DE102023204682A1

DE102023204682A1 - Austestungseinrichtung und aufzeichnungsmedium

Info

Publication number: DE102023204682A1
Application number: DE102023204682.2A
Authority: DE
Inventors: Tomoyoshi Ujii; Yuki Mori; Kazunori Ochiai
Original assignee: Renesas Electronics Corp
Current assignee: Renesas Electronics Corp
Priority date: 2022-05-19
Filing date: 2023-05-19
Publication date: 2023-11-30
Also published as: US11899564B2; JP2023171270A; US20230376402A1

Abstract

Eine Austestungseinrichtung zum Durchführen einer Zuweisung von Zielprogrammen, wobei eine Temperatur vereinheitlicht wird, wird geschaffen. Die Austestungseinrichtung empfängt Temperaturdaten, die von Temperatursensoren gemessen werden, von einer Halbleitervorrichtung. Die Austestungseinrichtung bestimmt als Analyseergebnis der Temperaturdaten eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen verringert werden soll, und eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen erhöht werden soll. Die Austestungseinrichtung ändert die Zuweisung der durch mehrere CPU ausgeführten Zielprogramme in der Halbleitervorrichtung auf der Basis des Analyseergebnisses der Temperaturdaten.

Description

HINTERGRUND
Die vorliegende Offenbarung bezieht sich auf eine Austestungseinrichtung und ein Aufzeichnungsmedium.
Mit dem Fortschritt des autonomen Fahrens, der Elektrifizierung und der verbundenen Technologie wird die elektrische/elektronische Architektur (E/E-Architektur) von Kraftfahrzeugen komplexer und fortschrittlicher. In der E/E-Architektur der Kraftfahrzeuge arbeiten viele elektronische Steuereinheiten (ECU) in komplexer Koordination. Mehrere Zentraleinheiten (CPU) sind an einer Halbleitervorrichtung montiert, die die ECU bildet. Programme sind jeder ECU zugewiesen und jede CPU führt die zugewiesenen Programme aus.
In der Halbleitervorrichtung, die die ECU bildet, arbeitet die Schaltung in der Halbleitervorrichtung durch Ausführen der jeder CPU zugewiesenen Programme. Wenn die Schaltung in der Halbleitervorrichtung arbeitet, erzeugt die Halbleitervorrichtung Wärme. Um die Wärmeerzeugung der Halbleitervorrichtung zu unterdrücken, sind Wärmegegenmaßnahmen durch Kühlkörper, Gebläse usw. erforderlich.
In einer Halbleitervorrichtung, an der mehrere CPU montiert sind, wird, wenn Programme, die durch die CPU ausgeführt werden, zufällig zugewiesen werden, die Verarbeitungslast unter den CPU verzerrt. Wenn die Verarbeitungslast an einer speziellen CPU konzentriert ist, steigt die Temperatur der Halbleitervorrichtung an. Der Anstieg der Temperatur der Halbleitervorrichtung erfordert eine erneute Betrachtung der Wärmegegenmaßnahmen, wie z. B. die Vergrößerung des Kühlkörpers und das Hinzufügen von Gebläsen, was zu einer Erhöhung der Herstellungskosten führt. Daher ist es erwünscht, die Verarbeitungslast der CPU so gleichmäßig wie möglich zu machen.
Ferner werden Programme jeder CPU unter Verwendung einer allgemeinen Austestungstechnik zugewiesen.
Es gibt eine nachstehend aufgelistete offenbarte Technik.
[Patentdokument 1] Japanische ungeprüfte Patentanmeldung Veröffentlichungsnr. 2010-140240
Das Patentdokument 1 ist ein Beispiel einer allgemeinen Austestungstechnik. Ein Benutzer weist jeder CPU Programme zu und erfasst Verarbeitungslastinformationen jeder CPU. Auf der Basis der erfassten Verarbeitungslastinformationen, wenn die konzentrierte Verarbeitungslast für die spezielle CPU bestätigt wird, überprüft der Benutzer die Zuweisung der Programme zu jeder CPU. Durch Wiederholen dieser Arbeit wird die Zuweisung der Programme so bestimmt, dass die Verarbeitungslast der CPU vereinheitlicht wird. Wie vorstehend beschrieben, wird herkömmlich die Zuweisung der Programme zu jeder CPU unter der Annahme bestimmt, dass die Vereinheitlichung der Verarbeitungslast der CPU zum Vereinheitlichen der Temperatur der Halbleitervorrichtung führt.
ZUSAMMENFASSUNG
Da in der Halbleitervorrichtung verschiedene Funktionsschaltungen und Arbeitsspeicher durch die Verarbeitung der CPU arbeiten, wird jedoch die Temperatur der ganzen Halbleitervorrichtung nicht nur durch die Verarbeitungslast der CPU bestimmt. Daher ist es im herkömmlichen Verfahren, um eine echte Temperaturgleichmäßigkeit zu erreichen, erforderlich, die Programme jeder CPU nach dem Erfassen der Struktur und des Betriebs der ganzen Halbleitervorrichtung zuzuweisen, aber die Arbeit ist nicht leicht.
Andere Aufgaben und neue Merkmale sind aus der Beschreibung dieser Patentbeschreibung und den begleitenden Zeichnungen ersichtlich.
Eine Austestungseinrichtung gemäß einer Ausführungsform empfängt Temperaturdaten, die durch Temperatursensoren gemessen werden, von einer Halbleitervorrichtung. Die Austestungseinrichtung bestimmt als Analyseergebnis der Temperaturdaten eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen verringert werden soll, und eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen erhöht werden soll. Die Austestungseinrichtung ändert die Zuweisung der durch mehrere CPU in der Halbleitervorrichtung ausgeführten Zielprogramme auf der Basis des Analyseergebnisses der Temperaturdaten.
Gemäß der Ausführungsform wird die Zuweisung der Zielprogramme auf der Basis des Messergebnisses der aktuellen Temperatur geändert. Daher ist es möglich, die Zuweisung der Zielprogramme, bei der die Temperatur vereinheitlicht wird, im Vergleich zum herkömmlichen Verfahren leicht zu verwirklichen, und folglich ist es möglich, die Zunahme der Herstellungskosten zu unterdrücken.
KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

1 ist ein Blockdiagramm, das ein Beispiel einer Konfiguration eines Austestungssystems gemäß einer Ausführungsform zeigt.
2 ist eine Draufsicht, die ein Beispiel der Anordnung der Zielvorrichtung gemäß der Ausführungsform zeigt.
3 ist ein Blockdiagramm, das ein Beispiel der Konfiguration der Austestungsschnittstellenschaltung gemäß der Ausführungsform zeigt.
4 ist ein Blockdiagramm, das ein Beispiel der Funktion der Austestungseinrichtung gemäß der Ausführungsform zeigt.
5 ist ein Ablaufplan, der ein Beispiel des Betriebs des Austestungssystems gemäß der Ausführungsform zeigt.
6 ist ein Ablaufplan, der ein Beispiel des Prozesses der Erfassung von Temperaturdaten zeigt.
7 ist ein Diagramm, das ein Beispiel des Messergebnisses der Temperaturdaten gemäß der Ausführungsform zeigt.

AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG
Nachstehend werden Ausführungsformen mit Bezug auf die Zeichnungen im Einzelnen beschrieben. In der Patentbeschreibung und den Zeichnungen werden dieselben oder entsprechende Komponenten mit denselben Bezugszeichen bezeichnet und auf eine wiederholte Beschreibung davon wird verzichtet. In den Zeichnungen kann wegen der Zweckmäßigkeit der Beschreibung die Konfiguration weggelassen oder vereinfacht sein.
1 ist ein Blockdiagramm, das ein Beispiel einer Konfiguration eines Austestungssystems 100 gemäß der Ausführungsform zeigt. Wie in 1 gezeigt, umfasst das Austestungssystem 100 eine Zielvorrichtung 200, einen Emulator 300 und eine Austestungseinrichtung 400.
Die Zielvorrichtung 200 ist eine Halbleitervorrichtung, auf der mehrere CPU montiert sind. Die mehreren CPU führen mehrere auszutestende Programme aus. Nachstehend werden die auszutestenden Programme mit mehreren Programmen als Zielprogramme bezeichnet. Der Emulator 300 verbindet die Zielvorrichtung 200 mit der Austestungseinrichtung 400 unter Verwendung eines Ethernets (eingetragene Handelsmarke) oder eines universellen seriellen Busses (USB). Die Austestungseinrichtung 400 arbeitet in Verbindung mit dem Emulator 300, um die Ausführung der Zielprogramme zu steuern, die auf der Zielvorrichtung 200 arbeiten, und die Werte der Register in der Zielvorrichtung 200 zu lesen.
