DE112009000004T5 - Verfahren und Vorrichtung zur Röntgenfluoreszenzanalyse - Google Patents

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Abstract

Verfahren zur Röntgenfluoreszenzanalyse, wobei durch Bestrahlung eines Untersuchungsobjektes mit einem Primärröntgenstrahl Röntgenfluoreszenzstrahlung erzeugt und durch einen Detektor erfasst und ausgewertet wird mit folgenden weiteren Verfahrensschritten:
– Formung des Röntgenstrahls der Primärröntgenstrahlung durch eine Kapillaroptik,
– Einbringung verschiedener Elemente auf einem Schieber und der Markerproben in den Strahlengang der Primärröntgenstrahlung zwischen dem Detektor und dem Untersuchungsobjekt,
– Erfassen und Auswerten der von der Standardprobe auf dem Schieber und der Markerprobe sowie dem Untersuchungsobjekt ausgehenden Fluoreszenzstrahlung.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Röntgenfluoreszenzanalyse und ist anwendbar vorzugsweise zur Überwachung und Optimierung technologischer Prozesse beispielsweise bei der Herstellung von Solarzellen sowie bei der Qualitätsüberwachung der Herstellungsprozesse von festen oder flüssigen Produkten. Das Messprinzip besteht dabei in der Bestimmung des Anteils verschiedener Elemente in dem Material auf Basis der Intensität von Fluoreszenzlinien dieser Elemente.
  • Physikalische Analysenmethoden, wie die Röntgenfluoreszenzspektroskopie und Röntgendiffraktometrie, haben sich zu leistungsfähigen Informationsquellen für Stoff- und Strukturparameter in der Forschung und zunehmend auch im industriellen Prozess etabliert. Der Integration solcher physikalischer Methoden und Geräte in technologische Prozesse standen und stehen Probleme der Integrationsfähigkeit, der Zuverlässigkeit, der Größe und des Preises entgegen.
  • Im Gegensatz zum Einsatz von Geräten im Labor unterliegen Prozessmessgeräte erhöhten Belastungen, wie hoher Temperaturen, Schwingungen, elektrische und magnetische Felder, Kontaminationen, chemische Einflüsse, schwankende Versorgungsmedien und anderes. Diesen Bedingungen muss bei der Konzipierung, Konstruktion und Fertigung von Prozessmessgeräten Rechnung getragen werden.
  • Außerdem ist eine wichtige Forderung die kompakte Gestaltung und ein geringeres Gewicht des gesamten Messkopfes, damit dieser problemlos in die technologische Linie integriert werden kann. Damit diese Forderung erfüllt werden kann, müssen die einzelnen Komponenten, wie z. B. die Röntgenquelle, der Detektor zur Registrierung der Sekundärstrahlung und andere Bauteile ebenfalls kompakt gestaltet sein. In der letzten Zeit wurden Mikrofokus-Röntgenröhren hoher Brillanz entwickelt. Ein weiterer bedeutender Forschritt in der Entwicklung kompakter analytischer Geräte wurde durch das Erscheinen von kompakten, energie-dispersiven Detektoren auf dem Markt erreicht, die beispielsweise mit Peltier-Elementen gekühlt werden. Diese Detektoren sind Si-PIN-Detektoren oder Silizium-Drift-Detektoren (SDD). Eine weitere wichtige Rolle bei der Realisierung derartiger Messköpfe spielt die Entwicklung neuartiger Röntgenkapillaroptiken. Die Möglichkeit eines effektiven Transports der Röntgenstrahlung von der Quelle zum Untersuchungsobjekt, das sich in vielen Fällen weit entfernt von der Quelle befindet, wird durch solche Optiken realisiert.
