DE112006003729T5

DE112006003729T5 - Testzeitberechnungseinrichtung

Info

Publication number: DE112006003729T5
Application number: DE112006003729T
Authority: DE
Inventors: Andree Weyh
Original assignee: Verigy Singapore Pte Ltd
Current assignee: Verigy Singapore Pte Ltd
Priority date: 2006-02-06
Filing date: 2006-02-06
Publication date: 2009-01-15
Also published as: US20100223035A1; TWI350376B; WO2007090460A1; TW200741207A

Abstract

Eine Vorrichtung (100) zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts (204), der durch ein Testgerät (200) durchgeführt werden soll, wobei die Vorrichtung (100)
eine Eingabeeinheit (101), die dahin gehend angepasst ist, Testinformationen, die den durchzuführenden Test angeben, zu empfangen;
eine Verarbeitungseinheit (102), die dahin gehend angepasst ist, die Dauer des Tests des Testobjekts (204), der durch das Testgerät (200) durchgeführt wird, auf der Basis der empfangenen Testinformationen und auf der Basis eines den Test charakterisierenden Modells zu schätzen,
aufweist.

Description

STAND DER TECHNIK
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Tests von Testobjekten unter Verwendung eines Testgeräts.
Zum Testen elektronischer Bauelemente, insbesondere integrierter elektronischer Schaltungen, die digitale elektrische Ausgangssignale liefern, wird ein Test- oder Stimulussignal in einen Eingang des Testobjekts eingespeist, und ein Antwortsignal des Testobjekts wird durch eine automatische Testeinrichtung, beispielsweise durch einen Vergleich mit erwarteten Daten, ausgewertet. Eine derartige automatische Testeinrichtung umfasst bisher eine bestimmte Testfunktionalität, das heißt Testfunktionen oder -routinen, die die Testeinrichtung ausführen kann. Diese Testfunktionalität kann in Form eines ausführbaren Softwarecodes in die Testeinrichtung integriert sein.
Wenn ein neues Produkt entwickelt wird, wird die Funktionalität des neuen Produkts als Testobjekt (DUT – device under test) ausgewertet, beispielsweise indem ein Test gemäß einem bestimmten Testschema durchgeführt wird. Die Testzeit, die für einen derartigen Test benötigt wird, ist ein beträchtlicher Kostenfaktor für einen Entwickler oder Hersteller des Produkts, vor allem auf dem Gebiet von Speichergerätprodukten.
OFFENBARUNG
Eine Aufgabe der Erfindung besteht darin, einen Test zum Testen von Testobjekten (DUT) effizient zu planen. Die Aufgabe wird durch die unabhängigen Ansprüche gelöst. Weitere Ausführungsbeispiele sind durch die abhängigen Patentansprüche gezeigt.
Gemäß einem exemplarischen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ist eine Vorrichtung zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät durchgeführt werden soll, vorgesehen, wobei die Vorrichtung eine Eingabeeinheit, die dahin gehend angepasst ist, Testinformationen, die den durchzuführenden Test angeben (beispielsweise Parameter oder Rahmenbedingungen, die einen geplanten Test spezifizieren), zu empfangen, und eine Verarbeitungseinheit, die dahin gehend angepasst ist, die Dauer des Tests des Testobjekts, der durch das Testgerät durchgeführt wird, auf der Basis der empfangenen Testinformationen und auf der Basis eines den Test charakterisierenden Modells (beispielsweise zum realistischen Abbilden eines physischen Tests auf ein theoretisches, numerisch auswertbares virtuelles Modell) zu schätzen, aufweist.
Gemäß einem weiteren exemplarischen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ist ein Testgerät vorgesehen, das eine Testeinheit zum physischen Durchführen eines Tests eines Testobjekts und eine Vorrichtung, die die oben erwähnten Merkmale aufweist, zum (theoretischen) Schätzen einer erwarteten Dauer eines (virtuellen) Tests des Testobjekts, der durch die Testeinheit durchgeführt werden soll, aufweist.
Gemäß einem weiteren exemplarischen Ausführungsbeispiel ist ein Verfahren zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät durchgeführt wird, vorgesehen, wobei das Verfahren ein Empfangen von Testinformationen, die den durchzuführenden Test angeben, und ein Schätzen der Dauer des Tests des Testobjekts, der durch das Testgerät durchgeführt wird, auf der Basis der empfangenen Testinformationen und auf der Basis eines den Test charakterisierenden Modells, umfasst.
Gemäß einem wieder anderen exemplarischen Ausführungsbeispiel ist ein computerlesbares Medium vorgesehen, in dem ein Computerprogramm zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät durchgeführt werden soll, gespeichert ist, wobei das Computerprogramm, wenn es durch einen Prozessor ausgeführt wird, dahin gehend angepasst ist, das oben erwähnte Verfahren zu steuern oder durchzuführen.
Gemäß einem wieder anderen exemplarischen Ausführungsbeispiel ist ein Programmelement zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät durchgeführt werden soll, vorgesehen, wobei das Programmelement, wenn es durch einen Prozessor ausgeführt wird, dahin gehend angepasst ist, das oben erwähnte Verfahren zu steuern oder durchzuführen.
Ausführungsbeispiele der Erfindung können teilweise oder ganz durch ein oder mehrere geeignete Softwareprogramme verkörpert oder unterstützt werden, die auf einer beliebigen Art von Datenträger gespeichert oder auf sonstige Weise durch denselben bereitgestellt werden können und die in einer oder durch eine beliebige geeignete Datenverarbeitungseinheit ausgeführt werden können. Softwareprogramme oder -routinen können vorzugsweise zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät durchgeführt werden soll, angewendet werden. Die Testzeitbestimmung gemäß einem Ausführungsbeispiel der Erfindung kann durch ein Computerprogramm, d. h. durch Software, oder durch Verwendung einer oder mehrerer spezieller elektronischer Optimierungsschaltungen, d. h. in Hardware, oder in Hybridform, d. h. unter Verwendung von Softwarekomponenten und Hardwarekomponenten, durchgeführt werden.
Gemäß einem exemplarischen Ausführungsbeispiel kann ein System vorgesehen sein, das es ermöglicht, im Voraus einen theoretischen Wert einer Testdauer eines geplanten Tests zum Testen eines oder mehrerer Testobjekte (beispielsweise eines entwickelten oder hergestellten Speichergeräts wie beispielsweise eines DRAM) auszuwerten oder zu bestimmen. Als Basis für eine derartige Berechnung kann ein Benutzer Einzelheiten bezüglich des durchzuführenden Tests spezifizieren, indem er Informationen in Bezug auf die Art oder Anzahl von Testobjekten (beispielsweise Durchführen eines Tests von 64 DRAM-Vorrichtungen), die Testmaschine, die für einen derartigen Test verwendet werden soll (beispielsweise die Information, dass eine Testvorrichtung der Serie 93000 von Agilent Technologies für den Test verwendet werden soll) oder ein spezifisches Testmuster liefert. Auf der Basis derartiger Informationen in Kombination mit einem (beispielsweise vorab gespeicherten oder vorbestimmten) Modell, das den Test charakterisiert, das heißt einem Modell einer durchzuführenden Testprozedur, kann eine virtuelle/erwartete Testzeit geschätzt werden.
