DE10254990A1 - Verfahren zum Entfernen von organischen Rückständen von feinstrukturierten Oberflächen - Google Patents

Verfahren zum Entfernen von organischen Rückständen von feinstrukturierten Oberflächen Download PDF

Info

Publication number
DE10254990A1
DE10254990A1 DE10254990A DE10254990A DE10254990A1 DE 10254990 A1 DE10254990 A1 DE 10254990A1 DE 10254990 A DE10254990 A DE 10254990A DE 10254990 A DE10254990 A DE 10254990A DE 10254990 A1 DE10254990 A1 DE 10254990A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
ozone
residues
removing organic
organic residues
finely structured
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE10254990A
Other languages
English (en)
Inventor
Michael Oehler
Rainer KÖSTERS
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Technotrans SE
Original Assignee
Technotrans SE
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Technotrans SE filed Critical Technotrans SE
Priority to DE10254990A priority Critical patent/DE10254990A1/de
Priority to AU2003289893A priority patent/AU2003289893A1/en
Priority to PCT/EP2003/013193 priority patent/WO2004049064A2/de
Priority to US10/536,000 priority patent/US20060137720A1/en
Priority to EP03782226A priority patent/EP1565791A2/de
Priority to JP2004554446A priority patent/JP2006507115A/ja
Publication of DE10254990A1 publication Critical patent/DE10254990A1/de
Priority to US11/507,283 priority patent/US20060272680A1/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/26Processing photosensitive materials; Apparatus therefor
    • G03F7/42Stripping or agents therefor
    • G03F7/427Stripping or agents therefor using plasma means only

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Cleaning And De-Greasing Of Metallic Materials By Chemical Methods (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)

Abstract

Ein Verfahren ist vorgesehen zum Entfernen von organischen Rückständen von feinstrukturierten Oberflächen. Die Rückstände werden mithilfe von Ozon verascht.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Entfernen von organischen Rückständen von feinstrukturierten Oberflächen.
  • Als Beispiel soll hier das Entfernen von Photoresistlack-Rückständen von metallischen Spritzgußmatritzen für die Herstellung von CD- oder DVD-Scheiben herangezogen werden, ohne daß die Erfindung insoweit eingeschränkt werden soll.
  • Bei der Herstellung von CD's oder DVD's wird zunächst eine Photoresist-Lackschicht auf eine Glasplatte aufgebracht. Diese Lackschicht wird getrocknet. Sie wird anschließend entsprechend dem zu erzielenden, digital dargestellten Tonmuster belichtet und in den durch die Belichtung vorgegebenen Bereichen ausgewaschen. Sodann wird eine dünne leitfähige Schicht aus Metall, beispielsweise Nickel, durch Verdampfen in einem elektrischen Feld auf die Lackschicht aufgebracht, und anschließend auf galvanischem Weg auf die dünne Metallschicht als Startschicht eine etwa eine 300 um starke Metallschicht, zumeist Nickelschicht aufgebracht.
  • Die auf diese Weise hergestellte Metallschicht wird im weiteren Verfahren als Spritzgußform für die Herstellung von CD's oder DVD's verwendet. Zu diesem Zweck muß die Metallschicht von der Photoresistlackschicht abgezogen werden. Dabei bleiben erhebliche Teile der Lackschicht an der entstandenen Metallplatte zurück. Es ist relativ einfach, diese Rückstände zu einem großen Teil in einer geeigneten Vorreinigung zu entfernen. In der Grenzschicht zwischen Metall und Photoresistlack hat sich bei dem Verfahren jedoch ein stark vernetzter Photoresistlack gebildet, der in der feinstrukturierten Oberfläche der Metallplatte nur schwer zu erfassen ist.
  • Ein Entfernen dieser Rückstände mit Lösungsmitteln ist an sich bekannt, führt jedoch nur zu unbefriedigenden Ergebnissen. Wirkungsvoller, jedoch auch erheblich aufwendiger ist die Reinigung mithilfe von Plasmaöfen oder Excimerlasern.
  • Derartige Verfahren haben den Nachteil, daß sie hohe Investitions- und Betriebskosten erfordern und darüber hinaus nur in einem sehr schmalen Bereich einsetzbar sind, wenn zuverlässig verhindert werden soll, daß sie das Grundsubstrat, also im hiesigen Beispiel die Metallplatte, nicht beschädigen.
  • Aufgabe der Erfindung ist daher, ein Verfahren zu schaffen, das es mit geringem Aufwand an Investitionen und Betriebskosten gestattet, die organischen Rückstände, die sich auf oder in einer feinstrukturierten Oberfläche befinden, zu veraschen.
  • Zur Lösung dieser Aufgabe ist das erfindungsgemäße Verfahren der obigen An dadurch gekennzeichnet, daß die Rückstände mithilfe von Ozon verascht werden.
  • Es hat sich überraschenderweise gezeigt, daß die stark oxidierende Wirkung des Ozons ausreicht, um die organischen Rückstände aus der feingliedrigen Oberflächenstruktur zu entfernen, ohne daß diese Oberflächenstruktur Schaden nimmt.
  • Das Ozon kann mithilfe wenigstens einer Düse auf die zu reinigende Oberfläche geblasen werden. Eine oder mehrere Düsen können in vorgegebenen Bahnen über die Oberfläche geführt werden, oder die Oberfläche kann an einer oder mehreren Düsen vorbeigeführt werden. Es ist auch möglich, die zu reinigenden Teile in einer Ozonkammer einzuführen, in der Ozon in vorgegebener Konzentration bereitgestellt wird.
  • Die Aschenbestandteile können durch anschließendes Absaugen, Ausblasen oder Waschen mit einer geeigneten Spüleinrichtung problemlos entfernt werden.
  • Das Ozon kann vorzugsweise in einem relativ einfachen Ozongenerator, der beispielsweise mit elektrostatischer Entladung arbeitet, an Ort und Stelle hergestellt werden. Mit Hilfe derartiger Ozongeneratoren können bei geringen Kosten relativ große Mengen Ozon erzeugt werden. Das ermöglicht kurze Behandlungszeiten.
  • Weniger günstig sind dagegen offenbar Verfahren zur Ozonerzeugung, die mit UV-Licht arbeiten. Hier ist die Ozon-Ausbeute relativ gering, und die entstehende Wärme ist für den angestrebten Erfolg zumindest nicht förderlich.