Die Austestungseinrichtung 400 ist beispielsweise ein Personalcomputer und umfasst einen Prozessor 401 und einen Arbeitsspeicher 402. Der Arbeitsspeicher 402 ist beispielsweise ein statischer Direktzugriffsarbeitsspeicher (SRAM). Der Prozessor 401 ist über einen Bus mit dem Arbeitsspeicher 402 verbunden.
Der Arbeitsspeicher 402 speichert ein Steuerprogramm zum Unterstützen der Austestungsarbeit für die Zielprogramme und Bestimmen der Zuweisung der Zielprogramme zu den CPU in der Zielvorrichtung 200. Ferner speichert der Arbeitsspeicher 402 verschiedene Daten, die beim Bestimmen der Zuweisung der Zielprogramme verwendet werden. Der Prozessor 401 liest das im Arbeitsspeicher 402 gespeicherte Steuerprogramm und führt das gelesene Steuerprogramm aus.
Obwohl die Austestungseinrichtung 400 mit der Zielvorrichtung 200 über den Emulator 300 in 1 verbunden ist, kann die Austestungseinrichtung 400 direkt mit der Zielvorrichtung 200 ohne den Emulator 300 verbunden sein. In diesem Fall ist die Austestungseinrichtung 400 so konfiguriert, dass sie die Funktionen des Emulators 300 umfasst.
2 ist eine Draufsicht, die ein Beispiel einer Anordnung der Zielvorrichtung 200 gemäß der Ausführungsform zeigt. Wie in 2 gezeigt, umfasst die Zielvorrichtung 200 CPU 211 bis 216, eine Peripherieschaltung 220, eine Leistungsmanagementschaltung 230, einen internen Arbeitsspeicher 240, eine Kommunikationsschnittstellenschaltung (Kommunikations-IF-Schaltung) 250, eine IF-Schaltung 260 des externen Arbeitsspeichers, eine Austestungs-IF-Schaltung 270 und Temperatursensoren 281 bis 286.
Der interne Arbeitsspeicher 240 ist beispielsweise ein SRAM und speichert die Zielprogramme. Die Zielprogramme umfassen mehrere Programme, die durch jede der CPU 211 bis 216 ausgeführt werden. Die Zielprogramme werden im internen Arbeitsspeicher 240 in Form eines Lastmoduls gespeichert, das jeder der CPU 211 bis 216 entspricht. Das heißt sechs Lastmodule, die durch die CPU 211 bis 216 ausgeführt werden, werden im internen Arbeitsspeicher 240 gespeichert. Jede der CPU 211 bis 216 liest die Zielprogramme im Lastmodulformat, die ihr zugewiesen sind, aus dem internen Arbeitsspeicher 240 und führt die gelesenen Zielprogramme aus.
Ferner können die Typen von CPU 211 bis 216 unterschiedlich sein. Wenn die Typen von CPU 211 bis 216 sich unterscheiden, werden die durch jede der CPU 211 bis 216 ausgeführten Zielprogramme unter Verwendung eines Kompilierers kompiliert, der dem Typ von CPU entspricht.
Die Peripherieschaltung 220 umfasst eine digitale Schaltung wie z. B. einen Zeitgeber und eine analoge Schaltung wie z. B. einen Analog-DigitalWandler (ADC). Die Leistungsmanagementschaltung 230 managt die zu den Schaltungsblöcken in der Zielvorrichtung 200 zugeführte Leistung. Die Kommunikations-IF-Schaltung 250 ist eine IF-Schaltung zum Kommunizieren mit einer externen Halbleitervorrichtung. Die IF-Schaltung 260 des externen Arbeitsspeichers ist eine IF-Schaltung zum Verbinden mit einem externen Arbeitsspeicher. Die Austestungs-IF-Schaltung 270 ist eine IF-Schaltung zum Kommunizieren mit der Austestungseinrichtung 400 über den Emulator 300. Diese Schaltungsblöcke arbeiten gemäß der Verarbeitung der CPU 211 bis 216.
Die Temperatursensoren 281 bis 286 sind Sensoren zum Messen der Temperatur der Zielvorrichtung 200. Jeder der Temperatursensoren 281 bis 286 misst die Temperatur in einer Position innerhalb der Zielvorrichtung 200, an der der Temperatursensor selbst angeordnet ist. Wie in 2 gezeigt, ist der Temperatursensor 281 zwischen der CPU 211 und der CPU 212 angeordnet. Der Temperatursensor 282 ist zwischen der CPU 211 und der CPU 214 angeordnet. Der Temperatursensor 283 ist zwischen der CPU 214 und der CPU 215 angeordnet. Der Temperatursensor 284 ist zwischen der CPU 212 und der CPU 213 angeordnet. Der Temperatursensor 285 ist zwischen der CPU 213 und der CPU 216 angeordnet. Der Temperatursensor 286 ist zwischen der CPU 215 und der CPU 216 angeordnet.
Jeder der Temperatursensoren 281 bis 286 umfasst beispielsweise eine Diode und einen ADC. Die Diode gibt eine Durchlassspannung aus, die mit der Temperatur der Zielvorrichtung 200 variiert. Der ADC wandelt den analogen Wert der Durchlassspannung, die aus der Diode ausgegeben wird, in einen digitalen Wert um. Jeder der Temperatursensoren 281 bis 286 überträgt die Temperaturdaten des digitalen Werts als Ergebnis der Temperaturmessung zur Austestungs-IF-Schaltung 270.
3 ist ein Blockdiagramm, das ein Beispiel einer Konfiguration der Austestungs-IF-Schaltung 270 gemäß der Ausführungsform zeigt. Wie in 3 gezeigt, umfasst die Austestungs-IF-Schaltung 270 Temperaturdatenspeichereinheiten 271 bis 276 und eine Austestungs-IF-Steuerschaltung 277.
Die Austestungs-IF-Steuerschaltung 277 ist mit den Temperatursensoren 281 bis 286 verbunden. Die Austestungs-IF-Steuerschaltung 277 empfängt Temperaturdaten, die von jedem der Temperatursensoren 281 bis 286 ausgegeben werden. Die Austestungs-IF-Steuerschaltung 277 speichert die aus den Temperatursensoren 281 bis 286 ausgegebenen Temperaturdaten in den Temperaturdatenspeichereinheiten 271 bis 276.
Die Temperaturdatenspeichereinheiten 271 bis 276 sind mit der Austestungs-IF-Steuerschaltung 277 verbunden. Die Temperaturdatenspeichereinheiten 271 bis 276 sind entsprechend den Temperatursensoren 281 bis 286 vorgesehen. Die aus dem Temperatursensor 281 ausgegebenen Temperaturdaten (Temperaturdaten 1) werden in der Temperaturdatenspeichereinheit 271 gespeichert. Die aus dem Temperatursensor 282 ausgegebenen Temperaturdaten (Temperaturdaten 2) werden in der Temperaturdatenspeichereinheit 272 gespeichert. Die aus dem Temperatursensor 283 ausgegebenen Temperaturdaten (Temperaturdaten 3) werden in der Temperaturdatenspeichereinheit 273 gespeichert. Die aus dem Temperatursensor 284 ausgegebenen Temperaturdaten (Temperaturdaten 4) werden in der Temperaturdatenspeichereinheit 274 gespeichert. Die aus dem Temperatursensor 285 ausgegebenen Temperaturdaten (Temperaturdaten 5) werden in der Temperaturdatenspeichereinheit 275 gespeichert. Die aus dem Temperatursensor 286 ausgegebenen Temperaturdaten (Temperaturdaten 6) werden in der Temperaturdatenspeichereinheit 276 gespeichert.
Ferner liest die Austestungs-IF-Steuerschaltung 277 die Temperaturdaten 1 bis 6, die in den Temperaturdatenspeichereinheiten 271 bis 276 gespeichert sind, in Reaktion auf eine Leseanweisung der Temperaturdaten, die aus der Austestungseinrichtung 400 ausgegeben wird, und überträgt die gelesenen Temperaturdaten 1 bis 6 zur Austestungseinrichtung 400.
