DE102008017749A1 - Modulationskontrastmikroskop und Beleuchtungsanordnung für ein Mikroskop - Google Patents

Modulationskontrastmikroskop und Beleuchtungsanordnung für ein Mikroskop Download PDF

Info

Publication number
DE102008017749A1
DE102008017749A1 DE200810017749 DE102008017749A DE102008017749A1 DE 102008017749 A1 DE102008017749 A1 DE 102008017749A1 DE 200810017749 DE200810017749 DE 200810017749 DE 102008017749 A DE102008017749 A DE 102008017749A DE 102008017749 A1 DE102008017749 A1 DE 102008017749A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
light
control signals
electrical control
arrangement
parameters
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE200810017749
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Octax Microscience GmbH
Original Assignee
Octax Microscience GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Octax Microscience GmbH filed Critical Octax Microscience GmbH
Priority to DE200810017749 priority Critical patent/DE102008017749A1/de
Publication of DE102008017749A1 publication Critical patent/DE102008017749A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/082Condensers for incident illumination only
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/361Optical details, e.g. image relay to the camera or image sensor
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/005Diaphragms

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein verbessertes Modulationskontrastmikroskop für die Lichtmikroskopie sowie eine verbesserte Beleuchtungsanordnung für ein derartiges Mikroskop. Eine erfindungsgemäße Beleuchtungsanordnung (1, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 14, 15, 16, 17, 18) ist so konfiguriert, dass sie Licht aussendet, dessen Parameter abhängig von einer Position im Querschnitt eines Strahlengangs (13) der Mikroskopieranordnung durch elektrische Steuersignale variierbar sind. Eine erfindungsgemäße Mikroskopieranordnung weist neben einer derartigen Beleuchtungsanordnung (1, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 14, 15, 16, 17, 18) einen optischen Sensor (12) oder ein Okular; und einen Strahlengang (13) auf, der sich zwischen der Beleuchtungsanordnung und dem optischen Sensor oder dem Okular erstreckt, wobei ein zu mikroskopierendes Objekt (9) in diesem Strahlengang angeordnet ist.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein verbessertes Modulationskontrastmikroskop für die Lichtmikroskopie sowie eine verbesserte Beleuchtungsanordnung für ein derartiges Mikroskop.
  • Bei der Untersuchung mikroskopischer Proben ist stets der höchstmögliche Detailreichtum erwünscht. Praktisch ist dieser vor allem bei einem hohen Kontrast des beobachteten Bildes erreichbar. Insbesondere bei der Verwendung von Bildsensoren ist ein hoher Kontrast vorteilhaft, um den gesamten Dynamikbereich eines Bildsensors auszunutzen und so bestmögliche Abbildungsergebnisse zu erreichen. Aber auch beim klassischen Mikroskopieren mit Hilfe des Okulars ist ein hoher Kontrast von großem Interesse.
  • Ein großer Anteil der gewöhnlich mit lichtmikroskopischen Techniken untersuchten Proben, insbesondere Zeltproben wie beispielsweise Eizellen, weist oft einen sehr geringen Kontrast auf, d. h. die für die im Durchlicht entstehende Abbildung solcher Proben relevanten lokalen Absorptionsunterschiede, die zu einer Amplitudenmodulation des Lichts führen, sind gering. Andererseits weisen solche Proben normalerweise lokale Brechzahlunterschiede auf, die zwar zu einer Phasenmodulation des Lichts führen, welche aber ohne spezielle Kontrastverfahren weder durch den Beobachter am Okular noch mit Hilfe von Bildsensoren im Abbild erfaßt werden können, da dort nur Amplitudenmodulation erfaßbar ist.
  • Der Kontrast bzw. die Amplitudenmodulation in der Abbildung des Mikroskops einer solchen Probe kann verbessert werden, indem das zu untersuchende Objekt geeignet angefärbt wird, die Ausleuchtung optimiert wird oder, bei Verwendung einer Kamera, durch analoge oder digitale Verstärkung des Kontrasts. Oft ist es jedoch vorteilhaft, die Phasenmodulation des Objektes, die für den Beobachter nicht sichtbar ist, zu einer Kontrastverbesserung einzusetzen. Mittels geeigneter Hilfsmittel kann die Phasenmodulation teilweise in eine Amplitudenmodulation gewandelt und dadurch sichtbar gemacht werden.
