DE102011104556B4 - Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung - Google Patents

Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung Download PDF

Info

Publication number
DE102011104556B4
DE102011104556B4 DE102011104556.6A DE102011104556A DE102011104556B4 DE 102011104556 B4 DE102011104556 B4 DE 102011104556B4 DE 102011104556 A DE102011104556 A DE 102011104556A DE 102011104556 B4 DE102011104556 B4 DE 102011104556B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
deflection
mirror plate
springs
micromirror
scanning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
DE102011104556.6A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102011104556A1 (de
Inventor
Ulrich Hofmann
Dr. Weiss Manfred
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Original Assignee
Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV filed Critical Fraunhofer Gesellschaft zur Forderung der Angewandten Forschung eV
Priority to DE102011104556.6A priority Critical patent/DE102011104556B4/de
Priority to US13/494,463 priority patent/US8711456B2/en
Priority to JP2012132549A priority patent/JP6012276B2/ja
Publication of DE102011104556A1 publication Critical patent/DE102011104556A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102011104556B4 publication Critical patent/DE102011104556B4/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/0816Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
    • G02B26/0833Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
    • G02B26/0841Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD the reflecting element being moved or deformed by electrostatic means
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/0816Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
    • G02B26/0833Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
    • G02B26/0858Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD the reflecting means being moved or deformed by piezoelectric means
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems
    • G02B26/101Scanning systems with both horizontal and vertical deflecting means, e.g. raster or XY scanners

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
  • Micromachines (AREA)
  • Facsimile Scanning Arrangements (AREA)