Somit kann ein Prozessor eines derartigen Systems dann eine notwendige Testzeit berechnen, wobei er vernünftige Annahmen tätigt und eine Formel verwendet, die für eine bestimmte Testsequenz entsprechend Charakteristika des DUT abgeleitet werden kann. Ein derartiges theoretisches Modell in Kombination mit Informationen, die ein physisches Testobjekt spezifizieren, kann dazu verwendet werden, einen derartigen Test zu simulieren, um Informationen über eine notwendige Zeit eines echten zukünftigen Tests abzuleiten, während dessen ein physisches Testobjekt tatsächlich an einem physischen Testgerät getestet wird.
Eine derartige Testzeit kann, falls gewünscht, in Kombination mit entsprechenden Testkosten, die auf der geschätzten Testzeit beruhen, ausgegeben werden. Somit kann ein Hersteller oder Entwickler eines Testobjekts im Voraus wissen, welcher Geldbetrag ausgegeben wird, wenn ein Testobjekt an einem Testgerät getestet wird.
Eine derartige Testvorrichtung kann als elektronisches Bauelement entworfen sein oder kann auch als reine mechanische Lösung entworfen sein, ähnlich einem Benzinverbrauchsblatt, bei dem verschiedene Eingabeparameter eingestellt werden können (beispielsweise indem Papierräder in Positionen gedreht werden, die den jeweiligen Parametern entsprechen), um es einem Benutzer zu ermöglichen, einen Ausgabeparameter, der eine Testzeit angibt, auszulesen. Es ist auch möglich, dass die Vorrichtung als eine Art Tabelle, vor allem eine mehrdimensionale Tabelle, verwirklicht wird, bei der eine Kombination von Eingabeparametern für eine bestimmte Testroutine es ermöglichen kann, die Testzeit und/oder die Testkosten abzuleiten, indem ein entsprechender Wert in einer derartigen (Nachschlag-)Tabelle betrachtet wird.
Somit können zum Entwerfen der Testvorrichtung Berechnungsressourcen oder eine bestimmte Logik implementiert werden.
Gemäß einem exemplarischen Ausführungsbeispiel kann ein mathematisches Modell zur Testzeitvorhersage von IC-Testsystemen (oder Messinstrumenten im Allgemeinen) bereitgestellt werden, um Testzeit und/oder Testkosten vorherzusagen.
ICs oder andere elektronische Produkte werden in vielen Fällen in einem Design-Haus (beispielsweise in Kalifornien) entwickelt, dann hergestellt und in einem Test-Haus (beispielsweise in Taiwan) getestet. Die Inrechnungstellung des Testdienstes des Test-Hauses wird durch die Testzeit bestimmt oder kann von derselben abhängig sein (das heißt von der Zeit, die benötigt wird, um ein Testobjekt unter Verwendung eines Testgeräts und einer Testprozedur zu testen). Deshalb kann es für das Design-Haus interessant sein, zu wissen, für wie viel Testzeit sie bei dem Test-Haus bezah len müssen. Gemäß einem exemplarischen Ausführungsbeispiel lässt sich dies nicht nur erst dann herausfinden, nachdem der Test erfolgt ist, sondern es ist möglich, ein Design-Haus vorab zu informieren, bevor der Test beginnt, so dass es planen kann, was es zahlen muss. Es kann diese Informationen auch dazu verwenden, den Test des Objekts zu optimieren (beispielsweise einen Kompromiss bei der Testabdeckung zu finden, die Testzeit zu verringern).
Gemäß dem Vorstehenden ist ein mathematisches Modell für die Testzeit eines IC-Testers oder eines Messinstruments im Allgemeinen vorgesehen, um die Messzeit vorherzusagen.
Insbesondere kann ein Software-Werkzeug vorgesehen sein, das die geschätzte Testzeit einer IC berechnet. Dies kann die folgenden vier Komponenten umfassen:

1. Messen der Testzeit einer typischen/charakteristischen IC an einem IC-Tester unter variierenden Bedingungen. Exemplarische Bedingungen sind die Art des IC-Testers und Versionen der Messinstrumente, die Geschwindigkeit der Testersteuerung/Arbeitsstation, das Betriebssystem der Steuerung/Arbeitsstation, die Menge an Testdaten (das heißt das, was getestet werden soll) oder die Geschwindigkeit des Tests/die Testfrequenz.
2. Ein mathematisches Modell kann abgeleitet werden, um die Testzeit zu symbolisieren.
3. Die geschätzte Testzeit für ein spezifisches Testprogramm kann auf der Basis des Testprogramms zum Testen einer spezifischen IC einschließlich einer Anzahl von Tests und Testcharakteristika berechnet werden.
4. Geschätzte Testkosten können auf der Basis der berechneten Testzeit berechnet werden (optional).

Es kann auch möglich sein, ein Expertensystem zu umfassen, um Testzeitverbesserungen bei dem Testprogramm einer IC vorzuschlagen. Deshalb können Testprogramme automatisch oder unter der Steuerung eines Benutzers geändert werden, um die Testzeit der IC gemäß dem Ergebnis eines derartigen Expertensystems zu verbessern. Deshalb kann ein Benutzer Testparameter (einschließlich Mehrtor-/Mehr-Größen-Testparametern oder dergleichen) konkretisieren. Dann können derartige Parameter in Kombination mit einer bestimmten Testprozedur in ein Modell umgewandelt werden (das Berechnungen auf der Basis von Formeln, logischen Pfaden oder dergleichen umfassen kann). Anschließend kann ein derartiges Modell dazu verwendet werden, die Testzeit und, falls gewünscht, die entsprechenden Testkosten zu berechnen oder auszurechnen.
Die Testzeitberechnungseinrichtung kann als separate Vorrichtung oder als separater Dienst bereitgestellt werden oder kann als Merkmal eines entsprechend modifizierten Testgeräts, wie der SOC-Vorrichtung 93000 von Agilent Technologies, entworfen sein. Bei einem derartigen Testgerät kann die ordnungsgemäße Funktion eines beliebigen Testobjekts (DUT) geprüft werden, um das Ergebnis zu erhalten, ob ein bestimmtes DUT den Test bestanden hat oder durchgefallen ist. Ein derartiges DUT kann beispielsweise ein System-auf-einem-Chip in einer integrierten Schaltung (IC – integrated circuit), eine Zentralverarbeitungsvorrichtung (CPU – central processing device), ein Speichergerät (beispielsweise ein DRAM-Speicherprodukt) oder ein beliebiges anderes Produkt sein.
Beispielsweise bei einem Szenario, bei dem ein IC-Tester vorgesehen ist, kann eine zu testende IC an ihren Anschlussstiften mit entsprechenden Anschlussstiften des IC-Testgeräts verbunden sein. Dann kann ein Test durchgeführt werden, um zu charakterisieren, ob das IC-Produkt ordnungsgemäß funktioniert oder nicht. Ein derartiger Chiptest kann während oder nach der Herstellung des Chipprodukts, bei spielsweise mit einem Mehrfachdurchsatzverfahren, durchgeführt werden. Somit können auf schnelle und relativ kostengünstige Weise Informationen darüber erhalten werden, ob der IC-Test den Test bestanden hat oder im Test durchgefallen ist.