  • Aus der DE 44 08 057 B4 ist eine Vorrichtung zur Röntgenfluoreszenzspektroskopie und deren Verwendung zur kontinuierlichen Schichtdickenmessung bekannt, welche aus einer Röntgenstrahlungsquelle zur Anregung und einem Detektor zum Empfang der Röntgenfluoreszenzstrahlung besteht, wobei zwischen Strahlungsquelle und Messobjekt mindestens ein Optikelement, bestehend aus einer Vielzahl dünner hohler Kapillaren und in unmittelbarer Nähe zum Messobjekt ein als Ringdetektor ausgebildeter Detektor angeordnet ist.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren und eine Vorrichtung zu schaffen, welche mit einfachen Mitteln eine effektive, zuverlässige und reproduzierbare Erfassung der Messergebnisse auch unter extremen Einsatzbedingungen sowie eine lange Lebensdauer der Geräte gewährleisten.
  • Diese Aufgabe wird gelöst durch die Merkmale im Anspruch 1 und 8. Zweckmäßige Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen enthalten.
  • Voraussetzung für die Realisierung der Erfindung sind intensiv strahlende Quellen mit möglichst hoher Brillanz zur Anregung von Spektren, optische Systeme zur Verringerung von Strahlungsverlusten sowohl zwischen Quelle und Probe als auch zwischen Probe und Detektor sowie Detektoren für den Strahlennachweis mit hoher Empfindlichkeit und spektraler Auflösung.
  • Ein besonderer Vorteil der Erfindung besteht darin, dass trotz der extremen Bedingungen, in denen die erfindungsgemäßen Geräte industriell zum Einsatz kommen (hohe Temperaturen, mechanische Erschütterungen, äußere elektro-magnetische Felder und ähnliches) eine stabile Reproduzierbarkeit der Messergebnisse und eine lange Lebensdauer der Geräte gewährleistet wird, indem durch Bestrahlung eines Untersuchungsobjektes mit einem Primärröntgenstrahl Röntgenfluoreszenzstrahlung erzeugt und durch einen Detektor erfasst und ausgewertet wird mit folgenden weiteren Verfahrensschritten:
    • – Formung des Primärröntgenstrahls durch eine Kapillaroptik,
    • – Einbringung von Standardproben und Markerproben in den Strahlengang des Primärröntgenstrahls zwischen dem Detektor und Untersuchungsobjekt,
    • – Erfassen und Auswerten der von der Standardprobe und der Markerprobe sowie dem Untersuchungsobjekt ausgehenden Fluoreszenzstrahlung.
  • Ein weiterer Vorteil der Erfindung resultiert aus der universellen Einsetzbarkeit und dem kompakten Aufbau der Geräte, bestehend aus einem Messkopf mit Röntgenröhre, Kapillaroptik, Kühlsystem und Detektor, welche dadurch gekennzeichnet sind, dass zwischen Detektor und Untersuchungsobjekt im Primärstrahlengang der Röntgenröhre eine Standardprobe und eine Markerprobe angeordnet ist.
  • Die Erfindung soll nachstehend anhand von zumindest teilweise in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert werden. Es zeigen:
  • 1 die schematische Darstellung der Messmethodik mit einem einfachen Detektor,
  • 1 die schematische Darstellung der Messmethodik mit einem Ringdetektor,
  • 3 den prinzipiellen Aufbau eines erfindungsgemäßen Messkopfes,
  • 4 das Spektrum eines Schichtsystems einer Solarzelle.
  • Wie in den 1 bis 3 dargestellt, besteht die Vorrichtung zur Röntgenfluoreszenzanalyse aus einem Messkopf 1 mit Röntgenröhre 2, Kapillaroptik 3, Kühlsystem 4 und Detektor 5. Der Detektor 5 kann als einfacher Einzeldetektor oder als Mehrkanal-Detektor ausgebildet sein und dient dem Empfang der Fluoreszenzstrahlung 10. Der Mehrkanal-Detektor ist im vorliegenden Ausführungsbeispiel ein Ringdetektor 5a, bei welchen die Primärröntgenstrahlung 9 durch die Öffnung des Ringdetektors auf das Untersuchungsobjekt 6 geleitet wird. Der Ringdetektor 5a ist im vorliegenden Ausführungsbeispiel als ein Mehrkanal-Detektor ausgebildet, wobei vier oder mehr einzelne Detektoren auf einer Kreisbahn angeordnet sind und so den Ringdetektor 5a bilden. Zwischen dem Detektor 5 oder dem Ringdetektor 5a und dem Untersuchungsobjekt 6 ist im Strahlengang der Primärröntgenstrahlung 9 der Röntgenröhre 2 eine Standardprobe 7 mit vier möglichen Positionen und eine Markerprobe 8 angeordnet.
