DE102014224768A1 - Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur, Bauelement, Vorrichtung und Herstellung derselben - Google Patents

Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur, Bauelement, Vorrichtung und Herstellung derselben Download PDF

Info

Publication number
DE102014224768A1
DE102014224768A1 DE102014224768.3A DE102014224768A DE102014224768A1 DE 102014224768 A1 DE102014224768 A1 DE 102014224768A1 DE 102014224768 A DE102014224768 A DE 102014224768A DE 102014224768 A1 DE102014224768 A1 DE 102014224768A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
film
layer
organic light
light emitting
sic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE102014224768.3A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102014224768B4 (de
Inventor
Yiping GONG
Zaifeng XIE
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuhan Tianma Microelectronics Co Ltd Cn
Wuhan Tianma Microelectronics Co Ltd Shangh Cn
Tianma Microelectronics Co Ltd
Original Assignee
Tianma Microelectronics Co Ltd
Shanghai Tianma AM OLED Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tianma Microelectronics Co Ltd, Shanghai Tianma AM OLED Co Ltd filed Critical Tianma Microelectronics Co Ltd
Publication of DE102014224768A1 publication Critical patent/DE102014224768A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102014224768B4 publication Critical patent/DE102014224768B4/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/84Passivation; Containers; Encapsulations
    • H10K50/844Encapsulations
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02109Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
    • H01L21/02112Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
    • H01L21/02123Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon
    • H01L21/02126Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon the material containing Si, O, and at least one of H, N, C, F, or other non-metal elements, e.g. SiOC, SiOC:H or SiONC
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02109Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
    • H01L21/02112Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
    • H01L21/02123Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon
    • H01L21/02126Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon the material containing Si, O, and at least one of H, N, C, F, or other non-metal elements, e.g. SiOC, SiOC:H or SiONC
    • H01L21/0214Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon the material containing Si, O, and at least one of H, N, C, F, or other non-metal elements, e.g. SiOC, SiOC:H or SiONC the material being a silicon oxynitride, e.g. SiON or SiON:H
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • H10K2102/301Details of OLEDs
    • H10K2102/351Thickness

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

Eine organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur umfasst eine organische Licht emittierende Einheit und eine die organische Licht emittierende Einheit bedeckende Filmstruktur. Die Filmstruktur umfasst einen ersten Film als untere Schicht, einen zweiten Film als obere Schicht und eine zwischen dem ersten und dem zweiten Film angeordnete Übergangsschicht. Der erste Film ist SiX oder SiXY, der zweite Film ist SiY oder SiXY und die Übergangsschicht umfasst mehrere SiXnYm-Schichten. Der erste und der zweite Film weisen unterschiedliche Materialien auf. Eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen zwei benachbarten SiXnYm-Schichten in der Übergangsschicht ist größer als eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem ersten Film und seiner benachbarten SiXnYm-Schicht oder eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem zweiten Film und seiner benachbarten SiXnYm-Schicht. Ein Wert m oder n liegt zwischen einschließlich 0 und 1.