Obwohl jeder der Temperatursensoren 281 bis 286 die Temperaturdaten zur Austestungs-IF-Schaltung 270 in einer beliebigen Übertragungsperiode übertragen kann, ist es bevorzugt, dass die Übertragungsperiode der Temperaturdaten kürzer ist als die Periode, in der die Austestungseinrichtung 400 eine Leseanweisung der Temperaturdaten an die Zielvorrichtung 200 ausgibt.
4 ist ein Blockdiagramm, das ein Beispiel einer Funktion der Austestungseinrichtung 400 gemäß der Ausführungsform zeigt. Wie in 4 gezeigt, umfasst die Austestungseinrichtung 400 eine Austestungssteuereinheit 410, eine Temperaturmesssteuereinheit 420, eine Temperaturdatenanalyseeinheit 430, eine Programmzuweisungseinheit 440 und eine Informationsspeichereinheit 450. Die Funktionen der Austestungssteuereinheit 410, der Temperaturmesssteuereinheit 420, der Temperaturdatenanalyseeinheit 430 und der Programmzuweisungseinheit 440 werden durch Ausführen des im Arbeitsspeicher 402 gespeicherten Steuerprogramms durch den Prozessor 401 verwirklicht. Ferner ist die Informationsspeichereinheit 450 durch einen Teil des Bereichs des Arbeitsspeichers 402 konfiguriert.
Die Austestungssteuereinheit 410 ist mit der Zielvorrichtung 200 über den Emulator 300 verbunden. Ferner ist die Austestungssteuereinheit 410 mit der Temperaturmesssteuereinheit 420 und der Programmzuweisungseinheit 440 verbunden.
Die Austestungssteuereinheit 410 weist die Zielvorrichtung 200 an, die Zielprogramme auszuführen und zu stoppen. Wenn die Zielvorrichtung 200 angewiesen wird, die Zielprogramme auszuführen, gibt die Austestungssteuereinheit 410 ein Programmstartsignal, das angibt, dass die Ausführung der Zielprogramme gestartet hat, an die Temperaturmesssteuereinheit 420 aus.
Ferner empfängt die Austestungssteuereinheit 410 Lastmodule von der Programmzuweisungseinheit 440. Die Austestungssteuereinheit 410 lädt die Lastmodule in den internen Arbeitsspeicher 240 der Zielvorrichtung 200 herunter.
Die Temperaturmesssteuereinheit 420 ist mit der Zielvorrichtung 200 über den Emulator 300 verbunden. Ferner ist die Temperaturmesssteuereinheit 420 mit der Austestungssteuereinheit 410, der Temperaturdatenanalyseeinheit 430 und der Informationsspeichereinheit 450 verbunden.
Die Temperaturmesssteuereinheit 420 umfasst einen Messzeitgeber 421 und den Periodenzeitgeber 422. Der Messzeitgeber 421 ist ein Zeitgeber zum Zählen einer Temperaturmesszeit. Der Periodenzeitgeber 422 ist ein Zeitgeber zum Zählen einer Abtastzeit zum Messen der Temperatur. Die Temperaturmesssteuereinheit 420 startet die Zähloperation des Messzeitgebers 421 und die Zähloperation des Periodenzeitgebers 422 in Reaktion auf das Programmstartsignal, das aus der Austestungssteuereinheit 410 ausgegeben wird.
Die Temperaturmesssteuereinheit 420 liest Messzeitinformationen und Abtastzeitinformationen, die in der Informationsspeichereinheit 450 gespeichert sind. Die Temperaturmesssteuereinheit 420 erfasst Temperaturdaten von der Zielvorrichtung 200 auf der Basis des Zählwerts des Messzeitgebers 421, des Zählwerts des Periodenzeitgebers 422, der Messzeitinformationen und der Abtastzeitinformationen. Die erfassten Temperaturdaten sind die Temperaturdaten 1 bis 6, die aus den Temperatursensoren 281 bis 286 ausgegeben werden. Die Temperaturmesssteuereinheit 420 gibt die erfassten Temperaturdaten an die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 aus.
Die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 ist mit der Temperaturmesssteuereinheit 420, der Programmzuweisungseinheit 440 und der Informationsspeichereinheit 450 verbunden.
Die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 empfängt Temperaturdaten von der Temperaturmesssteuereinheit 420. Ferner liest die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 Vorrichtungsinformationen, die in der Informationsspeichereinheit 450 gespeichert sind. Die Vorrichtungsinformationen umfassen CPU-Positionsinformationen und Temperatursensor-Positionsinformationen. Die CPU-Positionsinformationen sind Informationen zum Identifizieren von Positionen der CPU 211 bis 216 in der Zielvorrichtung 200. Die Temperatursensor-Positionsinformationen sind Informationen zum Identifizieren von Positionen der Temperatursensoren 281 bis 286 in der Zielvorrichtung 200.
Die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 nimmt auf die Temperaturdaten Bezug und bestätigt, ob gewünschte Temperaturdaten erfasst wurden oder nicht. Wenn die Temperaturdaten kein gewünschter Wert sind, bestimmt die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 aus den CPU 211 bis 216 mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen verringert werden soll, und mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen erhöht werden soll, auf der Basis der Temperaturdaten, der CPU-Positionsinformationen und der Temperatursensor-Positionsinformationen. Die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 gibt an die Programmzuweisungseinheit 440 Informationen über mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen verringert werden soll, und mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen erhöht werden soll, als Analyseergebnis der Temperaturdaten aus. Nachstehend wird mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen verringert werden soll, als erste Änderungsziel-CPU bezeichnet. Ferner wird mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen erhöht werden soll, als zweite Änderungsziel-CPU bezeichnet.
Die Programmzuweisungseinheit 440 ist mit der Austestungssteuereinheit 410, der Temperaturdatenanalyseeinheit 430 und der Informationsspeichereinheit 450 verbunden.
Die Programmzuweisungseinheit 440 empfängt ein Analyseergebnis von Temperaturdaten von der Temperaturdatenanalyseeinheit 430. Ferner liest die Programmzuweisungseinheit 440 die Vorrichtungsinformationen, die Zielprogramme und Zielprogramm-Einschränkungsinformationen, die in der Informationsspeichereinheit 450 gespeichert sind. Die Vorrichtungsinformationen umfassen CPU-Typ-Informationen. Die CPU-Typ-Informationen sind Informationen zum Identifizieren von Typen der CPU 211 bis 216. Die Zielprogramme umfassen mehrere Programme, die durch die CPU 211 bis 216 ausgeführt werden. Die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen sind Informationen, die beim Bestimmen, ob die Zuweisung der durch die CPU 211 bis 216 ausgeführten Zielprogramme geändert werden soll, verwendet werden.
Die Programmzuweisungseinheit 440 ändert die Zuweisung der durch die CPU 211 bis 216 ausgeführten Zielprogramme auf der Basis des Analyseergebnisses der Temperaturdaten, der CPU-Typ-Informationen und der Zielprogramm-Einschränkungsinformationen. Nach dem Ändern der Zuweisung der Zielprogramme erzeugt die Programmzuweisungseinheit 440 ein Lastmodul für jede der CPU 211 bis 216 durch Kompilieren der Zielprogramme, deren Zuweisung geändert wurde.
Die Programmzuweisungseinheit 440 gibt die erzeugten Lastmodule an die Austestungssteuereinheit 410 aus. Ferner speichert die Programmzuweisungseinheit 440 die Zielprogramme, deren Zuweisung zu den CPU 211 bis 216 geändert wurde, in der Informationsspeichereinheit 450, so dass die in der Informationsspeichereinheit 450 gespeicherten Zielprogramme auf die Zielprogramme aktualisiert werden, die als nächstes in der Zielvorrichtung 200 ausgeführt werden sollen.
Die Informationsspeichereinheit 450 ist mit der Temperaturmesssteuereinheit 420, der Temperaturdatenanalyseeinheit 430 und der Programmzuweisungseinheit 440 verbunden.
Die Informationsspeichereinheit 450 speichert die Messzeitinformationen, die Abtastzeitinformationen, die Vorrichtungsinformationen, die Zielprogramme und die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen. Die Informationsspeichereinheit 450 liefert die Messzeitinformationen und die Abtastzeitinformationen zur Temperaturmesssteuereinheit 420. Die Informationsspeichereinheit 450 liefert die Vorrichtungsinformationen zur Temperaturdatenmesseinheit 430. Die Informationsspeichereinheit 450 liefert die Vorrichtungsinformationen, die Zielprogramme und die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen zur Programmzuweisungseinheit 440.