  • Der Schieber 7 bringt im vorliegenden Ausführungsbeispiel die folgenden drei Elemente in den Strahlengang:
    • – einen Streukörper aus Kunststoff, z. B. PMMA zur Kontrolle des Primärstrahlspektrums,
    • – eine Standardprobe zur Kalibrierung des Systems,
    • – eine Metallprobe, die z. B. aus Messing bestehen kann, mit deren Hilfe die Energieskala durch Anregung der Fluoreszenzlinien Cu und Zn kalibriert werden kann.
  • Die vierte Position besteht aus einer Öffnung, durch welche die zu untersuchende Probe bestrahlt werden kann.
  • Die Markerprobe 8 besteht aus zwei Elementen, deren Fluoreszenzlinien in verschiedenen Bereichen des Energiespektrums liegen, so dass eine separate Korrektur der Intensitätsänderungen über das Spektrum realisierbar ist.
  • Die Röntgenröhre 2 ist im vorliegenden Ausführungsbeispiel eine Mikrofokus-Röntgenröhre und die Kapillaroptik 3 ist eine Polykapillar-Röntgenlinse. Als Kühlsystem 4 kann sowohl eine Luftkühlung als auch eine Flüssigkeitskühlung zum Einsatz gelangen.
  • Die in den 1 und 2 schematisch dargestellte Messmethodik basiert auf folgenden Verfahrensschritten:
    • – Formung des Röntgenstrahls der Primärröntgenstrahlung 9 durch eine Kapillaroptik 3,
    • – Einbringung verschiedener Elemente auf dem Schieber 7 und der Markerproben 8 in den Strahlengang der Primärröntgenstrahlung 9 zwischen dem Detektor 5 und dem Untersuchungsobjekt 6,
    • – Erfassen und Auswerten der von der Standardprobe 7 und der Markerprobe 8 sowie dem Untersuchungsobjekt 6 ausgehenden Fluoreszenzstrahlung 10.
  • Nachfolgend wird als konkretes Beispiel zur Verwendung der Röntgenfluoreszenzanalyse-Methodik zur Kontrolle technologischer Prozesse die kontinuierliche Messung von aufgetragenen Dünnschichtmaterialien auf ein Substrat für die Herstellung von Solarzellen beschrieben. Hierbei wurde der Messkopf 1 speziell für das Schichtsystem CIGS (Kupfer-Indium-Gallium-Selen) entwickelt. Das Schichtsystem wird auf ein Glassubstrat aufgebracht, wobei das Glas zuvor mit einer Molybdänschicht versehen wurde, die als Elektrode dient. Bei der Bestimmung von Schichtdicken von CIGS-Solarzellen sind derartige Einsatzbedingungen zu beachten, wie
    • – Schichtdicke im Submikrometerbereich,
    • – geringes angeregtes Volumen,
    • – gegenseitige Beeinflussung der Fluoreszenzlinien durch Absorption,
    • – kompliziertes physikalisches Modell für quantitative Analyse.
  • Auf Grund der geringen Menge des zu analysierenden Materials weist das entsprechende Röntgenfluoreszenzanalysesignal nur eine geringe Intensität auf. Damit die vorgegebene Genauigkeit bei einer eingeschränkten Messdauer erreicht werden kann, sind sowohl eine hohe Intensität der Primärröntgenstrahlung 9 als auch eine hohe Effektivität bei der Registrierung der Fluoreszenzstrahlung 10 erforderlich.