Description

  • Die vorliegende Anmeldung beansprucht die Priorität der chinesischen Patentanmeldung Nr. 201410307012.9 mit dem Titel „ORGANIC LIGHT EMITTING FILM PACKAGE STRUCTURE, DEVICE, APPARATUS, AND FABRICATION THEREOF”, die am 30. Juni 2014 beim chinesischen Patentamt eingereicht wurde und deren gesamte Offenbarung durch Bezugnahme in das vorliegende Dokument aufgenommen ist.
  • Die vorliegende Anmeldung bezieht sich auf eine organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur, ein Licht emittierendes Bauelement und eine Licht emittierende Vorrichtung, die dasselbe enthält, sowie auf ein Herstellungsverfahren derselben.
  • Existierende Filmpackungsstrukturen mit organischen Licht emittierenden Dioden (OLED, organic light-emitting diodes) weisen die folgenden drei Typen auf.
  • Der erste Typ ist ein anorganisches-anorganisches Package-on-Package (Packung-auf-Packung), das eine anorganische Schicht A mit einer porösen Struktur, die vorwiegend zum Ableiten von Spannungen konfiguriert ist, und eine dichte anorganische Schicht B, die vorwiegend zum Trennen von Wasserdampf und Sauerstoff konfiguriert ist, umfasst.
  • Der zweite Typ ist ein anorganisches-organisches Package-on-Package, das eine organische Schicht, die vorwiegend zum Ableiten von Spannungen konfiguriert ist, und eine dichte anorganische Schicht, die vorwiegend zum Trennen von Wasserdampf und Sauerstoff konfiguriert ist, umfasst.
  • Der dritte Typ ist ein Hybridpolymer-anorganisches Package-on-Package, das eine Hybridpolymerschicht, die vorwiegend zum Ableiten von Spannungen konfiguriert ist, und eine dichte anorganische Schicht, die vorwiegend zum Trennen von Wasserdampf und Sauerstoff konfiguriert ist, umfasst.
  • Ein vorhandenes Trennungsverfahren für eine OLED-Filmpackung umfasst: Abscheiden einer anorganischen Schicht mittels plasmagestützter chemischer Dampfabscheidung (PECVD – plasma enhanced chemical vapor deposition) auf einem vorbereiteten OLED-Bauelement, Abscheiden einer organischen Schicht mittels PECVD und Abscheiden von 3 bis 7 Schichten auf dieselbe Weise, um eine Filmpackungsstruktur zu bilden. Außerdem kann vor dem Abscheiden der Filme eine Schutzschicht abgeschieden werden, um einen Schaden am Bauelement zu verhindern.
  • Unter den obigen OLED-Filmpackungsstrukturen gibt es keine Packungsstruktur, die ein gutes umfassendes Verhalten in Bezug auf Spannungsbeständigkeit, Wasserdampfdurchlässigkeitsrate (WVTR – water vapor transmission rate) und Sauerstoffdurchlässigkeitsrate (OTR – oxygen transmission rate), Lichtdurchlässigkeit und Brechungsindex aufweist.
  • Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, eine organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur, ein organisches Licht emittierendes Bauelement, eine Anzeigevorrichtung sowie ein Verfahren zum Herstellen einer organischen Licht emittierenden Filmpackungsstruktur zu schaffen.
  • Diese Aufgabe wird durch eine organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur gemäß Anspruch 1, durch ein organisches Licht emittierendes Bauelement gemäß Anspruch 9, durch eine Anzeigevorrichtung gemäß Anspruch 10 sowie durch ein Verfahren gemäß Anspruch 11 gelöst.
  • Um die obigen Probleme zu lösen, liefern Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung eine organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur, ein organisches Licht emittierendes Bauelement und ein Verfahren zum Herstellen einer organischen Licht emittierenden Filmpackungsstruktur. Bei einem Ausführungsbeispiel umfasst eine organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur eine organische Licht emittierende Einheit und eine Filmstruktur, die die organische Licht emittierende Einheit bedeckt. Die Filmstruktur umfasst einen ersten Film als untere Schicht, einen zweiten Film als obere Schicht und eine zwischen dem ersten Film und dem zweiten Film angeordnete Übergangsschicht. Der erste Film ist SiX oder SiXY, der zweite Film ist SiY oder SiXY und die Übergangsschicht umfasst mehrere SiXnYm-Schichten, wobei sich Material des ersten Films von Material des zweiten Films unterscheidet. Eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen zwei benachbarten SiXnYm-Schichten in der Übergangsschicht ist größer als eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem ersten Film und einer zu dem ersten Film benachbarten SiXnYm-Schicht oder eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem zweiten Film und einer zu dem zweiten Film benachbarten SiXnYm-Schicht. Ein Wert m oder ein Wert n liegen beide zwischen einschließlich 0 und 1. X ist O, C oder N, Y ist O, C oder N und X und Y sind unterschiedliche Atome.
  • Bei einem anderen Ausführungsbeispiel umfasst ein organisches Licht emittierendes Bauelement eine organische Licht emittierende Einheit und die oben beschriebene organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur.
  • Bei einem wieder anderen Ausführungsbeispiel umfasst eine Anzeigevorrichtung das oben beschriebene organische Licht emittierende Bauelement.
  • Bei manchen Ausführungsbeispielen umfasst ein Verfahren zum Herstellen einer organischen Licht emittierenden Filmpackungsstruktur Folgende Schritte: Bereitstellen einer organischen Licht emittierenden Einheit; Bilden eines ersten Films einer Filmstruktur mittels PECVD auf der organischen Licht emittierenden Einheit; Bilden einer Übergangsschicht der Filmstruktur durch Anpassen eines Gasflusses eines eingebrachten Gases; und Bilden eines zweiten Films mittels PECVD auf der Übergangsschicht. Der erste Film ist SiX oder SiXY, der zweite Film ist SiY oder SiXY und die Übergangsschicht umfasst mehrere SiXnYm-Schichten, wobei der erste Film aus einem anderen Material gebildet ist als der zweite Film. Eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen zwei benachbarten SiXnYm-Schichten in der Übergangsschicht ist größer als eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem ersten Film und einer zu dem ersten Film benachbarten SiXnYm-Schicht oder eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem zweiten Film und einer zu dem zweiten Film benachbarten SiXnYm-Schicht. Ein Wert m und ein Wert n liegen beide zwischen einschließlich 0 und 1. X ist O, C oder N, Y ist O, C oder N und X und Y sind unterschiedliche Atome.
  • Anhand der technischen Lösungen der Anmeldung wird unter einer Bedingung, dass eine Spannung der Filme verbessert wird, eine umfassend gutes Verhalten der Filme gewährleistet.
  • Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen erläutert. Es zeigen:
  • 1 eine Querschnittsansicht einer Packungsstruktur gemäß einem Ausführungsbeispiel der Anmeldung; und
  • 2 eine Querschnittsansicht einer Packungsstruktur gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der Anmeldung.
  • Die folgende ausführliche Beschreibung bestimmter Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung wird besser verständlich, wenn sie im Zusammenhang mit den beiliegenden Zeichnungen gelesen wird. Es versteht sich, dass die hierin beschriebenen Ausführungsbeispiele lediglich zum Beschreiben der Erfindung bereitgestellt werden und keine Einschränkung darstellen. Ferner sollte man beachten, dass der Zweckmäßigkeit der Beschreibung halber in den Zeichnungen lediglich Inhalte gezeigt sind, die für die vorliegende Erfindung relevant sind, und nicht alle Inhalte.
  • Die Angabe von Zahlenbereichen durch Endpunkte umfasst alle in diesem Bereich enthaltenen Zahlen (0 bis 1 umfasst z. B. 0,1, 0,15, 0,26 und 1,0) und jeglichen innerhalb dieses Bereichs liegenden Bereich.