Als nächstes wird ein Betrieb des Austestungssystems 100 beschrieben. 5 ist ein Ablaufplan, der ein Beispiel eines Betriebs des Austestungssystems 100 gemäß der Ausführungsform zeigt. Der Ablaufplan von 5 umfasst neun Verarbeitungsschritte S510 bis S590. Zuerst wird in Schritt S510 die Verarbeitung der Einstellung für die Temperaturmessung durchgeführt. Die Temperaturmesssteuereinheit 420 liest die Messzeitinformationen, die in der Informationsspeichereinheit 450 gespeichert sind, und stellt die gelesenen Messzeitinformationen im Messzeitgeber 421 ein. Ferner stellt die Temperaturmesssteuereinheit 420 die Abtastzeitinformationen, die in der Informationsspeichereinheit 450 gespeichert sind, im Periodenzeitgeber 422 ein.
In Schritt S520 wird die Verarbeitung einer Blindoperation durchgeführt. Die Austestungssteuereinheit 410 weist die Zielvorrichtung 200 an, die Blindoperation auszuführen, bei der die Temperatur nicht durch die Temperatursensoren 281 bis 286 gemessen wird. In einem Zustand, in dem die Zielvorrichtung 200 kalt ist, kann die Temperatur der Zielvorrichtung 200 nicht geeignet gemessen werden. Daher wird vor dem Ausführen der Zielprogramme von der Temperaturmessung begleitet die Temperatur der Zielvorrichtung 200 durch Bewirken, dass die Zielvorrichtung 200 die Blindoperation ohne Temperaturmessung ausführt, geeignet aufgewärmt.
Jede der CPU 211 bis 216 führt die im internen Arbeitsspeicher 240 gespeicherten Zielprogramme in Reaktion auf eine Ausführungsanweisung der Blindoperation aus. Ferner messen während dieser Periode die Temperatursensoren 281 bis 286 die Temperatur der Zielvorrichtung 200 nicht.
Nachdem eine vorgegebene Zeit abgelaufen ist, weist die Austestungssteuereinheit 410 die Zielvorrichtung 200 an, die Blindoperation zu stoppen. Jede der CPU 211 bis 216 stoppt die Ausführung der Zielprogramme in Reaktion auf eine Stoppanweisung der Blindoperation von der Austestungssteuereinheit 410. Ferner initialisiert die Zielvorrichtung 200 den Zustand der Zielvorrichtung 200 unter Verwendung einer internen Rücksetzfunktion.
In Schritt S530 wird die Verarbeitung der Ausführung der Zielprogramm durchgeführt. Die Austestungssteuereinheit 410 weist die Zielvorrichtung 200 an, die Zielprogramme auszuführen. Jede der CPU 211 bis 216 führt die im internen Arbeitsspeicher 240 gespeicherten Zielprogramme in Reaktion auf eine Ausführungsanweisung der Zielprogramme von der Austestungssteuereinheit 410 aus. In den anfänglich ausgeführten Zielprogrammen werden die durch jede der CPU 211 bis 216 ausgeführten Zielprogramme so zugewiesen, dass die Menge der Programme, die durch jede der CPU 211 bis 216 ausgeführt werden, ungefähr gleich ist.
Ferner beginnen die Temperatursensoren 281 bis 286 das Messen der Temperatur in Reaktion auf die Ausführungsanweisung der Zielprogramme von der Austestungssteuereinheit 410. Während der Ausführung der Zielprogramme übertragen die Temperatursensoren 281 bis 286 Temperaturdaten, die ein Messergebnis der Temperatur sind, zur Austestungs-IF-Schaltung 270.
Ferner gibt die Austestungssteuereinheit 410 ein Programmstartsignal, das angibt, dass die Ausführung der Zielprogramme begonnen hat, an die Temperaturmesssteuereinheit 420 aus.
In Schritt S540 wird die Verarbeitung der Erfassung von Temperaturdaten durchgeführt. Hier wird die Verarbeitung der Erfassung der Temperaturdaten mit Bezug auf 6 im Einzelnen beschrieben. 6 ist ein Ablaufplan, der ein Beispiel der Verarbeitung der Erfassung von Temperaturdaten zeigt. Der Ablaufplan von 6 umfasst sechs Verarbeitungsschritte S541 bis S546. Zuerst wird in Schritt S541 die Verarbeitung des Starts der Zählung durch Zeitgeber durchgeführt. Die Temperaturmesssteuereinheit 420 beginnt die Zähloperation des Messzeitgebers 421 und die Zähloperation des Periodenzeitgebers 422 in Reaktion auf das Programmstartsignal von der Austestungssteuereinheit 410.
In Schritt S542 wird der Zählwert des Periodenzeitgebers 422 mit einem Wert verglichen, der durch die Abtastzeitinformationen (Abtastzeit) angegeben ist. Wenn der Zählwert des Periodenzeitgebers 422 mit der Abtastzeit übereinstimmt (JA in Schritt S542), geht die Verarbeitung zu Schritt S543 weiter. Wenn andererseits der Zählwert des Periodenzeitgebers 422 nicht mit der Abtastzeit übereinstimmt (NEIN in Schritt S542), führt der Periodenzeitgeber 422 die Zähloperation weiter, bis der Zählwert und die Abtastzeit übereinstimmen.
In Schritt S543 wird der Zählwert des Messzeitgebers 421 mit einem Wert verglichen, der durch die Messzeitinformationen (Messzeit) angegeben ist. Wenn der Zählwert des Messzeitgebers 421 die Messzeit überschreitet (JA in Schritt S543), geht die Verarbeitung zu Schritt S544 weiter. Wenn andererseits der Zählwert des Messzeitgebers 422 die Messzeit nicht überschreitet (NEIN in Schritt S543), geht die Verarbeitung zu Schritt S545 weiter.
In Schritt S544 wird die Verarbeitung des Stoppens der Zeitgeber durchgeführt. Die Temperaturmesssteuereinheit 420 stoppt den Messzeitgeber 421 und den Periodenzeitgeber 422. Folglich wird die Verarbeitung der Erfassung der Temperaturdaten vollendet.
Andererseits wird in Schritt S545 die Verarbeitung des Lesens der Temperaturdaten durchgeführt. Die Temperaturmesssteuereinheit 420 weist die Zielvorrichtung 200 an, die Temperaturdaten zu lesen. Beim Empfangen der Leseanweisung der Temperaturdaten überträgt die Austestungs-IF-Steuerschaltung 277 die Temperaturdaten 1 bis 6, die in den Temperaturdatenspeichereinheiten 271 bis 276 gespeichert sind, zur Austestungseinrichtung 400.
Wenn die Temperaturdaten 1 bis 6 übertragen werden, kann die Austestungs-IF-Steuerschaltung 277 die Temperaturdaten 1 bis 6 durch Zuordnen von Informationen zum Identifizieren des Temperatursensors, der die Temperaturdaten gemessen hat, übertragen. Wenn beispielsweise die Temperaturdaten 1 übertragen werden, die in der Temperaturdatenspeichereinheit 271 gespeichert sind, überträgt die Austestungs-IF-Steuerschaltung 277 die Temperaturdaten 1 in Zusammenhang mit Informationen zum Identifizieren des Temperatursensors 281.
In Schritt S546 wird die Verarbeitung des Löschens und Neustartens des Periodenzeitgebers 422 durchgeführt. Die Temperaturmesssteuereinheit 420 löscht den Zählwert des Periodenzählers 422, um die Zähloperation des Periodenzählers 422 neu zu starten. Danach kehrt die Verarbeitung zu Schritt S542 zurück.
In Schritt S540 misst folglich die Temperaturmesssteuereinheit 420 die Abtastzeit unter Verwendung des Periodenzeitgebers 422 und erfasst die Temperaturdaten von der Zielvorrichtung 200 mehrere Male in vorgegebenen Intervallen (Abtastintervallen). Ferner misst die Temperaturmesssteuereinheit 420 die Messzeit unter Verwendung des Messzeitgebers 421 und erfasst weiterhin die Temperaturdaten von der Zielvorrichtung 200, bis die Messzeit abgelaufen ist.
Mit Rückkehr zu 5 wird die Beschreibung des Betriebs des Austestungssystems 100 fortgesetzt. In Schritt S550 wird als nächstes die Verarbeitung des Stoppens der Zielprogramme durchgeführt. Die Austestungssteuereinheit 410 weist die Zielvorrichtung 200 an, die Zielprogramme zu stoppen. Jede der CPU 211 bis 216 stoppt die Ausführung der Zielprogramme in Reaktion auf eine Stoppanweisung der Zielprogramme, die aus der Austestungssteuereinheit 410 ausgegeben wird.