Um die Art und Weise der Planung derartiger Tests zu verbessern, ermöglichen es Ausführungsbeispiele der Erfindung, einem Testkunden Informationen bereitzustellen, um die Testzeit und somit die Testkosten im Voraus zu schätzen. Dies können wichtige Informationen sein, die während der Entwicklung des Produkts verwendet werden können, um Anforderungen des IC-Marktes zu entsprechen. Somit kann ein Hersteller oder Entwickler von Prozessoren, Speichern, SOCs (SOC = system an chip, System auf einem Chip) oder Hybridschaltungen im Voraus wissen, welche Kosten beim Testen der ordnungsgemäßen technischen Funktion des DUT nach der Herstellung entstehen.
DUT-bezogene Parameter, die einen Einfluss auf die Testzeit haben können, sind die Art des DUT, das gerade getestet wird (ein Logikbaustein, ein Speichergerät, eine analoge Schaltung, eine Funkfrequenzschaltung usw.), die Taktfrequenz oder Testrate, die zur Verfügung steht, und Informationen bezüglich der Speichertiefe eines DRAM als DUT. Derartige Parameter können von der Technologie des DUT abhängen und sollten bereitgestellt werden, wenn definiert wird, welches DUT bei dem (virtuellen) Test getestet werden soll.
Auf das Testgerät bezogene Parameter für den als Simulation durchzuführenden Test können die Frage betreffen, wie viele Testgeräte und wie viele DUTs pro Testgerät getestet werden können. Dies beinhaltet die Frage, ob ein paralleler und/oder sequentieller Test durchgeführt werden kann und ob ein an einem einzigen Ort erfolgender Test oder ein an mehreren Orten erfolgender Test durchgeführt wird. Die Konfiguration eines Testgeräts zum Testen der DUTs kann ebenfalls berücksichtigt werden. Derartige Überlegungen beziehen sich auf die Anforderungen des Testgeräts, und derartige Informationen können durch einen Hersteller des Testgeräts bereitgestellt werden.
Auf die Testroutine bezogene Parameter für den durchzuführenden Test können ebenfalls relevant sein. Somit kann die Art des oder der auszuführenden Tests beim Schätzen der Testzeit ebenfalls berücksichtigt werden. Dies kann Informationen bezüglich dessen umfassen, ob ein digitaler Logiktest (der lediglich das Anlegen und Auslesen von Logikwerten „0" oder „1" beinhaltet) durchgeführt wird, ob ein DC-Test (das heißt, die Messung von konstanten analogen Stromwerten), der üblicherweise länger dauert als ein digitaler Test, oder ein Funkfrequenztest (das heißt ein Test für Schaltungen oder Teile von Schaltungen, die Antennen, z. B. Antennen für Mobiltelefone, steuern) durchgeführt werden soll. Darüber hinaus kann dies die Frage umfassen, ob ein Speichertest ausgeführt werden soll, der Lese- und/oder Schreibzyklen in dem Testgerät unter Verwendung von z. B. analogen Signalverläufen umfassen kann. Ferner kann eine Testsequenz berücksichtigt werden, beispielsweise ein Schema, das angibt, dass einzelne Speicherzellen, Zeilen von Speicherzellen, Spalten von Speicherzellen, Diagonalen von Speicherzellen usw. eines Speicherzellenarrays mittels Lese-/Schreibzyklen getestet werden.
Somit können insbesondere DUT-Technologie-Charakteristika, Testgerätcharakteristika oder -parameter und die Testprozedur charakterisierende Parameter als Eingabeparameter zum Definieren eines Tests dienen, auf der Basis derer eine Schätzung der Testzeit möglich sein kann.
Derartige Parameter können in das System eingegeben werden und dazu dienen, ein abstraktes theoretisches Modell zu spezifizieren, um die Vorrichtung in eine geeignete Lage zu versetzen, die Testzeit und/oder die Testkosten zu berechnen.
Somit kann das Testsystem modelliert werden, indem Eingabeparameter/charakteristische Daten (die geschätzt oder gemessen sein können) eingegeben werden, und als Ausgabe können die Testzeit und die Testkosten abgeleitet werden.
Beispielsweise kann ein Logiktest bei einem Testobjekt durchgeführt werden. Im Zusammenhang eines derartigen Logiktests werden Signale, die logische Werte „0" oder „1" darstellen, insbesondere Sequenzen derartiger Signale, an eine Mehrzahl von Anschlussstiften des Testobjekts als Stimulussignal angelegt, wobei die logischen Werte gemäß einer Testfrequenz oder -rate geändert werden können. Gemäß der Funktionalität der DUT-Logik werden Antwortsignale an Ausgangsanschlussstiften des DUT ausgegeben, und sie können durch das Testgerät mit erwarteten Werten verglichen werden, um zu bestimmen, ob ein DUT den Test bestanden hat oder durchgefallen ist. Bei einem derartigen Szenario kann die Testzeit einen Beitrag einer Aufwärmzeit des Testgeräts, eine tatsächliche Testzeit, die zu einer Anzahl von Testsignalen (das heißt, zu der Anzahl von logischen Werten „0" und „1", die an Anschlussstifte des Testobjekts angelegt werden) proportional oder davon abhängig sein kann, multipliziert mit dem Umkehrwert der Testfrequenz, umfassen, und sie kann einen zusätzlichen Zeitaufwand am Ende der Tests, das heißt eine Zeit, die zum Bereitstellen der Ausgabe des Tests an einer Ausgabeschnittstelle benötigt wird, umfassen. Eine derartige Testzeit eines einzigen DUT kann mit der Anzahl von DUTs, die in einem rein sequentiellen Test getestet werden sollen, wobei eine Schaltzeit zwischen den Tests unterschiedlicher DUTs hinzugefügt werden sollte, multipliziert werden. Eingesparte Zeit, die aufgrund eines zumindest teilweise parallelen DUT-Tests mit dem Testgerät zurückzuführen ist, kann ebenfalls berücksichtigt werden, um eine realistische Testzeit zu berechnen.
Eine exemplarische Gleichung, die zum Ableiten einer Testzeit T_Logik für einen Logiktest geeignet ist, lautet wie folgt: TLogik = n × T + TStart + TErgebnis (1)
Bei dieser Gleichung ist T_Logik die geschätzte Testzeit. n ist die Anzahl von Testmustern, die auf ein Testobjekt angewendet werden, und kann beispielsweise in der Größenordnung zwischen 10³ und 10⁶ liegen. T ist der Umkehrwert der Testfrequenz f und kann als Taktrate bezeichnet werden. f kann in der Größenordnung zwischen 50 MHz und 3,6 GHz liegen. T_Start ist die Aufwärmzeit des Testgeräts und kann bei einem realistischen Szenario in der Größenordnung zwischen μs und ms liegen. T_Ergebnis kann als eine Zeit bezeichnet werden, die benötigt wird, um das Ergebnis an einer Ausgabeschnittstelle des Testgeräts bereitzustellen, und es kann ebenfalls in der Größenordnung zwischen μs und ms liegen.
Für einen Speichertest, d. h. zum Testen eines Speichers wie eines DRAM, der eine matrixähnliche Anordnung von Speicherzellen darstellt, kann die folgende Testzeitformel angebracht sein: TTest = n × m × T + TStart + TErgebnis (2)
In der Gleichung (2) bezeichnet m die Anzahl der Speicherzellen, die in der Größenordnung von 500 Millionen liegen kann. Wiederum kann n eine Zahl sein, die eine Anzahl von Lese-/Schreibzyklen oder, allgemeiner, eines auf jede der Speicherzellen angewendetes Testmuster darstellt. Beispielsweise kann ein Logikwert „1" und ein Logikwert „0" in jede der Speicherzellen einprogrammiert und aus jeder der Speicherzellen ausgelesen werden (individuell oder in Gruppen), so dass n bei diesem Szenario vier sein kann. Wiederum stellt T den Umkehrwert der Testfrequenz f dar und kann als Taktrate bezeichnet werden. T_Start kann die Auf wärmzeit des Testgeräts sein, und T_Ergebnis kann die Zeit sein, die am Ende des Tests benötigt wird, um das Testergebnis an einer Ausgabeschnittstelle zur weiteren Analyse bereitzustellen.
