DE102008022222B3 - Gasmessanordnung mit einer offenen optischen Messstrecke - Google Patents

Gasmessanordnung mit einer offenen optischen Messstrecke Download PDF

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Abstract

Die Erfindung betrifft eine Gasmessanordnung mit offener optischer Messstrecke. Die Messanordnung (1) mit einer offenen Messstrecke (7) wird aus einem Messgerät (5) mit einer Anordnung von Linsen (10, 12, 19, 24), einer Phasenmaske (22), einem schräg stehenden Spiegel (16) und einem außerhalb des Messgerätes (5) am Ende der offenen Messstrecke (7) befindlichen Reflexionsspiegel (3) gebildet. Die Lichtauskopplung zu einem Detektor (26) erfolgt über eine Phasenmaske (22) und einen Spiegel (16), wobei die Phasenmaske (22) einen Lichtintensitätspunkt aufweitet und der Lichtintensitätsring durch einen schräg stehenden Spiegel (16) zu einem Detektor (26) hin ausgekoppelt wird.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Gasmessanordnung mit einer sich im Freifeld befindenden offenen optischen Messstrecke. Ein Gassensor mit einem Laser als Lichtquelle ist beispielsweise aus der US 5 339 155 A bekannt, worin eine Gasmessanordnung mit einer offener Messstrecke ("Open-Path-Sensor") beschrieben ist, bei der Laserlicht über einen halbdurchlässigen Spiegel und einen schrägstehenden Spiegel auf einen Hohlspiegel und von dort als paralleles Lichtbündel auf einen entfernt stehenden Reflektor gerichtet wird. Von dem Reflektor wird das Laserlicht reflektiert und die Messstrecke erneut durchlaufen, woraufhin das reflektierte Laserlicht wieder auf den Hohlspiegel fällt, der das reflektierte Licht auf den schräg stehenden Spiegel fokussiert. Von dem schrägstehenden Spiegel läuft das reflektierte Laserlicht dem ursprünglich eingekoppelten Laserlicht nun entgegen.
  • Ein Teil des reflektierten Laserlichts wird dann von dem halbdurchlässigen Spiegel auf einen Detektor geworfen, während ein anderer Teil verlorengeht.
  • Diese Anordnung aus Hohlspiegel, schräg stehendem Auskopplungsspiegel im Brennpunkt des Hohlspiegels und Detektor entspricht im Prinzip dem Aufbau eines Newton-Teleskopes, wobei zusätzlich ein halbdurchlässiger Spiegel im Strahlengang zur Einkopplung von Laserlicht bzw. zur Auskopplung von reflektiertem Licht auf den Detektor vorgesehen ist.
  • Die Analyse gasförmiger Gemische hat sowohl in der Umweltanalytik als auch in der Prozessleit- und Überwachungstechnik eine zunehmende Bedeutung erlangt. Die Anforderungen an die Messsysteme hinsichtlich der Messempfindlichkeit, Selektivität, Langzeitstabilität, Wartungsintervallabständen und Lebensdauer steigen mit dem zunehmenden Automatisierungsgrad in der Industrie und Umweltüberwachung.
  • Um beispielsweise in der Umweltanalytik oder in der Überwachungstechnik austretendes Gas möglichst schnell erkennen zu können, ist es wünschenswert, die zu überwachenden Bereiche möglichst engmaschig und großflächig abzudecken. Dazu kann eine große Anzahl lokal eng begrenzt messender Sensoren dienen, die über Datenverbindungen miteinander verbunden sein können.
  • Weitaus vorteilhafter und effektiver sind jedoch optisch abbildende Gassensoren, bei denen das abgestrahlte Licht über große Messstrecken ausgerichtet wird und wobei die Absorption des reflektierten Lichts den gasartspezifischen Messeffekt darstellt. Solche Systeme erlauben Angaben über die mittlere Gaskonzentration in der Messstrecke.