In Schritt S560 wird die Verarbeitung des Analysierens von Temperaturdaten durchgeführt. Die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 empfängt Temperaturdaten von der Temperaturmesssteuereinheit 420. Die Temperaturdaten umfassen sechs Typen von Temperaturdaten 1 bis 6, die durch die Temperatursensoren 281 bis 286 gemessen werden. Ferner umfassen alle der Temperaturdaten 1 bis 6 mehrere Temperaturdaten, die in festgelegten Abtastintervallen gemessen werden.
7 ist ein Diagramm, das ein Beispiel eines Messergebnisses von Temperaturdaten gemäß der Ausführungsform zeigt. In dem in 7 gezeigten Beispiel werden während einer Messzeit die Temperaturdaten 1 bis 6, die durch die Temperatursensoren 281 bis 286 gemessen werden, zu vier Zeitpunkten von t1 bis t4 erfasst. Die Einheit des Werts der Temperaturdaten, die in 7 gezeigt sind, ist °C.
Die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 analysiert die empfangenen Temperaturdaten. Bei der Analyse der Temperaturdaten kann beispielsweise eine Analysetechnik auf der Basis eines Mittelwerts der Temperaturdaten verwendet werden. Wie in 7 gezeigt, berechnet die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 einen Mittelwert in vier Messungen für alle der Temperaturdaten 1 bis 6, die durch die Temperatursensoren 281 bis 286 gemessen werden.
Nach dem Berechnen der Mittelwerte der Temperaturdaten identifiziert die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 aus den Temperatursensoren 281 bis 286 einen Temperatursensor mit dem höchsten Mittelwert und einen Temperatursensor mit dem niedrigsten Mittelwert. In dem in 7 gezeigten Beispiel wird der Temperatursensor 284 als Temperatursensor mit dem höchsten Mittelwert identifiziert und der Temperatursensor 283 wird als Temperatursensor mit dem niedrigsten Mittelwert identifiziert.
Ferner ordnet die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 jeden der Temperatursensoren 281 bis 286 mindestens einer CPU unter den CPU 211 bis 216 unter Verwendung der CPU-Positionsinformationen und der Temperatursensor-Positionsinformationen, die in den Vorrichtungsinformationen enthalten sind, zu. Die Zuordnung von jedem der Temperatursensoren 281 bis 286 zu den CPU 211 bis 216 in 7 entspricht der Anordnung der Zielvorrichtung 200 in 2. Da in der Anordnung von 2 der Temperatursensor 281 zwischen der CPU 211 und der CPU 212 angeordnet ist, ordnet die Temperaturanalyseeinheit 430 beispielsweise den Temperatursensor 281 den CPU 211 und 212 zu.
In Schritt S570 wird bestimmt, ob die erfassten Temperaturdaten die gewünschten Temperaturdaten sind oder nicht. Die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 bestimmt, ob die erfassten Temperaturdaten die gewünschten Temperaturdaten sind oder nicht, durch Vergleichen eines Werts, der auf der Basis der Temperaturdaten berechnet wird, mit einem vorgegebenen Wert. Die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 bestätigt beispielsweise, ob die Differenz zwischen dem höchsten Mittelwert und dem niedrigsten Mittelwert der Mittelwerte der Temperaturdaten der Temperatursensoren 281 bis 286 innerhalb eines vorgegebenen Bereichs liegt. Wenn die Differenz in den vorgegebenen Bereich fällt, bestimmt die Temperaturdatenanalyseeinheit 430, dass die erfassten Temperaturdaten die gewünschten Temperaturdaten sind (JA in Schritt S570). Wenn andererseits die Differenz nicht in den vorgegebenen Bereich fällt, bestimmt die Temperaturdatenanalyseeinheit 430, dass die erfassten Temperaturdaten nicht die gewünschten Temperaturdaten sind (NEIN in Schritt S570).
Wenn bestimmt wird, dass die erfassten Temperaturdaten die gewünschten Temperaturdaten sind, wird bestimmt, dass die Zuweisung der durch jede der CPU 211 bis 216 ausgeführten Zielprogramme geeignet ist. Folglich bestimmt in Schritt S580 die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 als Zuweisung der Zielprogramme die aktuelle Zuweisung der Zielprogramme, für die die Temperaturdaten gemessen wurden.
Wenn bestimmt wird, dass die erfassten Temperaturdaten nicht die gewünschten Temperaturdaten sind, wird die Verarbeitung des Änderns der Zuweisung der Zielprogramme in Schritt S590 durchgeführt. Die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 bestimmt mindestens eine CPU, die dem Temperatursensor mit dem höchsten Mittelwert zugeordnet ist, als erste Änderungsziel-CPU. Ferner bestimmt die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 mindestens eine CPU, die dem Temperatursensor mit dem niedrigsten Mittelwert zugeordnet ist, als zweite Änderungsziel-CPU.
Es wird angenommen, dass eine CPU mit einer schweren Verarbeitungslast um den Temperatursensor mit dem höchsten Mittelwert angeordnet ist. Das heißt, wenn die Anzahl von Programmen, die durch die CPU mit der schweren Verarbeitungslast ausgeführt werden, verringert wird, wird der Temperaturanstieg um die CPU unterdrückt. Andererseits wird angenommen, dass eine CPU mit einer leichten Verarbeitungslast um den Temperatursensor mit dem höchsten Mittelwert angeordnet ist. Das heißt, wenn die Anzahl von Programmen, die durch die CPU mit der leichten Verarbeitungslast ausgeführt werden, erhöht wird, kann der Temperaturanstieg gleichmäßig gemacht werden.
Die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 gibt an die Programmzuweisungseinheit 440 Informationen über die erste Änderungsziel-CPU und die zweite Änderungsziel-CPU als Analyseergebnis der Temperaturdaten aus.
In dem in 7 gezeigten Beispiel wird der Temperatursensor mit dem höchsten Mittelwert der Temperatursensor 284. Die CPU, die dem Temperatursensor 284 zugeordnet sind, sind die CPU 212 und 213. Daher werden die CPU 212 und 213 an die Programmzuweisungseinheit 440 als erste Änderungsziel-CPU gemeldet.
Ferner ist der Temperatursensor mit dem niedrigsten Mittelwert der Temperatursensor 283. Die CPU, die dem Temperatursensor 283 zugeordnet sind, sind die CPU 214 und 215. Daher werden die CPU 214 und 215 der Programmzuweisungseinheit 440 als zweite Änderungsziel-CPU gemeldet.
Beispielsweise wird angenommen, dass die CPU 211 und 212 als erste Änderungsziel-CPU identifiziert werden und die CPU 211 und 214 als zweite Änderungsziel-CPU identifiziert werden. Die CPU 212 gilt für sowohl die erste Änderungsziel-CPU als auch die zweite Änderungsziel-CPU. In solchen Fällen kann die CPU 212 aus der CPU ausgeschlossen werden, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen erhöht oder verringert werden soll. Das heißt, die CPU 212 wird der Programmzuweisungseinheit 440 als erste Änderungsziel-CPU gemeldet und die CPU 214 wird der Programmzuweisungseinheit 440 als zweite Änderungsziel-CPU gemeldet.
Die Programmzuweisungseinheit 440 liest die Zielprogramme, für die die Temperaturdaten gemessen wurden, aus der Informationsspeichereinheit 450 und ändert die Zuweisung der Zielprogramme für jede der CPU 211 bis 216 auf der Basis des Analyseergebnisses der Temperaturdaten. Die Zuweisung der Zielprogramme wird durch Ändern der Zuweisung der Zielprogramme zur ersten Änderungsziel-CPU und zur zweiten Änderungsziel-CPU geändert.
Insbesondere ändert die Programmzuweisungseinheit 440 die Zuweisung der durch die CPU 211 bis 216 ausgeführten Zielprogramme durch Bezugnahme auf die Vorrichtungsinformationen und die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen und Zuweisen eines Teils der Zielprogramme, die der ersten Änderungsziel-CPU zugewiesen sind, zur zweiten Änderungsziel-CPU.
Beispielsweise wird angenommen, dass die CPU 211 als erste Änderungsziel-CPU bezeichnet ist und die CPU 212 als zweite Änderungsziel-CPU bezeichnet ist. In diesem Fall extrahiert, während auf die Vorrichtungsinformationen und die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen Bezug genommen wird, die Programmzuweisungseinheit 440 das Zielprogramm, dessen Zuweisung zur CPU 212 geändert werden kann, unter den Zielprogrammen, die gegenwärtig der CPU 211 zugewiesen sind.