Abstract

Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung mit einem in mindestens zwei Ablenkachsen schwingenden Mikrospiegel (1), der einen Rahmen (2) und eine über eine Aufhängung beweglich angeordnete Spiegelplatte (4) aufweist, und mit einer Ansteuervorrichtung (8) zur Erzeugung von Ansteuersignalen für einen resonanten Betrieb des Mikrospiegels (1) in den mindestens zwei Ablenkachsen,dadurch gekennzeichnet, dassdie Aufhängung der Spiegelplatte (4) mehrere Federn (3) aufweist, die einerseits mit der Spiegelplatte (4) und andererseits mit dem feststehenden Rahmen (2) verbunden sind, unddass die Frequenzen der Ansteuersignale für den resonanten Betrieb des Mikrospiegels (1) in den mindestens zwei Ablenkachsen im Wesentlichen gleich sind und in ihrer Höhe durch eine vorgegebene Auflösung der Abtastung und eine vorgegebene Abtastwiederholrate bestimmt sind, aber sich mindestens um die vorgegebene Abtastwiederholrate unterscheiden, wobei zur Anpassung der Abweichung der zwei Ansteuerfrequenzen untereinander mindestens eine der mehreren Federn eine zu den restlichen Federn unterschiedliche Federsteifigkeit und/oder das Trägheitsmoment der Spiegelplatte in den zwei Ablenkachsen unterschiedlich ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung nach dem Oberbegriff des Hauptanspruchs.
  • Scanner mit Mikrospiegel (MEMS-Scanner) bestehen häufig aus einer in ein oder mehr Achsen beweglich an Federn aufgehängten Spiegelplatte, welche mit elektrostatischer, elektromagnetischer, thermischer oder piezoelektrischer Kraftübertragung angetrieben werden. Derartige Laserscanner finden Anwendung im Bereich der Messtechnik, wie z.B. der Mikroskopie, der optischen Kohärenztomographie, in Lichtschranken, in.der Abstandsmessung, in Profilometern, in Fingerprint-Sensoren usw., aber auch in Consumeranwendungen wie Laser-Videoprojektoren, in Mobiltelefonen, Laptops oder MP3-Playern.
  • EP 1 419 411 B1 beschreibt eine Projektionsvorrichtung mit einer Ablenkeinrichtung zum Ablenken eines Lichtstrahls um eine erste und eine zweite Ablenkachse, um den Lichtstrahl über das Blickfeld zu bewegen. Dabei wird der Lichtstrahl um die erste Ablenkachse mit einer ersten Ablenkfrequenz und um die zweite Ablenkachse mit einer zweiten Ablenkfrequenz abgelenkt. Als Ablenkeinrichtung wird ein kardanisch aufgehängter Spiegel verwendet.
  • In der JP 2006-020092 A ist ein Photodetektor offenbart, der einen zweiachsigen Ablenkspiegel aufweist, wobei der zweiachsige Spiegel mit zwei periodischen Signalen jeweils unterschiedlicher Frequenz angesteuert wird, um einen auftreffenden Lichtstrahl zu einer Lissajous-Projektion abzulenken.
  • Eine sehr vorteilhafte Art der Laserprojektion basiert auf resonantem Betrieb des MEMS-Scanners, da hierbei eine günstige Verstärkung der Spiegel-Oszillations-Amplitude bei gleichzeitig geringem Energieverbrauch ausgenutzt werden kann. Das gilt sowohl für einachsige wie auch für mehrachsige MEMS-Scanner.
  • Eine besonders vorteilhafte Auslegung eines solchen resonanten MEMS-Scanners sieht den Betrieb des Aktuators bei Unterdruck (Vakuum) vor, denn dadurch kann die Dämpfung in ganz erheblicher Weise reduziert werden. Dies kann ausgenutzt werden, um den Scanner mit minimaler Leistungsaufnahme betreiben zu können, was von erheblicher Bedeutung ist für alle mobilen Anwendungen (Mobiltelefon, MP3-Player, etc.). Durch die geringe Dämpfung lassen sich ferner erheblich höhere Resonanzamplituden des Scanners erzielen als mit herkömmlichen an Atmosphärendruck betriebenen Resonatoren. Vorteile von im Vakuum betriebenen MEMS-Laserscannern gegenüber ungekapselten Scannern sind: größere erzielbare Scanwinkel, um mehrere Größenordnungen geringere Leistungsaufnahme, höhere nutzbare Scanfrequenzen, niedrigere Antriebsspannungen (bei elektrostatischen oder piezoelektrischen Aktuatoren).
  • Um eine derartige Vakuumumgebung für jeden der üblicherweise als Vielzahl auf Siliziumwafern produzierten Scanner zu erzeugen, können die Scanner bereits im Wafer-Verbund, also noch vor der Vereinzelung in Chips, hermetisch dicht verkapselt werden, indem ein Glaswafer vorderseitig und ein zweiter Wafer rückseitig gegen den MEMS-Wafer gebondet wird. Ein in die so erzeugten Kavitäten eingeschlossener Getter, z.B. eine Titanschicht, die auf dem rückseitigen Wafer abgeschieden wird, kann durch Aktivierung bei entsprechender Temperatur den größten Teil der eingeschlossenen Gasmoleküle chemisch binden und dadurch einen minimalen Gasdruck ermöglichen, der im Wesentlichen nur noch durch die Rückdiffusion von natürlichem in der Umgebungsluft enthaltenen Helium durch den für Helium permeablen Glasdeckel begrenzt wird. Am Ende stellt sich dadurch in der Kavität der natürliche Helium-Partialdruck ein.
  • Wie schon oben erwähnt, sind derartige vakuumgekapselte resonante MEMS-Laserscanner besonders für mobile Laserprojektionsdisplays in Mobiltelefonen von Interesse, wo es darum geht (zum Zweck einer möglichst langen Projektionswiedergabedauer, wie sie etwa für Spielfilmwiedergabe erforderlich ist), so wenig Leistungsaufnahme wie möglich für den Scanner reservieren zu müssen. Auch wenn die meisten Realisierungen solcher MEMS-basierten Laserprojektionsdisplays bislang auf einem rasterförmigen ScanVerfahren beruhen, bei denen ein zweiachsiger oder zwei aneinandergereihte einachsige Scanner sowohl über eine resonant als auch eine nichtresonant betriebene Scanachse verfügen, ist ein vorteilhaft energiesparender Betrieb mit einem vakuumgekapselten MEMS-Scanner nur bei resonantem Betrieb beider Scanachsen zu erzielen. Hieraus ergibt sich als Konsequenz ein Lissajous-förmiges Scanverfahren, bei dem die Pixel im Allgemeinen nicht in der Reihenfolge aus dem Bildspeicher ausgelesen und projiziert werden, wie sie im Bildspeicher eintreffen.
  • Da es bei Laserprojektionsdisplays, insbesondere bei Anwendungen des Consumerbereichs, darum geht, extrem preisgünstige Systeme zu schaffen, muss unter Einhaltung aller sonstigen opto-elektro-mechanischen Anforderungen ein möglichst kleines Bauelement geschaffen werden. Je kleiner das Bauelement (der MEMS-Scanner-Chip), desto mehr Bauelemente passen auf einen Siliziumwafer und desto preisgünstiger kann das Bauelement gefertigt werden. Aus diesem Grund ist es sinnvoll, beide Scanachsen auf nur einem Chip unterzubringen. Herkömmliche 2D-Scanner-Chips verfügen dazu über eine Spiegelplatte, die beweglich in einem zweiten, ebenfalls beweglich aufgehängten Rahmen aufgehängt ist. Diese Anordnung wird in der Fachsprache häufig als „gimbal mounted scanner“ bezeichnet und entspricht etwa dem Begriff „Kardanaufhängung“. Die beiden Scanachsen stehen orthogonal zueinander. Durch die kardanische Anordnung wird die Sollbewegung beider Achsen im allgemeinen gut voneinander entkoppelt. Das bedeutet, dass jede Achse für sich weitgehend unbeeinflusst vom Betrieb der jeweils anderen Achse betrieben werden kann. Da ein Laserprojektionsdisplay die Bilddaten im Allgemeinen sequentiell zeilenorientiert abarbeitet, gibt es üblicherweise eine schnelle Achse, die die Horizontalablenkung („Zeilenablenkung“) bewerkstelligt, und eine Scanachse, die mit niedrigerer Frequenz die Vertikalablenkung erzeugt. Üblicherweise wird daher die innere Aufhängung des Spiegels selbst so ausgelegt, dass die Resonanzfrequenz zwischen 16 kHz und 32 kHz beträgt, während der den Spiegel umgebende Rahmen die langsame Scanachse bildet und eine deutlich niedrigere Resonanzfrequenz besitzt („Waferlevel vacuum packed micro-scanning mirror for compact laser projection displays‟, PROC. SPIE, 2008, Vol. 6887, 688706-1 bis -15).
  • Es gibt jedoch entscheidende Nachteile dieser kardanisch aufgehängten beidachsig resonant betriebenen Gimbalscanner.
    1. 1. Durch den beweglichen Rahmen, welcher die Spiegelplatte umgibt, ist der Platzbedarf des Scanners notwendigerweise stets sehr viel größer als für die Spiegelplatte samt ihren Aufhängungen allein. Dieser Umstand wird vor allem bei Scannern für sehr hohe Auflösung problematisch, weil hohe Auflösung für den Scanner einen sehr großen erforderlichen Scanwinkel bedeutet, was aus Gründen des mechanischen Stresses in der Aufhängung wiederum nur über lange Aufhängungen zu realisieren ist. Entsprechend groß muss auch der umgebende Gimbal ausgelegt sein. Der Gimbalscanner kann daher eine für die Anwendung zu teure Konstruktion darstellen.
    2. 2. Aus der Anforderung hoher Auflösung ergibt sich neben großen Oszillationsamplituden stets auch eine sehr hohe erforderliche Scanfrequenz der schnellen Achse. Typischerweise sind für hochauflösende Lissajous-Projektion Frequenzen über 30 kHz erforderlich. Die großen Scanwinkel bei derart hohen Scanfrequenzen sind gleichbedeutend mit großen auftretenden Rotationsbeschleunigungen und haben in Folge der Drehimpulserhaltung häufig ein erhebliches mechanisches Überkoppeln auf den umgebenden beweglichen Rahmen zur Folge: Die schnelle Rotationsbewegung der inneren Spiegelachse überträgt so viel Rückstelldrehmoment auf die Gimbalstruktur, dass diese vertikal in entgegengesetzter Richtung, d.h. gegenphasig, mitschwingt. Dieses Mitschwingen führt dazu, dass auch die beweglichen Antriebselektroden des Gimbals aus ihrer Sollposition herausgehoben werden und bei Beaufschlagung mit dem Antriebspotential ein anderes elektrostatisches Drehmoment erzeugen als eigentlich vorgesehen. Häufig hat dieser mechanisch-elektrische Überkoppelmechanismus ein instabiles Verhalten des Aktuators sowie eine für die Positionssensorik nur ungenau erfassbare Abweichung der Bewegung von der Sollfunktion zur Folge, mit dem Ergebnis, dass Bildstörungen sichtbar werden. Die Amplitude dieser ungewünschten Überkoppelbewegung des Gimbals ist umso größer, je kleiner das Trägheitsmoment des Gimbals ist. Um die Amplitude also vernachlässigbar gering zu halten, bedarf es eines Gimbals von ausreichend großem Durchmesser, großer Masse bzw. großem Trägheitsmoment. Letztlich bedeutet dies erneut einen ungünstig großen und dadurch kostenintensiven Chip.
    3. 3. Die zur Minimierung des mechanischen Überkoppelns erforderliche große Gimbalmasse führt zu einer hohen Empfindlichkeit gegenüber äußeren Vibrationen und Schock-Einflüssen und damit zu einer verminderten MEMS-Robustheit. Ein MEMS-Scanner mit kardanischer Aufhängung stellt daher stets einen Kompromiss aus Robustheit und Überkoppelminimierung dar.
