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Verfahren zur einfachen Erstellung
der Leitungsverbindungen und Erzielung von kleinsten Prüfrastern
(25mil,50mil-Raster) auf kleinstem Raum bei einem Prüfadapter,
bzw. einer Adaptereinrichtung für
nicht gemultiplexte und gemultiplexte Testsysteme unter Anwendung
der DCR-Plate (Direct Contact Route-Plate, Material: ätzbare CU/Zn-Legierung
mit einer Dicke von 0.2mm-0.5mm und aufgebrachter, ätzbeständiger,
isolierfähiger
Transparentspezialfolie), dem photochemischem Verfahren (Belichten, Entwickeln, Ätzen, Entschichten)
und der Einpresstechnik. Der Prüfadapter,
bzw. Adaptereinrichtung wird zum Testen von elektronischen Boards
eingesetzt.
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Es ist uns nicht bekannt, dass die
Leitungsverbindung im Prüfadapter
bzw. einer Adaptereinrichtung, unter Anwendung der DCR-Plate (Direct Contact
Route-Plate, Material: ätzbare
CU/Zn-Legierung mit einer Dicke von 0.2mm-0.5mm und aufgebrachter, ätzbeständiger,
isolierfähiger
Transparentspezialfolie) , nur mit dem Einschlagen des Einpreßstiftes
der Hülse
in das Material der DCR-PIate-Leitungsverbindung realisiert wurde.
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In den von uns bekannten Fällen werden
die Leitungsverbindungen folgendermassen realisiert:
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– über Verdrahtung
von der Hülse
zum Schnittstellenkontakt: Diese Methode benötigt enorme manuelle Arbeit
und ist sehr zeitaufwendig. Auch kleinste Raster sind so nur schwer
realisierbar, da durch die Wrap-Technik bzw. Löttechnik der Mindestabstand
einzuhalten ist
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– über Short-Wire-Drahtverbindung:
Diese Methode benötigt
enorme manuelle Arbeit und ist sehr zeitaufwendig. Auch kleinste
Raster sind so nur schwer realisierbar, da durch die Wrap-Technik
bzw. Löttechnik
der Mindestabstand einzuhalten ist
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– über direkte
Kontaktierung bei der auf die Hülse
Auf-/Einsteck-Zusatzteile manuell gesteckt werden. Die im Patent
DE 40 10 297 A1 angegebene Methode
ist für
die Praxis nicht geeignet, da der Kontakt(
171) der Hülse in der
Luft hängt
und somit der Prüffederkontakt
des Testsystems(
511) abrutschen kann. Kontaktprobleme sind
so vorprogrammiert. Auch diese Methode benötigt enorme manuelle Arbeit.
Kleinste Raster und Überkreuzungen
der Leitungen, die bei gemultiplexten Systemen benötigt werden,
sind so in der Praxis nicht realisierbar
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– über Leiterplatte
die auf der oberen Oberfläche
der Nadelträgerplatte
aufliegt und bei der erst eine manuelle Lötverbindung von der Hülse zur
Leiterbahn erstellt werden muss. Diese Methode ist bei sehr engen
Rastern im 50mil-Bereich nur schwer zu realisieren. Auch für Überkreuzungen
der Leitungen , die bei gemultiplexten Systemen benötigt werden, nicht
geeignet. Sobald mehrere Platten aufeinanderlegt werden, ist ein
Austausch der ersten Platte nur schwer möglich. Also ist diese Methode
für die
Praxis nicht geeignet
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– Über Translator-Plate
mit Doppelkontakthülse.
Bei dieser Methode werden teure Doppelkontakthülsen sowie Durchkontaktierungen
in der Leiterplatte benötigt.
Für Überkreuzungen
der Leitungen bei gemultiplexten Ssystemen, ist eine teure Multilayerplatine
notwendig
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Um bei der Anwendung der DCR-Plate
(Direct Contact Route-Plate) kurze Leitungsverbindungen zu realisieren
und Überkreuzungen
der Leitungsverbindungen zu minimieren, wird die Berechnung des
für die
Leitungsverbindung strategisch günstigsten
Testpins vom Testsystem in Abhängigkeit
der Prüfpunkt-Koordinate
des Prüflings
durchgeführt. Diese
nun neu selektierten Testpins werden dann ins Programm zurückgelesen
und für
die Prüfprogrammerstellung
verwendet.
