DE10226642A1 - Abstimmbare Laserquellenvorrichtung - Google Patents
Abstimmbare LaserquellenvorrichtungInfo
- Publication number
- DE10226642A1 DE10226642A1 DE10226642A DE10226642A DE10226642A1 DE 10226642 A1 DE10226642 A1 DE 10226642A1 DE 10226642 A DE10226642 A DE 10226642A DE 10226642 A DE10226642 A DE 10226642A DE 10226642 A1 DE10226642 A1 DE 10226642A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- wavelength
- laser source
- tunable laser
- measuring device
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/14—External cavity lasers
- H01S5/141—External cavity lasers using a wavelength selective device, e.g. a grating or etalon
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
- H01S5/0687—Stabilising the frequency of the laser
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/14—External cavity lasers
- H01S5/141—External cavity lasers using a wavelength selective device, e.g. a grating or etalon
- H01S5/143—Littman-Metcalf configuration, e.g. laser - grating - mirror
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Lasers (AREA)
Abstract
In einer abstimmbaren Laserquellenvorrichtung zum Verzweigen eines Lichtausgangs von einem abstimmbaren Laserquellenbereich 1 zum Versorgen eines Wellenlängenmessgerätes 6 und eines Wellenlängenkalibrierreferenzgerätes 5 und dann zum Steuern des abstimmbaren Laserquellenbereiches in Erwiderung auf einen Ausgang des Wellenlängenmessgerätes werden wenigstens eine Spitze und eine Kerbe oder zwei Spitzen oder zwei Kerben oder mehr in einer Messinterferenzperiode des Wellenlängenmessgerätes zwischen einer Vielzahl von Referenzwellenlängen des Wellenlängenkalibrierreferenzgerätes umfasst.
Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine abstimmbare Laserquellenvorrichtung, die beim Auswerten oder Herstellen eines optischen Kommunikationssystems oder einer Vorrichtung eingesetzt wird.
- Ein Aufbau einer abstimmbaren Laserquellenvorrichtung aus dem Stand der Technik wird im Hinblick auf Fig. 4 im Folgenden erläutert.
- In Fig. 4 ist das Licht, das von einem abstimmbaren Laserquellenbereich 11 emittiert wird, eine Ausgangsgröße der abstimmbaren Laserquellenvorrichtung nach außen, über einen Optokoppler 18a als optischem Ausgang.
- Das Licht, das durch den Optokoppler 18a verzweigt wird, wird weiter durch einen Optokoppler 18b verzweigt. Ein abgezweigter Ausgang wird zu einem Wellenlängenmessgerät 16 geführt, das die Wellenlänge unter Verwendung der periodischen Änderung der Störleistung misst, die basierend auf der Abweichung zwischen den optischen Wellenlängen in einem Etalon usw. erzeugt wird. Der andere abgezweigte Ausgang wird zu einer Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung 15 und dem Wellenlängenmessgerät 16 geführt.
- Die detektierten Ausgänge der Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung 15 und des Wellenlängenmessgerätes 16 werden in elektrische Signale konvertiert und dann zu dem Steuer- bzw. Regelschaltkreis 14 geführt, der eine CPU aufweist.
- Der Steuer- bzw. Regelschaltkreis 14 steuert bzw. regelt die Wellenlänge des Lichtes, das ein Ausgang des abstimmbaren Laserquellenbereiches 11 ist, über einen Motortreiberschaltkreis 12 und einen LD-Stromtreiberschaltkreis 13, in Erwiderung auf ein vorbestimmtes Signal von einem Nutzerschnittstellenbereich 17.
- Im Folgenden werden die Details des abstimmbaren Laserquellenbereiches 11 im Hinblick auf Fig. 3 erläutert.
- Fig. 3 ist eine Ansicht, die einen detaillierten Aufbau des abstimmbaren Laserquellenbereiches 11 zeigt. Dieser Aufbau beinhaltet einen Halbleiterlaser (LD) 21, Linsen 22a, 22b, ein Beugungsgitter 23, einen Spiegel 24 und einen Motor 25.
- Das Licht, das von dem Halbleiterlaser 21 emittiert wird, wird durch die Linse 22a in paralleles Licht geformt und tritt dann in das Beugungsgitter 23 ein.
- Nur das Licht mit der Wellenlänge, welche durch das Lageverhältnis zwischen dem Beugungsgitter 23 und dem Spiegel 24 bestimmt ist, und welches außerhalb des Lichteinfalls in das Beugungsgitter 23 ist, kann zu dem Halbleiterlaser 21 wieder zurückgeführt werden. Im Ergebnis ist das Licht mit der speziellen Wellenlänge eine Ausgangsgröße des Halbleiterlasers 21 über die Linse 22b.
- Wenn die externe optische Resonatorlänge durch ein Antreiben des Motors 25 geändert wird, um drehbar die Position des Spiegels 24 um das Rotationszentrum O zu bewegen, kann die Wellenlänge dieses Ausgangslichts geändert werden.