  • Ein solches Verfahren, mit dem Unterschiede in der optischen Dichte des betrachteten Objekts in Kontrastunterschiede umgewandelt werden, ist bekannt unter dem Namen Differential Interference Contrast (DIC). Der Differential Interference Contrast (DIC) beruht auf dem Interferometerprinzip, zur Realisierung werden mehrere optische Komponenten benötigt. Das Licht wird zuerst mittels eines Polarisationsfilters polarisiert und anschließend durch ein Nomarski-(oder Wollaston-)Prisma geleitet, welches der Aufspaltung des Lichtes in zwei Strahlen mit unterschiedlicher Phasenlage dient. Nach dem Durchgang durch die zu analysierende Probe werden beide Strahlen in einem zweiten Prisma wieder überlagert und durch ein weiteres Polarisationsfilter, den Analysator, geleitet, wobei die geringfügigen Unterschiede im Brechungsindex der Probe und der daraus folgende Überlagerungseffekt zu der gewünschten Amplitudenmodulation und damit einem erhöhtem Kontrast führen.
  • Eine weitere Gruppe von Verfahren, bei dem die Objekte kontrastierend in Abhängigkeit von ihrem Lichtbrechungsindex und ihrer Dicke dargestellt werden, sind bekannt als Phasenkontrast-Verfahren. Bei diesen Verfahren wird der in der mikroskopierten Probe vorhandene Phasengradient durch ringförmige Blenden sichtbar gemacht. In der Brennebene des Objektivs befindet sich eine Scheibe mit einer ringförmigen Abschattung aus optisch dichterem Material, und im Kondensor eine Schlitzblende mit einem dazu optisch konjugierten ringförmigen Schlitz.
  • Bei Anwendung des aus US 4,200,353 bekannten Modulationskontrastes nach Hoffman wird in der hinteren Brennebene des Objektivs ein spezielles Amplitudenfilter (Analysator) mit drei Zonen unterschiedlicher optischer Dichte angeordnet: ein schmaler, optisch undurchlässiger Streifen und ein daneben liegender schmaler Streifen mit einem Transmissionsgrad von etwa 15%, die verbleibende Fläche ist transparent. Im Kondensor ist eine dazu optisch konjugierte Filterscheibe (Modulator) angebracht: ein schmaler, randnaher Streifen ist transparent, eine weiterer zu etwa 15%, wobei dieser Teil des Filters als Polarisationsfilter ausgeführt ist, und die übrige Filterfläche ist nicht durchlässig. Die Breite der sich ergebenden Öffnung aus den beiden schmalen Streifen kann durch ein hinter der Blende angebrachtes drehbares lineares Polarisationsfilter variiert werden. Diese Kontrastmethode wirkt ähn lich dem o. g. Phasenkontrast, das Auflösungsvermögen wird jedoch verbessert durch das Vermeiden von Halo-Effekten an Kanten.
  • Nachteilig an den bekannten Verfahren ist, daß die Festlegung der Einstellungen, der Anordnung und der Form der jeweiligen Filter und Blenden im Kondensor und im Objektiv jeweils für eine Kombination der Komponenten im Strahlengang nur manuell erfolgen kann und dann, abgesehen von minimalen manuellen Nachregelungen für unterschiedliche Proben zur weiteren Verbesserung des Kontrastes bzw. zur Anpassung auf unterschiedliche Objektive, nur durch vollständige, manuelle Neufestlegung verändert werden kann.
  • Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein verbessertes Modulationskontrastmikroskop für die Lichtmikroskopie anzugeben, welches diesen Nachteil vermeidet.
  • Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Mikroskopieranordnung mit einer Beleuchtungsanordnung, einem optischen Sensor oder einem Okular und einem Strahlengang, der sich zwischen der Beleuchtungsanordnung und dem optischen Sensor oder dem Okular erstreckt, wobei ein zu mikroskopierendes Objekt in diesem Strahlengang angeordnet ist, und wobei die Beleuchtungsanordnung Licht aussendet, dessen Parameter abhängig von einer Position im Querschnitt des Strahlengangs durch elektrische Steuersignale variierbar sind.
  • Vorzugsweise weist die Beleuchtungsanordnung einen durch elektrische Steuersignale beeinflußbaren Spatial Light Modulator in der Brennebene eines Kondensors auf, durch welchen die Lichtparameter positionsabhängig variierbar sind. Der Spatial Light Modulator kann aber auch an anderer Stelle im Strahlengang zwischen Lichtquelle und Kondensor angeordnet sein.