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Der im Patentanspruch 1 angegebenen
Erfindung liegt das Problem kleinste Prüf-Raster(25mil,50mil-Raster) auf kleinstem
Raum , bzw. normale Prüf-Raster
(75mil,100mil-Raster) sehr kostengünstig zu kontaktieren(ohne
manuelle Verdrahtungsarbeit, ohne manuelles Stecken von Auf-/Einsteck-Zusatzteilen
auf die Hülse,
ohne manuelle Lötungen
auf einer Leiterplatte). Verdrahtungsfehler im Adapter zu eliminieren.
Die Herstellungszeit sowie die Kostenfrage erheblich zu reduzieren.
Durch kürzeste
Leitungswege Störungen
beim Testen zu beseitigen. Die Änderungsfreundlichkeit
des Adapters durch Übersichtlichkeit
zu gewährleisten.
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Die mit der Erfindung erzielten Vorteile
bestehen inbesondere darin, kleinste Prüf-Raster(25mil,50mil-Raster) auf kleinstem
Raum, bzw. normale Prüf-Raster
(75mil,100mil-Raster) sehr kostengünstig zu kontaktieren(ohne
manuelle Verdrahtungsarbeit, ohne manuelles Stecken von Auf-/Einsteck-Zusatzteilen
auf die Hülse,
ohne manuelle Lötungen
auf einer Leiterplatte). Die teure manuelle Erstellung der Leitungsverbindungen
entfällt
komplett und somit entfallen auch die Verdrahtungsfehler. Der Kosten-
und der Lieferzeitfaktor werden erheblich reduziert.
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Merkmal: Der Einpressstift(13)
der Hülse(1) wird
beim Einschlagen der Hülse(1)
in die Nadelträgerplatte(4),
direkt ins Material(15) der Leitungsverbindung(14),
der bereits im photochemischem Verfahren(Belichten,Entwickeln, Ätzen, Entschichten) behandelten
DCR-Plate(Material: ätzbare
CU/Zn-Legierung mit einer Dicke von 0.2mm-0.5mm und aufgebrachter
, ätzbeständiger,
isolierfähiger
Transparentspezialfolie) eingepresst. Die DCR-Plate bzw. DCR-Plate's (die Anzahl der
aufeinandergelegten DCR-Plates ist unlimitiert) liegt direkt auf
der Unterseite der Nadelträgerplatte(4)
auf. Aufgrund der aufgebrachten, ätzbeständigen ,isolierfähigen Transparentspezialfolie(7)
ist der Verlauf der Leitungsverbindungen, auch bei mehreren aufeinandergelegten DCR-Plates,
sehr übersichtlich
uns somit sehr änderungsfreundlich.
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Die Anwendung von Patentanspruch
2 ermöglicht
es, das Verfahren zur einfachen Erstellung der Leitungsverbindungen
und Erzielung von kleinsten Prüfrastern
unter Anwendung der DCR-Plate bei einem Prüfadapter bzw. einer Adaptereinrichtung
zu realisieren.
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Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung
ist in den Zeichnungen dargestellt und wird im folgenden näher beschrieben.
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Es zeigen: 1 + Bezeichnung zu 1: DCR-Prüfadapterauibau
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2 +
bezeichnung zu 2:
Schnitt:
DCR-Prüfadapter
für nicht
gemultiplexte Test-Systeme
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3 +
Bezeichnung zu 3:
Schnitt:
DCR-Prüfadapter
für gemultiplexte
Test-Systeme Beispiel einer Levell-Verbindung
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4 +
Bezeichnung zu 4:
Schnitt:
DCR-Prüfadapter
für gemultiplexte
Test-Systeme Beispiel einer Levell-Verbindung
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5 +
Bezeichnung zu 5:
Schnitt:
DCR-Prüfadapter
für gemultiplexte
Test-Systeme Beispiel einer Leve13-Verbindung
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6 +
Bezeichnung zu 6:
Schnitt
: DCR-Prüfadapter
für gemultiplexte Test-Systeme
Beispiel einer Leve14-Verbindung
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7 +
Bezeichnung zu 7:
DCR-Prüfadapter
Beispiel einer DCR-PIate-Leitungsverbindung Ansicht von oben
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Bitte beachten: In Figure 1-7 wurden
die gleichen Positionsbezeichnungen verwendet.
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Erklärung zu 1: In ist der DCR-Prüfadapteraufbau (Direct Contact
Route-Prüfadapteraufbau) beim
Einsatz der DCR-Plate(Direct Contact Route-Plate: bestehend aus
Position 7 und Position 8) ersichtlich.
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Jede DCR-Plate besteht aus einer ätzfähigen Platte(8)
bestehend aus einer Cu/Zn-Legierung mit
einer Dicke von 0,2-0,5mm. Auf dieser Platte(8) ist auf
der Oberseite eine ätzbeständige ,
isolierfähige
Transparentspezialfolie(7) fest aufgebracht. In 1 wurde als Beispiel eine
DCR-Plate(bestehend aus Position 7 und Position 8)
verwendet . Die Anzahl der benötigten
DCR-Plates kann entsprechend dem Bedarf beliebig gewählt werden.