Claims (8)

  1. Verfahren zum Entfernen von organischen Rückständen von feinstrukturierten Oberflächen, dadurch gekennzeichnet, daß die Rückstände mithilfe von Ozon verascht werden.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Ozon mithilfe wenigstens einer Düse auf die zu reinigende Oberfläche aufgeblasen wird.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die wenigstens eine Düse in vorbestimmten Bahnen über die zu reinigende Oberfläche bewegt wird.
  4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die zu reinigende Oberfläche an der wenigstens einen Düse vorbeigeführt wird.
  5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die veraschten Rückstände von der Oberfläche abgesaugt werden.
  6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die veraschten Rückstände von der Oberfläche ausgeblasen werden.
  7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die veraschten Rückstände mithilfe einer Reinigungslösung ausgespült werden.
  8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Ozon während des Reinigungsvorganges in einem Ozongenerator durch elektrostatische Entladung hergestellt wird.
DE10254990A 2002-11-26 2002-11-26 Verfahren zum Entfernen von organischen Rückständen von feinstrukturierten Oberflächen Withdrawn DE10254990A1 (de)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10254990A DE10254990A1 (de) 2002-11-26 2002-11-26 Verfahren zum Entfernen von organischen Rückständen von feinstrukturierten Oberflächen
AU2003289893A AU2003289893A1 (en) 2002-11-26 2003-11-24 Method for the removal of organic residues from finely structured surfaces
PCT/EP2003/013193 WO2004049064A2 (de) 2002-11-26 2003-11-24 Verfahren zum entfernen von organischen rückständen von feinstrukturierten oberflächen
US10/536,000 US20060137720A1 (en) 2002-11-26 2003-11-24 Method for the removal of organic residues from finely structured surfaces
EP03782226A EP1565791A2 (de) 2002-11-26 2003-11-24 Verfahren zum entfernen von organischen rueckstaenden von feinstrukturierten oberflaechen
JP2004554446A JP2006507115A (ja) 2002-11-26 2003-11-24 微細構造に形成された表面から有機残留物を除去する方法
US11/507,283 US20060272680A1 (en) 2002-11-26 2006-08-21 Method for the removal of organic residues from finely structured surfaces

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10254990A DE10254990A1 (de) 2002-11-26 2002-11-26 Verfahren zum Entfernen von organischen Rückständen von feinstrukturierten Oberflächen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10254990A1 true DE10254990A1 (de) 2004-07-22

Family

ID=32335775

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10254990A Withdrawn DE10254990A1 (de) 2002-11-26 2002-11-26 Verfahren zum Entfernen von organischen Rückständen von feinstrukturierten Oberflächen

Country Status (6)

Country Link
US (2) US20060137720A1 (de)
EP (1) EP1565791A2 (de)
JP (1) JP2006507115A (de)
AU (1) AU2003289893A1 (de)
DE (1) DE10254990A1 (de)
WO (1) WO2004049064A2 (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010026490A1 (de) * 2010-07-07 2012-01-12 Basf Se Verfahren zur Herstellung von feinstrukturierten Oberflächen

