DE102015104450A1 - Packages mit Fähigkeit zum Verhindern von Rissen in Metallleitungen - Google Patents
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- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/16227—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation the bump connector connecting to a bond pad of the item
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Abstract
Ein Package enthält eine Ecke, einen Bauelementchip, mehrere Umverteilungsleitungen unter dem Bauelementchip und mehrere metallische Kontaktinseln, die elektrisch mit den mehreren Umverteilungsleitungen gekoppelt sind. Die mehreren metallischen Kontaktinseln enthalten eine metallische Eck-Kontaktinsel, die der Ecke am nächsten liegt, wobei die metallische Eck-Kontaktinsel eine zur Mitte weisende Kontaktinsel mit einer Vogelschnabelrichtung ist, die im Wesentlichen zu einer Mitte des Package weist. Die mehreren metallischen Kontaktinseln enthalten des Weiteren eine metallische Kontaktinsel, die von der Ecke weiter entfernt liegt als die metallische Eck-Kontaktinsel, wobei die metallische Kontaktinsel eine nicht zur Mitte weisende Kontaktinsel mit einer Vogelschnabelrichtung, die von der Mitte des Package fort weist.
Description
- HINTERGRUND
- Bei der Verpackung von integrierten Schaltkreisen gibt es verschiedene Arten von Verpackungsverfahren und -strukturen. Zum Beispiel wird in einem herkömmlichen Package-on-Package(POP)-Prozess ein oberes Package auf ein unteres Package gebondet. In dem oberen Package und dem unteren Package können außerdem Bauelementchips verpackt sein. Mit Hilfe des PoP-Prozesses wird der Integrationsgrad der Packages vergrößert.
- In einem existierenden PoP-Prozess wird zuerst das untere Package ausgebildet, das einen Bauelementchip enthält, der auf ein Packagesubstrat gebondet ist. Das Packagesubstrat wird mit einer Vergussmasse vergossen, wobei der Bauelementchip in der Vergussmasse vergossen wird. Auf dem Packagesubstrat sind des Weiteren Lötperlen ausgebildet, wobei sich die Lötperlen und der Bauelementchip auf derselben Seite des Packagesubstrats befinden. Die Lötperlen werden zum Verbinden des oberen Package mit dem unteren Package verwendet.
- KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
- Aspekte der vorliegenden Offenbarung werden am besten anhand der folgenden detaillierten Beschreibung verstanden, wenn sie in Verbindung mit den beiliegenden Figuren gelesen wird. Es wird darauf hingewiesen, dass gemäß der gängigen Praxis in der Industrie verschiedene Strukturelemente nicht maßstabsgetreu gezeichnet sind. Die Abmessungen veranschaulichter Strukturelemente können im Interesse der Übersichtlichkeit der Besprechung nach Bedarf vergrößert oder verkleinert werden.
-
1 veranschaulicht eine Querschnittsansicht eines Package gemäß einigen Ausführungsformen; -
2 veranschaulicht eine Unteransicht einer Umverteilungsschicht(Redistribution Layer, RDL)-Kontaktinsel gemäß einigen Ausführungsformen, wobei die RDL-Kontaktinsel eine Hauptkontaktinselregion und eine Vogelschnabelregion, die mit der Hauptkontaktinselregion verbunden ist, enthält; -
3 und4 veranschaulichen Unteransichten von Packages und RDL-Kontaktinseln gemäß einigen Ausführungsformen, wobei zur Mitte weisende Kontaktinseln und nach dem Zufallsprinzip ausgerichtete RDL-Kontaktinseln in Abhängigkeit von ihren Entfernungen zu Neutralspannungspunkten der Packages verteilt sind; -
5 veranschaulicht eine Unteransicht von einigen nach dem Zufallsprinzip ausgerichteten RDL-Kontaktinseln gemäß einigen Ausführungsformen; -
6 veranschaulicht eine Unteransicht eines Package und von RDL-Kontaktinseln gemäß einigen Ausführungsformen, wobei zur Mitte weisende Kontaktinseln in rechteckigen Eckregionen des Package ausgebildet sind; -
7 und8 veranschaulichen die Unteransichten von Packages und RDL-Kontaktinseln gemäß einigen Ausführungsformen, wobei die Eck-RDL-Kontaktinseln neben den Ecken von Bauelementchips Vogelschnabelrichtungen haben, die zu den Mitten der jeweiligen Bauelementchips weisen; und -
9A bis9J veranschaulichen Unteransichten von einigen beispielhaften Eck-RDL-Kontaktinseln mit Bezug auf die Ecken von Bauelementchips. - DETAILLIERTE BESCHREIBUNG
- Die folgende Offenbarung stellt viele verschiedene Ausführungsformen oder Beispiele zum Implementieren verschiedener Merkmale der Erfindung bereit. Im Folgenden werden konkrete Beispiele von Komponenten und Anordnungen beschrieben, um die vorliegende Offenbarung zu vereinfachen. Diese sind natürlich nur Beispiele und dienen nicht der Einschränkung. Zum Beispiel kann die Ausbildung eines ersten Strukturelements über oder auf einem zweiten Strukturelement in der folgenden Beschreibung Ausführungsformen enthalten, bei denen die ersten und die zweiten Strukturelemente in direktem Kontakt ausgebildet sind, und können auch Ausführungsformen enthalten, bei denen zusätzliche Strukturelemente zwischen den ersten und zweiten Strukturelementen ausgebildet sein können, so dass die ersten und die zweiten Strukturelemente nicht unbedingt in direktem Kontakt stehen. Darüber hinaus kann die vorliegende Offenbarung Bezugszahlen und/oder -buchstaben in den verschiedenen Beispielen wiederholen. Diese Wiederholung dient dem Zweck der Einfachheit und Klarheit und schafft nicht automatisch eine Beziehung zwischen den verschiedenen besprochenen Ausführungsformen und/oder Konfigurationen.