    4. 4. Um große Drehmomente erzeugen zu können, müssen die Kammelektroden des elektrostatischen Antriebs maximal entfernt von der Drehachse angebracht sein. Das hat beim Kardanscanner jedoch zur Folge, dass Statorelektrode und Rotorelektrode schon bei relativ geringen Scanwinkeln die Region des Elektrodenüberlapps verlassen und dann nur noch geringe Kraft übertragen. Grundsätzlich wäre eine Anordnung vorteilhafter, bei der die Elektrodenabstände während der zeitlich erforderlichen Kraft- bzw. Drehmomentserzeugung klein sind.
    5. 5. Konstruktionsbedingt besitzt ein kardanischer MEMS-Scanner eine Vielzahl von parasitären Eigenmoden, die umso stärker die gewünschte Sollbewegung beeinflussen, je größer die zu erzielenden Scanwinkel, d.h. Aktuatorauslenkungen, sind, denn große Scanwinkel bedingen lange Aufhängungen und lange Aufhängungen liefern mehr störende Eigenmoden in der Nachbarschaft der Nutzschwingung als kurze Aufhängungen. Die kardanische Aufhängung besitzt wegen der Ineinanderschachtelung zweier Resonatoren und wegen der zwangsläufig großen Abmessungen eine Fülle von parasitären Moden, an denen in Kombination Teile des äußeren Resonators und Teile des inneren Resonators beteiligt sind. Der MEMS-Konstrukteur ist daher stets gefordert trotz des eher ungünstigen Eigenfrequenzspektrums eine geeignete Abstimmung zu finden, die zwei möglichst ungestörte Nutz-Eigenmoden für die Scanachsen liefert.
    6. 6. Die durch den zu scannenden Laser induzierten thermischen Wechsellasten, insbesondere bei Videolaserprojektion, haben zur Folge, dass sich die Resonanzfrequenz des MEMS Spiegels in sehr kurzer Zeit verschieben kann, was Phasen- und Amplitudenveränderungen zur Folge hat und letztlich zu Bildfehlern führt. Bei einem Kardanscanner ist die thermische Isolationswirkung vergleichsweise hoch, was zur Folge hat, dass sich Wärmeeintrag in ungünstiger Weise an den dünnen Torsionsfedern staut. Die Ursache ist darin zu sehen, dass zwei Aufhängungspaare, die von Spiegel und Gimbal, hintereinandergeschaltet sind, ehe die Wärme über Wärmeleitung an den massiven Chiprahmen abgegeben werden kann. Das Problem wird im Allgemeinen noch dadurch verschärft, dass eine schnelle und eine langsame Achse miteinander kombiniert werden. Die langsame Achse wird üblicherweise durch eine sehr dünne und damit weiche Federaufhängung realisiert, welche den Wärmeabtransport behindert. Kürzere Distanzen mit höherem Gesamtquerschnitt zwischen Spiegelplatte und Chiprahmen wären zur Vermeidung von Amplituden- und Phasenschwankungen vorteilhafter.
  • Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, eine Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung und resonantem Betrieb zu schaffen, die die oben angegebenen Probleme verringert oder vermeidet und die trotz Lissajous-Abtastung eine gute Bildüberdeckung und Abtastauflösung zur Verfügung stellt.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die kennzeichnenden Merkmale des Hauptanspruchs in Verbindung mit den Merkmalen des Oberbegriffs gelöst.
  • Durch die in den Unteransprüchen angegebenen Maßnahmen sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen möglich.
  • Erfindungsgemäß umfasst die Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung einen in mindestens zwei Ablenkachsen schwingenden Mikrospiegel, der einen Rahmen und eine über eine Aufhängung beweglich angeordnete Spiegelplatte aufweist, und eine Ansteuervorrichtung zur Erzeugung von Ansteuersignalen für einen resonanten Betrieb des Mikrospiegels in den mindestens zwei Ablenkachsen, wobei die Aufhängung der Spiegelplatte mindestens eine Federn aufweist, die einerseits mit der Spiegelplatte und andererseits mit dem feststehenden Rahmen verbunden ist, und wobei die Ansteuerfrequenzen der Ansteuersignale für den resonanten Betrieb des Mikrospiegels in den mindestens zwei Ablenkachsen im Wesentlichen gleich sind und in ihrer Höhe durch eine vorgegebene Auflösung und eine vorgegebene Abtastwiederholrate bestimmt sind, aber sich mindestens um die vorgegebene Abtastwiederholrate unterscheiden.
  • Durch die vorliegende Erfindung werden die Schwierigkeiten herkömmlicher kardanisch aufgehängter Lissajous-Scanner vermieden, da die Aufhängung im einfachsten Falle allein auf die Spiegelplatte und die mindestens eine Feder beschränkt ist, die an dem feststehenden Rahmen befestigt sind. Der Verzicht auf einen umgebenden beweglichen Rahmen ermöglicht eine Verringerung der Abmessung, d.h., es wird das geschilderte Platzproblem gelöst. Die Chipgröße wird fast nur noch durch die aus optischen Randbedingungen gegebene Anforderung an den Durchmesser der Spiegelplatte definiert und ermöglicht damit ein preisgünstiges Bauelement.
  • Grundsätzlich kann bei einer einfachsten Form des Scanners bzw. der Ablenkvorrichtung nur eine einzige Feder für die orthogonale Abtastung verwendet werden, die gleiche Feder dient dann in einer Ablenk- oder Scanachse als Biegefeder und in der anderen Ablenkachse als Torsionsfeder. Allerdings muss dann üblicherweise eine schlechtere Performance in Kauf genommen werden. Daher ist es vorzuziehen, dass die Aufhängung mehrere Federn, vorzugsweise drei umfasst, wobei aber je nach Anwendung auch eine höhere Anzahl von Federn verwendbar ist.
  • Die Federn sind vorzugsweise Biege- und/oder Torsionsfedern und bevorzugt als Kreisbahnsegmente um die Spiegelplatte herum ausgebildet. Auch dies trägt zur Platzersparnis bei.
  • Insbesondere bei Verwendung eines hochgütigen Mikrospiegels, beispielsweise mit einem Gütefaktor von größer als 3000, weist dessen Amplitudengang eine starke Resonanzerhöhung und der entsprechende Phasengang einen starken Abfall, d.h. eine große Steigung auf. Daher ändert ein solcher hochgütiger Mikrospiegel bei festgehaltener Ansteuerfrequenz bzw. Schwingungsfrequenz schon bei kleinen Resonanzfrequenz-Verschiebungen in ganz erheblicher Weise seine Amplitude, d.h. dass z.B. kleine Temperaturveränderungen genügen, um die Ablenkvorrichtung bzw. den Mikrospiegel aus der Resonanz zu bringen. Dabei würde das Ansteuersignal mit der festen Ansteuerfrequenz nicht mehr beschleunigend, sondern abbremsend wirken. Daher weist in einem vorteilhaften Ausführungsbeispiel die Ansteuervorrichtung einen Regelkreis auf, der ausgebildet ist, abhängig von der gemessenen Phasenlage der Schwingungen des Mikrospiegels die Frequenz der Ansteuersignale der ersten und/oder der zweiten Ablenkachse so zu regeln, dass der steile Phasenabfall und/oder die maximale Amplitude der Schwingungen in dem Resonanzbereich des Mikrospiegels gehalten werden, d.h. Phase und/oder Amplitude im Wesentlichen konstant gehaltenwerden. Es hat sich aber erwiesen, dass eine temperaturbedingte Phasenregelung auch bei Mikrospiegeln niedrigerer Güte z.B. größer als 300 sinnvoll ist.
  • Die Vorgaben für den zulässigen Änderungsbereich der Amplitude sind von den Eigenschaften des Ablenkelements und von der Auflösung des Beobachtungsfeldes bestimmt. Beispielsweise ist der Änderungsbereich als Kehrwert der Minimalauflösung in einer Achse vorgegeben. Bei einer Definition unter Verwendung von Pixeln sollte sich die Amplitude vorzugsweise um weniger als eine „Pixelbreite“ ändern. Beispielsweise sollte sich die Amplitude des Ablenkelements im Falle einer Minimalauflösung von 480 x 640 Pixeln um weniger als 1/480 (0,00283) und 1/640 (0,00146) ändern. Vorzugsweise sollte die Amplitude sich um weniger als 1% ändern, noch bevorzugter um weniger als 0,5%, noch besser um weniger als 0,3% ändern.
  • Wie ausgeführt sind erfindungsgemäß die Ansteuerfrequenzen der Ansteuersignale für den resonanten Betrieb des Mikrospiegels in den zwei Ablenkachsen im Wesentlichen gleich und unterscheiden sich etwa um die vorgegebene Abtastwiederholrate, d.h. die hohen Resonanzfrequenzen für die zwei Ablenkachsen liegen nahe benachbart beieinander und sind in ihrer Höhe durch eine vorgegebene Auflösung und eine vorgegebene Abtastwiederholrate bestimmt.
  • Die minimale Höhe der zu wählenden Resonanzfrequenz ergibt sich für ein bidirektional projizierendes Display, bei welchem sowohl bei Hin- als auch bei Rückbewegung der Spiegeloszillation Daten projiziert werden, wie folgt, wobei im folgenden die Abtastwiederholrate als Bildwiederholratebezeichnet wird, da als Anwendungsbeispiel ein Laser-Projektionsscanner gewählt wird: f 1 = Bildwiederholrate ( Anzahl der Zeilen pro Bild ) / 2 + Differenzfrequenz
    Figure DE102011104556B4_0001
    f 2 = Bildwiederholrate ( Anzahl der Zeilen pro Bild ) / 2
    Figure DE102011104556B4_0002
  • Eine verschärfte Frequenzanforderung lässt sich formulieren, die nicht die Anzahl der Zeilen, sondern die jeweils größere Format-Dimension, im Allgemeinen also die Anzahl der Pixel pro Zeile heranzieht: f 1 = Bildwiederholrate ( Anzahl der Pixel pro  Zeile ) / 2 + Differenzfrequenz
    Figure DE102011104556B4_0003
    f 2 = Bildwiederholrate ( Anzahl der Pixel pro  Zeile ) / 2
    Figure DE102011104556B4_0004
  • Dabei ist die Anzahl der Zeilen bzw. der Pixel ein Maß für die Bildauflösung bzw. die Auflösung der Abtastung. Die Bildwiederholrate wird mit minimal 30Hz, sinnvoller jedoch mit 60Hz angegeben. Im Idealfall ist die Differenzfrequenz gerade gleich der Bildwiederholrate. Da die Ablenkvorrichtung eines Projektionsscanners jedoch abhängig von der auf sie eintreffenden Laserleistung ihre Resonanzfrequenz um typisch +/-0,1% ändern kann, ist es erforderlich, die Frequenz der Ansteuersignale in beiden Achsen, unabhängig voneinander, per Regelkreis entsprechend nachzuführen (Phase-Lock-Loop). Diese eher vernachlässigbare Frequenzschwankung kann in der Wahl der geeigneten Resonanzfrequenz berücksichtigt werden, indem die temperaturabhängige Frequenzbandbreite des Arbeitsbereiches der Ablenkvorrichtung doppelt auf den Minimal-Wert der Resonanzfrequenz aufgeschlagen wird, doppelt deshalb, weil im mathematisch ungünstigsten und real nahezu ausgeschlossenen Fall die Frequenzdrifts der beiden Achsen umgekehrte Vorzeichen besitzen könnten (eine laserinduzierte Erwärmung wird aber nicht die eine Mode erhöhen und die andere gleichzeitig erniedrigen): f 1 = Bildwiederholrate ( Anzahl der Zeilen pro  Bild ) / 2 + Differenzfrequenz + 2 * Bandbreite
    Figure DE102011104556B4_0005
    f 2 = Bildwiederholrate ( Anzahl der Zeilen pro  Bild ) / 2 + 2 * Bandbreite
    Figure DE102011104556B4_0006
  • Konkret kann für einen Laserprojektor-Scanner mit HD1080-Auflösung (1080 Zeilen ä 1920Pixel) und einer Bildwiederholrate von 60Hz folgende minimal erforderliche Resonanzfrequenz errechnet werden: f 1 = 60Hz 1080/2 + 60Hz + 2 0,001 ( 60Hz 1080/2+ 60Hz ) = 32525 Hz
    Figure DE102011104556B4_0007
    f 2 = 60Hz 1080/2 + 2 0,001 ( 60Hz 1080/2 ) = 32465 Hz
    Figure DE102011104556B4_0008