Die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen umfassen beispielsweise Echtzeitverarbeitungsinformationen, die angeben, ob das Zielprogramm ein Programm ist, das eine Echtzeitdurchführung erfordert, oder nicht. Das Programm, das die Echtzeitdurchführung erfordert, muss durch eine CPU für die Echtzeitverarbeitung ausgeführt werden. Daher bestätigt die Programmzuweisungseinheit 440, ob die CPU des Ausführungszielorts des Zielprogramms geändert werden kann oder nicht, auf der Basis der Echtzeitverarbeitungsinformationen und der CPU-Typ-Informationen.
Ferner umfassen die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen beispielsweise auf die Bildverarbeitung bezogene Informationen, die angeben, ob das Zielprogramm ein Bildverarbeitungsprogramm ist oder nicht. Das Bildverarbeitungsprogramm wird vorzugsweise durch eine CPU für parallele Verarbeitung ausgeführt. Daher bestätigt die Programmzuweisungseinheit 440, ob die CPU des Ausführungszielorts des Zielprogramms geändert werden kann oder nicht, auf der Basis der auf die Bildverarbeitung bezogenen Informationen und der CPU-Typ-Informationen.
Nach dem Ändern der Zuweisung der Zielprogramme zu den CPU 211 bis 216 kompiliert die Programmzuweisungseinheit 440 die Zielprogramme, deren Zuweisung geändert wurde. Ferner speichert die Programmzuweisungseinheit 440 die Zielprogramme, deren Zuweisung geändert wurde, in der Informationsspeichereinheit 450. Folglich werden die in der Informationsspeichereinheit 450 gespeicherten Zielprogramme auf die Zielprogramme aktualisiert, für die die Temperaturdaten beim nächsten Mal gemessen werden sollen.
Die Lastmodule, die durch die Zielprogrammzuweisungseinheit 440 erzeugt werden, werden in den internen Arbeitsspeicher 240 der Zielvorrichtung 200 durch die Austestungssteuereinheit 410 heruntergeladen. Danach kehrt die Verarbeitung zu Schritt S520 zurück.
Wie vorstehend beschrieben, erfasst gemäß der Ausführungsform die Temperaturmesssteuereinheit 420 Temperaturdaten, die während der Ausführung der Zielprogramme gemessen werden. Die Temperaturdatenanalyseeinheit 430 gibt als Analyseergebnis der Temperaturdaten Informationen über mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen verringert werden soll, und mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen erhöht werden soll, aus. Die Programmzuweisungseinheit 440 ändert die Zuweisung der durch die CPU 211 bis 216 ausgeführten Zielprogramme auf der Basis des Analyseergebnisses der Temperaturdaten.
Wie vorstehend beschrieben, wird in der Ausführungsform die Zuweisung der Zielprogramme auf der Basis des Messergebnisses der Temperatur der Zielvorrichtung 200 geändert. Das heißt, da die Zuweisung der Zielprogramme auf der Basis des Messergebnisses der aktuellen Temperatur geändert wird, kann die Zuweisung der Zielprogramme in Anbetracht des Betriebs von anderen Schaltungen als den CPU 212 bis 216 geändert werden, die an den Zielvorrichtungen 200 montiert sind. Daher ist es möglich, die Zuweisung der Zielprogramme, bei der die Temperatur vereinheitlicht wird, im Vergleich zum herkömmlichen Verfahren leicht zu verwirklichen, und folglich ist es möglich, die Zunahme der Herstellungskosten zu unterdrücken.
In der vorstehend beschriebenen Ausführungsform wurde die Zielvorrichtung als eine beschrieben, aber die vorliegende Offenbarung ist nicht darauf begrenzt. Die vorliegende Offenbarung ist auch auf ein System anwendbar, das mehrere Zielvorrichtungen umfasst. In diesem Fall werden die mehreren Zielvorrichtungen mit der Austestungseinrichtung durch eine Verkettung verbunden. Die Austestungseinrichtung erfasst Informationen über die Anzahl von Zielvorrichtungen im System. Die Austestungseinrichtung kann die Temperaturdaten der mehreren Zielvorrichtungen durch Verschieben der Temperaturdaten, die aus den mehreren Zielvorrichtungen ausgegeben werden, um die Anzahl von Zielvorrichtungen an der Verkettung erfassen.
Ferner kann das Steuerprogramm zum Ausführen der in der Ausführungsform beschriebenen Verarbeitung als Programmprodukt durch Aufzeichnen auf einem nichttransitorischen computerlesbaren Aufzeichnungsmedium wie z. B. einer Magnetplatte, einer optischen Platte, einer magnetooptischen Platte und einem Halbleiterarbeitsspeicher vorgesehen sein. Alternativ kann das Steuerprogramm durch Aufzeichnen auf einem Aufzeichnungsmedium wie z. B. einer Festplatte, die in den Computer eingebaut ist, vorgesehen sein. Das Steuerprogramm kann auch durch Herunterladen über ein Netz vorgesehen sein.
Obwohl die durch den vorliegenden Erfinder durchgeführte Erfindung auf der Basis der Ausführungsformen speziell beschrieben wurde, ist selbstverständlich, dass die vorliegende Erfindung nicht auf die vorstehend beschriebenen Ausführungsformen begrenzt ist und verschiedene Änderungen durchgeführt werden können, ohne vom Schutzbereich davon abzuweichen.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur

JP 2010140240 [0007]

Claims

Austestungseinrichtung zum Austesten von Zielprogrammen mit mehreren Programmen, die in einer Halbleitervorrichtung mit mehreren Zentraleinheiten (CPU) und mehreren Temperatursensoren arbeiten, wobei die Austestungseinrichtung umfasst: einen Prozessor; und einen Arbeitsspeicher, der dazu konfiguriert ist, ein Steuerprogramm, CPU-Positionsinformationen, Temperatursensor-Positionsinformationen, CPU-Typ-Informationen und Zielprogramm-Einschränkungsinformationen zu speichern, wobei die mehreren CPU dazu konfiguriert sind, die Zielprogramme auszuführen, wobei, während die Zielprogramme durch die mehreren CPU ausgeführt werden, die mehreren Temperatursensoren dazu konfiguriert sind, die Temperatur der Halbleitervorrichtung zu messen, wobei die CPU-Positionsinformationen Informationen zum Identifizieren einer Position der mehreren CPU in der Halbleitervorrichtung umfassen, wobei die Temperatursensor-Positionsinformationen Informationen zum Identifizieren einer Position der mehreren Temperatursensoren in der Halbleitervorrichtung umfassen, wobei die CPU-Typ-Informationen Informationen zum Identifizieren eines Typs der mehreren CPU umfassen, wobei die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen Informationen umfassen, die beim Bestimmen, ob die Zuweisung der durch die mehreren CPU ausgeführten Zielprogramme geändert werden soll, verwendet werden, wobei, wenn es durch den Prozessor ausgeführt wird, das Steuerprogramm bewirkt, dass die Austestungseinrichtung: die Halbleitervorrichtung anweist, die Zielprogramme auszuführen; mehrere Temperaturdaten erfasst, die durch die mehreren Temperatursensoren gemessen werden; aus den mehreren CPU mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen verringert werden soll, als erste Änderungsziel-CPU und mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen erhöht werden soll, als zweite Änderungsziel-CPU auf der Basis der mehreren Temperaturdaten, der CPU-Positionsinformationen und der Temperatursensor-Positionsinformationen bestimmt; und die Zuweisung der durch die mehreren CPU ausgeführten Zielprogramme auf der Basis der ersten Änderungsziel-CPU, der zweiten Änderungsziel-CPU, der CPU-Typ-Informationen und der Zielprogramm-Einschränkungsinformationen ändert.
