum angelegten Feld verläuft. Dies ist gleichbedeutend mit einem negativen Widerstand. In
manchen Fällen ergibt sich die Notwendigkeit, zusätzlich den Kristall einer mechanischen Beanspruchung,
z. B. einem Druck, auszusetzen, um die obengenannten Voraussetzungen für das Zustandekommen
des negativen Widerstandes zu erfüllen.
Die vorliegende Erfindung zeigt eine neue Möglichkeit zur Verwirklichung eines negativen Widerstandselementes
auf, dessen Zustandekommen auf den Eigenschaften heißer Ladungsträger innerhalb einer anisotropen Bandstruktur eines Halbleiters beruht,
wobei die Eigenschaft des Widerstandes, negativ zu sein, sich über den gesamten Halbleiterkörper
erstrecken kann. Weitere Eigenschaften und Einzelheiten der Erfindung gehen aus der folgenden eingehenden
Beschreibung eines Ausführungsbeispiels sowie aus den Zeichnungen hervor.
Fig. 1 zeigt zwei der [lll]-Täler des Leitungsbandes von Germanium und dient dem besseren
Verständnis des Erfindungsgedankens;
F i g. 2 ist eine spezielle Ausführungsform des in einer einfachen Schaltung realisierten Erfindungsgedankens.
Fig. 1 erläutert die Drift der Elektronen entlang gewisser Achsen des Germaniumkristalls unter dem
Einfluß eines angelegten elektrischen Feldes. In der Figur werden zwei in [lll]-Richtungen verlaufende
Täler des Potentialfeldes im Kristallgitter durch die Geraden 2 und 4 des Germanium-Leitungsbandes
repräsentiert. Für Germanium existieren vier solcher Täler; aber nur zwei davon sind gezeigt; die anderen
beiden Täler liegen in einer senkrecht zur Zeichenebene der F i g. 1 verlaufenden Ebene. Wird in der
[100]-Richtung ein elektrisches Feld E angelegt (dieses ist ein Hilfsfeld in der Hilfsrichtung), so geben
in jedem dieser Täler die Elektronen zu einer Stromdichte in der Richtung μ ■ E Anlaß, wobei μ den die
Beweglichkeit beschreibenden Tensor und E das elektrische Feld bedeutet. Wie aus der F i g. 1 hervorgeht,
setzen sich die Stromdichten in jedem Tal aus einer Komponente j senkrecht zur Feldstärkenrichtung
und einer Komponente /' in Feldrichtung zusammen. Die Summe dieser einander entgegengesetzten
Stromdichten// und J2' verschwinden, da
beide Täler in gleicher Weise zum Stromfluß beisteuern. Die gegenseitige Kompensation der einander
entgegengesetzt gerichteten Stromdichten findet nur dann statt, wenn die Elektronen der in Betracht
kommenden Täler gleich »heiß« sind und wenn in diesen zusätzlich die Anzahl der vorhandenen Elektronen
gleich groß ist. Dies tritt nur dann ein, wenn die Richtung des Hilfsfeldes einer Symmetrierichtung
des Kristalls entspricht.
Den Beweglichkeitstensor kann man in der Regel als aus zwei Anteilen zusammengesetzt betrachten.
Der eine Teil entspricht dem reziproken Massentensor und beschreibt eine individuelle Eigenschaft
des betrachteten Kristalls. Er ist von der Elektronentemperatur Te oder der Gittertemperatur T1 unabhängig.
Der andere Teil besteht aus einem Faktor μ, der für alle Komponenten des Beweglichkeitstensors
gleich ist und sowohl von Te als auch von T1 abhängig
ist. Hält man T1 z. B. durch Einbringen in ein Bad konstanter Temperatur, wie z. B. in flüssigen
Stickstoff, konstant, dann ist die Beweglichkeit nur eine Funktion der Elektronentemperatur Te. Die
Elektronentemperatur ihrerseits ist eine Funktion der von dem elektrischen Feld pro Elektron gelieferten
Energie und ist damit proportional S · μ · (S, wobei μ
der Beweglichkeitstensor ist. Diese Gleichung kann man wie folgt ausdrücken:
S · (μ) · G =
wobei
wobei
x,y,z
VV —
V2 = μ2ΧΕχ
μΖ2Εζ.