  • 2 zeigt die im Messkopf 1 realisierte röntgen-optische Anordnung. Zum Einsatz gelangt im vorliegenden Ausführungsbeispiel eine hochbrillante Mikrofokus-Röntgenröhre 2 in Kombination mit einer hocheffizienten Kapillaroptik 3. Die Forderung nach einer effektiven Registrierung der Fluoreszenzstrahlung 10 wird durch die Verwendung eines Detektors 5a mit einer großen empfindlichen Fläche erfüllt. Dabei hat der Detektor 5a eine ringförmige Geometrie, die aus einzelnen Silizium-Drift-Detektoren besteht, die um eine zentrale Öffnung herum angeordnet sind. Im vorliegenden Ausführungsbeispiel ist der Ringdetektor 5a ein Vier-Kanal-System.
  • Die Primärröntgenstrahlung 9 wird mit Hilfe der Kapillaroptik 3 durch die zentrale Öffnung im Detektorring des Ringdetektors 5a auf die Oberfläche des Untersuchungsobjektes 6 fokussiert, wobei der Ringdetektor 5a möglichst nahe zum Untersuchungsobjekt 6 positioniert ist. Durch die Summierung der effektiven Flächen der einzelnen Detektorzellen und eine günstige Geometrie der Primärröntgenstrahlung 9, des Untersuchungsobjektes 6 und der Detektorzellen des Ringdetektors 5a wird eine möglichst große Anzahl der Röntgenfluoreszenzanalytik-Photonen, die vom Untersuchungsobjekt 6 emittiert werden, registriert.
  • 3 zeigt den Aufbau des Messkopfes 1 in Gesamtdarstellung. Im vorliegenden Ausführungsbeispiel werden die Röntgenröhre 2 und die Peltier-Kühlung des Ringdetektors 5a an der warmen Seite entweder mit Luft oder bei zu großer Außentemperatur mit Wasser gekühlt.
  • Unter anderen Einsatzbedingungen sind auch Luftventilatoren ausreichend für die Kühlung der eingesetzten Komponenten. Wenn jedoch der Messkopf 1 in eine technologische Prozesslinie integriert ist, wobei die Temperatur des Untersuchungsobjektes 6 noch relativ hoch ist, ist eine intensive Kühlung erforderlich. Unter diesen Bedingungen können zur Gewährleistung der Funktion für den Detektor 5a, die Röntgenröhre 2 und weiterer Komponenten zusätzliche Wasserkühlmanschetten zum Einsatz kommen, die in der 3 nicht dargestellt sind.
  • Zur Erzielung von zuverlässigen Messergebnissen, einer einfachen Bedienung und kurzfristigen Bestimmung des Zustandes der Vorrichtung wurden in der Primärröntgenstrahlung 9 zwischen dem Detektor 5a und dem Untersuchungsobjekt 6 die folgenden Proben angeordnet:
    • 1. Ein Schieber 7 mit vier möglichen Positionen, welcher die folgenden drei Elemente in den Strahlengang bringt: – einen Streukörper aus Kunststoff, z. B. PMMA zur Kontrolle des Primärstrahlspektrums, – eine Standardprobe zur Kalibrierung des Systems, – eine Metallprobe, die z. B. aus Messing bestehen kann, mit deren Hilfe die Energieskala durch Anregung der Fluoreszenzlinien Cu und Zn kalibriert werden kann. Die vierte Position besteht aus einer Öffnung, durch welche die zu untersuchende Probe bestrahlt werden kann.