  • Relative Begriffe wie z. B. „unten, untere(r, s)” und „oben, obere(r, s)” werden hierin dazu verwendet, eine Beziehung eines Elements, einer Schicht oder einer Region zu einem anderen Element, einer anderen Schicht oder einer anderen Region, wie in den Figuren veranschaulicht, zu beschreiben. Man wird verstehen, dass diese Begriffe verschiedene Ausrichtungen der Struktur zusätzlich zu der in den Figuren gezeigten Ausrichtung einschließen sollen.
  • Gemäß einem Ausführungsbeispiel wird eine organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur bereitgestellt. Die organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur umfasst eine organische Licht emittierende Einheit und eine die organische Licht emittierende Einheit bedeckende Filmstruktur. Die Filmstruktur umfasst einen unten an der Filmstruktur angeordneten ersten Film, einen zweiten Film oben an der Filmstruktur und eine zwischen dem ersten Film und dem zweiten Film angeordnete Übergangsschicht. Der erste Film ist SiX oder SiXY, der zweite Film ist SiY oder SiXY und die Übergangsschicht umfasst mehrere SiXnYm-Schichten, wobei sich das Material des ersten Films von dem Material des zweiten Films unterscheidet. Eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen zwei benachbarten SiXnYm-Schichten in der Übergangsschicht ist größer als eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem ersten Film und einer zu dem ersten Film benachbarten SiXnYm-Schicht oder eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem zweiten Film und einer zu dem zweiten Film benachbarten SiXnYm-Schicht. Ein Wert m und ein Wert n liegen beide zwischen einschließlich 0 und 1. X ist O, C oder N, Y ist O, C oder N und X und Y sind unterschiedliche Atome. Si ist ein Siliziumatom, O ist ein Sauerstoffatom, C ist ein Kohlenstoffatom und N ist ein Stickstoffatom.
  • Um das Verständnis der Anmeldung zu fördern, sind vorzuziehende Ausführungsbeispiele bereitgestellt. Die nachstehenden vorzuziehenden Ausführungsbeispiele sollen die Erfindung lediglich veranschaulichen, wobei Ausführungsbeispiele der Anmeldung nicht auf die nachstehenden Ausführungsbeispiele beschränkt sind.
  • Erstes Vergleichsbeispiel
  • Als Erstes wird eine organische Licht emittierende Einheit mittels Verdampfung gebildet, und eine Pufferschicht wird mittels Vakuumverdampfung gebildet.
  • Als Zweites wird ein erster Film über der Pufferschicht mittels PECVD gebildet. Der erste Film kann eine organische-anorganische Hybridschicht, eine organische Schicht oder eine anorganische Schicht wie z. B. SiN, SiOC oder SiCN sein. Bei diesem Vergleichsbeispiel wird SiN als erster Film mit einer Dicke von 1 um angenommen.
  • Zuletzt wird über dem ersten Film ein zweiter Film mittels PECVD gebildet. Der zweite Film ist eine anorganische Schicht wie z. B. SiN oder SiO. Bei diesem Vergleichsbeispiel wird SiCN als zweiter Film mit einer Dicke von 1 um angenommen.
  • Zweites Vergleichsbeispiel
  • Als Erstes wird eine organische Licht emittierende Einheit mittels Verdampfung gebildet.
  • Nach der Verdampfung der organischen Licht emittierenden Einheit wird mittels Vakuumverdampfung eine Pufferschicht gebildet. Allgemein kann ein Puffermaterial ein organischer Film aus NPB, C60, CPB oder Alq3 sein.
  • Ein erster Film wird mittels PECVD gebildet. Der erste Film kann eine organische-anorganische Hybridschicht, eine organische Schicht oder eine anorganische Schicht wie z. B. SiN, SiOC oder SiCN sein. Bei diesem Vergleichsbeispiel wird SiN als erster Film mit einer Dicke von 0,4 um angenommen.
  • Eine Übergangsschicht wird durch Anpassen eines Gasflusses eines eingebrachten Gases gebildet. Insbesondere umfasst die Übergangsschicht Schichten aus SiC0,2N0,8, SiC0,4N0,6, SiC0,6N0,4 und SiC0,8N0,2, die von unten nach oben übereinander liegen, wobei jede dieser Schichten eine Dicke von 0,3 um aufweist.
  • Zuletzt wird ein zweiter Film mittels PECVD gebildet. Der zweite Film ist eine anorganische Schicht wie z. B. SiN oder SiO. Bei dem zweiten Vergleichsbeispiel wird SiCN als zweiter Film mit einer Dicke von 0,4 um angenommen.
  • Erstes Ausführungsbeispiel
  • 1 ist ein Diagramm einer Filmpackungsstruktur gemäß einem Ausführungsbeispiel der Anmeldung.
  • Als Erstes wird mittels Verdampfung eine organische Licht emittierende Einheit (in 1 nicht gezeigt) gebildet. Ein Prozess zum Bilden der organischen Licht emittierenden Einheit ist hinreichend bekannt und wird hierin nicht beschrieben.
  • Nach der Verdampfung der organischen Licht emittierenden Einheit wird mittels Vakuumverdampfung eine Pufferschicht (in 1 nicht gezeigt) gebildet. Allgemein kann ein Puffermaterial ein organischer Film aus NPB, C60, CPB oder Alq3 sein.
  • Ein erster Film 101 wird mittels PECVD gebildet. Der erste Film 101 kann eine organische-anorganische Hybridschicht, eine organische Schicht oder eine anorganische Schicht wie z. B. SiN, SiOC oder SiCN sein. Bei dem Ausführungsbeispiel wird SiN als erster Film mit einer Dicke von 0,4 um angenommen.
  • Eine Übergangsschicht 102 wird durch Anpassen eines Gasflusses eines eingebrachten Gases N2 gebildet. Insbesondere umfasst die Übergangsschicht mehrere Schichten aus SiC0,1N0,9, SiC0,2N0,8, SiC0,8N0,2 und SiC0,9N0,1 die von unten nach oben übereinander liegen, wobei jede dieser Schichten eine Dicke von 0,3 um aufweist.
  • Zuletzt wird ein zweiter Film 103 mittels PECVD gebildet. Der zweite Film ist eine anorganische Schicht wie z. B. SiN oder SiO. Bei dem Ausführungsbeispiel wird SiCN als zweiter Film mit einer Dicke von 0,4 um angenommen.
  • Eine Differenz des Atomverhältnisses von C oder N zwischen zwei benachbarten Schichten in der Übergangsschicht ist größer als eine Differenz des Atomverhältnisses von C oder N zwischen dem ersten Film und seiner benachbarten Schicht in der Übergangsschicht oder eine Differenz des Atomverhältnisses von C oder N zwischen dem zweiten Film und seiner benachbarten Schicht in der Übergangsschicht. Bei dem Ausführungsbeispiel beträgt die Differenz des Atomverhältnisses von C zwischen dem ersten Film und seiner benachbarten Schicht in der Übergangsschicht 0,1, und die Differenz des Atomverhältnisses von N zwischen dem ersten Film und seiner benachbarten Schicht in der Übergangsschicht beträgt 0,1. Die Differenz des Atomverhältnisses von C zwischen zwei benachbarten Schichten SiC0,2N0,8 und SiC0,8N0,2 beträgt 0,6, und die Differenz von Atomverhältnissen von N zwischen zwei benachbarten Schichten SiC0,2N0,8 und SiC0,8N0,2 beträgt 0,6, die größer sind als die obigen Differenzen des Atomverhältnisses zwischen dem ersten Film und seiner benachbarten Schicht in der Übergangsschicht. Das Ausführungsbeispiel ist lediglich ein vorzuziehendes Ausführungsbeispiel, und die Struktur der Übergangsschicht kann von Fachleuten angepasst werden, solange die obige Bedingung erfüllt ist, d. h. dass die Differenz des Atomverhältnisses von C oder N zwischen zwei benachbarten Schichten in der Übergangsschicht größer ist als eine Differenz des Atomverhältnisses von C oder N zwischen dem ersten Film und seiner benachbarten Schicht in der Übergangsschicht oder eine Differenz des Atomverhältnisses von C oder N zwischen dem zweiten Film und seiner benachbarten Schicht in der Übergangsschicht. Außerdem ist bei der Anmeldung ein weiteres vorzuziehendes Entwurfsschema bereitgestellt, das heißt in der Übergangsschicht von oben nach unten oder von unten nach oben nimmt die Differenz des Atomverhältnisses zwischen zwei benachbarten Schichten in der Übergangsschicht allmählich zu und anschließend allmählich ab; die Filmpackungsstruktur kann seitens Fachleuten gemäß dem Entwurfsschema entworfen werden.
