DE112006002693T5 - Informationsspeichervorrichtung - Google Patents
Informationsspeichervorrichtung Download PDFInfo
- Publication number
- DE112006002693T5 DE112006002693T5 DE112006002693T DE112006002693T DE112006002693T5 DE 112006002693 T5 DE112006002693 T5 DE 112006002693T5 DE 112006002693 T DE112006002693 T DE 112006002693T DE 112006002693 T DE112006002693 T DE 112006002693T DE 112006002693 T5 DE112006002693 T5 DE 112006002693T5
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- shape memory
- memory alloy
- alloy film
- thermoelectric module
- information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 229910001285 shape-memory alloy Inorganic materials 0.000 claims abstract description 38
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 26
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 42
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 25
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 10
- 238000012217 deletion Methods 0.000 claims description 7
- 230000037430 deletion Effects 0.000 claims description 7
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 2
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 6
- 229910000734 martensite Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000005679 Peltier effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 1
- 238000000609 electron-beam lithography Methods 0.000 description 1
- 238000004049 embossing Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000004549 pulsed laser deposition Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N10/00—Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/70—Nanostructure
- Y10S977/832—Nanostructure having specified property, e.g. lattice-constant, thermal expansion coefficient
- Y10S977/833—Thermal property of nanomaterial, e.g. thermally conducting/insulating or exhibiting peltier or seebeck effect
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/84—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
- Y10S977/849—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
- Y10S977/86—Scanning probe structure
- Y10S977/874—Probe tip array
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/902—Specified use of nanostructure
- Y10S977/932—Specified use of nanostructure for electronic or optoelectronic application
- Y10S977/943—Information storage or retrieval using nanostructure
Landscapes
- Semiconductor Memories (AREA)
- Shaping By String And By Release Of Stress In Plastics And The Like (AREA)
Abstract
ein Substrat;
einen Formgedächtnislegierungs-Film, der auf dem Substrat hergestellt ist, wobei der Formgedächtnislegierungs-Film eingerichtet ist, digitale Informationen zu empfangen und/oder zuzuführen und/oder zu speichern; und
zumindest ein thermoelektrisches Modul, das durch Nanoprägen zwischen dem Substrat und dem Formgedächtnislegierungs-Film vorgesehen ist, wobei das zumindest eine thermoelektrische Modul eingerichtet ist, zumindest einige der digitalen Informationen selektiv von dem Formgedächtnislegierungs-Film zu löschen.
Description
- TECHISCHES GEBIET
- Die vorliegende Offenbarung betrifft im Allgemeinen Informationsspeichervorrichtungen, und im Besonderen Informationsspeichervorrichtungen mit thermoelektrischen Modulen.
- HINTERGRUND
- Formgedächtnislegierungen (SMA von shape memory alloys) sind teilweise wegen ihrer Fähigkeit, eine reversible Phasentransformation zu erfahren, bei einer breiten Vielfalt von Anwendungen angewandt worden. Es ist gezeigt worden, dass die thermisch induzierte Martensittransformation von geprägten SMA-Filmen eine beinahe vollständige Prägungswiederherstellung im Nanomaßstab erlaubt. Wenn ein solcher Film als Informationsspeichermedium verwendet werden würde, würde das Löschen und Wiederschreiben von Informationen auf dem Film im Allgemeinen ein schnelles Erwärmen und Abkühlen der SMA umfassen, sodass die Temperatur der Prägungen sich über und unter die Martensittransformationstemperatur der SMA bewegen würde. Eine passive Abkühlung würde jedoch wahrscheinlich nicht die gewünschte Temperaturantwort erreichen. Ferner würde eine derartige Abkühlung keine stellenweise Wegnahme von gespeicherten Informationen zulassen.
- Daher wäre es erwünscht, eine hochdichte Informationsspeichervorrichtung zu besitzen, die die Fähigkeit für ein relativ schnelles, örtlich festgelegtes Erwärmen und Abkühlen aufweist.