    Die minimale Differenzfrequenz würde somit weiterhin f1 - f2 = 60Hz betragen.
  • Um auf der sicheren Seite zu sein und eine hohe Ausbeute zu ermöglichen kann der Konstrukteur des Scanners einen Spiegel entwerfen, der eine Resonanzfrequenz von mindestens 33kHz in beiden Achsen besitzt. Die eigentliche Aufgabe besteht in der geeigneten Wahl des Designs dergestalt, dass die beiden Eigenmoden gegeneinander um einen nicht zu sehr von 60Hz abweichenden Wert differieren. Auch hier kann der Konstrukteur einen Sicherheitsabstand vorsehen, indem er die Verstimmung der beiden Eigenmoden mit einem entsprechenden Sicherheitsaufschlag versieht. Dieser wird maßgeblich durch die erzielbaren Fertigungstoleranzen bestimmt und setzt eine entsprechende Prozess-Qualifikation voraus. Iterativ lässt sich dann jedoch das Design so optimieren bis die Resonanzfrequenzen des Bauteils eine Differenz-Frequenz nahe oberhalb der angestrebten 60Hz zeigen. in einer solchen Prozess- und Design-Optimierung lässt sich erreichen, dass die Schwankungen der Resonanzfrequenzen weniger als 0,1% betragen. Anders als bei den temperaturinduzierten Schwankungen, können sich Fertigungstoleranzen auch mit entgegengesetztem Vorzeichen auf die Resonanzfrequenzen der beiden unterschiedlichen Achsen auswirken. Darum würde der Konstrukteur erneut die doppelte Frequenztoleranz auf die Zielfrequenz aufschlagen: f 1 = Bildwierderholrate ( Anzahl der Zeilen pro Bild ) / 2 + Differenzfrequenz + 2 Temperatur induzierte Bandbreite + 2 Fertigungstoleranzbandbreite
    Figure DE102011104556B4_0009
    f 2 = Bildwierderholrate ( Anzahl der Zeilen pro Bild ) / 2 + 2 Temperatur induzierte Bandbreite + 2 Ferti- gungstoleranzbandbreite
    Figure DE102011104556B4_0010
  • Die zunächst identische Auslegung der Federaufhängungen und die dann durchgeführte gezielte Abänderung zur Verstimmung begünstigt eine niedrige Zahl an Design-Iterationen zur Auffindung der optimalen Abstimmung.
  • Grundsätzlich lassen sich auch Abstimmungen realisieren, bei denen die resultierende Differenzfrequenz deutlich größer ist als die angestrebten 60Hz. Das hat nicht notwendigerweise gravierende Bildverschlechterungen zur Folge. Bei dieser Art der Lissajous-Projektion basierend auf zwei sehr schnellen Ablenkachsen tritt bei zu großer Differenzfrequenz (Differenz>Bildwiederholrate) innerhalb des Integrations-Intervalls von 1/60 Sekunde (hier angenommene Bildwiederholrate) eine relativ homogen verteilte Pixelausdünnung (Abtastlücken) auf. Diese Pixelorte werden demzufolge mit einer niedrigeren Wiederholrate als 60Hz abgetastet, was aber wegen der diffusen Verteilung dieser Orte für das Auge kaum wahrnehmbar ist. Dies ändert sich, wenn die Differenzfrequenz mehrere Kilohertz beträgt. Dann nämlich treten die Austastlücken als größere zusammenhängende Gebiete auf, die im menschlichen Auge als flackernde Areale wahrgenommen werden können. Falls der Konstrukteur aus bestimmten Gesichtspunkten heraus eine höhere Differenzfrequenz, z.B. 100Hz, erlauben will, dann kann er dies optimal dadurch kompensieren, dass er zugleich entsprechend höhere Resonanzfrequenzen f1 und f2 auslegt, entsprechend der obigen Kalkulationen.
  • Wie ausgeführt, sollte die Differenzfrequenz vorteilhafterweise mindestens oder gerade der Abtastwiederholfrequenz entsprechen, je nach Aufgabe der Ablenkvorrichtung bzw. des Scanners kann als Maximalwert für die Differenzfrequenz ein Wert zwischen 0,15 und 0,01, z.B. 0,05; 0,03, mal der Resonanzfrequenz f1 gewählt werden.
  • In einem Ausführungsbeispiel weist die Antriebsvorrichtung Antriebselektroden auf, die an dem Rahmen einerseits und an den Federn und/oder der Spiegelplatte andererseits angebracht sind, oder die Antriebsvorrichtung ist als piezoelektrischer Antrieb ausgebildet, dessen Aktuatoren auf den Federn angeordnet sind. Auch durch die genannten Anordnungen kann eine platzsparende Ausführung zur Verfügung gestellt werden. Durch die Kreisbahnsegmente kann eine kompakte Aufhängung geliefert werden und bei gleichzeitiger Anbringung der Elektroden an den um die Spiegelplatte herum kreisförmig angebrachten Federn kann für stets kleine Elektrodenabstände gesorgt werden, da beispielsweise Kammelektroden wie bei einem Reißverschluss nacheinander ineinandergreifen können und stets Überlappregionen garantieren.
  • Vorzugsweise sind die Federn rotations- oder spiegelsymmetrisch an der Spiegelplatte angebracht, beispielsweise vier jeweils um 90° um das Zentrum der Spiegelplatte gedreht vorgesehene Federn oder auch drei um je 120° um das Zentrum der Spiegelplatte gedreht vorgesehene Federn. Durch die symmetrische Anordnung kann die Zuordnung zu der x- und y- Achse leichter vorgenommen werden. Für die Zuordnung hat die vierbeinige Federaufhängung Vorteile, wobei jedoch für größere Ablenkwinkel die dreibeinige Federaufhängung vorzuziehen ist.
  • Durch die direkte Aufhängung des Spiegels bzw. der Spiegelplatte im Chiprahmen ist eine vorteilhafte thermische Anbindung mit kurzen Distanzen und großen Federquerschnitten möglich. Dadurch können die induzierten thermischen Wechsellasten verringert werden.
  • Dadurch, dass auf ein Gimbal bzw. eine kardanische Aufhängung verzichtet wird, wirken die Rückstellmomente nicht auf eine zweite Resonator-Struktur, sondern direkt auf den verwindungssteifen massiven Chiprahmen und liefern daher kein problematisches gegenphasiges Mitschwingen eines umgebenden Resonators. Die Anordnung weist stets ein äußerst günstiges Eigenmodenspektrum auf, denn die unerwünschten parasitären Eigenmoden, die bei einem kardanischen Scanner durch den Gimbal und dessen Koppelung mit dem Spiegel hervorgerufen werden, treten hierbei nicht auf. Mit der erfindungsgemäß sehr kompakten Ablenkvorrichtung für den Scanner lässt sich so auch ein bedeutend größerer Abstand zu parasitären Störmoden erzeugen, da die geringere laterale Ausdehnung des Mikrospiegels im Vergleich zu einem kardanisch aufgehängten System und die geringere Anzahl an schwingenden Massen und Feder-Elementen bei einer der Erfindung entsprechenden Ablenkvorrichtung einen besseren Abstand von parasitären Störmoden zu den eigentlichen Nutzmoden bewirkt.
  • Da das gesamte Ablenksystem trotz voller Funktionalität bei Verzicht auf einen Gimbal sehr viel kompakter zu realisieren ist als ein vergleichbarer kardanischer Scanner, ist in Folge der gleichzeitig geringeren zu bewegenden Masse bei gleicher Federsteifigkeit eine sehr viel höhere Resonanzfrequenz und somit zugleich auch eine größere Robustheit des Ablenksystems erzielbar. Neben der höheren Resonanzfrequenz trägt auch die Reduktion parasitärer Eigenmoden zur Steigerung der Robustheit bei.
  • Um ein vollständiges Bild innerhalb einer Periodendauer einer vorgegebenen Bild- oder Abtastwiederholfrequenz zu erzeugen, werden die Resonanzfrequenzen in beiden zueinander orthogonalen Ablenkachsen bei dem resonanten Betrieb der Lissajous-Abtastung so vorgegeben, dass zwei nahezu identische hohe Abtastfrequenzen gewählt werden, die ein vorgegebenes Zeilenfrequenz-Kriterium erfüllen, sich aber gerade um die Abtastwiederholrate unterscheiden. Das Zeilenfrequenz-Kriterium bestimmt, dass die Abtastfrequenz entsprechend der gewünschten Auflösung mindestens so groß ist wie die Anzahl der zu scannenden Zeilen, multipliziert mit der Abtast- oder Bildrate, also wären dies im Falle von SVGA-Auflösung (600 Zeilen ä 800 Pixel) 600 Zeilen multipliziert mit 60 Bildern pro Sekunde = 36000 Zeilen pro Sekunde. Im Falle einer bidirektionalen Projektion, bei der die Bilddaten während der Zeilenbewegung von links nach rechts projiziert werden, aber auch bei entsprechender Bewegung in umgekehrter Richtung, reduziert sich die Frequenzanforderung um den Faktor 2.
  • Erfindungsgemäß lässt sich die verlangte sehr geringfügige Unterscheidung der Resonanzfrequenzen vorteilhaft dadurch erzielen, dass mindestens eine der mehreren Federn eine zu den restlichen Federn unterschiedliche Federsteifigkeit aufweist. Die unterschiedliche Federsteifigkeit kann durch unterschiedliche Federgeometrie bestimmt sein; beispielsweise kann eine Änderung der Federbreite um einige wenige Mikrometer ausreichend sein. Dem Fachmann wird es stets gelingen, eine Federgeometrie und eine gezielte Abänderung einer der drei Federgeometrien so zu wählen, dass die gewünschte Abänderung z.B. hinsichtlich der Strukturbreite deutlich oberhalb der fertigungsbedingten Toleranz liegt, derart, dass der gewünschte Effekt einer Resonanzfrequenzverschiebung nicht im statistischen Rauschen des Fertigungsprozesses untergeht. Für eine Spiegelplatte mit vier orthogonalen, im 90°-Winkel zueinander angeordneten Federn kann der Fachmann im Sinne der Erfindung vorzugsweise ein einander gegenüberliegendes Federpaar geringfügig gegenüber den beiden übrigen Federn abändern. Diese Abänderung kann, wie schon erwähnt, in der Federbreite, aber auch in der Federlänge vorgenommen werden. Aufwendiger, aber ebenso gut möglich ist eine Änderung der Dicke oder eine gezielte Änderung der Materialeigenschaften der Feder.
  • Eine weitere Möglichkeit zur Anpassung der Abweichung der zwei Ansteuerfrequenzen liegt darin, dass das Trägheitsmoment der Spiegelplatten in den zwei Ablenkachsen verschiedenausgebildet wird. Beispielsweise kann die Abänderung des Trägheitsmoments durch eine elliptische Spiegelplatte zustande kommen, wobei dann alle Aufhängungen der Federn identisch gestaltet werden können.