  • Zweites Ausführungsbeispiel
  • Als Erstes wird mittels Verdampfung eine organische Licht emittierende Einheit gebildet.
  • Nach der Verdampfung der organischen Licht emittierenden Einheit wird mittels Vakuumverdampfung eine Pufferschicht gebildet. Allgemein kann ein Puffermaterial ein organischer Film aus NPB, C60, CPB oder Alq3 sein.
  • Ein erster Film wird mittels PECVD gebildet. Der erste Film kann eine organische-anorganische Hybridschicht, eine organische Schicht oder eine anorganische Schicht wie z. B. SiN, SiOC oder SiCN sein. Bei dem Ausführungsbeispiel wird SiN als erster Film mit einer Dicke von 0,2 um angenommen.
  • Eine Übergangsschicht wird durch Anpassen eines Gasflusses eines eingebrachten Gases N2 gebildet. Insbesondere umfasst die Übergangsschicht Schichten aus SiC0,1N0,9, SiC0,2N0,8, SiC0,8N0,2 und SiC0,9N0,1, die von unten nach oben übereinander liegen, wobei jede dieser Schichten eine Dicke von 0,4 um aufweist.
  • Zuletzt wird ein zweiter Film mittels PECVD gebildet. Der zweite Film ist eine anorganische Schicht wie z. B. SiN oder SiO. Bei dem Ausführungsbeispiel wird SiCN als zweiter Film mit einer Dicke von 0,2 um angenommen.
  • Drittes Ausführungsbeispiel
  • 2 ist ein Diagramm einer Filmpackungsstruktur gemäß dem dritten Ausführungsbeispiel.
  • Als Erstes wird mittels Verdampfung eine organische Licht emittierende Einheit gebildet.
  • Nach der Verdampfung der organischen Licht emittierenden Einheit wird mittels Vakuumverdampfung eine Pufferschicht gebildet. Allgemein kann ein Puffermaterial ein organischer Film aus NPB, C60, CPB oder Alq3 sein.
  • Ein erster Film 201 wird mittels PECVD gebildet. Der erste Film 201 kann eine organische-anorganische Hybridschicht, eine organische Schicht oder eine anorganische Schicht wie z. B. SiN, SiOC oder SiCN sein. Bei dem Ausführungsbeispiel wird SiO als erster Film mit einer Dicke von 0,4 um angenommen.
  • Eine Übergangsschicht 202 wird durch Anpassen eines Gasflusses eines eingebrachten Gases N2 gebildet. Insbesondere umfasst die Übergangsschicht Schichten aus SiO0,9N0,1, SiO0,8N0,2, SiO0,2N0,8 und SiO0,1N0,9, die von unten nach oben übereinander liegen, wobei jede dieser Schichten eine Dicke von 0,3 um aufweist.
  • Zuletzt wird ein zweiter Film 203 mittels PECVD gebildet. Der zweite Film 203 ist eine anorganische Schicht wie z. B. SiN oder SiO. Bei dem Ausführungsbeispiel wird SiN als zweiter Film mit einer Dicke von 0,4 um angenommen.
  • Viertes Ausführungsbeispiel
  • Als Erstes wird mittels Verdampfung eine organische Licht emittierende Einheit gebildet.
  • Nach der Verdampfung der organischen Licht emittierenden Einheit wird mittels Vakuumverdampfung eine Pufferschicht gebildet. Allgemein kann ein Puffermaterial ein organischer Film aus NPB, C60, CPB oder Alq3 sein.
  • Ein erster Film wird mittels PECVD gebildet. Der erste Film kann eine organische-anorganische Hybridschicht, eine organische Schicht oder eine anorganische Schicht wie z. B. SiN, SiOC oder SiCN sein. Bei dem Ausführungsbeispiel wird SiO als erster Film mit einer Dicke von 0,4 um angenommen.
  • Eine Übergangsschicht wird durch Anpassen eines Gasflusses eines eingebrachten Gases N2 gebildet. Insbesondere umfasst die Übergangsschicht Schichten aus SiO0,9N0,1, SiO0,7N0,3, SiO0,3N0,7 und SiO0,1N0,9, die von unten nach oben übereinander liegen, wobei jede dieser Schichten eine Dicke von 0,3 um aufweist.
  • Zuletzt wird ein zweiter Film mittels PECVD gebildet. Der zweite Film ist eine anorganische Schicht wie z. B. SiN oder SiO. Bei diesem Ausführungsbeispiel wird SiN als zweiter Film mit einer Dicke von 0,4 um angenommen.
  • Fünftes Ausführungsbeispiel
  • Als Erstes wird mittels Verdampfung eine organische Licht emittierende Einheit gebildet.
  • Nach der Verdampfung der organischen Licht emittierenden Einheit wird mittels Vakuumverdampfung eine Pufferschicht gebildet. Allgemein kann ein Puffermaterial ein organischer Film aus NPB, C60, CPB oder Alq3 sein.
  • Ein erster Film wird mittels PECVD gebildet. Der erste Film kann eine organische-anorganische Hybridschicht, eine organische Schicht oder eine anorganische Schicht wie z. B. SiN, SiOC oder SiCN sein. Bei dem Ausführungsbeispiel wird SiO als erster Film mit einer Dicke von 0,4 um angenommen.
  • Eine Übergangsschicht wird durch Anpassen eines Gasflusses eines eingebrachten Gases N2 gebildet. Insbesondere umfasst die Übergangsschicht Schichten aus SiO0,9N0,1, SiO0,7N0,3, SiO0,2N0,8 und SiO0,1N0,9, die von unten nach oben übereinander liegen, wobei jede dieser Schichten eine Dicke von 0,3 um aufweist.
  • Zuletzt wird ein zweiter Film mittels PECVD gebildet. Der zweite Film ist eine anorganische Schicht wie z. B. SiN oder SiO. Bei dem Ausführungsbeispiel wird SiN als zweiter Film mit einer Dicke von 0,4 um angenommen.
  • Verhaltenstests
  • Verhaltenstests bezüglich sechs Aspekten einschließlich Spannung, WVTR und OTR, Anhaftungseigenschaft, Lichtdurchlässigkeit, Brechungsindex und Funktionstüchtigkeit werden an dem ersten Ausführungsbeispiel und dem ersten und dem zweiten Vergleichsbeispiel durchgeführt. Bezüglich Einzelheiten zu Testverfahren und -ergebnissen wird auf die folgenden Informationen und die folgende Tabelle verwiesen.
  • Spannung
  • Grenzflächen Spannung entsteht aufgrund von Differenzen bei Materialien oder Gitterstrukturen zwischen benachbarten Filmen; und je größer die strukturelle Differenz, desto größer kann die Grenzflächen Spannung werden. Eine Art und Weise, die Spannung zu verringern, kann dadurch erzielt werden, dass ähnliche Materialien oder Materialien mit ähnlichen Gitterstrukturen gewählt werden.
  • WVTR und OTR
  • Ein Ausmaß eines Verlustes an Ca-Film aufgrund des Wasserdampfes, der den Film passiert, wird durch einen Mocon-Maschinentest beobachtet.
  • Ein Mehrschichtfilm kann mittels einer Zuverlässigkeitsanalyse beobachtet werden, die an einer mit einer Filmpackung versehenen Probe durchgeführt wird (Zuverlässigkeitsanalyse gibt an: Platzieren der mit einer Filmpackung versehenen Probe im 60°C/90% RH oder 40°C/90% RH und Beobachten eines Garantiezeitraums der Probe).
  • Anhaftungseigenschaft
  • Eine mit einer Filmpackung versehene Probe wird in eine bestimmte Umgebung platziert (60°C/90% RH oder 40°C/90% RH oder eine andere Bedingung). Nach einem gewissen Zeitraum werden durch ein Mikroskop ein Ablösungsphänomen oder Lufttaschen des Films beobachtet. Je gravierender das Ablösungsphänomen, desto schlechter die Anhaftungseigenschaft.
  • Lichtdurchlässigkeit
  • Die Lichtdurchlässigkeit wird mittels eines Lichtdurchlässigkeitstesters getestet. Ein Glassubstrat wird mit einem Film beschichtet, zunächst wird eine Durchlässigkeit sichtbaren Lichts des Glassubstrats getestet, und anschließend wird die Durchlässigkeit sichtbaren Lichts des Glassubstrats als Referenz verwendet, um eine Durchlässigkeit des mit dem Film beschichteten Glassubstrats zu testen.
  • Brechungsindex
  • Mittels eines Ellipsometers wird an einem mit einem Film beschichteten Wafer ein Test durchgeführt.
  • Funktionstüchtigkeit
  • Während der Herstellung eines Films ist die Funktionstüchtigkeit gering, falls der Gasfluss in Echtzeit oder häufig eingestellt wird, und die Funktionstüchtigkeit ist hoch, falls der Gasfluss nicht eingestellt wird.