Aus diesen Gleichungen ersieht man, daß jede Geschwindigkeitskomponente gleich der Summe von
Tennen ist, in welchen selbst entsprechend den Komponenten von E alle drei Raumrichtungen auftreten.
Verläuft z. B. nach der Annahme von Fig. 1 das elektrische Feld in der [100]-Richtung, dann hat der
Ausdruck (S · μ · (S die gleiche Größe für alle Elektronen in allen vier Tälern, insbesondere für die
beiden in der Figur dargestellten. Damit sind Te
und μ sowie die Elektronenanzahl in allen Tälern gleich groß. Aus diesem Grund sind auch die einander
entgegengesetzten Stromdichten J1 und J2'
gleich groß und kompensieren einander.
Wird dahingegen ein zusätzliches Feld E1 in der
[Oll]-Richtung angelegt, so wird die Größe S ■ μ · (S
und damit Te nicht länger mehr für alle Täler gleich
sein. Für die Energiefläche 6 wird der Energieinhalt reduziert, während er für die Energiefläche 8 vergrößert
wird. Dieses verursacht eine Änderung der multiplikativen Konstanten des Beweglichkeitstensors μ, wodurch ebenfalls // und J2' derart geändert
werden, daß sie nicht mehr einander gleich sind. Weiterhin werden, sobald eine Energiefläche
»heißer« ist als eine andere, die Elektronen das Bestreben haben, von der »heißeren« zu der »kälteren«
überzugehen, wodurch zusätzlich sich eine Änderung von J1' und j2' ergibt. Es gibt somit drei im
folgenden aufgezählte Gründe für die Stromdichte /v
in der [011]-Richtung:
(a) die Elektronenbeschleunigungen durch das Feld (S1, welche ein jVa in der [011]-Richtung
verursacht,
(b) die unvollständige Kompensation zwischen /,'
und j2 infolge der Änderung von μ, was eine
Stromdichte von jn in der [OTT]-Richtung nach sich zieht, sofern μ bei zunehmendem Te abnimmt,
was gewöhnlich der Fall ist;
(c) die unvollständige gegenseitige Kompensation von J1 und /2' infolge der Änderung der relativen
Besetzungszahl der Täler bewirkt eine Nettostromdichte jVc, welche ebenfalls in der
[OTT]-Richtung verläuft, sofern ein Elektronenübergang stattfindet vom »heißeren« zum »kälteren«
Gebiet, was in der Regel der Fall ist.
Der Gesamtstrom jy, der dem zweiten Feld S1 entspricht,
verläuft in der [OH]- oder in der [OTT]-Richtung, abhängig davon, ob der durch die Ursache
(a) bewirkte Strom größer ist als die Summe der von den unter (b) und (c) genannten Ursachen
erzeugte Strom. Ist jya größer als jyb + jyc so verläuft
jy in Feldrichtung S1. Im entgegengesetzten
Fall jedoch (Jsb + jVc
> jVa) verläuft der Strom mit jy
in der [OTT]-Richtung, also entgegengesetzt zur Richtung des Feldes (S1, woraus eine negative Wider-Standscharakteristik
resultiert. Es sei darauf hingewiesen, daß, für den Fall, daß nur die beiden eingezeichneten
Energieflächen vorhanden sind, das Hilfsfeld ohne Beeinträchtigung der beabsichtigten
Wirkung auch in die [011]-Richtung und damit der Verlauf des negativen Widerstandes in die [100]-Richtung
gelegt werden kann, d. h., beide Richtungen können miteinander vertauscht werden.
Für den Fall der vorliegenden Zeichnung tragen die einzig vorhandenen beiden Energieflächen lediglieh
zu jya bei und nicht zu jyb oder jVe . Unter diesen
Bedingungen ist die Erreichung eines negativen Widerstandes in diesem Gebiet schwierig, und es
empfiehlt sich und ist in manchen Fällen von wesentlicher Bedeutung, die Elektronen aus diesen Gebieten
zu entfernen. Dies ist mittels zweier Methoden möglich:
1. Zunächst kann man den Kristall unaxial mechanisch belasten. Es ist bekannt, daß solche unaxialen
Beanspruchungen in geeigneten Richtungen die Bandstruktur mancher Kristalle ändern. Im Fall eines
Materials aus N-Germanium, der den gezeigten Figuren zugrunde liegt, hat eine unaxiale Beanspruchung
in der [011]-Richtung ein Anwachsen der Energie der Elektronen in den Energieflächen in der
[011]-Ebene zur Folge, wodurch die Besetzungszahl dieser Gebiete vermindert wird zugunsten des Gebietes
mit niedrigerer Energie in der [OTT]-Ebene. Dieses ist genau der beabsichtigte Effekt.