Für eine ordnungsgemäße Berechnung der Testzeit T_Test kann die Vorrichtung gemäß einem exemplarischen Ausführungsbeispiel der Erfindung eine Datenbank umfassen, in der verschiedene Testmuster oder Routinen vorab gespeichert sind, in Kombination mit weiteren Informationen bezüglich bestimmter DUTs, bezüglich bestimmter Testgeräte usw. Ein Benutzer kann dann den tatsächlichen Test, der in Kombination mit den tatsächlichen zu testenden DUTs durchgeführt werden soll, und das tatsächliche verwendete Testgerät spezifizieren. Die vorab gespeicherten Informationen aus der Datenbank können dann mit den durch den Benutzer definierten Parametern kombiniert werden, um eine realistische Testzeit zu bekommen.
Gemäß exemplarischen Ausführungsbeispielen der Erfindung kann die Testzeitberechnungseinrichtung als Dienstsoftware vorgesehen sein, die an einem computerlesbaren Medium wie einer CD oder einer Festplatte verfügbar ist, sie kann als Dienst bereitgestellt werden, der gegen Zahlung einer Gebühr geleistet werden soll, sie kann direkt an einem Testgerät implementiert sein oder sie kann auch auf einer Webseite als Kundenunterstützungsdienstmerkmal präsentiert werden, das über ein Netzwerk, beispielsweise über das Internet oder über ein Intranet, verwendet werden kann.
Als Nächstes werden weitere exemplarische Ausführungsbeispiele der Erfindung erläutert. Im Folgenden werden weitere exemplarische Ausführungsbeispiele der Vorrichtung zum Schätzen einer Dauer eines Testobjekts, der durch ein Testgerät durchgeführt werden soll, erläutert. Jedoch gelten diese Ausführungsbeispiele auch für das Testgerät, für das Verfahren zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät durchgeführt wird, für das computerlesbare Medium und für das Programmelement.
Die Testinformationen können zumindest ein Element der Gruppe umfassen, die aus Informationen, die das Testobjekt angeben, Informationen, die das Testgerät angeben, und Informationen, die eine Testroutine angeben, die während des Tests seitens des Testgeräts auf das Testobjekt angewendet werden soll, besteht. Insbesondere sind diese komplementären Informationseinheiten wichtige Parameter, die einen bedeutenden Einfluss auf die Testzeit haben können. Somit ist dieser Satz Parameter leicht zu handhaben und kann der Vorrichtung mit geringem Aufwand in einem maschinenlesbaren Format bereitgestellt werden und kann trotzdem als ordnungsgemäße Basis zum Berechnen einer realistischen Testzeit dienen.
Die Eingabeeinheit kann dahin gehend eingestellt sein, das den Test charakterisierende Modell aufzunehmen. Mit anderen Worten kann ein Benutzer das Modell oder Schema spezifizieren, das durch die Vorrichtung zum Berechnen der Testzeit verwendet werden kann.
Die Eingabeeinheit kann eine graphische Benutzerschnittstelle (GUI – graphical user interface) sein oder aufweisen. Eine derartige graphische Benutzerschnittstelle kann eine Anzeigevorrichtung (wie eine Kathodenstrahlröhre, eine Flüssigkristallanzeige, eine Plasmaanzeigevorrichtung oder dergleichen) zum Anzeigen von Informationen gegenüber einer menschlichen Bedienperson, wie Daten, die auf das DUT, das Testgerät oder den durchzuführenden Test bezogen sind, umfassen. Ferner kann eine graphische Benutzerschnittstelle eine Eingabevorrichtung aufweisen, die es dem Benutzer ermöglicht, Daten (wie Daten, die das DUT oder den Test spezifizieren) einzugeben oder das System mit Steuerbefehlen zu versehen. Eine derartige Eingabevorrichtung kann ein Tastenfeld, einen Joystick, eine Rollkugel umfassen oder kann sogar ein Mikrophon eines Spracherkennungssystems sein. Die GUI kann es einem menschlichen Benutzer ermöglichen, auf bidirektionale Weise mit dem System zu kommunizieren.
Die Vorrichtung kann ferner eine Datenbank umfassen, in der das den Test charakterisierende Modell vorab gespeichert wird. Eine derartige Datenbank kann beispielsweise eine Auswahl von Testprozeduren umfassen, die durch ein bestimmtes Testgerät oder durch eine bestimmte Gruppe von Testgeräten unterstützt werden. Ferner kann die Datenbank Informationen bezüglich der einzelnen Testgeräte umfassen und kann bereits Modelle bezüglich einer Auswahl von DUTs umfassen.
Derartige Informationen können durch einen Prozessor zur Berechnung der Testzeit verwendet werden, sowie empirische oder experimentelle Daten, die ebenfalls in der Datenbank gespeichert sein können, und die Informationen darstellen, die von den Erfahrungen von in der Vergangenheit durchgeführten Tests abgeleitet sind. Eine derartige Datenbank kann eine relationale Datenbank sein und kann die nötigen Informationen in Form einer Nachschlagtabelle umfassen, um ein schnelles Durchsuchen des Inhalts der Datenbank zu ermöglichen. Informationen der Datenbank können in einem Massenspeichergerät wie einer Festplatte, einer Flash-Speicherkarte, einem USB-Stick usw. gespeichert sein.
Auch ist es möglich, dass die Prozessoreinheit gemäß einem exemplarischen Ausführungsbeispiel der Erfindung ein neurales Netzwerk oder eine beliebige andere Art eines Systems einer künstlichen Intelligenz, das auf eine selbstanpassende Weise betrieben werden kann, umfasst. Mit anderen Worten kann eine in der Vergangenheit gemachte Erfahrung der Vorrichtung berücksichtigt werden, so dass das System über seine gesamte Lebensdauer hinweg immer besser wird. Ein Vergleich von berechneten und experimentell gemessenen Testzeiten kann in ein neurales Netzwerk eingespeist wer den, um das neurale Netzwerk, das in der Prozessorvorrichtung integriert sein kann, zu schulen.
Das den Test charakterisierende Modell kann ein mathematisches Modell sein. Beispielsweise kann das Modell anhand von empirischen oder theoretisch abgeleiteten Formeln beschrieben werden, die eine formelle Beschreibung eines Testschemas darstellen, das gemäß einer logischen Struktur formuliert sein kann, die es einer Maschine ermöglicht, ein derartiges Modell als Rezept zum Berechnen der Testzeit zu verwenden. Dies kann eine rasche und zuverlässige Berechnung der Testzeit ermöglichen.
Das den Test charakterisierende Modell kann zumindest ein Element der Gruppe umfassen, die aus einer Formel zum Berechnen der Dauer des Tests auf der Basis von empfangenen Testinformationen, empirischen Daten, die aus zuvor durchgeführten Tests erhalten wurden, und experimentellen Daten, die während zuvor durchgeführter Tests gemessen wurden, besteht. Diese und andere Informationseinheiten können dazu verwendet werden, eine realistische Testzeit zu berechnen.