  • Die Länge der Messtrecke ist dabei einerseits durch die Lichtverluste auf der Messstrecke selbst beschränkt, weitere wesentliche Einschränkungen ergeben sich aus den Verlusten, die durch die optischen Komponenten, wie etwa den Hohlspiegel, den Reflektor und die Linsensysteme auftreten. Zur Verringerung der Streuverluste muss der ausgesendete Lichtstrahl über die gesamte Länge der Messstrecke als parallel verlaufendes Lichtbündel zum Reflektor gelangen. Laser und auch Laserdioden sind als Lichtquellen für derartige Messsysteme gut geeignet, da sie gegenüber den thermischen Lichtquellen eine Reihe von Vorteilen aufweisen, die sie für die Gasmessung empfehlenswert machen: Hohe spektrale Intensität, hohe Strahlqualität, schmalbandige spektrale Emissionsbreite, gute Modulationseigenschaften, guter opto-elektrischer Wirkungsgrad.
  • Wie oben erwähnt, sind Gassensorsysteme mit offener Messstrecke mit abbildender Spiegelanordnung auf Basis eines Newton-Teleskopaufbaus bekannt. Nachteilig an den bekannten Systemen ist, dass sich die Strahlung abschwächende optische Elemente wie Spiegel und Strahlteiler im Hauptstrahlengang befinden und somit unvermeidbar zu einem Verlust an Lichtintensität führen.
  • Wird zur Strahlteilung ein Polarisationsstrahlteiler verwendet, so ist es erforderlich, dass die Polarisation des abgestrahlten Lichts durch die Messstrecke selbst und den Reflexionsspiegel nicht verändert wird, da sonst die Voraussetzung zu einer verlustarmen Auskopplung des reflektierten Lichts auf den Detektor nicht gegeben sind.
  • Da weder die Messstrecke noch der Reflexionsspiegel die Polarisation unbeeinflusst lassen, hat das zur Folge, dass ein Verlust an Lichtintensität im Polarisationsstrahlteiler entsteht, der die Lichtintensität des ausgekoppelten reflektierten Lichts herabsetzt. Dies wiederum beeinflusst die vom Detektor auswertbare Messung der Gaskonzentration hinsichtlich der Auflösung, da das Ausgangssignal des Detektors von der Lichtintensität des auftreffenden Lichts einerseits bestimmt wird Die insgesamt auf Basis des Ausgangssignals erreichbare Messauflösung des Messsystems wird zusätzlich noch durch den Signal/Rauschabstand des Detektors bestimmt. Das Gleiche gilt für Linsensysteme zur Strahlauskopplung, so dass grundsätzlich eine Abschwächung oder Verminderung der dem Detektor zur Messung zugeführten Lichtmenge und damit des verfügbaren Ausgangssignals eintritt.
  • Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Gasmessanordnung für eine offene Messtrecke mit geringem Intensitätsverlust bei der Auskopplung des reflektierten Lichts anzugeben.
  • Die Aufgabe wird gelöst mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1.
  • Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den Unteransprüchen aufgeführt.
  • Die erfindungsgemäße Anordnung besteht aus einer Lichtquelle, aus einer ersten Linse, einer zweiten Linse, einem schräg stehenden Spiegel mit einem zentrischen kreisförmigen Loch, einer dritten Linse, einer Phasenmaske und einem Reflexionsspiegel, sowie einer vierten Linse und einem Detektor. Zwischen der Phasenmaske und dem Reflexionsspiegel ist die offene Messstrecke angeordnet. Der Reflexionsspiegel am Ende der Messstrecke wird von einem Lichtbündel im Wesentlichen ganzflächig ausgeleuchtet. Das Laserstrahlbündel durchläuft eine Anordnung aus erster und zweiter Linse und tritt anschließend durch eine mittig in dem Spiegel vorgesehene kreisrunde Öffnung hindurch, wird durch die dritte Linse zu einem schwach divergenten, im Wesentlichen parallelen Lichtbündel geformt und durch die Phasenmaske hindurch auf den entfernt angeordneten Reflexionsspiegel als leicht divergentes Lichtbündel gerichtet.