  • Tabelle 1 zeigt die Niveaus von Verhaltenstests des ersten und des zweiten Vergleichsbeispiels und des ersten Ausführungsbeispiels. Das Niveau 1 ist das schlechteste Verhalten, und das Niveau 5 ist das beste Verhalten. TABELLE 1
    Spannung WVTR und OTR Anhaftungseigenschaft Lichtdurchlässigkeit Brechungsindex Funktionstüchtigkeit
    erstes Vergleichsbeispiel Niveau 1 Niveau 4 Niveau 4 Niveau 4 Niveau 4 Niveau 4
    zweites Vergleichsbeispiel Niveau 4 Niveau 2 Niveau 2 Niveau 4 Niveau 4 Niveau 3
    erstes Ausführungsbeispiel Niveau 3 Niveau 3 Niveau 3 Niveau 4 Niveau 4 Niveau 3
    *In der obigen Tabelle ist das Verhalten durch Niveau 5 bis Niveau 1 von gut bis schlecht angegeben.
  • Folgendes kann man aus der obigen Tabelle 1 ersehen.
  • Spannung. Da bei dem ersten Vergleichsbeispiel zwei unterschiedliche Materialien direkt miteinander in Kontakt gebracht werden, entsteht zwischen denselben eine hohe Spannung. Sowohl bei dem zweiten Vergleichsbeispiel als auch bei dem ersten Ausführungsbeispiel liegt eine Übergangsschicht vor. Aufgrund eines gleichmäßigen Übergangs bei dem zweiten Vergleichsbeispiel schneidet das zweite Vergleichsbeispiel besser ab als das erste Ausführungsbeispiel. Deshalb gilt für Spannungsverhalten: zweites Vergleichsbeispiel > erstes Ausführungsbeispiel > erstes Vergleichsbeispiel. Mit anderen Worten weist das zweite Vergleichsbeispiel ein besseres Spannungsverhalten auf als das erste Ausführungsbeispiel, welches wiederum besser ist als das erste Vergleichsbeispiel.
  • WVTR und OTR. Eine äußerste Schicht ist eine Wasserdampfbarriere, und eine Fähigkeit der Wasserdampfbarriere hängt eng mit der Anzahl der Schichten derselben zusammen. Falls A0.9B0.1 als überlagerte Schichten von 0.9A und 0.1B betrachtet werden, so gilt für die gesamte Dicke der äußersten Schicht der Wasserdampfbarriere: erstes Vergleichsbeispiel (falls 300) > erstes Ausführungsbeispiel (100 + 90 + 80) > zweites Vergleichsbeispiel (100 + 80 + 60). Deshalb gilt für die Fähigkeit der Wasserdampfbarriere: erstes Vergleichsbeispiel > erstes Ausführungsbeispiel > zweites Vergleichsbeispiel.
  • Fähigkeit der Anhaftung an einem Bauelement. Die Fähigkeit der Anhaftung an einem Bauelement ist auf eine mit einem OLED-Bauelement zu kombinierende Schicht bezogen und ist auch auf die Dicke der zu kombinierenden Schicht bezogen, mit einem selben Prinzip wie die Wasserdampfdurchlässigkeit. Deshalb gilt für die Fähigkeit der Anhaftung an einem Bauelement: erstes Vergleichsbeispiel > erstes Ausführungsbeispiel > zweites Vergleichsbeispiel.
  • Brechungsindex und Lichtdurchlässigkeit. Für ein ganzes Bauelement ist unter Bedingungen, bei denen eine Dicke einer gesamten Packungsschicht dieselbe ist, und bei dem andere Bedingungen bezüglich einer Verdampfung dieselben sind, der Brechungsindex derselbe und auch die Lichtdurchlässigkeit ist dieselbe. Deshalb gilt bezüglich des Brechungsindizes und der Lichtdurchlässigkeit: erstes Vergleichsbeispiel = zweites Vergleichsbeispiel = erstes Ausführungsbeispiel. Mit anderen Worten sind der Brechungsindex und die Lichtdurchlässigkeit des ersten und des zweiten Vergleichsbeispiels und des ersten Ausführungsbeispiels gleich gut.
  • Funktionstüchtigkeit. Da bei dem zweiten Vergleichsbeispiel und bei dem ersten Ausführungsbeispiel der Gasfluss immer dann gesteuert werden muss, wenn es notwendig ist, ist die Funktionstüchtigkeit schlechter als bei dem ersten Vergleichsbeispiel. Deshalb gilt bezüglich der Funktionstüchtigkeit: erstes Vergleichsbeispiel > zweites Vergleichsbeispiel = erstes Ausführungsbeispiel.
  • Zusammengefasst schneidet die Struktur bei dem ersten Vergleichsbeispiel bezüglich WVTR und OTR, Anhaftungsfähigkeit, Funktionstüchtigkeit, Brechungsindex und Lichtdurchlässigkeit gut ab. Jedoch bringt die hohe Spannung zwischen Filmen bei dem ersten Vergleichsbeispiel schwerwiegende Probleme wie beispielsweise ein Abblättern von Filmen und Risse mit sich und bewirkt einen Ausfall der Packung.
  • Die Spannung zwischen Filmen der Struktur bei dem zweiten Vergleichsbeispiel ist stark verbessert. Jedoch sind andere Verhaltensweisen der Filme beträchtlich verschlechtert.
  • Die Spannung zwischen Filmen der Struktur bei dem Ausführungsbeispiel der Anmeldung ist verbessert und andere Verhaltensweisen der Filme sind gewährleistet.
  • Zusammengefasst liefert das Ausführungsbeispiel der Anmeldung für eine OLED-Packung im Vergleich zu dem ersten Vergleichsbeispiel und dem zweiten Vergleichsbeispiel eine Struktur mit einem besten umfassenden Verhalten.
  • Ferner wird ein organisches Licht emittierendes Bauelement gemäß einem Ausführungsbeispiel der Anmeldung bereitgestellt, das eine organische Licht emittierende Einheit und die obige Filmstruktur umfasst.
  • Ferner wird gemäß einem Ausführungsbeispiel der Anmeldung eine Anzeigevorrichtung bereitgestellt, die das obige organische Licht emittierende Bauelement umfasst.
  • Gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zum Herstellen einer organischen Licht emittierenden Filmpackungsstruktur bereitgestellt. Das Verfahren umfasst ein Bereitstellen einer organischen Licht emittierenden Einheit, die eine Mehrzahl von organischen Licht emittierenden Dioden und andere verwandte Komponenten aufweist; Bilden eines ersten Films einer Filmstruktur mittels PECVD auf der organischen Licht emittierenden Einheit; Bilden einer Übergangsschicht der Filmstruktur durch Anpassen eines Gasflusses eines eingebrachten Gases; und Bilden eines zweiten Films mittels PECVD auf der Übergangsschicht. Ein Prozess des Bildens der organischen Licht emittierenden Einheit ist hinreichend bekannt und wird hierin nicht beschrieben.
  • Der erste Film ist SiX oder SiXY, der zweite Film ist SiY oder SiXY und die Übergangsschicht umfasst mehrere SiXnYm-Schichten, wobei sich Material des ersten Films von Material des zweiten Films unterscheidet.
  • Eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen zwei benachbarten SiXnYm-Schichten in der Übergangsschicht ist größer als eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem ersten Film und einer zu dem ersten Film benachbarten SiXnYm-Schicht oder eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem zweiten Film und einer zu dem zweiten Film benachbarten SiXnYm-Schicht.
  • Ein Wert m und ein Wert n liegen beide zwischen einschließlich 0 und 1.
  • X ist O, C oder N, Y ist O, C oder N und X und Y sind unterschiedliche Atome.
  • Unter Bezugnahme auf 1 und 2 kann der erste Film ein SiN-Film oder ein SiO-Film sein. Der zweite Film kann SiCN oder SiN sein. Die SiXnYm-Schichten können SiCnVm-Schichten oder SiOnNm-Schichten sein.
  • Das Verfahren umfasst ferner ein Bilden einer Pufferschicht auf der organischen Licht emittierenden Einheit vor dem Bilden des ersten Films. Das Verfahren umfasst ferner ein Verdampfen der Pufferschicht nach Bildung der Filmstruktur (die den ersten Film, die Übergangsschicht und den zweiten Film aufweist) auf dem Puffer.
  • Die zuvor erwähnten Ausführungsbeispiele sind lediglich vorzuziehende Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung und führen zu einem besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung bei Fachleuten. Jedoch ist der Schutzumfang nicht auf diese beschränkt. Jegliche Modifikationen, jeglicher äquivalente Ersatz und jegliche Verbesserungen, die innerhalb der Wesensart und der Prinzipien der Anmeldung vorgenommen werden, sind in dem Schutzumfang der vorliegenden Erfindung enthalten.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • CN 201410307012 [0001]