  • Als Spatial Light Modulator können beispielsweise folgende Elemente verwendet werden: Durchlicht-Flüssigkristalldisplay, Liquid Crystal an Silicon Element, oder Mikrospiegelarray. Alternativ wird eine Beleuchtungsanordnung verwendet, die eine Leuchtelementematrix aufweist, bei der die flächige Verteilung der Lichtausgabeparameter durch elektrische Steuersignale variierbar ist.
  • Die Mikroskopieranordnung weist vorzugsweise zusätzlich ein Analyseelement im Strahlengang zwischen Objekt und Sensor auf, welches die Parameter durch das Analyseelement hindurchtretenden oder vom Analyseelement reflektierten Lichts abhängig von einer Position im Querschnitt des Strahlengangs verändert, wobei eine Ansteuerung der Beleuchtungsanordnung auf das Analyseelement abgestimmt ist.
  • Vorteilhaft wird dabei ein Analyseelement verwendet, bei dem die Veränderung der Lichtparameter durch elektrische Steuersignale variierbar ist.
  • In einer Ausgestaltung der Erfindung wird für das Analyseelement ein durch elektrische Steuersignale beeinflußbarer weiterer Spatial Light Modulator genutzt, durch welchen die Lichtparameter positionsabhängig variierbar sind. Dabei können wiederum folgende Elemente als Spatial Light Modulator genutzt werden: Durchlicht-Flüssigkristalldisplay, Liquid Crystal an Silicon Element, oder Mikrospiegelarray.
  • Vorzugsweise ist eine erfindungsgemäße Mikroskopieranordnung mit einer Steuerung oder einem Computer ausgerüstet bzw. gekoppelt mit:
    • – Mitteln zum Empfangen aufgenommener Bilder vom optischen Sensor;
    • – Mitteln zur Analyse der empfangenen Bilder; und
    • – Mitteln zum Erzeugen von Steuersignalen und Übertragen von Steuersignalen an die Beleuchtungsanordnung und/oder das Analyseelement;
    wobei die Steuereinrichtung in einer geschlossenen Regelschleife die aufgenommenen Bilder bezüglich vorgebbarer Parameter optimiert, indem die Ansteuerung Beleuchtungsanordnung und/oder Analyseelement solange verändert und die Auswirkungen der Veränderungen auf die empfangenen Bilder analysiert werden, bis ein optimales aufgenommenes Bild erreicht wurde.
  • Die Erfindung betrifft ferner eine Beleuchtungsanordnung für eine Mikroskopieranordnung, die Licht aussendet, dessen Parameter abhängig von einer Position im Querschnitt eines Strahlengangs der Mikroskopieranordnung durch elektrische Steuersignale variierbar sind.
  • Ein Vorteil der vorliegenden Erfindung ist darin zu sehen, daß über die elektrisch ansteuerbare Beleuchtungsanordnung beliebige Licht- oder Filtermuster nachgebildet werden können, unter anderem auch die Blenden für Phasenkontrast oder den Modulationskontrast nach Hoffman, ohne daß hierfür Elemente im Strahlengang getauscht werden müßten. Ein weiterer Vorteil besteht darin, daß bei Ansteuerung durch einen Computer diese Licht- oder Filtermuster solange automatisch variiert werden können, bis ein Optimum hinsichtlich eines vorgebbaren Parameters (z. B. maximaler Kontrast in bestimmten Bildregionen) erreicht ist.
  • Im folgenden werden Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung anhand von 3 Figuren näher erläutert.
  • 1 ist eine schematische Darstellung eines ersten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung, umfassend ein Durchlicht-LCD als Spatial Light Modulator;
  • 2 ist eine schematische Darstellung eines zweiten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung, umfassend ein LCOS-Element als Spatial Light Modulator; und
  • 3 ist eine schematische Darstellung eines dritten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung, umfassend ein Mikrospiegelarray als Spatial Light Modulator.
  • 1 zeigt eine Mikroskopieranordnung mit einer (in der Regel punktförmigen) Lichtquelle 1, beispielsweise eine Halogenleuchte oder eine LED. Lichtquelle 1 erzeugt ein Lichtbündel 2, welches durch eine geeignete Kollektorlinse 3 oder ein Linsensystem gesammelt wird. Nach dem Passieren eines optionalen Wärmefilters 4, einer Leuchtfeldblende 5 und eines optionalen Umlenkspiegels 6 trifft das Licht auf ein Durchlicht-Flüssigkristalldisplay 7, welches als Modulator dient. Ein Kondensor 8 fokussiert das Licht auf ein zu mikroskopierendes Objekt 9, auch Probe genannt. Durch ein Objektiv 10 und ein dahinter liegendes zweites Durchlicht-Flüssigkristalldisplay 11, welches als Demodulatorfilter dient, wird das Licht einer elektronischer Kamera 12 zugeleitet, welche ein Bild aufnimmt. Das erzeugte Zwischenbild kann ebenfalls durch ein Okular direkt betrachtet werden.