  • Der Spiegel mit seinem Mittelpunkt und der Öffnung befindet sich für das abgestrahlte Lichtbündel im Brennpunkt der zweiten Linse, für das reflektierte Lichtbündel befindet sich der Mittelpunkt des Spiegels im Brennpunkt der dritten Linse. Der Reflexionsspiegel reflektiert das Lichtbündel als ein konvergentes Lichtbündel zurück, die Phasenmaske bewirkt im Brennpunkt der dritten Linse eine Aufweitung des reflektierten punktförmigen Lichtbündels, des sogenannten Spots, zu einem kreisförmigen Ring, dem sogenannten Doughnut, in dessen Zentrum sich eine dunkle Zone geringster Lichtintensität befindet. Im idealen Fall wirkt die Phasenmaske so, dass im Zentrum des Ringes keine Lichtenergie vorhanden ist und die Ausdehnung der Zone geringster Lichtintensität im Brennpunkt der dritten Linse groß gegenüber der kreisrunden Öffnung des schräg stehenden Spiegels ist. Phasenmasken und Spiralphasenmasken solcher Art sind z. B. aus „Mode-matched Phase diffractive optical element for detecting laser modes with spiral phases", M. Golub, L. Shimski, N. Davidson, A. Friesem, Applied Optics/Vol. 46 Nr. 32, 2007 Seiten 7823–7828 bekannt. Ist der kreisförmige Lichtring mit seinem inneren Durchmesser größer als die Öffnung im Spiegel, die beispielsweise mit einem Durchmesser von 5–10 μm ausgeführt ist, so wird der Lichtring aus dem reflektierten Lichtbündel durch den Spiegel ausgekoppelt.
  • Damit kann das reflektierte Licht nicht durch den schräg stehenden Spiegel zurück zur Lichtquelle gelangen, das reflektierte Licht wird daher durch den schräg stehenden Spiegel nahezu verlustfrei und vollständig aus der Messstrecke ausgekoppelt und über die vierte Linse dem Detektor zugeführt. Eine Auswerteeinheit ermittelt aus den Signalen des Detektors eine korrespondierende Gasmenge der offenen Messstrecke.
  • Diese Anordnung bewirkt mehrere Vorteile:
    Zum ersten, da kein reflektiertes Licht zur Lichtquelle zurückgefangen kann, kann der Betrieb und die Steuerung des Lasers nicht beeinflusst oder gestört werden.
  • Zum zweiten ist die Verwendung eines Strahlteilers mit Lichtverlust, etwa in Form einer optischen Diode oder eines Polarisationsstrahlteilers im Strahlengang zur Aufteilung von abgestrahltem und reflektiertem Licht nicht erforderlich. Dadurch tritt auch keine Verminderung der Lichtintensität durch die Elemente der Strahlteilung auf. Die Lichtquelle der Messanordnung ist in bevorzugter Weise in Form eines Festkörperlasers, Halbleiterlasers, einer Laserdiode oder einer Gasentladungslampe ausgeführt.
  • In bevorzugter Weise ist der schräg stehende Spiegel in einem Winkel von 45° zur optischen Abstrahlrichtung angeordnet. In einer alternativen Variante ist aber auch ein Winkelbereich von 10° bis 60° zur optischen Abstrahlrichtung ausführbar.
  • In einer alternativen Ausgestaltung ist der Reflexionsspiegel nicht an einer entfernt liegenden Wand angebracht, sondern an einem mit dem Messgerät verbundenen Gehäuseteil, wobei die optische Messstrecke über eine an dem Gehäuseteil angebrachte Abdeckung vor einer Messsignalbeeinflussung durch Regen oder Schnee geschützt wird.
  • In einer bevorzugten Ausführungsform kann die Phasenmaske mit der dritten Linse als ein gemeinsames Bauteil ausgeführt sein.
  • In einer besonderen Ausgestaltungsvariante ist die Phasenmaske als Spiralphasenmaske ausgebildet.
  • Die Formel 1 beschreibt in komplexer Schreibweise in Exponentialform die Ausbildung des Doughnuts durch eine Phasenänderung P des Lichts durch die Spiralphasenmaske in der besonderen Ausgestaltungsvariante. P(r, ϕ) = r·ej·n·ϕ mit n: 1, 2, ... Formel 1,
  • Die Variable n ist ein Element aus dem Zahlenbereich der natürlichen Zahlen und beschreibt die Steigung der Spirale je Kreisumdrehung von 2π.
  • Die Variablen r und ϕ sind Polarkoordinaten, j stellt die imaginäre Einheit der komplexen Zahlen dar.
  • In einer alternativen Ausführung kann der Reflexionsspiegel als eine Anordnung einer Vielzahl von Retroreflektoren ausgeführt sein.