- Des Weiteren können räumlich relative Begriffe, wie zum Beispiel „unterhalb”, „unter”, „unterer”, „oberhalb”, „oberer” und dergleichen, im vorliegenden Text verwendet werden, um die Beschreibung zu vereinfachen, um die Beziehung eines Elements oder Strukturelements zu einem oder mehreren anderen Elementen oder Strukturelementen zu beschreiben, wie in den Figuren veranschaulicht. Die räumlich relativen Begriffe sollen neben der in den Figuren gezeigten Ausrichtung noch weitere Ausrichtungen der Vorrichtung während des Gebrauchs oder Betriebes umfassen. Die Vorrichtung kann auch anders ausgerichtet (90 Grad gedreht oder anders ausgerichtet) sein, und die im vorliegenden Text verwendeten räumlich relativen Deskriptoren können gleichermaßen entsprechend interpretiert werden.
- Ein Package und das Verfahren zum Ausbilden des Package werden gemäß verschiedenen beispielhaften Ausführungsformen bereitstellt. Die Variationen der Ausführungsformen werden besprochen. In all den verschiedenen Ansichten und veranschaulichenden Ausführungsformen werden gleiche Bezugszahlen zum Bezeichnen gleicher Elemente verwendet.
-
1 veranschaulicht eine Querschnittsansicht des Package20 gemäß einigen Ausführungsformen. Package20 enthält Package100 und Package200 über dem Package100 und an dieses gebondet. In einigen Ausführungsformen enthält Package100 Bauelementchips102 , wobei die Vorderseiten der Bauelementchips102 nach unten weisen und an Umverteilungsschichten (RDLs)132 /134 /136 gebondet sind. In der gesamten Beschreibung bezieht sich der Begriff „RDL” auch auf die Umverteilungsleitungen in den Umverteilungsschichten. In alternativen Ausführungsformen enthält Package100 einen einzelnen Bauelementchip oder mehr als zwei Bauelementchips. Der Bauelementchip102 kann ein Halbleitersubstrat108 und Integrierte-Schaltkreis-Bauelemente104 (wie zum Beispiel aktive Bauelemente, die zum Beispiel Transistoren enthalten) an der Vorderseite (der nach unten weisenden Fläche) des Halbleitersubstrats108 enthalten. Der Bauelementchip102 kann einen Logikchip enthalten, wie zum Beispiel einen Zentrale-Verarbeitungseinheit(CPU)-Chip, einen Grafikverarbeitungseinheit(GPU)-Chip, einen Mobilanwendungs-Chip oder dergleichen. - Die Bauelementchips
102 sind in Vergussmaterial120 vergossen, das jeden der Bauelementchips102 umgibt. Das Vergussmaterial120 kann eine Vergussmasse, eine Vergussunterfüllung, ein Harz oder dergleichen sein. Die Bodenfläche120A des Vergussmaterials120 kann bündig mit den unteren Enden der Bauelementchips102 abschließen. Die Oberseite120B des Vergussmaterials120 kann bündig mit der Rückseite108A des Halbleitersubstrats108 abschließen oder höher als diese sein. In einigen Ausführungsformen wird die Rückseite108A des Halbleitersubstrats108 durch einen Chipbefestigungsfilm110 überlappt, der ein dielektrischer Film ist, der den Bauelementchip102 an der darüberliegenden dielektrischen Schicht118 anhaftet. Der Bauelementchip102 enthält des Weiteren metallische Pföstchen/Kontaktinseln106 (die beispielsweise Kupferpföstchen enthalten können), die in Kontakt mit RDLs132 stehen und an diese gebondet sind. - Das Package
100 kann unterseitige RDLs132 /134 /136 enthalten, die unter den Bauelementchips102 liegen, und kann oberseitige RDLs116 enthalten, die über den Bauelementchips102 liegen. Die unterseitigen RDLs132 /134 /136 werden in dielektrischen Schichten114 ausgebildet, und die oberseitigen RDLs116 werden in dielektrischen Schichten118 ausgebildet. Die RDLs132 /134 /136 und116 können aus Kupfer, Aluminium, Nickel, Titan, Legierungen davon oder Mehrschichten davon ausgebildet werden. In einigen Ausführungsformen werden die dielektrischen Schichten114 und118 aus organischem Material gebildet, wie zum Beispiel Polymeren, die des Weiteren Polybenzoxazol (PBO), Benzocyclobuten (BCB), Polyimid oder dergleichen enthalten können. In alternativen Ausführungsformen werden die dielektrischen Schichten114 und118 aus anorganischem Material gebildet, wie zum Beispiel Siliziumoxid, Siliziumnitrid, Siliziumoxynitrid oder dergleichen. - Durchkontakte
122 werden ausgebildet, die das Vergussmaterial120 durchdringen. In einigen Ausführungsformen haben die Durchkontakte122 Oberseiten, die bündig mit der Oberseite120B des Vergussmaterials120 abschließen, und Bodenflächen, die bündig mit der Bodenfläche120A des Vergussmaterials120 abschließen. Die Durchkontakte122 koppeln die unterseitigen RDLs132 /134 /136 elektrisch mit den oberseitigen RDLs116 . Die Durchkontakte122 können außerdem in physischem Kontakt mit den unterseitigen RDLs132 und den oberseitigen RDLs116 stehen. - Elektrische Verbinder