Austestungseinrichtung nach Anspruch 1, wobei der Arbeitsspeicher dazu konfiguriert ist, Messzeitinformationen und Abtastzeitinformationen zu speichern, wobei, wenn es durch den Prozessor ausgeführt wird, das Steuerprogramm bewirkt, dass die Austestungseinrichtung: die Messzeitinformationen in einem Messzeitgeber einstellt; die Abtastzeitinformationen in einem Periodenzeitgeber einstellt; eine Zähloperation des Messzeitgebers und eine Zähloperation des Periodenzeitgebers auf der Basis eines Starts der Ausführung der Zielprogramme startet; wenn ein Zählwert des Periodenzeitgebers mit einem Wert übereinstimmt, der durch die Abtastzeitinformationen angegeben ist, und ein Zählwert des Messzeitgebers einen Wert nicht überschreitet, der durch die Messzeitinformationen angegeben ist, die mehreren Temperaturdaten erfasst, die durch die mehreren Temperatursensoren gemessen werden, und den Zählwert des Periodenzeitgebers löscht, um die Zähloperation des Periodenzeitgebers erneut zu starten; und wenn der Zählwert des Periodenzeitgebers mit dem Wert übereinstimmt, der durch die Abtastzeitinformationen angeben ist, und der Zählwert des Messzeitgebers den Wert überschreitet, der durch die Messzeitinformationen angegeben ist, die Zähloperation des Messzeitgebers und die Zähloperation des Periodenzeitgebers stoppt.
Austestungseinrichtung nach Anspruch 1, wobei, wenn es durch den Prozessor ausgeführt wird, das Steuerprogramm bewirkt, dass die Austestungseinrichtung: die mehreren Temperaturdaten, die durch die mehreren Temperatursensoren gemessen werden, mehrere Male in vorgegebenen Abtastintervallen erfasst; einen Mittelwert der Temperaturdaten für jeden der mehreren Temperatursensoren berechnet; aus den mehreren Temperatursensoren einen Temperatursensor mit einem höchsten Mittelwert und einen Temperatursensor mit einem niedrigsten Mittelwert auf der Basis von Berechnungsergebnissen der Mittelwerte der Temperaturdaten identifiziert; jeden der mehreren Temperatursensoren mindestens einer CPU unter den mehreren CPU unter Verwendung der CPU-Positionsinformationen und der Temperatursensor-Positionsinformationen zuordnet; mindestens eine CPU, die dem Temperatursensor mit dem höchsten Mittelwert zugeordnet ist, als erste Änderungsziel-CPU bestimmt; und mindestens eine CPU, die dem Temperatursensor mit dem niedrigsten Mittelwert zugeordnet ist, als zweite Änderungsziel-CPU bestimmt.
Austestungseinrichtung nach Anspruch 1, wobei, wenn es durch den Prozessor ausgeführt wird, das Steuerprogramm bewirkt, dass die Austestungseinrichtung die Zuweisung der durch die mehreren CPU ausgeführten Zielprogramme durch Bezugnahme auf die CPU-Typ-Informationen und die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen und Zuweisen eines Teils der Zielprogramme, die der ersten Änderungsziel-CPU zugewiesen sind, zur zweiten Änderungsziel-CPU ändert.
Austestungseinrichtung nach Anspruch 1, wobei, wenn es durch den Prozessor ausgeführt wird, das Steuerprogramm bewirkt, dass die Austestungseinrichtung vor dem Anweisen der Halbleitervorrichtung, die Zielprogramme auszuführen, die Halbleitervorrichtung anweist, eine Blindoperation auszuführen, bei der die Temperatur der Halbleitervorrichtung nicht durch die mehreren Temperatursensoren gemessen wird.
Austestungssystem nach Anspruch 1, das umfasst: die Austestungseinrichtung nach Anspruch 1; und die Halbleitervorrichtung, die mit der Austestungseinrichtung verbunden ist, wobei die Halbleitervorrichtung eine Austestungsschnittstellenschaltung umfasst, wobei die Austestungsschnittstellenschaltung mehrere Temperaturdatenspeichereinheiten und eine Austestungsschnittstellensteuerschaltung umfasst, wobei die mehreren Temperaturdatenspeichereinheiten dazu konfiguriert sind, die mehreren Temperaturdaten zu speichern, die durch die mehreren Temperatursensoren gemessen werden, und wobei die Austestungsschnittstellensteuerschaltung dazu konfiguriert ist, die mehreren Temperaturdaten, die in den mehreren Temperaturdatenspeichereinheiten gespeichert sind, zur Austestungseinrichtung in Reaktion auf eine Leseanweisung von der Austestungseinrichtung zu übertragen.
Austestungseinrichtung zum Austesten von Zielprogrammen mit mehreren Programmen, die in einer Halbleitervorrichtung mit mehreren Zentraleinheiten (CPU) und mehreren Temperatursensoren arbeiten, wobei die Austestungseinrichtung umfasst: wobei die mehreren CPU dazu konfiguriert sind, die Zielprogramme auszuführen, wobei, während die Zielprogramme durch die mehreren CPU ausgeführt werden, die mehreren Temperatursensoren dazu konfiguriert sind, die Temperatur der Halbleitervorrichtung zu messen, wobei die Austestungseinrichtung umfasst: eine Informationsspeichereinheit, die dazu konfiguriert ist, CPU-Positionsinformationen, Temperatursensor-Positionsinformationen, CPU-Typ-Informationen und Zielprogramm-Einschränkungsinformationen zu speichern; eine Austestungssteuereinheit, die dazu konfiguriert ist, die Halbleitervorrichtung anzuweisen, die Zielprogramme auszuführen; eine Temperaturmesssteuereinheit, die dazu konfiguriert ist, mehrere Temperaturdaten zu erfassen, die durch die mehreren Temperatursensoren gemessen werden; eine Temperaturdatenanalyse, die dazu konfiguriert ist, aus den mehreren CPU mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen verringert werden soll, als erste Änderungsziel-CPU, und mindestens eine CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen erhöht werden soll, als zweite Änderungsziel-CPU auf der Basis der mehreren Temperaturdaten, der CPU-Positionsinformationen und der Temperatursensor-Positionsinformationen zu bestimmen; und eine Programmzuweisungseinheit, die dazu konfiguriert ist, die Zuweisung der durch die mehreren CPU ausgeführten Zielprogramme auf der Basis der ersten Änderungsziel-CPU, der zweiten Änderungsziel-CPU, der CPU-Typ-Informationen und der Zielprogramm-Einschränkungsinformationen zu ändern, wobei die CPU-Positionsinformationen Informationen zum Identifizieren einer Position der mehreren CPU in der Halbleitervorrichtung umfassen, wobei die Temperatursensor-Positionsinformationen Informationen zum Identifizieren einer Position der mehreren Temperatursensoren in der Halbleitervorrichtung umfassen, wobei die CPU-Typ-Informationen Informationen zum Identifizieren eines Typs der mehreren CPU umfassen, und wobei die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen Informationen umfassen, die beim Bestimmen, ob die Zuweisung der durch die mehreren CPU ausgeführten Zielprogramme geändert werden soll, verwendet werden.
Austestungseinrichtung nach Anspruch 7, wobei die Informationsspeichereinheit dazu konfiguriert ist, Messzeitinformationen und Abtastzeitinformationen zu speichern, wobei die Temperaturmesssteuereinheit einen Messzeitgeber und einen Periodenzeitgeber umfasst, wobei die Temperaturmesssteuereinheit dazu konfiguriert ist: die Messzeitinformationen im Messzeitgeber einzustellen; die Abtastzeitinformationen im Periodenzeitgeber einzustellen; eine Zähloperation des Messzeitgebers und eine Zähloperation des Periodenzeitgebers auf der Basis eines Starts der Ausführung der Zielprogramme zu starten; wenn ein Zählwert des Periodenzeitgebers mit einem Wert übereinstimmt, der durch die Abtastzeitinformationen angegeben ist, und ein Zählwert des Messzeitgebers einen Wert nicht überschreitet, der durch die Messzeitinformationen angegeben ist, die mehreren Temperaturdaten, die durch die mehreren Temperatursensoren gemessen werden, zu erfassen und den Zählwert des Periodenzeitgebers zu löschen, um die Zähloperation des Periodenzeitgebers erneut zu starten; und wenn der Zählwert des Periodenzeitgebers mit dem Wert übereinstimmt, der durch die Abtastzeitinformationen angegeben ist, und der Zählwert des Messzeitgebers den Wert überschreitet, der durch die Messzeitinformationen angegeben ist, die Zähloperation des Messzeitgebers und die Zähloperation des Periodenzeitgebers zu stoppen.