  • In einer weiter bevorzugten Ausführungsform kann der Spiegel als beschichtete Glasplatte oder Siliziumplatte ausgeführt sein, bei der zentrisch eine unbeschichtete Zone als Durchlassöffnung im Bereich von 5–10 μm für den Durchtritt des abgestrahlten Lichtbündels frei gehalten wird. Die Beschichtung kann dabei durch Beschichtungsverfahren der Mikrosystemtechnik, wie beispielsweise physikalische Gasphasenabscheidung (PVD, Sputtering), oder durch chemische Gasphasenabscheidung (CVD) in Kombination mit nachfolgender galvanischer Beschichtung erfolgen. Die Strukturierung der unbeschichteten Zonen kann dabei durch Fotolack-Maskierung mittels fotolithografischer Verfahren erfolgen.
  • Die vorliegende Erfindung wird im Folgenden durch ein Ausführungsbeispiel anhand der 1 bis 4 näher beschrieben.
  • Es zeigen:
  • 1 Eine Darstellung der erfindungsgemäßen Anordnung zur Gasmessung mit einer Phasenmaske und einer offenen Messstrecke
  • 1a Den Weg des abgestrahlten Lichts der erfindungsgemäßen Anordnung nach 1
  • 1b Den Weg des reflektierten Lichts der erfindungsgemäßen Anordnung nach 1
  • 2 Eine Darstellung des reflektierten Lichtbündels am Ort des Spiegels
  • 3 Eine Darstellung einer Ausführung des schräg stehenden Spiegels in Form einer beschichteten Glasplatte
  • 4 Eine alternative Messanordnung gemäß 1.
  • In 1 ist eine erfindungsgemäße Messanordnung 1 zur Gasmessung mit einer offenen Messstrecke 7 dargestellt. Die erfindungsgemäße Messanordnung 1 besteht aus einem Messgerät 5, der offenen Messstrecke 7 und einem an einer Wand 4 angebrachten Reflexionsspiegel 3 außerhalb des Messgerätes 5.
  • In der offenen Messstrecke 7 befindet sich eine Gasmenge 2, welche durch die erfindungsgemäße Messanordnung 1 detektiert werden kann.
  • Das Messgerät 5 besteht aus einem Gehäuse 6 mit einer Lichtaustrittsöffnung 23, den Komponenten zur Lichtabstrahlung: einer Lichtquelle 15, einer Anordnung einer ersten, zweiten und dritten Linse 10, 12, 19, einem schräg stehenden Spiegel 16 mit einer zentrischen Öffnung 17 und einer zur offenen Messstrecke 7 hin weisenden Spiegelfläche 29, sowie einer Phasenmaske 22, die auf einer ersten optischen Achse 8 ausgerichtet sind.
  • Weitere Komponenten des Messgerätes 5 zur Erfassung des reflektierten ausgekoppelten Lichts sind eine vierte Linse 24 und ein Detektor 26,
    die auf einer zweiten optischen Achse 9 ausgerichtet sind,
    sowie eine Auswerteeinheit 28, die über eine Daten- und Versorgungsleitung 27 mit dem Detektor 26 verbunden ist.
  • Der Weg des von der Lichtquelle 15 abgestrahlten Lichts durch die Messanordnung 1 nach 1 wird anhand der 1a dargestellt und im Folgenden näher beschrieben. Die Bezifferungen der Abstände der Linsen und deren Brennweiten entsprechen dabei den Bezifferungen in 1.
  • Eine Lichtquelle 15 ist im Brennpunkt einer plankonvexen ersten Linse 10 der ersten Brennweite {F1} 11 angeordnet, die Lichtquelle 15 erzeugt ein erstes Lichtbündel 30, welches über die erste Linse 10 zu einem parallelen zweiten Lichtbündel 31 kollimiert wird.
  • In einem ersten Abstand 14 ist eine plankonvexe zweite Linse 12 mit einer zweiten Brennweite {F2} 13 angeordnet. Im Brennpunkt der zweiten Linse 12 ist ein im Winkel 18 von 45° zur Abstrahlrichtung schräg stehender Spiegel 16 mit einer Spiegelfläche 29 und einer Öffnung 17 angeordnet.