  • Dabei wird hier die Zusammenfassung aller Elemente im Strahlengang, die der Bereitstellung der Ausleuchtung der Probe 9 dienen, als Beleuchtungsanordnung bezeichnet. Die Beleuchtungsanordnung umfaßt in 1 daher Lichtquelle 1, Kollektorlinse 3, Wärmefilter 4, Leuchtfeldblende 5, Umlenkspiegel 6, Durchlicht-Flüssigkristalldisplay 7 (Modulator), und Kondensor 8.
  • In 1 wird somit das aus dem Stand der Technik bekannte statische Modulatorelement durch ein variables ersetzt, genauer durch eines, welches elektrisch einstellbar variabel ist: Ein bildgebendes Bauelement, nämlich das Durchlicht-Flüssigkristalldisplay 7, welches durch eine entsprechende Ansteuerung beliebige Muster darstellen kann, wird anstelle der klassischen Blenden im Strahlengang zwischen Lichtquelle 1 und Kondensor 8 in Phasen- oder Modulationskontrastanordnungen eingesetzt. Durchlicht-Flüssigkristalldisplay 7 ist dabei ein Beispiel eines allgemein als Spatial Light Modulator (räumlicher Lichtmodulator) bekannten Bauteils ist. Der Spatial Light Modulator gestattet Orts- und zeitabhängig die Modulation der Lichtintensität.
  • Mittels eines derartigen Spatial Light Modulators, im Beispiel der 1 das transparente Flüssigkristalldisplay (LCD) 7, ist es möglich, beliebige Figuren abzubilden, unter anderem auch die Blenden für Phasenkontrast oder den Modulationskontrast nach Hoffman. Die Qualität eines durch Kamera bzw. Sensor 12 aufgenommenen Bildes kann eingesetzt werden, um automatisch die Parameter dieser Maske nachzuregeln bzw. zu optimieren, so etwa die Breite des Ringes im Falle einer Phasenkontrastblende oder die Breite, Position und optische Dichte im Fall des Modulationskontrastes nach Hoffman.
  • Falls ein Modulationskontrast nach Hoffman zum Einsatz kommt, so kann alternativ zum LCD 11 aus 1 eine feste Blende zur Demodulation in sämtliche Objektive 10 eingesetzt werden. Der Spatial Light Modulator 7 wird dann für jedes Objektiv 10 auf die Winkellage der in der Objektivbrennebene befindlichen Streifen eingestellt und kann außerdem in der Breite variiert werden.
  • Vorteilhaft wird jedoch, wie in 1 gezeigt, ein weiteres LCD 11 als Demodulator bzw. Analysator im Strahlengang hinter der Probe in der Brennebene des Objektivs genutzt, insbesondere wenn die Beobachtung zusätzlich oder ausschließlich durch ein Okular (nicht dargstellt) erfolgt.
  • Ist die Beobachtung durch ein Okular nicht zwingend erforderlich und erfolgt die Bildaufnahme nur über die elektronische Kamera 12, so kann der Effekt des Analysators auch durch ein entsprechendes Softwarefilter im Bildausgabeprogramm nachgebildet werden, wodurch sich die Konstruktion vereinfacht. Andererseits kann natürlich auch bei reinem Kamerabetrieb der Mikroskopieranordnung ein optisch realisiertes Demodulatorfilter 11 genutzt werden, was möglicherweise eine bessere Auflösung interessierender Bildbereiche gegenüber einer Softwarefilterung liefert.
  • Der Spatial Light Modulator, welcher zwischen Lichtquelle 1 und Kondensor 8 angeordnet ist, kann außer mit platzsparenden Durchlicht-LCD 7 auch durch reflektive Bauelemente realisiert werden.
  • Ein erstes Beispiel mit einem reflektiven Spatial Light Modulator zeigt 2. 2 zeigt wiederum eine Beleuchtungsanordnung umfassend Lichtquelle 1, Kollektorlinse 3, Wärmefilter 4, und Leuchtfeldblende 5. Zusätzlich umfaßt die Beleuchtungsanordnung der 2 einen polarisierenden Strahlteiler 14, welcher den kollimierten Lichtstrahl durch eine Zwischenlinse bzw. Linsenkombination 15 auf ein LCOS-Element 16 fokussiert.
  • LCOS steht für Liquid Crystal on Silicon und ist ein Anzeigegerät ähnlich einem LCD. Im Gegensatz zu diesem läßt es das Licht allerdings nicht durch, sondern reflektiert es.
  • Im Beispiel der 2 reflektiert das LCOS-Element den Strahl mit einem darauf modulierten Muster. Die übrigen Komponenten der in 2 dargestellten Mikrosko pieranordnung entsprechen denen der Mikroskopieranordnung aus 1. Insbesondere für die Auswertung der optischen Information gelten die entsprechenden Erläuterungen zu 1 ohne Einschränkungen.