- Wenn der Motor 25 in diesem Fall einfach auf eine vorbestimmte Position gesetzt wird, wird manchmal ein infinitesimaler Fehler in der Position dieses Spiegels 24 erzeugt. Daher wird, wie in Fig. 4 gezeigt, der detektierte Ausgang des Wellenlängenmessgerätes 16 zu dem Steuer- bzw. Regelschaltkreis 14 zurückgeführt, so dass eine Steuerung bzw. Regelung durch ein Antreiben des Motors 25 ausgeführt wird, so dass immer die gemessene Wellenlänge mit der vorbestimmten Wellenlänge zusammenpasst.
- Die Wellenlänge des durch den Halbleiterlaser erzeugten Lichtes kann weiter durch ein Einstellen des Treiberstroms des Halbleiterlasers gesteuert werden. Daher kann die Wellenlänge des Lichtes durch ein Zurückführen des detektierten Ausgangs des Wellenlängenmessgerätes zu dem Treiberschaltkreis des Halbleiterlasers gesteuert bzw. geregelt werden.
- Wie oben beschrieben, wird das Wellenlängenmessgerät, das die Wellenlänge durch ein Verwenden der periodischen Änderung der Störleistung basierend auf der Abweichung zwischen optischen Weglängen in dem Etalon usw. misst, als das Wellenlängenmessgerät in der abstimmbaren Laserquellenvorrichtung in Fig. 4 verwendet. Um die Änderung in der Abweichung zwischen den optischen Weglängen durch die Änderung der Umgebungstemperatur zu kompensieren, ist daher eine Temperatursteuer- bzw. -regelungsvorrichtung zum Halten des Wellenlängenmessgerätes auf einer konstanten Temperatur (Temperatursteuerung bzw. -regelung) vorgesehen.
- Weiterhin ist die Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung 15 in der abstimmbare Laserquellenvorrichtung in Fig. 4 vorgesehen und wird verwendet, um das Wellenlängenmessgerät zu kalibrieren.
- Die Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung 15 in Fig. 4 sucht in diesem Fall nach der Wellenlänge an einem Punkt der bereits bekannten absorbierten Linienwellenlängen als der Referenzwellenlänge.
- Diese bereits bekannte Wellenlänge wird als die Referenzwellenlänge des Wellenlängenmessgerätes 16 festgelegt, in welchem, wie in Fig. 5 gezeigt, eine periodische Änderung der Störleistung vorliegt.
- Wie in Fig. 5 gezeigt, wird eine Wellenlängenlinearitätskorrekturtabelle, durch welche der Ausgang des Wellenlängenmessgerätes 16, in welchem die periodische Änderung der Störleistung vorliegt, auf der Basis der Referenzwellenlänge korrigiert wird, formuliert und dann in einem Speicherelement (nicht gezeigt) in dem Steuer- bzw. Regelschaltkreis 14 gespeichert.
- Wie in Fig. 5 gezeigt, hat die Gaszelle 15 die Eigenschaft, die Wellenlänge an dem einen speziellen bereits bekannten Punkt zu absorbieren. Die absorbierten Linienwellenlängen der Gaszelle sind sehr stabil gegenüber Umgebungsänderungen wie z. B. der Änderung der Umgebungstemperatur usw.
- Im Gegensatz dazu ändert sich, wie in Fig. 5 gezeigt, der gemessene Ausgang des Wellenlängenmessgerätes 16, das die Abweichung zwischen den optischen Wellenlängen verwendet, so, dass periodische Spitzen und Kerben der Leistung auftreten.
- Jedoch hat das Intervall zwischen der Spitze (Kerbe) und der Spitze (Kerbe) die Eigenschaft, dass es von der Änderung der Umgebungstemperatur abhängig ist.
- Selbst wenn im Speziellen, wie in Fig. 5 gezeigt, die Wellenlängenlinearitätskorrekturtabelle bei einer bestimmten Umgebungstemperatur formuliert ist, während die durch einen Pfeil gekennzeichnete absorbierte Linienwellenlänge der Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung 15 als der Referenzwert des gemessenen Ausgangs des Wellenlängenmessgerätes 16 verwendet wird, wird dieser gemessene Ausgang des Wellenlängenmessgerätes 16 in Fig. 5 in der lateralen Achsenrichtung gestreckt oder zusammengezogen, wenn die Umgebungstemperatur geändert wird. Im Ergebnis wird in der Wellenlängenlinearitätskorrekturtabelle ein Fehler erzeugt.
- In der abstimmbaren Laserquellenvorrichtung, welche in Fig. 4 gemäß dem Stand der Technik beschrieben wurde, tritt daher das folgende Problem auf.
- Obwohl eine Temperatursteuerung bzw. -regelung bei dem Wellenlängenmessgerät verwendet wird, wird eine infinitesimale Temperaturänderung in dem Gerät hervorgerufen, wenn die Umgebungstemperatur des Gerätes beim Formulieren der Wellenlängenlinearitätskorrekturtabelle zu der Zeit, wenn das Gerät aus der Fabrik kommt, verschieden von der des Gerätes beim Nutzereinsatz ist. Aus diesem Grund übt eine solche Temperaturänderung einen nicht geringen Effekt auf die Wellenlängenmessgenauigkeit aus.