  • Die zweite Linse 12 fokussiert das zweite Lichtbündel 31 zu einem dritten Lichtbündel 32, welches im Brennpunkt der zweiten Linse 12 mit dem Abstand der zweiten Brennweite {F2} 13 durch die Öffnung 17 des Spiegels 16 als ein viertes Lichtbündel 33 aus dem Spiegel 16 austritt. Durch die Dimensionierung der zweiten Brennweite {F2} 13 der zweiten Linse 12 kann die Größe des dritten Lichtbündels am Ort der Öffnung 17 des Spiegels 16 variiert werden.
  • Eine plankonvexe dritte Linse 19 ist vom Spiegel 16 mit dem Abstand einer dritten Brennweite {F3} 20 der dritten Linse 19 angeordnet.
  • Das vierte Lichtbündel 33 wird durch die dritte Linse 19 mit der dritten Brennweite {F3} 20 nochmals zu einem fünften Lichtbündel 34 kollimiert und gelangt durch eine im zweiten Abstand 21 angeordnete Phasenmaske 22, durch diese Phasenmaske 22 in der Phase erstmalig verändert, als ein sechstes Lichtbündel 35 über die offene Messstrecke 7 zu einem Reflexionsspiegel 3.
  • Der Weg des reflektierten Lichts vom Reflexionsspiegel 3 zum Detektor 26 wird anhand der 1b dargestellt und im Folgenden näher beschrieben.
  • Die Bezifferungen der Abstände der Linsen und deren Brennweiten entsprechen dabei den Bezifferungen in 1.
  • Der Reflexionsspiegel 3 reflektiert das Licht als ein siebtes Lichtbündel 36 zurück. Durch die Phasenmaske 22 wird das siebte Lichtbündel 36 in seiner Phase zum zweiten Mal verändert und als achtes Lichtbündel 37 der dritten Linse 19 zugeführt. Die Formänderung, welche das siebte Lichtbündel 36 durch die Phasenmaske 22 im Brennpunkt der dritten Linse 19 erfährt, ist durch die in 2 dargestellte erste zweidimensionale Ansicht 43 des achten Lichtbündels 37 in Form eines Lichtintensitätsringes 41 mit zentrischem Dunkelpunkt 42 dargestellt. Die ebenfalls in 2 dargestellte zweite zweidimensionale Abbildung 44 eines Lichtintensitätspunktes 45 entspricht einer unveränderten Phasenlage des siebten Lichtbündels 36 im Brennpunkt der dritten Linse 19, d. h. einer Messanordnung 1 ohne eine Phasenmaske 22.
  • Durch die Phasenmaske 22 und die dritte Linse 19 gelangt das Licht als ein neuntes Lichtbündel 38 zum Spiegel 16. Der Spiegel 16 ist mit seinem Mittelpunkt im Brennpunkt der dritten Brennweite {F3} 20 der dritten Linse 19 angeordnet.
  • Da der Lichtintensitätsring 41 in seiner Abmessung größer ist als die Öffnung 17 des Spiegels 16, wird er durch die Spiegelfläche 29 des Spiegels 16 als zehntes Lichtbündel 39 seitlich ausgekoppelt und gelangt somit nicht durch die Öffnung 17 des Spiegels 16 zurück zur Lichtquelle 15.
  • Eine bi-konvexe vierte Linse 24 fokussiert das zehnte Lichtbündel 39 als ein elftes Lichtbündel 40 auf dem Detektor 26.
  • Der Detektor 26 erfasst die Intensität des elften Lichtbündels 40 und gibt das Erfassungssignal über die Daten- und Versorgungsleitung 27 an die Auswerteeinheit 28. Die sich entlang der offenen Messstrecke 7 befindende Gasmenge 2 beeinflusst in Abhängigkeit von den in der Gasmenge 2 enthaltenen Gasen und deren Konzentrationen die spektralen Intensitäten des erfassten Lichts und damit das Ausgangssignal des Detektors 26.
  • Die Auswerteeinheit 28 bestimmt daraus die korrespondierende Gasmenge 2.