Ein einfaches Beispiel dafür, wie man mit dieser Methode einen negativen Widerstand erzeugt, ist in
der F i g. 2 dargestellt. Ein elektrisches Hilfsfeld E ist in der [100]-Richtung vermöge der Spannungsquelle V angelegt. Eine nichtaxiale mechanische Beanspruchung
in der [011]-Richtung wird durch isolierende Schrauben in den flachen Leisten 10 erreicht,
die isoliert von dem N-Germaniumkristall 5 durch die dünnen Plättchen 12 mit der Dicke von
12,5 · 10~3 cm angebracht sind. Die Leisten können gleichzeitig als Gleichstromzuführungen benutzt werden,
um den negativen Widerstand, der unter den genannten Bedingungen in der [110]-Richtung vorliegt,
auszukoppeln. Die Kennlinie des negativen Widerstandes kann man beispielsweise in einem
Oszillographen sichtbar machen. Die beschriebene Anordnung kann ebenfalls innerhalb eines Koaxialkabels
oder eines Hohlrohrleiters angewendet werden. Selbstverständlich kann die mechanische Beanspruchung
des Kristalls auch in anderer Weise vollzogen werden.
2. Durch geeignete Wahl der Hilfsfeldrichtung kann man dessen Aufheizeffekt dazu ausnutzen, die
Elektronen in den Energieflächen der [011]-Ebene auf eine höhere Temperatur zu bringen, um damit
die Besetzungszahl der genannten Gebiete herabzusetzen. Die Größe 6 · μ ■ S wird ein Maximum für
die Energieflächen in der [011]-Ebene, wenn man für das Hilfsfeld die [011]-Richtung wählt. Es erfolgt
dann ein Elektronenübergang aus diesen Tälern zu solchen mit niedriger Energie in der [OTT]-Ebene,
und die Elektronen dieser Ebene gehen über in die Täler niedrigerer Energie in der [01T]-Ebene, was
für die vorliegende Aufgabe erwünscht ist. Für die genannte Orientierung ist es möglich, die erforderlichen
Bedingungen ohne Anwendung einer mechanischen Beanspruchung zu erhalten. Durch zusätzliche
Anwendung eines mechanischen Druckes in derselben [011]-Richtung, in der das Feld angelegt
ist, vergrößert man jedoch den Effekt, wodurch sich die Möglichkeit ergibt, mit niedrigeren Vorspannungen
zur Felderzeugung auszukommen.
Der genannte Effekt ist nicht auf N-Germanium als Halbleitersubstanz beschränkt. Andere Substanzen
können ebenfalls befriedigende Ergebnisse liefern unter folgenden Bedingungen:
1. Das Material muß eine Bandstruktur besitzen, bei der die Majoritätsträger mehrere unterschiedliche
Energieflächen besetzt halten.
2. Die Flächen konstanter Energie sollen Ellipsoide sein, vornehmlich solcher Exzentrizität. Es ist
günstiger für den zu erzeugenden Effekt, wenn die Transversalmasse größer ist als die Longitudinalmasse.
Jedes zusätzliche Vorhandensein von Energieflächen mit kugelförmiger Gestalt ist unerwünscht, doch nicht notwendigerweise
ausgeschlossen.
3. Das verwendete Material muß das Phänomen der »heißen« Elektronen aufweisen in der Weise,
daß das Produkt aus Beweglichkeit und der Relaxationszeit (für Übergänge zwischen den
Tälern) eine abnehmende Tendenz aufweist, wenn die durch das elektrische Feld den Elektronen
zugeführte Energie anwächst.
4. Das Material soll nicht zu viele Ladungsträger besitzen, weil sonst zur Aufheizung der Elektronen
eine zu hohe Energie erforderlich wird.
Es ist bekannt, daß Materialien wie z. B. Silizium vom N-Typ, Bi3Si2, Bi3Te2 und halbleitende Legierungen
von Bi und Sb die Bedingungen 1, 2 und 4 erfüllen, wobei natürlich bei den letztgenannten Materialien
die für N-Germanium in den Zeichnungen angegebenen Bemessungsdaten zu ändern sind.