- Um die Wellenlängengenauigkeit gegenüber einer Variation der Umgebungstemperatur, die zu der Zeit erzielt wird, wenn das Gerät aus der Fabrik kommt, aufrechtzuerhalten, muss das Wellenlängenmessgerät in einem Hochleistungstemperatursteuer- bzw. -regelmechanismus (thermostatisches Bad) installiert werden. Normalerweise sind diese thermostatischen Hochleistungsbäder sehr groß und teuer.
- Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die Probleme der abstimmbaren Laserquellenvorrichtung aus dem Stand der Technik, die in Fig. 4 gezeigt ist, zu überwinden, und im Speziellen das Problem, dass, wenn eine Umgebungstemperatur der Vorrichtung beim Nutzereinsatz verschieden von der der Vorrichtung beim Vorbereiten der Wellenlängenlinearitätskorrekturtabelle zu der Zeit wird, wenn das Gerät aus der Fabrik kommt, eine sehr geringe Temperaturänderung in der Vorrichtung hervorgerufen wird, was einen nicht geringen Effekt auf die Wellenlängengenauigkeit hat.
- Um die obigen Aufgaben zu lösen, wird mit der vorliegenden Erfindung eine abstimmbare Laserquellenvorrichtung zum Teilen eines Lichtausgangs von einem abstimmbaren Laserquellenbereich zur Verfügung gestellt, um ein Wellenlängenmessgerät und ein Wellenlängenkalibrierreferenzgerät zu versorgen und dann den abstimmbaren Laserquellenbereich in Erwiderung auf einen Ausgang des Wellenlängenmessgerätes zu steuern bzw. zu regeln,
wobei wenigstens eine Spitze und eine Kerbe oder zwei Spitzen oder zwei Kerben oder mehr in einer Messinterferenzperiode des Wellenlängenmessgerätes zwischen einer Vielzahl von Referenzwellenlängen des Wellenlängenkalibrierreferenzgerätes umfasst werden. (Aspekt 1) - Wenn demgemäß wenigstens zwei Punkte, d. h., eine Spitze und eine Kerbe in der Messinterferenzperiode des Wellenlängenmessgerätes durch das Wellenlängenkalibrierreferenzgerät kalibriert werden können, kann eine genaue Wellenlängenmessung selbst dann erreicht werden, wenn die äußere Umgebung geändert wird.
- Das Wellenlängenkalibrierreferenzgerät kann weiterhin als eine Gaszelle ausgebildet sein. (Aspekt 2)
- Das Wellenlängenmessgerät kann weiter ein Wellenlängenmessgerät sein, das die Wellenlänge durch Verwenden der periodischen Änderung der Störleistung basierend auf der Abweichung zwischen optischen Weglängen misst. (Aspekt 3)
- Das Wellenlängenmessgerät kann weiterhin als ein Etalon ausgebildet sein. (Aspekt 4) Wenn weiterhin der abstimmbare Laserquellenbereich so aufgebaut ist, dass er kontinuierlich eine Wellenlänge davon abtasten kann, kann der Effekt des Verbesserns der Wellenlängengenauigkeit bei einem kontinuierlichen Wellenlängenabtasten erhöht werden. (Aspekt 5)
- Diese abstimmbaren Laserquellenvorrichtungen, die in der Lage sind, die Wellenlänge kontinuierlich mit hoher Genauigkeit abzutasten, können dazu beitragen, dass die Genauigkeit bei der Messung der Wellenlängenabhängigkeitscharakteristik optischer Teile, die in der optischen Kommunikation verwendet werden usw., beträchtlich erhöht wird.
- Fig. 1 ist eine Ansicht, die einen Aufbau einer abstimmbaren Laserquellenvorrichtung der vorliegenden Erfindung zeigt.
- Fig. 2 ist eine Ansicht, die ein Verhältnis zwischen den Ausgängen eines Wellenlängenmessgerätes und einer Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung der vorliegenden Erfindung zeigt.
- Fig. 3 ist eine Ansicht, die einen Aufbau eines abstimmbaren Laserquellenbereiches zeigt.
- Fig. 4 ist eine Ansicht, die einen Aufbau einer abstimmbaren Laserquellenvorrichtung aus dem Stand der Technik zeigt.
- Fig. 5 ist eine Ansicht, die ein Verhältnis zwischen den Ausgängen eines Wellenlängenmessgerätes und einer Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung aus dem Stand der Technik zeigt.
- Eine Ausführungsform einer abstimmbaren Laserquellenvorrichtung der vorliegenden Erfindung wird im Hinblick auf Fig. 1 im Folgenden erläutert.
- In Fig. 1 ist Licht, das von einem abstimmbaren Laserquellenbereich 1 emittiert wird, eine Ausgangsgröße der abstimmbaren Laserquellenvorrichtung nach außen über einen Optokoppler 8a als optischem Ausgang.