  • In 2 ist die Formänderung eines Lichtbündels durch die Phasenmaske 22 als erste zweidimensionale Ansicht 43 in Form eines Lichtintensitätsringes 41 mit zentrischem Dunkelpunkt 42 dargestellt. Die erste zweidimensionale Ansicht 43 entspricht dabei einer Darstellung, wie sie auch in „Mode-matched Phase diffractive optical element for detecting laser modes with spiral phases", M. Golub, L. Shimski, N. Davidson, A. Friesem, Applied Optics/Vol. 46 Nr. 32, 2007 Seite 7826, zu finden ist. Die zweite zweidimensionale Abbildung 44 in 2 zeigt einen Lichtintensitätspunkt 45 bei ohne Beeinflussung durch eine Phasenmaske 22.
  • In 3 ist eine Glasplatte 52 abgebildet, deren Oberfläche mit einer Beschichtung 50 versehen ist, die so strukturiert ist, dass eine unbeschichtete Zone 51 ausgebildet ist, die als Öffnung 17 für den Lichtdurchtritt durch den Spiegel 16 wirkt.
  • In 4 ist eine alternative Messanordnung 53 gemäß 1 abgebildet. Gleiche Komponenten sind dabei mit gleichen Bezugsziffern gekennzeichnet. Der Reflexionsspiegel 3 ist über eine Halterung 55 an einem mit dem Messgerät 5 verbundenen Gehäuseteil 54 angeordnet, wobei eine innere Messstrecke 57 unmittelbar am Messgerät 5 angeordnet ist über eine Abdeckung 56 oberseitig vor Witterungseinflüssen bewahrt wird.
  • Die Abdeckung (56) ist dabei mit dem Gehäuseteil (54) und dem eigentlichen Messgerät 5 verbunden.
  • 1
    Messanordnung
    2
    Gasmenge
    3
    Reflexionsspiegel
    4
    Wand
    5
    Messgerät
    6
    Gehäuse
    7
    offene Messstrecke
    8
    erste optische Achse
    9
    zweite optische Achse
    10
    erste Linse
    11
    erste Brennweite {F1}
    12
    zweite Linse
    13
    zweite Brennweite {F2}
    14
    erster Abstand
    15
    Lichtquelle
    16
    Spiegel
    17
    Öffnung
    18
    Winkel
    19
    dritte Linse
    20
    dritte Brennweite {F3}
    21
    zweiter Abstand
    22
    Phasenmaske
    23
    Lichtaustrittsöffnung
    24
    vierte Linse
    26
    Detektor
    27
    Daten- und Versorgungsleitung
    28
    Auswerteeinheit
    29
    Spiegelfläche
    30
    erstes Lichtbündel
    31
    zweites Lichtbündel
    32
    drittes Lichtbündel
    33
    viertes Lichtbündel
    34
    fünftes Lichtbündel
    35
    sechstes Lichtbündel
    36
    siebtes Lichtbündel
    37
    achtes Lichtbündel
    38
    neuntes Lichtbündel
    39
    zehntes Lichtbündel
    40
    elftes Lichtbündel
    41
    Lichtintensitätsring
    42
    zentrischer Dunkelpunkt
    43
    erste zweidimensionale Ansicht
    44
    zweite zweidimensionale Ansicht
    45
    Lichtintensitätspunkt
    50
    Beschichtung
    52
    Glasplatte
    53
    alternative Messanordnung
    54
    Gehäuseteil
    55
    Halterung
    56
    Abdeckung
    57
    innere Messstrecke

Claims (16)

  1. Messanordnung (1) mit einem Messgerät (5) zur Ermittlung einer mittleren Gasmenge (2) entlang einer offenen Messstrecke (7), wobei – das Licht einer Lichtquelle (15) auf einer ersten optischen Achse (8) durch eine Öffnung (17) in einem Spiegel (16) die offene Messtrecke (7) durchstrahlt und auf einen Reflexionsspiegel (3) trifft, – das Licht durch den Reflexionsspiegel (3) zurückreflektiert wird und eine Lichtauskopplung zu einem Detektor (26) mit einer sich zwischen dem Reflexionsspiegel (3) und dem Spiegel (16) befindenden Phasenmaske (22) erfolgt, wobei die Phasenmaske (22) durch eine Aufweitung des reflektierten Lichts (38) die Lichtauskopplung bewirkt.
  2. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei die Lichtauskopplung durch die Phasenmaske (22) dadurch bewirkt wird, dass die Phase des reflektierten Lichts (38) in einer Weise verändert wird, sodass ein Lichtintensitätspunkt (45) zu einem Lichtintensitätsring (41) aufgeweitet wird.