124 , die aus einem oder mehreren Nichtlötmetallmaterialien bestehen, werden an der Bodenfläche des Package100 ausgebildet. In einigen Ausführungsformen enthalten die elektrischen Verbinder124 Lötmetallisierungen (Under-Bump Metallurgies, UBMs), die ebenfalls metallische Kontaktinseln sind. In alternativen Ausführungsformen sind die elektrischen Verbinder124 metallische Kontaktinseln, metallische Pföstchen oder dergleichen. Die metallischen Kontaktinseln124 können Kupfer, Aluminium, Titan, Nickel, Palladium, Gold oder Mehrschichten davon enthalten. In einigen Ausführungsformen erstrecken sich die Bodenflächen der metallischen Kontaktinseln124 unter der Bodenfläche der unteren dielektrischen Schicht114 , wie in1 gezeigt. Lötregionen126 können an den Bodenflächen der metallischen Kontaktinseln124 angebracht werden. - In einigen Ausführungsformen enthalten die RDLs
132 /134 /136 Abschnitte (einschließlich132 und134 ) in mehreren Metallschichten und Durchkontakte136 , die die RDLs in verschiedenen Metallschichten miteinander verbinden. Zum Beispiel veranschaulicht1 RDLs132 , die den Durchkontakten122 am nächsten liegen. Die Bodenflächen der Durchkontakte122 stehen mit einigen der RDLs132 in Kontakt. Des Weiteren stehen metallische Pföstchen106 des Bauelementchips102 mit einigen der RDLs132 in Kontakt. Elektrische Verbinder124 sind elektrisch mit RDLs134 gekoppelt und können mit diesen in physischem Kontakt stehen. Folglich können sich RDLs134 in der Metallschicht befinden, die den elektrischen Verbindern124 am nächsten liegt. Durchkontakte136 sind zwischen RDLs132 und RDLs134 angeordnet und verbinden diese elektrisch miteinander. -
2 veranschaulicht eine Unteransicht einer der RDLs134 . Die veranschaulichte RDL134 enthält eine Hauptkontaktinselregion138 , eine metallische Leiterbahn142 und eine Vogelschnabelregion140 , die die Hauptkontaktinselregion138 mit der metallischen Leiterbahn142 verbindet. Gemäß einigen Ausführungsformen hat die Hauptkontaktinselregion138 in der Unteransicht eine runde Form. In alternativen Ausführungsformen kann die Hauptkontaktinselregion138 auch andere zweckmäßige Formen haben, wie zum Beispiel Rechtecke, Sechsecke, Achtecke und dergleichen. Die Vogelschnabelregion140 ist die Region, die Breiten aufweist, die allmählich und/oder kontinuierlich von der Breite der Hauptkontaktinselregion138 zu der Breite der metallischen Leiterbahn142 übergehen. Die metallische Leiterbahn142 ist an einem Ende mit einem der Durchkontakte136 verbunden, der zu den RDLs132 führt (1 ). - Der Pfeil
144 ist gezeichnet, um die Richtung zu zeigen, die von der Mitte der Hauptkontaktinselregion138 zur Mitte (3 ,4 und6 –8 ) der Vogelschnabelregion140 weist. Die Richtung144 kann außerdem von der Mitte der Hauptkontaktinselregion138 zum Verbindungspunkt zwischen der Vogelschnabelregion140 und der metallischen Leiterbahn142 weisen. Die Hauptkontaktinselregion138 und die Vogelschnabelregion140 bilden in Kombination eine RDL-Kontaktinsel146 zum Stützen des elektrischen Verbinders124 und zum Verbinden mit dem elektrischen Verbinder124 (1 ). In der gesamten Beschreibung wird die Richtung144 als die Vogelschnabelrichtung der jeweiligen RDL-Kontaktinsel146 und die Vogelschnabelrichtung der jeweiligen RDL134 bezeichnet. -
3 veranschaulicht eine beispielhafte Unteransicht des unteren Package100 , wo RDL-Kontaktinseln146 (und einige der RDL-Leiterbahnen) veranschaulicht sind. Die RDLs134 enthalten zur Mitte weisende Kontaktinseln (im Folgenden mitunter als zur Mitte weisende metallische Kontaktinseln bezeichnet)146A und nach dem Zufallsprinzip ausgerichtete Kontaktinseln146B . In den3 durch9J werden Kreise verwendet, um nach dem Zufallsprinzip ausgerichtete RDL-Kontaktinseln146B schematisch darzustellen. Zur Mitte weisende Kontaktinseln146A sind hingegen mit größerer Detailliertheit veranschaulicht, um ihre Vogelschnabelrichtungen anzuzeigen. Zum Beispiel sind die Hauptkontaktinselregion, die Vogelschnabelregion und die jeweilige Vogelschnabelrichtung von zur Mitte weisenden Kontaktinseln146A schematisch veranschaulicht. -
5 veranschaulicht die Unteransichten (oder Draufsichten) beispielhafter nach dem Zufallsprinzip ausgerichteter RDL-Kontaktinseln146B mit größerer Detailliertheit, wobei die nach dem Zufallsprinzip ausgerichteten RDL-Kontaktinseln146B in den3 ,4 und6 bis9J gezeigt sind.5 veranschaulicht schematisch eine innere Region153 (siehe auch3 und4 ) des Package100 und die nach dem Zufallsprinzip ausgerichteten RDL-Kontaktinseln146B darin. Wie in5 gezeigt, können nach dem Zufallsprinzip ausgerichtete RDL-Kontaktinseln146B ähnliche Formen haben wie die zur Mitte weisenden Kontaktinseln146A . Zum Beispiel können nach dem Zufallsprinzip ausgerichtete RDL-Kontaktinseln146B außerdem Hauptkontaktinselregionen und Vogelschnabelregionen, die mit den jeweiligen Hauptkontaktinselregionen verbunden sind, enthalten. Es gibt auch metallische Leiterbahnen, die mit den Vogelschnabelregionen verbunden sind, wobei die metallischen Leiterbahnen des Weiteren mit Durchkontakten136 verbunden sind. - Wie in