  • Die beiden dicht benachbarten Resonanzfrequenzen führen zu einer Lissajous-Figur, welche sich erst nach sehr großer Zeit wiederholen kann, was bei geeigneter Wahl zu einer sehr guten Liniendichte führt. Wegen der eng benachbarten Frequenzen gibt es große Intervalle, innerhalb derer es keine ungünstigen Frequenzverhältnisse mit geringen Liniendichten gibt. Während Gimbal-Scanner meist mit einer sehr langsamen und einer sehr schnellen Achse ausgelegt werden, sind erfindungsgemäß zwei schnelle Ablenkachsen vorgesehen. Das hat den Vorteil, dass auf diese Weise sehr effektiv die Speckle-Problematik reduziert werden kann. Speckles sind ein unerwünschtes Nebenprodukt der Projektion mit kohärenter Laserstrahlung und reduzieren die Auflösung des projizierten Bildes. Einziges Mittel ist, dem Auge pro Zeiteinheit so viele Speckle-Muster wie möglich anzubieten, denn diese werden im Auge aufintegriert und gemittelt. Mit zwei sehr schnellen Achsen und großem Ablenkwinkel können sehr viele Speckle-Muster pro Zeiteinheit erzeugt werden.
  • Bei Ablenkvorrichtungen für Scanner zu Messzwecken gelten grundsätzlich die gleichen erfindungsgemäß angegebenen Berechnungsregeln, jedoch gibt es dort auch messtechnische Aufgabenstellungen, bei denen die Anforderungen in Bezug auf die Bildwiederholrate bzw. Abtastwiederholrate deutlich niedriger sind, da es gegebenenfalls keine physiologischen Einflussgrößen wie bei der Laserbildprojektion durch die Empfindlichkeit des Auges gibt.
  • Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt und wird in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Es zeigen
    • 1 einen schematischen Aufbau der erfindungsgemäßen Ablenkvorrichtung,
    • 2 eine schematische Aufsicht auf ein erstes Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäß verwendeten Mikrospiegels,
    • 3 eine schematische Aufsicht auf ein zweites Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäß verwendeten Mikrospiegels und
    • 4 eine schematische Aufsicht auf ein drittes Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäß verwendeten Mikrospiegels.
  • Die in 1 dargestellte erfindungsgemäße Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung weist einen Mikrospiegel 1 auf, der einen feststehenden Rahmen 2 und eine an Federn 3 aufgehängte Spiegelplatte 4 umfasst. Vorderseitig und rückseitig ist der Chiprahmen 2 mit jeweils einer Glasplatte 5 und 6 dicht abgeschlossen, derart, dass eine abgeschlossene Kammer 7 gebildet wird, in der die Spiegelplatte 4 schwingen kann und die vorzugsweise unter Vakuum steht. Über die durch die Federn 3 gebildete Aufhängung schwingt die Spiegelplatte in zwei orthogonal zueinander ausgebildeten Ablenkachsen, wobei die Schwingungen über feststehende, d.h. mit dem Rahmen 2 verbundene, und bewegliche, d.h. mit den Federn 3 oder der Spiegelplatte 4 verbundene Antriebselektroden erzeugt werden, die von einer Ansteuervorrichtung 8 mit Signalen einer Resonanzfrequenz f1 und einer Resonanzfrequenz f2 versorgt werden. Bei einem solchen resonanten Mikrospiegel 1 mit den Resonanzfrequenzen f1 und f2 wird bei einer Bestrahlung des Spiegels mit einem Lichtstrahl der abgelenkte Strahl in einer Abtastebene eine doppelperiodische Kurve durchlaufen, die im Wesentlichen als Lissajous-Kurve ausgebildet ist. Beispielhaft wird für den Antrieb auf einen elektrostatischen Antrieb Bezug genommen, bei dem die beweglichen und feststehenden Antriebselektroden ineinandergreifen und ein elektrostatisches Drehmoment erzeugen.
  • Die Ansteuervorrichtung 8 beinhaltet einen Regelkreis, der als Phasenregelkreis ausgebildet ist. Bei Änderung der Resonanzfrequenz(en), die aufgrund eines Wärmeeintrags auftreten kann regelt er die Phase und damit die Ansteuerfrequenz der Ansteuersignale für beide Achsen unabhängig voneinander so nach, dass die Ablenkvorrichtung mit ihren beiden Ablenkachsen im Wesentlichen bei Resonanz arbeitet. Zur Erfassung der Phasenlage ist eine Messvorrichtung (nicht dargestellt) vorgesehen, die die sinusförmige Auslenkung der Spiegelplatte 4 misst und der Regelkreis ändert in entsprechender Weise die Frequenz der Ansteuersignale.
  • In 2 ist eine schematische Aufsicht auf den Mikrospiegel 1 dargestellt, bei dem die Aufhängung der Spiegelplatte 4 durch drei kreissegmentartige Federn 3 realisiert ist, die an einem Ende 9 mit der Spiegelplatte 4 und an dem anderen Ende 10 mit dem verwindungssteifen massiven Chiprahmen 2 verbunden sind. Dabei sind jeweils die Federn 3 um je 120° um das Zentrum der Spiegelplatte 4 gedreht angebracht.
  • 3 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel eines Mikrospiegels 1 mit einer Aufhängung aus zwei Federn 3, ansonsten ist der Aufbau wie in 2.
  • Schließlich ist in 4 ein Mikrospiegel 1 mit einer vierbeinigen, spiegelsymmetrischen Aufhängung dargestellt. Die Federn 3 sind für jeden Aufhängungspunkt als Doppelfeder ausgebildet und weisen eine Umlenkung 12 auf, wodurch bei geringem Platzbedarf zugleich sehr lange Federn realisiert sind, die für große Auslenkungen erforderlich sind.
  • Abhängig von den Antriebs bzw. Ansteuersignalen schwingt die Spiegelplatte 4 durch Anregung und Überlagerung mindestens zweier Schwingungsmoden, und es wird ein darauf aufbauendes Lissajous-Abtastverfahren realisiert, welches sowohl für Video-Laserprojektion als auch für bildgebende sensorische Aufgaben eingesetzt werden kann.
  • Wie oben ausgeführt wurde, wird die Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung eingesetzt, wobei eine Lissajous-Kurve durch die folgenden Gleichungen definiert ist: x = x 0 sin ( 2 π f 1 t + φ 0 ) y = y 0 sin ( 2 π f 2 t )
    Figure DE102011104556B4_0011
  • Dabei ist t die Zeit, φ0 ist eine konstante Phase, die sich elektronisch einstellen lässt, und x0 und y0 sind die maximalen Auslenkungen der Abtastkurve in x- und y-Richtung, wobei für die weiteren Ausführungen x0 und y0 auf 1 normiert werden. Die Resonanzfrequenzen sind durch das Design vorgegeben, insbesondere durch die Federn 3.
  • Eine Lissajous-Kurve ist in bekannter Weise periodisch, wenn die Resonanzfrequenzen f1/f2 = r = p/q eine rationale Zahl ist, wobei p und q ganzzahlig ohne gemeinsamen Teiler sind. Die Periode von x ist T1 = 1/f1, und von y ist die Periode T2 = 1/f2. Da T1/T2 = q = p gilt, ist also TL = p T1 = q T2 die kleinste gemeinsame Periode von x und y. Dabei ist TL die Zeit, in der die Lissajous-Kurve sich wiederholt. Die Wiederholfrequenz der Lissajous-Kurve ist also f L = 1 T L = f 1 p = f 2 q
    Figure DE102011104556B4_0012
  • Die Anzahl der Knoten der periodischen Lissajous-Kurve beträgt q in x-Richtung und p in y-Richtung.
  • Für eine gleichmäßige Ausleuchtung bei einer Bildprojektion mit der erfindungsgemäßen Ablenkvorrichtung und damit Abtastauflösung sollen möglichst viele Knoten in der Abtastebene vorhanden sein. Bei vorgegebener Resonanzfrequenz f2 heißt dies, dass q eine möglichst große ganze Zahl sein sollte. Durch Untersuchungen hat sich erwiesen, dass Frequenzverhältnisse f1/f2 knapp unterhalb von 1 günstig sind, wobei allerdings die Resonanzfrequenz f1 nicht zu nahe an die Referenzfrequenz f2 heranrücken darf, da ansonsten die Abtastfläche oder Bildfläche nicht vollständig überstrichen wird. Die Periode TL der Lissajous-Figur sollte nicht länger als die Zeit sein, die für ein Bild bei einer Bildprojektion zur Verfügung steht, d.h., bei einer Bildfrequenz fB von 60 Hz sollte die Periode TL höchstens 1/60 s betragen. Als günstigste Periode wird daher angenommen, wenn die Wiederholfrequenz fL gleich der Bildfrequenz fB ist. Nach der Gleichung (2) gilt dann: q = f 2 /f B = 600
    Figure DE102011104556B4_0013
    p = q 1 = 599
    Figure DE102011104556B4_0014
    f 1 = f 2 ( q 1 ) / q = f 2 f B .
    Figure DE102011104556B4_0015
  • Die obigen Ausführungen betreffen idealisierte Zustände, die noch nicht berücksichtigen, dass temperaturbedingt und fertigungsbedingt Schwankungen der Frequenzen entstehen können. Selbst wenn eine Frequenzschwankung von 1%, z.B. aufgrund von Temperaturschwankungen, auftritt, wird bei den bestimmten Frequenzen f1 und f2 noch eine gute Auflösung zur Verfügung gestellt.
  • Im vorliegenden Ausführungsbeispiel wird somit eine Resonanzfrequenz für Schwingungen in der einen Ablenkrichtung von z.B. 18000 Hz und eine Resonanzfrequenz in der anderen Ablenkrichtung von 18060 Hz zur Verfügung gestellt, d.h., die zwei Resonanz- oder Ansteuerfrequenzen sind nahezu identisch hoch, unterscheiden sich aber gerade um die Wiederholfrequenz der Lissajous-Kurve, d.h. um die Bildwiederholrate. Diesen beispielhaft angegebenen Resonanzfrequenzen wird somit eine Auflösung von 600 Zeilen à 800 Pixel (SVGA-Auflösung) zugrunde gelegt, und bei einer Bildwiederholfrequenz mit 60 Bildern pro Sekunde ergibt sich eine Abtastung von 36000 Zeilen pro Sekunde. Wenn bidirektional abgetastet wird, reduziert sich die Frequenzanforderung um den Faktor 2, so dass bei dem genannten Beispiel daher eine minimale Zeilenfrequenz von 18 kHz erforderlich wäre.
  • Bei einem Ausführungsbeispiel entsprechend 2 lässt sich eine solche sehr geringfügige Unterscheidung der Resonanzfrequenzen vorteilhaft erzielen, indem zumindest eine der drei Federaufhängungen gezielt geringfügig abgeändert wird. Beispielsweise kann die Federbreite etwas geändert werden. Es kann aber auch die Federlänge bei einer Feder etwas geändert werden. Denkbar ist auch, dass die Dicke der Feder unterschiedlich gestaltet wird, und selbst die Materialeigenschaft einer der Federn kann unterschiedlich gewählt werden.