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4885047A (en) * 1986-08-11 1989-12-05 Fusion Systems Corporation Apparatus for photoresist stripping
US5071485A (en) * 1990-09-11 1991-12-10 Fusion Systems Corporation Method for photoresist stripping using reverse flow
US6231676B1 (en) * 1998-01-27 2001-05-15 Seagate Technology Llc Cleaning process for disc drive components

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4812201A (en) * 1986-07-25 1989-03-14 Tokyo Electron Limited Method of ashing layers, and apparatus for ashing layers
JPH05198500A (ja) * 1992-01-20 1993-08-06 Ushio Inc レジスト膜のアッシング装置
US5709754A (en) * 1995-12-29 1998-01-20 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for removing photoresist using UV and ozone/oxygen mixture
US20010003035A1 (en) * 1998-09-10 2001-06-07 Robert G. Ozarski Diffraction grating and fabrication technique for same
US6482573B1 (en) * 1999-12-15 2002-11-19 Advanced Micro Devices, Inc. Exposure correction based on reflective index for photolithographic process control
US6743301B2 (en) * 1999-12-24 2004-06-01 mFSI Ltd. Substrate treatment process and apparatus
WO2002027775A1 (fr) * 2000-09-28 2002-04-04 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Procede et appareil de traitement de plaquettes

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4885047A (en) * 1986-08-11 1989-12-05 Fusion Systems Corporation Apparatus for photoresist stripping
US5071485A (en) * 1990-09-11 1991-12-10 Fusion Systems Corporation Method for photoresist stripping using reverse flow
US6231676B1 (en) * 1998-01-27 2001-05-15 Seagate Technology Llc Cleaning process for disc drive components

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP 2000-126704 A *

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006507115A (ja) 2006-03-02
AU2003289893A1 (en) 2004-06-18
US20060137720A1 (en) 2006-06-29
AU2003289893A8 (en) 2004-06-18
WO2004049064A3 (de) 2004-08-12
EP1565791A2 (de) 2005-08-24
US20060272680A1 (en) 2006-12-07
WO2004049064A2 (de) 2004-06-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69018818T2 (de) Hornförmiger elektrischer Kontakt.
DE68912275T2 (de) Biegsames Stützkabel für eine elektronische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung davon.
DE69004467T2 (de) Verfahren zum Herstellen von Verbindungslöchern in Polymer-Werkstoffen.
DE3856135T2 (de) Verfahren zur Oberflächenbehandlung eines Halbleiterplättchens
EP0469635A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Leiterplatten
ATE191584T1 (de) Verfahren und vorrichtung zum strukturieren einer metallschicht in einem rf-plasma mit modulierung der substratsspannungsamplitude
DE60126790T2 (de) Verfahren zum selektiven entfernen einer metallschicht mittels strahlen mit kohlendioxid
DE4022401A1 (de) Verfahren zur oberflaechenbehandlung eines substrats
EP1500316A1 (de) Verfahren zur erzeugung einer grabenstruktur in einem polymer-substrat
DE3600591A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur entfernung von verunreinigungen von der oberflaeche von metallen mittels laserstrahlen und so behandelte oberflaechen
DE19810584A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer optischen Wellenleiter-Vorrichtung
DE2145647A1 (de) Verfahren zum Herstellen von Mustern auf einem Substrat
EP0310922B1 (de) Verfahren zum Reinigen insbesondere von scheibenförmigen oxidischen Substraten
EP1169893B1 (de) Verfahren zum einbringen von durchkontaktierungslöchern in ein beidseitig mit metallschichten versehenes, elektrisch isolierendes basismaterial
EP0274098A3 (de) Verfahren zur Erzeugung teilchenförmiger Polymerisate
DE2847070A1 (de) Verfahren zur behandlung eines mit additiv aufplattierten gedruckten leiterzuegen versehenen substrates
DE19903243A1 (de) Kombinierte Reinigung und Niederdruckplasmabehandlung
DE10254990A1 (de) Verfahren zum Entfernen von organischen Rückständen von feinstrukturierten Oberflächen
DE69632596T2 (de) Schonendes laser-flächenbearbeitungsverfahren
EP0757885A1 (de) Verfahren zur bildung metallischer leitermuster auf elektrisch isolierenden unterlagen
DE69933304T2 (de) Verfahren zum reinigen von kunstgegenständen
EP0530564A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Leiterplatten
EP0068414A3 (de) Verfahren zum Herstellen von Bauelementen aus Halbleiterscheiben
EP0111799A1 (de) Verfahren zur Entwicklung von Reliefstrukturen auf der Basis von strahlungsvernetzten Polymervorstufen hochwärmebeständiger Polymere
DE102013112045A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bearbeitung von metallischen Oberflächen mit einer Ätzflüssigkeit

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8139 Disposal/non-payment of the annual fee