5 gezeigt, sind die Vogelschnabelrichtungen von nach dem Zufallsprinzip ausgerichteten RDL-Kontaktinseln146B nach dem Zufallsprinzip angeordnet und können in alle beliebigen Richtungen weisen. Darum kann jede der Vogelschnabelrichtungen von nach dem Zufallsprinzip ausgerichteten Kontaktinseln146B in jede beliebige Richtung weisen, einschließlich zur Mitte weisend und nicht zur Mitte weisend. Zum Beispiel weisen die Vogelschnabelrichtungen von nach dem Zufallsprinzip ausgerichteten RDL-Kontaktinseln146B nicht unbedingt zur Mitte des Package100 (1 und3 ) und weisen nicht unbedingt zur Mitte eines Bauelementchips in dem Package100 . Des Weiteren benachbarte nach dem Zufallsprinzip ausgerichtete RDL-Kontaktinseln146B verschiedene Vogelschnabelrichtungen haben. - Wir kehren zu
3 zurück. Das untere Package100 enthält vier Ecken148 . Die Eck-RDL-Kontaktinseln146 , die näher an den jeweiligen Ecken148 liegen als alle anderen metallischen Kontaktinseln, sind zur Mitte weisende Kontaktinseln146A , deren Vogelschnabelrichtungen zur Mitte150 des Package100 zeigen (oder im Wesentlichen darauf zeigen). Weitere RDL-Kontaktinseln146 , die weiter von den jeweiligen Ecken148 entfernt liegen als die Eck-RDL-Kontaktinseln146A , sind nach dem Zufallsprinzip ausgerichtete RDL-Kontaktinseln146B . In einigen Ausführungsformen kann mehr als eine zur Mitte weisende Kontaktinsel146A an jeder Ecke148 vorhanden sein. Zum Beispiel veranschaulicht4 drei zur Mitte weisende Kontaktinseln146A an jeder Ecke148 . -
4 veranschaulicht außerdem die Unteransicht des unteren Package100 und RDL-Kontaktinseln146 gemäß alternativen Ausführungsformen. In der Unteransicht hat das untere Package100 einen Neutralspannungspunkt150 , was der Punkt ist, der im Wesentlichen frei von mechanischen Spannungen aus allen seitlichen Richtungen ist, die parallel zur Bodenfläche des Package100 verlaufen. Am Neutralspannungspunkt150 heben sich die seitlichen Spannungen aus entgegengesetzten Richtungen gegenseitig auf. In einigen Ausführungsformen liegt der Neutralspannungspunkt150 in der oder nahe der Mitte (ebenfalls als150 markiert) des unteren Package100 (in der Unteransicht). Die Entfernung jeder RDL-Kontaktinsel146 zum Neutralspannungspunkt150 wird als Entfernung zum Neutralpunkt (Distance to Neutral Point, DNP) bezeichnet, wobei die Entfernung zu den RDL-Kontaktinseln146 von einem Punkt der RDL-Kontaktinsel146 gemessen werden kann, der von dem Neutralspannungspunkt150 am weitesten entfernt liegt. Zum Beispiel sind DNPs DNP1 und DNP2 als Beispiele in4 veranschaulicht. - Wir wenden uns den
3 und4 zu. Ein Kreis152 ist mit dem Neutralspannungspunkt150 als Mittelpunkt gezeichnet, wobei der Kreis152 einen Radius r hat. Gemäß den Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung können alle RDL-Kontaktinseln146 , deren DNPs gleich oder kleiner als Radius r sind, als nach dem Zufallsprinzip ausgerichtete RDL-Kontaktinseln146B ausgelegt sein, und alle RDL-Kontaktinseln146 , deren DNPs größer als der Radius r sind, sind als zur Mitte weisende Kontaktinseln146A ausgelegt. Einige oder alle RDL-Kontaktinseln146 , deren DNPs gleich oder kleiner als Radius r sind, können ebenfalls als zur Mitte weisende Kontaktinseln146A ausgelegt sein. Wie in3 veranschaulicht, brauchen die zur Mitte weisenden Kontaktinseln146A , wenn der Radius r groß ist, nur eine einzige Eck-RDL-Kontaktinsel146 an jeder Ecke148 zu enthalten. In4 ist der Radius r reduziert, und mehr Eck-RDL-Kontaktinseln146 sind als zur Mitte weisende Kontaktinseln146A ausgelegt, während die RDL-Kontaktinseln146 , deren DNPs gleich oder kleiner als Radius r sind, nach dem Zufallsprinzip ausgerichtet sind und nicht unbedingt zur Mitte150 weisen. Der optimale Radius r des Kreises152 kann durch Simulation oder Experiment (durch Ausbilden physischer Chips) bestimmt werden, so dass die Zuverlässigkeit der RDLs146 im Inneren des Kreises152 die Designspezifikation erfüllt. - In
4 können die Vogelschnabelrichtungen der zur Mitte weisenden Kontaktinseln146A in derselben Ecke parallel zueinander verlaufen. Das bedeutet, dass die Vogelschnabelrichtungen einiger der zur Mitte weisenden Kontaktinseln146A (als146A' markiert) tatsächlich geringfügig von der Mitte150 versetzt sind. In alternativen Ausführungsformen können alle zur Mitte weisenden Kontaktinseln146A in derselben Ecke148 Vogelschnabelrichtungen haben, die direkt zur Mitte150 des Package100 weisen. Das heißt, dass ihre Vogelschnabelrichtungen im Wesentlichen, aber nicht exakt, parallel zueinander verlaufen. -
6 veranschaulicht das Design von RDL-Kontaktinseln146 gemäß weiteren alternativen Ausführungsformen. In diesen Ausführungsformen sind vier Eck-Regionen154 des unteren Package100 definiert, die sich jeweils von einer der Ecken148 einwärts erstrecken. Die vier Eck-Regionen154 können rechteckige Formen haben und können jeweils die gleichen Größen haben. Die RDL-Kontaktinseln146 im Inneren der Eck-Regionen154 sind als zur Mitte weisende Kontaktinseln146A ausgelegt. Die RDLs außerhalb der Eck-Regionen154 können als nach dem Zufallsprinzip ausgerichtete RDL-Kontaktinseln146B ausgelegt sein oder können als zur Mitte weisende Kontaktinseln146A ausgelegt sein. - In einigen Ausführungsformen, wie in