Claims (12)

  1. Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur, die eine organische Licht emittierende Einheit und eine die organische Licht emittierende Einheit bedeckende Filmstruktur aufweist, wobei die Filmstruktur einen ersten Film (101; 201) als unteren Film, einen zweiten Film (103; 203) als oberen Film und eine zwischen dem ersten Film und dem zweiten Film angeordnete Übergangsschicht (102; 202) aufweist, wobei der erste Film SiX oder SiXY ist, der zweite Film SiY oder SiXY ist und die Übergangsschicht eine Mehrzahl von SiXnYm-Schichten aufweist, wobei der erste Film aus einem anderen Material gebildet ist als der zweite Film, wobei eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen zwei benachbarten SiXnYm-Schichten in der Übergangsschicht größer ist als eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem ersten Film und einer zu dem ersten Film benachbarten SiXnYm-Schicht oder eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem zweiten Film und einer zu dem zweiten Film benachbarten SiXnYm-Schicht, wobei ein Wert m und ein Wert n zwischen einschließlich 0 und 1 liegen; wobei X O, C oder N ist, Y O, C oder N ist und X und Y unterschiedliche Atome sind.
  2. Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur gemäß Anspruch 1, bei der eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen benachbarten SiXnYm-Schichten entlang einer Richtung von dem ersten Film (101; 201) zu dem zweiten Film (103; 203) oder entlang einer Richtung von dem zweiten Film zu dem ersten Film allmählich zunimmt und anschließend allmählich abnimmt.
  3. Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur gemäß Anspruch 2, bei der der erste Film (101; 201) der Filmstruktur SiCN ist, der zweite Film (103; 203) der Filmstruktur SiN ist und die Übergangsschicht SiCnNm ist.
  4. Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur gemäß Anspruch 3, bei der die Übergangsschicht (102; 202) eine SiC0,9N-Schicht, eine SiC0,8N-Schicht, eine SiC0,2N-Schicht und eine SiC0,1N-Schicht aufweist, die entlang der Richtung von dem ersten Film (101; 201) zu dem zweiten Film (103; 203) übereinander liegen.
  5. Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur gemäß Anspruch 4, bei der eine Dicke der SiC0,1N-Schicht in einem Bereich zwischen 0,1 um und 0,5 um liegt, eine Dicke der SiC0,2N-Schicht in einem Bereich zwischen 0,1 um und 0,5 um liegt, eine Dicke der SiC0,8N-Schicht in einem Bereich zwischen 0,1 um und 0,5 um liegt, eine Dicke der SiC0,9N-Schicht in einem Bereich zwischen 0,1 um und 0,5 liegt, eine Dicke des ersten Films (101; 201) in einem Bereich zwischen 0,2 um und 0,9 um liegt und eine Dicke des zweiten Films (103; 203) in einem Bereich zwischen 0,2 um und 0,9 um liegt.
  6. Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur gemäß einem der Ansprüche 2 bis 5, bei der der erste Film (101; 201) SiO ist, der zweite Film (103; 203) SiN ist und die Übergangsschicht (102; 202) SiOnNm ist.
  7. Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur gemäß Anspruch 6, bei der die Übergangsschicht (102; 202) eine SiO0,9N0,1-Schicht, eine SiO0,8N0,2-Schicht, eine SiO0,2N0,8-Schicht und eine SiO0,1N0,9-Schicht aufweist, die entlang der Richtung von dem ersten Film (101; 201) zu dem zweiten Film (103; 203) übereinander liegen.
  8. Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur gemäß Anspruch 7, bei der eine Dicke der SiC0,1N0,9-Schicht in einem Bereich zwischen 0,05 um und 0,1 um liegt, eine Dicke der SiC0,2N0,8-Schicht in einem Bereich zwischen 0,05 um und 0,1 um liegt, eine Dicke der SiC0,8N0,2-Schicht in einem Bereich zwischen 0,05 um und 0,1 um liegt, eine Dicke der SiC0,9N0,1-Schicht in einem Bereich zwischen 0,05 um und 0,1 liegt, eine Dicke des ersten Films (101; 201) in einem Bereich zwischen 0,1 um und 0,2 um liegt und eine Dicke des zweiten Films (103; 203) in einem Bereich zwischen 0,1 um und 0,2 um liegt.
  9. Organisches Licht emittierendes Bauelement, das eine organische Licht emittierende Einheit und eine Filmstruktur gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8 aufweist.
  10. Anzeigevorrichtung, die das organische Licht emittierende Bauelement gemäß Anspruch 9 aufweist.
  11. Verfahren zum Herstellen einer organischen Licht emittierenden Filmpackungsstruktur, das folgende Schritte aufweist: Bereitstellen einer organischen Licht emittierenden Einheit; Bilden eines ersten Films (101; 201) einer Filmstruktur mittels plasmagestützter chemischer Dampfabscheidung auf der organischen Licht emittierenden Einheit; Bilden einer Übergangsschicht (102; 202) der Filmstruktur durch Anpassen des Gasflusses eines eingebrachten Gases; Bilden eines zweiten Films (103; 203) mittels plasmagestützter chemischer Dampfabscheidung auf der Übergangsschicht, wobei der erste Film SiX oder SiXY ist, der zweite Film SiY oder SiXY ist und die Übergangsschicht eine Mehrzahl von SiXnYm-Schichten aufweist, wobei der erste Film mit einem anderen Material gebildet ist als der zweite Film; wobei eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen zwei benachbarten SiXnYm-Schichten in der Übergangsschicht größer ist als eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem ersten Film und einer zu dem ersten Film benachbarten SiXnYm-Schicht oder eine Differenz des Atomverhältnisses von X oder Y zwischen dem zweiten Film und einer zu dem zweiten Film benachbarten SiXnYm-Schicht; wobei ein Wert m und ein Wert n zwischen einschließlich 0 und 1 liegen; wobei X O, C oder N ist, Y O, C oder N ist und X und Y unterschiedliche Atome sind.
  12. Herstellungsverfahren gemäß Anspruch 11, das ferner folgenden Schritt aufweist: Verdampfen einer Pufferschicht zwischen dem ersten Film (101; 201) und der organischen Licht emittierenden Einheit.
DE102014224768.3A 2014-06-30 2014-12-03 Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur, Bauelement, Vorrichtung und Herstellung derselben Active DE102014224768B4 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410307012.9A CN104157790B (zh) 2014-06-30 2014-06-30 一种有机发光薄膜封装结构,其器件、装置及制造方法
CN201410307012.9 2014-06-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102014224768A1 true DE102014224768A1 (de) 2015-12-31
DE102014224768B4 DE102014224768B4 (de) 2018-04-05