Dies ist vor allem bei gemultiplexten Testsystemen aufgrund von
Leitungsüberkreuzungen
notwendig. Die DCR-Plate(Pos.7 und Pos.8) wird nach der Bearbeitung
(Bohren, Photochemischem Verfahren) direkt auf der Unterseite der
Nadelträgerplatte(4)
befestigt. Die Selektionsplatte(3) sorgt dafür , dass
nur die benötigten
Testerpins auf die entsprechende DCR-Plate-Leitungsverbindung(14)
an Position 16 trüb
und dient beim Einschlagen der Hülse
in die Nadelträgerplatte
zusätzlich
zur Stabilisierung der Leitungsverbindung(14), die durch
das Einpressen des Einpressstiftes(13) der Hülse(1)
gegen die Selektionsplatte gedrückt
wird. Die Selektionsplatte(3) wird zwecks Spiel für den Einpressstift(13)
der Hülse(1)
vor dem Einschlagen der Hülse(1)
mit den Prüflingsbohrdaten
von oben 2mm tief angebohrt.
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Beschreibung:
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Die DCR-Plate(Pos.7 und Pos.8) wird
mit den Prüflingsbohrdaten,
bezogen auf einen gemeinsamen Nullpunkt mit der Nadelträgerplatte(4),
entsprechend dem benötigten
Durchmesser des Einpressstiftes(13) der Hülse(1)
gebohrt.
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Das automatisch mit der Software
Autorouter erstellte Leitungsverbindungen-Layout wird nun auf die
DCR-Plate(7,8) auf Pos.8 von unten entsprechend
aufgelegt und die DCR-Plate(7,8) photochemisch
behandelt (Belichten, Entwickeln, Ätzen, Entschichten), d.h. in
diesem Zustand besteht die Position 8 der DCR-Plate nur
noch aus den benötigten DCR-Plate-Leitungsverbindungen(14)
sowie DCR-Plate-Distanzstücken(17),
getragen durch die ätzbeständige, isolierfähige Transparentspezialfolie (Position 7)
. Um bei der Anwendung der DCR-Plate (Direct Contact Route-Plate)
kurze Leitungsverbindungen zu realisieren und Überkreuzungen der Leitungsverbindungen
zu minimieren, wurde vor der Layouterstellung der Leitungsverbindungen,
die Berechnung des für
die Leitungsverbindung strategisch günstigsten Testpins vom Testsystem
in Abhängigkeit
der Prüfpunkt-Koordinate
des Prüflings
durchgeführt.
Diese nun neu selektierten Testpins werden dann ins Programm zurückgelesen
und für
die Prüfprogrammerstellung
verwendet. Nach der photochemischen Behandlung wird die DCR-Plate(Pos.7
und Pos.8) direkt auf der Unterseite der Nadelträgerplatte(4) befestigt
und die Selektionsplatte(3) aufgeschraubt. Der Einpreßstift(13)
der Hülse(1)
wird beim Einschlagen der Hülse(1)
in die Nadelträgerplatte(4) automatisch
in die DCR-PIate-Leitungsverbindung(14) eingepreßt(15)
und somit ist die benötigte Leitungsverbindung
im Adapter ohne weitere manuelle Arbeit hergestellt (kein zusätzliches
Löten,
kein Aufstecken von Auf-/Einsteck-Zusatzteile mehr notwendig). Der
Prüffederkontakt(11)
des Test-Systems kontaktiert
an Position 16 die DCR-PIate-Leitungsverbindung(14)
von unten. Die Selektionsplatte(3) sorgt dafür, dass
nur die benötigten
Testerpins auf die entsprechende DCR-PIate-Leitungsverbindung(14) an
Position 16 trifft und dient beim Einschlagen der Hülse(1)
in die Nadelträgerplatte(4)
zusätzlich
zur Stabilisierung der Leitungsverbindungen(14), die durch
das Einpressen des Einpreßstiftes(13),
der Hülse(1),
gegen die Selektionsplatte(3) gedrückt wird. Die Selektionsplatte(3)
wurde zwecks Spiel für den
Einpressstift(13) der Hülse(1)
vor dem Einschlagen der Hülse(1)
mit den Prüflingsbohrdaten
von oben 2mm tief angebohrt. Aufgrund der direkten Einpressung des
Einpreßstiftes(13)
der Hülse(1)
in die DCR-PIate-Leitungsverbindung(14), können kleinste Raster
realisiert werden.