- ZUSAMMENFASSUNG
- Die vorliegende Offenbarung löst bzw. beseitigt im Wesentlichen die oben beschriebenen Probleme und/oder Nachteile, indem sie eine Informationsspeichervorrichtung mit einer relativ hohen Speicherdichte und einer Wiederbeschreibbarkeit mit einer relativ hohen Geschwindigkeit bereitstellt. Die Informationsspeichervorrichtung umfasst ein Substrat und einen Formgedächtnislegierungs-Film, der auf dem Substrat hergestellt ist. Der Formgedächtnislegierungs-Film kann digitale Informationen empfangen, zuführen und speichern. Ein thermoelektrisches Modul oder mehrere thermoelektrische Module ist/sind zwischen dem Substrat und dem Formgedächtnislegierungs-Film durch Nanoprägen oder Prägelithographie hergestellt. Das thermoelektrische Modul/die thermoelektrischen Module ist/sind ausgebildet, um zumindest einige der digitalen Informationen selektiv von dem Formgedächtnislegierungs-Film zu löschen.
- KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
- Ziele, Merkmale und Vorteile von Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung können unter Bezugnahme auf die folgenden ausführliche Beschreibung und Zeichnungen deutlich werden, in denen:
-
1 eine halb schematische Explosionsperspektivansicht einer Ausführungsform der Informationsspeichervorrichtung ist; und -
2 ein Flussdiagramm ist, das eine Ausführungsform des Verfahrens der Verwendung einer Ausführungsform der Informationsspeichervorrichtung zeigt. - BESCHREIBUNG DER AUSFÜHRUNGSFORMEN
- Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung kombinieren vorteilhaft Nanoprägen oder Prägelithographie, einen Formgedächtnislegierungs-Film und thermoelektrische Module in einer Informationsspeichervorrichtung. Man nimmt an, dass die Kombination aus Nanoprägen, dem SMA-Film und den thermoelektrischen Modulen eine hochdichte Speicherung und ein schnelles Löschen und eine schnelle Wiederbeschreibbarkeit von digitalen Informationen zulässt.
- Nun ist in
1 eine Ausführungsform der Informationsspeichervorrichtung10 gezeigt. Die Vorrichtung10 umfasst im Allgemeinen ein Substrat12 , einen Formgedächtnislegierungs-Film (SMA-Film)14 , der auf dem Substrat12 hergestellt ist, und ein oder mehrere thermoelektrische Module16 , die zwischen dem Substrat12 und dem SMA-Film14 durch Nanoprägen vorgesehen sind. - Es ist zu verstehen, dass jedes geeignete Substrat
12 , auf dem thermoelektrische Module durch Nanoprägen vorgesehen werden können, gewählt werden kann. In einer Ausführungsform ist das Substrat12 Silizium. - Wie es gezeigt ist, sind auf dem Substrat
12 ein oder mehrere thermoelektrische Module16 durch Nanoprägen vorgesehen. Es ist zu verstehen, dass jedes geeignete Nanoprägeverfahren dazu verwendet werden kann, das Modul/die Module16 herzustellen. Ein nicht einschränkendes Beispiel eines derartigen Verfahrens umfasst Elektronenstrahllithographie. Es ist darüber hinaus zu verstehen, dass die thermoelektrischen Module16 in jedem gewünschten Muster und/oder in jeder gewünschten Konfigu ration auf der Oberfläche des Substrats12 durch Nanoprägen vorgesehen sein können. Darüber hinaus kann/können das thermoelektrische Modul/die thermoelektrischen Module16 irgendeine geeignete Dicke haben. - In einer Ausführungsform ist/sind das thermoelektrische Modul/die thermoelektrischen Module
16 als ein Dünnfilmmodul hergestellt. Im Allgemeinen ist das thermoelektrische Dünnfilmmodul16 auf einem Substrat12 hergestellt, und das Modul16 kann im Allgemeinen eine Dicke aufweisen, die im Bereich von etwa einem Zehntel Mikrometer bis etwa zehn Mikrometer liegt. - Wie es nachstehend ausführlicher beschrieben wird, ist/sind das thermoelektrische Modul/die thermoelektrischen Module