    • 2. Eine Markerprobe 8 mit einem aus zwei Elementen bestehenden Stoff als Intensitätsmonitor für die Primärröntgenstrahlung 9. Die Fluoreszenzlinien dieser Elemente liegen in verschiedenen Bereichen des Energiespektrums, so dass eine separate Korrektur der Intensitätsänderungen über das Spektrum möglich ist. Die Markerprobe 8 wird in der Primärröntgenstrahlung 9 zwischen Untersuchungsobjekt 6 und Ringdetektor 5a angeordnet. Nach jedem Messzyklus werden die Nettowerte der Linien aller Elemente auf die Nettowerte der Markerlinien normiert. Dadurch können auch bei relativ starken Intensitätsveränderungen der Primärröntgenstrahlung 9 korrekte Parameterwerte des Schichtsystems bestimmt werden. Auf Grund dieser Maßnahmen ist es gelungen, eine stabile, relative Genauigkeit der Messung der Schichtdicken in den Grenzen von 0,2% bis 2% über einen längeren Zeitraum von mindestens einer Woche zu erreichen. Dabei beträgt die Dauer eines Messzyklus nur 5 Sekunden.
  • Der Abstand zwischen Detektor 5a und Untersuchungsobjekt 6 wird mittels Laser kontinuierlich gemessen und ausgewertet.
  • In 4 ist ein typisches Spektrum einer CIGS-Probe gezeigt. Die Intensität der Elemente Cu, Ga und Se sind relativ hoch, während die Intensität vom Element In deutlich geringer ist. Außerdem interferieren die Linien der Elemente Ca und K, die im Glassubstrat enthalten sind, mit den L-Linien des Elementes In.
  • Mit dem vorliegenden Ausführungsbeispiel wurde eine relative Messgenauigkeit der Dicke der Indium-Schicht besser als 2% erzielt.
  • Die Erfindung beschränkt sich in ihrer Ausführungsform nicht auf die vorstehend angegebenen bevorzugten Ausführungsbeispiele. Vielmehr ist eine Anzahl von Varianten denkbar, die von dem erfindungsgemäßen Verfahren und der erfindungsgemäßen Anordnung auch bei grundsätzlich anders gearteten Ausführungen Gebrauch machen.
  • Zusammenfassung
  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Röntgenfluoreszenzanalyse und ist anwendbar vorzugsweise zur Überwachung und Optimierung technologischer Prozesse beispielsweise bei der Herstellung von Solarzellen.
  • Ein besonderer Vorteil der Erfindung besteht darin, dass trotz der extremen Bedingungen, in denen die erfindungsgemäßen Geräte industriell zum Einsatz kommen (hohe Temperaturen, mechanische Erschütterungen, äußere elektro-magnetische Felder und ähnliches) eine stabile Reproduzierbarkeit der Messergebnisse und eine lange Lebensdauer der Geräte gewährleistet wird, indem durch Bestrahlung eines Untersuchungsobjektes mit einem Primärröntgenstrahl Röntgenfluoreszenzstrahlung erzeugt und durch einen Detektor erfasst und ausgewertet wird mit folgenden weiteren Verfahrensschritten:
    • – Formung des Primärröntgenstrahls durch eine Kapillaroptik,
    • – Einbringung von Standardproben und Markerproben in den Strahlengang des Primärröntgenstrahls zwischen dem Detektor und Untersuchungsobjekt,
    • – Erfassen und Auswerten der von der Standardprobe und der Markerprobe sowie dem Untersuchungsobjekt ausgehenden Fluoreszenzstrahlung.