- Das Licht, das durch den Optokoppler 8a verzweigt wird, wird weiter durch einen Optokoppler 8b verzweigt. Ein abgezweigter Ausgang wird zu einem Wellenlängenmessgerät 6 geführt, das die Wellenlänge durch Verwenden der periodischen Änderung der Störleistung misst, die basierend auf der Abweichung zwischen den optischen Weglängen in einem Etalon usw. erzeugt wird. Der andere abgezweigte Ausgang wird zu einer Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung 5 und dem Wellenlängenmessgerät 6 geführt.
- Die detektierten Ausgänge der Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung 5 und des Wellenlängenmessgerätes 6 werden weiterhin in elektrische Signale konvertiert und dann zu einem Steuer- bzw. Regelschaltkreis 4 geführt, der eine CPU aufweist.
- Der Steuer- bzw. Regelschaltkreis 4 steuert weiterhin die Wellenlänge des Lichtes, das ein Ausgang des abstimmbaren Laserquellenbereiches 1 ist, über einen Motortreiberschaltkreis 2 und einen LD-Stromtreiberschaltkreis 3, in Erwiderung auf ein vorbestimmtes Signal von einem Nutzerschnittstellenbereich 7.
- Wenn zusätzlich Details des abstimmbaren Laserquellenbereiches 1 ähnlich der Beschreibung in Fig. 3 und ähnlich denen, die in Fig. 4 zum Stand der Technik beschrieben sind, angegeben werden, wird ihre Erläuterung im Folgenden weggelassen.
- Die Besonderheit der abstimmbaren Laserquellenvorrichtung, welche gegenständlich bezüglich Fig. 1 beschrieben wurde und auf welche die vorliegende Erfindung angewendet wird, ist die, dass eine Vielzahl von bereits bekannten absorbierten Linienwellenlängen, die durch Pfeile in Fig. 2 gezeigt sind (zwei Punkte in Fig. 2), in der Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung 5 vorhanden ist.
- Fig. 2 ist eine Ansicht, die ein Verhältnis zwischen den Ausgängen der Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung (5 in Fig. 1) und des Wellenlängenmessgerätes (6 in Fig. 1), das die periodische Änderung der Störleistung verwendet, die basierend auf der Abweichung zwischen den optischen Weglängen in dem Etalon usw. erzeugt wird, zeigt.
- In Fig. 2 bezeichnet jeweils die Abszisse die Wellenlänge und die Ordinate bezeichnet die Leistung.
- Wie in Fig. 2 gezeigt, hat die Gaszelle die Eigenschaft, dass sie eine Vielzahl von speziellen bereits bekannten Wellenlängen (zwei Punkte in Fig. 2) absorbiert. Die absorbierten Linienwellenlängen der Gaszelle sind sehr stabil gegenüber einer Umgebungsänderung wie z. B. der Umgebungstemperatur, usw.
- Im Gegensatz dazu wird, wie in Fig. 2 gezeigt, der gemessene Ausgang des Wellenlängenmessgerätes, das die Abweichung zwischen den optischen Weglängen verwendet, so geändert, dass seine Leistung periodisch eine Spitze und eine Kerbe hat.
- In diesem Fall hat das Intervall zwischen der Spitze (Kerbe) und der Spitze (Kerbe) die Eigenschaft, dass es von der Änderung der Umgebungstemperatur abhängt.
- Mit anderen Worten, obwohl die bereits bekannte absorbierte Linienwellenlänge der Gaszelle zwei Kerben des gemessenen Ausgangs des Wellenlängenmessgerätes, das die Abweichung zwischen den optischen Weglängen bei einer bestimmten Umgebungstemperatur wie in Fig. 2 verwendet, entsprechen kann, wird der gemessene Ausgang des Wellenlängenmessgerätes, das die Abweichung zwischen den optischen Weglängen in Fig. 2 verwendet, in der lateralen Achsenrichtung gestreckt und zusammengezogen, wenn die Umgebungstemperatur geändert wird. Daher stimmt die absorbierte Linienwellenlänge nicht mit zwei Kerben des gemessenen Ausgangs überein.
- In der vorliegenden Erfindung werden die Spitze und die Kerbe der periodischen Leistungsänderung des gemessenen Ausgangs des Wellenlängenmessgerätes zwischen den speziellen mehrfachen (zwei Punkten in Fig. 2) bereits bekannten absorbierten Linienwellenlängen A und B der Gaszelle umfasst, so dass sie die vorbestimmte Anzahl überschreiten.
- Im Speziellen werden wenigstens eine Spitze und eine Kerbe oder zwei Spitzen oder zwei Kerben oder mehr in der Periode a-b umfasst, die der Periode zwischen den mehreren (zwei Punkten in Fig. 2) bereits bekannten Wellenlängen entspricht, d. h., den absorbierten Linienwellenlängen A und B der Gaszelle. (In Fig. 2 werden zwei Kerben und eine Spitze zwischen a-b umfasst.)