Auch ist es möglich, eine Testzeit gemäß unterschiedlichen Modellen mehrmals zu berechnen und die individuell berechneten Testzeitergebnisse auszuwerten, um zuverlässigere Informationen über die Testzeit abzuleiten. Beispielsweise können diese individuellen Testzeitwerte, die gemäß unterschiedlichen Modellen berechnet wurden, mathematisch gemittelt werden. Ein arithmetischer Mittelwert oder Medianwert kann aus einem derartigen Satz von Testzeiten berechnet werden.
Das den Test charakterisierende Modell kann zumindest ein Element der Gruppe berücksichtigen, die aus einer Aufwärmzeit des Testgeräts vor Beginn des Tests, einer Testergebnisübertragungszeit des Testgeräts nach Beendigung des Tests, einer Testrate, mit der der Test durchführbar ist, einer Anzahl von Testschnittstellen des Testobjekts, einer Anzahl von Teilregionen des zu testenden Testobjekts (beispielsweise Anschlussstiften, an die Signale angelegt und von denen Signale empfangen werden), einer Anzahl von Testobjekten (beispielsweise 64 oder 256 DRAMs, die mit einer Testvorrichtung getestet werden können), einer Schaltzeit zum Umschalten zwischen verschiedenen Testschritten während des Durchführens des Tests (bei einer zumindest teilweise sequentiellen Testroutine) und einer Verzögerungszeit, die sich aus einem zumindest teilweise sequentiellen Test ergibt, besteht. Diese Parameter sind aussagekräftige Informationsquellen, die Umstände, von denen die Testzeit abhängen kann, definieren.
Das Testobjekt kann zumindest ein Element der Gruppe umfassen, die aus einem Speichergerät, einem DRAM-Speichergerät, einem Logikbaustein, einer elektrischen Schaltung, einer integrierten Schaltung, einem Prozessor, einem System-auf-einem-Chip und einer Hybridschaltung besteht. Jedoch ist diese Liste lediglich exemplarisch, und jegliches andere elektronische Testobjekt, insbesondere jegliches IC-Produkt, einschließlich Logikschaltungen und Speicherarrays, können DUTs sein, die zum Schätzen der Testzeit verwendet werden.
Der Begriff „Test" kann insbesondere Vorrichtungstests zum überprüfen der Qualität eines Produkts, bevor das Produkt im Handel vertrieben wird, abdecken. Jedoch kann der Begriff „Test" auch ein mit einer Maschine durchgeführtes Experiment, beispielsweise ein physikalisches, biologisches oder chemisches Experiment, abdecken. Beispielsweise kann das System die mögliche Dauer eines beispielsweise wissenschaftlichen Experiments wie eines Fluidtrennungsexperiments, das mit einer Flüssigchromatographievorrichtung (wie eine HPLC (Hochdruckflüssigchromatographie, high-pressure liquid chromatography)) oder mit einer Gelelektrophorese-Vorrichtung durchgeführt wird, im Voraus berechnen. Auch im Fall derartiger Messvorrichtungen kann es wünschenswert sein, im Voraus zu wissen, wie lange eine Messung oder ein Test dauern kann, um verfügbare Ressourcen effizient einzusetzen. Das System gemäß einem Ausführungsbeispiel kann auch eine Zeit berechnen, die ein Prozessor (z. B. ein leistungsstarker Supercomputer) zum Durchführen einer bestimmten Berechnung benötigt. Wenn verschiedene Entitäten derartige rechentechnische Ressourcen gemeinsam verwenden, kann die Verteilung der rechentechnischen Ressourcen auf der Basis der Kenntnis benötigter Zeitschlitze verbessert werden.
Die Verarbeitungseinheit der Vorrichtung kann dahin gehend angepasst sein, Kosten zum Durchführen des Tests auf der Basis der geschätzten Dauer des Tests und auf der Basis von vorbestimmten Kosten pro Zeitdaten auszuwerten. Da für viele Testdienstanbieter die Testkosten zu der Testzeit (direkt) proportional sind, kann es mit einer angemessenen Rechenbelastung möglich sein, einen realistischen Testkostenwert zu berechnen, der einem Entwickler, der eine technische Vorrichtung entwickelt, dabei helfen kann, wirtschaftliche Umstände der Produktentwicklung und Produktqualitätskontrolle zu berücksichtigen.
Die Vorrichtung kann dahin gehend angepasst sein, eine Dauer eines Tests einer Mehrzahl von Testobjekten, der durch das Testgerät durchzuführen ist, zu schätzen. Somit ist die Berechnung der Testzeit nicht auf das Testen eines einzigen DUT beschränkt, sondern kann das Testen einer Mehrzahl von DUTs berücksichtigen, insbesondere auf eine zumindest teilweise sequentielle und/oder auf eine zumindest teilweise parallele Weise.
Die Vorrichtung kann ferner eine Ausgabeeinheit aufweisen, die dahin gehend angepasst sein kann, die geschätzte Dauer des Tests auszugeben. Die Ausgabe kann das Testergebnis als einfache Zahl oder einfachen Wert (nämlich die Testzeit) bereitstellen, oder sie kann einzelne Teiltestzeiten unterschiedlicher Testschritte oder Testabschnitte darstellen. Dies kann einem menschlichen Benutzer einen besseren Ein druck von Schwachpunkten in der Testroutine vermitteln, die, wenn sie erfasst werden, umgangen oder überwunden werden können.
Die Vorrichtung kann ferner eine Vorschlagseinheit aufweisen, die dahin gehend angepasst ist, eine Modifikation des Tests vorzuschlagen, um die Dauer des Tests zu verringern. Wenn beispielsweise bei einer Testroutine eine bestimmte Schwäche ermittelt wurde (beispielsweise ein Teil eines Testalgorithmus, der sich als Engpass für einen schnelleren Test erwiesen hat), beispielsweise da eine Teiltestzeit bedeutend länger ist als ein erwarteter Wert oder ein durchschnittlicher Wert, kann die Vorschlagseinheit versuchen, alternative Testmuster zu prüfen, die ebenfalls ein zuverlässiges Testergebnis ableiten können, die jedoch mit einer (beträchtlich) verringerten Testzeit durchführbar sein können. Eine Mensch/Maschine-Interaktion zwischen der Vorschlagseinheit und der menschlichen Bedienperson ist möglich, so dass die menschliche Bedienperson spezielle Vorschläge der Vorschlagseinheit, die eventuell nicht im Einklang mit Anforderungen des Benutzers stehen, ausschließen kann. Anhand einer derartigen Mensch/Maschine-Interaktion können die Fähigkeiten der Maschine (nämlich eine hohe Rechenleistung) und des Menschen (nämlich ein auf Kompetenz oder Erfahrung beruhendes „Gefühl" für Testanforderungen) kombiniert werden. Eine derartige Testroutinenverbesserung kann anhand einer oder mehrerer Iterationen erhalten werden.
Insbesondere kann die Vorschlagseinheit dahin gehend angepasst sein, die Modifikation auf der Basis von Expertenregeln vorzuschlagen. Expertenregeln können allgemeine Regeln sein, die von einer langen Erfahrung auf einem bestimmten technischen Gebiet (wie dem Gebiet von Vorrichtungstests) abgeleitet sind, und sie können einem realistischen und zuverlässigen Vorschlag dienen.