16 ausgebildet, um digitale Informationen, die in dem SMA-Film14 gespeichert sind, selektiv, entweder lokal oder global, zu löschen. Daher können die thermoelektrischen Module16 elektrische Leitungen18 ,20 aufweisen, die funktional daran angeschlossen sind, sodass diesen elektrischer Strom zugeführt werden kann. Der elektrische Strom unterstützt vorteilhaft das Löschen der gespeicherten Informationen. - Der Formgedächtnislegierungs-Film
14 ist auf dem Substrat12 derart hergestellt, dass er das Substrat12 und jegliche durch Nanoprägen darauf hergestellten thermoelektrischen Module16 im Wesentlichen berührt. Es kann jede geeignete Formgedächtnislegierung verwendet werden. In einer Ausführungsform enthält der SMA-Film14 zumindest eine Legierung von Legierungen auf Aluminiumbasis, Legierungen auf Eisenbasis, Legierungen auf Kupferbasis, Legierungen auf Nickelbasis und Mischungen davon. - Es kann jede geeignete Abscheidungstechnik dazu verwendet werden, den SMA-Film
14 herzustellen. Nicht einschränkende Beispiele derartiger Abscheidungstechniken umfassen Abscheidung aus der Dampfphase (PVD) (wobei nicht einschränkende Beispiele davon Sputtern, gepulste Laserabscheidung und dergleichen umfassen), chemische Abscheidung aus der Dampfphase (CVD), elektrochemische Abscheidung, stromlose Abscheidung und/oder Kombinationen davon. - Der SMA-Film
14 ist in der Lage, digitale Informationen22 zu empfangen, zuzuführen und/oder zu speichern. In einer Ausführungsform werden die digitalen Informationen22 dem SMA-Film14 über eine Nanoprägevorrichtung24 zugeführt. Es ist zu verstehen, dass die Nanoprägevorrichtung24 auch beispielsweise in einem Kartierungs- oder Abbildungsmodus verwendet werden kann, um gespeicherte Daten von verschiedenen Stellen auf dem SMA-Film14 abzurufen. In einem nicht einschränkenden Beispiel weist der SMA-Film14 eine Speicherdichte auf, die in einem Bereich von etwa siebenhundert Gbit/in2 bis etwa neunhundert Gbit/in2 liegt. - Nun ist in
2 eine Ausführungsform eines Verfahrens zum Verwenden der Vorrichtung10 gezeigt. Im Allgemeinen umfasst das Verfahren, dass Informationen22 durch Nanoprägen in den SMA-Film14 hinein geschrieben wird (wie es vorstehend beschrieben wurde), wie es bei Bezugszeichen26 gezeigt ist, und ein Löschen von einigen oder allen Informationen22 von dem SMA-Film14 bewirkt wird, wie es bei Bezugszeichen28 gezeigt ist. Das Verfahren kann ferner umfassen, dass neue Informationen in den SMA-Film14 wiedereingeschrieben werden, wie es bei Bezugszeichen30 gezeigt ist. - Genauer wird ein Löschen von einigen oder allen Informationen
22 von dem SMA-Film14 bewerkstelligt, indem ein elektrischer Strom mit einer Polarität selektiv einem oder mehreren der thermoelektrischen Module16 , die durch Nanoprägen auf dem Substrat12 vorgesehen sind, zugeführt wird. Der elektrische Strom mit einer Polarität kann zu dem thermoelektrischen Modul/zu den thermoelektrischen Modulen16 über die funktional angeschlossenen elektrischen Leitungen18 ,20 übertragen werden. Es ist zu verstehen, dass die Informationen22 an einem Bereich des SMA-Films14 benachbart zu dem thermoelektrischen Modul/den thermoelektrischen Modulen16 , das/die den Strom mit einer vorbestimmten Polarität empfängt/empfangen, gelöscht werden. Daher können die Informationen22 lokal oder global zumindest teilweise davon abhängig gelöscht werden, welches thermoelektrische Modul/welche thermoelektrischen Module16 den elektrischen Strom mit einer Polarität empfängt/empfangen. - Das Verfahren kann wahlweise umfassen, dass neue Informationen in den SMA-Film