  • Da LCOS-Elemente sehr kurze Schaltzeiten ermöglichen, können unterschiedliche Helligkeiten einzelner Pixel sowohl durch unterschiedliche Grauwerte als auch durch eine Veränderung des Tastverhältnisses erreicht werden.
  • Ein weiteres Beispiel mit einem reflektiven Spatial Light Modulator zeigt 3. Die Mikroskopieranordnung der 3 weist eine Beleuchtungseinheit auf, bei der das Licht durch eine Mikrospiegel-Matrix 18 abgelenkt wird (eventuell notwendige Linsen zur Zwischenfokussierung auf die Matrix 18 sind nicht dargestellt). Aufgrund des bei der Reflexion an den Spiegelelementen der Matrix 18 auftretenden Ablenkwinkels kommt ein sogenanntes TIR-Prisma 17 (TIR = Total Internal Reflectance) zum Einsatz. Falls die Größe der Lichtquelle 1 (z. B. im Falle einer LED) es zuläßt, kann dieses Prisma 17 auch entfallen und die Lichtquelle 1 und der Kollektor 3 im entsprechenden Winkel zur Mikrospiegel-Matrix 18 angeordnet werden.
  • Für alle Ausführungsbeispiele der Erfindung ist es besonders vorteilhaft, die Ansteuerung der bildgebenden Elemente bzw. Modulatoren 7, 16, 18 und, sofern vorhanden, des Analysators 11, über einen Computer vorzunehmen (nicht dargestellt).. Dies bietet den Vorteil, daß Form und Größe der Blende sowie deren Transmissions- und/oder Reflexionsgrad kontinuierlich variiert werden können. Falls das durch eine elektronische Kamera 12 aufgenommene Bild analysiert wird, ist eine Variation in Abhängigkeit der Bildqualität in einer geschlossenen Regelschleife in Echtzeit möglich.
  • Ferner können bei Computeransteuerung vordefinierte Muster für die Spatial Light Modulatoren 7, 16, 18 in Bilddateien gespeichert und entsprechend angezeigt werden. Diese Muster können sowohl den klassischen Kontrastverbesserungsmethoden entsprechen oder auch darüber hinausgehen (z. B. im Fall des Hoffman-Kontrastes ein echter Graukeil anstelle einer Zone konstanter optischer Dichte).
  • Der Benutzer besitzt bei einer Computeransteuerung die größtmögliche Flexibilität, zusätzlich manuell Einfluß auf die Blendenparameter, d. h. die mittels LCD 7, LCOS 16 oder Mikrospiegelarray 18 dargestellten Modulatorfilter zu nehmen. Außerdem kann die Ansteuerung des Filters 7, 16, 18 mit der Bildaufnahme der Kamera 12 synchronisiert werden.
  • Als Lichtquelle 1 sind kollimierte Punktstrahler oder LED-Matrixanordnungen einsetzbar. Anstelle einer Matrix mit einzeln abgesteuerten LED können in Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung einzelne LED auch fest vorverdrahtet sein (z. B. Zeilen), um beispielsweise in Anlehnung an den Modulationskontrast nach Hoffman die Schlitzbreite zu variieren. Bei Anordnung an entsprechender Stelle im Strahlengang ist es möglich, aktive optische Bauelemente ausreichender Helligkeit und Homogenität, z. B. eine Leuchtdiodenmatrix oder ein aktives LCD, anstelle des Modulators 7, 16, 18 zu nutzen. In diesem Fall werden die o. g. konventionelle Lichtquelle 1 und die Modulatorscheibe 7, 16, 18 ersetzt durch eine derartige Matrix und einen Kollektor. Der beobachterseitige Analysator 11 kann wie bereits beschrieben realisiert werden.
  • In Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung wird das bildgebende Bauelement 7, 16, 18 im nicht direkt durch den zur Bildanzeige und Steuerung dienenden Computer, sondern durch einen Mikrocontroller angesteuert. Dann kann es von Vorteil sein, einzelne Muster auf der Mikrocontrollerplatine zu speichern. Ferner ist es dann möglich, Bedienelemente vorzusehen, mit denen direkt zwischen auf der Mikrocontrollerplatine vorgespeicherten Mustern umgeschaltet werden kann.
  • Muster, die etwa verschiedenen herkömmlichen Modulatoren entsprechen, können vorgespeichert und bei Objektivwechsel automatisch abgerufen werden. Kommt im Objektiv ein fester Analysator zum Einsatz, so sind Ausgestaltungen der vorliegenden Erfindung denkbar, bei denen der Modulator unter Zuhilfenahme kontinuierlich aufgenommener Bilder und der Berechnung des Kontrastes automatisch darauf abgestimmt wird.
  • Die vorgeschlagene Beleuchtungsanordnung kann ebenso vorteilhaft für Auflichtmikroskope zur Kontrastverbesserung eingesetzt werden.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - US 4200353 [0007]