Im Folgenden werden weitere exemplarische Ausführungsbeispiele des Verfahrens zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät durchgeführt wird, erläutert. Jedoch gelten diese Ausführungsbeispiele auch für die Vorrichtung, für das Testgerät, für das Programmelement und für das computerlesbare Medium.
Das Verfahren kann ein Empfangen der Testinformationen über ein Kommunikationsnetzwerk, insbesondere über das Internet, umfassen. Aufgrund der Zugänglichkeit von Testinformationen über ein Kommunikationsnetzwerk kann der Zugriff auf die Testergebnisse sehr schnell werden, so dass eine notwendige Testzeit mit geringem Aufwand erhalten werden kann. Ein derartiges Netzwerk kann jegliches Telekommunikationsnetzwerk, jegliches verdrahtete oder drahtlose Netzwerk, beispielsweise ein LAN (local area network, lokales Netz), WLAN (wireless local area network, drahtloses lokales Netz), ein Intranet, das Internet oder dergleichen, sein.
Das Verfahren kann ein Bereitstellen der geschätzten Dauer des Tests über ein Kommunikationsnetzwerk, insbesondere über das Internet, umfassen. Mit anderen Worten kann nicht nur der Empfang der Testinformationen, sondern auch die Bereitstellung der geschätzten Dauer des Tests über ein Netzwerk bereitgestellt werden, was eine schnelle bidirektionale Kommunikation unter Verwendung vorhandener Netzwerksysteme ermöglicht.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
Andere Ziele und viele der damit verbundenen Vorteile von Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung werden durch Bezugnahme auf die folgende, ausführlichere Beschreibung von Ausführungsbeispielen in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen ohne weiteres einleuchten und verständlicher werden. Merkmale, die dem Wesen oder der Funk tion nach gleich oder ähnlich sind, werden mit denselben Bezugszeichen benannt.
1 zeigt eine Vorrichtung zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät gemäß einem weiteren exemplarischen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden soll.
2 zeigt ein Testgerät gemäß einem weiteren exemplarischen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
3 zeigt ein Schema zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät gemäß einem weiteren exemplarischen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden soll.
4 zeigt ein Schema einer Vorrichtung zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät gemäß einem weiteren exemplarischen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden soll.
5 zeigt ein Schema zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät gemäß einem weiteren exemplarischen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden soll.
Die Veranschaulichung in der Zeichnung ist schematisch.
Im Folgenden wird unter Bezugnahme auf 1 eine Vorrichtung 100 zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts, der durch ein Testgerät durchgeführt werden soll, ausführlich erläutert.
Die Vorrichtung 100 umfasst eine Eingabeeinheit 101, die dahin gehend angepasst ist, Testinformationen, die den durchzuführenden Test angeben, zu empfangen. Derartige Testinformationen, die den durchzuführenden Test spezifizieren, können von der Eingabeeinheit 101 an einen Mikroprozessor 102 (beispielsweise eine Zentralverarbeitungseinheit, CPU) geliefert werden. Diese Verarbeitungseinheit 102 ist dahin gehend angepasst, die Dauer des Tests des Testobjekts, der durch das Testgerät durchgeführt wird, auf der Basis der empfangenen Testinformationen und auf der Basis eines den Test charakterisierenden Modells zu schätzen.
Die durch den Benutzer über die Eingabeeinheit 101, die eine graphische Benutzerschnittstelle sein kann, bereitgestellten Testinformationen können das zu testende Testobjekt (beispielsweise ein bestimmtes DRAM-Speicherungs-IC-Produkt), Informationen, die das Testgerät (beispielsweise ein Agilent 93000) charakterisieren, und Informationen, die eine Testroutine angeben, die ein Benutzer auf das Testobjekt anzuwenden wünschte, spezifizieren. Das Modell, beispielsweise ein Logikschema, das Prozeduren gemäß einer Testroutine, die den Test charakterisiert, simuliert, kann seitens eines Benutzers über die Eingabeeinheit definiert werden. Jedoch ist eine Datenbankeinheit 103 vorgesehen, in der eine Auswahl unterschiedlicher Modelle, die unterschiedliche Tests charakterisieren, vorab gespeichert ist.
Um also einen bestimmten Test zu spezifizieren, kann der Benutzer über die Eingabeeinheit 101 einfach einen generischen Namen eines Tests eingeben, und der Prozessor 102 kann die notwendigen Informationen bezüglich des Testmodells auf der Basis dieses generischen Namens von der Datenbank 103 abfragen. Beispielsweise kann der Benutzer spezifizieren, dass der Test „XYZ" an einem Testgerät „ABC" zum Testen von DUTs „123" durchgeführt werden soll. Deshalb kann es sehr einfach sein, das System 100 durch einen Benutzer zu betreiben, da generische Definitionen von Namen, beispielsweise auf eine durch ein Menü gesteuerte Weise, eingegeben werden können.
Ferner können Informationen, die einen Test, ein Testgerät oder ein DUT spezifizieren, ebenfalls über eine Testdienstanbietereinheit 104 seitens eines Testdienstes bereitgestellt werden. Deshalb können vertrauliche Informationen des Testdienstanbieters auf eine für einen Benutzer „unsichtbare" Weise bereitgestellt werden, wobei die durch die Testdienstanbietereinheit 104 bereitgestellten Daten lediglich mit einer entsprechenden Befugnis von dem System 100 ableitbar sein können.
Die Prozessoreinheit 102 kann die durch die Entitäten 101 und/oder 103 und/oder 104 bereitgestellten Informationen anschließend dazu verwenden, eine Testzeit zu berechnen. Zu diesem Zweck können Formeln zum Berechnen einer Dauer des Tests auf der Basis der empfangenen Testinformationen, empirischen Daten, die von zuvor durchgeführten Tests abgeleitet sind, und/oder experimentellen Daten, die während zuvor durchgeführter Tests gemessen wurden, verwendet werden. Die Prozessoreinheit 102 kann zum Schätzen einer Testzeit eine Aufwärmzeit des Testgeräts vor Beginn des Tests, eine Testergebnisübertragungszeit des Testgeräts nach Beendigung eines Tests, eine Taktrate, mit der der Test durchführbar ist, eine Anzahl von Testschnittstellen des Testobjekts, eine Anzahl von Teilregionen des zu testenden Testobjekts, eine Anzahl von zu testenden Testobjekten, eine Schaltzeit zum Umschalten zwischen verschiedenen Testschritten während des Durchführens des Tests und eine Verzögerungszeit, die sich aus einem zumindest teilweise sequentiellen Test ergibt, berücksichtigen.
Die Ergebnisse der Berechnungen der Verarbeitungseinheit 102 können an einer Ausgabeeinheit 105, die auch eine graphische Benutzerschnittstelle sein kann, bereitgestellt werden. Ausgabeparameter, die durch die Ausgabeeinheit 105 bereitgestellt werden, sind die geschätzte Testzeit t_est, Testkosten Kosten und optional ein Ausgabevorschlag, der Tipps oder Anregungen, wie der Test zu verbessern ist, um die Testzeit zu verringern, umfasst.
Im Folgenden wird unter Bezugnahme auf 2 ein Testgerät 200, beispielsweise ein entsprechend modifiziertes Testgerät 93000 von Agilent, gemäß einem exemplarischen Ausführungsbeispiel der Erfindung beschrieben.