  3. Messanordnung nach Anspruch 2, wobei der Lichtintensitätsring (41) in der Abmessung groß gegenüber der zentrischen Öffnung (17) des Spiegels (16) ist und wobei das reflektierte Licht (38) nicht durch die zentrische Öffnung (17) des Spiegels (16) zur Lichtquelle (15) hin zurück gelangen kann.
  4. Messanordnung nach Anspruch 3, wobei der Lichtintensitätsring (41) durch den Spiegel (16) entlang einer zweiten optischen Achse (9) auf einen Detektor (26) gelenkt wird und eine Auswerteeinheit (28) aus den Signalen des Detektors (26) eine korrespondierende Gasmenge (2) ermittelt.
  5. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei der Spiegel (16) mit seinem Winkel (18) zur optischen Achse (8) in einem Winkelbereich von 10° bis 60° angeordnet ist.
  6. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei der Spiegel (16) in einem Winkel (18) von 45° zur optischen Achse (8) angeordnet ist.
  7. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei der Reflexionsspiegel (3) als eine Anordnung einer Vielzahl von Retroreflektoren ausgebildet ist.
  8. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei der Spiegel (16) als Glasplatte (52) ausgebildet ist und wobei die Spiegelfläche (29) als strukturierte Beschichtung (50) auf die Glasplatte aufgebracht ist.
  9. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei die Phasenmaske (22) mit einer Linse (19) als gemeinsames Bauteil ausgebildet ist.
  10. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei die Phasenmaske (22) als Spiralphasenmaske ausgebildet ist.
  11. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei die Lichtquelle (15) als Festkörperlaser ausgebildet ist.
  12. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei die Lichtquelle (15) als Laserdiode ausgebildet ist.
  13. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei die Lichtquelle (15) als Halbleiterlaser ausgebildet ist.
  14. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei die Lichtquelle (15) als eine Gasentladungslampe ausgebildet ist.
  15. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei sich die offene Messstrecke (7) außerhalb des Messgerätes (5) befindet.
  16. Messanordnung nach Anspruch 1, wobei der Reflexionsspiegel (3) an einem mit dem Messgerät (5) verbundenen Gehäuseteil (54) angeordnet ist und wobei eine Abdeckung (56) eine innere Messstrecke (57) gegen Witterungseinflüsse schützt.
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9500586B2 (en) * 2014-07-24 2016-11-22 Nxgen Partners Ip, Llc System and method using OAM spectroscopy leveraging fractional orbital angular momentum as signature to detect materials
CN114112963A (zh) * 2021-11-30 2022-03-01 青岛崂应海纳光电环保集团有限公司 气体遥测望远镜

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5339155A (en) * 1990-07-18 1994-08-16 Secretary Of State For Trade Industry Optical wavelength modulated long-path gas monitoring apparatus

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58213237A (ja) 1982-06-04 1983-12-12 Fujitsu Ltd ガス検出装置の光出射装置
US4746218A (en) * 1984-06-12 1988-05-24 Syconex Corporation Gas detectors and gas analyzers utilizing spectral absorption
DE19611290C2 (de) 1996-03-22 1998-04-16 Draegerwerk Ag Gassensor
US6876450B2 (en) 2001-01-30 2005-04-05 Anritsu Corporation Laser absorption spectral diffraction type gas detector and method for gas detection using laser absorption spectral diffraction
EP1962077A1 (de) * 2007-02-21 2008-08-27 IR Microsystems S.A. Gassensor
US20080198381A1 (en) * 2007-02-21 2008-08-21 Teledyne Tekmar Company Pressurized detectors substance analyzer

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5339155A (en) * 1990-07-18 1994-08-16 Secretary Of State For Trade Industry Optical wavelength modulated long-path gas monitoring apparatus

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Golub, M. et al.: Mode-matched phase diffractive o ptical element for detecting laser modes with spir al phases. Applied Optics, Vol 46, No. 32, 10 Nov . 2007, S. 7823-7828
Golub, M. et al.: Mode-matched phase diffractive optical element for detecting laser modes with spiral phases. Applied Optics, Vol 46, No. 32, 10 Nov. 2007, S. 7823-7828 *

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