6 , ist der Kreis152 ebenfalls gemäß Simulation oder experimentellen Ergebnissen gezeichnet. Der Radius von Kreis152 kann klein sein, und folglich liegen einige der RDL-Kontaktinseln146 , die außerhalb der Eck-Regionen154 liegen, ebenfalls außerhalb des Kreises152 . Dementsprechend sind, wie in6 gezeigt, einige der RDL-Kontaktinseln146 (als146'' markiert), die außerhalb des Kreises152 liegen, auch zur Mitte weisende Kontaktinseln146A , während die RDL-Kontaktinseln146 , die außerhalb der Eck-Regionen154 , aber im Inneren von Kreis152 liegen, nach dem Zufallsprinzip ausgerichtete RDL-Kontaktinseln146B sind. - Die
7 und8 veranschaulichen die Unteransichten des Package100 in den Ausführungsformen, in denen die RDL-Kontaktinseln146 neben den Ecken des oder der Bauelementchips102 (1 ) ebenfalls als zur Mitte weisende Kontaktinseln146A ausgelegt sind. Diese Ausführungsformen können mit den Ausführungsformen in den3 ,4 und6 kombiniert werden, so dass die zur Mitte weisenden Kontaktinseln146A , wie in den3 ,4 und6 gezeigt, ebenfalls als zur Mitte weisende Kontaktinseln146A , zusätzlich zu den RDL-Kontaktinseln146A neben den Ecken des oder der Bauelementchips102 , ausgelegt sein können. - Wir wenden uns
7 zu, wo ein Bauelementchip102 veranschaulicht ist. Der Bauelementchip102 enthält Ecken102A . An jeder der Ecken102A überlappt der Bauelementchip102 (siehe1 ) mindestens einen Abschnitt einer einzelnen RDL-Kontaktinsel146A . Die benachbarten RDL-Kontaktinseln146 neben den Ecken102A sind als zur Mitte weisende Kontaktinseln146A ausgelegt, wobei die benachbarten RDL-Kontaktinseln146 im Folgenden als Eck-RDL-Kontaktinseln146 bezeichnet werden. Die Eck-RDL-Kontaktinseln146 des Bauelementchips102 haben keine Vogelschnabelrichtungen, die zur Mitte150 des Package100 weiden, sondern haben stattdessen Vogelschnabelrichtungen, die zur Mitte156 des Bauelementchips102 zeigen. Die Eck-RDL-Kontaktinseln146 , die zur Mitte weisende Kontaktinseln sind, können vollständig von nach dem Zufallsprinzip ausgerichteten RDL-Kontaktinseln umgeben sein. Gleichermaßen können die Vogelschnabelrichtungen der Eck-RDL-Kontaktinseln146A nahe derselben Ecke des Bauelementchips102 parallel zueinander verlaufen, obgleich die Vogelschnabelrichtungen auch exakt zur Mitte156 weisen können und folglich im Wesentlichen, aber nicht exakt, parallel zueinander verlaufen. Folglich kann in der gesamten Beschreibung, wenn eine RDL-Kontaktinsel146 als „zur Mitte weisend” bezeichnet wird, die Vogelschnabelrichtung der RDL-Kontaktinsel146 zur Mitte des jeweiligen Package oder zur Mitte eines Bauelementchips weisen, je nachdem, wo sich die RDL-Kontaktinsel befindet. -
8 veranschaulicht die Unteransicht des Package100 gemäß alternativen Ausführungsformen. Diese Ausführungsformen ähneln den Ausführungsformen in7 , außer dass es zwei Bauelementchips102 gibt, die in dem unteren Package100 angeordnet sind. Die Eck-RDL-Kontaktinseln146 , die neben den Ecken eines jeden der Bauelementchips102 liegen, sind als zur Mitte weisende Kontaktinseln146A ausgelegt. Bei jedem der Bauelementchips102 weisen die Vogelschnabelrichtungen der jeweiligen Eck-RLD-Kontaktinseln146A zur Mitte156 des jeweiligen Bauelementchips102 . - Die
9A bis9J sind die beispielhaften Ausführungsformen zum Definieren, was die Eck-RDL-Kontaktinseln der Bauelementchips sind. In allen9A bis9J sind neun RDL-Kontaktinseln146 veranschaulicht und sind mit laufenden Nummern im Bereich von 0 bis 8 markiert, wobei die mit der laufenden Nummer 0 (im Folgenden als die 0. RDL-Kontaktinsel146 bezeichnet) die mittige der neun RDL-Kontaktinseln146 ist. Des Weiteren stellt in allen9A bis9J „dx” die Entfernung in der X-Richtung von der Mitte der 0. RDL-Kontaktinsel146 zum vertikalen Rand102B1 des Bauelementchips102 dar, und „dy” stellt die Entfernung in der Y-Richtung von der Mitte der 0. RLD-Kontaktinsel146 zum horizontalen Rand102B2 dar. Der Mittenabstand P1 stellt die Mittenabstände benachbarter RDL-Kontaktinseln146 dar, die zum Beispiel die Entfernungen zwischen den Mitten der Hauptkontaktinselregion138 (2 ) benachbarter RDL-Kontaktinseln146 sind. Des Weiteren stellt in anschließend genannten Gleichungen der Wert „a” den Durchmesser von RDL-Kontaktinseln146 dar, wie in2 gezeigt. In jeder der9A bis9J sind die RDL-Kontaktinseln146 in der rechteckigen Region158 (im Folgenden als Eck-Region bezeichnet) als Eck-RDLs definiert und sind als zur Mitte weisende Kontaktinseln ausgelegt. Folglich enthalten die zur Mitte weisenden Kontaktinseln die 0, die 1., die 2. und die 4. RDL-Kontaktinseln146 . Die 1, die 2. und die 4. RDL-Kontaktinseln146 sind die Kontaktinseln, die nicht durch den Bauelementchip102 überlappt werden und die der Ecke102A am nächsten liegen. Die übrigen RDL-Kontaktinseln146 können nach dem Zufallsprinzip ausgerichtete RDL-Kontaktinseln sein, die die 3., die 5., die 6., die 7. und die 8. RDL-Kontaktinseln146 enthalten können. - Die