Claims (9)

  1. Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung mit einem in mindestens zwei Ablenkachsen schwingenden Mikrospiegel (1), der einen Rahmen (2) und eine über eine Aufhängung beweglich angeordnete Spiegelplatte (4) aufweist, und mit einer Ansteuervorrichtung (8) zur Erzeugung von Ansteuersignalen für einen resonanten Betrieb des Mikrospiegels (1) in den mindestens zwei Ablenkachsen, dadurch gekennzeichnet, dass die Aufhängung der Spiegelplatte (4) mehrere Federn (3) aufweist, die einerseits mit der Spiegelplatte (4) und andererseits mit dem feststehenden Rahmen (2) verbunden sind, und dass die Frequenzen der Ansteuersignale für den resonanten Betrieb des Mikrospiegels (1) in den mindestens zwei Ablenkachsen im Wesentlichen gleich sind und in ihrer Höhe durch eine vorgegebene Auflösung der Abtastung und eine vorgegebene Abtastwiederholrate bestimmt sind, aber sich mindestens um die vorgegebene Abtastwiederholrate unterscheiden, wobei zur Anpassung der Abweichung der zwei Ansteuerfrequenzen untereinander mindestens eine der mehreren Federn eine zu den restlichen Federn unterschiedliche Federsteifigkeit und/oder das Trägheitsmoment der Spiegelplatte in den zwei Ablenkachsen unterschiedlich ist.
  2. Ablenkvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Ansteuervorrichtung (8) einen Regelkreis umfasst, der ausgebildet, abhängig von einer gemessenen Phasenlage der Schwingungen des Mikrospiegels die Frequenz des Ansteuersignals der ersten und/oder der zweiten Ablenkachse so zu regeln, dass die maximale Amplitude der Schwingungen in dem Resonanzbereich des Mikrospiegels verbleibt und vorzugsweise sich dabei um weniger als den Kehrwert einer minimalen Auflösung ändert.
  3. Ablenkvorrichtung nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Aufhängung drei Federn (3) aufweist.
  4. Ablenkvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Federn (3) Biege- und/oder Torsionsfedern sind und vorzugsweise als Kreisbahnsegmente um die Spiegelplatte (4) herum ausgebildet sind.
  5. Ablenkvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die unterschiedliche Federsteifigkeit durch unterschiedliche Federgeometrien, wie Breite, Länge, Dicke und/oder unterschiedliche Materialeigenschaften bestimmt ist.
  6. Ablenkvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Geometrie der Spiegelplatte (4) bezüglich der zwei Ablenkachsen unterschiedlich ist und dass vorzugsweise die Spiegelplatte elliptisch ausgebildet ist.
  7. Ablenkvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Federn (3) rotations- oder spiegelsymmetrisch in Bezug auf die Spiegelplatte (4) angeordnet sind.
  8. Ablenkvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Ansteuervorrichtung Antriebselektroden umfasst, die an den Federn (3) und/oder der Spiegelplatte (4) angebracht sind, oder dass die Ansteuervorrichtung eine piezoelektrische Antriebseinheit aufweist, deren Aktuatoren auf den Federn (3) angeordnet sind.
  9. Ablenkvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass der Mikrospiegel (1) vakuumgekapselt ist, vorzugsweise auf Waferebene.
DE102011104556.6A 2011-06-15 2011-06-15 Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung Active DE102011104556B4 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011104556.6A DE102011104556B4 (de) 2011-06-15 2011-06-15 Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung
US13/494,463 US8711456B2 (en) 2011-06-15 2012-06-12 Deflection device for a scanner with Lissajous scanning
JP2012132549A JP6012276B2 (ja) 2011-06-15 2012-06-12 リサージュ走査を行うスキャナ用の偏向装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011104556.6A DE102011104556B4 (de) 2011-06-15 2011-06-15 Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102011104556A1 DE102011104556A1 (de) 2013-01-03
DE102011104556B4 true DE102011104556B4 (de) 2021-03-18