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Wie aus Figure 1 hervorgeht,
erfolgt die Kontaktierung vom Prüfling
zum InCircuit-Testsystem über : Hülse mit
gestecktem Prüffederkontakt(1)
und DCR-Plate-Leitungsverbindungen(14). Der Prüffederkontakt(11)
des Testsystems kontaktiert an Position 16 die DCR-PIate-Leitungsverbindung(14)
direkt von unten. Der Einpreßstift(13)
der Hülse(1)
ist direkt in die DCR-Plate-Leitungsverbindung(14) eingepreßt(15).
Die DCR-PIate-Distanzstücke(17)
dienen zusätzlich
zur Stabilisierung.
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Erklärung zu 2:
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In Figure 2 ist im Schnitt
nochmal deutlich das Verfahren zur einfachen Erstellung der Leitungsverbindungen
und Erzielung von kleinsten Prüfrastern(25mil,50mil-Raster)
auf kleinstem Raum, bei einem Prüfadapter
bzw. einer Adaptereinrichtung für ein
nicht gemultiplextes Testsystem veranschaulicht.
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Durch dieses neue eingesetzte Verfahren entsteht
die Definition DCR-Prüfadapter
(Direct Contact Route-Prüfadapter).
Prinzipiell wird eine DCR-Plate (bestehend aus Position 7 und
Position 8) die zwecks Stabilität direkt auf der Unterseite
der Nadelträgerplatte(4)
befestigt ist verwendet.
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Die in 2 angegebene
DCR-Plate(Pos.7 und Pos.8) wurde bereits mit den Prüflingsbohrdaten, bezogen
auf einen gemeinsamen Nullpunkt mit der Nadelträgerplatte(4), entsprechend
dem benötigten Durchmesser
des Einpreßstiftes(13)
der Hülse(1)
gebohrt und mit dem von der Software Autorouter automatisch erstelltem
Leitungsverbindungslayout photochemisch behandelt (Belichten, Entwickeln, Ätzen, Entschichten)
, d.h. in diesem Zustand besteht die Position 8 nur noch
aus den benötigten
DCR-Plate Leitungs-Verbindungen(14) sowie DCR-Plate-Distanzstücken(17),
getragen durch die ätzbeständige, isolierfähige Transparentspezialfolie
(Position 7) . Der Einpreßstift(13) der Hülse(1)
wird beim Einschlagen der Hülse(1)
in die Nadelträgerplatte(4)
automatisch in die DCR-PIate-Leitungsverbindung(14) eingepreßt(15)
und somit ist die benötigte
Leitungsverbindung im Adapter ohne weitere manuelle Arbeit hergestellt.
Der Prüffederkontakt(11)
des Testsystems kontaktiert an Position 16 die DCR-PIate-Leitungsverbindung(14)
von unten. Die Selektionsplatte(3) sorgt dafür, dass
nur die benötigten
Testerpins auf die entsprechende DCR-PIate-Leitungsverbindung(14)
an Position 16 trifft.
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In 7 ist
hierfür
die Ansicht von oben dargestellt und wird auch nochmal explicit
erklärt.
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Erklärung zu 3 – 6: siehe Erklärung von 2.
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In 3 – 6 ist nur die Möglichkeit
der Leitungsverbindungen(14) für ein gemultiplextes Test-System
dargestellt, d.h. mehrere DCR-Plates werden aufeinandergelegt und
die DCR-PIate-Leitungsverbindung(14) kann in verschiedenen
Leveln erfolgen. Diverse Level1-Level4 – Verbindungen sind bei Leitungsüberkreuzungen
erforderlich. All dies wird automatisch per Software berechnet.
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- – In 3 ist eine Levell-Verbindung
dargestellt
- – In 4 ist eine Levell-Verbindung
dargestellt
- – In 5 ist eine Level3-Verbindung
dargestellt
- – In 6 ist eine Level4-Verbindung
dargestellt
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Erklärung zu Figure 7:
In Figure 7 ist die Ansicht einer DCR-Plate-Leitungsverbindung
von oben ersichtlich. Der Einpreßstift(13) der Hülse(1)
wird beim Einschlagen der Hülse(1),
in die Nadelträgerplatte
des Adapters, automatisch in die DCR-PIate-Leitungsverbindung(14)
an Position 15 (15) eingepresst und somit ist die benötigte Leitungsverbindung im
Adapter ohne weitere manuelle Arbeit hergestellt. Der Prüffederkontakt(11)
des Testsystems kontaktiert an Position 16 die DCR-PIate-Leitungsverbindung(14)
von unten.