Das Testgerät 200 umfasst eine Testeinheit 201 zum physischen Durchführen eines Tests von Testobjekten 204, z. B. DRAM-Speicherprodukten, die mit Anschlussstiften 205 einer Empfangseinheit 203 verbunden sind. Über die Testeinheit 201 kann ein durchzuführender Test seitens eines Benutzers spezifiziert werden. Die Testeinheit 201 kann beispielsweise ein Computer sein, über den der Test durchgeführt werden kann. Der Benutzer spezifiziert einen durchzuführenden Test so, dass eine Steuereinheit 202 anschließend den Test gemäß dem definierten Test steuern kann. Dies kann das Anlegen von Testsignalen, die von der Steuereinheit 202 an die Empfangseinheit 203 und von dort an die verschiedenen Anschlussstifte 205, die mit den DUTs 204 verbunden sind, geliefert werden, umfassen.
Nachdem sie ein oder mehrere derartiger Stimulussignale empfangen haben, erzeugen die DUTs 204 entsprechend ihrer Funktionalität Antwortsignale an anderen Anschlussstiften 205, die seitens der Empfangseinheit 203 empfangen werden können und an die Steuereinheit 202 geleitet werden können. Diese Testergebnisse können durch die Steuereinheit 202 und/oder durch die Testeinheit 201 ausgewertet werden. Ein Ergebnis dieser Analyse ist das Testergebnis, das einem Benutzer bereitgestellt werden kann, beispielsweise auf visuelle Weise oder als Datei, aus der der Benutzer die Informationen bezüglich dessen ersehen kann, welche der DUTs 204 den Test bestanden haben und welche der DUTs 204 bei dem Test durchgefallen sind.
Ferner ist direkt an dem Testgerät 200 ein Testzeitberechnungsmerkmal vorgesehen, das mit dem Bezugszeichen 100 benannt ist. Bevor, während oder nachdem der echte Test durchgeführt wird bzw. wurde, kann ein Benutzer somit unabhängig von oder in Kombination mit dem bestimmten durchzuführenden Test die Testzeit virtuell schätzen, um ein Gefühl dafür zu haben, welche Testzeit realistisch ist.
Im Folgenden wird unter Bezugnahme auf 3 ein Schema bezüglich dessen erläutert, wie eine Testzeit für einen bestimmten Test zu berechnen ist.
Das Schema der 3 zeigt ein erstes DUT 300 und ein zweites DUT 301, die getestet werden sollen.
Wie der 3 zu entnehmen ist, weist das erste DUT 300 eine erste Stiftanschlussstelle 302, eine zweite Stiftanschlussstelle 303 und eine dritte Stiftanschlussstelle 304 auf. Die erste Stiftanschlussstelle 302 ist mit einer Analog/Digital-Wandlereinheit 305 verbunden, die einen Teil der Funktionalität des DUT 300 bildet. Der Analog/Digital-Wandler 305 ist mit einer Logikeinheit 306 gekoppelt, die ebenfalls über den zweiten Anschlussstift 303 zugänglich ist. Eine Speichereinheit 307 ist mit der logischen Einheit 306 verbunden und ist über den dritten Anschlussstift 304 steuerbar.
Ferner soll das zweite DUT 301 einem Test unterzogen werden. Das zweite DUT 301 weist einen ersten Anschlussstift 308 und einen zweiten Anschlussstift 309 auf. Der erste Anschlussstift 308 ist mit einer Logikeinheit 310 verbunden, und die Logikeinheit 310 ist mit einer Speichereinheit 311 verbunden, die ferner mit dem zweiten Anschlussstift 309 verbunden ist.
Die Komponenten 305 bis 307, 310, 311 und ihre Kopplung liefern die Funktionalität des DUT 301, 302. Bevor die DUTs 300, 301 als Produkte vertrieben werden, müssen sie einen Test bestehen, wobei die Testzeit dieses Tests ausgewertet werden soll.
In 3 ist angegeben, dass eine Mehrzahl weiterer DUTs einem Test unterzogen werden kann.
3 zeigt ferner ein Diagramm 320, das als Basis dafür genommen werden kann, zu verstehen, wie eine Vorrichtung 100 die Testzeit zum Testen der DUTs 301, 302, ... berechnet.
Das Blockdiagramm 320 ist auf das erste DUT 300 bezogen. Eine Testzeit 321 ist entlang einer Achse aufgetragen. Ferner sind Testbalken 322, 323 und 324 aufgetragen, die die individuellen Testzeiten zeigen, die zum Anlegen von Signalen und Empfangen von Antwortsignalen an den Anschlussstiften 302 bis 304 benötigt werden. Da der Test parallel ausgeführt wird, werden alle Testschritte 322 bis 324 zeitgleich ausgeführt, so dass die längste Testzeit, im Fall der 3 die auf den Testzeitbalken 324 bezogene Testzeit, die gesamte Testzeit bestimmt.
Ferner wird bei diesem Mehrtor-Test ein DC-Test (Gleichstromtest, DC = direct current) 325 durchgeführt, ebenfalls vollständig parallel, so dass die vollständig parallele Durchführung des Tests die Konsequenz hat, dass lediglich der Balken 324 die gesamte Testzeit bestimmt. Wie auch anhand eines gestrichelten Kästchens in 3 angegeben ist, würde der DC-Test in dem Fall, dass ein DC-Test 325 sequentiell durchgeführt wird, erst nach Beendigung des Tests mit Anschlussstift 3 beginnen, so dass in diesem Fall dieser teilweise sequentielle Test die gesamte Testzeit um die individuelle Testzeit des DC-Tests 325 verlängern würde.
4 zeigt ein Schema, das veranschaulicht, welche Informationseinheiten in die Vorrichtung 100 eingegeben werden können, um die erforderlichen Testinformationen abzuleiten.
Dies erfordert die Informationen bezüglich dessen, welches Testgerät oder welcher PC verwendet wird, welche Abbildungsregeln angewendet werden, welche und wie viele DUTs getestet werden und wie viele Seiten an dem Test beteiligt sind. Ferner sind Parameter, die eine Testprozedur angeben, Eingabeparameter der Vorrichtung 100. Als Ausgabeparameter werden die Testzeit t_test und/oder die Testkosten Kosten_test ausgegeben.
Im Folgenden wird unter Bezugnahme auf 5 ein weiteres Schema veranschaulicht, das einen Logiktest zeigt, der auf einen ersten Anschlussstift 1 und auf einen zweiten Anschlussstift 2 eines DUT angewendet wird. Die Testzeit 321 ist entlang einer entsprechenden Achse aufgetragen. Zu Beginn eines Tests muss eine Aufwärmzeit 400 berücksichtigt werden, gefolgt von der Durchführung der tatsächlichen Testsequenz, das heißt von dem Anlegen der logischen Werte „0" und „1" an die verschiedenen Anschlussstifte. Am Ende muss ein weiterer Zusatzaufwand 402 berücksichtigt werden, der zum Empfangen der Antwortsignale und zum Bereitstellen des Testergebnisses an einem Ausgang der Testeinheit benötigt wird. Diese Beiträge definieren die gesamte Testzeit.