Family

ID=51883243

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102014224768.3A Active DE102014224768B4 (de) 2014-06-30 2014-12-03 Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur, Bauelement, Vorrichtung und Herstellung derselben

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9281500B2 (de)
CN (1) CN104157790B (de)
DE (1) DE102014224768B4 (de)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104157790B (zh) 2014-06-30 2017-03-15 上海天马有机发光显示技术有限公司 一种有机发光薄膜封装结构,其器件、装置及制造方法
KR102201296B1 (ko) * 2015-10-29 2021-01-08 엘지디스플레이 주식회사 플렉서블 유기발광다이오드 표시장치 및 그 제조 방법
CN105355647B (zh) * 2015-11-26 2018-05-25 上海天马有机发光显示技术有限公司 一种封装结构、显示装置及其制作方法
CN107768534A (zh) * 2016-08-19 2018-03-06 上海和辉光电有限公司 一种柔性oled的薄膜封装结构及其制备方法
CN107845732A (zh) * 2016-09-19 2018-03-27 上海和辉光电有限公司 一种薄膜封装结构和oled显示面板
CN108206242A (zh) * 2016-12-19 2018-06-26 上海和辉光电有限公司 柔性oled显示屏的封装结构及其制备方法
CN108269827A (zh) * 2017-01-03 2018-07-10 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 薄膜封装结构、柔性显示面板、及薄膜封装结构制作方法
CN109935717B (zh) * 2017-12-15 2021-05-25 京东方科技集团股份有限公司 封装结构及封装方法、电致发光器件、显示装置
CN110190210B (zh) * 2019-03-12 2024-05-24 华电电力科学研究院有限公司 一种便于边缘封接的固体氧化物燃料电池结构
CN113991035A (zh) * 2021-08-25 2022-01-28 上海和辉光电股份有限公司 一种用于oled封装的薄膜封装结构及有机发光二极管器件