Family

ID=47353440

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102011104556.6A Active DE102011104556B4 (de) 2011-06-15 2011-06-15 Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung

Country Status (3)

Country Link
US (1) US8711456B2 (de)
JP (1) JP6012276B2 (de)
DE (1) DE102011104556B4 (de)

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102011104556B4 (de) 2011-06-15 2021-03-18 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung
DE102012222988B4 (de) * 2012-12-12 2021-09-23 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Mikromechanische Resonatoranordnung
CA2905537C (en) 2013-03-15 2021-09-14 Praevium Research, Inc. Widely tunable swept source
DE102013210059B4 (de) * 2013-05-29 2021-07-01 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung mit einer Feder und einem daran aufgehängten optischen Element
CN104977786B (zh) * 2014-04-02 2017-04-12 财团法人工业技术研究院 李沙育双轴扫描元件及其扫描频率产生方法
US10642027B2 (en) * 2015-12-08 2020-05-05 The Regents Of The University Of Michigan 3D MEMS scanner for real-time cross-sectional endomicroscopy
JP6811021B2 (ja) * 2016-03-15 2021-01-13 パイオニア株式会社 駆動装置及びミラー装置
TWI638419B (zh) 2016-04-18 2018-10-11 村田製作所股份有限公司 一種掃描鏡設備與其製造方法
EP3287830B1 (de) 2016-08-24 2023-04-12 Murata Manufacturing Co., Ltd. Abtastendes mems-reflektorsystem
DE102017200352A1 (de) * 2017-01-11 2018-07-12 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauteil, Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauteil und Verfahren zum Anregen einer Bewegung eines verstellbaren Teils um eine Rotationsachse
US11150464B2 (en) * 2017-06-13 2021-10-19 Mitsubishi Electric Corporation Optical scanning device and method of adjusting optical scanning device
EP3447560B1 (de) 2017-08-23 2021-02-24 Murata Manufacturing Co., Ltd. Mems-reflektorsystem
JP7092139B2 (ja) * 2017-09-27 2022-06-28 I-Pex株式会社 超音波センサ
JP6825612B2 (ja) 2017-11-13 2021-02-03 株式会社村田製作所 中央支持部を備えたmems反射器
JP6753449B2 (ja) 2017-11-24 2020-09-09 株式会社村田製作所 走査反射器システム
KR102614491B1 (ko) * 2018-03-26 2023-12-15 엘지전자 주식회사 전자기력 구동 방식을 이용한 Tripod MEMS 스캐너
JP6870699B2 (ja) * 2018-05-03 2021-05-12 株式会社村田製作所 拡大された画像領域を備える走査光学デバイス
CN108983242B (zh) * 2018-08-28 2021-02-23 山东师范大学 基于动态李萨如图的超声波纳米精度测量装置及测量方法
IT201900004199A1 (it) * 2019-03-22 2020-09-22 St Microelectronics Srl Struttura microelettromeccanica di specchio risonante biassiale ad attuazione piezoelettrica con migliorate caratteristiche
DE102020008076B4 (de) 2020-06-23 2022-03-24 OQmented GmbH Glassubstratbasierte mems-spiegelvorrichtung und verfahren zu ihrer herstellung
DE102020116511B4 (de) 2020-06-23 2022-03-24 OQmented GmbH Glassubstratbasierte MEMS-Spiegelvorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung
CN116457715A (zh) * 2020-11-13 2023-07-18 华为技术有限公司 用于lissajous扫描的偏转设备
US11835710B2 (en) * 2020-12-15 2023-12-05 Infineon Technologies Ag Method of mode coupling detection and damping and usage for electrostatic MEMS mirrors
DE102021116165B3 (de) 2021-06-22 2022-10-20 OQmented GmbH Lissajous-mikroscanner mit zentraler spiegelaufhängung und verfahren zu seiner herstellung
DE102021116151B3 (de) * 2021-06-22 2022-06-02 OQmented GmbH Projektionssystem zum projizieren von lissajous-figuren und mikroscanner mit gekoppelten oszillatoren
DE102021116121B3 (de) * 2021-06-22 2022-10-20 OQmented GmbH Mikroscanner mit mäanderfederbasierter spiegelaufhängung
DE102021126360A1 (de) 2021-10-12 2023-04-13 Lpkf Laser & Electronics Aktiengesellschaft Verfahren zur Bearbeitung eines Werkstücks durch Laserstrahlung in Form von Lissajous-Figuren sowie ein hierfür bestimmter Scanner und ein Spiegelelement
DE102022111185B3 (de) 2022-05-05 2023-06-29 OQmented GmbH Mikroscanner mit einem ablenkelement und zu diesem hin gewölbten federelementen zur schwingungsfähigen aufhängung des ablenkelements
DE102022005022A1 (de) 2022-05-05 2023-11-09 OQmented GmbH Mikroscanner mit einem ablenkelement und zu diesem hin gewölbten federelementen zur schwingungsfähigen aufhängung des ablenkelements