- Wenn auf diese Weise eine Spitze und eine Kerbe oder zwei Spitzen oder zwei Kerben oder mehr zwischen wenigstens zwei bereits bekannten Wellenlängen (zwischen A und B in Fig. 2) vorliegen, kann die gemessene Wellenlänge anders als durch zwei bereits bekannte Punkte (außen) mittels einer Konversion basierend auf der Periodizität des Wellenlängenmessgerätes berechnet werden.
- Gemäß Aspekt 1 der Erfindung wird eine abstimmbare Laserquellenvorrichtung zum Abzweigen eines Lichtausgangs von einem abstimmbaren Laserquellenbereich 1 zur Verfügung gestellt, um ein Wellenlängenmessgerät 6 und ein Wellenlängenkalibrierreferenzgerät 5 zu versorgen und dann den abstimmbaren Laserquellenbereich in Erwiderung auf einen Ausgang des Wellenlängenmessgerätes zu steuern bzw. zu regeln, wobei wenigstens eine Spitze und eine Kerbe oder zwei Spitzen oder zwei Kerben oder mehr in einer Messinterferenzperiode des Wellenlängenmessgerätes zwischen einer Vielzahl von Referenzwellenlängen des Wellenlängenkalibrierreferenzgerätes umfasst werden. Wenn daher an wenigstens zwei Punkten, d. h. einer Spitze und einer Kerbe in der Messinterferenzperiode des Wellenlängenmessgerätes durch das Wellenlängenkalibrierreferenzgerät kalibriert wird, kann eine genaue Wellenlängenmessung erreicht werden, selbst wenn die äußere Umgebung geändert wird.
- Gemäß den Aspekten 2 bis 4 der Erfindung, ist das Wellenlängenkalibrierreferenzgerät aus der Gaszelle ausgebildet, und weiterhin umfasst das Wellenlängenmessgerät ein Wellenlängenmessgerät wie z. B. das Etalon, was die Wellenlänge durch Verwenden der periodischen Änderung der Störleistung basierend auf der Abweichung zwischen optischen Weglängen misst. Wenn daher die Temperatur des Wellenlängenmessgerätes so gesteuert bzw. geregelt wird, dass die Wellenlängenintervallmessung mit dem durch das Wellenlängenmessgerät gemessenen Ergebnis an zwei oder mehreren bereits bekannten Wellenlängen, basierend auf den absorbierten Linienwellenlängen der Gaszelle, übereinstimmt, kann eine extrem hohe Wellenlängenlinearität an den Wellenlängen der Gaszelle außerhalb der absorbierten Linienwellenlängen erreicht werden.
- Wenn weiterhin gemäß Aspekt 5 der Erfindung der abstimmbare Laserquellenbereich so aufgebaut ist, dass er kontinuierlich die Wellenlänge davon abtasten kann, kann der Effekt der Verbesserung der Wellenlängengenauigkeit bei einem kontinuierlichen Wellenlängenabtasten erhöht werden.
- Weiterhin können die abstimmbaren Laserquellenvorrichtungen, die in der Lage sind, die Wellenlänge kontinuierlich mit hoher Genauigkeit abzutasten, dazu beitragen, dass die Genauigkeit beim Messen der Wellenlängenabhängigkeitscharakteristik von optischen Teilen, die in der optischen Kommunikation usw. verwendet werden, beträchtlich erhöht wird. Fig. 1 1 Abstimmbarer Laserquellenbereich
2 Motorantriebsschaltkreis
3 LD-Stromantriebsschaltkreis
4 Steuer- bzw. Regelschaltkreis
5 Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung
6 Wellenlängenmessgerät
7 Nutzerschnittstellenbereich
8a Optokoppler
8b Optokoppler
A Abstimmbare Laserquellenvorrichtung
B Wellenlängeneinstellung
C Einstellung des optischen Ausgangs
D Optischer Ausgang
Fig.2 A Wellenlängenmessgerät
B Die Periode hängt von der Temperatur in dem Wellenlängenmessgerät unter Verwendung der Abweichung zwischen den optischen Weglängen ab
C Gaszelle
D Eine Vielzahl von bereits bekannten Wellenlängen
E Die absorbierten Linienwellenlängen der Gaszelle sind sehr stabil gegenüber Umgebungsänderungen wie z. B. der Umgebungstemperatur usw.
Fig.3 22a Linse
22b Linse
23 Beugungsgitter
24 Spiegel
25 Motor
O Rotationszentrum
A Ausgang
B Wellenlängenänderung
Fig.4 11 Abstimmbarer Laserquellenbereich
12 Motorantriebsschaltkreis
13 LD-Stromantriebsschaltkreis
14 Steuer- bzw. Regelschaltkreis
15 Gaszelle als Referenz für eine Wellenlängenkalibrierung
16 Wellenlängenmessgerät
17 Nutzerschnittstellenbereich
18a Optokoppler
18b Optokoppler
A Abstimmbare Laserquellenvorrichtung
B Wellenlängeneinstellung
C Einstellung des optischen Ausgangs
D Optischer Ausgang
Fig.5 A Wellenlängenmessgerät
B Die Periode hängt von der Temperatur in dem Wellenlängenmessgerät unter Verwendung der Abweichung zwischen den optischen Weglängen ab
C Gaszelle
D Bereits bekannte Wellenlänge
E Die absorbierten Linienwellenlängen der Gaszelle sind sehr stabil gegenüber Umgebungsänderungen wie z. B. der Umgebungstemperatur usw.