9A ,9B und9C veranschaulichen die Ausführungsformen, wobei die 0. RDL-Kontaktinsel146 vollständig durch den Bauelementchip102 überlappt wird, und der Rest der Eck-RDL-Kontaktinseln146 wird nicht durch den Bauelementchip102 überlappt. Wenn zum Beispiel eine der RDL-Kontaktinseln146 beide der folgenden zwei Beziehungen erfüllt:a/2 ≤ dx ≤ (P1 – a/2) [Gleichung 1] a/2 ≤ dy ≤ (P1 – a/2) [Gleichung 2] 146 die 0. RDL, und die jeweilige Eckregion158 und die RDL-Kontaktinseln in der Eckregion158 können identifiziert werden, wie veranschaulicht. In9A wird bei der 0. RDL-Kontaktinsel146 kein Punkt durch die Ränder102B1 und102B2 überlappt. In9B ist bei der 0. RDL-Kontaktinsel146 ein Punkt auf den Rand102B1 ausgerichtet, und die 0. RDL-Kontaktinsel146 und der Bauelementchip102 haben keine Überlappung. In9C ist dx gleich (P1 – a/2), was bedeutet, dass die 4. RDL-Kontaktinsel146 einen Punkt hat, der auf den Rand102B1 und ausgerichtet ist, die 4. RDL-Kontaktinsel146 und der Bauelementchip102 haben keine Überlappung. - Die
9D ,9E und9F veranschaulichen die Ausführungsformen, wo die 0. RDL-Kontaktinsel146 teilweise durch den jeweiligen Bauelementchip102 überlappt wird. Des Weiteren überlappt die Ecke102A des Bauelementchips102 auch die 0. RDL-Kontaktinsel146 . Wenn zum Beispiel eine der RDL-Kontaktinseln146 beide der folgenden zwei Beziehungen erfüllt:dx < a/2 [Gleichung 3] dy < a/2 [Gleichung 4] 146 die 0. RDL, und die jeweilige Eckregion158 und die RDL-Kontaktinseln in der Eckregion158 können identifiziert werden. In den9D und9E werden die Mitten der 0. RDL-Kontaktinsel146 nicht durch die jeweiligen Bauelementchips102 überlappt. In9F wird die Mitte der 0. RDL-Kontaktinsel146 durch den Bauelementchip102 überlappt. - Die
9G durch9J veranschaulichen die Ausführungsformen, wo die 0. RDL-Kontaktinsel146 teilweise durch den Bauelementchip102 überlappt. Des Weiteren überlappt der Rand102B2 die 0. RDL-Kontaktinsel146 , während die Ecke102A des Bauelementchips102 nicht die 0. RDL-Kontaktinsel146 überlappt. Wenn zum Beispiel eine der RDL-Kontaktinseln146 beide der folgenden zwei Beziehungen erfüllt:a/2 ≤ dx ≤ (P1 – a/2) [Gleichung 5] dy < a/2 [Gleichung 6] 146 die 0. RDL-Kontaktinsel, und die jeweilige Eckregion158 und die RDL-Kontaktinseln in der Eck-Region158 können identifiziert werden. In den9G ,9H und91 werden die Mitten der jeweiligen 0. RDL-Kontaktinseln146 durch die jeweiligen Bauelementchips102 überlappt. Des Weiteren veranschaulichen die9G ,9H und91 die Ausführungsformen, in denen dx gleich, kleiner als und größer als (P1)/2 ist. In9J wird die Mitte der 0. RDL-Kontaktinsel146 nicht durch den Bauelementchip102 überlappt. - Die Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung haben verschiedene vorteilhafte Merkmale. Die RDL-Kontaktinseln, die nahe den Ecken des Package
100 und des Bauelementchips102 liegen, unterliegen hohen mechanischen Spannungen, und folglich ist es wahrscheinlicher, dass die RDL-Leiterbahnen dieser RDL-Kontaktinseln durch die mechanischen Spannungen zerbrechen. Experimentelle Ergebnisse und Simulationsergebnisse zeigen, dass die zur Mitte weisenden Kontaktinseln zuverlässiger sind und dass die mechanischen Spannungen, die auf die Leiterbahnen, die mit den zur Mitte weisenden Kontaktinseln verbunden sind, einwirken, geringer sind als die mechanischen Spannungen, die auf die nach dem Zufallsprinzip ausgerichteten RDL-Kontaktinseln einwirken. Indem man also die RDL-Kontaktinseln, auf die höhere mechanische Spannungen einwirken, als zur Mitte weisend auslegt, wird die Zuverlässigkeit des jeweiligen Package verbessert. Andererseits können die Vogelschnabelrichtungen von RDL-Kontaktinseln, auf die nur geringe mechanische Spannungen wirken, nach dem Zufallsprinzip ausgerichtet sein, um die Flexibilität der RDL-Verlegung zu erhöhen. - Gemäß einigen Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung enthält ein Package eine Ecke, einen Bauelementchip, mehrere Umverteilungsleitungen unter dem Bauelementchip und mehrere metallische Kontaktinseln, die mit den mehreren Umverteilungsleitungen elektrisch gekoppelt sind. Die mehreren metallischen Kontaktinseln enthalten eine metallische Eck-Kontaktinsel, wobei die metallische Eck-Kontaktinsel eine zur Mitte weisende Kontaktinsel ist, deren Vogelschnabelrichtung im Wesentlichen zu einer Mitte des Package weist. Die mehreren metallischen Kontaktinseln enthalten des Weiteren eine metallische Kontaktinsel, die weiter von der Ecke entfernt ist als die metallische Eck-Kontaktinsel, wobei die metallische Kontaktinsel eine nicht zur Mitte weisende Kontaktinsel ist, deren Vogelschnabelrichtung von der Mitte des Package fort weist.