Claims (6)
1. Elektronisches Festkörperbauelement mit negativem Widerstand, gekennzeichnet
durch die Wahl einer Halbleitersubstanz, deren die Majoritätsträger betreffende anisotrope Bandstruktur
durch mehrere Systeme konstanter Energieflächen in Form von Ellipsoiden mit hoher
Exzentrizität darstellbar ist und in der zusätzlich durch Zufuhr von Energie mittels eines elektrischen
Feldes heiße Elektronen erzeugt werden können derart, daß das Produkt aus Beweglichkeit
und Relaxationszeit für Übergänge dieser Elektronen zwischen verschiedenen Systemen
konstanter Energieflächen bei ansteigendem elektrischem Feld abnimmt.
2. Verfahren zum Erzeugen eines negativen Widerstandes mit Hilfe eines Festkörperbauelementes
gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß an einen Halbleiterkristall mit anisotroper
Bandstruktur entlang einer ersten kristallographischen Achse ein elektrisches Hilfs-
feld angelegt und dieser Kristall entlang der gleichen oder von dieser verschiedenen zweiten
kristallographischen Achse mechanisch, wie z. B. durch Zug, Druck od. dgl., beansprucht wird und
daß entlang einer dritten, von der erstgenannten Richtung verschiedenen Achse ein zweites elektrisches
Feld solcher Größe angelegt wird, daß sich entlang dieser dritten Achse eine negative
Widerstandscharakteristik ergibt.
3. Festkörperbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Halbleitersubstanz
eine Legierung von Wismut und Antimon verwendet ist.
4. Festkörperbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Halbleitersubstanz
Silizium vom N-Leitfähigkeitstyp verwendet ist.
5. Festkörperbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Halbleitersubstanz
Bi3 und Se2 verwendet ist.
6. Festkörperbauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Halbleitersubstanz
BiTe2 verwendet ist.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
709 578/262 4.67 © Bundesdruckerei Berlin
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US250514A US3215862A (en) | 1963-01-10 | 1963-01-10 | Semiconductor element in which negative resistance characteristics are produced throughout the bulk of said element |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1239789B true DE1239789B (de) | 1967-05-03 |
Family
ID=22948058
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEJ25122A Pending DE1239789B (de) | 1963-01-10 | 1964-01-09 | Elektronisches Festkoerperbauelement mit negativem Widerstand |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3215862A (de) |
DE (1) | DE1239789B (de) |
GB (1) | GB998494A (de) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1070261A (en) * | 1963-06-10 | 1967-06-01 | Ibm | A semiconductor device |
DE1300178B (de) * | 1966-02-10 | 1969-07-31 | Varian Associates | Halbleiterbauelement mit negativen Leitwerten bei Mikrowellenfrequenzen |
US3480879A (en) * | 1968-01-04 | 1969-11-25 | Ibm | Bulk oscillator using strained semiconductor |
USB351759I5 (de) * | 1968-09-06 | |||
JPS4834467B1 (de) * | 1970-03-13 | 1973-10-22 | ||
US3871017A (en) * | 1970-07-13 | 1975-03-11 | Massachusetts Inst Technology | High-frequency phonon generating apparatus and method |
US3900881A (en) * | 1970-08-19 | 1975-08-19 | Hitachi Ltd | Negative resistance device and method of controlling the operation |
US3725821A (en) * | 1972-05-17 | 1973-04-03 | Kitaitami Works Of Mitsubishi | Semiconductor negative resistance device |
GB2125617B (en) * | 1982-08-06 | 1985-11-20 | Standard Telephones Cables Ltd | Negative effective mass device |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2909679A (en) * | 1957-02-04 | 1959-10-20 | Abraham George | Hall effect circuit employing a steady state of charge carriers |
US3011070A (en) * | 1958-04-18 | 1961-11-28 | Rca Corp | Hall-effect-type device with reversal of sign of hall-effect voltage |
NL254461A (de) * | 1959-11-03 |
-
1963
- 1963-01-10 US US250514A patent/US3215862A/en not_active Expired - Lifetime
-
1964
- 1964-01-08 GB GB797/64A patent/GB998494A/en not_active Expired
- 1964-01-09 DE DEJ25122A patent/DE1239789B/de active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3215862A (en) | 1965-11-02 |
GB998494A (en) | 1965-07-14 |
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