Claims (5)
1. Eine abstimmbare Laserquellenvorrichtung, welche aufweist:
ein Wellenlängenmessgerät (6),
einen abstimmbaren Laserquellenbereich (1),
ein Wellenlängenkalibrierreferenzgerät (5),
wobei die abstimmbare Laserquellenvorrichtung einem Abzweigen eines Lichtausgangs von dem abstimmbaren Laserquellenbereich (1) zum Versorgen des Wellenlängenmessgerätes (6) und des Wellenlängenkalibrierreferenzgerätes (5), und dem Steuern bzw. Regeln des abstimmbaren Laserquellenbereiches (1) in Erwiderung auf einen Ausgang von dem Wellenlängenmessgerät (6) dient, wobei
wenigstens eine Spitze und eine Kerbe, zwei Spitzen, oder zwei Kerben oder mehr in einer Messinterferenzperiode des Wellenlängenmessgerätes (6) zwischen einer Vielzahl von Referenzwellenlängen des Wellenlängenkalibrierreferenzgerätes (5) umfasst werden.
ein Wellenlängenmessgerät (6),
einen abstimmbaren Laserquellenbereich (1),
ein Wellenlängenkalibrierreferenzgerät (5),
wobei die abstimmbare Laserquellenvorrichtung einem Abzweigen eines Lichtausgangs von dem abstimmbaren Laserquellenbereich (1) zum Versorgen des Wellenlängenmessgerätes (6) und des Wellenlängenkalibrierreferenzgerätes (5), und dem Steuern bzw. Regeln des abstimmbaren Laserquellenbereiches (1) in Erwiderung auf einen Ausgang von dem Wellenlängenmessgerät (6) dient, wobei
wenigstens eine Spitze und eine Kerbe, zwei Spitzen, oder zwei Kerben oder mehr in einer Messinterferenzperiode des Wellenlängenmessgerätes (6) zwischen einer Vielzahl von Referenzwellenlängen des Wellenlängenkalibrierreferenzgerätes (5) umfasst werden.
2. Die abstimmbare Laserquellenvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass
das Wellenlängenkalibrierreferenzgerät aus einer Gaszelle ausgebildet ist.
3. Die abstimmbare Laserquellenvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, dass
das Wellenlängenmessgerät (6) eine Wellenlänge durch Verwenden einer
periodischen Änderung einer Störleistung basierend auf einer Abweichung zwischen
optischen Weglängen misst.
4. Die abstimmbare Laserquellenvorrichtung nach Anspruch 3, dadurch
gekennzeichnet, dass
das Wellenlängenmessgerät (6) aus einem Etalon ausgebildet ist.
5. Die abstimmbare Laserquellenvorrichtung nach wenigstens einem der
vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass
der abstimmbare Laserquellenbereich (1) in der Lage ist, kontinuierlich die
Wellenlänge davon abzutasten.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001179460A JP2002374034A (ja) | 2001-06-14 | 2001-06-14 | 可変波長光源装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10226642A1 true DE10226642A1 (de) | 2003-01-02 |
Family
ID=19020016
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10226642A Ceased DE10226642A1 (de) | 2001-06-14 | 2002-06-14 | Abstimmbare Laserquellenvorrichtung |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6697389B2 (de) |
JP (1) | JP2002374034A (de) |
CA (1) | CA2390780A1 (de) |
DE (1) | DE10226642A1 (de) |
FR (1) | FR2828347A1 (de) |
Families Citing this family (53)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002374034A (ja) * | 2001-06-14 | 2002-12-26 | Ando Electric Co Ltd | 可変波長光源装置 |
US20040019459A1 (en) * | 2002-07-29 | 2004-01-29 | Paul Dietz | Auto-characterization of optical devices |
US20090198454A1 (en) * | 2005-08-23 | 2009-08-06 | Japan Science And Technology Agency | Standard sample for test and /or calibration of circular dichroism dispersion meter and uv-visible spectrophotometer |
JP4557907B2 (ja) * | 2006-02-16 | 2010-10-06 | アンリツ株式会社 | Mems波長掃引光源の波長校正装置及び方法 |
US9867530B2 (en) | 2006-08-14 | 2018-01-16 | Volcano Corporation | Telescopic side port catheter device with imaging system and method for accessing side branch occlusions |
JP5524835B2 (ja) | 2007-07-12 | 2014-06-18 | ヴォルカノ コーポレイション | 生体内撮像用カテーテル |
WO2009009802A1 (en) | 2007-07-12 | 2009-01-15 | Volcano Corporation | Oct-ivus catheter for concurrent luminal imaging |
US8049900B2 (en) * | 2007-07-12 | 2011-11-01 | Volcano Corporation | Apparatus and methods for uniform frequency sample clocking |
US9596993B2 (en) | 2007-07-12 | 2017-03-21 | Volcano Corporation | Automatic calibration systems and methods of use |
EP2521226B1 (de) * | 2009-12-30 | 2019-09-11 | National University Corporation Chiba University | Laser mit externem resonator |