Claims (13)

  1. Mikroskopieranordnung, welche zumindest folgendes aufweist: – eine Beleuchtungsanordnung (1, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 14, 15, 16, 17, 18); – einen optischen Sensor (12) oder ein Okular; und – einen Strahlengang (13), der sich zwischen der Beleuchtungsanordnung und dem optischen Sensor oder dem Okular erstreckt, wobei ein zu mikroskopierendes Objekt (9) in diesem Strahlengang angeordnet ist; wobei die Beleuchtungsanordnung Licht aussendet, dessen Parameter abhängig von einer Position im Querschnitt des Strahlengangs durch elektrische Steuersignale variierbar sind.
  2. Mikroskopieranordnung nach Anspruch 1, deren Beleuchtungsanordnung einen durch elektrische Steuersignale beeinflußbaren Spatial Light Modulator (7, 16, 18) in der Brennebene eines Kondensors aufweist, durch welchen die Lichtparameter positionsabhängig variierbar sind.
  3. Mikroskopieranordnung nach Anspruch 2, deren Spatial Light Modulator durch eines der folgenden Elemente gebildet wird: Durchlicht-Flüssigkristalldisplay (7), Liquid Crystal an Silicon Element (16), oder Mikrospiegelarray (18).
  4. Mikroskopieranordnung nach Anspruch 1, deren Beleuchtungsanordnung eine Leuchtelementematrix aufweist, bei der die flächige Verteilung der Lichtausgabeparameter durch elektrische Steuersignale variierbar ist.
  5. Mikroskopieranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der im Strahlengang zwischen Objekt und Sensor ein Analyseelement angeordnet ist, welches die Parameter durch das Analyseelement hindurchtretenden oder vom Analyseelement reflektierten Lichts abhängig von einer Position im Querschnitt des Strahlengangs verändert, wobei eine Ansteuerung der Beleuchtungsanordnung auf das Analyseelement abgestimmt ist.
  6. Mikroskopieranordnung nach Anspruch 5, deren Analyseelement so ausgestaltet ist, daß die Veränderung der Lichtparameter durch elektrische Steuersignale variierbar ist.
  7. Mikroskopieranordnung nach Anspruch 6, deren Analyseelement einen durch elektrische Steuersignale beeinflußbaren weiteren Spatial Light Modulator (11) aufweist, durch welchen die Lichtparameter positionsabhängig variierbar sind.
  8. Mikroskopieranordnung nach Anspruch 7, deren weiterer Spatial Light Modulator durch eines der folgenden Elemente gebildet wird: Durchlicht-Flüssigkristalldisplay, Liquid Crystal an Silicon Element, oder Mikrospiegelarray.
  9. Mikroskopieranordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der eine Steuereinrichtung, insbesondere ein Computer, vorgesehen ist, die folgendes aufweist: – Mittel zum Empfangen aufgenommener Bilder vom optischen Sensor; – Mittel zur Analyse der empfangenen Bilder; und – Mittel zum Erzeugen von Steuersignalen und Übertragen von Steuersignalen an die Beleuchtungsanordnung und/oder das Analyseelement; wobei die Steuereinrichtung in einer geschlossenen Regelschleife die aufgenommenen Bilder bezüglich vorgebbarer Parameter optimiert, indem die Ansteuerung Beleuchtungsanordnung und/oder Analyseelement solange verändert und die Auswirkungen der Veränderungen auf die empfangenen Bilder analysiert werden, bis ein optimales aufgenommenes Bild erreicht wurde.
  10. Beleuchtungsanordnung (1, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 14, 15, 16, 17, 18) für eine Mikroskopieranordnung, die Licht aussendet, dessen Parameter abhängig von einer Position im Querschnitt eines Strahlengangs (13) der Mikroskopieranordnung durch elektrische Steuersignale variierbar sind.
  11. Beleuchtungsanordnung nach Anspruch 10, die einen durch elektrische Steuersignale beeinflußbaren Spatial Light Modulator (7, 16, 18) in der Brennebene eines Kondensors (8) aufweist, durch welchen die Lichtparameter positionsabhängig variierbar sind.
  12. Beleuchtungsanordnung nach Anspruch 11, deren Spatial Light Modulator durch eines der folgenden Elemente gebildet wird: Durchlicht-Flüssigkristalldisplay (7), Liquid Crystal an Silicon Element (16), oder Mikrospiegelarray (18).
  13. Beleuchtungsanordnung nach Anspruch 10, die als Lichtquelle (1) eine Leuchtelementematrix aufweist, bei der die flächige Verteilung der Lichtausgabeparameter durch elektrische Steuersignale variierbar ist.
DE200810017749 2008-04-07 2008-04-07 Modulationskontrastmikroskop und Beleuchtungsanordnung für ein Mikroskop Ceased DE102008017749A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200810017749 DE102008017749A1 (de) 2008-04-07 2008-04-07 Modulationskontrastmikroskop und Beleuchtungsanordnung für ein Mikroskop