  • 1
    Messkopf
    2
    Röntgenröhre
    3
    Kapillaroptik
    4
    Kühlsystem
    5
    Detektor
    5a
    Ringdetektor
    6
    Untersuchungsobjekt
    7
    Schieber mit möglichen vier Positionen
    8
    Markerprobe
    9
    Primärröntgenstrahlung
    10
    Fluoreszenzstrahlung
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - DE 4408057 B4 [0005]

Claims (14)

  1. Verfahren zur Röntgenfluoreszenzanalyse, wobei durch Bestrahlung eines Untersuchungsobjektes mit einem Primärröntgenstrahl Röntgenfluoreszenzstrahlung erzeugt und durch einen Detektor erfasst und ausgewertet wird mit folgenden weiteren Verfahrensschritten: – Formung des Röntgenstrahls der Primärröntgenstrahlung durch eine Kapillaroptik, – Einbringung verschiedener Elemente auf einem Schieber und der Markerproben in den Strahlengang der Primärröntgenstrahlung zwischen dem Detektor und dem Untersuchungsobjekt, – Erfassen und Auswerten der von der Standardprobe auf dem Schieber und der Markerprobe sowie dem Untersuchungsobjekt ausgehenden Fluoreszenzstrahlung.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Kalibrierung der Messergebnisse erfolgt.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass nach jedem Messzyklus die Linien aller Elemente auf die Nettowerte der Markerlinien normiert werden.
  4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass mit Hilfe des Schiebers die folgenden Bestandteile in den Strahlengang gebracht werden können: ein Streukörper zur Kontrolle des Spektrums der Primärstrahlung, eine CIGS-Probe zur Kontrolle der Stabilität der Kalibrierung bezüglich Zusammensetzung und Dicke der Schichten, eine Metallprobe zur Kontrolle der Stabilität der Kalibrierung bezüglich der Energieskala.
  5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Markerprobe aus zwei verschiedenen Elementen besteht, welche als Intensitätsmonitor für die Primärstrahlung wirken und die Fluoreszenzlinien dieser Elemente in verschiedenen Bereichen des Energiespektrums liegen, so dass eine separate Korrektur der Intensitätsänderungen über das Spektrum realisierbar ist.
  6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Abstand zwischen Detektor und Untersuchungsobjekt gemessen und ausgewertet wird.
  7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Abstandsmessung mittels Laser erfolgt.
  8. Vorrichtung zur Röntgenfluoreszenzanalyse, bestehend aus einem Messkopf (1) mit Röntgenröhre (2), Kapillaroptik (3), Kühlsystem (4) und Detektor (5), dadurch gekennzeichnet, dass zwischen Detektor (5) und Untersuchungsobjekt (6) im Strahlengang der Primärröntgenstrahlung (9) der Röntgenröhre (2) ein Schieber (7) mit vier möglichen Positionen und eine Markerprobe (8) angeordnet ist.
  9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Schieber (7) in drei Positionen folgende Elemente in den Strahlengang bringen kann: – einen Streukörper aus Kunststoff, z. B. PMMA zur Kontrolle des Primärstrahlspektrums, – eine Standardprobe zur Kalibrierung des Systems, – eine Metallprobe, die z. B. aus Messing bestehen kann, mit deren Hilfe die Energieskala durch Anregung der Fluoreszenzlinien Cu und Zn kalibriert werden kann und – die vierte Position aus einer Öffnung besteht, durch welche die zu untersuchende Probe bestrahlt werden kann.
  10. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Markerprobe (8) aus zwei Elementen besteht, deren Fluoreszenzlinien in verschiedenen Bereichen des Energiespektrums liegen, so dass eine separate Korrektur der Intensitätsänderungen über das Spektrum realisierbar ist.
  11. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Detektor (5) als Ringdetektor (5a) ausgebildet ist.
  12. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Röntgenröhre (2) eine Mikrofokus-Röntgenröhre ist und die Kapillaroptik (3) eine Polykapillar-Röntgenlinse ist.
  13. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass das Kühlsystem (4) eine Luftkühlung und/oder eine Flüssigkeitskühlung ist.
  14. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen Detektor (5a) und Untersuchungsobjekt (6) eine Laserentfernungsmesseinrichtung angeordnet ist.