14 wiedereingeschrieben werden. Das Wiedereinschreiben kann bewerkstelligt werden, indem zuerst ein elektrischer Strom mit einer entgegengesetzten Polarität selektiv dem gleichen thermoelektrischen Modul/den gleichen thermoelektrischen Modulen16 , das/die den elektrischen Strom mit einer Polarität empfing/empfingen, zugeführt wird. Der elektrische Strom mit der entgegengesetzten Polarität kann dem thermoelektrischen Modul/den thermoelektrischen Modulen16 über die funktional angeschlossenen elektrischen Leitungen18 ,20 zugeführt werden. Dies wird im Wesentlichen sicherstellen, dass die lokale Temperatur des SMA-Films14 schnell unter die Martensitübergangstemperatur abgekühlt wird. Der SMA-Film14 kann dann durch Nanoprägen mit neuen Informationen versehen werden. - Es ist zu verstehen, dass das thermoelektrische Modul/die thermoelektrischen Module
16 den Peltier-Effekt erfahren kann/können. In einem Peltier-Schaltkreis kann ein elektrischer Strom mit einer Polarität in einer Richtung angelegt werden, und infolge dessen erzeugt eine Seite des Schaltkreises Wärme, während die andere Wärme absorbiert. Es ist zu verstehen, dass das Umschalten der Polarität des Stromes den entgegengesetzten Effekt schafft. Ein Erwärmen und Abkühlen des thermoelektrischen Moduls/der thermoelektrischen Module16 tritt relativ schnell auf. Es ist zu verstehen, dass der SMA-Film14 benachbart zu dem thermoelektrischen Modul/den thermoelektrischen Modulen16 folglich schnell erwärmt oder abgekühlt wird, wenn die thermoelektrischen Module16 elektrischen Strom mit einer vorbestimmten Polarität empfangen. Daher kann das Löschen gespeicherter Informationen22 und das Wiedereinschreiben neuer Informationen in dem SMA-Film14 mit einer relativ schnellen Rate bewerkstelligt werden. In einem nicht einschränkenden Beispiel kann das Löschen und Wiedereinschreiben in einem Zeitrahmen bewerkstelligt werden, der von etwa einer Mikrosekunde bis etwa neunhundert Mikrosekunden liegt. Im Allgemeinen dauert ein passives Abkühlen unter Umgebungsbedingungen von etwa 3 Minuten bis etwa 5 Minuten, bevor die Temperatur der SMA auf unter die Martensitübergangstemperatur abkühlt, wann ein Wiedereinschreiben erfolgen kann. - Ausführungsformen der Vorrichtung und des Verfahrens/der Verfahren umfassen die folgenden Vorteile, sind aber nicht darauf beschränkt. Die Kombination aus Nanoprägen, dem SMA-Film
14 und den thermoelektrischen Modulen16 erlaubt eine hochdichte Speicherung und ein schnelles Löschen und eine schnelle Weidereinschreibbarkeit digitaler Informationen22 . - Obgleich mehrere Ausführungsformen ausführlich beschrieben worden sind, werden Fachleute feststellen, dass die offenbarten Ausführungsformen abgewandelt werden können. Daher soll die vorstehende Beschreibung vielmehr als beispielhaft denn als einschränkend angesehen werden.
- Zusammenfassung
- Eine Informationsspeichervorrichtung umfasst ein Substrat und einen auf dem Substrat hergestellten Formgedächtnislegierungs-Film. Der Formgedächtnislegierungs-Film kann digitale Informationen empfangen, zuführen und speichern. Ein thermoelektrisches Modul oder mehrere thermoelektrische Module ist/sind zwischen dem Substrat und dem Formgedächtnislegierungs-Film durch Nanoprägen vorgesehen. Das thermoelektrische Modul/die thermoelektrischen Module ist/sind eingerichtet, zumindest einige der digitalen Informationen von dem Formgedächtnislegierungs-Film selektiv zu löschen.
Claims (19)
- Informationsspeichervorrichtung, umfassend: ein Substrat; einen Formgedächtnislegierungs-Film, der auf dem Substrat hergestellt ist, wobei der Formgedächtnislegierungs-Film eingerichtet ist, digitale Informationen zu empfangen und/oder zuzuführen und/oder zu speichern; und zumindest ein thermoelektrisches Modul, das durch Nanoprägen zwischen dem Substrat und dem Formgedächtnislegierungs-Film vorgesehen ist, wobei das zumindest eine thermoelektrische Modul eingerichtet ist, zumindest einige der digitalen Informationen selektiv von dem Formgedächtnislegierungs-Film zu löschen.
- Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Formgedächtnislegierungs-Film digitale Informationen über eine Nanoprägevorrichtung empfängt.
- Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei das zumindest eine thermoelektrische Modul ein thermoelektrisches Dünnfilmmodul ist.
- Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei das zumindest eine thermoelektrische Modul eingerichtet ist, elektrischen Strom mit einer Polarität und dann mit einer entgegengesetzten Polarität im Wesentlichen sequenziell und selektiv zu empfangen.
- Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Formgedächtnislegierungs-Film zumindest eine Legierung der folgenden enthält: Legierungen auf Aluminiumbasis, Legierungen auf Eisenbasis, Legierungen auf Kupferbasis, Legierungen auf Nickelbasis und Mischungen davon.
- Vorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Formgedächtnislegierungs-Film eine Speicherdichte aufweist, die in einem Bereich von etwa siebenhundert Gbit/in2 bis etwa neunhundert Gbit/in2 liegt.
- Verfahren zum Löschen von Informationen von einer Informationsspeichervorrichtung, die Information aufweist, die in einem Formgedächtnislegierungs-Film durch Nanoprägen vorgesehen ist, wobei das Verfahren umfasst, das zumindest einem thermoelektrischen Modul ein elektrischer Strom mit einer Polarität zugeführt wird, das zumindest eine thermoelektrische Modul auf einem Substrat durch Nanoprägen vorgesehen und zwischen dem Substrat und dem Formgedächtnislegierungs-Film angeordnet wird, wobei der elektrische Strom ein Löschen der Informationen an einem Bereich des Formgedächtnislegierungs-Films benachbart zu dem zumindest einen thermoelektrischen Modul, das den elektrischen Strom empfängt, bewirkt.
- Verfahren nach Anspruch 7, wobei die Informationsspeichervorrichtung mehrere thermoelektrische Module umfasst, und wobei der elektrische Strom selektiv zumindest einem der mehreren thermoelektrischen Module zugeführt wird.
- Verfahren nach Anspruch 8, wobei der elektrische Strom jedem der mehreren thermoelektrischen Module zugeführt wird, wodurch im Wesentlichen alle in dem Formgedächtnislegierungs-Film gespeicherten Informationen gelöscht werden.
- Verfahren nach Anspruch 7, wobei der Formgedächtnislegierungs-Film erwärmt und/oder abgekühlt wird, wenn das zumindest eine thermoelektrische Modul elektrischen Strom mit einer vorbestimmten Polarität empfängt.
- Verfahren nach Anspruch 7, wobei das Verfahren nach dem Löschen ferner umfasst, dass Informationen neu in den Formgedächtnislegierungs-Film geschrieben werden, indem dem zumindest einen thermoelektrischen Modul ein elektrischer Strom mit einer entgegengesetzten Polarität zugeführt wird, und dann der Formgedächtnislegierungs-Film durch Nanoprägen mit neuen Informationen versehen wird.
- Verfahren nach Anspruch 7, wobei das Zuführen des elektrischen Stromes bewerkstelligt wird, indem Strom zu dem zumindest einen thermoelektrischen Modul von zumindest einer daran funktional angeschlossenen elektrischen Leitung übertragen wird.
- Verfahren zum Verwenden einer Informationsspeichervorrichtung, die zumindest ein thermoelektrisches Modul aufweist, das zwischen einem Substrat und einem Formgedächtnislegierungs-Film durch Nanoprägen vorgesehen ist, wobei das Verfahren umfasst, dass: Informationen durch Nanoprägen in den Formgedächtnislegierungs-Film eingeschrieben werden; und ein Löschen zumindest einiger der Informationen in einem Bereich des Formgedächtnislegierungs-Films benachbart zu dem zumindest einen thermoelektrischen Modul bewirkt wird, indem dem zumindest einen thermoelektrischen Modul ein elektrischer Strom mit einer Polarität zugeführt wird.
- Verfahren nach Anspruch 13, das ferner umfasst, dass neue Informationen in den Formgedächtnislegierungs-Film wiedereingeschrieben werden, indem dem zumindest einen thermoelektrischen Modul ein elektrischer Strom mit einer entgegengesetzten Polarität zugeführt wird, und dann der Formgedächtnislegierungs-Film durch Nanoprägen mit den neuen Informationen versehen wird.