US11141063B2 (en) | 2010-12-23 | 2021-10-12 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Integrated system architectures and methods of use |
US11040140B2 (en) | 2010-12-31 | 2021-06-22 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Deep vein thrombosis therapeutic methods |
US9360630B2 (en) | 2011-08-31 | 2016-06-07 | Volcano Corporation | Optical-electrical rotary joint and methods of use |
EP2904671B1 (de) | 2012-10-05 | 2022-05-04 | David Welford | Systeme und verfahren zum verstärken von licht |
US9858668B2 (en) | 2012-10-05 | 2018-01-02 | Volcano Corporation | Guidewire artifact removal in images |
US9367965B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-06-14 | Volcano Corporation | Systems and methods for generating images of tissue |
US11272845B2 (en) | 2012-10-05 | 2022-03-15 | Philips Image Guided Therapy Corporation | System and method for instant and automatic border detection |
US9292918B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-03-22 | Volcano Corporation | Methods and systems for transforming luminal images |
US9307926B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-04-12 | Volcano Corporation | Automatic stent detection |
US9286673B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-03-15 | Volcano Corporation | Systems for correcting distortions in a medical image and methods of use thereof |
US10568586B2 (en) | 2012-10-05 | 2020-02-25 | Volcano Corporation | Systems for indicating parameters in an imaging data set and methods of use |
US10070827B2 (en) | 2012-10-05 | 2018-09-11 | Volcano Corporation | Automatic image playback |
US9324141B2 (en) | 2012-10-05 | 2016-04-26 | Volcano Corporation | Removal of A-scan streaking artifact |
US9840734B2 (en) | 2012-10-22 | 2017-12-12 | Raindance Technologies, Inc. | Methods for analyzing DNA |
EP2931132B1 (de) | 2012-12-13 | 2023-07-05 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Vorrichtung zur gezielten kanülierung |
US9709379B2 (en) | 2012-12-20 | 2017-07-18 | Volcano Corporation | Optical coherence tomography system that is reconfigurable between different imaging modes |
US10942022B2 (en) | 2012-12-20 | 2021-03-09 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Manual calibration of imaging system |
EP2934282B1 (de) | 2012-12-20 | 2020-04-29 | Volcano Corporation | Ortung von intravaskulären bildern |
US11406498B2 (en) | 2012-12-20 | 2022-08-09 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Implant delivery system and implants |
US10939826B2 (en) | 2012-12-20 | 2021-03-09 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Aspirating and removing biological material |
EP2934311B1 (de) | 2012-12-20 | 2020-04-15 | Volcano Corporation | Katheter mit nahtlosem übergang |
WO2014100530A1 (en) | 2012-12-21 | 2014-06-26 | Whiseant Chester | System and method for catheter steering and operation |
US9612105B2 (en) | 2012-12-21 | 2017-04-04 | Volcano Corporation | Polarization sensitive optical coherence tomography system |
WO2014099760A1 (en) | 2012-12-21 | 2014-06-26 | Mai Jerome | Ultrasound imaging with variable line density |
EP2934653B1 (de) | 2012-12-21 | 2018-09-19 | Douglas Meyer | Rotierender ultraschallbildgebungskatheter mit einem erweiterten katheterkörperteleskop |
JP2016507892A (ja) | 2012-12-21 | 2016-03-10 | デイビッド ウェルフォード, | 光の波長放出を狭幅化するためのシステムおよび方法 |
US10058284B2 (en) | 2012-12-21 | 2018-08-28 | Volcano Corporation | Simultaneous imaging, monitoring, and therapy |
CA2896004A1 (en) | 2012-12-21 | 2014-06-26 | Nathaniel J. Kemp | Power-efficient optical buffering using optical switch |
US9486143B2 (en) | 2012-12-21 | 2016-11-08 | Volcano Corporation | Intravascular forward imaging device |
JP2016508757A (ja) | 2012-12-21 | 2016-03-24 | ジェイソン スペンサー, | 医療データのグラフィカル処理のためのシステムおよび方法 |
WO2014099672A1 (en) | 2012-12-21 | 2014-06-26 | Andrew Hancock | System and method for multipath processing of image signals |
US10226597B2 (en) | 2013-03-07 | 2019-03-12 | Volcano Corporation | Guidewire with centering mechanism |
JP6243453B2 (ja) | 2013-03-07 | 2017-12-06 | ボルケーノ コーポレイション | 血管内画像におけるマルチモーダルセグメンテーション |
WO2014164696A1 (en) | 2013-03-12 | 2014-10-09 | Collins Donna | Systems and methods for diagnosing coronary microvascular disease |