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200810017749 DE102008017749A1 (de) 2008-04-07 2008-04-07 Modulationskontrastmikroskop und Beleuchtungsanordnung für ein Mikroskop

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102008017749A1 true DE102008017749A1 (de) 2009-10-08

Family

ID=41051544

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200810017749 Ceased DE102008017749A1 (de) 2008-04-07 2008-04-07 Modulationskontrastmikroskop und Beleuchtungsanordnung für ein Mikroskop

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102008017749A1 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012219239A1 (de) * 2012-10-22 2014-04-24 Leica Microsystems Cms Gmbh Beleuchtungseinrichtung
DE102012219237A1 (de) * 2012-10-22 2014-04-24 Leica Microsystems Cms Gmbh Beleuchtungseinrichtung
DE112020001884B4 (de) 2019-04-12 2024-07-04 International Business Machines Corporation Nach ladungsträgern auflösendes foto-hall-system und verfahren dafür

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4200353A (en) 1974-06-05 1980-04-29 Robert Hoffman Modulation contrast microscope with three regions
DE3734691A1 (de) * 1986-10-16 1988-04-28 Olympus Optical Co Beleuchtungsvorrichtung fuer mikroskope
DE19644662A1 (de) * 1996-10-25 1998-04-30 Leica Mikroskopie & Syst Beleuchtungseinrichtung für ein Mikroskop
DE10234404A1 (de) * 2002-07-29 2004-02-12 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Verfahren, Anordnung und Software zur Überwachung und Kontrolle eines Mikroskops
DE10352040A1 (de) * 2003-11-07 2005-07-21 Carl Zeiss Sms Gmbh In Lage, Form und/oder den optischen Eigenschaften veränderbare Blenden-und/oder Filteranordnung für optische Geräte, insbesondere Mikroskope