- Verfahren nach Anspruch 14, wobei das Zuführen des elektrischen Stromes mit einer Polarität und das Zuführen des elektrischen Stromes mit einer entgegengesetzten Polarität bewerkstelligt werden, indem zu dem zumindest einen thermoelektrischen Modul Strom von zumindest einer daran funktional angeschlossenen elektrischen Leitung übertragen wird.
- Verfahren nach Anspruch 14, wobei ein Bereich des Formgedächtnislegierungs-Films benachbart zu dem zumindest einen thermoelektrischen Modul erwärmt oder abgekühlt wird, wenn das zumindest eine thermoelektrische Modul elektrischen Strom mit einer vorbestimmten Polarität empfängt.
- Verfahren nach Anspruch 14, wobei die Informationsspeichervorrichtung mehrere thermoelektrische Module umfasst, und wobei der elektrische Strom mit einer Polarität und/oder der elektrische Strom mit einer entgegengesetzten Polarität selektiv zumindest einigen der thermoelektrischen Modulen zugeführt wird/werden.
- Verfahren nach Anspruch 13, wobei, bevor das Löschen bewirkt wird, das Verfahren ferner umfasst, dass elektrische Leitungen an das zumindest eine thermoelektrische Modul funktional angeschlossen werden.
- Verfahren nach Anspruch 14, wobei das Löschen und Wiedereinschreiben in einem Zeitrahmen erfolgt, der von etwa einer Mikrosekunde bis etwa neunhundert Mikrosekunden liegt.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US11/248,349 | 2005-10-12 | ||
US11/248,349 US7443003B2 (en) | 2005-10-12 | 2005-10-12 | Shape memory alloy information storage device |
PCT/US2006/037621 WO2007047049A2 (en) | 2005-10-12 | 2006-09-25 | Information storage device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE112006002693T5 true DE112006002693T5 (de) | 2008-08-28 |
Family
ID=37910988
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE112006002693T Withdrawn DE112006002693T5 (de) | 2005-10-12 | 2006-09-25 | Informationsspeichervorrichtung |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7443003B2 (de) |
CN (1) | CN101484940B (de) |
DE (1) | DE112006002693T5 (de) |
WO (1) | WO2007047049A2 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9635764B2 (en) * | 2015-09-25 | 2017-04-25 | Intel Corporation | Integrated circuit and method that utilize a shape memory material |
US9896763B2 (en) | 2016-05-13 | 2018-02-20 | GM Global Technology Operations LLC | Particle reactor for atomic layer deposition (ALD) and chemical vapor deposition (CVD) processes |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0186911B1 (de) * | 1984-12-28 | 1991-01-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Auswechselbares Speichersystem |
US5728240A (en) | 1994-12-16 | 1998-03-17 | Sharp Kabushiki Kaisha | Positionally adjustable member and applications therefor |
US6084849A (en) | 1996-05-20 | 2000-07-04 | International Business Machines Corporation | Shape memory alloy recording medium, storage devices based thereon, and method for using these storage devices |
US6705868B1 (en) | 1998-03-18 | 2004-03-16 | Purdue Research Foundation | Apparatus and methods for a shape memory spring actuator and display |
US6092465A (en) | 1998-03-03 | 2000-07-25 | United Container Machinery, Inc. | Method and apparatus for providing erasable relief images |
GB9816799D0 (en) * | 1998-08-03 | 1998-09-30 | Anson Anthony W | A means of writing,storing and retrieving binary information |
US6773535B1 (en) | 2003-03-03 | 2004-08-10 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Article and method for controlled debonding of elements using shape memory alloy actuators |
KR100612837B1 (ko) * | 2003-12-19 | 2006-08-18 | 삼성전자주식회사 | 자기기록매체 |
US7563334B2 (en) * | 2005-11-23 | 2009-07-21 | Gm Global Technology Operations, Inc. | Two-way shape memory surfaces |
-
2005
- 2005-10-12 US US11/248,349 patent/US7443003B2/en active Active
-
2006
- 2006-09-25 DE DE112006002693T patent/DE112006002693T5/de not_active Withdrawn