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104157790A (zh) 2014-06-30 2014-11-19 上海天马有机发光显示技术有限公司 一种有机发光薄膜封装结构,其器件、装置及制造方法

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3842745B2 (ja) * 2003-02-28 2006-11-08 株式会社東芝 半導体装置およびその製造方法
CN100466328C (zh) * 2003-10-29 2009-03-04 铼宝科技股份有限公司 有机发光显示面板
CN100433294C (zh) 2004-01-13 2008-11-12 东京毅力科创株式会社 半导体装置的制造方法以及成膜系统
JP4479249B2 (ja) * 2004-01-20 2010-06-09 凸版印刷株式会社 有機el素子の製造方法
US7220489B1 (en) * 2004-04-16 2007-05-22 Lockheed Martin Corporation Layered structures for optical reflectors
JP2006107920A (ja) 2004-10-05 2006-04-20 Tohoku Pioneer Corp 自発光装置
US7060594B2 (en) * 2004-10-19 2006-06-13 Macronix International Co., Ltd. Memory device and method of manufacturing including deuterated oxynitride charge trapping structure
US7557447B2 (en) 2006-02-06 2009-07-07 Nec Electronics Corporation Semiconductor device and method for manufacturing same
KR100790981B1 (ko) * 2006-02-13 2008-01-02 삼성전자주식회사 칼라필터, 칼라필터 어레이 및 그의 제조방법과 이미지센서
US8388408B2 (en) * 2008-10-10 2013-03-05 Ebara Corporation Method of making diagram for use in selection of wavelength of light for polishing endpoint detection, method for selecting wavelength of light for polishing endpoint detection, and polishing endpoint detection method
KR20100125674A (ko) * 2009-05-21 2010-12-01 삼성모바일디스플레이주식회사 유기 발광 소자 및 이의 제조 방법
US9029783B2 (en) * 2011-06-10 2015-05-12 Flir Systems, Inc. Multilayered microbolometer film deposition
EP2724854A4 (de) * 2011-06-27 2015-03-25 Konica Minolta Inc Gassperrfilm, verfahren zur herstellung des gassperrfilms und elektronische vorrichtung
TWI482276B (zh) * 2012-10-12 2015-04-21 Ind Tech Res Inst 氮化物半導體結構
CN103046001B (zh) 2013-01-21 2015-07-08 浙江大学 一种非晶碳复合涂层及其制备方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104157790A (zh) 2014-06-30 2014-11-19 上海天马有机发光显示技术有限公司 一种有机发光薄膜封装结构,其器件、装置及制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN104157790B (zh) 2017-03-15
US20150380678A1 (en) 2015-12-31
US9281500B2 (en) 2016-03-08
DE102014224768B4 (de) 2018-04-05
CN104157790A (zh) 2014-11-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102014224768B4 (de) Organische Licht emittierende Filmpackungsstruktur, Bauelement, Vorrichtung und Herstellung derselben
DE102018002478B4 (de) Organisches lichtemittierendes anzeigepanel und organische lichtemittierende anzeigevorrichtung
DE112005000839B4 (de) Verkapselung für ein organisches elektronisches Bauteil sowie Verwendung
DE102009024411A1 (de) Dünnschichtverkapselung für ein optoelektronisches Bauelement, Verfahren zu dessen Herstellung und optoelektronisches Bauelement
EP2238632B1 (de) Vorrichtung mit verkapselungsanordnung
DE102009047881B4 (de) Verfahren zur Herstellung einer epitaktisch hergestellten Schichtstruktur
DE102012106769B4 (de) Wellenlängenwandelstruktur, Herstellungsverfahren derselben und Licht emittierende Vorrichtung mit der Wellenlängenwandelstruktur
DE102010002422A1 (de) Organische lichtemittierende Diodenanzeige
WO2013037764A2 (de) Optoelektronisches bauelement
DE102012208142B4 (de) Organisches licht emittierendes bauelement und verfahren zur herstellung eines organischen licht emittierenden bauelements
DE102013100956A1 (de) Trocknungsmittel und Elektrolumineszenzelement unter Verwendung des Trocknungsmittels
DE102015209342A1 (de) Verbindung, trockenmittel, abdichtungsstruktur und organisches el-element
DE102016106846A1 (de) Mehrschichtige Verkapselung, Verfahren zur Verkapselung und optoelektronisches Bauelement
DE102015105484A1 (de) Organisches Licht emittierendes Bauelement
DE102012100231A1 (de) Halbleiterchip und Verfahren zu seiner Herstellung
DE102013114566B4 (de) Organische lichtemittierende Vorrichtung und Passivierungsschicht einer organischen lichtemittierenden Vorrichtung
DE102016125714B4 (de) Verfahren des Verpackens einer Solarzelle mittels eines Barrierefilms mit verbesserter Feuchtigkeitsbeständigkeit
DE102014106549B4 (de) Organisches Licht emittierendes Bauelement
DE112019002245T5 (de) Flüssigkristallanzeigevorrichtungen
DE102015108071A1 (de) Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements
DE102004030628A1 (de) Organisches elektronisches Element mit elektrisch leitfähiger semitransparenter Schicht
DE102015104793A1 (de) Organische Leuchtdiode und Verfahren zur Herstellung einer organischen Leuchtdiode
WO2017029367A1 (de) Verfahren zur herstellung eines optoelektronischen bauelements und optoelektronisches bauelement
DE102014222946A1 (de) Licht emittierendes Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines Licht emittierenden Bauelements
DE102014118354A1 (de) Organisches Bauelement

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: WUHAN TIANMA MICROELECTRONICS CO., LTD. SHANGH, CN

Free format text: FORMER OWNERS: SHANGHAI TIANMA AM-OLED CO., LTD., SHANGHAI, CN; TIANMA MICRO-ELECTRONICS CO., LTD., SHENZHEN, CN

Owner name: WUHAN TIANMA MICROELECTRONICS CO., LTD., CN

Free format text: FORMER OWNERS: SHANGHAI TIANMA AM-OLED CO., LTD., SHANGHAI, CN; TIANMA MICRO-ELECTRONICS CO., LTD., SHENZHEN, CN

Owner name: TIANMA MICRO-ELECTRONICS CO., LTD., CN

Free format text: FORMER OWNERS: SHANGHAI TIANMA AM-OLED CO., LTD., SHANGHAI, CN; TIANMA MICRO-ELECTRONICS CO., LTD., SHENZHEN, CN

R079 Amendment of ipc main class

Free format text: PREVIOUS MAIN CLASS: H01L0051520000

Ipc: H10K0050800000