- Gemäß alternativen Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung enthält ein Package mindestens eine erste dielektrische Schicht, mehrere erste Umverteilungsleitungen in der mindestens einen ersten dielektrischen Schicht, einen Bauelementchip über den – und in elektrischer Kopplung mit den – mehreren ersten Umverteilungsleitungen, ein Vergussmaterial, in dem der Bauelementchip vergossen ist, einen Durchkontakt, der das Vergussmaterial durchdringt, und mindestens eine zweite dielektrische Schicht über dem Bauelementchip. Mehrere zweite Umverteilungsleitungen befinden sich in der mindestens einen zweiten dielektrischen Schicht. Die mehreren zweiten Umverteilungsleitungen sind elektrisch mit den mehreren ersten Umverteilungsleitungen durch den Durchkontakt gekoppelt. Mehrere metallische Kontaktinseln liegen unter dem Bauelementchip und sind elektrisch mit den mehreren zweiten Umverteilungsleitungen gekoppelt. Die mehreren metallischen Kontaktinseln enthalten eine erste zur Mitte weisende metallische Kontaktinsel und eine nicht zur Mitte weisende metallische Kontaktinsel.
- Gemäß weiteren alternativen Ausführungsformen der vorliegenden Offenbarung enthält ein Package mehrere dielektrische Schichten, mehrere Umverteilungsleitungen in den mehreren dielektrischen Schichten, einen Bauelementchip über den – und in elektrischer Kopplung mit den – mehreren Umverteilungsleitungen, und mehrere metallische Kontaktinseln unter den – und in elektrischer Kopplung mit den – mehreren Umverteilungsleitungen. Die mehreren metallischen Kontaktinseln enthalten eine metallische Eck-Kontaktinsel, wobei die metallische Eck-Kontaktinsel eine erste Vogelschnabelrichtung hat, die zu einer ersten Mitte eines Package weist, das die mehreren metallischen Kontaktinseln und den Bauelementchip enthält. Die mehreren metallischen Kontaktinseln enthalten des Weiteren eine innere metallische Kontaktinsel neben einer Ecke des Bauelementchips, wobei die innere elektrische eine zweite Vogelschnabelrichtung hat, die zu einer zweiten Mitte des Bauelementchips weist. Die mehreren metallischen Kontaktinseln enthalten außerdem mehrere nicht zur Mitte weisende metallische Kontaktinseln, die die innere metallische Kontaktinsel umgeben.
- Das oben Dargelegte umreißt Merkmale verschiedener Ausführungsformen, damit der Fachmann die Aspekte der vorliegenden Offenbarung besser verstehen kann. Dem Fachmann leuchtet ein, dass er ohne Weiteres die vorliegende Offenbarung als eine Basis für das Entwerfen oder Modifizieren anderer Prozesse und Strukturen verwenden kann, um die gleichen Zwecke und/oder die gleichen Vorteile der Ausführungsformen zu erreichen, die im vorliegenden Text vorgestellt wurden. Der Fachmann erkennt ebenso, dass solche äquivalenten Konstruktionen nicht vom Wesen und Schutzumfang der vorliegenden Offenbarung abweichen und dass er verschiedene Änderungen, Ersetzungen und Modifizierungen daran vornehmen kann, ohne vom Wesen und Schutzumfang der vorliegenden Offenbarung abzuweichen.
Claims (20)
- Package, das Folgendes umfasst: ein erstes Package, das Folgendes umfasst: eine Ecke; einen Bauelementchip; mehrere Umverteilungsleitungen unter dem Bauelementchip; und mehrere metallische Kontaktinseln, die elektrisch mit den mehreren Umverteilungsleitungen gekoppelt sind, wobei die mehreren metallischen Kontaktinseln Folgendes umfassen: eine metallische Eck-Kontaktinsel, die der Ecke am nächsten liegt, wobei die metallische Eck-Kontaktinsel eine zur Mitte weisende Kontaktinsel ist, deren Vogelschnabelrichtung im Wesentlichen zu einer Mitte des ersten Package weist; und eine metallische Kontaktinsel, die von der Ecke weiter entfernt liegt als die metallische Eck-Kontaktinsel, wobei die metallische Kontaktinsel eine nicht zur Mitte weisende Kontaktinsel ist, deren Vogelschnabelrichtung von der Mitte des ersten Package fort weist.
- Package nach Anspruch 1, wobei sich in jeder der Ecken des ersten Package eine der mehreren metallischen Kontaktinseln befindet, die eine jeweilige Vogelschnabelrichtung hat, die im Wesentlichen zur Mitte des ersten Package weist.
- Package nach Anspruch 1 oder 2, wobei die mehreren metallischen Kontaktinseln eine innere metallische Kontaktinsel neben einer Ecke des Bauelementchips enthalten, wobei eine Vogelschnabelrichtung der inneren metallischen Kontaktinsel zu einer Mitte des Bauelementchips weist, und wobei die mehreren metallischen Kontaktinseln des Weiteren mehrere nicht zur Mitte weisende metallische Kontaktinseln enthalten, die die innere metallische Kontaktinsel umgeben.
- Package nach einem der vorangehenden Ansprüche, das des Weiteren Folgendes umfasst: Lötmetallisierungen (Under-Bump Metallurgies, UBMs) in physischem Kontakt mit den mehreren metallischen Kontaktinseln.
- Package nach einem der vorangehenden Ansprüche, wobei die Mitte des ersten Package ein Neutralspannungspunkt ist, wobei alle metallischen Kontaktinseln, die sich in den mehreren metallischen Kontaktinseln befinden und deren Entfernungen zum Neutralpunkt (Distances to Neutral Point, DNPs) größer als ein Radius sind, jeweilige Vogelschnabelrichtungen haben, die dem Neutralspannungspunkt zugewandt sind.
- Package nach Anspruch 5, wobei mindestens einige metallische Kontaktinseln in den mehreren metallischen Kontaktinseln und mit DNPs gleich dem, oder kleiner als der, Radius jeweilige Vogelschnabelrichtungen haben, die nach dem Zufallsprinzip angeordnet sind.