- 2006-09-25 CN CN200680037796.1A patent/CN101484940B/zh active Active
- 2006-09-25 WO PCT/US2006/037621 patent/WO2007047049A2/en active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2007047049A2 (en) | 2007-04-26 |
US7443003B2 (en) | 2008-10-28 |
US20070081444A1 (en) | 2007-04-12 |
CN101484940B (zh) | 2013-03-13 |
WO2007047049A3 (en) | 2009-04-09 |
CN101484940A (zh) | 2009-07-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE60127635T2 (de) | Speicher, Verfahren und Anordnung zum Schreiben und Lesen | |
DE3752180T2 (de) | Aufzeichnungs- und Wiedergabegerät | |
EP0021087B1 (de) | Verfahren zur Herstellung grobkristalliner oder einkristalliner Metall- oder Legierungsschichten sowie Anwendung des Verfahrens zur Herstellung von Halbleiterschaltungen und Kontaktelektroden | |
DE2309106C3 (de) | Verfahren zur optischen Informationsspeicherung und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE69425238T2 (de) | Thermische Kontrolle von elektronischen Komponenten unter Verwendung von synthetischem Diamant | |
DE102005055652B4 (de) | Mehrimpuls-Rücksetz-Schreibschema für Phasenwechselspeicher | |
DE1959438A1 (de) | Integrierte Schaltung und Verfahren zum selektiven Beschalten integrierter elektronischer Schaltungen | |
DE1483246B2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer amorphen Legierungsschicht | |
DE112005000611T5 (de) | Treiber und Antriebsverfahren für eine organische bistabile elektrische Vorrichtung und organische LED-Anzeige | |
DE2558409A1 (de) | Verfahren zur wiedergabe von bildern und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens | |
DE112006002693T5 (de) | Informationsspeichervorrichtung | |
EP1763024A1 (de) | Verfahren und Vorrichtungen zum Speichern einer dreidimensionalen Anordnung von Datenbits in einem Festkörper | |
EP0494415A2 (de) | Verfahren zur chemischen Markierung von Festkörperoberflächen auf atomarer Skala sowie Verwendung dieses Verfahrens zur Speicherung von Informationseinheiten im atomaren Bereich | |
DE2233827A1 (de) | Verfahren zur bildherstellung | |
DE3921217C2 (de) | Treibervorrichtung für Thermokopf | |
DE69409680T2 (de) | Druckmethode und Druckgerät für deren Ausführung | |
DE102007025942A1 (de) | Verfahren zur selektiven thermischen Oberflächenbehandlung eines Flächensubstrates | |
DE3851977T2 (de) | Magnetkarte und Anwendungsverfahren. | |
DE2730358C3 (de) | Verfahren zum aufeinanderfolgenden Abscheiden einkristalliner Schichten auf einem Substrat nach der Flüssigphasen-Schiebeepitaxie | |
DE102017217105A1 (de) | Kühlvorrichtung und Verfahren zur Kühlung eines zu kühlenden Elements | |
DE2203859A1 (de) | Komplexes elektronisches System auf einer Scheibe | |
DE2312516A1 (de) | Verfahren zum erhoehen des beugungsvermoegens eines deformationsbildes | |
DE2740835C2 (de) | Thermoplastischer Aufzeichnungsträger für Deformationsmuster | |
DE2511059A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur uebertragung von halbleiterplaettchen von einer traegerscheibe auf ein substrat | |
DE2112199A1 (de) | Kopiergeraet mit einem waermeempfindlichen Aufzeichnungstraeger |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G11B 3/66 AFI20060925BHDE |
|
8180 | Miscellaneous part 1 |
Free format text: PFANDRECHT |
|
8180 | Miscellaneous part 1 |
Free format text: PFANDRECHT AUFGEHOBEN |
|
8180 | Miscellaneous part 1 |
Free format text: PFANDRECHT |
|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC , ( N. D. , US |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC (N. D. GES, US Free format text: FORMER OWNER: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS, INC., DETROIT, US Effective date: 20110323 Owner name: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC (N. D. GES, US Free format text: FORMER OWNER: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS, INC., DETROIT, MICH., US Effective date: 20110323 |
|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20130403 |