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012204350A1 (de) * 2012-03-20 2013-09-26 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Energie-Kalibrierung quantenzählender Röntgendetektoren in einem Dual-Source Computertomographen
DE102012204360A1 (de) * 2012-03-20 2013-09-26 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Energiekalibrierung eines quantenzählenden CT-Detektors mittels Fluoreszenzstrahlung
US8696201B2 (en) 2010-11-19 2014-04-15 Siemens Aktiengesellschaft Device and method for calibrating an X-ray detector, calibration apparatus and X-ray apparatus
DE102016014804A1 (de) * 2015-12-15 2017-06-22 Thermo Gamma-Metrics Pty Ltd. Xrf-detektor und vorrichtung zur quellenkalibrierung
US10247836B2 (en) 2015-12-15 2019-04-02 Thermo Gamma-Metrics Pty Ltd Resolution control in X-ray fluorescence spectroscopy systems
US10386342B2 (en) 2008-01-25 2019-08-20 Dionex Softron Gmbh Sample injector for liquid chromatography, particularly for high performance liquid chromatography
US11307178B2 (en) 2015-06-25 2022-04-19 Dionex Softron Gmbh Sampler for liquid chromatography

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4408057B4 (de) 1994-03-07 2008-12-24 Ifg-Institute For Scientific Instruments Gmbh Vorrichtung zur Röntgenfluoreszenzspektroskopie und deren Verwendung

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4959848A (en) * 1987-12-16 1990-09-25 Axic Inc. Apparatus for the measurement of the thickness and concentration of elements in thin films by means of X-ray analysis
US6111929A (en) * 1997-03-14 2000-08-29 Xrf Corporation Scanning X-ray fluorescence analyzer
KR101374308B1 (ko) * 2005-12-23 2014-03-14 조르단 밸리 세미컨덕터즈 리미티드 Xrf를 사용한 층 치수의 정밀 측정법

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4408057B4 (de) 1994-03-07 2008-12-24 Ifg-Institute For Scientific Instruments Gmbh Vorrichtung zur Röntgenfluoreszenzspektroskopie und deren Verwendung

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10386342B2 (en) 2008-01-25 2019-08-20 Dionex Softron Gmbh Sample injector for liquid chromatography, particularly for high performance liquid chromatography
US11156589B2 (en) 2008-01-25 2021-10-26 Dionex Softron Gmbh Sample injector for liquid chromatography, particularly for high performance liquid chromatography
US11802854B2 (en) 2008-01-25 2023-10-31 Dionex Softron Gmbh Sample injector for liquid chromatography, particularly for high performance liquid chromatography
US8696201B2 (en) 2010-11-19 2014-04-15 Siemens Aktiengesellschaft Device and method for calibrating an X-ray detector, calibration apparatus and X-ray apparatus
DE102012204350A1 (de) * 2012-03-20 2013-09-26 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Energie-Kalibrierung quantenzählender Röntgendetektoren in einem Dual-Source Computertomographen
DE102012204360A1 (de) * 2012-03-20 2013-09-26 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Energiekalibrierung eines quantenzählenden CT-Detektors mittels Fluoreszenzstrahlung
DE102012204350B4 (de) 2012-03-20 2021-12-02 Siemens Healthcare Gmbh Verfahren zur Energie-Kalibrierung quantenzählender Röntgendetektoren in einem Dual-Source Computertomographen
US11307178B2 (en) 2015-06-25 2022-04-19 Dionex Softron Gmbh Sampler for liquid chromatography
DE102016014804A1 (de) * 2015-12-15 2017-06-22 Thermo Gamma-Metrics Pty Ltd. Xrf-detektor und vorrichtung zur quellenkalibrierung
US10012604B2 (en) 2015-12-15 2018-07-03 Thermo Gamma-Metrics Pty Ltd XRF detector and source calibration apparatus
US10247836B2 (en) 2015-12-15 2019-04-02 Thermo Gamma-Metrics Pty Ltd Resolution control in X-ray fluorescence spectroscopy systems
AU2018226434B2 (en) * 2015-12-15 2020-07-09 Thermo Gamma-Metrics Pty Ltd XRF detector and source calibration apparatus

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Publication number Publication date
DE112009000004B4 (de) 2012-03-08

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