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6838738B1 (en) * 2001-09-21 2005-01-04 Dicon Fiberoptics, Inc. Electrostatic control of micro-optical components
EP1419411B1 (de) * 2001-10-05 2005-01-19 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Projektionsvorrichtung
JP2006020092A (ja) * 2004-07-01 2006-01-19 Victor Co Of Japan Ltd 光検出装置
US20060076417A1 (en) * 2004-08-30 2006-04-13 Jean-Louis Massieu Apparatus for diagonal progressive scanning video and method of improving aiming visibility, reducing tilt dependence and improving read range
DE102007058239A1 (de) * 2007-12-04 2009-06-10 Robert Bosch Gmbh Mikrospiegelvorrichtung und Herstellungsverfahren für eine entsprechende Mikrospiegelvorrichtung
US20100237737A1 (en) * 2005-07-07 2010-09-23 Siyuan He Optimized bi-directional electrostatic actuators

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002221673A (ja) * 2001-01-26 2002-08-09 Olympus Optical Co Ltd アクチュエータを備えた光学ユニット
JP2002307396A (ja) * 2001-04-13 2002-10-23 Olympus Optical Co Ltd アクチュエータ
JP4286553B2 (ja) * 2003-02-06 2009-07-01 日本信号株式会社 プレーナー型アクチュエータ
JP4432406B2 (ja) * 2003-08-13 2010-03-17 日本ビクター株式会社 光検出装置及び方法
US7442918B2 (en) * 2004-05-14 2008-10-28 Microvision, Inc. MEMS device having simplified drive
JP2007264138A (ja) * 2006-03-27 2007-10-11 Sumitomo Precision Prod Co Ltd Memsアクチュエータ
JP2010085819A (ja) * 2008-10-01 2010-04-15 Hitachi Metals Ltd 投射型表示装置
DE102011104556B4 (de) 2011-06-15 2021-03-18 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6838738B1 (en) * 2001-09-21 2005-01-04 Dicon Fiberoptics, Inc. Electrostatic control of micro-optical components
EP1419411B1 (de) * 2001-10-05 2005-01-19 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Projektionsvorrichtung
JP2006020092A (ja) * 2004-07-01 2006-01-19 Victor Co Of Japan Ltd 光検出装置
US20060076417A1 (en) * 2004-08-30 2006-04-13 Jean-Louis Massieu Apparatus for diagonal progressive scanning video and method of improving aiming visibility, reducing tilt dependence and improving read range
US20100237737A1 (en) * 2005-07-07 2010-09-23 Siyuan He Optimized bi-directional electrostatic actuators
DE102007058239A1 (de) * 2007-12-04 2009-06-10 Robert Bosch Gmbh Mikrospiegelvorrichtung und Herstellungsverfahren für eine entsprechende Mikrospiegelvorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
US8711456B2 (en) 2014-04-29
US20120320379A1 (en) 2012-12-20
DE102011104556A1 (de) 2013-01-03
JP6012276B2 (ja) 2016-10-25
JP2013003583A (ja) 2013-01-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102011104556B4 (de) Ablenkvorrichtung für einen Scanner mit Lissajous-Abtastung
DE102013223933B4 (de) Resonanz-Mikrospiegelanordnung
DE102007021920B4 (de) Vorrichtung zum Entewerfen eines mikromechanischen Bauelements mit angepasster Empfindlichkeit, Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements und eines mikromechanischen Systems
DE102007001516B3 (de) Mikromechanisches Bauelement mit einstellbarer Resonanzfrequenz durch Geometrieänderung und Verfahren zum Betreiben desselben
DE102009058762A1 (de) Ablenkeinrichtung für eine Projektionsvorrichtung, Projektionsvorrichtung zum Projizieren eines Bildes und Verfahren zum Ansteuern einer Ablenkeinrichtung für eine Projektionsvorrichtung
EP3345034B1 (de) Anregung von fasern mit biegepiezoaktuatoren
DE102010000818B4 (de) MEMS-Resonatorbauelemente
DE102018216611B4 (de) MEMS-Bauelement mit Aufhängungsstruktur und Verfahren zum Herstellen eines MEMS-Bauelementes
DE102008059634B4 (de) Mikromechanischer Aktuator mit elektrostatischem Kamm-Antrieb
EP3602105B1 (de) Winkelmagnetfeldsensor für scanner
DE102008012825A1 (de) Mikromechanisches Bauelement mit verkippten Elektroden
DE102018220000B4 (de) Abtastreflektorsystem
DE102016014001A1 (de) MEMS Scanmodul für einen Lichtscanner
DE102011089514A1 (de) Mikrospiegel
WO2015121037A1 (de) Spiegelanordnung und projektionseinrichtung
WO2016113251A1 (de) Mems aktuator, system mit einer mehrzahl von mems aktuatoren und verfahren zum herstellen eines mems aktuators
EP4285176A1 (de) Projektionssystem zum projizieren von lissajous-figuren und mikroscanner mit gekoppelten oszillatoren
EP3602127A1 (de) Scanner mit zwei sequentiellen scaneinheiten
DE102012212953A1 (de) Spiegelanordnung für eine Lithographieanlage
DE102016010448B4 (de) Faser-basierter Laser-Scanner
DE102021116121B3 (de) Mikroscanner mit mäanderfederbasierter spiegelaufhängung
DE102022111185B3 (de) Mikroscanner mit einem ablenkelement und zu diesem hin gewölbten federelementen zur schwingungsfähigen aufhängung des ablenkelements
DE102017217009B3 (de) MEMS-Vorrichtung sowie entsprechendes Betriebsverfahren
DE102022005022A1 (de) Mikroscanner mit einem ablenkelement und zu diesem hin gewölbten federelementen zur schwingungsfähigen aufhängung des ablenkelements
DE112021006656T5 (de) Phasen-synchronisationsschaltung und steuersystem

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final