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4200353A (en) 1974-06-05 1980-04-29 Robert Hoffman Modulation contrast microscope with three regions
DE3734691A1 (de) * 1986-10-16 1988-04-28 Olympus Optical Co Beleuchtungsvorrichtung fuer mikroskope
DE19644662A1 (de) * 1996-10-25 1998-04-30 Leica Mikroskopie & Syst Beleuchtungseinrichtung für ein Mikroskop
DE10234404A1 (de) * 2002-07-29 2004-02-12 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Verfahren, Anordnung und Software zur Überwachung und Kontrolle eines Mikroskops
DE10352040A1 (de) * 2003-11-07 2005-07-21 Carl Zeiss Sms Gmbh In Lage, Form und/oder den optischen Eigenschaften veränderbare Blenden-und/oder Filteranordnung für optische Geräte, insbesondere Mikroskope

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102012219239A1 (de) * 2012-10-22 2014-04-24 Leica Microsystems Cms Gmbh Beleuchtungseinrichtung
DE102012219237A1 (de) * 2012-10-22 2014-04-24 Leica Microsystems Cms Gmbh Beleuchtungseinrichtung
DE112020001884B4 (de) 2019-04-12 2024-07-04 International Business Machines Corporation Nach ladungsträgern auflösendes foto-hall-system und verfahren dafür

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102006027836B4 (de) Mikroskop mit Autofokuseinrichtung
DE3610165C2 (de)
DE19510102C1 (de) Konfokales Fluoreszenzmikroskop
DE102006059190B4 (de) Vorrichtung zur Wafer-Inspektion
EP3721279A1 (de) Mikroskopsystem und verfahren zur mikroskopischen abbildung mit einem solchen mikroskopsystem
DE102005020545A1 (de) Vorrichtung zur Steuerung von Lichtstrahlung
DE102005020543A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur einstellbaren Veränderung von Licht
DE102012109278A1 (de) Optisches Bildgebungssystem und -verfahren und Aperturblendenbaugruppe und Aperturelement
DE2437984B2 (de) Verfahren zur kontrastverbesserung eines optischen mikroskopes
DE102011077236A1 (de) Autofokusverfahren für Mikroskop und Mikroskop mit Autofokuseinrichtung
DE102005037818A1 (de) Mikroskop
DE102013103971A1 (de) Verfahren zum Erzeugen eines aus mehreren Teilbildern zusammengesetzten Gesamtbilds eines Objekts
EP1128200A2 (de) Mikroskop-Aufbau
WO2017190919A1 (de) Beleuchtungsmodul für winkelselektive beleuchtung
DE10043992A1 (de) Verfahren zur Untersuchung einer Probe und konfokales Scan-Mikroskop
DE102011013614A1 (de) Laser-Scanning-Mikroskop und Verfahren zu seinem Betrieb
DE102005042890B4 (de) Konfokalmikroskop und Verfahren zur Detektion mit einem Konfokalmikroskop
EP0466979B1 (de) Anordnung zur simultanen konfokalen Bilderzeugung
DE102008017749A1 (de) Modulationskontrastmikroskop und Beleuchtungsanordnung für ein Mikroskop
DE10024135B4 (de) Mikroskop
WO2017174792A1 (de) Verfahren und mikroskop zum untersuchen einer probe
DE102016123974A1 (de) Beleuchtungseinrichtung für ein konfokales Mikroskop und Konfokalmikroskop
DE202018103032U1 (de) Mikroskopiersystem zur Aufnahme eines Konfokalbildes und eines nicht-konfokalen Transmissionsbildes
DE20023019U1 (de) Vorrichtung zur Mikroskopie
DE102009057985A1 (de) Elektronisch schaltbarer dichroitischer Strahlteiler

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R082 Change of representative

Representative=s name: SCHWARZ & BALDUS PATENTANWAELTE, DE

Representative=s name: PATENTANWAELTE SCHWARZ & BALDUS PARTNERSCHAFT , DE

R002 Refusal decision in examination/registration proceedings
R003 Refusal decision now final