Austestungseinrichtung nach Anspruch 7, wobei die Temperaturmesssteuereinheit dazu konfiguriert ist, die mehreren Temperaturdaten, die durch die mehreren Temperatursensoren gemessen werden, mehrere Male in vorgegebenen Abtastintervallen zu erfassen, und wobei die Temperaturdatenanalyseeinheit dazu konfiguriert ist: einen Mittelwert der Temperaturdaten für jeden der mehreren Temperatursensoren zu berechnen; aus den mehreren Temperatursensoren einen Temperatursensor mit einem höchsten Mittelwert und einen Temperatursensor mit einem niedrigsten Mittelwert auf der Basis von Berechnungsergebnissen der Mittelwerte der Temperaturdaten zu identifizieren; jeden der mehreren Temperatursensoren mindestens einer CPU unter den mehreren CPU unter Verwendung der CPU-Positionsinformationen und der Temperatursensor-Positionsinformationen zuzuordnen; mindestens eine CPU, die dem Temperatursensor mit dem höchsten Mittelwert zugeordnet ist, als erste Änderungsziel-CPU zu bestimmen; und mindestens eine CPU, die dem Temperatursensor mit dem niedrigsten Mittelwert zugeordnet ist, als zweite Änderungsziel-CPU zu bestimmen.
Austestungseinrichtung nach Anspruch 7, wobei die Programmzuweisungseinheit dazu konfiguriert ist, die Zuweisung der durch die mehreren CPU ausgeführten Zielprogramme durch Bezugnahme auf die CPU-Typ-Informationen und die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen und Zuweisen eines Teils der Zielprogramme, die der ersten Änderungsziel-CPU zugewiesen sind, zur zweiten Änderungsziel-CPU zu ändern.
Austestungseinrichtung nach Anspruch 7, wobei vor dem Anweisen der Halbleitervorrichtung, die Zielprogramme auszuführen, die Austestungssteuereinheit dazu konfiguriert ist, die Halbleitervorrichtung anzuweisen, eine Blindoperation auszuführen, bei der die Temperatur der Halbleitervorrichtung nicht durch die mehreren Temperatursensoren gemessen wird.
Austestungssystem nach Anspruch 7, das umfasst: die Austestungseinrichtung nach Anspruch 7; und die Halbleitervorrichtung, die mit der Austestungseinrichtung gekoppelt ist, wobei die Halbleitervorrichtung eine Austestungsschnittstellenschaltung umfasst, wobei die Austestungsschnittstellenschaltung mehrere Temperaturdatenspeichereinheiten und eine Austestungsschnittstellensteuerschaltung umfasst, wobei die mehreren Temperaturdatenspeichereinheiten dazu konfiguriert sind, die mehreren Temperaturdaten zu speichern, die durch die mehreren Temperatursensoren gemessen werden, und wobei die Austestungsschnittstellensteuerschaltung dazu konfiguriert ist, die mehreren Temperaturdaten, die in den mehreren Temperaturdatenspeichereinheiten gespeichert sind, zur Austestungseinrichtung in Reaktion auf eine Leseanweisung von der Austestungseinrichtung zu übertragen.
Nichttransitorisches computerlesbares Aufzeichnungsmedium, das ein Programm speichert, das in einer Austestungseinrichtung ausgeführt werden soll, die einen Prozessor und einen Arbeitsspeicher umfasst, und Zielprogramme mit mehreren Programmen austestet, die in einer Halbleitervorrichtung mit mehreren Zentraleinheiten (CPU) und mehreren Temperatursensoren arbeiten, wobei der Arbeitsspeicher CPU-Positionsinformationen, Temperatursensor-Positionsinformationen, CPU-Typ-Informationen und Zielprogramm-Einschränkungsinformationen speichert, die mehreren CPU die Zielprogramme ausführen, die mehreren Temperatursensoren die Temperatur der Halbleitervorrichtung während der Ausführung der Zielprogramme messen, wobei das Programm ein Verfahren durchführt, das umfasst: Anweisen der Halbleitervorrichtung, die Zielprogramme auszuführen; Erfassen von mehreren Temperaturdaten, die durch die mehreren Temperatursensoren gemessen werden; Bestimmen mindestens einer CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen verringert werden soll, als erste Änderungsziel-CPU und mindestens einer CPU, bei der die Anzahl von ausgeführten Zielprogrammen erhöht werden soll, als zweite Änderungsziel-CPU aus den mehreren CPU auf der Basis der mehreren Temperaturdaten, der CPU-Positionsinformationen und der Temperatursensor-Positionsinformationen, und Ändern der Zuweisung der durch die mehreren CPU ausgeführten Zielprogramme auf der Basis der ersten Änderungsziel-CPU, der zweiten Änderungsziel-CPU, der CPU-Typ-Informationen und der Zielprogramm-Einschränkungsinformationen, wobei die CPU-Positionsinformationen Informationen zum Identifizieren einer Position der mehreren CPU in der Halbleitervorrichtung umfassen, wobei die Temperatursensor-Positionsinformationen Informationen zum Identifizieren einer Position der mehreren Temperatursensoren in der Halbleitervorrichtung umfassen, wobei die CPU-Typ-Informationen Informationen zum Identifizieren eines Typs der mehreren CPU umfassen, und wobei die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen Informationen umfassen, die beim Bestimmen, ob die Zuweisung der durch die mehreren CPU ausgeführten Zielprogramme geändert werden soll, verwendet werden.
Nichttransitorisches computerlesbares Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 13, wobei der Arbeitsspeicher Messzeitinformationen und Abtastzeitinformationen speichert, und wobei das Verfahren ferner umfasst: Einstellen der Messzeitinformationen in einem Messzeitgeber; Einstellen der Abtastzeitinformationen in einem Periodenzeitgeber; Starten einer Zähloperation des Messzeitgebers und einer Zähloperation des Periodenzeitgebers auf der Basis eines Starts der Ausführung der Zielprogramme; wenn ein Zählwert des Periodenzeitgebers mit einem Wert übereinstimmt, der durch die Abtastzeitinformationen angegeben ist, und der Zählwert des Messzeitgebers einen Wert nicht überschreitet, der durch die Messzeitinformationen angegeben ist, Erfassen der mehreren Temperaturdaten, die durch die mehreren Temperatursensoren gemessen werden, und Löschen des Zählwerts des Periodenzeitgebers, um die Zähloperation des Periodenzeitgebers erneut zu starten; und wenn der Zählwert des Periodenzeitgebers mit dem Wert übereinstimmt, der durch die Abtastzeitinformationen angegeben ist, und der Zählwert des Messzeitgebers den Wert überschreitet, der durch die Messzeitinformationen angegeben ist, Stoppen der Zähloperation des Messzeitgebers und der Zähloperation des Periodenzeitgebers.
Nichttransitorisches computerlesbares Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 13, wobei das Verfahren ferner umfasst: Erfassen der mehreren Temperaturdaten, die durch die mehreren Temperatursensoren gemessen werden, mehrere Male in vorgegebenen Abtastintervallen; Berechnen eines Mittelwerts der Temperaturdaten für jeden der mehreren Temperatursensoren; Identifizieren eines Temperatursensors mit einem höchsten Mittelwert und eines Temperatursensors mit einem niedrigsten Mittelwert von den mehreren Temperatursensoren auf der Basis von Berechnungsergebnissen der Mittelwerte der Temperaturdaten; Zuordnen von jedem der mehreren Temperatursensoren zu mindestens einer CPU unter den mehreren CPU unter Verwendung der CPU-Positionsinformationen und der Temperatursensor-Positionsinformationen; Bestimmen mindestens einer CPU, die dem Temperatursensor mit dem höchsten Mittelwert zugeordnet ist, als erste Änderungsziel-CPU; und Bestimmen mindestens einer CPU, die dem Temperatursensor mit dem niedrigsten Mittelwert zugeordnet ist, als zweite Änderungsziel-CPU.
Nichttransitorisches computerlesbares Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 13, wobei das Verfahren ferner das Ändern der Zuweisung der durch die mehreren CPU ausgeführten Zielprogramme durch Bezugnahme auf die CPU-Typ-Informationen und die Zielprogramm-Einschränkungsinformationen und Zuweisen eines Teils der Zielprogramme, die der ersten Änderungsziel-CPU zugewiesen sind, zur zweiten Änderungsziel-CPU umfasst.
Nichttransitorisches computerlesbares Aufzeichnungsmedium nach Anspruch 13, wobei das Verfahren ferner vor dem Anweisen der Halbleitervorrichtung, die Zielprogramme auszuführen, das Anweisen der Halbleitervorrichtung, eine Blindoperation auszuführen, umfasst, bei der die Temperatur der Halbleitervorrichtung nicht durch die mehreren Temperatursensoren gemessen wird.