US11154313B2 (en) | 2013-03-12 | 2021-10-26 | The Volcano Corporation | Vibrating guidewire torquer and methods of use |
US11026591B2 (en) | 2013-03-13 | 2021-06-08 | Philips Image Guided Therapy Corporation | Intravascular pressure sensor calibration |
US9301687B2 (en) | 2013-03-13 | 2016-04-05 | Volcano Corporation | System and method for OCT depth calibration |
JP6339170B2 (ja) | 2013-03-13 | 2018-06-06 | ジンヒョン パーク | 回転式血管内超音波装置から画像を生成するためのシステム及び方法 |
US10426590B2 (en) | 2013-03-14 | 2019-10-01 | Volcano Corporation | Filters with echogenic characteristics |
US10292677B2 (en) | 2013-03-14 | 2019-05-21 | Volcano Corporation | Endoluminal filter having enhanced echogenic properties |
US10219887B2 (en) | 2013-03-14 | 2019-03-05 | Volcano Corporation | Filters with echogenic characteristics |
JP2020159976A (ja) * | 2019-03-27 | 2020-10-01 | ウシオ電機株式会社 | 分光測定装置及び分光測定装置における対応表校正方法 |
CN111024246B (zh) * | 2019-12-25 | 2021-05-18 | 北京科益虹源光电技术有限公司 | 基于法珀标准具的测试波长温漂的补偿方法及装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001124664A (ja) * | 1999-10-29 | 2001-05-11 | Ando Electric Co Ltd | 光波長分散測定装置、及び光波長分散測定方法 |
JP2001185808A (ja) * | 1999-12-22 | 2001-07-06 | Anritsu Corp | 波長可変光源装置 |
JP2002374034A (ja) * | 2001-06-14 | 2002-12-26 | Ando Electric Co Ltd | 可変波長光源装置 |
JP2002374033A (ja) * | 2001-06-14 | 2002-12-26 | Ando Electric Co Ltd | 可変波長光源装置 |
-
2001
- 2001-06-14 JP JP2001179460A patent/JP2002374034A/ja active Pending
-
2002
- 2002-06-13 US US10/171,126 patent/US6697389B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-06-14 FR FR0207337A patent/FR2828347A1/fr not_active Withdrawn
- 2002-06-14 DE DE10226642A patent/DE10226642A1/de not_active Ceased
- 2002-06-14 CA CA002390780A patent/CA2390780A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002374034A (ja) | 2002-12-26 |
US6697389B2 (en) | 2004-02-24 |
FR2828347A1 (fr) | 2003-02-07 |
US20020196818A1 (en) | 2002-12-26 |
CA2390780A1 (en) | 2002-12-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10226642A1 (de) | Abstimmbare Laserquellenvorrichtung | |
DE60217496T2 (de) | Steuersystem für einen abstimmbaren laser | |
DE69800018T2 (de) | Halbleiterlaser-Lichtquelle mit abstimmbarer Wellenlänge | |
DE3017509C2 (de) | Halbleiterlaservorrichtung | |
DE60215008T2 (de) | Auswerten und anpassen von laserverlusten auf der basis der am verstärkungsmedium anliegenden spannung | |
DE69021021T2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Überwachung des Betriebs einer Halbleiteranordnung. | |
DE69805745T2 (de) | Lasermodul mit gleichzeitiger Steuerung der Wellenlänge und Ausgangsleistung | |
DE3889323T2 (de) | Laseranordnung. | |
EP0303642B1 (de) | Laserinterferometer zur interferometrischen längenmessung | |
DE3832636A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur stabilisierung der wellenlaenge eines laserstrahls | |
DE4039371A1 (de) | Einrichtung fuer den betrieb einer laserdiode | |
DE4139032A1 (de) | Wellenlaengenstabilisator fuer schmalbandlaser | |
DE3311808C2 (de) | Halbleiterlaseranordnung mit einem Fabry-Perot-Interferometer | |
DE3744323A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum stabilisieren der frequenz eines laserstrahles | |
DE69732254T2 (de) | Abstimmbarer diodenlaser mit externem resonator | |
EP0967698A2 (de) | Wellenlängenstabilisierte Laseranordnung | |
DE3706635C2 (de) | ||
DE69530766T2 (de) | Einrichtung zum detektieren des rotationswinkels eines beugungsgitters | |
DE60032218T2 (de) | Wellenlängenstabilisierungsvorrichtung und dessen Arbeitswellenlängenjustierungsverfahren | |
DE3733823A1 (de) | Verfahren zur kompensation des einflusses von umweltparametern auf die abbildungseigenschaften eines optischen systems | |
DE19962938A1 (de) | Verfahren zum Korrigieren des Ausgangssignals eines Infrarotstrahlungsmehrelementsensors, Infrarotstrahlungsmehrelementsensor und Infrarotstrahlungsmehrelementsensorsystem | |
DE3689085T2 (de) | Spektrophotometer. | |
JPS6482527A (en) | Exposure device | |
DE4114407A1 (de) | Verfahren und anordnung zur bestimmung und fixierung der luftwellenlaenge einer lichtquelle | |
DE68916742T2 (de) | Multimoden-Halbleiterlaser-Interferometer. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8131 | Rejection |