- Package nach einem der vorangehenden Ansprüche, das des Weiteren ein zweites Package, das über dem ersten Package angeordnet und an das erste Package gebondet ist, enthält, wobei die mehreren metallischen Kontaktinseln und das zweite Package auf gegenüberliegenden Seiten des Bauelementchips angeordnet sind.
- Package, das Folgendes umfasst: mindesten eine erste dielektrische Schicht; mehrere erste Umverteilungsleitungen in der mindesten einen ersten dielektrischen Schicht; ein Bauelementchip, der über den ersten mehreren Umverteilungsleitungen angeordnet und elektrisch mit diesen gekoppelt ist; ein Vergussmaterial, in dem der Bauelementchip vergossen ist; einen Durchkontakt, der das Vergussmaterial durchdringt; mindestens eine zweite dielektrische Schicht über dem Bauelementchip; mehrere zweite Umverteilungsleitungen in der mindestens einen zweiten dielektrischen Schicht, wobei die mehreren zweiten Umverteilungsleitungen elektrisch mit den mehreren ersten Umverteilungsleitungen über den Durchkontakt gekoppelt sind; und mehrere metallische Kontaktinseln unter dem Bauelementchip, die elektrisch mit den mehreren zweiten Umverteilungsleitungen gekoppelt sind, wobei die mehreren metallischen Kontaktinseln eine erste zur Mitte weisende metallische Kontaktinsel und eine nicht zur Mitte weisende metallische Kontaktinsel enthalten.
- Package nach Anspruch 8, wobei eine der ersten mehreren Umverteilungsleitungen in physischem Kontakt mit dem Durchkontakt steht, und wobei sich die mehreren metallischen Kontaktinseln in einer Metallschicht befinden, die unter den ersten mehreren Umverteilungsleitungen liegt.
- Package nach Anspruch 8 oder 9, wobei die erste zur Mitte weisende metallische Kontaktinsel eine metallische Eck-Kontaktinsel ist.
- Package nach einem der Ansprüche 8 bis 10, wobei alle metallischen Eck-Kontaktinseln in den mehreren metallischen Kontaktinseln zur Mitte weisen.
- Package nach Anspruch 11, wobei die metallischen Eck-Kontaktinseln in derselben Ecke Vogelschnabelrichtungen haben, die parallel zueinander verlaufen.
- Package nach einem der Ansprüche 8 bis 12, das des Weiteren eine zweite zur Mitte weisende metallische Kontaktinsel enthält, wobei die zweite zur Mitte weisende metallische Kontaktinsel neben einer Ecke des Bauelementchips – in einer Unteransicht des Package – liegt, und wobei die zweite zur Mitte weisende metallische Kontaktinsel eine Vogelschnabelrichtung hat, die zu einer Mitte des Bauelementchips weist.
- Package nach Anspruch 13, wobei die zweite zur Mitte weisende metallische Kontaktinsel von nicht zur Mitte weisenden metallischen Kontaktinseln umgeben ist.
- Package nach einem der Ansprüche 8 bis 14, das des Weiteren Folgendes umfasst: mehrere Lötregionen, die an die mehreren metallischen Kontaktinseln angrenzen, wobei die mehreren Lötregionen das Package an eine gedruckte Leiterplatte (PCB) bonden.
- Package, das Folgendes umfasst: mehrere dielektrische Schichten; mehrere Umverteilungsleitungen in den mehreren dielektrischen Schichten; einen ersten Bauelementchip, der über den mehreren Umverteilungsleitungen angeordnet und mit diesen elektrisch gekoppelt ist; und mehrere metallische Kontaktinseln unter den – und in elektrischer Kopplung mit den – mehreren Umverteilungsleitungen, wobei die mehreren metallischen Kontaktinseln Folgendes umfassen: eine metallische Eck-Kontaktinsel, wobei die metallische Eck-Kontaktinsel eine erste Vogelschnabelrichtung hat, die zu einer ersten Mitte eines Package weist, das die mehreren metallischen Kontaktinseln und den ersten Bauelementchip enthält; eine erste innere metallische Kontaktinsel neben einer Ecke des ersten Bauelementchips, wobei die erste innere elektrische eine zweite Vogelschnabelrichtung hat, die zu einer zweiten Mitte des ersten Bauelementchips weist; und mehrere nicht zur Mitte weisende metallische Kontaktinseln, die die erste innere metallische Kontaktinsel umgeben.
- Package nach Anspruch 16, wobei die erste Mitte des Package und die zweite Mitte des ersten Bauelementchips nicht überlappt sind.
- Package nach Anspruch 16 oder 17, das des Weiteren eine zweiten innere metallische Kontaktinsel zwischen den mehreren metallischen Kontaktinseln enthält, wobei die zweite innere metallische Kontaktinsel unmittelbar neben den mehreren nicht zur Mitte weisenden metallische Kontaktinseln angeordnet und von diesen umgeben ist, und wobei die zweite innere metallische Kontaktinsel eine dritte Vogelschnabelrichtung hat, die parallel zu der zweiten Vogelschnabelrichtung verläuft.
- Package nach einem der Ansprüche 16 bis 18, wobei die erste innere metallische Kontaktinsel einen Abschnitt enthält, der durch mindestens einen Teil des ersten Bauelementchips überlappt wird.
- Package nach einem der Ansprüche 16 bis 19, das des Weiteren einen zweiten Bauelementchip über den – und in elektrischer Kopplung mit den – mehreren Umverteilungsleitungen enthält, wobei die mehreren metallischen Kontaktinseln eine dritte innere metallische Kontaktinsel neben einer Ecke des zweiten Bauelementchips enthalten, und wobei die dritte innere metallische Kontaktinsel eine vierte Vogelschnabelrichtung hat, die zu einer Mitte des zweiten Bauelementchip weist.
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