Man sollte beachten, dass der Begriff „aufweisen" andere Elemente oder Merkmale nicht ausschließt, und dass das „ein", „einer" oder „eine" eine Mehrzahl nicht ausschließt. Auch können Elemente, die in Verbindung mit verschiedenen Ausführungsbeispielen beschrieben sind, kombiniert werden. Ferner sollte man beachten, dass Bezugszeichen in den Patentansprüchen nicht als Einschränkung des Schutzumfangs der Patentansprüche ausgelegt werden sollen.
ZUSAMMENFASSUNG
Eine Vorrichtung (100) zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts (204), der durch ein Testgerät (200) durchgeführt werden soll, wobei die Vorrichtung (100) eine Eingabeeinheit (101), die dahin gehend angepasst ist, Testinformationen zu empfangen, die den durchzuführenden Test angeben, und eine Verarbeitungseinheit (102) aufweist, die dahin gehend angepasst ist, die Dauer des Tests des Testobjekts (204), der durch das Testgerät (200) durchgeführt wird, auf der Basis der empfangenen Testinformationen und auf der Basis eines den Test charakterisierenden Modells zu schätzen.

Claims

Eine Vorrichtung (100) zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts (204), der durch ein Testgerät (200) durchgeführt werden soll, wobei die Vorrichtung (100) eine Eingabeeinheit (101), die dahin gehend angepasst ist, Testinformationen, die den durchzuführenden Test angeben, zu empfangen; eine Verarbeitungseinheit (102), die dahin gehend angepasst ist, die Dauer des Tests des Testobjekts (204), der durch das Testgerät (200) durchgeführt wird, auf der Basis der empfangenen Testinformationen und auf der Basis eines den Test charakterisierenden Modells zu schätzen, aufweist.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1, bei der die Testinformationen zumindest ein Element der Gruppe umfassen, die aus Informationen, die das Testobjekt (204) angeben, Informationen, die das Testgerät (200) angeben, und Informationen, die eine Testroutine angeben, die während des Tests seitens des Testgeräts (200) auf das Testobjekt (204) angewendet werden soll, besteht.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche, bei der die Eingabeeinheit (101) dahin gehend angepasst ist, das den Test charakterisierende Modell zu empfangen.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche, die eine Datenbank (103) aufweist, in der das den Test charakterisierende Modell vorab gespeichert ist.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche, bei der das den Test charakterisierende Modell zumindest ein Element der Gruppe ist, die aus einem theoretischen Modell des Tests, einem mathematischen Modell des Tests, einem den Test parametrisierenden Modell und einem den Test strukturierenden Modell besteht.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche, bei der das den Test charakterisierende Modell zumindest ein Element der Gruppe umfasst, die aus einer Formel zum Berechnen der Dauer des Tests auf der Basis von empfangenen Testinformationen, empirischen Daten, die aus zuvor durchgeführten Tests erhalten wurden, und experimentellen Daten, die während zuvor durchgeführter Tests gemessen wurden, besteht.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche, bei der das den Test charakterisierende Modell zumindest ein Element der Gruppe berücksichtigt, die aus einer Aufwärmzeit des Testgeräts (200) vor Beginn des Tests, einer Testergebnisübertragungszeit des Testgeräts (200) nach Beendigung des Tests, einer Taktrate, mit der der Test durchführbar ist, einer Anzahl von Testschnittstellen des Testobjekts (204), einer Anzahl von Teilregionen des Testobjekts (204), einer Anzahl von Verbindungsanschlussstiften des Testobjekts (204), einer Anzahl von Testobjekten (204), einer Schaltzeit zum Umschalten zwischen verschiedenen Testschritten während des Durchführens des Tests, einer Verzögerungszeit, die sich aus einem zumindest teilweise sequentiellen Test ergibt, besteht.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche, bei der das Testobjekt (204) zumindest ein Element der Gruppe umfasst, die aus einem Speichergerät, einem DRAM-Speichergerät, einer Logikschaltung, einer elektrischen Schaltung, einer integrierten Schaltung, einem Prozessor, einem System-auf-einem-Chip und einer Hybridschaltung besteht.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche, bei der die Verarbeitungseinheit (102) dahin gehend angepasst ist, Kosten des Durchführens des Tests auf der Basis der geschätzten Dauer des Tests und auf der Basis von vorbestimmten Kosten pro Zeitdaten auszuwerten.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche, die dahin gehend angepasst ist, eine Dauer eines Tests einer Mehrzahl von Testobjekten (204), die durch das Testgerät (200) durchgeführt werden sollen, zu schätzen.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche, die eine Ausgabeeinheit (105) aufweist, die dahin gehend angepasst ist, die geschätzte Dauer des Tests auszugeben.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche, die eine Vorschlagseinheit (105) aufweist, die dahin gehend angepasst ist, eine Modifikation des Tests vorzuschlagen, um die Dauer des Tests zu verringern oder zu minimieren.
Die Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 12, bei der die Vorschlagseinheit (105) dahin gehend angepasst ist, die Modifikation auf der Basis von Expertenregeln oder auf der Basis eines Ergebnisses einer Computeranpassung vorzuschlagen.
Ein Testgerät (200) mit einer Testeinheit (201, 202) zum physischen Durchführen eines Tests eines Testobjekts (204); einer Vorrichtung (100) gemäß Anspruch 1 oder einem der obigen Ansprüche zum Schätzen einer erwarteten Dauer des Tests des Testobjekts (204), der durch die Testeinheit (201, 202) durchgeführt werden soll.
Ein Verfahren zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts (204), der durch ein Testgerät (200) durchgeführt wird, wobei das Verfahren ein Empfangen von Testinformationen, die den durchzuführenden Test angeben; ein Schätzen der Dauer des Tests des Testobjekts (204), der durch das Testgerät (200) durchgeführt wird, auf der Basis der empfangenen Testinformationen und auf der Basis eines den Test charakterisierenden Modells, umfasst.
Das Verfahren gemäß Anspruch 15, das ein Empfangen der Testinformationen über ein Kommunikationsnetzwerk, insbesondere über das Internet, umfasst.
Das Verfahren gemäß Anspruch 15 oder einem der obigen Ansprüche, das ein Senden der geschätzten Dauer des Tests über ein Kommunikationsnetzwerk, insbesondere über das Internet, umfasst.
Ein computerlesbares Medium, in dem ein Computerprogramm zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts (204), der durch ein Testgerät (200) durchgeführt werden soll, gespeichert ist, wobei das Computerprogramm, wenn es durch einen Prozessor (102) ausgeführt wird, dahin gehend angepasst ist, das Verfahren zum Empfangen von Testinformationen, die den durchzuführenden Test angeben; Schätzen der Dauer des Tests des Testobjekts (204), der durch das Testgerät (200) durchgeführt wird, auf der Basis der empfangenen Testinformationen und auf der Basis eines den Test charakterisierenden Modells zu steuern oder durchzuführen.
Ein Programmelement zum Schätzen einer Dauer eines Tests eines Testobjekts (204), der durch ein Testgerät (200) durchgeführt werden soll, wobei das Programmelement, wenn es durch einen Prozessor (102) ausgeführt wird, dahin gehend angepasst ist, das Verfahren des Empfangen von Testinformationen, die den durchzuführenden Test angeben; Schätzen der Dauer des Tests des Testobjekts (204), der durch das Testgerät (200) durchgeführt wird, auf der Basis der empfangenen Testinformationen und auf der Basis eines den Test charakterisierenden Modells zu steuern oder durchzuführen.